JPH02126497A - メモリのメモリセルをプログラムする方法と、この方法を実施するための回路 - Google Patents
メモリのメモリセルをプログラムする方法と、この方法を実施するための回路Info
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- JPH02126497A JPH02126497A JP63263817A JP26381788A JPH02126497A JP H02126497 A JPH02126497 A JP H02126497A JP 63263817 A JP63263817 A JP 63263817A JP 26381788 A JP26381788 A JP 26381788A JP H02126497 A JPH02126497 A JP H02126497A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/24—Bit-line control circuits
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、メモリのメモリセルをプログラムする方法と
、この方法を実施するための回路に関するものである。
、この方法を実施するための回路に関するものである。
さらに詳細には、本発明は、メモリセルがフローティン
グゲートを備えており、プログラムが電界の効果を利用
してなされるメモリに関する。本発明が対象とするメモ
リは特にEEPROMタイプのメモリであり、メモリセ
ルをプログラムするのにこれらメモリセルの記憶要素と
して機能するフローティングゲートトランジスタの導電
チャネルを飽和させる必要のあるEPROMではない。
グゲートを備えており、プログラムが電界の効果を利用
してなされるメモリに関する。本発明が対象とするメモ
リは特にEEPROMタイプのメモリであり、メモリセ
ルをプログラムするのにこれらメモリセルの記憶要素と
して機能するフローティングゲートトランジスタの導電
チャネルを飽和させる必要のあるEPROMではない。
特殊なケースでは、本発明のプログラム方法が特に「ベ
ージモード」で利用される。
ージモード」で利用される。
このモードでは、メモリアレイの同一のワード線に接続
された複数のメモリセルが同時にプログラムされる。さ
らに、本発明は、高電圧が使用されるプログラム操作に
特に適している。
された複数のメモリセルが同時にプログラムされる。さ
らに、本発明は、高電圧が使用されるプログラム操作に
特に適している。
従来の技術
従来は、EEPROMタイプのメモリセルのフローティ
ングゲートトランジスタにプログラムするためには、こ
のトランジスタのドレイン領域とソース領域に、このト
ランジスタのフローティングゲートの上に重ねられてい
る制御ゲートの電位よりも高い電位を印加していた。フ
ローティングゲートは、このようにしてプログラムを行
う目的で、プログラム開始用突起部を備えている。この
突起部があると、上記の電位差によって誘起され電界の
値をこの突起部の位置で局所的に増大させることができ
る。このプログラム電界の効果を受けて、粒子、すなわ
ち電子はフローティングゲートを離れる。のちにパワー
を印加して制御することによりこのメモリセルのトラン
ジスタを普通に動作させると、このトランジスタは、電
子の移動によってプログラムされたかどうかに応′じて
オンのままにとどまったりオフになったりする。従って
、トランジスタにプログラムするためには、このトラン
ジスタの1つの領域(この領域はプログラム開始用突起
部の近くである必要がある)に高電圧Vppを印加しな
くてはならない。このプログラム状態は、高電圧V p
pを制御ゲートに印加し、低電圧を1つの領域(ドレ
イン領域)に印加することによって消される。
ングゲートトランジスタにプログラムするためには、こ
のトランジスタのドレイン領域とソース領域に、このト
ランジスタのフローティングゲートの上に重ねられてい
る制御ゲートの電位よりも高い電位を印加していた。フ
ローティングゲートは、このようにしてプログラムを行
う目的で、プログラム開始用突起部を備えている。この
突起部があると、上記の電位差によって誘起され電界の
値をこの突起部の位置で局所的に増大させることができ
る。このプログラム電界の効果を受けて、粒子、すなわ
ち電子はフローティングゲートを離れる。のちにパワー
を印加して制御することによりこのメモリセルのトラン
ジスタを普通に動作させると、このトランジスタは、電
子の移動によってプログラムされたかどうかに応′じて
オンのままにとどまったりオフになったりする。従って
、トランジスタにプログラムするためには、このトラン
ジスタの1つの領域(この領域はプログラム開始用突起
部の近くである必要がある)に高電圧Vppを印加しな
くてはならない。このプログラム状態は、高電圧V p
pを制御ゲートに印加し、低電圧を1つの領域(ドレ
イン領域)に印加することによって消される。
実際には、EEPROMタイプの集積回路への供給電圧
が約5ボルトだと高電圧V ppは約20ボルトである
。このようなEEPROMタイプの回路は、特に集積回
路を用いたメモリ付カードに使用される場合には、一般
に、高電圧V p pを発生させる電圧発生器を内部に
備えている。この電圧発生器は、例えばジエンケル(S
HBNKBL)タイプの逓倍器を備えているが、高電圧
では数マイクロアンペアを越える大きさの静的電流消費
に耐えることはできない。プログラム操作が可能となる
ようにするだめには、電圧発生器が高電圧を供給するす
べての地点で電荷ポンプを用いてこの電圧発生器を補佐
するのが一般的である。第1図かられかるように、電荷
ポンプは、1つの端子が電圧VPP発生器に接続される
とともに、別の端子がノードAでコンデンサCに接続さ
れたトランジスタTIを主構成要素として備えている。
が約5ボルトだと高電圧V ppは約20ボルトである
。このようなEEPROMタイプの回路は、特に集積回
路を用いたメモリ付カードに使用される場合には、一般
に、高電圧V p pを発生させる電圧発生器を内部に
備えている。この電圧発生器は、例えばジエンケル(S
HBNKBL)タイプの逓倍器を備えているが、高電圧
では数マイクロアンペアを越える大きさの静的電流消費
に耐えることはできない。プログラム操作が可能となる
ようにするだめには、電圧発生器が高電圧を供給するす
べての地点で電荷ポンプを用いてこの電圧発生器を補佐
