JP7018770B2 - 放射線検査装置 - Google Patents
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Description
本明細書においては、本発明に係る実施形態を説明したが、この実施形態は例として提示したものであって、発明の範囲を限定することを意図していない。以上のような実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の範囲を逸脱しない範囲で、種々の省略や置き換え、変更を行うことができる。実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
2 放射線源
2a 光軸
3 検出器
4 ステージ
41 移動機構
5 光学カメラ
5a 光軸
51 全体画像
6 制御部
6a CPU
6b メモリ
6c ストレージ
6d 表示部
6e 操作部
6f インターフェース
6g 放射線コントローラ
6h ステージコントローラ
61 設定部
611 撮影計画設定画面
612 分割領域
613 枠画像
614 順序情報
615 カーソル
616 順序情報
617 テキスト
62 装置制御部
63 画像生成部
64 データ記憶部
65 画像表示部
7 Cアーム
100 被検体
100a 検査箇所
Claims (7)
- 放射線を照射する放射線源と、
放射線を検出する検出器と、
前記放射線源と前記検出器との間に介在し、被検体を載置可能なステージと、
前記ステージを移動させるステージ移動機構と、
前記ステージ上の前記被検体の全体像を撮像する全体像撮像部と、
少なくとも前記ステージ移動機構を制御する制御部と、
を備え、
前記制御部は、
前記被検体上に複数の分割領域と各分割領域に対する放射線照射順序を設定する設定部と、
前記全体像撮像部により撮像された前記被検体の全体像と、前記放射線照射順序を示す順序情報を表示する表示部と、
を有し、
前記表示部は、前記分割領域を前記全体像上に表示するとともに、前記全体像上に表示された前記分割領域に対して当該分割領域の撮影条件を視覚的に結び付けて表示し、
前記設定部は、前記ステージ上に載置される複数の検査箇所を設定し、各検査箇所の撮影順序を示す検査箇所間の放射線照射順序を更に設定することで、個々の前記検査箇所内での前記分割領域間の前記放射線照射順序と前記検査箇所間の放射線照射順序とを別個に設定し、
前記表示部は、前記検査箇所に対する前記検査箇所間の放射線照射順序を示す順序情報を更に表示すること、
を特徴とする放射線検査装置。 - 前記表示部は、前記被検体の全体像を拡大表示すること、
を特徴とする請求項1記載の放射線検査装置。 - 前記全体像撮像部は、赤外線、可視光線又は両方を検出可能な光学カメラであること、
を特徴とする請求項1又は2記載の放射線検査装置。 - 前記順序情報は、順番を示す数字、放射線照射領域の遷移を示す矢印の画像、又は両方であること、
を特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の放射線検査装置。 - 前記全体像撮像部の光軸は、前記検出器が拡がる面と直交すること、
を特徴とする請求項1乃至4の何れかに記載の放射線検査装置。 - 前記検出器を前記ステージ周りで回動させる検出器移動機構と、
前記全体像撮像部を前記ステージ周りで回動させる撮像部移動機構と、
を備え、
前記撮像部移動機構は、前記検出器の回動に合わせて、前記光軸を前記検出器が拡がる面と直交するように、前記全体像撮像部を回動させること、
を特徴とする請求項5記載の放射線検査装置。 - 前記検出器移動機構及び前記撮像部移動機構は、
前記放射線源と前記検出器と前記全体像撮像部が設置されて、回動するアームを備えること、
を特徴とする請求項6記載の放射線検査装置。
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Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005030966A (ja) | 2003-07-08 | 2005-02-03 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 検査データ設定方法及びそれを使った検査方法並びに装置 |
JP2007101391A (ja) | 2005-10-05 | 2007-04-19 | Shimadzu Corp | X線検査装置 |
JP2007218784A (ja) | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Shimadzu Corp | X線検査装置 |
WO2010114117A1 (ja) | 2009-04-03 | 2010-10-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 合成画像作成方法及び装置 |
JP4670572B2 (ja) | 2005-10-05 | 2011-04-13 | 株式会社島津製作所 | X線検査装置 |
CN102189331A (zh) | 2010-03-05 | 2011-09-21 | 奥林巴斯株式会社 | 缺陷修正装置以及缺陷跟踪方法 |
JP2012103232A (ja) | 2010-11-15 | 2012-05-31 | Riken Keiki Co Ltd | 分析システム |
US20120230468A1 (en) | 2011-03-09 | 2012-09-13 | Noriaki Sakai | X-ray analyzer |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3303441B2 (ja) * | 1993-06-04 | 2002-07-22 | 株式会社島津製作所 | 電子線分析装置 |
-
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005030966A (ja) | 2003-07-08 | 2005-02-03 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 検査データ設定方法及びそれを使った検査方法並びに装置 |
JP2007101391A (ja) | 2005-10-05 | 2007-04-19 | Shimadzu Corp | X線検査装置 |
JP4670572B2 (ja) | 2005-10-05 | 2011-04-13 | 株式会社島津製作所 | X線検査装置 |
JP2007218784A (ja) | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Shimadzu Corp | X線検査装置 |
WO2010114117A1 (ja) | 2009-04-03 | 2010-10-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 合成画像作成方法及び装置 |
CN102189331A (zh) | 2010-03-05 | 2011-09-21 | 奥林巴斯株式会社 | 缺陷修正装置以及缺陷跟踪方法 |
JP2012103232A (ja) | 2010-11-15 | 2012-05-31 | Riken Keiki Co Ltd | 分析システム |
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