JPH01273253A - 光学ピックアップ - Google Patents
光学ピックアップInfo
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- JPH01273253A JPH01273253A JP10306488A JP10306488A JPH01273253A JP H01273253 A JPH01273253 A JP H01273253A JP 10306488 A JP10306488 A JP 10306488A JP 10306488 A JP10306488 A JP 10306488A JP H01273253 A JPH01273253 A JP H01273253A
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- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 13
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 13
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 abstract description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 5
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000005374 Kerr effect Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000005381 magnetic domain Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は記録、再生が可能な光磁気ディスク装置の光学
ピックアップに関する。
ピックアップに関する。
従来の技術
はじめに光磁気ディスク装置の再生の原理にっいて説明
する。第３図において３１は光磁気ディスクであり、１
″、０°の情報を磁界の向き（垂直磁界）に対応させて
記録しである。この微小な磁区に、例えばＰ偏光のみの
成分を持ったレーザ光３３（平行光にしである）を対物
レンズ３２によって微小なスポットに絞り込み照射する
。
する。第３図において３１は光磁気ディスクであり、１
″、０°の情報を磁界の向き（垂直磁界）に対応させて
記録しである。この微小な磁区に、例えばＰ偏光のみの
成分を持ったレーザ光３３（平行光にしである）を対物
レンズ３２によって微小なスポットに絞り込み照射する
。
照射光はディスク記録膜面で反射され再び対物レンズ３
２を通して戻っそくるが、この時の反射光は第４図に示
すようにカー効果によって、磁化の向きに応じて±θ１
ζ（カー回転角）だけ偏光面がずれて出射してくる。こ
の偏光のずれを検出することで信号の読み取り（再生）
を行うものである。
２を通して戻っそくるが、この時の反射光は第４図に示
すようにカー効果によって、磁化の向きに応じて±θ１
ζ（カー回転角）だけ偏光面がずれて出射してくる。こ
の偏光のずれを検出することで信号の読み取り（再生）
を行うものである。
では次に、実際のピックアップの構成と検出方法につい
て説明する。第５図にピックアップの構成を示す。半導
体レーザ光源５１から発せられた光はコリメータレンズ
５２によって平行光に変換され、さらにアナモルフプリ
ズム５３によって円形の光に整形される（半導体レーザ
の出射光は楕円ビームのため）。この光はプリズム５４
を介して対物レンズ５５に入射し、ディスク５６上に微
小なスポット（１〜２μｍφ）を形成する。ディスクか
らの変調反射光は再び５５＋ ５４へ戻りλ７／２板５
７で４５°偏光面を回転させられた後に偏光ビームスプ
リッタ５８でＰ偏光成分とＳ偏光成分の光に分離される
。Ｐ偏光成分の光は非点収差レンズ群５９を通り第１光
検出器１へ、Ｓ偏光成分の光はそのまま第２光検出器２
へ入射し光量検出される。ここで非点収差レンズ群５９
と第１検出器１はディスクの目標トラックへ対物レンズ
５５のスポット光を、フォーカス方向あるいはラジアル
方向へ−決め制御するためのサーボエラー検出系を構成
する要素である。ここでは一般によく知られている非点
収差法（フォーカス方向）とプッシュプル法（ラジアル
方向）が用いられており、第１検出器１は受光面が４分
