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JPH06237910A - Mri装置 - Google Patents

Mri装置

Info

Publication number
JPH06237910A
JPH06237910A JP5031496A JP3149693A JPH06237910A JP H06237910 A JPH06237910 A JP H06237910A JP 5031496 A JP5031496 A JP 5031496A JP 3149693 A JP3149693 A JP 3149693A JP H06237910 A JPH06237910 A JP H06237910A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
echo
data
image
gradient
echoes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5031496A
Other languages
English (en)
Inventor
Mizumoto Kurisu
ミズモト クリス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GE Healthcare Japan Corp
Original Assignee
Yokogawa Medical Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Medical Systems Ltd filed Critical Yokogawa Medical Systems Ltd
Priority to JP5031496A priority Critical patent/JPH06237910A/ja
Publication of JPH06237910A publication Critical patent/JPH06237910A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 1枚のイメージを短時間に取得する。 【構成】 ME−FAST法を利用して、繰返時間TR
内に結像するアップストリームエコーEu,FIDエコ
ーEf,CE−FASTエコーEc,ダウンストリーム
エコーEdの4個のエコーのデータを収集する。また、
4個のエコーのデータで1つのk空間が埋るように、各
エコーに対応する位相エンコード勾配P1,P2,P
3,P4を、対応するエコーの収集前に印加する。 【効果】 従来のME−FAST法の1/4のスキャン
時間で1枚のイメージ分のエコーのデータを収集できる
ため、1枚のイメージを短時間に取得できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、MRI装置に関し、
さらに詳しくは、 ME(Multiple Echo)−FAST法を
利用して、繰り返し時間内に多数のエコーを収集し、そ
れらエコーのデータに基づいてイメージを再構成するM
RI装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図6は、[C.T.Mizumoto and E.Yoshito
me,Magn.Reson.Med.18,244(1991)]に報告されたME−
FAST法のパルスシーケンスの例示図である。このM
E−FAST法のパルスシーケンスBのビュースキャン
VBでは、FADE法と同様にリード勾配の関係が−R
1=R2,R4=−R5であり、リード勾配R2の終わ
りのタイミングtfでFIDエコーEfを結像し,リー
ド勾配R4の始めのタイミングtcでCE−FASTエ
コーEcを結像する。
【0003】ところが、全てのリード勾配のうちの相殺
されないリード勾配R3(斜線部分)を適切に設定する
ことにより、タイミングtfから前の勾配がリード勾配
R3に等しくなるタイミングtuで アップストリーム
エコー(upstream echo)Euを結像させ,タイミング
tcから後の勾配がリード勾配R3に等しくなるタイミ
ングtdで ダウンストリームエコー(downstream ech
o)Edを結像させるところが、FADE法と異なって
いる。
【0004】なお、図中、α゜はフリップ角α゜のRF
パルスである。TRは、繰り返し時間である。PHは、
位相エンコード勾配である。RWは、位相エンコード勾
配PHをリワインドするリワインダである。
【0005】このようなビュースキャンVBを1つのk
空間を埋める位相エンコード数だけ繰り返し、収集され
たアップストリームエコーEuのデータから1枚のアッ
プストリームエコーイメージを再構成する。また、FI
DエコーEfのデータから1枚のFIDエコーイメージ
を再構成する。また、CE−FASTエコーEcのデー
タから1枚のCE−FASTエコーイメージを再構成す
る。また、ダウンストリームエコーEdのデータから1
枚のダウンストリームエコーイメージを再構成する。な
お、リード勾配の設定に応じて、さらに高次のアップス
トリームエコー,ダウンストリームエコーを結像させ、
繰り返し時間TR内に結像するエコーの数を増やすこと
も可能である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】前記ME−FAST法
