JPH06237914A - Ｍｒｉ装置 - Google Patents
Ｍｒｉ装置Info
- Publication number
- JPH06237914A JPH06237914A JP5025916A JP2591693A JPH06237914A JP H06237914 A JPH06237914 A JP H06237914A JP 5025916 A JP5025916 A JP 5025916A JP 2591693 A JP2591693 A JP 2591693A JP H06237914 A JPH06237914 A JP H06237914A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 GRASS法とCE-FAST法を利用して、短時間に良
好な画質のイメージを得ることが可能なＭＲＩ装置を提
供する。 【構成】 FIDエコーEfとそのマルチエコーEf2,Ef3,Ef4
を収集するビュースキャンVCAと、CE-FASTエコーEcとそ
のマルチエコーEc2,Ec3,Ec4 を収集するビュースキャン
VCB からなるパルスシーケンスＣを実行し、収集された
各エコーのデータで１つのｋ空間を埋めて、１枚のイメ
ージを再構成するＭＲＩ装置。 【効果】 ２種のビュースキャンの夫々の繰返し時間内
に収集されるエコーの数をｎとし、GRASS法，CE-FAST法
の１／ｎのスキャン時間で１枚のイメージ分のエコーの
データを収集できる。FIDエコーのデータとCE-FASTエコ
ーのデータを組合せて１枚のイメージを構成すること，
データの収集が短時間であることから、化学シフトの影
響および体動の影響を抑制できる。
好な画質のイメージを得ることが可能なＭＲＩ装置を提
供する。 【構成】 FIDエコーEfとそのマルチエコーEf2,Ef3,Ef4
を収集するビュースキャンVCAと、CE-FASTエコーEcとそ
のマルチエコーEc2,Ec3,Ec4 を収集するビュースキャン
VCB からなるパルスシーケンスＣを実行し、収集された
各エコーのデータで１つのｋ空間を埋めて、１枚のイメ
ージを再構成するＭＲＩ装置。 【効果】 ２種のビュースキャンの夫々の繰返し時間内
に収集されるエコーの数をｎとし、GRASS法，CE-FAST法
の１／ｎのスキャン時間で１枚のイメージ分のエコーの
データを収集できる。FIDエコーのデータとCE-FASTエコ
ーのデータを組合せて１枚のイメージを構成すること，
データの収集が短時間であることから、化学シフトの影
響および体動の影響を抑制できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＭＲＩ装置に関し、
さらに詳しくは、ＧＲＡＳＳ法またはＣＥ−ＦＡＳＴ法
を利用して、繰り返し時間内にＦＩＤエコーまたはＣＥ
−ＦＡＳＴエコーを収集し、それらＦＩＤエコーのデー
タまたはＣＥ−ＦＡＳＴエコーのデータとに基づいてイ
メージを再構成するＭＲＩ装置に関する。
さらに詳しくは、ＧＲＡＳＳ法またはＣＥ−ＦＡＳＴ法
を利用して、繰り返し時間内にＦＩＤエコーまたはＣＥ
−ＦＡＳＴエコーを収集し、それらＦＩＤエコーのデー
タまたはＣＥ−ＦＡＳＴエコーのデータとに基づいてイ
メージを再構成するＭＲＩ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】定常自由歳差（steady state free prec
ession）信号を観測する方法としては、ＧＲＡＳＳ法，
ＣＥ−ＦＡＳＴ法などが知られている。ＧＲＡＳＳ法で
は、図１６のパルスシーケンスＤに示すように、短い繰
り返し時間ＴＲでα゜パルスを連続的に印加し、リード
勾配ＲＤのスイッチングにより集束するＦＩＤエコーＥ
ｆを、繰り返し時間ＴＲごと１つずつ収集する。ｋ空間
を埋める位相エンコード数だけビュースキャンＶＤを繰
り返し、収集されたＦＩＤエコーＥｆのデータからイメ
ージを再構成する。図中、ＰＤは位相エンコード勾配で
あり、ＲＷＤはリワインダである。
ession）信号を観測する方法としては、ＧＲＡＳＳ法，
ＣＥ−ＦＡＳＴ法などが知られている。ＧＲＡＳＳ法で
は、図１６のパルスシーケンスＤに示すように、短い繰
り返し時間ＴＲでα゜パルスを連続的に印加し、リード
勾配ＲＤのスイッチングにより集束するＦＩＤエコーＥ
ｆを、繰り返し時間ＴＲごと１つずつ収集する。ｋ空間
を埋める位相エンコード数だけビュースキャンＶＤを繰
り返し、収集されたＦＩＤエコーＥｆのデータからイメ
ージを再構成する。図中、ＰＤは位相エンコード勾配で
あり、ＲＷＤはリワインダである。
【０００３】ＣＥ−ＦＡＳＴ法では、図１７のパルスシ
ーケンスＧに示すように、短い繰り返し時間ＴＲでα゜
パルスを連続的に印加し、α゜・α゜（前回のビュース
キャンＶＧにおけるα゜と今回のビュースキャンＶＧに
おけるα゜）系列により集束するＣＥ−ＦＡＳＴエコー
Ｅｃを、繰り返し時間ＴＲごとに１つずつ収集する。ｋ
空間を埋める位相エンコード数だけビュースキャンＶＧ
を繰り返し、収集されたＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃのデ
ータからイメージを再構成する。図中、ＰＧは位相エン
コード勾配であり、ＲＷＧはリワインダである。
ーケンスＧに示すように、短い繰り返し時間ＴＲでα゜
パルスを連続的に印加し、α゜・α゜（前回のビュース
キャンＶＧにおけるα゜と今回のビュースキャンＶＧに
おけるα゜）系列により集束するＣＥ−ＦＡＳＴエコー
Ｅｃを、繰り返し時間ＴＲごとに１つずつ収集する。ｋ
空間を埋める位相エンコード数だけビュースキャンＶＧ
を繰り返し、収集されたＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃのデ
ータからイメージを再構成する。図中、ＰＧは位相エン
コード勾配であり、ＲＷＧはリワインダである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前記ＧＲＡＳＳ法，Ｃ
Ｅ−ＦＡＳＴ法を適用してイメージングを行う従来のＭ
ＲＩ装置では、繰り返し時間ＴＲが短いため（即ち、ス
キャン時間が短いため）、１枚のイメージを短時間に取
得することが出来る。他方、図１８のパルスシーケンス
Ｈに示すように、１つのα゜パルスを印加したのち、急
速に，且つ，ｋ空間を埋める位相エンコード数だけリー
ド勾配ＲＨのスイッチングを行って、１枚のイメージ分
のエコー（Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３，…）のデータを収集する
ＥＰＩ法が知られている。スキャン時間の速さだけに着
目すると、前記従来のＭＲＩ装置は、ＥＰＩ法を適用し
てイメージングを行うＭＲＩ装置には遠く及ばない。
Ｅ−ＦＡＳＴ法を適用してイメージングを行う従来のＭ
ＲＩ装置では、繰り返し時間ＴＲが短いため（即ち、ス
キャン時間が短いため）、１枚のイメージを短時間に取
得することが出来る。他方、図１８のパルスシーケンス
Ｈに示すように、１つのα゜パルスを印加したのち、急
速に，且つ，ｋ空間を埋める位相エンコード数だけリー
ド勾配ＲＨのスイッチングを行って、１枚のイメージ分
のエコー（Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３，…）のデータを収集する
ＥＰＩ法が知られている。スキャン時間の速さだけに着
目すると、前記従来のＭＲＩ装置は、ＥＰＩ法を適用し
てイメージングを行うＭＲＩ装置には遠く及ばない。
【０００５】そこで、この発明の第１の目的は、ＧＲＡ
ＳＳ法を利用して、より短時間にイメージを得ることが
可能なＭＲＩ装置を提供することにある。また、この発
明の第２の目的は、ＣＥ−ＦＡＳＴ法を利用して、より
短時間にイメージを得ることが可能なＭＲＩ装置を提供
することにある。また、この発明の第３の目的は、ＧＲ
ＡＳＳ法とＣＥ−ＦＡＳＴ法を利用して、より短時間に
良好な画質のイメージを得ることが可能なＭＲＩ装置を
提供することにある。
ＳＳ法を利用して、より短時間にイメージを得ることが
可能なＭＲＩ装置を提供することにある。また、この発
明の第２の目的は、ＣＥ−ＦＡＳＴ法を利用して、より
短時間にイメージを得ることが可能なＭＲＩ装置を提供
することにある。また、この発明の第３の目的は、ＧＲ
ＡＳＳ法とＣＥ−ＦＡＳＴ法を利用して、より短時間に
良好な画質のイメージを得ることが可能なＭＲＩ装置を
提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、この発
明は、ＧＲＡＳＳ法を利用して、繰り返し時間内にＦＩ
Ｄエコーを収集し、イメージを再構成するＭＲＩ装置で
あって、ＦＩＤエコーの収集後にリード勾配のスイッチ
ングにより前記ＦＩＤエコーのマルチエコーを集束させ
るＦＩＤマルチエコー集束手段と、前記リード勾配のス
イッチングにより集束するＦＩＤエコーのマルチエコー
を収集するＦＩＤマルチエコー収集手段と、そのＦＩＤ
マルチエコー収集手段により収集されたＦＩＤエコーの
マルチエコーのデータと前記ＦＩＤエコーのデータとに
より１つのｋ空間が埋るような各エコーに対応する位相
エンコード勾配を対応するエコーの収集前に印加するＦ
ＩＤ位相エンコード勾配印加手段と、ＦＩＤエコーのマ
ルチエコーの収集後に前記各エコーに対応する位相エン
コード勾配をリワインドするリワインダを印加するＦＩ
Ｄリウィンダ印加手段と、前記各エコーのデータに基づ
いて１枚のイメージを再構成するＦＩＤイメージ再構成
手段とを具備したことを特徴とするＭＲＩ装置を提供す
る。
明は、ＧＲＡＳＳ法を利用して、繰り返し時間内にＦＩ
Ｄエコーを収集し、イメージを再構成するＭＲＩ装置で
