JPH08329468A - 光情報記録再生方法 - Google Patents
光情報記録再生方法Info
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Abstract
可能な回数を管理して最適な記録パワーを得ることが可
能な光情報記録再生方法を提供すること。 【構成】 テストエリアの各パーティションで行った記
録パワーのテスト記録回数を光ディスク内の所定の領域
に記録しておく。これにより、そのテスト記録回数を参
照してテストエリアの各パーティションで記録パワーの
テスト記録を行うようにした。
Description
スクに対して、情報の記録再生を行う光情報記録再生方
法に関する。
ンパクトディスク)と呼ばれる光ディスクが知られてい
る。このCDのフォーマットは、ディスクの内周から外
周へ向かって、リードインエリア、プログラムエリア、
リードアウトエリアが順次形成されている。この場合、
リードインエリアには、TOC(Table Of Content
s)と呼ばれる索引情報が記録される。このTOCに
は、プログラムエリアに記録された情報(演奏時間等)
がサブコードとして記録されている。プログラムエリア
には、メインコード(音楽情報等)や、曲の番号を示す
トラックナンバ等が記録されている。リードアウトエリ
アには、ディスクの終端を示すリードアウトコードが記
録されている。
生専用の情報メディアであるが、近年、情報の追記や再
記録を可能としたCD−R、CD−E等の光ディスクが
開発されている。この場合、CD−RはWrite Onceの
記録方式をとるメディアであり、CDとの互換性が保て
るようにCDとほぼ同様なフォーマットを採用してい
る。そのCD−Rのフォーマットは「Orange Book 」
と呼ばれており、CDのフォーマットに準拠している。
これに対して、CD−Eは何回でも再記録可能な記録方
式をとるメディアであり、そのフォーマット規格はまだ
決まっていないが、現段階ではCD−Rのフォーマット
と互換が保てる方式となる傾向にある。
示すものである。リードインエリア1、データエリア
2、リードアウトエリア3を有する他に、リードインエ
リア1の内周側にPMA(Program Memory Area )
4と、PCA(Power Calibration Area)5との領域
が設けられている。PMA4は、データエリア2に逐次
記録される情報の履歴を格納する領域であり、各トラッ
クナンバの開始アドレス、終了アドレス等がリードイン
エリア1のTOC情報と同様なフォーマットで記録され
ている。PCA5は、記録時のレーザビームの記録パワ
ーを適正な値に修正するため、実記録動作に先立ってテ
スト記録が行われる領域であり、テストエリア6と、カ
ウントエリア7とからなっている。テストエリア6は、
記録パワーを実際にテスト(このテストをOPC(Opt
imum Power Calibration)という)する領域である。
この場合、CDフォーマットとの互換性をとるために、
テストエリア6は通常100個のパーティション6a
(1回のOPCで1個のパーティションを使用)に分割
されている。また、カウントエリア7は、テストエリア
6の各パーティション6aの使用・未使用の状態を示す
ものであり、パーティション6aの数(100個)に対
応したパーティション7aが形成されている。
テストを行う公知例は、例えば、特開平5−12669
号公報、特開平5−143997号公報に記載されてい
る。特開平5−12669号公報の例では、プログラム
エリアへの記録指令が与えられた場合、その実際の記録
直前にテストエリアでのテスト記録を行うことにより、
テスト記録に要する時間の短縮を図ることが可能な記録
方式を提供している。また、特開平5−143997号
公報の例では、テストエリアでのテスト記録中にエラー
が発生したような場合、そのテスト内容を示すテスト信
号を通常の追記で予定していない空きエリアに記録して
再生することにより、テストエリア内のあるパーティシ
ョンでの記録回数の減少や、誤った記録パワーによる追
記を防止することが可能な記録方式を提供している。
Rや再記録可能なCD−Eの情報メディアに対して情報
の記録再生を行う光情報記録再生装置においては、実記
録動作に先立って、記録時の記録パワーの適正化を図る
ためにテスト(OPC)を行っている。このようなテス
トは、前述したようにPCA5のテストエリア6を用い