するのが一般的である。第1図かられかるように、電荷
ポンプは、1つの端子が電圧VPP発生器に接続される
とともに、別の端子がノードAでコンデンサCに接続さ
れたトランジスタTIを主構成要素として備えている。
(閾値電圧VT=0である)真性トランジスタT2は、
1つの端子がノードAに接続されるとともに、別の端子
がノードBを介してトランジスタT1の制御ゲートに接
続されている。コンデンサCの他方の端子には、速い周
期でV。Cと00間を変化するパルス信号φが印加され
る。この信号は、例えば5 MHzのクロック信号であ
る。トランジスタT2の制御ゲートはノードAに接続さ
れている。制御ゲートが電位V Ccに接続された第3
のトランジスタT3は信号SBLを受ける。この信号は
、その状態に応じてメモリセルをプログラムするかしな
いかを指定する。トランジスタT3はノードBにも接続
されている。ノードBはさらに、プログラムするメモリ
セルのフローティングゲートトランジスタのソース領域
に達するビット線LBに接続されている。
1つの端子がノードAに接続されるとともに、別の端子
がノードBを介してトランジスタT1の制御ゲートに接
続されている。コンデンサCの他方の端子には、速い周
期でV。Cと00間を変化するパルス信号φが印加され
る。この信号は、例えば5 MHzのクロック信号であ
る。トランジスタT2の制御ゲートはノードAに接続さ
れている。制御ゲートが電位V Ccに接続された第3
のトランジスタT3は信号SBLを受ける。この信号は
、その状態に応じてメモリセルをプログラムするかしな
いかを指定する。トランジスタT3はノードBにも接続
されている。ノードBはさらに、プログラムするメモリ
セルのフローティングゲートトランジスタのソース領域
に達するビット線LBに接続されている。
例えばあるビット線に接続されたどのメモリセルにもプ
ログラムしてはならないためにこのヒ゛・ソト線を選択
することが禁止されている場合には、信号SBLはゼロ
である。信号SBLがゼロだとトランジスタT3は短絡
し、ノードBと上記のヒ′ット線はゼロ電位になり、コ
ンデンサCとトランジスタT2で構成された電荷ポンプ
が出力する電荷が無駄になる。しかしトランジスタT1
はオフである。これとは逆に、上記のビット線が選択さ
れる場合には、信号SBLがVccに等しいと、このビ
ット線で利用することのできる電位が■2.に上昇する
ことがわかる。さらに詳細には、この電位はV、p+V
? (V?はトランジスタT1の閾値電圧)になる。例
えば、パルス信号PH1がゼロの場合には、ノードAは
電位がほぼV c cに等しい。
ログラムしてはならないためにこのヒ゛・ソト線を選択
することが禁止されている場合には、信号SBLはゼロ
である。信号SBLがゼロだとトランジスタT3は短絡
し、ノードBと上記のヒ′ット線はゼロ電位になり、コ
ンデンサCとトランジスタT2で構成された電荷ポンプ
が出力する電荷が無駄になる。しかしトランジスタT1
はオフである。これとは逆に、上記のビット線が選択さ
れる場合には、信号SBLがVccに等しいと、このビ
ット線で利用することのできる電位が■2.に上昇する
ことがわかる。さらに詳細には、この電位はV、p+V
? (V?はトランジスタT1の閾値電圧)になる。例
えば、パルス信号PH1がゼロの場合には、ノードAは
電位がほぼV c cに等しい。
この状態では、トランジスタT2が真性トランジスタで
あるため、ノードBも電位がほぼV CCに等しくなる
。この結果、トランジスタT3がオフになる。信号PH
IがVccに上昇すると、コンデンサCは電圧ステップ
を伝達し、ノードAの電位が例えば2ボルト上昇する。
あるため、ノードBも電位がほぼV CCに等しくなる
。この結果、トランジスタT3がオフになる。信号PH
IがVccに上昇すると、コンデンサCは電圧ステップ
を伝達し、ノードAの電位が例えば2ボルト上昇する。
この場合、トランジスタT2がオンになってノードBの
電位がノードAの電位に追従する。信号PH1がゼロに
戻るとノードAの電位が低下し、その結果としてトラン
ジスタT2がオフになり、トランジスタTIはオンにな
る。ノードBの電位は到達したばかりの電位にとどまっ
ている。ノードAの電位は低下した状態であったが、ト
ランジスタT1がオンになるとこのノードAの電位は必
然的に上昇する。ノードAの電位は、実質的に、ノード
Bの電位からトランジスタTl内のゲート−ソース間の
電圧降下を差し引いた値まで上昇する。例えば、このよ
うにしてノードAは1ボルト得をして、以前の状態から
6ボルトの状態になることがわかる。同様にして、ノー
ドAの電位とノードBの電位はパルスPHIのレートに
合わせてVPp(+V?)に上昇する実際には、ノード
Bの電位がV、、+V、に達すると、立ち上がりパルス
PHIごとに充電されるノードAは、トランジスタT1
を介して電源V、Pに放電される。ノードBの電位が十
分なレベルに達すると、メモリセルのフローティングゲ
ートトランジスタがプログラムされる。
電位がノードAの電位に追従する。信号PH1がゼロに
戻るとノードAの電位が低下し、その結果としてトラン
ジスタT2がオフになり、トランジスタTIはオンにな
る。ノードBの電位は到達したばかりの電位にとどまっ
ている。ノードAの電位は低下した状態であったが、ト
ランジスタT1がオンになるとこのノードAの電位は必
然的に上昇する。ノードAの電位は、実質的に、ノード
Bの電位からトランジスタTl内のゲート−ソース間の
電圧降下を差し引いた値まで上昇する。例えば、このよ
うにしてノードAは1ボルト得をして、以前の状態から
6ボルトの状態になることがわかる。同様にして、ノー
ドAの電位とノードBの電位はパルスPHIのレートに
合わせてVPp(+V?)に上昇する実際には、ノード
Bの電位がV、、+V、に達すると、立ち上がりパルス
PHIごとに充電されるノードAは、トランジスタT1
を介して電源V、Pに放電される。ノードBの電位が十
分なレベルに達すると、メモリセルのフローティングゲ
ートトランジスタがプログラムされる。
電荷ポンプが存在していることに起因する問題点は、メ
モリがページモードでプログラムされるとき、すなわち
同一のワード線に接続された全ビット、つまり異なるビ
ット線に接続された全ビットにプログラムされるときに
特に顕著に現れる。
モリがページモードでプログラムされるとき、すなわち
同一のワード線に接続された全ビット、つまり異なるビ
ット線に接続された全ビットにプログラムされるときに
特に顕著に現れる。