あって、ＦＩＤエコーの収集後にリード勾配のスイッチ
ングにより前記ＦＩＤエコーのマルチエコーを集束させ
るＦＩＤマルチエコー集束手段と、前記リード勾配のス
イッチングにより集束するＦＩＤエコーのマルチエコー
を収集するＦＩＤマルチエコー収集手段と、そのＦＩＤ
マルチエコー収集手段により収集されたＦＩＤエコーの
マルチエコーのデータと前記ＦＩＤエコーのデータとに
より１つのｋ空間が埋るような各エコーに対応する位相
エンコード勾配を対応するエコーの収集前に印加するＦ
ＩＤ位相エンコード勾配印加手段と、ＦＩＤエコーのマ
ルチエコーの収集後に前記各エコーに対応する位相エン
コード勾配をリワインドするリワインダを印加するＦＩ
Ｄリウィンダ印加手段と、前記各エコーのデータに基づ
いて１枚のイメージを再構成するＦＩＤイメージ再構成
手段とを具備したことを特徴とするＭＲＩ装置を提供す
る。
【０００７】第２の観点では、この発明は、ＣＥ−ＦＡ
ＳＴを利用して、繰り返し時間内にＣＥ−ＦＡＳＴエコ
ーを収集し、イメージを再構成するＭＲＩ装置であっ
て、ＣＥ−ＦＡＳＴエコーを集束させるためのリード勾
配のスイッチングによりＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチ
エコーを集束させるＣＥ−ＦＡＳＴマルチエコー集束手
段と、前記リード勾配のスイッチングにより集束するＣ
Ｅ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコーを収集するＣＥ−Ｆ
ＡＳＴマルチエコー収集手段と、そのＣＥ−ＦＡＳＴマ
ルチエコー収集手段により収集されたＣＥ−ＦＡＳＴエ
コーのマルチエコーのデータと前記ＣＥ−ＦＡＳＴエコ
ーのデータとにより１つのｋ空間が埋るような各エコー
に対応する位相エンコード勾配を対応するエコーの収集
前に印加するＣＥ−ＦＡＳＴ位相エンコード勾配印加手
段と、ＣＥ−ＦＡＳＴエコーの収集後に前記各エコーに
対応する位相エンコード勾配をリワインドするリワイン
ダを印加するＣＥ−ＦＡＳＴリウィンダ印加手段と、前
記各エコーのデータに基づいて１枚のイメージを再構成
するＣＥ−ＦＡＳＴイメージ再構成手段とを具備したこ
とを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。
ＳＴを利用して、繰り返し時間内にＣＥ−ＦＡＳＴエコ
ーを収集し、イメージを再構成するＭＲＩ装置であっ
て、ＣＥ−ＦＡＳＴエコーを集束させるためのリード勾
配のスイッチングによりＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチ
エコーを集束させるＣＥ−ＦＡＳＴマルチエコー集束手
段と、前記リード勾配のスイッチングにより集束するＣ
Ｅ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコーを収集するＣＥ−Ｆ
ＡＳＴマルチエコー収集手段と、そのＣＥ−ＦＡＳＴマ
ルチエコー収集手段により収集されたＣＥ−ＦＡＳＴエ
コーのマルチエコーのデータと前記ＣＥ−ＦＡＳＴエコ
ーのデータとにより１つのｋ空間が埋るような各エコー
に対応する位相エンコード勾配を対応するエコーの収集
前に印加するＣＥ−ＦＡＳＴ位相エンコード勾配印加手
段と、ＣＥ−ＦＡＳＴエコーの収集後に前記各エコーに
対応する位相エンコード勾配をリワインドするリワイン
ダを印加するＣＥ−ＦＡＳＴリウィンダ印加手段と、前
記各エコーのデータに基づいて１枚のイメージを再構成
するＣＥ−ＦＡＳＴイメージ再構成手段とを具備したこ
とを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。
【０００８】第３の観点では、この発明は、ＧＲＡＳＳ
法またはＣＥ−ＦＡＳＴ法を利用して、繰り返し時間内
にＦＩＤエコーおよびＣＥ−ＦＡＳＴエコーを収集し、
それらＦＩＤエコーのデータとＣＥ−ＦＡＳＴエコーの
データに基づいてイメージを再構成するＭＲＩ装置であ
って、ＦＩＤエコーの収集後にリード勾配のスイッチン
グにより前記ＦＩＤエコーのマルチエコーを集束させる
ＦＩＤマルチエコー集束手段と、前記リード勾配のスイ
ッチングにより集束するＦＩＤエコーのマルチエコーを
収集するＦＩＤマルチエコー収集手段と、そのＦＩＤマ
ルチエコー収集手段により収集されたＦＩＤエコーのマ
ルチエコーのデータと前記ＦＩＤエコーのデータとによ
り１つのｋ空間のうちの所定部分が埋るような各エコー
に対応する位相エンコード勾配を対応するエコーの収集
前に印加するＦＩＤ部分位相エンコード勾配印加手段
と、ＦＩＤエコーのマルチエコーの収集後に前記各エコ
ーに対応する位相エンコード勾配をリワインドするリワ
インダを印加するＦＩＤ部分リウィンダ印加手段と、Ｃ
Ｅ−ＦＡＳＴエコーを集束させるためのリード勾配のス
イッチングによりＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコー
を集束させるＣＥ−ＦＡＳＴマルチエコー集束手段と、
前記リード勾配のスイッチングにより集束するＣＥ−Ｆ
ＡＳＴエコーのマルチエコーを収集するＣＥ−ＦＡＳＴ
マルチエコー収集手段と、そのＣＥ−ＦＡＳＴマルチエ
コー収集手段により収集されたＣＥ−ＦＡＳＴエコーの
マルチエコーのデータと前記ＣＥ−ＦＡＳＴエコーのデ
ータとにより１つのｋ空間のうちの前記所定部分以外の
部分が埋るような各エコーに対応する位相エンコード勾
配を対応するエコーの収集前に印加するＣＥ−ＦＡＳＴ
部分位相エンコード勾配印加手段と、ＣＥ−ＦＡＳＴエ
コーの収集後に前記各エコーに対応する位相エンコード
勾配をリワインドするリワインダを印加するＣＥ−ＦＡ
ＳＴ部分リウィンダ印加手段と、前記ＦＩＤエコーのマ
ルチエコーのデータ，ＦＩＤエコーのデータ，ＣＥ−Ｆ
ＡＳＴエコーのマルチエコーのデータおよびＣＥ−ＦＡ
ＳＴエコーのデータに基づいて１枚のイメージを再構成
するイメージ再構成手段とを具備したことを特徴とする
ＭＲＩ装置を提供する。
法またはＣＥ−ＦＡＳＴ法を利用して、繰り返し時間内
にＦＩＤエコーおよびＣＥ−ＦＡＳＴエコーを収集し、
それらＦＩＤエコーのデータとＣＥ−ＦＡＳＴエコーの
データに基づいてイメージを再構成するＭＲＩ装置であ
って、ＦＩＤエコーの収集後にリード勾配のスイッチン
グにより前記ＦＩＤエコーのマルチエコーを集束させる
ＦＩＤマルチエコー集束手段と、前記リード勾配のスイ
ッチングにより集束するＦＩＤエコーのマルチエコーを
収集するＦＩＤマルチエコー収集手段と、そのＦＩＤマ
ルチエコー収集手段により収集されたＦＩＤエコーのマ
ルチエコーのデータと前記ＦＩＤエコーのデータとによ
り１つのｋ空間のうちの所定部分が埋るような各エコー
に対応する位相エンコード勾配を対応するエコーの収集
前に印加するＦＩＤ部分位相エンコード勾配印加手段
と、ＦＩＤエコーのマルチエコーの収集後に前記各エコ
ーに対応する位相エンコード勾配をリワインドするリワ
インダを印加するＦＩＤ部分リウィンダ印加手段と、Ｃ
Ｅ−ＦＡＳＴエコーを集束させるためのリード勾配のス
イッチングによりＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコー
を集束させるＣＥ−ＦＡＳＴマルチエコー集束手段と、
前記リード勾配のスイッチングにより集束するＣＥ−Ｆ
ＡＳＴエコーのマルチエコーを収集するＣＥ−ＦＡＳＴ
マルチエコー収集手段と、そのＣＥ−ＦＡＳＴマルチエ
コー収集手段により収集されたＣＥ−ＦＡＳＴエコーの
マルチエコーのデータと前記ＣＥ−ＦＡＳＴエコーのデ
ータとにより１つのｋ空間のうちの前記所定部分以外の
部分が埋るような各エコーに対応する位相エンコード勾
配を対応するエコーの収集前に印加するＣＥ−ＦＡＳＴ
部分位相エンコード勾配印加手段と、ＣＥ−ＦＡＳＴエ
コーの収集後に前記各エコーに対応する位相エンコード
勾配をリワインドするリワインダを印加するＣＥ−ＦＡ
ＳＴ部分リウィンダ印加手段と、前記ＦＩＤエコーのマ
ルチエコーのデータ，ＦＩＤエコーのデータ，ＣＥ−Ｆ
ＡＳＴエコーのマルチエコーのデータおよびＣＥ−ＦＡ
ＳＴエコーのデータに基づいて１枚のイメージを再構成
するイメージ再構成手段とを具備したことを特徴とする
ＭＲＩ装置を提供する。
【０００９】
【作用】第１の観点によるこの発明のＭＲＩ装置では、
繰り返し時間内にＦＩＤエコーを１つだけ収集するのに
止まらず、ＦＩＤマルチエコー集束手段によるリード勾
配のスイッチングにより，ＦＩＤエコーの収集後にも１
つ以上のＦＩＤエコーを集束させ、それをＦＩＤマルチ
エコー収集手段により収集する。ここで、集束する複数
のＦＩＤエコーをマルチエコーという。そして、ｋ空間
を構成する位相エンコード数を、ＦＩＤエコーと前記マ
ルチエコーの各エコーで分担させ、収集した各エコーの
データで１つのｋ空間を埋めて１枚のイメージを再構成
する。従って、前記マルチエコーを含めて繰り返し時間
内に収集されるエコーの数をｎとし、例えばｋ空間を構
成する全ての位相エンコード数を前記ｎ個のエコーで等
しく分担させると、従来のＧＲＡＳＳ法の１／ｎのスキ
ャン時間で１枚のイメージ分のエコーのデータを収集す
ることができ、１枚のイメージを短時間に取得すること
が出来る。
繰り返し時間内にＦＩＤエコーを１つだけ収集するのに
止まらず、ＦＩＤマルチエコー集束手段によるリード勾
配のスイッチングにより，ＦＩＤエコーの収集後にも１
つ以上のＦＩＤエコーを集束させ、それをＦＩＤマルチ
エコー収集手段により収集する。ここで、集束する複数
のＦＩＤエコーをマルチエコーという。そして、ｋ空間
を構成する位相エンコード数を、ＦＩＤエコーと前記マ
ルチエコーの各エコーで分担させ、収集した各エコーの
データで１つのｋ空間を埋めて１枚のイメージを再構成