のパルスシーケンスBを適用してイメージングを行う従
来のMRI装置では、繰り返し時間TR内に、アップス
トリームエコーEu,FIDエコーEf,CE−FAS
TエコーEcおよびダウンストリームエコーEdを収集
し、それぞれのエコーによる4枚のイメージを取得する
ことが出来る。さらに高次のアップストリームエコー,
ダウンストリームエコーを結像させ、繰り返し時間TR
内に結像するエコーの数を増やせば、さらに多くのイメ
ージを取得することも可能である。しかし、他方では、
1枚のイメージだけでも,より短時間に取得したいとい
う要望もある。そこで、この発明の目的は、ME−FA
ST法を利用して、短時間に1枚のイメージを取得する
ことが可能なMRI装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明のMRI装置
は、ME−FAST法を利用して、繰り返し時間内に1
個のFIDエコー,1個のCE−FASTエコー,1個
以上のアップストリームエコーおよび1個以上のダウン
ストリームエコーのうちの1個のアップストリームエコ
ーまたは1個のダウンストリームエコーが含まれる2個
以上のエコーを収集し、それらエコーのデータに基づい
てイメージを再構成するMRI装置であって、前記2個
以上のエコーのデータにより1つのk空間が埋るような
各エコーに対応する位相エンコード勾配を対応するエコ
ーの収集前に印加する位相エンコード勾配印加手段と、
繰り返し時間内の全エコーの収集後に前記各エコーに対
応する位相エンコード勾配をリワインドするリワインダ
を印加するリワインダ印加手段と、前記各エコーのデー
タに基づいて1枚のイメージを再構成するイメージ再構
成手段とを具備したことを構成上の特徴とするものであ
る。
【0008】
【作用】この発明のMRI装置では、ME−FAST法
を利用して、1個のアップストリームエコーまたは1個
のダウンストリームエコーが含まれる2個以上のエコー
のデータで、合せて1つのk空間を埋るようにする。す
なわち、k空間を構成する全ての位相エンコード数を2
個以上の各エコーで分担させ、各エコーに対応する位相
エンコード勾配を対応するエコーの収集前に印加する。
そして、収集した各エコーのデータで1つのk空間を埋
めて、1枚のイメージを再構成する。従って、繰り返し
時間内にn個のエコーを収集し、例えばk空間を構成す
る全ての位相エンコード数を前記n個のエコーで等しく
分担させると、従来のME−FAST法の1/nのスキ
ャン時間で1枚のイメージ分のエコーのデータを収集す
ることが出来、1枚のイメージを短時間に取得すること
が出来る。
【0009】
【実施例】以下、図に示す実施例に基づいてこの発明を
さらに詳細に説明する。なお、これによりこの発明が限
定されるものではない。図1は、この発明の第1実施例
のMRI装置1のブロック図である。計算機2は、操作
卓13からの指示に基づき、全体の作動を制御する。シ
ーケンスコントローラ3は、記憶しているシーケンスに
基づいて、勾配磁場駆動回路4を作動させ、マグネット
アセンブリ5の勾配磁場コイルで勾配磁場を発生させ
る。また、ゲート変調回路7を制御し、RF発振回路6
で発生したRFパルスを所定の波形に変調して、RF電
力増幅器8からマグネットアセンブリ5の送信コイルに
加える。
【0010】マグネットアセンブリ5の受信コイルで得
られたNMR信号は、前置増幅器9を介して位相検波器
10に入力され、さらにAD変換器11を介して計算機
2に入力される。計算機2は、AD変換器11から得た
NMR信号のデータに基づき、イメージを再構成し、表
示装置12で表示する。
【0011】図2は、このMRI装置1によって実行さ
れるパルスシーケンスの例示図である。このパルスシー
ケンスAのビュースキャンVAでは、リード軸に印加さ
れるリード勾配の関係が−R1=R2,R4=−R5で
あり、リード勾配R2の終わりのタイミングtfでFI
DエコーEfを結像し,リード勾配R4の始めのタイミ
ングtcでCE−FASTエコーEcを結像する。ま
た、タイミングtfから前の勾配がリード勾配R3(斜
線部分)に等しくなるタイミングtuでアップストリー
ムエコーEuを結像し,タイミングtcから後の勾配が
リード勾配R3に等しくなるタイミングtdでダウンス
トリームエコーEdを結像する。従来のME−FAST
法のパルスシーケンスBのビュースキャンVB(図6参
照)と比較すると、位相エンコード軸に印加される位相
エンコード勾配P1,P2,P3,P4およびリワイン
ダP5が異なっている。
【0012】位相エンコード勾配P1は、図3に示す1
つのk空間KAのうちの低周波部KALL±に該当する
位相エンコード勾配であり、その位相エンコード数はk
空間KAを構成する位相エンコード数の1/4である。
位相エンコード勾配P2は、前記位相エンコード勾配P
1と加算されたときに図3に示す1つのk空間KAのう
ちの低周波部KAL±に該当する位相エンコード勾配と
なるような勾配である。位相エンコード勾配P3は、前
記位相エンコード勾配P1およびP2と加算されたとき
に図3に示す1つのk空間KAのうちの高周波部KAH
±に該当する位相エンコード勾配となるような勾配であ
る。位相エンコード勾配P4は、前記位相エンコード勾
配P1,P2およびP3と加算されたときに図3に示す
1つのk空間KAのうちの高周波部KAHH±に該当す
る位相エンコード勾配となるような勾配である。また、