て行われている。この場合、CD−RはWrite Onceで
あるため、1回テスト記録を行ったテストエリア6のパ
ーティション6aは二度と使用することはできないが、
CD−Eは何回も再記録が可能であるため、テストエリ
ア6のパーティション6aを複数回使用することができ
る。例えば、100個のパーティション6aに分割され
たテストエリア6の場合、再記録可能な回数をn回とす
ると、最大で100×n回のOPCを行うことが可能で
ある。
えるわけではなく、メディアの特性から、記録パワーが
照射されるテストエリア6の各パーティション6aでの
再記録可能な回数nには自ずと限界(例えばn=100
0回)がある。すなわち、従来の装置においては、1個
のパーティション6aを何回テスト記録に使用したかの
テスト記録回数を管理していないため、OPCを繰り返
して行いその再記録可能な回数が例えばn=1000回
を超えてしまうと、そのメディアが劣化してしまい、最
適な記録パワーが得られなくなるという問題が生じる。
て、前述したような特開平5−12669号公報や特開
平5−143997号公報の例があるが、いずれの場合
にも、CD−Eにおける記録パワー制御方法に関するも
のではない。
は、複数のパーティションに分割されたテストエリアと
このテストエリアの各パーティションに対応する複数の
パーティションに分割されたカウントエリアとからなる
PCAの領域を備えた再記録可能な光ディスク内の所定
の領域に、テストエリアの各パーティションで行った記
録パワーのテスト記録回数を記録するようにした。
発明において、再記録可能な光ディスクにおけるテスト
エリアの各パーティションで行ったテスト記録回数を、
そのテスト記録を行ったテストエリアの各パーティショ
ンに対応するカウントエリアのパーティションに記録す
るようにした。
発明において、再記録可能な光ディスクにおけるテスト
エリアの各パーティションで行ったテスト記録回数を、
テスト記録パターン自身に埋込み、そのテスト記録を行
ったテストエリアの各パーティションに記録するように
した。
記載の発明において、各パーティションのテスト記録回
数が判断できない場合、カウントエリア内の各パーティ
ションから未記録のパーティションを探索し、その未記
録のパーティションに対応するパーティションに記録パ
ワーのテスト記録を行うようにした。
3又は4記載の発明において、テストエリア内の所定の
パーティションに対応するテスト記録回数を参照し、そ
のテスト記録回数がテスト記録可能な最大記録回数に達
した場合、その参照したパーティション以外のパーティ
ションを用いて記録パワーのテスト記録を行うようにし
た。
発明において、光ディスクの種類に応じてテスト記録可
能な最大記録回数を決定するようにした。
3,4,5又は6記載の発明において、テストエリアの
所定のパーティションでテスト記録済みの記録パワーが
許容範囲内に収まっていない場合、そのパーティション
以外のパーティションを用いて再テスト記録を行うよう
にした。
の各パーティションで行った記録パワーのテスト記録回
数を、光ディスク内の所定の領域に記録することによっ
て、その記録されたテスト記録回数をもとに、テストエ
リアの各パーティションでのテスト記録可能な回数を管
理することができる。
リアのテスト記録を行ったパーティションのテスト記録
回数を、そのパーティションに対応するカウントエリア
内のパーティションに記録することによって、そのテス
ト記録回数が記録された光ディスクのフォーマットを、
従来の記録可能なメディア(例えば、CD−R)のフォ
ーマットと共通化させることができる。
リアのテスト記録を行ったパーティションのテスト記録
回数を、そのテストエリア内のパーティションのテスト
記録パターン自身に埋め込んで記録することによって、
そのテスト記録回数が記録された光ディスクのフォーマ
ットを、従来の記録可能なメディア(例えば、CD−
R)のフォーマットと共通化させることができると共
に、テストエリア内の各パーティションの記録回数を参
照することが可能となる。
録回数が判断できない場合、カウントエリア内の各パー
ティションの中から未記録のパーティションを探索し、
その未記録のパーティションに対応するテスト記録を全
く行っていないテストエリアのパーティションにおいて
テスト記録を行うことが可能となる。
域に記録されているテストエリア内の所定のパーティシ
ョンに対応するテスト記録回数がテスト記録可能な最大
