JPH04170518A - 液晶素子 - Google Patents
液晶素子Info
- Publication number
- JPH04170518A JPH04170518A JP2298644A JP29864490A JPH04170518A JP H04170518 A JPH04170518 A JP H04170518A JP 2298644 A JP2298644 A JP 2298644A JP 29864490 A JP29864490 A JP 29864490A JP H04170518 A JPH04170518 A JP H04170518A
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- JP
- Japan
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- formula
- liquid crystal
- optically active
- compound
- alkyl group
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- Pending
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- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
- Liquid Crystal Substances (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は液晶素子に関し、より詳しくは、強誘電性液
晶表示素子に関する。
晶表示素子に関する。
現在、最も広く用いられている液晶表示素子は液晶のネ
マチック相を利用したものである。しかし、ツイステソ
ト不マチック(TN)型液晶表示素子はライン数の増加
に伴ってコントラストが低下するため、2000X20
00ライン等の大容量表示素子を作ることは困難となっ
ている。このTN型液晶表示素子を改良するために、ス
ーパーソイステ、ド不マチック(STN)型1ffl
高表示素子、タフ゛ルスーパーツイステンド不マチソク
(DSTN)型液晶表示素子が開発されているけれとも
、ライン数の増加と共にコントラストおよび応答速度か
低下するため、現状ては800X 1024ライン程度
の表示容量が限界となっている。また、基板上に薄膜ト
ランジスタ(TPT)を配列したアクティブマトリック
ス方式の液晶表示素子も開発され、これにより1000
X 1000ライン等の大容量表示か可能になった。し
かしながら、このアクティブマトリックス方式液晶表示
素子は、製造プロセスが長く、歩留りの低下も生じやす
(、製造コストが非常に高くなるという欠点を有してい
る。 近年、上記ネマチック相を利用した液晶表示素子とは別
に、スメクチック相を利用した種々の表示モードの研究
も盛んに行われている。その中で特に、強誘電性液晶表
示素子(アプライド フィジックス レターズ、36巻
、第899頁(1980年))が有望視されている。こ
の表示素子は、強誘電性液晶であるカイラルスメクチッ
クC相、カイラルスメクチックI相などを利用するもの
であり、メモリー性を利用する方式であることから、応
答速度の向上にともなって表示の大容量化が可能となっ
ている。また薄膜トランジスタなどのアクティブ素子を
必要としないことから、製造コストも上からない。さら
に、上記の強誘電性液晶表示素子は視角が広いという長
所も兼ね備えている。 したがって、2000X2000ライン等の大容量表示
用の素子として大いに有望視されている。
マチック相を利用したものである。しかし、ツイステソ
ト不マチック(TN)型液晶表示素子はライン数の増加
に伴ってコントラストが低下するため、2000X20
00ライン等の大容量表示素子を作ることは困難となっ
ている。このTN型液晶表示素子を改良するために、ス
ーパーソイステ、ド不マチック(STN)型1ffl
高表示素子、タフ゛ルスーパーツイステンド不マチソク
(DSTN)型液晶表示素子が開発されているけれとも
、ライン数の増加と共にコントラストおよび応答速度か
低下するため、現状ては800X 1024ライン程度
の表示容量が限界となっている。また、基板上に薄膜ト
ランジスタ(TPT)を配列したアクティブマトリック
ス方式の液晶表示素子も開発され、これにより1000
X 1000ライン等の大容量表示か可能になった。し
かしながら、このアクティブマトリックス方式液晶表示
素子は、製造プロセスが長く、歩留りの低下も生じやす