割構成となっている。情報信号の検出に第１検出器１と
第２検出器２の２個の検出器を用いるのは、第６図に示
すようにＰ偏光成分とＳ偏光成分の光を差動検出するこ
とにより、ディスク面内の反射率ばらつき等による同相
成分ノイズ６６を除去し変調情報信号の検出感度を高め
るためのものである（情報信号成分は、互いに逆位相）
。
て説明する。第５図にピックアップの構成を示す。半導
体レーザ光源５１から発せられた光はコリメータレンズ
５２によって平行光に変換され、さらにアナモルフプリ
ズム５３によって円形の光に整形される（半導体レーザ
の出射光は楕円ビームのため）。この光はプリズム５４
を介して対物レンズ５５に入射し、ディスク５６上に微
小なスポット（１〜２μｍφ）を形成する。ディスクか
らの変調反射光は再び５５＋ ５４へ戻りλ７／２板５
７で４５°偏光面を回転させられた後に偏光ビームスプ
リッタ５８でＰ偏光成分とＳ偏光成分の光に分離される
。Ｐ偏光成分の光は非点収差レンズ群５９を通り第１光
検出器１へ、Ｓ偏光成分の光はそのまま第２光検出器２
へ入射し光量検出される。ここで非点収差レンズ群５９
と第１検出器１はディスクの目標トラックへ対物レンズ
５５のスポット光を、フォーカス方向あるいはラジアル
方向へ−決め制御するためのサーボエラー検出系を構成
する要素である。ここでは一般によく知られている非点
収差法（フォーカス方向）とプッシュプル法（ラジアル
方向）が用いられており、第１検出器１は受光面が４分
割構成となっている。情報信号の検出に第１検出器１と
第２検出器２の２個の検出器を用いるのは、第６図に示
すようにＰ偏光成分とＳ偏光成分の光を差動検出するこ
とにより、ディスク面内の反射率ばらつき等による同相
成分ノイズ６６を除去し変調情報信号の検出感度を高め
るためのものである（情報信号成分は、互いに逆位相）
。
第７図に第１検出器１の受光面の構成を示す。
８１〜Ｓ４は各々有効受光面１１であり、対物レンズが
目標トラックを正しく追従している時は破線で示すよう
な入射光像となる。８１〜Ｓ４の各有効受光面の受光量
をそのまま８１〜Ｓ４で表すと（Ｓ １＋８４）−（Ｓ
２＋３３）がフォーカスエラーの検出、（Ｓ１＋８２）
−（Ｓ３＋８４）がトラッキング（ラジアル方向）エラ
ーの検出信号となり、情報信号Ｐ偏光成分の検出は和信
号（Ｓ １ ＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４）を用いる。第７図中
の１２は４つの受光面を分離するための受光面分離帯で
あり、入射光に対しては不感帯となる。この受光面分離
帯１２は検出器の製造上の条件で決まり、通常１０〜２
０μｍ幅である。検出原理や光学部品の制約上、入射光
像径は通常５０〜１５０μｍ程であり、受光面分離帯１
２による不感帯の占める割合は無視できない。
目標トラックを正しく追従している時は破線で示すよう
な入射光像となる。８１〜Ｓ４の各有効受光面の受光量
をそのまま８１〜Ｓ４で表すと（Ｓ １＋８４）−（Ｓ
２＋３３）がフォーカスエラーの検出、（Ｓ１＋８２）
−（Ｓ３＋８４）がトラッキング（ラジアル方向）エラ
ーの検出信号となり、情報信号Ｐ偏光成分の検出は和信
号（Ｓ １ ＋Ｓ２＋Ｓ３＋Ｓ４）を用いる。第７図中
の１２は４つの受光面を分離するための受光面分離帯で
あり、入射光に対しては不感帯となる。この受光面分離
帯１２は検出器の製造上の条件で決まり、通常１０〜２
０μｍ幅である。検出原理や光学部品の制約上、入射光
像径は通常５０〜１５０μｍ程であり、受光面分離帯１
２による不感帯の占める割合は無視できない。
第７図に示したように第１検出器への入射光が正しく入
射している場合は先述のように第２検出器２との差動信
号によりＳＮ比のすぐれた信号検出が可能である。
射している場合は先述のように第２検出器２との差動信
号によりＳＮ比のすぐれた信号検出が可能である。
発明が解決しようとする課題
しかし実際、装置の動作中にはサーボ制御の偏差やディ
スクの傾き、レーザ光スポット内の強度分布等により第
７図に示したような理想的な入射光像（位置）とはなら
ない。例えば第８図に示すような光像の場合、＜ａ）と
（ｂ）では受光面分離帯１２の影響により全入射光量で
ある和信号（Ｓ ｌ＋３２＋３３＋３４）が変わってし
まう。
スクの傾き、レーザ光スポット内の強度分布等により第
７図に示したような理想的な入射光像（位置）とはなら
ない。例えば第８図に示すような光像の場合、＜ａ）と
（ｂ）では受光面分離帯１２の影響により全入射光量で