する。従って、前記マルチエコーを含めて繰り返し時間
内に収集されるエコーの数をｎとし、例えばｋ空間を構
成する全ての位相エンコード数を前記ｎ個のエコーで等
しく分担させると、従来のＧＲＡＳＳ法の１／ｎのスキ
ャン時間で１枚のイメージ分のエコーのデータを収集す
ることができ、１枚のイメージを短時間に取得すること
が出来る。
【００１０】第２の観点によるこの発明のＭＲＩ装置で
は、繰り返し時間内にＣＥ−ＦＡＳＴエコーを１つだけ
収集するのに止まらず、ＣＥ−ＦＡＳＴマルチエコー集
束手段によるリード勾配のスイッチングにより，本来の
ＣＥ−ＦＡＳＴエコーの集束前にも１つ以上のＣＥ−Ｆ
ＡＳＴエコーを集束させ、それをＣＥ−ＦＡＳＴマルチ
エコー収集手段により収集する。ここで、集束する複数
のＣＥ−ＦＡＳＴエコーをマルチエコーという。そし
て、ｋ空間を構成する位相エンコード数を、ＣＥ−ＦＡ
ＳＴエコーと前記マルチエコーの各エコーで分担させ、
収集した各エコーのデータで１つのｋ空間を埋めて１枚
のイメージを再構成する。従って、前記マルチエコーを
含めて繰り返し時間内に収集されるエコーの数をｎと
し、例えばｋ空間を構成する全ての位相エンコード数を
前記ｎ個のエコーで等しく分担させると、従来のＣＥ−
ＦＡＳＴ法の１／ｎのスキャン時間で１枚のイメージ分
のエコーのデータを収集することができ、１枚のイメー
ジを短時間に取得することが出来る。
は、繰り返し時間内にＣＥ−ＦＡＳＴエコーを１つだけ
収集するのに止まらず、ＣＥ−ＦＡＳＴマルチエコー集
束手段によるリード勾配のスイッチングにより，本来の
ＣＥ−ＦＡＳＴエコーの集束前にも１つ以上のＣＥ−Ｆ
ＡＳＴエコーを集束させ、それをＣＥ−ＦＡＳＴマルチ
エコー収集手段により収集する。ここで、集束する複数
のＣＥ−ＦＡＳＴエコーをマルチエコーという。そし
て、ｋ空間を構成する位相エンコード数を、ＣＥ−ＦＡ
ＳＴエコーと前記マルチエコーの各エコーで分担させ、
収集した各エコーのデータで１つのｋ空間を埋めて１枚
のイメージを再構成する。従って、前記マルチエコーを
含めて繰り返し時間内に収集されるエコーの数をｎと
し、例えばｋ空間を構成する全ての位相エンコード数を
前記ｎ個のエコーで等しく分担させると、従来のＣＥ−
ＦＡＳＴ法の１／ｎのスキャン時間で１枚のイメージ分
のエコーのデータを収集することができ、１枚のイメー
ジを短時間に取得することが出来る。
【００１１】第３の観点によるこの発明のＭＲＩ装置で
は、繰り返し時間内にＦＩＤエコーとＦＩＤエコーのマ
ルチエコー，または，ＣＥ−ＦＡＳＴエコーとＣＥ−Ｆ
ＡＳＴエコーのマルチエコーを収集する。そして、ｋ空
間を構成する位相エンコード数のうちの所定部分を、Ｆ
ＩＤエコーとＦＩＤエコーのマルチエコーとの各エコー
で分担させ、前記所定部分以外をＣＥ−ＦＡＳＴエコー
とＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコーとの各エコーで
分担させ、収集した各エコーのデータで１つのｋ空間を
埋めて１枚のイメージを再構成する。従って、繰り返し
時間内に収集されるＦＩＤエコーとＦＩＤエコーのマル
チエコーおよびＣＥ−ＦＡＳＴエコーとＣＥ−ＦＡＳＴ
エコーのマルチエコーを合せたエコーの数をｎとし、例
えばｋ空間を構成する全ての位相エンコード数を前記ｎ
個のエコーで等しく分担させると、従来のＧＲＡＳＳ
法，ＣＥ−ＦＡＳＴ法の１／ｎのスキャン時間で１枚の
イメージ分のエコーのデータを収集することができ、１
枚のイメージを短時間に取得することが出来る。
は、繰り返し時間内にＦＩＤエコーとＦＩＤエコーのマ
ルチエコー，または，ＣＥ−ＦＡＳＴエコーとＣＥ−Ｆ
ＡＳＴエコーのマルチエコーを収集する。そして、ｋ空
間を構成する位相エンコード数のうちの所定部分を、Ｆ
ＩＤエコーとＦＩＤエコーのマルチエコーとの各エコー
で分担させ、前記所定部分以外をＣＥ−ＦＡＳＴエコー
とＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコーとの各エコーで
分担させ、収集した各エコーのデータで１つのｋ空間を
埋めて１枚のイメージを再構成する。従って、繰り返し
時間内に収集されるＦＩＤエコーとＦＩＤエコーのマル
チエコーおよびＣＥ−ＦＡＳＴエコーとＣＥ−ＦＡＳＴ
エコーのマルチエコーを合せたエコーの数をｎとし、例
えばｋ空間を構成する全ての位相エンコード数を前記ｎ
個のエコーで等しく分担させると、従来のＧＲＡＳＳ
法，ＣＥ−ＦＡＳＴ法の１／ｎのスキャン時間で１枚の
イメージ分のエコーのデータを収集することができ、１
枚のイメージを短時間に取得することが出来る。
【００１２】また、ＦＩＤエコーとＦＩＤエコーのマル
チエコー，ＣＥ−ＦＡＳＴエコーとＣＥ−ＦＡＳＴエコ
ーのマルチエコーを組み合わせて１枚のイメージを構成
すること及びデータを短時間に収集することにより、化
学シフトの影響および体動の影響を抑制できるようにな
る。
チエコー，ＣＥ−ＦＡＳＴエコーとＣＥ−ＦＡＳＴエコ
ーのマルチエコーを組み合わせて１枚のイメージを構成
すること及びデータを短時間に収集することにより、化
学シフトの影響および体動の影響を抑制できるようにな
る。
【００１３】
【実施例】以下、図に示す実施例に基づいてこの発明を
さらに詳細に説明する。なお、これによりこの発明が限
定されるものではない。図１は、この発明の第１実施例
のＭＲＩ装置１のブロック図である。計算機２は、操作
卓１３からの指示に基づき、全体の作動を制御する。シ
ーケンスコントローラ３は、記憶しているシーケンスに
基づいて、勾配磁場駆動回路４を作動させ、マグネット
アセンブリ５の勾配磁場コイルで勾配磁場を発生させ
る。また、ゲート変調回路７を制御し、ＲＦ発振回路６
で発生したＲＦパルスを所定の波形に変調して、ＲＦ電
力増幅器８からマグネットアセンブリ５の送信コイルに
加える。マグネットアセンブリ５の受信コイルで得られ
たＮＭＲ信号は、前置増幅器９を介して位相検波器１０
に入力され、さらにＡＤ変換器１１を介して計算機２に
入力される。計算機２は、ＡＤ変換器１１から得たＮＭ
Ｒ信号のデータに基づき、イメージを再構成し、表示装
置１２で表示する。
さらに詳細に説明する。なお、これによりこの発明が限
定されるものではない。図１は、この発明の第１実施例
のＭＲＩ装置１のブロック図である。計算機２は、操作
卓１３からの指示に基づき、全体の作動を制御する。シ
ーケンスコントローラ３は、記憶しているシーケンスに
基づいて、勾配磁場駆動回路４を作動させ、マグネット
アセンブリ５の勾配磁場コイルで勾配磁場を発生させ
る。また、ゲート変調回路７を制御し、ＲＦ発振回路６
で発生したＲＦパルスを所定の波形に変調して、ＲＦ電
力増幅器８からマグネットアセンブリ５の送信コイルに
加える。マグネットアセンブリ５の受信コイルで得られ
たＮＭＲ信号は、前置増幅器９を介して位相検波器１０
に入力され、さらにＡＤ変換器１１を介して計算機２に
入力される。計算機２は、ＡＤ変換器１１から得たＮＭ
Ｒ信号のデータに基づき、イメージを再構成し、表示装
置１２で表示する。
【００１４】図２は、このＭＲＩ装置１により実行され
るパルスシーケンスの例示図である。このパルスシーケ
ンスＡのビュースキャンＶＡでは、繰り返し時間ＴＲ内
に、従来のＧＲＡＳＳ法（図１６参照）のように１個の
ＦＩＤエコーＥｆを収集するのに止まらず、リード勾配
ＲＡのスイッチングにより第２のＦＩＤエコーＥｆ２，
第３のＦＩＤエコーＥｆ３，第４のＦＩＤエコーＥｆ４
を集束させて、これらを収集する。１つのビュースキャ
ンＶＡだけに着目すると、ＥＰＩ法に類似する。
るパルスシーケンスの例示図である。このパルスシーケ
ンスＡのビュースキャンＶＡでは、繰り返し時間ＴＲ内
に、従来のＧＲＡＳＳ法（図１６参照）のように１個の
ＦＩＤエコーＥｆを収集するのに止まらず、リード勾配
ＲＡのスイッチングにより第２のＦＩＤエコーＥｆ２，
第３のＦＩＤエコーＥｆ３，第４のＦＩＤエコーＥｆ４
を集束させて、これらを収集する。１つのビュースキャ
ンＶＡだけに着目すると、ＥＰＩ法に類似する。
【００１５】位相エンコード勾配Ｐ１は、図３に示す１
つのｋ空間ＫＡのうちの低周波部ＫＡＬＬ±に該当する
位相エンコード勾配であり、その位相エンコード数はｋ
空間ＫＡを構成する位相エンコード数の１／４である。
位相エンコード勾配Ｐ２は、前記位相エンコード勾配Ｐ
１と加算されたときに図３に示す１つのｋ空間ＫＡのう
ちの低周波部ＫＡＬ±に該当する位相エンコード勾配と
なるような勾配である。位相エンコード勾配Ｐ３は、前
記位相エンコード勾配Ｐ１および位相エンコード勾配Ｐ
２と加算されたときに図３に示す１つのｋ空間ＫＡのう
ちの高周波部ＫＡＨ±に該当する位相エンコード勾配と
なるような勾配である。位相エンコード勾配Ｐ４は、前
記位相エンコード勾配Ｐ１，位相エンコード勾配Ｐ２お
よび位相エンコード勾配Ｐ３と加算されたときに図３に
示す１つのｋ空間ＫＡのうちの高周波部ＫＡＨＨ±に該
当する位相エンコード勾配となるような勾配である。ま
た、リワインダＰ５は、前記位相エンコード勾配Ｐ１，
位相エンコード勾配Ｐ２，位相エンコード勾配Ｐ３およ
び位相エンコード勾配Ｐ４をリワインドする勾配であ
る。
つのｋ空間ＫＡのうちの低周波部ＫＡＬＬ±に該当する
位相エンコード勾配であり、その位相エンコード数はｋ
空間ＫＡを構成する位相エンコード数の１／４である。
位相エンコード勾配Ｐ２は、前記位相エンコード勾配Ｐ
１と加算されたときに図３に示す１つのｋ空間ＫＡのう
ちの低周波部ＫＡＬ±に該当する位相エンコード勾配と
なるような勾配である。位相エンコード勾配Ｐ３は、前
記位相エンコード勾配Ｐ１および位相エンコード勾配Ｐ
２と加算されたときに図３に示す１つのｋ空間ＫＡのう
ちの高周波部ＫＡＨ±に該当する位相エンコード勾配と