記録回数に達した場合、その参照された所定のパーティ
ション以外のテスト記録可能なパーティションを探索し
て記録パワーのテスト記録を行うことによって、1つの
パーティションに集中してテスト記録を何回も行うこと
がなくなり、テストエリア内の局所的な劣化をなくすこ
とができる。
クの種類に応じてテスト記録可能な最大記録回数を決定
することによって、テストエリアの各パーティションで
のテスト記録を、各ディスクの劣化が生じない限界まで
行うことができる。
ーティションでテスト記録した記録パワーが許容範囲内
に収まっていない場合、そのパーティション以外のパー
ティションを用いて再テスト記録を行うことによって、
ディスク劣化、キズ、ホコリ等の影響を受けることな
く、記録パワーを所望とする値に容易に設定することが
可能となる。
て説明する(請求項1,5記載の発明に対応する)。な
お、従来例(図10参照)と同一部分についての説明は
省略し、その同一部分については同一符号を用いる。
ブロック化して示す。光ディスク8の面に対向して光ピ
ックアップ部9が配設されている。この光ピックアップ
部9は、ディスク内周から外周までシーク移動できるよ
うに粗動モータ10に連結されている。粗動モータ10
は、粗動モータ制御系11を介して、コントローラ12
に接続されている。また、そのコントローラ12には、
回転制御系13、信号処理系14、ピックアップ制御系
15が接続されている。回転制御系13はモータ16と
接続され、光ディスク8を回転制御する。信号処理系1
4、ピックアップ制御系15は光ピックアップ部9と接
続されており、これにより情報の記録再生処理やサーボ
制御(フォーカス、トラック)等が行われる。
を示す。ここでの光ディスク8としては、例えばCD−
Eのように再記録が可能な情報メディアを対象とする。
この光ディスク8には、内周側に位置して、PCA5の
領域が設けられている。このPCA5は、テストエリア
6とカウントエリア7とからなっている。テストエリア
6は、光ピックアップ部9から照射されるレーザビーム
の記録パワーをテスト(OPC)するための複数のパー
ティション6aに分割されている。カウントエリア7
は、テストエリア6の各パーティション6aに対応した
複数のパーティション7aに分割されている。この場
合、テストエリア6の各パーティション6aは通常15
セクタずつあり、カウントエリア7の各パーティション
7aは通常1セクタずつある。また、光ディスク8内に
は、PCA5以外に、PMA4、リードインエリア1、
データエリア2、リードアウトエリア3等の領域も設け
られている(CD−R規格に準ずる)。
ョン6aでの記録パワーのテスト記録回数が記録される
記録回数管理エリアA(所定の領域)が設けられてい
る。この記録回数管理エリアAとしては、例えば、テス
トエリア6の空きエリア18,19や、カウントエリア
7の空きエリア20、また、PMA4,リードインエリ
ア1,データエリア2,リードアウトエリア3内の各空
きエリア(図示せず)、さらには、ディスク最内周部分
に位置するクランプエリア17とPCA5との間に設け
られた空きエリア21等を用いることができる。なお、
テストエリア6のパーティション6aやカウントエリア
7のパーティション7a自身を記録回数管理エリアAと
して用いることもできるが、これについては後述する第
二の実施例の中で詳細に説明する。
ローチャートに基づいて動作を述べる。記録時のレーザ
ビームの記録パワーのテスト記録(OPC処理)を、実
際の記録動作に先立って行う。このテスト記録を行うた
めに、光ピックアップ部9を光ディスク8の内周側にシ
ーク移動させ、レーザビームをPCA5の領域に位置さ
せる。図1は、OPC処理を示す。まず、PCA5のカ
ウントエリア7をサーチし、OPCを実行するためのパ
ーティション7a(Cp )を探す(S1,S2)。次
に、そのパーティション7a(Cp )に対応するテスト
エリア6のパーティション6a(Tp )において記録パ
ワーのレーザビームを照射してOPCを実行する(S
3)。次に、その実行したテストエリア6のパーティシ
ョン6a(Tp )のテスト記録回数をインクリメントし
て、記録回数管理エリアA(例えば空きエリア18)に
そのテスト記録回数を記録する(S4)。これによりO
PC処理が終了する(S5)。
録されたテスト記録回数に基づいて実行されるOPC処
理を示す。まず、カウントエリア7のOPCを実行する