リワインダP5は、前記位相エンコード勾配P1,P
2,P3およびP4をリワインドするものである。
【0013】このようなビュースキャンVAを位相エン
コード勾配P1の位相エンコード数だけ繰り返すことに
より、アップストリームエコーEuが位相エンコード勾
配P1により位相エンコードされて、k空間KA上の低
周波部KALL±はアップストリームエコーEuのデー
タで埋められる。また、FIDエコーEfが前記アップ
ストリームエコーEuより位相エンコード勾配P2の分
だけ高周波側に位相エンコードされて、k空間KA上の
低周波部KAL±はFIDエコーEfのデータで埋めら
れる。また、CE−FASTエコーEcが前記FIDエ
コーEfより位相エンコード勾配P3の分だけ高周波側
に位相エンコードされて、k空間KA上の高周波部KA
H±はCE−FASTエコーEcのデータで埋められ
る。また、ダウンストリームエコーEdが前記CE−F
ASTエコーEcより位相エンコード勾配P4の分だけ
高周波側に位相エンコードされて、k空間KA上の高周
波部KAHH±はダウンストリームエコーEdのデータ
で埋められる。計算機2は、こうして得られる1つのk
空間KAを埋める各エコーのデータに基づき、1枚のイ
メージを再構成し、表示装置12で表示する。
【0014】このMRI装置1では、従来のMRI装置
の1/4の時間で1枚のイメージ分のエコーのデータを
収集することが出来る。すなわち、1枚のイメージを従
来の1/4の時間で取得することが出来る。また、前記
イメージは、アップストリームエコーEuのデータ,F
IDエコーEfのデータ,CE−FASTエコーEcの
データおよびダウンストリームエコーEdのデータに基
づいて再構成されること及び短時間にデータを収集する
ことにより、新たなコントラストを呈すると共に体動の
影響を受けにくくなる。また、位相エンコード勾配P
2,P3,P4によるディフェーズ効果により、先に結
像したエコーが後から結像するエコーに重なることが防
止されて、良好なイメージとなる。なお、振幅補正,位
相補正を合せて実施することが望ましい。なお、上記実
施例では、位相エンコード勾配P2,P3,P4が、+
側と−極側の2ステップだけであるが、ビュースキャン
VAごとに異なる位相エンコード勾配P2,P3,P4
を印加することも可能である。
【0015】また、k空間KAを各エコーに分担させる
方法は、図3に示した方法以外に、例えば図4に示すよ
うに、高周波部KAHH±をアップストリームエコーE
uのデータによって埋め,低周波部KALL±をFID
エコーEfのデータによって埋め,低周波部KAL±を
CE−FASTエコーEcのデータによって埋め,高周
波部KAH±をダウンストリームエコーEdのデータに
よって埋めるように、k空間KAを構成する位相エンコ
ード数を各エコーに分担させることも可能である。この
方法では、FIDエコーEfによるコントラストが支配
的なイメージを取得することになる。
【0016】なお、k空間KAを構成する位相エンコー
ド数を特定のエコーに偏らせて分担させてもよい。例え
ば、2個のアップストリームエコーで1つのk空間を分
担させたり、3個のダウンストリームエコーで1つのk
空間を分担させたり、2個のアップストリームエコーと
2個のダウンストリームエコーで1つのk空間を分担さ
せたり、2個のアップストリームエコーとFIDエコー
とCE−FASTエコーと2個のダウンストリームエコ
ーとで1つのk空間を分担させることも可能である。ま
た、前記パルスシーケンスAに、MTC(Magnetization T
ransfer Contrast),IR,T2強調などの各種プリパ
レーションシーケンスを任意に付加することも可能であ
る。これらによって、イメージのコントラストを変える
ことが出来る。
【0017】さらに、図5に示すように、前記パルスシ
ーケンスAのスライス軸に位相エンコード勾配P6およ
びリワインダP7を付加して、3D用パルスシーケンス
Aaとすることも可能である。
【0018】さらに、見方を変えれば、従来と同じスキ
ャン時間でよいなら、繰り返し時間TRを長くすること
が可能となり(例えば、図3,図4の如くk空間KAを
各エコーに等しく分担させた場合はTRを4倍にでき
る)、それによってS/N比を向上することが出来る。
【0019】
【発明の効果】この発明のMRI装置によれば、従来の
ME−FAST法の1/n(n≧2)のスキャン時間で
1枚のイメージ分のエコーのデータを収集することが出
来る。すなわち、1枚のイメージを短時間に取得するこ
とが出来るようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例のMRI装置のブロック図
である。
【図2】図1の装置により実行されるパルスシーケンス
の例示図である。
【図3】図1の装置に係るエコーのデータによるk空間
の分布についての説明図である。
【図4】図1の装置に係るエコーのデータによるk空間
の分布についての説明図である。
【図5】図2のパルスシーケンスに基づく3D用パルス
シーケンスの例示図である。
【図6】従来のME−FAST法のパルスシーケンスの
例示図である。
【符号の説明】
1 MRI装置 2 計算機 A パルスシーケンス Ec CE−FASTエコー Ed ダウンストリームエコー Ef FIDエコー Eu アップストリームエコー KA k空間 P1 位相エンコード勾配 P5 リワインダ R3 リード勾配