なるような勾配である。位相エンコード勾配Ｐ４は、前
記位相エンコード勾配Ｐ１，位相エンコード勾配Ｐ２お
よび位相エンコード勾配Ｐ３と加算されたときに図３に
示す１つのｋ空間ＫＡのうちの高周波部ＫＡＨＨ±に該
当する位相エンコード勾配となるような勾配である。ま
た、リワインダＰ５は、前記位相エンコード勾配Ｐ１，
位相エンコード勾配Ｐ２，位相エンコード勾配Ｐ３およ
び位相エンコード勾配Ｐ４をリワインドする勾配であ
る。
【００１６】このようなビュースキャンＶＡを位相エン
コード勾配Ｐ１の位相エンコード数だけ繰り返すことに
より、図３に示すｋ空間ＫＡ上の低周波部ＫＡＬＬ±は
ＦＩＤエコーＥｆのデータで埋められ，低周波部ＫＡＬ
±は第２のＦＩＤエコーＥｆ２のデータで埋められ，高
周波部ＫＡＨ±は第３のＦＩＤエコーＥｆ３のデータで
埋められ，高周波部ＫＡＨＨ±第４のＦＩＤエコーＥｆ
４のデータで埋められる。計算機２は、こうして得られ
る１つのｋ空間ＫＡを埋めるＦＩＤエコーＥｆのデー
タ，第２のＦＩＤエコーＥｆ２のデータ，第３のＦＩＤ
エコーＥｆ３のデータおよび第４のＦＩＤエコーＥｆ４
のデータに基づき、１枚のイメージを再構成し、表示装
置１２で表示する。
コード勾配Ｐ１の位相エンコード数だけ繰り返すことに
より、図３に示すｋ空間ＫＡ上の低周波部ＫＡＬＬ±は
ＦＩＤエコーＥｆのデータで埋められ，低周波部ＫＡＬ
±は第２のＦＩＤエコーＥｆ２のデータで埋められ，高
周波部ＫＡＨ±は第３のＦＩＤエコーＥｆ３のデータで
埋められ，高周波部ＫＡＨＨ±第４のＦＩＤエコーＥｆ
４のデータで埋められる。計算機２は、こうして得られ
る１つのｋ空間ＫＡを埋めるＦＩＤエコーＥｆのデー
タ，第２のＦＩＤエコーＥｆ２のデータ，第３のＦＩＤ
エコーＥｆ３のデータおよび第４のＦＩＤエコーＥｆ４
のデータに基づき、１枚のイメージを再構成し、表示装
置１２で表示する。
【００１７】以上のＭＲＩ装置１では、１枚のイメージ
分のエコーのデータを前記パルスシーケンスＡにより従
来のＧＲＡＳＳ法のパルスシーケンスＤ（図１６参照）
の１／４の時間で収集することができ、１枚のイメージ
を短時間に取得することが出来る。また、リード勾配の
スイッチングにより更に第５のＦＩＤエコー，第６のＦ
ＩＤエコー，…を収集してもよい。繰り返し時間ＴＲ内
に収集されるエコーの数をｎとし、例えばｋ空間ＫＡを
構成する全ての位相エンコード数を前記ｎ個のエコーで
等しく分担させると、従来のＧＲＡＳＳ法の１／ｎのス
キャン時間で１枚のイメージ分のエコーのデータを収集
することが出来る。また、繰り返し時間ＴＲごとにα゜
パルスが連続的に印加されるため、ＥＰＩ法に比較し
て、Ｓ／Ｎの良好なイメージを取得することが出来る。
分のエコーのデータを前記パルスシーケンスＡにより従
来のＧＲＡＳＳ法のパルスシーケンスＤ（図１６参照）
の１／４の時間で収集することができ、１枚のイメージ
を短時間に取得することが出来る。また、リード勾配の
スイッチングにより更に第５のＦＩＤエコー，第６のＦ
ＩＤエコー，…を収集してもよい。繰り返し時間ＴＲ内
に収集されるエコーの数をｎとし、例えばｋ空間ＫＡを
構成する全ての位相エンコード数を前記ｎ個のエコーで
等しく分担させると、従来のＧＲＡＳＳ法の１／ｎのス
キャン時間で１枚のイメージ分のエコーのデータを収集
することが出来る。また、繰り返し時間ＴＲごとにα゜
パルスが連続的に印加されるため、ＥＰＩ法に比較し
て、Ｓ／Ｎの良好なイメージを取得することが出来る。
【００１８】なお、ｋ空間ＫＡを各エコーに分担させる
方法は、図３に示した方法以外に、例えば図４に示すよ
うに、正極の高周波部ＫＡＨＨ＋，ＫＡＨ＋をＦＩＤエ
コーＥｆのデータによって埋め，正極の低周波部ＫＡＬ
Ｌ＋，ＫＡＬ＋を第２のＦＩＤエコーＥｆ２のデータに
よって埋め，負極の低周波部ＫＡＬＬ−，ＫＡＬ−を第
３のＦＩＤエコーＥｆ３のデータによって埋め，負極の
高周波部ＫＡＨＨ−，ＫＡＨ−を第４のＦＩＤエコーＥ
ｆ４のデータによって埋めるように、ｋ空間ＫＡを構成
する位相エンコード数を４つのエコーに等しく分担させ
ることも可能である。分担させる方法を変えることによ
り、イメージのコントラストを変えることが出来る。ま
た、前記パルスシーケンスＡに、MCT（Magnetization T
ransfer Contrast），Ｔ１強調，Ｔ２強調などの各種プ
リパレーションシーケンスを任意に付加することも可能
である。また、前記パルスシーケンスＡのスライス軸に
位相エンコードＰ６およびリワインダＰ７を付加して３
Ｄ用パルスシーケンスＡａ（図５参照）とすることも可
能である。
方法は、図３に示した方法以外に、例えば図４に示すよ
うに、正極の高周波部ＫＡＨＨ＋，ＫＡＨ＋をＦＩＤエ
コーＥｆのデータによって埋め，正極の低周波部ＫＡＬ
Ｌ＋，ＫＡＬ＋を第２のＦＩＤエコーＥｆ２のデータに
よって埋め，負極の低周波部ＫＡＬＬ−，ＫＡＬ−を第
３のＦＩＤエコーＥｆ３のデータによって埋め，負極の
高周波部ＫＡＨＨ−，ＫＡＨ−を第４のＦＩＤエコーＥ
ｆ４のデータによって埋めるように、ｋ空間ＫＡを構成
する位相エンコード数を４つのエコーに等しく分担させ
ることも可能である。分担させる方法を変えることによ
り、イメージのコントラストを変えることが出来る。ま
た、前記パルスシーケンスＡに、MCT（Magnetization T
ransfer Contrast），Ｔ１強調，Ｔ２強調などの各種プ
リパレーションシーケンスを任意に付加することも可能
である。また、前記パルスシーケンスＡのスライス軸に
位相エンコードＰ６およびリワインダＰ７を付加して３
Ｄ用パルスシーケンスＡａ（図５参照）とすることも可
能である。
【００１９】図６は、この発明の第２実施例のＭＲＩ装
置１０１のブロック図である。計算機１０２は、操作卓
１１３からの指示に基づいて、全体の作動を制御する。
シーケンスコントローラ１０３は、記憶しているシーケ
ンスに基づいて、勾配磁場駆動回路１０４を作動させ、
マグネットアセンブリ１０５の勾配磁場コイルで勾配磁
場を発生させる。また、ゲート変調回路１０７を制御
し、ＲＦ発振回路１０６で発生したＲＦパルスを所定の
波形に変調して、ＲＦ電力増幅器１０８からマグネット
アセンブリ１０５の送信コイルに加える。マグネットア
センブリ１０５の受信コイルで得られたＮＭＲ信号は、
前置増幅器１０９を介して位相検波器１１０に入力さ
れ、さらにＡＤ変換器１１１を介して計算機１０２に入
力される。計算機１０２は、ＡＤ変換器１１１から得た
ＮＭＲ信号のデータに基づき、イメージを再構成し、表
示装置１１２で表示する。
置１０１のブロック図である。計算機１０２は、操作卓
１１３からの指示に基づいて、全体の作動を制御する。
シーケンスコントローラ１０３は、記憶しているシーケ
ンスに基づいて、勾配磁場駆動回路１０４を作動させ、
マグネットアセンブリ１０５の勾配磁場コイルで勾配磁
場を発生させる。また、ゲート変調回路１０７を制御
し、ＲＦ発振回路１０６で発生したＲＦパルスを所定の
波形に変調して、ＲＦ電力増幅器１０８からマグネット
アセンブリ１０５の送信コイルに加える。マグネットア
センブリ１０５の受信コイルで得られたＮＭＲ信号は、
前置増幅器１０９を介して位相検波器１１０に入力さ
れ、さらにＡＤ変換器１１１を介して計算機１０２に入
力される。計算機１０２は、ＡＤ変換器１１１から得た
ＮＭＲ信号のデータに基づき、イメージを再構成し、表
示装置１１２で表示する。
【００２０】図７は、このＭＲＩ装置１０１により実行
されるパルスシーケンスの例示図である。このパルスシ
ーケンスＢのビュースキャンＶＢでは、繰り返し時間Ｔ
Ｒ内に、従来のＣＥ−ＦＡＳＴ法（図１７参照）のよう
に１個のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃを収集するのに止ま
らず、リード勾配ＲＢのスイッチングにより第２のＣＥ
−ＦＡＳＴエコーＥｃ２，第３のＣＥ−ＦＡＳＴエコー
Ｅｃ３，第４のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ４を集束させ
て、これらを収集する。１つのビュースキャンＶＡだけ
に着目すると、ＥＰＩ法に類似する。
されるパルスシーケンスの例示図である。このパルスシ
ーケンスＢのビュースキャンＶＢでは、繰り返し時間Ｔ
Ｒ内に、従来のＣＥ−ＦＡＳＴ法（図１７参照）のよう
に１個のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃを収集するのに止ま
らず、リード勾配ＲＢのスイッチングにより第２のＣＥ
−ＦＡＳＴエコーＥｃ２，第３のＣＥ−ＦＡＳＴエコー
Ｅｃ３，第４のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ４を集束させ
て、これらを収集する。１つのビュースキャンＶＡだけ
に着目すると、ＥＰＩ法に類似する。
【００２１】位相エンコード勾配Ｐ８は、図８に示す１
つのｋ空間ＫＢのうちの低周波部ＫＢＬＬ±に該当する
位相エンコード勾配であり、その位相エンコード数はｋ
空間ＫＢを構成する位相エンコード数の１／４である。
位相エンコード勾配Ｐ９は、前記位相エンコード勾配Ｐ
８と加算されたときに図８に示す１つのｋ空間ＫＢのう
ちの低周波部ＫＢＬ±に該当する位相エンコード勾配と
なるような勾配である。位相エンコード勾配Ｐ１０は、
前記位相エンコード勾配Ｐ８および位相エンコード勾配
Ｐ９と加算されたときに図８に示す１つのｋ空間ＫＢの
うちの高周波部ＫＢＨ±に該当する位相エンコード勾配
となるような勾配である。位相エンコード勾配Ｐ１１
は、前記位相エンコード勾配Ｐ８，位相エンコード勾配
Ｐ９および位相エンコード勾配Ｐ１０と加算されたとき
に図８に示す１つのｋ空間ＫＢのうちの高周波部ＫＢＨ