ためのパーティション7a(Cp )を探す(S2)。次
に、そのパーティション7a(Cp )に対応するテスト
エリア6のパーティション6a(Tp )のテスト記録回
数Wc を記録回数管理エリアAから読み取る(S6)。
この読み取ったテスト記録回数Wc を、最大記録回数
(再記録可能回数)と比較し(S7)、パーティション
6a(Tp )のテスト記録回数Wc が最大記録回数に達
した場合には、そのパーティション6a(Tp )は限界
値を超えたものと判断して使用せず、別のパーティショ
ン6a(Tp )を再度サーチする。パーティション6a
(Tp )のテスト記録回数Wc が最大記録回数に達して
いない場合には、そのパーティション6a(Tp )にて
OPCを実行する(S8)。その後、パーティション6
a(Tp )のテスト記録回数Wc をインクリメントし
て、記録回数管理エリアAにテスト記録回数Wc +1を
記録する(S9)。なお、このようにして記録時のレー
ザビームの記録パワーを最適化した後、光ピックアップ
部9を光ディスク8の内周から外周に向かってシーク移
動させながら、データエリア2に情報の記録を行うこと
ができ、また、これにより記録された情報を確実に再生
することが可能となる。
れた記録回数管理エリアAに、テストエリア6の各パー
ティション6aで行った記録パワーのテスト記録回数を
記録することにより、テストエリア6の各パーティショ
ン6aでのテスト記録可能な回数を管理することができ
る。なお、記録回数管理エリアAとして、従来から存在
する空きエリアを利用したような場合には、CDのフォ
ーマットとの互換性を保つことも可能となる。
テスト記録回数が最大記録回数に達した場合、テスト記
録可能なパーティション6aを新たにサーチして記録パ
ワーのテスト記録を行うことにより、テストエリア6内
で1つのパーティション6aに集中して限界値を超えて
テスト記録が行われるようなことがなくなり、これによ
りメディア自体の劣化をなくすことができる。
いて説明する(請求項2,3,4記載の発明に対応す
る)。なお、前記第一の実施例と同一部分についての説
明は省略し、その同一部分については同一符号を用い
る。
Aとして、カウントエリア7のパーティション7aを用
いた場合の例である。OPCを実行するカウントエリア
7のパーティション7a(Cp )を探し(S2)、パー
ティション7a(Cp )に対応するテストエリア6のパ
ーティション6a(Tp )のテスト記録回数Wc をパー
ティション7a(Cp )から読み取る(S10)。その
テスト記録回数Wc が再記録可能な回数以内であればパ
ーティション6a(Tp )においてOPCを実行し(S
7,S8)、そのパーティション6a(Tp )のテスト
記録回数Wc をインクリメントしそのテスト記録回数W
c +1をカウントエリア7のパーティション7a(Cp
)に記録する(S11)。上述したように、カウント
エリア7のパーティション7a(Cp )内にテスト記録
の回数を記録することにより、その光ディスク8のフォ
ーマットを従来のCD−Rのフォーマットと共通化させ
ることができる。
エリアAとして、テストエリア6のパーティション6a
を用いた場合の例である。今、テストエリア6のパーテ
ィション6a(Tp )のテスト記録回数Wc を、カウン
トエリア7のパーティション7a(Cp )から読み取る
(S10)。このとき、カウントエリア7のパーティシ
ョン7a(Cp )を読り取れずテスト記録回数がわから
なかった場合(S12)、パーティション7a(Cp )
に対応するテストエリア6のパーティション6a(Tp
)のテスト記録回数Wc をパーティション6a(Tp
)から読み取る(S13)。そのテスト記録回数Wc
が再記録可能な回数以内であれば(S7)、テスト記録
回数Wc をインクリメントした値Wc +1をテストエリ
ア6内のパーティション6a(Tp )に記録しながら、
そのパーティション6a(Tp )にてOPCを実行する
(S14)。そして、OPCの終了後には、テストエリ
ア6のパーティション6a(Tp )に記録したテスト記
録回数Wc +1と同じ値を、そのパーティション6a
(Tp )に対応するカウントエリア7のパーティション
7a(Cp )に記録する(S11)。上述したように、
テストエリア6のパーティション6a(Tp )は15セ
クタずつあり、カウントエリア7のパーティション7a
(Cp )の1セクタずつに比べて再生できる確率が高