ある和信号（Ｓ ｌ＋３２＋３３＋３４）が変わってし
まう。
第５図に示した第２検出器２は受光面分離帯のない単一
受光面の検出器であるため入射光量は常に一定（読み出
し情報信号による変調分は除（）であるため、第９図に
示すように差動検出による同相ノイズ除去が不十分とな
り、再生信号のＳＮ比が低下するという問題を生じる。
受光面の検出器であるため入射光量は常に一定（読み出
し情報信号による変調分は除（）であるため、第９図に
示すように差動検出による同相ノイズ除去が不十分とな
り、再生信号のＳＮ比が低下するという問題を生じる。
課題を解決するための手段
この課題を解決するために本発明は、第２検出器も多分
割構成とし第２検出器の入射光ビーム径と、第２検出器
の受光面分離帯の幅寸法との比を第１検出器のそれと同
じ程度にする。
割構成とし第２検出器の入射光ビーム径と、第２検出器
の受光面分離帯の幅寸法との比を第１検出器のそれと同
じ程度にする。
作 用
このように第２検出器を作ると、第１検出器と第２検出
器との入射光は、ビーム径は異なっても動き（入射位置
）や光量分布はほぼ同じになる。
器との入射光は、ビーム径は異なっても動き（入射位置
）や光量分布はほぼ同じになる。
実施例
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。第１
図に第１検出器１と第２検出器２との受光面を示す。第
１図（ａ）は第１検出器で、第１図（ｂ）は第２検出器
である。ここで１１及び２１は有効受光面で、１２及び
２２は受光面分離帯である。ここで、第１検出器１の入
射ビーム径及び受光面分離帯１２の幅をそれぞれｒｌ、
ｄｌとし、第２検出器２の入射ビーム径及び受光面分離
帯２２の幅をそれぞれｒ２．ｄ２とするとほぼｄｌ ／
ｄ ２ ＝ ｒ １／ ｒ ２となるように第２検出
器２は作る。第２図に第１検出器１と第２検出器２とか
らの信号で読み出し信号の出力する回路を示す。光学系
の構成は第５図に示したものと同一なので省略し、検出
部のみについて説明する。１．２は各々第１検出器、第
２検出器で、１３．２３は、各々第１増幅器、第２増幅
器、３は差動増幅器である。第１検出器１と第２検出器
２の各々の分割検出器の和信号は各々増幅器１３．２３
で増幅される。第１検出器ｌと第２検出器２の感度は一
般に異なるので、これらの信号を８１ 、ａ ２、増幅
器１３．２３のゲインをｋ １ 、Ｋ ２とするとａｌ
・ｋ １ ＝ ２２・ｋ２となるように増幅器１３．２
３のゲインｋ １、ｋ ２を調整する。これらの出力ｂ
１ ％ ｂ ２は差動増幅器３に大刀される。
図に第１検出器１と第２検出器２との受光面を示す。第
１図（ａ）は第１検出器で、第１図（ｂ）は第２検出器
である。ここで１１及び２１は有効受光面で、１２及び
２２は受光面分離帯である。ここで、第１検出器１の入
射ビーム径及び受光面分離帯１２の幅をそれぞれｒｌ、
ｄｌとし、第２検出器２の入射ビーム径及び受光面分離
帯２２の幅をそれぞれｒ２．ｄ２とするとほぼｄｌ ／
ｄ ２ ＝ ｒ １／ ｒ ２となるように第２検出
器２は作る。第２図に第１検出器１と第２検出器２とか
らの信号で読み出し信号の出力する回路を示す。光学系
の構成は第５図に示したものと同一なので省略し、検出
部のみについて説明する。１．２は各々第１検出器、第
２検出器で、１３．２３は、各々第１増幅器、第２増幅
器、３は差動増幅器である。第１検出器１と第２検出器
２の各々の分割検出器の和信号は各々増幅器１３．２３
で増幅される。第１検出器ｌと第２検出器２の感度は一
般に異なるので、これらの信号を８１ 、ａ ２、増幅
器１３．２３のゲインをｋ １ 、Ｋ ２とするとａｌ
・ｋ １ ＝ ２２・ｋ２となるように増幅器１３．２
３のゲインｋ １、ｋ ２を調整する。これらの出力ｂ
１ ％ ｂ ２は差動増幅器３に大刀される。
この時、ディスクの反射率ばらつきゃ不感帯の影響によ
る入射光変動分は同相ノイズであるため差動増幅器３の
差動検出信号Ｃではキャンセルされ、第６図に示したデ
ィスクがらの変調信号成分が増幅出力される。
る入射光変動分は同相ノイズであるため差動増幅器３の
差動検出信号Ｃではキャンセルされ、第６図に示したデ
ィスクがらの変調信号成分が増幅出力される。
発明の効果
本発明によれば、光学系や制御回路の構成を複雑にする
ことなしに光磁気変調信号の同相ノイズを除去でき、信
号のＳＮ比向上をはかることができるため、光デイスク
装置の再生動作の信頼性を向上させることができる。
