JPH0425098A - セラミック多層基板 - Google Patents
セラミック多層基板Info
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- JPH0425098A JPH0425098A JP2127294A JP12729490A JPH0425098A JP H0425098 A JPH0425098 A JP H0425098A JP 2127294 A JP2127294 A JP 2127294A JP 12729490 A JP12729490 A JP 12729490A JP H0425098 A JPH0425098 A JP H0425098A
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- Japan
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- holes
- substrate
- dielectric
- ceramic multilayer
- high dielectric
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- Pending
Links
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Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、電子機器等の回路に広く用いることのできる
セラミック多層基板に関する。
セラミック多層基板に関する。
従来の技術
近年、セラミック多層基板は熱伝導性や耐熱性。
化学的耐久性等の点で有機材料基板よシ優れた特性を有
するため、有機材料基板に代るものとして、また電子機
器の小型化、多様化に伴い、高密度配線、高密度実装基
板として広く使用されるように2、、 なってきた。さらに、今後はコンテ゛ンザ等の受動部品
までその内部に内蔵するところのセラミック多層基板の
需要が高まると予想される。
するため、有機材料基板に代るものとして、また電子機
器の小型化、多様化に伴い、高密度配線、高密度実装基
板として広く使用されるように2、、 なってきた。さらに、今後はコンテ゛ンザ等の受動部品
までその内部に内蔵するところのセラミック多層基板の
需要が高まると予想される。
以下図面を参照しながら従来のセラミック多層基板につ
いて説明する。
いて説明する。
第2図は従来のセラミック多層基板の製造過程の一部を
示す断面図であり、第3図は従来の製造方法によシ作製
されたセラミック多層基板の断面図である。
示す断面図であり、第3図は従来の製造方法によシ作製
されたセラミック多層基板の断面図である。
第2図に示すように、低誘電率を有する無機物粉体を主
成分としこれに熱可塑性樹脂等を添加して成形したセラ
ミックグリーンシート1aの必要個所に穿孔機等でビア
ホール2を形成し、その内部に導電ペーストを印刷等で
充填し導体層3を設ける。さらに他のセラミックグリー
ンシー)Ib上に導体ペーストで配線4やコンデンサ用
の電極ペースト5を印刷する。また高誘電率を有する無
機物粉体を主成分とし、これに熱可塑性樹脂等を添加し
て成形した高誘電体グリーンシート6にも同じく必要個
所に穿孔機等でビアホー/I/2を形成3 、− し、その内部に導体層3を設ける。このように構成され
たグリーンシーI・を必要枚数順次積層した後、焼成す
ることによって第3図に示すセラミツ、り多層基板が得
られる。
成分としこれに熱可塑性樹脂等を添加して成形したセラ
ミックグリーンシート1aの必要個所に穿孔機等でビア
ホール2を形成し、その内部に導電ペーストを印刷等で
充填し導体層3を設ける。さらに他のセラミックグリー
ンシー)Ib上に導体ペーストで配線4やコンデンサ用
の電極ペースト5を印刷する。また高誘電率を有する無
機物粉体を主成分とし、これに熱可塑性樹脂等を添加し
て成形した高誘電体グリーンシート6にも同じく必要個
所に穿孔機等でビアホー/I/2を形成3 、− し、その内部に導体層3を設ける。このように構成され
たグリーンシーI・を必要枚数順次積層した後、焼成す
ることによって第3図に示すセラミツ、り多層基板が得
られる。
第3図において、7は高誘電体層、8は電極であり、9
は電極8によって挟まれたコンデンサである。また10
はビアホール、11はスル−ホーであり、高誘電体層7
や低誘電率セラミック層12に設けられている配線導体
13や電極8と電気的に接続している。
は電極8によって挟まれたコンデンサである。また10
はビアホール、11はスル−ホーであり、高誘電体層7
や低誘電率セラミック層12に設けられている配線導体
13や電極8と電気的に接続している。
一般的には、このように構成されたセラミック多層基板
に回路部品等を実装し、電子機器等に使用される。
に回路部品等を実装し、電子機器等に使用される。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記従来の構成では、高誘電体層7に形成
された電極8間で、電位が異なる場合、電気容量が生じ
、したがってコンデンサ9を形成することができるが、
高誘電体層7」二に設けられているコンデンサ9を接続
する配線間や、信号線間にも電気容量が発生し、信号の
クロスト−りや遅延の原因となる。また高誘電体層γに
信号線等を配線し々い場合には、低誘電率セラミック層
12上に設けられている配線導体13間をスルーホ)v
llやビアホール10で接続しなければならず、第3図
に示すように高誘電体層7を貫通するビアホー/I/1
0とヌル−ホー/v11の間で不必要な電気容量を発生
するなど大きな課題があった。
された電極8間で、電位が異なる場合、電気容量が生じ