(、製造コストが非常に高くなるという欠点を有してい
る。 近年、上記ネマチック相を利用した液晶表示素子とは別
に、スメクチック相を利用した種々の表示モードの研究
も盛んに行われている。その中で特に、強誘電性液晶表
示素子(アプライド フィジックス レターズ、36巻
、第899頁(1980年))が有望視されている。こ
の表示素子は、強誘電性液晶であるカイラルスメクチッ
クC相、カイラルスメクチックI相などを利用するもの
であり、メモリー性を利用する方式であることから、応
答速度の向上にともなって表示の大容量化が可能となっ
ている。また薄膜トランジスタなどのアクティブ素子を
必要としないことから、製造コストも上からない。さら
に、上記の強誘電性液晶表示素子は視角が広いという長
所も兼ね備えている。 したがって、2000X2000ライン等の大容量表示
用の素子として大いに有望視されている。
しかしながら、上記強誘電性液晶表示素子は応答速度と
メモリ性に問題があり、実用化か阻まれている。 応答速度の問題は、強誘電性液晶素子の表示容量が応答
速度によって制約されることにより生じている。表示容
量と応答速度との関係は、駆動法によって異なるが、例
えば、次式のように表すことができる。 τくP−□ L−n (ここで、τは応答速度、Pは書き込みパルス幅、Tは
1画面書き込み時間、Lは走査線数、nは書き込みに必
要なパルス幅を表わしている。)この式から分かるよう
に、表示の大容量化のためには応答速度τを向上させる
必要かある。さらに、この応答速度τは、次式に示すよ
うに、強誘電性液晶の自発分極と結び付けられている。 η 5−E (ここで、ηは粘度、Psは自発分極、Eは印加電圧を
表わしている。)この式から分かるように、応答速度τ
を向上させるためには自発分極Psを増大させることが
求められる。 一方、メモリ性の問題は、最近、吉田らによって報告さ
れたように、強誘電性液晶の自発分極Psによって誘起
される逆電場によって、メモリ状態が反転することによ
り生じている(吉田他、第13回液晶討論会、2Z15
(1987)、)。それゆえ、このメモリ性の問題に
対する対策の一つは強誘電性液晶の自発分極Psを小さ
くすることであり、現状では良好なメモリ性を得るため
には自発分極Psを10nC/cm2以下、好ましくは
5nC/cm2以下にすることか望まれる。 このように、応答速度の観点からは自発分極Psを大き
くすることが望まれ、一方、メモリ性の観点からは自発
分極Psを小さくすることか望まれる。このため、従来
は強誘電性液晶表示素子を実用化することができなかっ
た。 そこで、この発明の目的は、応答速度の向上とメモリ性
の向上を同時に達成でき、したかって実用に耐えられる
強誘電性液晶表示素子を提供することにある。
メモリ性に問題があり、実用化か阻まれている。 応答速度の問題は、強誘電性液晶素子の表示容量が応答
速度によって制約されることにより生じている。表示容
量と応答速度との関係は、駆動法によって異なるが、例
えば、次式のように表すことができる。 τくP−□ L−n (ここで、τは応答速度、Pは書き込みパルス幅、Tは
1画面書き込み時間、Lは走査線数、nは書き込みに必
要なパルス幅を表わしている。)この式から分かるよう
に、表示の大容量化のためには応答速度τを向上させる
必要かある。さらに、この応答速度τは、次式に示すよ
うに、強誘電性液晶の自発分極と結び付けられている。 η 5−E (ここで、ηは粘度、Psは自発分極、Eは印加電圧を
表わしている。)この式から分かるように、応答速度τ
を向上させるためには自発分極Psを増大させることが
求められる。 一方、メモリ性の問題は、最近、吉田らによって報告さ
れたように、強誘電性液晶の自発分極Psによって誘起
される逆電場によって、メモリ状態が反転することによ
り生じている(吉田他、第13回液晶討論会、2Z15
(1987)、)。それゆえ、このメモリ性の問題に
対する対策の一つは強誘電性液晶の自発分極Psを小さ
くすることであり、現状では良好なメモリ性を得るため
には自発分極Psを10nC/cm2以下、好ましくは
5nC/cm2以下にすることか望まれる。 このように、応答速度の観点からは自発分極Psを大き
くすることが望まれ、一方、メモリ性の観点からは自発
分極Psを小さくすることか望まれる。このため、従来
は強誘電性液晶表示素子を実用化することができなかっ
た。 そこで、この発明の目的は、応答速度の向上とメモリ性
の向上を同時に達成でき、したかって実用に耐えられる
強誘電性液晶表示素子を提供することにある。
上記目的を達成するために、この発明は、一対の絶縁性