Ｈ±に該当する位相エンコード勾配となるような勾配で
ある。また、リワインダＰ１２は、前記位相エンコード
勾配Ｐ８，位相エンコード勾配Ｐ９，位相エンコード勾
配Ｐ１０および位相エンコード勾配Ｐ１１をリワインド
する勾配である。
つのｋ空間ＫＢのうちの低周波部ＫＢＬＬ±に該当する
位相エンコード勾配であり、その位相エンコード数はｋ
空間ＫＢを構成する位相エンコード数の１／４である。
位相エンコード勾配Ｐ９は、前記位相エンコード勾配Ｐ
８と加算されたときに図８に示す１つのｋ空間ＫＢのう
ちの低周波部ＫＢＬ±に該当する位相エンコード勾配と
なるような勾配である。位相エンコード勾配Ｐ１０は、
前記位相エンコード勾配Ｐ８および位相エンコード勾配
Ｐ９と加算されたときに図８に示す１つのｋ空間ＫＢの
うちの高周波部ＫＢＨ±に該当する位相エンコード勾配
となるような勾配である。位相エンコード勾配Ｐ１１
は、前記位相エンコード勾配Ｐ８，位相エンコード勾配
Ｐ９および位相エンコード勾配Ｐ１０と加算されたとき
に図８に示す１つのｋ空間ＫＢのうちの高周波部ＫＢＨ
Ｈ±に該当する位相エンコード勾配となるような勾配で
ある。また、リワインダＰ１２は、前記位相エンコード
勾配Ｐ８，位相エンコード勾配Ｐ９，位相エンコード勾
配Ｐ１０および位相エンコード勾配Ｐ１１をリワインド
する勾配である。
【００２２】このようなビュースキャンＶＢを位相エン
コード勾配Ｐ８の位相エンコード数だけ繰り返すことに
より、図８に示すｋ空間ＫＢ上の高周波部ＫＢＨＨ±は
ＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｆのデータで埋められ，高周波
部ＫＢＨ±は第２のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ２のデー
タで埋められ，低周波部ＫＢＬ±は第３のＣＥ−ＦＡＳ
ＴエコーＥｃ３のデータで埋められ，低周波部ＫＢＬＬ
±は第４のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ４のデータで埋め
られる。計算機１０２は、こうして得られる１つのｋ空
間ＫＢを埋めるＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃのデータ，第
２のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ２のデータ，第３のＣＥ
−ＦＡＳＴエコーＥｃ３のデータおよび第４のＣＥ−Ｆ
ＡＳＴエコーＥｃ４のデータに基づき、１枚のイメージ
を再構成し、表示装置１１２で表示する。
コード勾配Ｐ８の位相エンコード数だけ繰り返すことに
より、図８に示すｋ空間ＫＢ上の高周波部ＫＢＨＨ±は
ＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｆのデータで埋められ，高周波
部ＫＢＨ±は第２のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ２のデー
タで埋められ，低周波部ＫＢＬ±は第３のＣＥ−ＦＡＳ
ＴエコーＥｃ３のデータで埋められ，低周波部ＫＢＬＬ
±は第４のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ４のデータで埋め
られる。計算機１０２は、こうして得られる１つのｋ空
間ＫＢを埋めるＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃのデータ，第
２のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ２のデータ，第３のＣＥ
−ＦＡＳＴエコーＥｃ３のデータおよび第４のＣＥ−Ｆ
ＡＳＴエコーＥｃ４のデータに基づき、１枚のイメージ
を再構成し、表示装置１１２で表示する。
【００２３】以上のＭＲＩ装置１０１では、１枚のイメ
ージ分のエコーのデータを前記パルスシーケンスＢによ
り従来のＣＥ−ＦＡＳＴ法のパルスシーケンスＧ（図１
７参照）の１／４の時間で収集することができ、１枚の
イメージを短時間に取得することが出来る。また、リー
ド勾配のスイッチングにより、更に、第５のＣＥ−ＦＡ
ＳＴエコー，第６のＣＥ−ＦＡＳＴエコー，…を収集し
てもよい。繰り返し時間ＴＲ内に収集されるエコーの数
をｎとし、例えばｋ空間ＫＢを構成する全ての位相エン
コード数を前記ｎ個のエコーで等しく分担させると、従
来のＣＥ−ＦＡＳＴ法の１／ｎのスキャン時間で１枚の
イメージ分のエコーのデータを収集することが出来る。
また、繰り返し時間ＴＲごとにα゜パルスが連続的に印
加されるため、ＥＰＩ法に比較して、Ｓ／Ｎの良好なイ
メージを取得することが出来る。
ージ分のエコーのデータを前記パルスシーケンスＢによ
り従来のＣＥ−ＦＡＳＴ法のパルスシーケンスＧ（図１
７参照）の１／４の時間で収集することができ、１枚の
イメージを短時間に取得することが出来る。また、リー
ド勾配のスイッチングにより、更に、第５のＣＥ−ＦＡ
ＳＴエコー，第６のＣＥ−ＦＡＳＴエコー，…を収集し
てもよい。繰り返し時間ＴＲ内に収集されるエコーの数
をｎとし、例えばｋ空間ＫＢを構成する全ての位相エン
コード数を前記ｎ個のエコーで等しく分担させると、従
来のＣＥ−ＦＡＳＴ法の１／ｎのスキャン時間で１枚の
イメージ分のエコーのデータを収集することが出来る。
また、繰り返し時間ＴＲごとにα゜パルスが連続的に印
加されるため、ＥＰＩ法に比較して、Ｓ／Ｎの良好なイ
メージを取得することが出来る。
【００２４】なお、ｋ空間ＫＢを各エコーに分担させる
方法は、図８に示した方法以外に、例えば図９に示すよ
うに、正極の高周波部ＫＢＨＨ＋，ＫＢＨ＋をＣＥ−Ｆ
ＡＳＴエコーＥｃのデータによって埋め，正極の低周波
部ＫＢＬＬ＋，ＫＢＬ＋を第２のＣＥ−ＦＡＳＴエコー
Ｅｃ２のデータによって埋め，負極の低周波部ＫＢＬＬ
−，ＫＢＬ−を第３のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ３のデ
ータによって埋め，負極の高周波部ＫＢＨＨ−，ＫＢＨ
−を第４のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ４のデータによっ
て埋めるように、ｋ空間ＫＢを構成する位相エンコード
数を４つのエコーに等しく分担させることも可能であ
る。分担させる方法を変えることにより、イメージのコ
ントラストを変えることが出来る。また、前記パルスシ
ーケンスＢに、MCT（Magnetization Transfer Contras
t），Ｔ１強調，Ｔ２強調などの各種プリパレーション
シーケンスを任意に付加することも可能である。また、
前記パルスシーケンスＢのスライス軸に位相エンコード
Ｐ１３およびリワインダＰ１４を付加して３Ｄ用パルス
シーケンスＢａ（図１０参照）とすることも可能であ
る。
方法は、図８に示した方法以外に、例えば図９に示すよ
うに、正極の高周波部ＫＢＨＨ＋，ＫＢＨ＋をＣＥ−Ｆ
ＡＳＴエコーＥｃのデータによって埋め，正極の低周波
部ＫＢＬＬ＋，ＫＢＬ＋を第２のＣＥ−ＦＡＳＴエコー
Ｅｃ２のデータによって埋め，負極の低周波部ＫＢＬＬ
−，ＫＢＬ−を第３のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ３のデ
ータによって埋め，負極の高周波部ＫＢＨＨ−，ＫＢＨ
−を第４のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ４のデータによっ
て埋めるように、ｋ空間ＫＢを構成する位相エンコード
数を４つのエコーに等しく分担させることも可能であ
る。分担させる方法を変えることにより、イメージのコ
ントラストを変えることが出来る。また、前記パルスシ
ーケンスＢに、MCT（Magnetization Transfer Contras
t），Ｔ１強調，Ｔ２強調などの各種プリパレーション
シーケンスを任意に付加することも可能である。また、
前記パルスシーケンスＢのスライス軸に位相エンコード
Ｐ１３およびリワインダＰ１４を付加して３Ｄ用パルス
シーケンスＢａ（図１０参照）とすることも可能であ
る。
【００２５】図１１は、この発明の第３実施例のＭＲＩ
装置２０１の要部ブロック図である。計算機２０２は、
操作卓２１３からの指示に基づいて、全体の作動を制御
する。シーケンスコントローラ２０３は、記憶している
シーケンスに基づいて、勾配磁場駆動回路２０４を作動
させ、マグネットアセンブリ２０５の勾配磁場コイルで
勾配磁場を発生させる。また、ゲート変調回路２０７を
制御し、ＲＦ発振回路２０６で発生したＲＦパルスを所
定の波形に変調して、ＲＦ電力増幅器２０８からマグネ
ットアセンブリ２０５の送信コイルに加える。マグネッ
トアセンブリ２０５の受信コイルで得られたＮＭＲ信号
は、前置増幅器２０９を介して位相検波器２１０に入力
され、さらにＡＤ変換器２１１を介して計算機２０２に
入力される。計算機２０２は、ＡＤ変換器２１１から得
たＮＭＲ信号のデータに基づき、イメージを再構成し、
表示装置２１２で表示する。
装置２０１の要部ブロック図である。計算機２０２は、
操作卓２１３からの指示に基づいて、全体の作動を制御
する。シーケンスコントローラ２０３は、記憶している
シーケンスに基づいて、勾配磁場駆動回路２０４を作動
させ、マグネットアセンブリ２０５の勾配磁場コイルで
勾配磁場を発生させる。また、ゲート変調回路２０７を
制御し、ＲＦ発振回路２０６で発生したＲＦパルスを所
定の波形に変調して、ＲＦ電力増幅器２０８からマグネ
ットアセンブリ２０５の送信コイルに加える。マグネッ
トアセンブリ２０５の受信コイルで得られたＮＭＲ信号
は、前置増幅器２０９を介して位相検波器２１０に入力