ページモードでのプログラムはそれ自体重要である。と
いうのは、このモードだとメモリアレイの複数のメモリ
セルに同時にアクセスすることができるからである。実
際、1ビツトのプログラム時間を短縮するためには、メ
モリセルがビット線とワード線の交点に分布しているの
であれば、メモリセルを1つずつプログラムする代わり
に、まずビット線のグループを選択し、次に1つのワー
ド線を選択して、これらビット線とこのワード線とに接
続された全メモリセルを同時にプログラムすることが好
ましい。次には、ワード線を変えるだけで、上記のビッ
ト線のグループとこの新しいワード線とに接続された別
のメモリセル群にアクセスすることができる。
いうのは、このモードだとメモリアレイの複数のメモリ
セルに同時にアクセスすることができるからである。実
際、1ビツトのプログラム時間を短縮するためには、メ
モリセルがビット線とワード線の交点に分布しているの
であれば、メモリセルを1つずつプログラムする代わり
に、まずビット線のグループを選択し、次に1つのワー
ド線を選択して、これらビット線とこのワード線とに接
続された全メモリセルを同時にプログラムすることが好
ましい。次には、ワード線を変えるだけで、上記のビッ
ト線のグループとこの新しいワード線とに接続された別
のメモリセル群にアクセスすることができる。
発明が解決しようとする課題
ページモードでのプログラムでは、原則としてメモリア
レイの各ビット線に電荷ポンプを1つずつ割り当てる必
要がある。というのは、ある1つのビット線のメモリセ
ルをプログラムする必要があるときには、関係するビッ
ト線を選択してそのトランジスタT3をオフにするから
である。これとは逆に、プログラムしてはならないメモ
リセルは、これに対応して、選択してはならないビット
線上に配置されている。すなわち、トランジスタT3は
オンである必要がある。全ビット線を同一の電荷ポンプ
に接続したならば、この電荷ポンプが選択されなかった
ビット線のオンになったトランジスタに電荷を供給する
ため、どのビット線も電位がVppに上昇することはな
い。電荷ポンプが複雑であること、特に電荷ポンプのサ
イズが太きいこと、すなわちメモリ内で電荷ポンプが占
有する空間が大きいことは、EEPROMタイプの回路
の集積度を大きくしようとする際のマイナスの要因であ
る。
レイの各ビット線に電荷ポンプを1つずつ割り当てる必
要がある。というのは、ある1つのビット線のメモリセ
ルをプログラムする必要があるときには、関係するビッ
ト線を選択してそのトランジスタT3をオフにするから
である。これとは逆に、プログラムしてはならないメモ
リセルは、これに対応して、選択してはならないビット
線上に配置されている。すなわち、トランジスタT3は
オンである必要がある。全ビット線を同一の電荷ポンプ
に接続したならば、この電荷ポンプが選択されなかった
ビット線のオンになったトランジスタに電荷を供給する
ため、どのビット線も電位がVppに上昇することはな
い。電荷ポンプが複雑であること、特に電荷ポンプのサ
イズが太きいこと、すなわちメモリ内で電荷ポンプが占
有する空間が大きいことは、EEPROMタイプの回路
の集積度を大きくしようとする際のマイナスの要因であ
る。
本発明は、電荷ポンプを少なくともかなりの程度まで除
去することによって上記の問題点を解決するとともに、
好ましくはページモードでのプログラム操作を実行でき
るようにすることを目的とする。
去することによって上記の問題点を解決するとともに、
好ましくはページモードでのプログラム操作を実行でき
るようにすることを目的とする。
課題を解決するための手段
本発明では、EEPROMタイプのメモリのメモリセル
のプログラムは電界効果を利用して実行されるために、
電位Vppによる電流消費なしにプログラムされること
を利用する。本発明の方法では、プログラムの前に、ビ
ット線の選択を無効にし、この無効化過程の間に全ビッ
ト線を高電位にプリチャージする。次に、無効化を解除
してビット線を選択する。当然、選択されなかったビッ
ト線の電位は、オンとなっているトランジスタT3のた
めに低下する。選択されたビット線の電位は低下しない
。というのは、プリチャージ操作が終了すると、全部の
線が、電位低下する可能性がある対応する電svp、と
はデカップルされるからである。最後に、プログラムす
るためには、プログラムするメモリセルのフローティン
グゲートトランジスタの制御ゲートにゼロ電位を印加す
る。この場合、ゼロ電位を印加されたこれらのトランジ
スタだけがプログラムされる。これらのトランジスタは
プリチャージ中にはプログラムされないことに注意され
たい。というのは、このプリチャージ期間にはメモリセ
ルに対するアクセス用のトランジスタがオフになってい
るからである。これらトランジスタは、制御ゲートに供
給される命令によってオフになる。好ましい別の態様で
は、プログラムするメモリセルのトランジスタの制御ゲ
ートを1つずつ選択する代わりに同時にすべての制御ゲ
ートを選択し、次に、同一のワード線に接続されたトラ
ンジスタの全制御ゲートに同時に低電位を印加する。こ
のようにすると、メモリがページモードでプログラムさ
れる。
のプログラムは電界効果を利用して実行されるために、
電位Vppによる電流消費なしにプログラムされること
を利用する。本発明の方法では、プログラムの前に、ビ
ット線の選択を無効にし、この無効化過程の間に全ビッ
ト線を高電位にプリチャージする。次に、無効化を解除
してビット線を選択する。当然、選択されなかったビッ
ト線の電位は、オンとなっているトランジスタT3のた
めに低下する。選択されたビット線の電位は低下しない
。というのは、プリチャージ操作が終了すると、全部の
線が、電位低下する可能性がある対応する電svp、と
はデカップルされるからである。最後に、プログラムす
るためには、プログラムするメモリセルのフローティン
グゲートトランジスタの制御ゲートにゼロ電位を印加す
る。この場合、ゼロ電位を印加されたこれらのトランジ
スタだけがプログラムされる。これらのトランジスタは
プリチャージ中にはプログラムされないことに注意され
たい。というのは、このプリチャージ期間にはメモリセ
ルに対するアクセス用のトランジスタがオフになってい
るからである。これらトランジスタは、制御ゲートに供
給される命令によってオフになる。好ましい別の態様で
は、プログラムするメモリセルのトランジスタの制御ゲ
ートを1つずつ選択する代わりに同時にすべての制御ゲ
ートを選択し、次に、同一のワード線に接続されたトラ