い。このため、テストエリア6のパーティション6a
(Tp )内にテスト記録の回数を記録することにより、
その光ディスク8のフォーマットを従来のCD−Rのフ
ォーマットと共通化させることができ、また、テストエ
リア6のパーティション6a(Tp )の記録回数を参照
できる。
のOPC処理を行う際、テスト記録回数が判断できない
場合の例である。今、テストエリア6のパーティション
6a(Tp )のテスト記録回数Wc を、カウントエリア
7のパーティション7a(Cp )から読り取れず、テス
トエリア6のパーティション6a(Tp )から読み取る
ものとする(S10,S12,S13)。このとき、テ
ストエリア6のパーティション6a(Tp )のテスト記
録回数Wc が全く読めない場合(S15)、カウントエ
リア7のパーティション7a(Cp )の記録の有無か
ら、未記録のパーティション7a(Cp )をサーチする
(S16)。未記録のパーティション7a(Cp )があ
った場合(S17)、その未記録のパーティション7a
(Cp )に対応するテストエリア6のパーティション6
a(Tp )をサーチし、また、テスト記録回数Wc =0
とする(S18)。なお、未記録のパーティション7a
(Cp )がなかった場合(S17)、OPC処理を終了
する(S5)。その後、テスト記録回数Wc +1をテス
トエリア6内のパーティション6a(Tp )に記録しな
がら、そのパーティション6a(Tp )にてOPCを実
行する(S14)。さらに、その記録したテスト記録回
数Wc +1を、パーティション6a(Tp )に対応する
カウントエリア7のパーティション7a(Cp )に記録
する(S11)。上述したように、テストエリア6のパ
ーティション6a(Tp )におけるテスト記録の回数が
全く読めない場合においても、未記録のパーティション
7a(Cp )をサーチしてテスト記録を行うことによ
り、テスト記録を全く行っていないパーティション6a
(Tp )にてテスト記録を行うことができる。
づいて説明する(請求項6,7記載の発明に対応す
る)。なお、前記第二の実施例と同一部分についての説
明は省略し、その同一部分については同一符号を用い
る。
能な回数はメディアの種類によって異なる。そこで、図
8に示す処理を実行する。すなわち、装置内にセットさ
れた所定の光ディスク8(メディア)の種類を認識する
(S19〜S21)。その認識した光ディスク8の種類
に応じて、再記録可能な最大記録回数を決定し(S2
2)、この処理を終了する(S23)。このようにして
決定された最大記録回数を、前述したOPC処理(例え
ば、図2,図6,図7)の再記録可能な回数(S7の比
較動作)として用いることにより、メディアを効率良く
利用することが可能となる。
類のみならず、メディアの保管状況、使用環境により異
なる場合がある。すなわち、テストエリア6内のパーテ
ィション6aの使用回数が再記録可能な最大記録回数以
内であっても、メディアの劣化、キズ、ホコリ等の影響
を受けて十分な記録パワーが得られない場合がある。そ
こで、図9に示すOPC処理を実行する。テストエリア
6内のパーティション6a(Tp )にてテスト記録回数
Wc +1を記録しながら、OPCを実行し(S14)、
このOPCにより得られた記録パワーが許容範囲内に入
っているか否かを調べる(S19)。このテスト記録の
結果得られた記録パワーが所定の許容範囲内に収まって
いない場合、そのテストエリア6内のパーティション6
a(Tp)のテスト記録回数Wc をメディアの最大記録
可能な回数としてパーティション6a(Tp ),7a
(Cp )に記録し、そのパーティション6aを使用しな
いようにする(S20)。これにより、別のパーティシ
ョン6aを用いてテスト記録を行うことによって、メデ
ィアの劣化等により許容範囲内の記録パワーが得られな
い場合においても最適な記録パワーを得ることが可能と
なる。
所定の領域に、テストエリアの各パーティションで行っ
た記録パワーのテスト記録回数を記録するようにしたの
で、テストエリアの各パーティションでのテスト記録可
能な回数を正確に管理することができ、これにより、最
適な記録パワーを得ることができるため、再記録可能な
あらゆる光ディスクに対して信頼性の高い情報の記録を
行うことが可能となる。
ト記録回数を、そのテスト記録を行ったテストエリアの
各パーティションに対応するカウントエリアのパーティ