され、さらにＡＤ変換器２１１を介して計算機２０２に
入力される。計算機２０２は、ＡＤ変換器２１１から得
たＮＭＲ信号のデータに基づき、イメージを再構成し、
表示装置２１２で表示する。
【００２６】図１２の（ａ），（ｂ）は、このＭＲＩ装
置２０１により実行されるパルスシーケンスＣのうちの
２タイプのビュースキャンＶＣＡ，ＶＣＢについての例
示図である。このパルスシーケンスＣのビュースキャン
ＶＣＡ（図１２の（ａ））では、第１実施例のパルスシ
ーケンスＡのビュースキャンＶＡに比較して、位相エン
コード軸に印加される位相エンコード勾配Ｐ１５，位相
エンコード勾配Ｐ１６，位相エンコード勾配Ｐ１７，位
相エンコード勾配Ｐ１８およびリワインダＰ１９が異な
っている。
置２０１により実行されるパルスシーケンスＣのうちの
２タイプのビュースキャンＶＣＡ，ＶＣＢについての例
示図である。このパルスシーケンスＣのビュースキャン
ＶＣＡ（図１２の（ａ））では、第１実施例のパルスシ
ーケンスＡのビュースキャンＶＡに比較して、位相エン
コード軸に印加される位相エンコード勾配Ｐ１５，位相
エンコード勾配Ｐ１６，位相エンコード勾配Ｐ１７，位
相エンコード勾配Ｐ１８およびリワインダＰ１９が異な
っている。
【００２７】位相エンコード勾配Ｐ１５は、図１３に示
す１つのｋ空間ＫＣのうちの正極の低周波部ＫＣＬＬ＋
に該当する位相エンコード勾配であり、その位相エンコ
ード数はｋ空間ＫＣを構成する位相エンコード数の１／
８である。位相エンコード勾配Ｐ１６は、前記位相エン
コード勾配Ｐ１５と加算されたときに図１３に示す１つ
のｋ空間ＫＣのうちの正極の低周波部ＫＣＬ＋に該当す
る位相エンコード勾配となるような勾配である。位相エ
ンコード勾配Ｐ１７は、前記位相エンコード勾配Ｐ１５
および位相エンコード勾配Ｐ１６と加算されたときに、
図１３に示す１つのｋ空間ＫＣのうちの正極の高周波部
ＫＣＨ＋に該当する位相エンコード勾配となるような勾
配である。位相エンコード勾配Ｐ１８は、前記位相エン
コード勾配Ｐ１５，位相エンコード勾配Ｐ１６および位
相エンコード勾配Ｐ１７と加算されたときに図１３に示
す１つのｋ空間ＫＣのうちの正極の高周波部ＫＣＨＨ＋
に該当する位相エンコード勾配となるような勾配であ
る。また、リワインダＰ１９は、前記位相エンコード勾
配Ｐ１５，位相エンコード勾配Ｐ１６，位相エンコード
勾配Ｐ１７および位相エンコード勾配Ｐ１８をリワイン
ドする勾配である。このようなビュースキャンＶＣＡを
位相エンコード勾配Ｐ１５の位相エンコード数だけ繰り
返すことにより、収集されるＦＩＤエコーＥｆのデー
タ，第２のＦＩＤエコーＥｆ２のデータ，第３のＦＩＤ
エコーＥｆ３のデータおよび第４のＦＩＤエコーＥｆ４
のデータで、図１３に示すｋ空間ＫＣ上の正極側が埋め
られる。
す１つのｋ空間ＫＣのうちの正極の低周波部ＫＣＬＬ＋
に該当する位相エンコード勾配であり、その位相エンコ
ード数はｋ空間ＫＣを構成する位相エンコード数の１／
８である。位相エンコード勾配Ｐ１６は、前記位相エン
コード勾配Ｐ１５と加算されたときに図１３に示す１つ
のｋ空間ＫＣのうちの正極の低周波部ＫＣＬ＋に該当す
る位相エンコード勾配となるような勾配である。位相エ
ンコード勾配Ｐ１７は、前記位相エンコード勾配Ｐ１５
および位相エンコード勾配Ｐ１６と加算されたときに、
図１３に示す１つのｋ空間ＫＣのうちの正極の高周波部
ＫＣＨ＋に該当する位相エンコード勾配となるような勾
配である。位相エンコード勾配Ｐ１８は、前記位相エン
コード勾配Ｐ１５，位相エンコード勾配Ｐ１６および位
相エンコード勾配Ｐ１７と加算されたときに図１３に示
す１つのｋ空間ＫＣのうちの正極の高周波部ＫＣＨＨ＋
に該当する位相エンコード勾配となるような勾配であ
る。また、リワインダＰ１９は、前記位相エンコード勾
配Ｐ１５，位相エンコード勾配Ｐ１６，位相エンコード
勾配Ｐ１７および位相エンコード勾配Ｐ１８をリワイン
ドする勾配である。このようなビュースキャンＶＣＡを
位相エンコード勾配Ｐ１５の位相エンコード数だけ繰り
返すことにより、収集されるＦＩＤエコーＥｆのデー
タ，第２のＦＩＤエコーＥｆ２のデータ，第３のＦＩＤ
エコーＥｆ３のデータおよび第４のＦＩＤエコーＥｆ４
のデータで、図１３に示すｋ空間ＫＣ上の正極側が埋め
られる。
【００２８】また、このパルスシーケンスＣのビュース
キャンＶＣＢ（図１２の（ｂ））では、第２実施例のパ
ルスシーケンスＢのビュースキャンＶＢに比較して、位
相エンコード軸に印加される位相エンコード勾配Ｐ２
０，位相エンコード勾配Ｐ２１，位相エンコード勾配Ｐ
２２，位相エンコード勾配Ｐ２３およびリワインダＰ２
４が異なっている。
キャンＶＣＢ（図１２の（ｂ））では、第２実施例のパ
ルスシーケンスＢのビュースキャンＶＢに比較して、位
相エンコード軸に印加される位相エンコード勾配Ｐ２
０，位相エンコード勾配Ｐ２１，位相エンコード勾配Ｐ
２２，位相エンコード勾配Ｐ２３およびリワインダＰ２
４が異なっている。
【００２９】位相エンコード勾配Ｐ２０は、図１３に示
す１つのｋ空間ＫＣのうちの負極の高周波部ＫＣＨＨ−
に該当する位相エンコード勾配であり、その位相エンコ
ード数はｋ空間ＫＣを構成する位相エンコード数の１／
８である。位相エンコード勾配Ｐ２１は、前記位相エン
コード勾配Ｐ２０と加算されたときに図１３に示す１つ
のｋ空間ＫＣのうちの負極の高周波部ＫＣＨ−に該当す
る位相エンコード勾配となるような勾配である。位相エ
ンコード勾配Ｐ２２は、前記位相エンコード勾配Ｐ２０
および位相エンコード勾配Ｐ２１と加算されたときに、
図１３に示す１つのｋ空間ＫＣのうちの負極の低周波部
ＫＣＬ−に該当する位相エンコード勾配となるような勾
配である。位相エンコード勾配Ｐ２３は、前記位相エン
コード勾配Ｐ２０，位相エンコード勾配Ｐ２１および位
相エンコード勾配Ｐ２２と加算されたときに図１３に示
す１つのｋ空間ＫＣのうちの負極の低周波部ＫＣＬＬ−
に該当する位相エンコード勾配となるような勾配であ
る。また、リワインダＰ２４は、前記位相エンコード勾
配Ｐ２０，位相エンコード勾配Ｐ２１，位相エンコード
勾配Ｐ２２および位相エンコード勾配Ｐ２３をリワイン
ドする勾配である。
す１つのｋ空間ＫＣのうちの負極の高周波部ＫＣＨＨ−
に該当する位相エンコード勾配であり、その位相エンコ
ード数はｋ空間ＫＣを構成する位相エンコード数の１／
８である。位相エンコード勾配Ｐ２１は、前記位相エン
コード勾配Ｐ２０と加算されたときに図１３に示す１つ
のｋ空間ＫＣのうちの負極の高周波部ＫＣＨ−に該当す
る位相エンコード勾配となるような勾配である。位相エ
ンコード勾配Ｐ２２は、前記位相エンコード勾配Ｐ２０
および位相エンコード勾配Ｐ２１と加算されたときに、
図１３に示す１つのｋ空間ＫＣのうちの負極の低周波部
ＫＣＬ−に該当する位相エンコード勾配となるような勾
配である。位相エンコード勾配Ｐ２３は、前記位相エン
コード勾配Ｐ２０，位相エンコード勾配Ｐ２１および位
相エンコード勾配Ｐ２２と加算されたときに図１３に示
す１つのｋ空間ＫＣのうちの負極の低周波部ＫＣＬＬ−
に該当する位相エンコード勾配となるような勾配であ
る。また、リワインダＰ２４は、前記位相エンコード勾
配Ｐ２０，位相エンコード勾配Ｐ２１，位相エンコード
勾配Ｐ２２および位相エンコード勾配Ｐ２３をリワイン
ドする勾配である。
【００３０】このようなビュースキャンＶＣＢを位相エ
ンコード勾配Ｐ２０の位相エンコード数だけ繰り返すこ
とにより、収集されるＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃのデー
タ，第２のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ２のデータ，第３
のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ３のデータおよび第４のＣ
Ｅ−ＦＡＳＴエコーＥｃ４のデータで、図１３に示すｋ
空間ＫＣ上の負極側が埋められる。計算機２０２は、こ
うして得られる１つのｋ空間ＫＣを埋める各エコーのデ
ータに基づき、１枚のイメージを再構成し、表示装置２
１２で表示する。
ンコード勾配Ｐ２０の位相エンコード数だけ繰り返すこ
とにより、収集されるＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃのデー
タ，第２のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ２のデータ，第３
のＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃ３のデータおよび第４のＣ
Ｅ−ＦＡＳＴエコーＥｃ４のデータで、図１３に示すｋ
空間ＫＣ上の負極側が埋められる。計算機２０２は、こ
うして得られる１つのｋ空間ＫＣを埋める各エコーのデ
ータに基づき、１枚のイメージを再構成し、表示装置２
１２で表示する。
【００３１】以上のＭＲＩ装置２０１では、１枚のイメ
ージ分のエコーのデータを前記パルスシーケンスＣによ
り前記パルスシーケンスＡ，Ｂと同等の時間で収集する
ことができ、１枚のイメージを短時間に取得することが
出来る。また、リード勾配のスイッチングにより更に第
５のＦＩＤエコー，第６のＦＩＤエコー，…または第５
のＣＥ−ＦＡＳＴエコー，第６のＣＥ−ＦＡＳＴエコ
ー，…を収集してもよい。ビュースキャンＶＣＡ，ＶＣ
Ｂのそれぞれの繰り返し時間ＴＲ内に収集されるエコー
の数をｎとし、例えばｋ空間ＫＣを構成する全ての位相
エンコード数を前記ビュースキャンＶＣＡ，ＶＣＢの各
エコーで等しく分担させると、従来のＧＲＡＳＳ法，Ｃ
Ｅ−ＦＡＳＴ法の１／ｎのスキャン時間で１枚のイメー
ジ分のエコーのデータを収集することが出来る。また、