、したがってコンデンサ9を形成することができるが、
高誘電体層7」二に設けられているコンデンサ9を接続
する配線間や、信号線間にも電気容量が発生し、信号の
クロスト−りや遅延の原因となる。また高誘電体層γに
信号線等を配線し々い場合には、低誘電率セラミック層
12上に設けられている配線導体13間をスルーホ)v
llやビアホール10で接続しなければならず、第3図
に示すように高誘電体層7を貫通するビアホー/I/1
0とヌル−ホー/v11の間で不必要な電気容量を発生
するなど大きな課題があった。
さらに、セラミック多層基板に内蔵されるコンデンサ9
の容量を大きくするだめには高誘電体層7の暦数を増加
させる必要がちシ、したがってセラミック多層基板に占
める高誘電体ノー7の体積も大きくな9、低誘電率セラ
ミク層12と高誘電体層7を同時に焼成する際、その境
界面にクラックを生じたり、層間剥離を生じるという極
めて重大な課題を有していた。
の容量を大きくするだめには高誘電体層7の暦数を増加
させる必要がちシ、したがってセラミック多層基板に占
める高誘電体ノー7の体積も大きくな9、低誘電率セラ
ミク層12と高誘電体層7を同時に焼成する際、その境
界面にクラックを生じたり、層間剥離を生じるという極
めて重大な課題を有していた。
本発明は、上記課題を解決するものであり、信号線間に
クロストークや信号の遅延などの障害を発生することの
ない信頼性に優れたセラミック多層基板を提供すること
を目的とするものである。
クロストークや信号の遅延などの障害を発生することの
ない信頼性に優れたセラミック多層基板を提供すること
を目的とするものである。
課題を解決するための手段
5ぺ−7
本発明は上記目的を達成するために、セラミック多層基
板を構成する低誘電率基板に複数個のビアホールとスル
ーホールを設け、必要とする数のビアホールとスルーホ
ールの内部に高誘電体4.J 全充填し、基板の内部に
コンデンサを内蔵する構成としたものである。
板を構成する低誘電率基板に複数個のビアホールとスル
ーホールを設け、必要とする数のビアホールとスルーホ
ールの内部に高誘電体4.J 全充填し、基板の内部に
コンデンサを内蔵する構成としたものである。
作 川
したがって本発明は」二層した構成によって不必要な電
気容量を発生することがないので、信号線間にクロスト
−りや信号の遅延などの障害を生じることがなく、また
高誘電体層と低誘電率セラミック層の同時焼成時に発生
する収縮歪によるクラックや層間剥離という現象を避け
ることもできる。
気容量を発生することがないので、信号線間にクロスト
−りや信号の遅延などの障害を生じることがなく、また
高誘電体層と低誘電率セラミック層の同時焼成時に発生
する収縮歪によるクラックや層間剥離という現象を避け
ることもできる。
実施例
以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら説
明する。
明する。
第1図は本発明の一実施例の構成を示す断面図である。
同図において21はアルミナやガラス等からなる低誘′
「E率基板、22は鉄・鉛系ペロフヌカイl−4gを主
成分とする高誘電体材、23は内層導体、24は表面導
体、25は内層導体23と表面導体24を電気的に接続
するスルーホール導体である。高誘電体材22は内層基
板を構成する低誘電率基板21に設けられている多数の
スルーホル26の必要個所に充填されている。
「E率基板、22は鉄・鉛系ペロフヌカイl−4gを主
成分とする高誘電体材、23は内層導体、24は表面導
体、25は内層導体23と表面導体24を電気的に接続
するスルーホール導体である。高誘電体材22は内層基
板を構成する低誘電率基板21に設けられている多数の
スルーホル26の必要個所に充填されている。
次に」二層実施例の動作について説明する。」二層実施
例において、表面導体24は低誘電率基板210両面に
形成されてい配線(図示せず)を電気的に接続しておシ
、内層導体23は内層基板を形成している低誘電率基板
21の表面に形成されている配線を構成すると同時に低
誘電率基板21のスルーホール26に充填されている高
誘電体層22の電極として動作し、高誘電体材22とと
もにスルーホール26またはビアホール27の内部でコ
ンデンサ28を構成している。
例において、表面導体24は低誘電率基板210両面に
形成されてい配線(図示せず)を電気的に接続しておシ
、内層導体23は内層基板を形成している低誘電率基板
21の表面に形成されている配線を構成すると同時に低
誘電率基板21のスルーホール26に充填されている高
誘電体層22の電極として動作し、高誘電体材22とと
もにスルーホール26またはビアホール27の内部でコ
ンデンサ28を構成している。
以」二のように本実施例によれば、セラミック多層基板
に内蔵するコンデンサ28をグリーンシトとして作成す
る必要がなくスルーホール26やビアホール27の内部
に設けることができまた高誘電体層22の量を低誘電率
基板21の量に比較了\−2 して極めて少なくすることができるので低誘電率JI(
板21と高誘電体制22との収縮率の差による影響が小
さく、クラックや層間剥離等の障害を防止することがで
きる。
に内蔵するコンデンサ28をグリーンシトとして作成す
る必要がなくスルーホール26やビアホール27の内部
に設けることができまた高誘電体層22の量を低誘電率
基板21の量に比較了\−2 して極めて少なくすることができるので低誘電率JI(
板21と高誘電体制22との収縮率の差による影響が小
さく、クラックや層間剥離等の障害を防止することがで
きる。
なお、本実施例において、低誘電率基板21の4J別と
してアルミナとガラスを主成分としたが低誘電率を有す
る制別であれば他のセラミック利を使用することもでき
、寸だ高誘電体材として鉄鉛系ペロブスカイ1−を使用
しだが、高誘電率を有するイ2料であれば他の誘電利料