ことなしに光磁気変調信号の同相ノイズを除去でき、信
号のＳＮ比向上をはかることができるため、光デイスク
装置の再生動作の信頼性を向上させることができる。
第１図は本発明の実施例による光検出器の受光面を示す
概略図、￥Ｓ２図は本発明の検出部の構成を示す回路図
、第３図及び第４図は光磁気ディスクの再生原理を示す
概略図、第５図は光ピツクアップ光学系の構成ブロック
図、第６図は差動検出の原理を示す波形図、第７図は第
１検出器の受光面を示す概略図、第８図は実際の検出器
入射光像を示す概略図、第９図は差動検出が不適切な場
合の波形を示す波形図である。 １・・・・第１検出器 ２・・・・第２検出器３
・・・・差動増幅器 １１．２１・・・・有効受光面 １２．２２・・・・受光面分離帯 １３．２３・・・・増幅器 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか１活計−オ！襖
±４ 第 ２ 図 第３図 第４図
概略図、￥Ｓ２図は本発明の検出部の構成を示す回路図
、第３図及び第４図は光磁気ディスクの再生原理を示す
概略図、第５図は光ピツクアップ光学系の構成ブロック
図、第６図は差動検出の原理を示す波形図、第７図は第
１検出器の受光面を示す概略図、第８図は実際の検出器
入射光像を示す概略図、第９図は差動検出が不適切な場
合の波形を示す波形図である。 １・・・・第１検出器 ２・・・・第２検出器３
・・・・差動増幅器 １１．２１・・・・有効受光面 １２．２２・・・・受光面分離帯 １３．２３・・・・増幅器 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか１活計−オ！襖
±４ 第 ２ 図 第３図 第４図
Claims (1)
- 光磁気ディスク装置の光学ピックアップであって、光デ
ィスクからの反射光のＰ偏光信号成分とＳ偏光信号成分
とをそれぞれ検出する第１検出器と第２検出器とを備え
、前記第１検出器及び前記第２検出器の受光面を受光面
分離帯による多分割構成とし、前記第１検出器の受光面
での光像径と前記受光面分離帯の幅との比と、前記第２
検出器の受光面での光像径と前記受光面分離帯の幅との
比がほぼ同一になるようにしたことを特徴とする光学ピ
ックアップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10306488A JPH01273253A (ja) | 1988-04-26 | 1988-04-26 | 光学ピックアップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10306488A JPH01273253A (ja) | 1988-04-26 | 1988-04-26 | 光学ピックアップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01273253A true JPH01273253A (ja) | 1989-11-01 |
Family
ID=14344240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10306488A Pending JPH01273253A (ja) | 1988-04-26 | 1988-04-26 | 光学ピックアップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01273253A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03203844A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-05 | Japan Steel Works Ltd:The | 光磁気ディスクの自動焦点位置調整方法 |
-
1988
- 1988-04-26 JP JP10306488A patent/JPH01273253A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03203844A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-05 | Japan Steel Works Ltd:The | 光磁気ディスクの自動焦点位置調整方法 |
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