ンジスタの全制御ゲートに同時に低電位を印加する。こ
のようにすると、メモリがページモードでプログラムさ
れる。
そこで、本発明により、メモリ内にあり、電界の効果を
利用してプログラムすることが可能なフローティングゲ
ートトランジスタを含むメモリセルをプログラムするた
めに、 プログラムするメモリセルを選択し、次に、プログラム
電圧を印加することによって、選択された該メモリセル
をプログラムする方法において、 メモリセルの選択を無効にし、 所定のプログラム電圧を印加してこれらメモリセルをプ
リチャージし、次に、 無効化を停止させ、 別のプログラム電圧を印加してこれらメモリセルをプロ
グラムすることを特徴とする方法が提供される。
利用してプログラムすることが可能なフローティングゲ
ートトランジスタを含むメモリセルをプログラムするた
めに、 プログラムするメモリセルを選択し、次に、プログラム
電圧を印加することによって、選択された該メモリセル
をプログラムする方法において、 メモリセルの選択を無効にし、 所定のプログラム電圧を印加してこれらメモリセルをプ
リチャージし、次に、 無効化を停止させ、 別のプログラム電圧を印加してこれらメモリセルをプロ
グラムすることを特徴とする方法が提供される。
さらに、本発明によれば、メモリのメモリセルのフロー
ティングゲートトランジスタにプログラムするために、
該トランジスタの各端子に異なるプログラム電圧を印加
する手段を備える回路であって、この回路が、これらプ
ログラム電圧のうちの少な(とも1つを上記端子の1つ
にプリチャージする回路を備えることを特徴とする回路
が提供される。
ティングゲートトランジスタにプログラムするために、
該トランジスタの各端子に異なるプログラム電圧を印加
する手段を備える回路であって、この回路が、これらプ
ログラム電圧のうちの少な(とも1つを上記端子の1つ
にプリチャージする回路を備えることを特徴とする回路
が提供される。
本発明は、添付の図面を参照した以下の説明によってさ
らによく理解できよう。なお、図面は単に例として示し
ただけであって、本発明の範囲が図面に記載の実施例に
限定されることはない。
らによく理解できよう。なお、図面は単に例として示し
ただけであって、本発明の範囲が図面に記載の実施例に
限定されることはない。
実施例
第2図は、本発明の方法を実施するための回路を示す図
である。メモリ1は、フローティングゲートトランジス
タ3を記憶素子として有するメモリセル2を備えている
。このフローティングゲートトランジスタ3は、プログ
ラム開始用突起部5が設けられたフローティングゲート
4と、このフローティングゲート4の上に重ねられた制
御ゲート6と、ドレイン7と、ソース8とを備えている
。
である。メモリ1は、フローティングゲートトランジス
タ3を記憶素子として有するメモリセル2を備えている
。このフローティングゲートトランジスタ3は、プログ
ラム開始用突起部5が設けられたフローティングゲート
4と、このフローティングゲート4の上に重ねられた制
御ゲート6と、ドレイン7と、ソース8とを備えている
。
各メモリセルのフローティングゲートトランジスタは、
ドレイン7を介してアクセス用トランジスタ9のソース
に直列に接続されている。このアクセス用トランジスタ
9は、ドレイン10がビット線11に接続され、制御ゲ
ート12がワード線13に接続されている。フローティ
ングゲートトランジスタ3のソースはいわゆるグラウン
ド接続線14に接続されている。フローティングゲート
トランジスタ3の制御ゲート6は、駆動用トランジスタ
16に直列に接続されたモニタ用トランジスタ15を通
って伝達される信号V、8□。によって制御される。こ
のモニタ用トランジスタ15は、メモリセルのフローテ
ィングゲートトランジスタにアクセスするための複数の
トランジスタ9の制御ゲート12に共通に接続されてい
る制御ゲートに、ワード線を通じて送られるワード線選
択信号WLiを受信する。
ドレイン7を介してアクセス用トランジスタ9のソース
に直列に接続されている。このアクセス用トランジスタ
9は、ドレイン10がビット線11に接続され、制御ゲ
ート12がワード線13に接続されている。フローティ
ングゲートトランジスタ3のソースはいわゆるグラウン
ド接続線14に接続されている。フローティングゲート
トランジスタ3の制御ゲート6は、駆動用トランジスタ
16に直列に接続されたモニタ用トランジスタ15を通
って伝達される信号V、8□。によって制御される。こ
のモニタ用トランジスタ15は、メモリセルのフローテ
ィングゲートトランジスタにアクセスするための複数の
トランジスタ9の制御ゲート12に共通に接続されてい
る制御ゲートに、ワード線を通じて送られるワード線選
択信号WLiを受信する。
例えば、ワード線13に対しては信号WLOである。
駆動用トランジスタ16は駆動制御信号Cjを受信する
。信号CjとWLiが高電位である例えばV2、にされ
ると、電位V s @n s eが、同一のワード線選
択・駆動命令信号によって制御されるメモリセルの70
−ティングゲートトランジスタの全制御ゲートに印加さ
れる。
。信号CjとWLiが高電位である例えばV2、にされ
ると、電位V s @n s eが、同一のワード線選
択・駆動命令信号によって制御されるメモリセルの70
−ティングゲートトランジスタの全制御ゲートに印加さ
れる。
本発明では、プログラム前に、無効化信号CHEPRを
用いて例えばプログラムされるメモリセルに達するビッ
ト線11の選択を無効にすることが重要である。この目
的で、各ビット線をスイッチに直列に接続する。実際に
は、このスイッチは例えばトランジスタ17であり、そ
の制御ゲート18に信号CHEPRを受信する。この無
効化操作は、どのワード線も選択しないことにより終了
する。
用いて例えばプログラムされるメモリセルに達するビッ
ト線11の選択を無効にすることが重要である。この目
的で、各ビット線をスイッチに直列に接続する。実際に
は、このスイッチは例えばトランジスタ17であり、そ
の制御ゲート18に信号CHEPRを受信する。この無
効化操作は、どのワード線も選択しないことにより終了
する。
すなわち、ゼロ電位を、プリチャージするビット線に関
係する全ワード線にワード線選択信号WLlおよび/ま
たは駆動制御信号Cjとして印加する。この結果、フロ
ーティングゲートトランジスタ3の全制御ゲート6に印
加される電位が浮いた状態になる。従って、これらフロ
ーティングゲートトランジスタは遮断状態となり、この
無効化期間にはプログラムされない。