を使用することもできる。
してアルミナとガラスを主成分としたが低誘電率を有す
る制別であれば他のセラミック利を使用することもでき
、寸だ高誘電体材として鉄鉛系ペロブスカイ1−を使用
しだが、高誘電率を有するイ2料であれば他の誘電利料
を使用することもできる。
発明の効果
以−1−のように本発明によれば、低誘電率基板に複数
個のビアホールとヌルーホールヲ設け、必要とする数の
ビアホールとスルーホールの内部に高誘電体制を充填し
て順次積層することによって多層セラミック基板の内部
にコンデンサを形成しているので、信号線が高誘電体制
を挟んで向い合うことがなく、クロスドータや信号の遅
延等の障害がなくなり、したがって配線密度を」−げる
ことができる。
個のビアホールとヌルーホールヲ設け、必要とする数の
ビアホールとスルーホールの内部に高誘電体制を充填し
て順次積層することによって多層セラミック基板の内部
にコンデンサを形成しているので、信号線が高誘電体制
を挟んで向い合うことがなく、クロスドータや信号の遅
延等の障害がなくなり、したがって配線密度を」−げる
ことができる。
さらに高誘電体制がセラミック多層基板全体に占める割
合いが小さいために低誘電率基板の材料との収縮率の差
による歪が小さく、層間でクラックや層間剥離等が発生
しないという利点を有する。
合いが小さいために低誘電率基板の材料との収縮率の差
による歪が小さく、層間でクラックや層間剥離等が発生
しないという利点を有する。
第1図は本発明の一実施例におけるセフミック多層基板
の断面図、第2図は従来のセラミック多層基板の製造過
程の一部を示す断面図、第3図は同セラミック多層基板
の断面図である。 21・・・・低誘電率基板、22・・・・・高誘電体制
、26・・・・・・スルーホール、27・・・・・・ビ
アホール、28・・・・・コンデンサ。
の断面図、第2図は従来のセラミック多層基板の製造過
程の一部を示す断面図、第3図は同セラミック多層基板
の断面図である。 21・・・・低誘電率基板、22・・・・・高誘電体制
、26・・・・・・スルーホール、27・・・・・・ビ
アホール、28・・・・・コンデンサ。
Claims (1)
- 低誘電率基板を複数枚積層して構成するセラミック多層
基板において、前記低誘電率基板に複数個のビアホール
と複数個のスルーホールを形成し、必要とする数の前記
ビアホールとスルーホールの内部に高誘電体材を充填し
、基板の内部にコンデンサを内蔵する構成としたセラミ
ック多層基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2127294A JPH0425098A (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | セラミック多層基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2127294A JPH0425098A (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | セラミック多層基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0425098A true JPH0425098A (ja) | 1992-01-28 |
Family
ID=14956405
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2127294A Pending JPH0425098A (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | セラミック多層基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0425098A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994007348A1 (en) * | 1992-09-24 | 1994-03-31 | Hughes Aircraft Company | Dielectric vias within multilayer 3-dimensional structures/substrates |
US6200400B1 (en) * | 1998-01-15 | 2001-03-13 | International Business Machines Corp. | Method for making high k dielectric material with low k dielectric sheathed signal vias |
-
1990
- 1990-05-16 JP JP2127294A patent/JPH0425098A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994007348A1 (en) * | 1992-09-24 | 1994-03-31 | Hughes Aircraft Company | Dielectric vias within multilayer 3-dimensional structures/substrates |
US6200400B1 (en) * | 1998-01-15 | 2001-03-13 | International Business Machines Corp. | Method for making high k dielectric material with low k dielectric sheathed signal vias |
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