基板上のそれぞれに導電性膜を形成し、上記導電性膜上
にそれぞれ膜厚500〜3000人の810.膜を形成
し、 上記Si○、膜上に下記一般式(1) で表される基本構造を有する膜厚200〜500人の高
分子膜を形成し、 上記高分子膜をラビングし、 上記一対の基板をラビング方向が同一になるように、か
つ上記基板間の距離か1.2〜3μmになるように貼り
合わせ、 上記基板間に強誘電性液晶を注入してなる液晶素子にお
いて、 上記強誘電性液晶が下記一般式(2) (式中Rは炭素数5〜12のアルキル基またはアルキル
オキシ基を示し、Xは一〇〇〇−または一0CR,−を
示し、Yは一〇−または単結合を示し、nは1または2
の整数を示す。また、*を付した炭素原子は不斉炭素原
子であることを示している。) て表される光学活性基を有する化合物を少なくとも一種
以上5〜10%含有し、 下記一般式(3) (式中Rは炭素数5〜12のアルキル基またはアルキル
オキ7基を示し、R′は炭素数2〜10のアルキル基を
示す。また、*を付した炭素原子は不斉炭素原子である
ことを示す。) で表される光学活性基を有する化合物を少なくとも一種
以上10〜20%含有し、 下記一般式(4) (式中Rは炭素数5〜12のアルキル基またはアルキル
オキシ基を示し、R′は炭素数2〜10のアルキル基を
示す。また、*を付した炭素原子は不斉炭素原子である
ことを示す。) て表される光学活性基を有する化合物を少なくとも一種
以上5〜15%含有し、 下記一般式(5) (式中R及びR′は炭素数5〜12のアルキル基を示す
。) て表される非光学活性化合物を30〜70%含有し、 下記一般式(6) (式中R及びR′は炭素数5〜12のアルキル基を示す
。) て表される非光学活性化合物を15〜30%含有して、
少なくともスメクチックC相、スメクチックA相、ネマ
チック相を示すようにしたことを特徴としている。 この発明は次に述へる発見により創出された。 ます、本発明の液晶素子は室温で通常の強誘電性液晶素
子とは異なる配向を示した。すなわち、従来の強誘電性
液晶素子においては液晶の7エプロン構造による/グサ
グ欠陥か観察されるのに対して、この発明の強誘電性液
晶素子においては室温で明確なングサグ欠陥か観察され
ない。また、本発明の液晶素子に用いた強誘電性液晶組
成物の自発分極は約20nC/cm’と大きいにもかか
わらず、室温で良好なメモリ性を示した。
基板上のそれぞれに導電性膜を形成し、上記導電性膜上
にそれぞれ膜厚500〜3000人の810.膜を形成
し、 上記Si○、膜上に下記一般式(1) で表される基本構造を有する膜厚200〜500人の高
分子膜を形成し、 上記高分子膜をラビングし、 上記一対の基板をラビング方向が同一になるように、か
つ上記基板間の距離か1.2〜3μmになるように貼り
合わせ、 上記基板間に強誘電性液晶を注入してなる液晶素子にお
いて、 上記強誘電性液晶が下記一般式(2) (式中Rは炭素数5〜12のアルキル基またはアルキル
オキシ基を示し、Xは一〇〇〇−または一0CR,−を
示し、Yは一〇−または単結合を示し、nは1または2
の整数を示す。また、*を付した炭素原子は不斉炭素原
子であることを示している。) て表される光学活性基を有する化合物を少なくとも一種
以上5〜10%含有し、 下記一般式(3) (式中Rは炭素数5〜12のアルキル基またはアルキル
オキ7基を示し、R′は炭素数2〜10のアルキル基を
示す。また、*を付した炭素原子は不斉炭素原子である
ことを示す。) で表される光学活性基を有する化合物を少なくとも一種
以上10〜20%含有し、 下記一般式(4) (式中Rは炭素数5〜12のアルキル基またはアルキル
オキシ基を示し、R′は炭素数2〜10のアルキル基を
示す。また、*を付した炭素原子は不斉炭素原子である
ことを示す。) て表される光学活性基を有する化合物を少なくとも一種
以上5〜15%含有し、 下記一般式(5) (式中R及びR′は炭素数5〜12のアルキル基を示す
。) て表される非光学活性化合物を30〜70%含有し、 下記一般式(6) (式中R及びR′は炭素数5〜12のアルキル基を示す
。) て表される非光学活性化合物を15〜30%含有して、
少なくともスメクチックC相、スメクチックA相、ネマ
チック相を示すようにしたことを特徴としている。 この発明は次に述へる発見により創出された。 ます、本発明の液晶素子は室温で通常の強誘電性液晶素
子とは異なる配向を示した。すなわち、従来の強誘電性
液晶素子においては液晶の7エプロン構造による/グサ
グ欠陥か観察されるのに対して、この発明の強誘電性液
晶素子においては室温で明確なングサグ欠陥か観察され