繰り返し時間ＴＲごとにα゜パルスが連続的に印加され
るため、ＥＰＩ法に比較して、Ｓ／Ｎの良好なイメージ
を取得することが出来る。
ージ分のエコーのデータを前記パルスシーケンスＣによ
り前記パルスシーケンスＡ，Ｂと同等の時間で収集する
ことができ、１枚のイメージを短時間に取得することが
出来る。また、リード勾配のスイッチングにより更に第
５のＦＩＤエコー，第６のＦＩＤエコー，…または第５
のＣＥ−ＦＡＳＴエコー，第６のＣＥ−ＦＡＳＴエコ
ー，…を収集してもよい。ビュースキャンＶＣＡ，ＶＣ
Ｂのそれぞれの繰り返し時間ＴＲ内に収集されるエコー
の数をｎとし、例えばｋ空間ＫＣを構成する全ての位相
エンコード数を前記ビュースキャンＶＣＡ，ＶＣＢの各
エコーで等しく分担させると、従来のＧＲＡＳＳ法，Ｃ
Ｅ−ＦＡＳＴ法の１／ｎのスキャン時間で１枚のイメー
ジ分のエコーのデータを収集することが出来る。また、
繰り返し時間ＴＲごとにα゜パルスが連続的に印加され
るため、ＥＰＩ法に比較して、Ｓ／Ｎの良好なイメージ
を取得することが出来る。
【００３２】また、前記イメージは、ＦＩＤエコー（Ｅ
ｆ，Ｅｆ２，Ｅｆ３，Ｅｆ４）のデータとＣＥ−ＦＡＳ
Ｔエコー（Ｅｃ，Ｅｃ２，Ｅｃ３，Ｅｃ４）のデータと
に基づいて再構成されること及び短時間にデータを収集
することにより、体動に敏感なＣＥ−ＦＡＳＴエコーの
特性が緩和される。また、ＦＩＤエコーの高次なものほ
ど化学シフトの影響が積算されるが、前記イメージは、
ＣＥ−ＦＡＳＴエコーを含むデータに基づいて再構成さ
れるため、化学シフトの影響を受けにくくなる。
ｆ，Ｅｆ２，Ｅｆ３，Ｅｆ４）のデータとＣＥ−ＦＡＳ
Ｔエコー（Ｅｃ，Ｅｃ２，Ｅｃ３，Ｅｃ４）のデータと
に基づいて再構成されること及び短時間にデータを収集
することにより、体動に敏感なＣＥ−ＦＡＳＴエコーの
特性が緩和される。また、ＦＩＤエコーの高次なものほ
ど化学シフトの影響が積算されるが、前記イメージは、
ＣＥ−ＦＡＳＴエコーを含むデータに基づいて再構成さ
れるため、化学シフトの影響を受けにくくなる。
【００３３】なお、ｋ空間ＫＣを各エコーに分担させる
方法は、図１３に示した方法以外に、例えば図１４に示
すように、低周波部ＫＣＬＬ±，ＫＣＬ±（図中、右斜
線部分）をビュースキャンＶＣＡによるＦＩＤエコーＥ
ｆのデータ，第２のＦＩＤエコーＥｆ２のデータ，第３
のＦＩＤエコーＥｆ３のデータおよび第４のＦＩＤエコ
ーＥｆ４のデータによって埋め，高周波部ＫＣＨＨ±，
ＫＣＨ±（図中、左斜線部分）をビュースキャンＶＣＢ
によるＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃのデータ，第２のＣＥ
−ＦＡＳＴエコーＥｃ２のデータ，第３のＣＥ−ＦＡＳ
ＴエコーＥｃ３のデータおよび第４のＣＥ−ＦＡＳＴエ
コーＥｃ４のデータによって埋めるように、ｋ空間ＫＣ
を構成する位相エンコード数を２タイプのビュースキャ
ンＶＣＡ，ＶＣＢについて等しく分担させることも可能
である。さらに、ｋ空間ＫＣを構成する位相エンコード
数を２タイプのビュースキャンＶＣＡ，ＶＣＢのうちの
一方に多く偏らせて分担させることも可能である。分担
させる方法を変えることにより、イメージのコントラス
トを変えることが出来る。
方法は、図１３に示した方法以外に、例えば図１４に示
すように、低周波部ＫＣＬＬ±，ＫＣＬ±（図中、右斜
線部分）をビュースキャンＶＣＡによるＦＩＤエコーＥ
ｆのデータ，第２のＦＩＤエコーＥｆ２のデータ，第３
のＦＩＤエコーＥｆ３のデータおよび第４のＦＩＤエコ
ーＥｆ４のデータによって埋め，高周波部ＫＣＨＨ±，
ＫＣＨ±（図中、左斜線部分）をビュースキャンＶＣＢ
によるＣＥ−ＦＡＳＴエコーＥｃのデータ，第２のＣＥ
−ＦＡＳＴエコーＥｃ２のデータ，第３のＣＥ−ＦＡＳ
ＴエコーＥｃ３のデータおよび第４のＣＥ−ＦＡＳＴエ
コーＥｃ４のデータによって埋めるように、ｋ空間ＫＣ
を構成する位相エンコード数を２タイプのビュースキャ
ンＶＣＡ，ＶＣＢについて等しく分担させることも可能
である。さらに、ｋ空間ＫＣを構成する位相エンコード
数を２タイプのビュースキャンＶＣＡ，ＶＣＢのうちの
一方に多く偏らせて分担させることも可能である。分担
させる方法を変えることにより、イメージのコントラス
トを変えることが出来る。
【００３４】また、前記パルスシーケンスＣに、MCT（M
agnetization Transfer Contrast），Ｔ１強調，Ｔ２強
調などの各種プリパレーションシーケンスを任意に付加
することも可能である。これによって、イメージのコン
トラストを変えることが出来る。また、前記ビュースキ
ャンＶＣＡのスライス軸に位相エンコードＰ２５および
リワインダＰ２６を付加し（図１５の（ａ）参照），ビ
ュースキャンＶＣＢのスライス軸に位相エンコードＰ２
７およびリワインダＰ２８を付加し（図１５の（ｂ）参
照）、３Ｄ用パルスシーケンスＣａとすることも可能で
ある。
agnetization Transfer Contrast），Ｔ１強調，Ｔ２強
調などの各種プリパレーションシーケンスを任意に付加
することも可能である。これによって、イメージのコン
トラストを変えることが出来る。また、前記ビュースキ
ャンＶＣＡのスライス軸に位相エンコードＰ２５および
リワインダＰ２６を付加し（図１５の（ａ）参照），ビ
ュースキャンＶＣＢのスライス軸に位相エンコードＰ２
７およびリワインダＰ２８を付加し（図１５の（ｂ）参
照）、３Ｄ用パルスシーケンスＣａとすることも可能で
ある。
【００３５】
【発明の効果】第１の観点によるこの発明のＭＲＩ装置
によれば、繰り返し時間内に収集されるＦＩＤエコーと
ＦＩＤエコーのマルチエコーとのエコーの数をｎとする
と、従来のＧＲＡＳＳ法の１／ｎ（ｎ≧２）のスキャン
時間で１枚のイメージ分のエコーのデータを収集するこ
とが出来る。従って、１枚のイメージを短時間に取得す
ることが出来るようになる。
によれば、繰り返し時間内に収集されるＦＩＤエコーと
ＦＩＤエコーのマルチエコーとのエコーの数をｎとする
と、従来のＧＲＡＳＳ法の１／ｎ（ｎ≧２）のスキャン
時間で１枚のイメージ分のエコーのデータを収集するこ
とが出来る。従って、１枚のイメージを短時間に取得す
ることが出来るようになる。
【００３６】第２の観点によるこの発明のＭＲＩ装置に
よれば、繰り返し時間内に収集されるＣＥ−ＦＡＳＴエ
コーとＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコーとのエコー
の数をｎとすると、従来のＣＥ−ＦＡＳＴ法の１／ｎ
（ｎ≧２）のスキャン時間で１枚のイメージ分のエコー
のデータを収集することが出来る。従って、１枚のイメ
ージを短時間に取得することが出来るようになる。
よれば、繰り返し時間内に収集されるＣＥ−ＦＡＳＴエ
コーとＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコーとのエコー
の数をｎとすると、従来のＣＥ−ＦＡＳＴ法の１／ｎ
（ｎ≧２）のスキャン時間で１枚のイメージ分のエコー
のデータを収集することが出来る。従って、１枚のイメ
ージを短時間に取得することが出来るようになる。
【００３７】第３の観点によるこの発明のＭＲＩ装置に
よれば、繰り返し時間内に収集されるＦＩＤエコーとＦ
ＩＤエコーのマルチエコーおよびＣＥ−ＦＡＳＴエコー
とＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコーを合せたエコー
の数をｎとすると、従来のＧＲＡＳＳ法，ＣＥ−ＦＡＳ
Ｔ法の１／ｎ（ｎ≧２）のスキャン時間で１枚のイメー
ジ分のエコーのデータを収集することが出来る。従っ
て、１枚のイメージを短時間に取得することが出来るよ
うになる。さらに、イメージの画質を向上できるように
なる。
よれば、繰り返し時間内に収集されるＦＩＤエコーとＦ
ＩＤエコーのマルチエコーおよびＣＥ−ＦＡＳＴエコー
とＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコーを合せたエコー
の数をｎとすると、従来のＧＲＡＳＳ法，ＣＥ−ＦＡＳ
Ｔ法の１／ｎ（ｎ≧２）のスキャン時間で１枚のイメー
ジ分のエコーのデータを収集することが出来る。従っ
て、１枚のイメージを短時間に取得することが出来るよ
うになる。さらに、イメージの画質を向上できるように
なる。
【図１】この発明の第１実施例のＭＲＩ装置のブロック
図である。
図である。
【図２】図１の装置により実行されるパルスシーケンス
の例示図である。
の例示図である。
【図３】図１の装置に係るエコーのデータによるｋ空間
の分布についての説明図である。
の分布についての説明図である。
【図４】図１の装置に係るエコーのデータによるｋ空間
の分布についての説明図である。
の分布についての説明図である。
【図５】図２のパルスシーケンスに基づく３Ｄ用パルス
シーケンスの例示図である。
シーケンスの例示図である。
【図６】この発明の第２実施例のＭＲＩ装置のブロック
図である。
図である。
【図７】図６の装置により実行されるパルスシーケンス
の例示図である。
の例示図である。
【図８】図６の装置に係るエコーのデータによるｋ空間
の分布についての説明図である。
の分布についての説明図である。
【図９】図６の装置に係るエコーのデータによるｋ空間
の分布についての説明図である。
の分布についての説明図である。
【図１０】図７のパルスシーケンスに基づく３Ｄ用パル
スシーケンスの例示図である。
スシーケンスの例示図である。
【図１１】この発明の第３実施例のＭＲＩ装置のブロッ
ク図である。
ク図である。
【図１２】図１１の装置により実行されるパルスシーケ
ンスの例示図である。
ンスの例示図である。