係する全ワード線にワード線選択信号WLlおよび/ま
たは駆動制御信号Cjとして印加する。この結果、フロ
ーティングゲートトランジスタ3の全制御ゲート6に印
加される電位が浮いた状態になる。従って、これらフロ
ーティングゲートトランジスタは遮断状態となり、この
無効化期間にはプログラムされない。
無効化が実行されている間に、プログラムされるメモリ
セルに達するビット線をプリチャージする。このプリチ
ャージ操作は、スイッチ19を始めとする一連のスイッ
チを用いて例えば公知のタイプの電圧発生器から供給さ
れる大きなプログラム電圧V ppを印加することによ
って実行される。この電圧発生器は、供給する電流が小
さなものにするとよい。実際にはスイッチ19はトラン
ジスタであり、その制御ゲート20にプリチャージ信号
PRECHを受信する。このプリチャージ信号により、
プログラム電圧V3.がビット線に印加される。
セルに達するビット線をプリチャージする。このプリチ
ャージ操作は、スイッチ19を始めとする一連のスイッ
チを用いて例えば公知のタイプの電圧発生器から供給さ
れる大きなプログラム電圧V ppを印加することによ
って実行される。この電圧発生器は、供給する電流が小
さなものにするとよい。実際にはスイッチ19はトラン
ジスタであり、その制御ゲート20にプリチャージ信号
PRECHを受信する。このプリチャージ信号により、
プログラム電圧V3.がビット線に印加される。
第3図において、タイミングチャート“a”〜g”は、
それぞれ、プリチャージ信号PRECH1その補信号C
HERP、信号V、。□、信号WLi、信号LBi、信
号AG、信号Cjを表す。
それぞれ、プリチャージ信号PRECH1その補信号C
HERP、信号V、。□、信号WLi、信号LBi、信
号AG、信号Cjを表す。
プリチャージ操作中にはプリチャージ信号がハイレベル
、すなわちV7.であって、トランジスタ19を始めと
するトランジスタが、これらトランジスタに接続された
ビット線がプログラム電圧V p pに達するまで導通
状態にされることがわかる。このプリチャージ操作中は
、ビット線を無効化する信号(CHEPR)とメモリセ
ル選択信号(WLi)はゼロである。トランジスタ17
を特徴とする特許ンジスタは従ってオフ状態となり、ビ
ット線が放電されることはない。さらに、このプリチャ
ージ操作中は、信号WLiが、安全のため、信号V 5
enseと同様にすべてゼロになっていることがわかる
。信号Cj (第3図g)はゼロにならずトランジス
タ16は導通状態であるが、このトランジスタ16に直
列に接続されたトランジスタ15がオフにされているた
めにこのことは重要ではない。従って、フローティング
ゲートトランジスタ30制御ゲート6もやはり浮いた状
態になる。理由は後述するが、グラウンド接続線14に
印加される信号AGはこのプリチャージ操作中に中間電
位(例えばVpp/ 2 )にされ、プログラムが終了
するまでこの電位に維持される。このビット線選択無効
化操作およびプリチャージ操作無効化の結果、アクティ
ブにされたトランジスタ17.19を含むプリチャージ
回路21に関係する全ビット線が電位V□にされる。
、すなわちV7.であって、トランジスタ19を始めと
するトランジスタが、これらトランジスタに接続された
ビット線がプログラム電圧V p pに達するまで導通
状態にされることがわかる。このプリチャージ操作中は
、ビット線を無効化する信号(CHEPR)とメモリセ
ル選択信号(WLi)はゼロである。トランジスタ17
を特徴とする特許ンジスタは従ってオフ状態となり、ビ
ット線が放電されることはない。さらに、このプリチャ
ージ操作中は、信号WLiが、安全のため、信号V 5
enseと同様にすべてゼロになっていることがわかる
。信号Cj (第3図g)はゼロにならずトランジス
タ16は導通状態であるが、このトランジスタ16に直
列に接続されたトランジスタ15がオフにされているた
めにこのことは重要ではない。従って、フローティング
ゲートトランジスタ30制御ゲート6もやはり浮いた状
態になる。理由は後述するが、グラウンド接続線14に
印加される信号AGはこのプリチャージ操作中に中間電
位(例えばVpp/ 2 )にされ、プログラムが終了
するまでこの電位に維持される。このビット線選択無効
化操作およびプリチャージ操作無効化の結果、アクティ
ブにされたトランジスタ17.19を含むプリチャージ
回路21に関係する全ビット線が電位V□にされる。
プログラム操作中(第3図)は、プログラムされるメモ
リセル30制御ゲートにゼロ電位が印加される。このゼ
ロ電位は、プログラム段階を通じてゼロである信号Vs
0ゎ3.とじて与えられ、駆動用トランジスタ16とモ
ニタ用トランジスタ15を通じて伝達される。このプロ
グラム操作中は、選択されたワード線のこれらトランジ
スタの制御ゲートにそれぞれ印加される信号Cjと信号
WLiは高電位にされる。従って、これらトランジスタ
16と15はオンになり、ゼロである電位V s *
n s eがメモリセルのフローティングゲートトラン
ジスタ30制御ゲート6に印加される。信号WLiと信
号Cjを電位V ppにする(あるいは、少なくとも一
方が既に電位V□にされている場合には他方を電位V□
にする)のと同時に、プリチャージ信号PRECHと、
それと相補的な関係にある信号である無効化信号CHE
PRとを反転させる。プリチャージ信号を停止させると
電圧V ppが印加されている例えばトランジスタ19
がオフになる。すると電源Vppはビット線から切り離
される。これとは逆に、信号CHEPRを正にアクティ
ブにすることによりトランジスタ17を始めとするトラ
ンジスタをオンにすると、ビット線11を始めとするビ
ット線がレジスタ23の対応する出力に接続される。
リセル30制御ゲートにゼロ電位が印加される。このゼ
ロ電位は、プログラム段階を通じてゼロである信号Vs
0ゎ3.とじて与えられ、駆動用トランジスタ16とモ
ニタ用トランジスタ15を通じて伝達される。このプロ
グラム操作中は、選択されたワード線のこれらトランジ
スタの制御ゲートにそれぞれ印加される信号Cjと信号
WLiは高電位にされる。従って、これらトランジスタ
16と15はオンになり、ゼロである電位V s *
n s eがメモリセルのフローティングゲートトラン
ジスタ30制御ゲート6に印加される。信号WLiと信
号Cjを電位V ppにする(あるいは、少なくとも一
方が既に電位V□にされている場合には他方を電位V□
にする)のと同時に、プリチャージ信号PRECHと、