ない。また、本発明の液晶素子に用いた強誘電性液晶組
成物の自発分極は約20nC/cm’と大きいにもかか
わらず、室温で良好なメモリ性を示した。
以下、この発明の液晶素子を実施例により詳細に説明す
る。まず、調製した強誘電性液晶組成物について述べ、
次に上記液晶組成物を用いて構成した強誘電性液晶表示
素子について述べることとする。 別紙表1は調製した強誘電性液晶組成物の成分を示して
いる。この表1に示すように、上記液晶組成物は、一般
式(2)で表わされる光学活性基を有する化合物として H3 とをそれぞれ4%、3%たけ含有している(N。 2a、2b)。また、一般式(3)て表わされる光学活
性基を有する化合物として、 を16%だけ含有している(No、3)。さらに、一般
式(4)で表わされる光学活性基を有する化合物として
、 を8%だけ含有している(No、4)。また、−般式(
5)で表わされる非光学活性化合物として、とをそれぞ
れ24%、7%、14%たけ含有している(No、5a
、5b、5c)oさらに、一般式(6)で表わされる非
光学活性物として、とをそれぞれ14%、10%だけ含
有している(NO,6a、6b)。 この液晶組成物は、第1図に示すように、温度−5°C
において結晶相CからスメクチックC相SCへ相転移し
た。また、温度70°CにおいてスメクチックC相Sc
からスメクチックA相Saへ、温度75°Cにおいてス
メクチックA相Saからネマチック相Nへ、温度88°
Cにおいてネマチック相Nから等方性液体■へそれぞれ
相転移した。 上記液晶組成物を用いて、強誘電性液晶表示素子を次の
ようにして作製した。まず、2枚のカラス基板のそれぞ
れに膜厚2000人のITO(インジウム錫酸化物)膜
を蒸着し、所定の形状にパターン化した。次に、膜厚1
000人のS】○。 膜(東京応化製、商品名○CD)をスピンコードし、3
50’Cにて1時間焼成した。次に、一般式で表される
基本構造を有する膜厚350人の高分子膜をN−メチル
−2−ピロリドンとブチルセロソルブの12a合液に溶
かし、この溶液をスピンコードして、100°Cにて5
分、さらに220°Cにて1時間たけ加熱した。次に、
この2枚の基板のそれぞれをラビングし、この2枚の基
板のラビング方向か同一になるように、かつ基板間の距
離か20μmになるように貼り合わせた。そして、上に
述べた液晶組成物をこの基数間へ注入して封止した。−
旦、100’Cまて加熱した後、室温まて徐冷した。こ
のようにして強誘電性液晶表示素子を作製した。 この液晶表示素子を偏光顕微鏡によって観察したところ
、室温では、第4図に示すようにジグザグ欠陥りのある
配向を示す部分と、第5図に示すようにジグサグ欠陥の
ない配向を示す部分とか観察された。このジグサグ欠陥
りは温度の上昇とともに増加する傾向か認められた。例
えば、温度25°Cにおいて第5図に示すようにジグサ
グ欠陥のない配向を示している部分ても、50°Cまて
温度を上昇させると第6図に示すように/グサグ欠陥り
を有する配向に変化した。この変化は広い面積にわたっ
て観察された。なお、Xはラビング方向、Rはラビング
跡を示している。 次に、第2図に示すように、V、、= 10 Vの矩形
波電圧を印加して、この液晶表示素子の応答速度τを測
定した。第3図は、温度Taをパラメータとして、この
液晶表示素子の透過光量か0−50%、0→90%、1
0→90%に変化する時間を応答速度τとしてそれぞれ
表わしている。また、温度Ta=25°C,50’Cに
おけるチルト角θ、メモリ角2ωの値も併せて表わして
いる。同図に示すように、応答速度τは、温度Ta=2
5〜70°Cにおいて、透過光量の条件に応じてそれぞ
れ11.1〜72.5μsec、26.2〜939μs
ec、21.5〜41.2μsecの範囲の値を示した
。この液晶表示素子は、自発分極が約20 n C/
c m ’と大きいにもかかわらず室温で良好なメモリ
性を示し、この結果、応答速度τの向上とメモリ性の向
上とを同時に達成することかできた。したがって、実用
性に耐えられる強誘電性液晶表示素子を作製できた。な
お、室温ではパルス幅Δtが約80μsecでスイッチ
ングしたか、40℃より高温側ではスイッチングできな
かった。 なお、室温て、V、p=5V、f=0.2Hzの矩形波
を印加したところ、第7図または第8図に示すように、
ラビング方向Xに対して斜め方向にすし状のパターンか
生じるのか観察された。
る。まず、調製した強誘電性液晶組成物について述べ、
次に上記液晶組成物を用いて構成した強誘電性液晶表示
素子について述べることとする。 別紙表1は調製した強誘電性液晶組成物の成分を示して
いる。この表1に示すように、上記液晶組成物は、一般