【図１３】図１１の装置に係るエコーのデータによるｋ
空間の分布についての説明図である。
空間の分布についての説明図である。
【図１４】図１１の装置に係るエコーのデータによるｋ
空間の分布についての説明図である。
空間の分布についての説明図である。
【図１５】図１２のパルスシーケンスによる３Ｄ用パル
スシーケンスの例示図である。
スシーケンスの例示図である。
【図１６】従来のＧＲＡＳＳ法のパルスシーケンスの例
示図である。
示図である。
【図１７】従来のＣＥ−ＦＡＳＴ法のパルスシーケンス
の例示図である。
の例示図である。
【図１８】ＥＰＩ法のパルスシーケンスの例示図であ
る。
る。
１，１０１，２０１ ＭＲＩ装置 ２，１０２，２０２ 計算機 ３，１０３，２０３ シーケンスコントローラ Ａ，Ｂ，Ｃ パルスシーケンス Ｅｃ ＣＥ−ＦＡＳＴエコー Ｅｆ ＦＩＤエコー ＫＡ，ＫＢ，ＫＣ ｋ空間 Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３ 位相エンコード勾配 ＲＡ，ＲＢ，ＲＣ リード勾配 ＴＲ 繰り返し時間 ＶＣＡ，ＶＣＢ ビュースキャン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 9219−2Ｊ Ｇ０１Ｎ 24/08 Ｙ
Claims (3)
- 【請求項１】 ＧＲＡＳＳ法を利用して、繰り返し時間
内にＦＩＤエコーを収集し、イメージを再構成するＭＲ
Ｉ装置であって、ＦＩＤエコーの収集後にリード勾配の
スイッチングにより前記ＦＩＤエコーのマルチエコーを
集束させるＦＩＤマルチエコー集束手段と、前記リード
勾配のスイッチングにより集束するＦＩＤエコーのマル
チエコーを収集するＦＩＤマルチエコー収集手段と、そ
のＦＩＤマルチエコー収集手段により収集されたＦＩＤ
エコーのマルチエコーのデータと前記ＦＩＤエコーのデ
ータとにより１つのｋ空間が埋るような各エコーに対応
する位相エンコード勾配を対応するエコーの収集前に印
加するＦＩＤ位相エンコード勾配印加手段と、ＦＩＤエ
コーのマルチエコーの収集後に前記各エコーに対応する
位相エンコード勾配をリワインドするリワインダを印加
するＦＩＤリウィンダ印加手段と、前記各エコーのデー
タに基づいて１枚のイメージを再構成するＦＩＤイメー
ジ再構成手段とを具備したことを特徴とするＭＲＩ装
置。 - 【請求項２】 ＣＥ−ＦＡＳＴを利用して、繰り返し時
間内にＣＥ−ＦＡＳＴエコーを収集し、イメージを再構
成するＭＲＩ装置であって、ＣＥ−ＦＡＳＴエコーを集
束させるためのリード勾配のスイッチングによりＣＥ−
ＦＡＳＴエコーのマルチエコーを集束させるＣＥ−ＦＡ
ＳＴマルチエコー集束手段と、前記リード勾配のスイッ
チングにより集束するＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエ
コーを収集するＣＥ−ＦＡＳＴマルチエコー収集手段
と、そのＣＥ−ＦＡＳＴマルチエコー収集手段により収
集されたＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコーのデータ
と前記ＣＥ−ＦＡＳＴエコーのデータとにより１つのｋ
空間が埋るような各エコーに対応する位相エンコード勾
配を対応するエコーの収集前に印加するＣＥ−ＦＡＳＴ
位相エンコード勾配印加手段と、ＣＥ−ＦＡＳＴエコー
の収集後に前記各エコーに対応する位相エンコード勾配
をリワインドするリワインダを印加するＣＥ−ＦＡＳＴ
リウィンダ印加手段と、前記各エコーのデータに基づい
て１枚のイメージを再構成するＣＥ−ＦＡＳＴイメージ
再構成手段とを具備したことを特徴とするＭＲＩ装置。 - 【請求項３】 ＧＲＡＳＳ法またはＣＥ−ＦＡＳＴ法を
利用して、繰り返し時間内にＦＩＤエコーおよびＣＥ−
ＦＡＳＴエコーを収集し、それらＦＩＤエコーのデータ
とＣＥ−ＦＡＳＴエコーのデータに基づいてイメージを
再構成するＭＲＩ装置であって、ＦＩＤエコーの収集後
にリード勾配のスイッチングにより前記ＦＩＤエコーの
マルチエコーを集束させるＦＩＤマルチエコー集束手段
と、前記リード勾配のスイッチングにより集束するＦＩ
Ｄエコーのマルチエコーを収集するＦＩＤマルチエコー
収集手段と、そのＦＩＤマルチエコー収集手段により収
集されたＦＩＤエコーのマルチエコーのデータと前記Ｆ
ＩＤエコーのデータとにより１つのｋ空間のうちの所定
部分が埋るような各エコーに対応する位相エンコード勾
配を対応するエコーの収集前に印加するＦＩＤ部分位相
エンコード勾配印加手段と、ＦＩＤエコーのマルチエコ
ーの収集後に前記各エコーに対応する位相エンコード勾
配をリワインドするリワインダを印加するＦＩＤ部分リ
ウィンダ印加手段と、ＣＥ−ＦＡＳＴエコーを集束させ
るためのリード勾配のスイッチングによりＣＥ−ＦＡＳ
Ｔエコーのマルチエコーを集束させるＣＥ−ＦＡＳＴマ
ルチエコー集束手段と、前記リード勾配のスイッチング
により集束するＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコーを
収集するＣＥ−ＦＡＳＴマルチエコー収集手段と、その
ＣＥ−ＦＡＳＴマルチエコー収集手段により収集された
ＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコーのデータと前記Ｃ
Ｅ−ＦＡＳＴエコーのデータとにより１つのｋ空間のう
ちの前記所定部分以外の部分が埋るような各エコーに対
応する位相エンコード勾配を対応するエコーの収集前に
印加するＣＥ−ＦＡＳＴ部分位相エンコード勾配印加手
段と、ＣＥ−ＦＡＳＴエコーの収集後に前記各エコーに
対応する位相エンコード勾配をリワインドするリワイン
ダを印加するＣＥ−ＦＡＳＴ部分リウィンダ印加手段
と、前記ＦＩＤエコーのマルチエコーのデータ，ＦＩＤ
エコーのデータ，ＣＥ−ＦＡＳＴエコーのマルチエコー
のデータおよびＣＥ−ＦＡＳＴエコーのデータに基づい
て１枚のイメージを再構成するイメージ再構成手段とを
具備したことを特徴とするＭＲＩ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5025916A JPH06237914A (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | Ｍｒｉ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5025916A JPH06237914A (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | Ｍｒｉ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06237914A true JPH06237914A (ja) | 1994-08-30 |
Family
ID=12179108
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5025916A Pending JPH06237914A (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | Ｍｒｉ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06237914A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002253526A (ja) * | 2001-03-02 | 2002-09-10 | Hitachi Medical Corp | 磁気共鳴イメージング装置 |
| JP2008253733A (ja) * | 2007-04-06 | 2008-10-23 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｍｒｉ装置およびその制御方法 |
| JP2013521922A (ja) * | 2010-03-18 | 2013-06-13 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 核スピン系の縦及び横緩和時間の同時及び動的決定 |
-
1993
- 1993-02-16 JP JP5025916A patent/JPH06237914A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002253526A (ja) * | 2001-03-02 | 2002-09-10 | Hitachi Medical Corp | 磁気共鳴イメージング装置 |
| JP2008253733A (ja) * | 2007-04-06 | 2008-10-23 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｍｒｉ装置およびその制御方法 |
| JP2013521922A (ja) * | 2010-03-18 | 2013-06-13 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 核スピン系の縦及び横緩和時間の同時及び動的決定 |
| US9588205B2 (en) | 2010-03-18 | 2017-03-07 | Koninklijke Philips N.V. | Simultaneous and dynamic determination of longitudinal and transversal relaxation times of a nuclear spin system |
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