それと相補的な関係にある信号である無効化信号CHE
PRとを反転させる。プリチャージ信号を停止させると
電圧V ppが印加されている例えばトランジスタ19
がオフになる。すると電源Vppはビット線から切り離
される。これとは逆に、信号CHEPRを正にアクティ
ブにすることによりトランジスタ17を始めとするトラ
ンジスタをオンにすると、ビット線11を始めとするビ
ット線がレジスタ23の対応する出力に接続される。
このレジスタ23は、ワード線の1つに対応するメモリ
セルに与える必要のあるプログラム状態LBlを記憶し
ている。一方、例えば、メモリセルのフローティングゲ
ートトランジスタ3にプログラムするためにワード線1
3を選択した場合には、ワード線34を始めとする他の
ワード線はインアクティブにされ、該ワード線を伝わる
信号WLiはゼロにとどまる。
セルに与える必要のあるプログラム状態LBlを記憶し
ている。一方、例えば、メモリセルのフローティングゲ
ートトランジスタ3にプログラムするためにワード線1
3を選択した場合には、ワード線34を始めとする他の
ワード線はインアクティブにされ、該ワード線を伝わる
信号WLiはゼロにとどまる。
2つの場合が考えられる。すなわち、レジスタ230ビ
ツト線に対応する出力が正レベルである場合、あるいは
この出力がゼロ電位である場合である。この出力がゼロ
電位である場合には、ビット線はレジスタ23に向けて
放電され、このビット線とワード線13の交点に位置す
るメモリセル3が所定の状態(例えば、選択する論理、
すなわち正論理を選択するか負論理を選択するかに応じ
てゼロ状態)にプログラムされる。これとは逆に、出力
、例えば出力22が正電位であると、ビット線11はレ
ジスタ23に向けて放電することは不可能になりハイレ
ベルにとどまる。アクセス用トランジスタ9を制御ゲー
)12にワード線選択信号WLOを印加することによっ
てアクティブにすると、電位V ppがフローティング
ゲートトランジスタ3のドレイン7に印加される。これ
と同時に、中間電位ACがこのフローティングゲートト
ランジスタ3のドレインに印加され、その制御ゲート6
はゼロ電位にされる。従って、プログラム開始用突起部
5の位置で大きな電界を印加する条件が揃う。電子はフ
ローティングゲートを離れ、正電荷がこのフローティン
グゲートにトラップされる。第3図eのタイミングチャ
ートを参照すると、このビット線が選択されたかされな
かったか、すなわちどの論理状態をこのビット線にプロ
グラムしたいかに応じてこのビット線に印加される電位
がどうなるかがわかる。
ツト線に対応する出力が正レベルである場合、あるいは
この出力がゼロ電位である場合である。この出力がゼロ
電位である場合には、ビット線はレジスタ23に向けて
放電され、このビット線とワード線13の交点に位置す
るメモリセル3が所定の状態(例えば、選択する論理、
すなわち正論理を選択するか負論理を選択するかに応じ
てゼロ状態)にプログラムされる。これとは逆に、出力
、例えば出力22が正電位であると、ビット線11はレ
ジスタ23に向けて放電することは不可能になりハイレ
ベルにとどまる。アクセス用トランジスタ9を制御ゲー
)12にワード線選択信号WLOを印加することによっ
てアクティブにすると、電位V ppがフローティング
ゲートトランジスタ3のドレイン7に印加される。これ
と同時に、中間電位ACがこのフローティングゲートト
ランジスタ3のドレインに印加され、その制御ゲート6
はゼロ電位にされる。従って、プログラム開始用突起部
5の位置で大きな電界を印加する条件が揃う。電子はフ
ローティングゲートを離れ、正電荷がこのフローティン
グゲートにトラップされる。第3図eのタイミングチャ
ートを参照すると、このビット線が選択されたかされな
かったか、すなわちどの論理状態をこのビット線にプロ
グラムしたいかに応じてこのビット線に印加される電位
がどうなるかがわかる。
EEPROMタイプのメモリのメモリセルは実際には以
前の状態に無関係に1つの状態にプログラムすることは
できない。というのは、正確にプログラムするためには
、プログラムされる全メモリセルの内容を前もって消去
し、次に、特にプログラムしたいメモリセルを所望の論
理状態にプログラムする必要があるからである。消去操
作のためには、本来のプログラムを行うためのページモ
ードを利用する。消去のためには、メモリセルのフロー
ティングゲートトランジスタ3の制御ゲート6に高電位
を印加する一方、このトランジスタのドレイン7とソー
ス8にはゼロ電位を印加する。
前の状態に無関係に1つの状態にプログラムすることは
できない。というのは、正確にプログラムするためには
、プログラムされる全メモリセルの内容を前もって消去
し、次に、特にプログラムしたいメモリセルを所望の論
理状態にプログラムする必要があるからである。消去操
作のためには、本来のプログラムを行うためのページモ
ードを利用する。消去のためには、メモリセルのフロー
ティングゲートトランジスタ3の制御ゲート6に高電位
を印加する一方、このトランジスタのドレイン7とソー
ス8にはゼロ電位を印加する。
第3図には、プリチャージ操作前に実行される消去操作
も示されている。この消去操作の間、高電位V5゜イ、
。を制御ゲート6に印加する。というのは、これと同じ
期間にトランジスタ15と16がその制御ゲートにやは
り電位V□にされた信号Cjと信号WLiをそれぞれ受
信するからである。ゼロ電位をドレイン7に印加するに
は高電圧になった信号CHEPRを無効化用トランジス
タ170制御ゲート18に印加する。このトランジスタ
17はするとオンになり、ビット線をレジスタ23の(
ゼロ電位にされた)出力と短絡させる。さらに、このと
きには、グラウンド接続線14に印加される信号AGも
ゼロ電位にされている。この場合、逆電界を受けた電荷
はフローティングゲート4に戻る。
も示されている。この消去操作の間、高電位V5゜イ、
。を制御ゲート6に印加する。というのは、これと同じ
期間にトランジスタ15と16がその制御ゲートにやは
り電位V□にされた信号Cjと信号WLiをそれぞれ受
信するからである。ゼロ電位をドレイン7に印加するに
は高電圧になった信号CHEPRを無効化用トランジス
タ170制御ゲート18に印加する。このトランジスタ
17はするとオンになり、ビット線をレジスタ23の(
ゼロ電位にされた)出力と短絡させる。さらに、このと
きには、グラウンド接続線14に印加される信号AGも
ゼロ電位にされている。この場合、逆電界を受けた電荷