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ME−FAST法を利用して、繰り返し
    時間内に1個のFIDエコー,1個のCE−FASTエ
    コー,1個以上のアップストリームエコーおよび1個以
    上のダウンストリームエコーのうちの1個のアップスト
    リームエコーまたは1個のダウンストリームエコーが含
    まれる2個以上のエコーを収集し、それらエコーのデー
    タに基づいてイメージを再構成するMRI装置であっ
    て、前記2個以上のエコーのデータにより1つのk空間
    が埋るような各エコーに対応する位相エンコード勾配を
    対応するエコーの収集前に印加する位相エンコード勾配
    印加手段と、繰り返し時間内の全エコーの収集後に前記
    各エコーに対応する位相エンコード勾配をリワインドす
    るリワインダを印加するリワインダ印加手段と、前記各
    エコーのデータに基づいて1枚のイメージを再構成する
    イメージ再構成手段とを具備したことを特徴とするMR
    I装置。
JP5031496A 1993-02-22 1993-02-22 Mri装置 Pending JPH06237910A (ja)

Priority Applications (1)

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JP5031496A JPH06237910A (ja) 1993-02-22 1993-02-22 Mri装置

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JP5031496A JPH06237910A (ja) 1993-02-22 1993-02-22 Mri装置

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ID=12332860

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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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