式(2)で表わされる光学活性基を有する化合物として H3 とをそれぞれ4%、3%たけ含有している(N。 2a、2b)。また、一般式(3)て表わされる光学活
性基を有する化合物として、 を16%だけ含有している(No、3)。さらに、一般
式(4)で表わされる光学活性基を有する化合物として
、 を8%だけ含有している(No、4)。また、−般式(
5)で表わされる非光学活性化合物として、とをそれぞ
れ24%、7%、14%たけ含有している(No、5a
、5b、5c)oさらに、一般式(6)で表わされる非
光学活性物として、とをそれぞれ14%、10%だけ含
有している(NO,6a、6b)。 この液晶組成物は、第1図に示すように、温度−5°C
において結晶相CからスメクチックC相SCへ相転移し
た。また、温度70°CにおいてスメクチックC相Sc
からスメクチックA相Saへ、温度75°Cにおいてス
メクチックA相Saからネマチック相Nへ、温度88°
Cにおいてネマチック相Nから等方性液体■へそれぞれ
相転移した。 上記液晶組成物を用いて、強誘電性液晶表示素子を次の
ようにして作製した。まず、2枚のカラス基板のそれぞ
れに膜厚2000人のITO(インジウム錫酸化物)膜
を蒸着し、所定の形状にパターン化した。次に、膜厚1
000人のS】○。 膜(東京応化製、商品名○CD)をスピンコードし、3
50’Cにて1時間焼成した。次に、一般式で表される
基本構造を有する膜厚350人の高分子膜をN−メチル
−2−ピロリドンとブチルセロソルブの12a合液に溶
かし、この溶液をスピンコードして、100°Cにて5
分、さらに220°Cにて1時間たけ加熱した。次に、
この2枚の基板のそれぞれをラビングし、この2枚の基
板のラビング方向か同一になるように、かつ基板間の距
離か20μmになるように貼り合わせた。そして、上に
述べた液晶組成物をこの基数間へ注入して封止した。−
旦、100’Cまて加熱した後、室温まて徐冷した。こ
のようにして強誘電性液晶表示素子を作製した。 この液晶表示素子を偏光顕微鏡によって観察したところ
、室温では、第4図に示すようにジグザグ欠陥りのある
配向を示す部分と、第5図に示すようにジグサグ欠陥の
ない配向を示す部分とか観察された。このジグサグ欠陥
りは温度の上昇とともに増加する傾向か認められた。例
えば、温度25°Cにおいて第5図に示すようにジグサ
グ欠陥のない配向を示している部分ても、50°Cまて
温度を上昇させると第6図に示すように/グサグ欠陥り
を有する配向に変化した。この変化は広い面積にわたっ
て観察された。なお、Xはラビング方向、Rはラビング
跡を示している。 次に、第2図に示すように、V、、= 10 Vの矩形
波電圧を印加して、この液晶表示素子の応答速度τを測
定した。第3図は、温度Taをパラメータとして、この
液晶表示素子の透過光量か0−50%、0→90%、1
0→90%に変化する時間を応答速度τとしてそれぞれ
表わしている。また、温度Ta=25°C,50’Cに
おけるチルト角θ、メモリ角2ωの値も併せて表わして
いる。同図に示すように、応答速度τは、温度Ta=2
5〜70°Cにおいて、透過光量の条件に応じてそれぞ
れ11.1〜72.5μsec、26.2〜939μs
ec、21.5〜41.2μsecの範囲の値を示した
。この液晶表示素子は、自発分極が約20 n C/
c m ’と大きいにもかかわらず室温で良好なメモリ
性を示し、この結果、応答速度τの向上とメモリ性の向
上とを同時に達成することかできた。したがって、実用
性に耐えられる強誘電性液晶表示素子を作製できた。な
お、室温ではパルス幅Δtが約80μsecでスイッチ
ングしたか、40℃より高温側ではスイッチングできな
かった。 なお、室温て、V、p=5V、f=0.2Hzの矩形波
を印加したところ、第7図または第8図に示すように、
ラビング方向Xに対して斜め方向にすし状のパターンか
生じるのか観察された。
以上より明らかなように、この発明によれば、応答速度
の同上とメモリ性の向上を同時に達成でき、したかって
実用に耐えられる強誘電性液晶表示素子を提供すること
かできる。 −以下余白一 別紙 表1
の同上とメモリ性の向上を同時に達成でき、したかって
実用に耐えられる強誘電性液晶表示素子を提供すること
かできる。 −以下余白一 別紙 表1
第1図はこの発明の一実施例の強誘電性液晶表示素子を
構成する強誘電性液晶組成物か相転移する状態を示す図
、第2図は上記強誘電性液晶表示素子に印加した電圧波
形を示す図、第3図は上記強誘電性液晶表示素子の応答
速度の測定結果を示す図、第4図乃至第8図は上記強誘
電性液晶表示素子を偏光顕微鏡で観察した状態を示す図