はフローティングゲート4に戻る。
レジスタ23は、ループを形成するように接続された2
つのインバータ25と26を含むフリップフロップ24
を始めとする複数のフリップフロップを備えていること
が好ましい。消去操作を行うためには、ゼロ電位を前も
ってビット線に印加する。これは、例えば信号PREC
Hを電位VCeに維持した状態で信号CHEPRと信号
V□を同時に取り去ることにより実現される。あるいは
、単純に、信号PRECHをゼロ電位に固定してビット
線をメモリセルを通じて放電させる。消去操作が終了す
ると、プログラム信号SPを用いて、状態を変化させた
いフリップフロップを選択的に反転させることができる
。信号SPは、例えばトランジスタ28を始めとするト
ランジスタに選択的に印加する。これらトランジスタは
メモリの入力と出力の間に直列に接続されている。トラ
ンジスタ28のゲート27には信号cjが印加される。
つのインバータ25と26を含むフリップフロップ24
を始めとする複数のフリップフロップを備えていること
が好ましい。消去操作を行うためには、ゼロ電位を前も
ってビット線に印加する。これは、例えば信号PREC
Hを電位VCeに維持した状態で信号CHEPRと信号
V□を同時に取り去ることにより実現される。あるいは
、単純に、信号PRECHをゼロ電位に固定してビット
線をメモリセルを通じて放電させる。消去操作が終了す
ると、プログラム信号SPを用いて、状態を変化させた
いフリップフロップを選択的に反転させることができる
。信号SPは、例えばトランジスタ28を始めとするト
ランジスタに選択的に印加する。これらトランジスタは
メモリの入力と出力の間に直列に接続されている。トラ
ンジスタ28のゲート27には信号cjが印加される。
フリップフロップの謂整は、もちろんプログラム操作前
に済ませておく。
に済ませておく。
次のワード線にプログラムするためには、同様の操作を
繰り返す。すなわち、次のワード線に接続された全メモ
リセルの内容を消去し、前と同じビット線を再びプリチ
ャージする。すると、これらビット線と新しいワード線
の交点に接続された新しいメモリセルがプログラムされ
る。このような操作を続けることにより、ワード線ごと
にプログラムがなされる。本発明では、先に説明した従
来の方法と比べてプログラム時間が節約できる。
繰り返す。すなわち、次のワード線に接続された全メモ
リセルの内容を消去し、前と同じビット線を再びプリチ
ャージする。すると、これらビット線と新しいワード線
の交点に接続された新しいメモリセルがプログラムされ
る。このような操作を続けることにより、ワード線ごと
にプログラムがなされる。本発明では、先に説明した従
来の方法と比べてプログラム時間が節約できる。
同一のワード線により制御されるワードのすべてをプロ
グラムする必要はなく、また、そのようにしないことも
可能である。例えば、32個のメモリセルを制御するワ
ード線が存在しており、(マイクロプロセッサで使用さ
れる) 1つの論理ワードが8ビツトで構成されている
と仮定する。これらワードのうちの1つのみをプログラ
ムしたいときには、このワードに対応するとともに8個
のメモリセルのすべてに共通する信号Cjを選択するだ
けでよい。他の信号Cjはゼロのままである。従って、
選択された8つのメモリセルの内容のみが消去される。
グラムする必要はなく、また、そのようにしないことも
可能である。例えば、32個のメモリセルを制御するワ
ード線が存在しており、(マイクロプロセッサで使用さ
れる) 1つの論理ワードが8ビツトで構成されている
と仮定する。これらワードのうちの1つのみをプログラ
ムしたいときには、このワードに対応するとともに8個
のメモリセルのすべてに共通する信号Cjを選択するだ
けでよい。他の信号Cjはゼロのままである。従って、
選択された8つのメモリセルの内容のみが消去される。
プログラムするためには、プログラムしないメモリセル
を制御するビット線に接続されたフリップフロップにゼ
ロを入力するだけでよい。第2図には、ワード線13の
延長部分の別のメモリブロック29も部分的に示されて
いる。このメモリフロック29は、信号CIを受けて、
このワード線13と直列な別のワードの選択を有効化す
る。
を制御するビット線に接続されたフリップフロップにゼ
ロを入力するだけでよい。第2図には、ワード線13の
延長部分の別のメモリブロック29も部分的に示されて
いる。このメモリフロック29は、信号CIを受けて、
このワード線13と直列な別のワードの選択を有効化す
る。
この別のワードのメモリセルへのアクセスは、プリチャ
ージ回路21の出力を2つに分割することによって実現
される(この2分割化は矢印3oで表示されている)。
ージ回路21の出力を2つに分割することによって実現
される(この2分割化は矢印3oで表示されている)。
第1図は、従来の電荷ポンプの図である。
第2図は、本発明のプログラム方法を実施するための回
路の概略図である。 第3図a−gは、本発明の方法において使用される信号
のタイミングチャートである。 (主な参照番号) 1・・メモリ、 2・・メモリセル、3・・
フローティングゲートトランジスタ、4・・フローティ
ングゲート、 5・・プログラム開始用突起部、 6.12.18.20・・制御ゲート、7.10・・ド
レイン、 8・・ソース、9・・アクセス用トラン
ジスタ、 11・・ビット線、 13.34・・ワード線、
14・・グラウンド接続線、 15・・モニタ用トランジスタ、 16・・駆動用トランジスタ、 17.19・・スイッチ(トランジスタ)、21・・プ
リチャージ回路、 23・・レジスタ、 24・・フリップフロップ、 25.26・・インバータ W許出11 エスジエーエスートムソンミクロエレク
トロニクスエス。 アー
路の概略図である。 第3図a−gは、本発明の方法において使用される信号
のタイミングチャートである。 (主な参照番号) 1・・メモリ、 2・・メモリセル、3・・
フローティングゲートトランジスタ、4・・フローティ
ングゲート、 5・・プログラム開始用突起部、 6.12.18.20・・制御ゲート、7.10・・ド
レイン、 8・・ソース、9・・アクセス用トラン
ジスタ、 11・・ビット線、 13.34・・ワード線、
14・・グラウンド接続線、 15・・モニタ用トランジスタ、 16・・駆動用トランジスタ、 17.19・・スイッチ(トランジスタ)、21・・プ
リチャージ回路、 23・・レジスタ、 24・・フリップフロップ、 25.26・・インバータ W許出11 エスジエーエスートムソンミクロエレク