ションに記録するようにしたので、そのテスト記録回数
が記録された光ディスクと、従来の記録可能なメディア
との互換性を保つことができると共に、最適な記録パワ
ーを得て信頼性の高い情報の記録を行うことが可能とな
る。
ト記録回数を、そのテスト記録を行ったテストエリアの
各パーティションのテスト記録パターン自身に埋込んで
記録するようにしたので、請求項2記載の発明と同様な
効果を得る他に、カウントエリアの各パーティションに
比べて再生できる確率が高いことからテスト記録回数を
容易に参照できる。
判断できない場合、カウントエリア内の各パーティショ
ンから未記録のパーティションを探索し、その未記録の
パーティションに対応するパーティションで記録パワー
のテスト記録を行うようにしたので、テストエリア及び
カウントエリアの各パーティションでの使用回数が不明
な場合においても、常に安定した記録パワーを得ること
ができる。
されたテスト記録回数がテスト記録可能な最大記録回数
に達した場合、その参照したパーティション以外のテス
ト記録可能なパーティションを探索して記録パワーのテ
スト記録を行うようにしたので、テストエリア内の局所
的な劣化をなくすことができ、これにより、テスト記録
回数が記録可能な最大記録回数を超えて最適な記録パワ
ーが得られない状態を回避することができる。
に応じてテスト記録可能な最大記録回数を決定するよう
にしたので、各ディスクの劣化が生じない限界までテス
ト記録を行うことができ、これにより、各ディスクを効
率良く使用することができる。
定のパーティションでテスト記録した記録パワーが許容
範囲内に収まっていない場合、そのパーティション以外
のパーティションを用いて再テスト記録を行うようにし
たので、光ディスクの使用環境や保管状況の影響を受け
ずに、最適な記録パワーを得ることができる。
ーチャートである。
示す模式図である。
ある。
ーチャートである。
ートである。
ある。
Claims (7)
- 【請求項1】 レーザ光源からのレーザビームの記録パ
ワーをテストするための複数のパーティションに分割さ
れたテストエリアと、このテストエリアの各パーティシ
ョンに対応する複数のパーティションに分割されたカウ
ントエリアとからなるPCAの領域を備えた再記録可能
な光ディスクに対し、前記テストエリアの前記パーティ
ションに前記レーザビームを照射することにより、実記
録動作に先立って記録パワーのテスト記録を行う光情報
記録再生方法において、前記光ディスク内の所定の領域
に前記テストエリアの各パーティションで行った前記テ
スト記録のテスト記録回数を記録するようにしたことを
特徴とする光情報記録再生方法。 - 【請求項2】 テストエリアの各パーティションで行っ
たテスト記録回数を、そのテスト記録を行ったテストエ
リアの各パーティションに対応するカウントエリアのパ
ーティションに記録することを特徴とする請求項1記載
の光情報記録再生方法。 - 【請求項3】 テストエリアの各パーティションで行っ
たテスト記録回数を、テスト記録パターン自身に埋込
み、そのテスト記録を行ったテストエリアの各パーティ
ションに記録することを特徴とする請求項1記載の光情
報記録再生方法。 - 【請求項4】 各パーティションからテスト記録回数が
判断できない場合、カウントエリア内の各パーティショ
ンから未記録のパーティションを探索し、その未記録の
パーティションに対応するパーティションで記録パワー
のテスト記録を行うことを特徴とする請求項2又は3記
載の光情報記録再生方法。 - 【請求項5】 テスト記録を行うテストエリア内の所定
のパーティションに対応するテスト記録回数を参照し、
そのテスト記録回数がテスト記録可能な最大記録回数に
達した場合、その参照したパーティション以外のパーテ
ィションを用いて記録パワーのテスト記録を行うことを
特徴とする請求項1,2,3又は4記載の光情報記録再
生方法。 - 【請求項6】 光ディスクの種類に応じてテスト記録可
能な最大記録回数を決定することを特徴とする請求項5
記載の光情報記録再生方法。 - 【請求項7】 テストエリアの所定のパーティションで
テスト記録した記録パワーが許容範囲内に収まっていな
い場合、そのパーティション以外のパーティションを用
いて再テスト記録を行うことを特徴とする請求項1,
2,3,4,5又は6記載の光情報記録再生方法。
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