である。 D・ ジグ号グ欠陥、R・・ラビング跡。
構成する強誘電性液晶組成物か相転移する状態を示す図
、第2図は上記強誘電性液晶表示素子に印加した電圧波
形を示す図、第3図は上記強誘電性液晶表示素子の応答
速度の測定結果を示す図、第4図乃至第8図は上記強誘
電性液晶表示素子を偏光顕微鏡で観察した状態を示す図
である。 D・ ジグ号グ欠陥、R・・ラビング跡。
Claims (1)
- (1)一対の絶縁性基板上のそれぞれに導電性膜を形成
し、 上記導電性膜上にそれぞれ膜厚500〜3000ÅのS
iO_2膜を形成し、 上記SiO_2膜上に下記一般式(1) ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(1) で表される基本構造を有する膜厚200〜500Åの高
分子膜を形成し、 上記高分子膜をラビングし、 上記一対の基板をラビング方向が同一になるように、か
つ上記基板間の距離が1.2〜3μmになるように貼り
合わせ、 上記基板間に強誘電性液晶を注入してなる液晶素子にお
いて、 上記強誘電性液晶が下記一般式(2) ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(2) (式中Rは炭素数5〜12のアルキル基またはアルキル
オキシ基を示し、Xは−COO−または−OCH_2−
を示し、Yは−O−または単結合を示し、nは1または
2の整数を示す。また、*を付した炭素原子は不斉炭素
原子であることを示している。) で表される光学活性基を有する化合物を少なくとも一種
以上5〜10%含有し、 下記一般式(3) ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(3) (式中Rは炭素数5〜12のアルキル基またはアルキル
オキシ基を示し、R′は炭素数2〜10のアルキル基を
示す。また、*を付した炭素原子は不斉炭素原子である
ことを示す。) で表される光学活性基を有する化合物を少なくとも一種
以上10〜20%含有し、 下記一般式(4) ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(4) (式中Rは炭素数5〜12のアルキル基またはアルキル
オキシ基を示し、R′は炭素数2〜10のアルキル基を
示す。また、*を付した炭素原子は不斉炭素原子である
ことを示す。) で表される光学活性基を有する化合物を少なくとも一種
以上5〜15%含有し、 下記一般式(5) ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(5) (式中R及びR′は炭素数5〜12のアルキル基を示す
。) で表される非光学活性化合物を30〜70%含有し、 下記一般式(6) ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(6) (式中R及びR′は炭素数5〜12のアルキル基を示す
。) で表される非光学活性化合物を15〜30%含有して、 少なくともスメクチックC相、スメクチックA相、ネマ
チック相を示すようにしたことを特徴とする液晶素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2298644A JPH04170518A (ja) | 1990-11-01 | 1990-11-01 | 液晶素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2298644A JPH04170518A (ja) | 1990-11-01 | 1990-11-01 | 液晶素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04170518A true JPH04170518A (ja) | 1992-06-18 |
Family
ID=17862406
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2298644A Pending JPH04170518A (ja) | 1990-11-01 | 1990-11-01 | 液晶素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04170518A (ja) |
-
1990
- 1990-11-01 JP JP2298644A patent/JPH04170518A/ja active Pending
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