トロニクスエス。 アー
Claims (10)
- (1)メモリ内にあり、電界の効果を利用してプログラ
ムすることが可能なフローティングゲートトランジスタ
を含むメモリセルをプログラムするために、 −プログラムするメモリセルを選択し、次に、−プログ
ラム電圧を印加することによって、選択された該メモリ
セルをプログラムする方法において、 −メモリセルの選択を無効にし、 −所定のプログラム電圧を印加してこれらメモリセルを
プリチャージし、次に、 −無効化を停止させ、 −別のプログラム電圧を印加してこれらメモリセルをプ
ログラムすることを特徴とする方法。 - (2)同一のワード線に接続されたメモリセルを選択す
ることを特徴とする請求項1に記載の方法。 - (3)上記ワード線に接続されたメモリセルのうちの1
つに達するビット線にそれぞれ直列に接続された複数の
選択スイッチを開くことによって選択を無効化すること
を特徴とする請求項2に記載の方法。 - (4)上記無効化を、プリチャージ状態を遮断し、上記
選択スイッチを閉じることによって停止させることを特
徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法。 - (5)上記プリチャージ操作を、上記ビット線に高電位
を印加することによって実行することを特徴とする請求
項1〜3のいずれか1項に記載の方法。 - (6)上記プリチャージ操作を、上記ワード線に低電位
を印加することによって実行することを特徴とする請求
項1〜3のいずれか1項に記載の方法。 - (7)上記プリチャージ操作を、メモリセルのグラウン
ド接続線に中間電位を印加することによって実行するこ
とを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の方
法。 - (8)同一のワード線に接続された複数のメモリセルの
内容を同時に消去した後にこれらメモリセルをプログラ
ムすることを特徴とする請求項6に記載の方法。 - (9)メモリのメモリセルのフローティングゲートトラ
ンジスタにプログラムするために、該トランジスタの各
端子に異なるプログラム電圧を印加する手段を備える回
路であって、この回路が、これらプログラム電圧のうち
の少なくとも1つを上記端子の1つにプリチャージする
回路を備えることを特徴とする回路。 - (10)プログラム時にプリチャージ装置をデカップル
する手段を備えることを特徴とする請求項9に記載の回
路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8714343A FR2622038B1 (fr) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | Procede de programmation des cellules memoire d'une memoire et circuit pour la mise en oeuvre de ce procede |
FR8714343 | 1987-10-19 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02126497A true JPH02126497A (ja) | 1990-05-15 |
JP2711303B2 JP2711303B2 (ja) | 1998-02-10 |
Family
ID=9355908
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26381788A Expired - Lifetime JP2711303B2 (ja) | 1987-10-19 | 1988-10-19 | メモリのメモリセルをプログラムする方法と、この方法を実施するための回路 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5022001A (ja) |
EP (1) | EP0313431B1 (ja) |
JP (1) | JP2711303B2 (ja) |
KR (1) | KR890007297A (ja) |
DE (1) | DE3869317D1 (ja) |
FR (1) | FR2622038B1 (ja) |
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---|---|---|---|---|
JPH05258586A (ja) * | 1992-02-19 | 1993-10-08 | Samsung Electron Co Ltd | 不揮発性半導体メモリ装置 |
US8335320B2 (en) | 2006-10-03 | 2012-12-18 | Sony Corporation | Audio apparatus |
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JPH02308572A (ja) * | 1989-05-23 | 1990-12-21 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置のプログラム方法 |
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KR940005695B1 (ko) * | 1990-12-19 | 1994-06-22 | 삼성전자 주식회사 | 불휘발성 기억소자의 로우 디코더 회로 |
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US5247477A (en) * | 1991-05-31 | 1993-09-21 | Altera Corporation | Method of programming floating gate memory devices aided by potential applied to read channel |
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FR2703526B1 (fr) * | 1993-04-02 | 1995-05-19 | Gemplus Card Int | Circuit de déclenchement automatique. |
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