JP6730396B2 - 測定室、測定室の動作方法、測定室の化学発光測定方法及び化学発光検出装置 - Google Patents
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Description
1)第1のキュベット処理ステーションで測定対象サンプルを入れた第1のキュベットをキュベット回転トレイの第1のキュベット収納キャビティに取り入れるステップと、
2)前記キュベット回転トレイが回転して前記第1のキュベット収納キャビティを第2のキュベット処理ステーションに移動させ、前記キュベット回転トレイの第2のキュベット収納キャビティを前記第1のキュベット処理ステーションに移動させ、次に、
(1)第1の基質ノズルにより前記第2のキュベット処理ステーションで前記第1のキュベットに励起基質Iを添加するステップと、
(2)第2のキュベットを前記第1のキュベット処理ステーションで前記第2のキュベット収納キャビティに取り入れるステップとを同期に実行するステップと、
3)前記キュベット回転トレイが回転して前記第1のキュベット収納キャビティを第3のキュベット処理ステーションに移動させ、前記第2のキュベット収納キャビティを前記第2のキュベット処理ステーションに移動させ、前記キュベット回転トレイの第3のキュベット収納キャビティを前記第1のキュベット処理ステーションに移動させ、次に、
(1)第2の基質ノズルにより前記第1のキュベットに励起基質IIを添加し、光電子増倍管検出組立体により前記第1のキュベットの光子数を測定するステップと、
(2)前記第1の基質ノズルにより前記第2のキュベットに前記励起基質Iを添加するステップと、
(3)第3のキュベットを前記第1のキュベット処理ステーションで前記第3のキュベット収納キャビティに取り入れるステップとを同期に実行するステップと、
4)前記キュベット回転トレイが回転して前記第1のキュベット収納キャビティを第4のキュベット処理ステーションに移動させ、前記第2のキュベット収納キャビティを前記第3のキュベット処理ステーションに移動させ、前記第3のキュベット収納キャビティを前記第2のキュベット処理ステーションに移動させ、キュベット回転トレイの第4のキュベット収納キャビティを前記第1のキュベット処理ステーションに移動させ、次に、
(1)前記廃液吸引針組立体により前記第1のキュベットの廃液を吸引するステップと、
(2)前記第2の基質ノズルにより前記第2のキュベットに前記励起基質IIを添加し、前記光電子増倍管検出組立体により前記第2のキュベットの光子数を測定するステップと、
(3)前記第1の基質ノズルにより前記第3のキュベットに前記励起基質Iを添加するステップと、
(4)第4のキュベットを前記第1のキュベット処理ステーションで前記第4のキュベット収納キャビティに取り入れるステップとを同期に実行するステップと、
5)前記キュベット回転トレイが回転して前記第1のキュベット収納キャビティを前記第1のキュベット処理ステーションに移動させ、前記第2のキュベット収納キャビティを前記第4のキュベット処理ステーションに移動させ、前記第3のキュベット収納キャビティを前記第3のキュベット処理ステーションに移動させ、前記第4のキュベット収納キャビティを前記第2のキュベット処理ステーションに移動させ、次に、
(1)前記第1のキュベット処理ステーションで前記第1のキュベットを取り出し、かつ第5のキュベットを取り入れるステップと、
(2)前記廃液吸引針組立体により前記第2のキュベットの廃液を吸引するステップと、
(3)前記第2の基質ノズルにより前記第3のキュベットに前記励起基質IIを添加し、前記光電子増倍管検出組立体により前記第3のキュベットの光子数を測定するステップと、
(4)前記第1の基質ノズルにより前記第4のキュベットに前記励起基質Iを添加するステップとを同期に実行するステップとを含む測定室の動作方法を提供する。
キュベット入りステーションで、測定対象サンプルを入れた第1のキュベットを前記測定室に取り入れるステップS1と、
キュベット測定ステーションで、光電子増倍管検出組立体により第2のキュベットの光子数を測定するステップS2とを含む測定室の動作方法を提供する。
キュベットを前記測定室1000に対して取り入れるか又は取り出す第1のキュベット処理ステーションM1(キュベット入りステーション)と、
第1の基質ノズル1300を設置してキュベットに励起基質Iを添加する第2のキュベット処理ステーションM2(励起基質I添加ステーション)と、
第2の基質ノズル1900を設置して前記キュベットに励起基質IIを添加し、光電子増倍管検出組立体1400を設置する第3のキュベット処理ステーションM3(キュベット測定ステーション)と、
廃液吸引針組立体1500を設置して前記キュベットの廃液を吸引する第4のキュベット処理ステーション(廃液吸引ステーション)との、互いに遮光密封された4つのキュベット処理ステーションM4を含む。
1)上部カバー1140のキュベット出入口1144により、第1のキュベット処理ステーションでM1測定対象サンプルを入れた第1のキュベットをキュベット回転トレイ1700の第1のキュベット収納キャビティ1726に取り入れるステップと、
2)駆動機構1200によりキュベット回転トレイ1700を90°回転させ、第1のキュベット収納キャビティ1726を第2のキュベット処理ステーションM2に移動させ、第2のキュベット収納キャビティ1726を第1のキュベット処理ステーションM1に移動させるように駆動し、次に、
(1)光結合素子1600によりキュベット回転トレイ1700にキュベットを有すると検出すると、第1の基質ノズルにより前記第2のキュベット処理ステーションM2で第1のキュベットに励起基質Iを添加するステップと、
(2)第2のキュベットを前記第1のキュベット処理ステーションM1で前記第2のキュベット収納キャビティ1726に取り入れるステップとを同期に実行するステップと、
3)駆動機構1200によりキュベット回転トレイ1700を90°回転させ、第1のキュベット収納キャビティ1726を第3のキュベット処理ステーションM3に移動させ、第2のキュベット収納キャビティ1726を第2のキュベット処理ステーションM2に移動させ、第3のキュベット収納キャビティ1726を第1のキュベット処理ステーションM1に移動させるように駆動し、次に、
(1)第2の基質ノズル1900により第1のキュベットに励起基質IIを添加し、励起基質IIの作用で、測定対象サンプル中の特異性物質が発光し、光電子増倍管検出組立体1400により光子数を受信し、かつ記録し検出を行うステップと、
(2)前記第1の基質ノズル1300により前記第2のキュベットに前記励起基質Iを添加するステップと、
(3)第3のキュベットを前記第1のキュベット処理ステーションM1で前記第3のキュベット収納キャビティ1726に取り入れるステップとを同期に実行するステップと、
4)駆動機構1200によりキュベット回転トレイ1700を90°回転させ、第1のキュベット収納キャビティ1726を第4のキュベット処理ステーションM4に移動させ、第2のキュベット収納キャビティ1726を第3のキュベット処理ステーションM3に移動させ、第3のキュベット収納キャビティ1726を第2のキュベット処理ステーションM2に移動させ、第4のキュベット収納キャビティ1726を前記第1のキュベット処理ステーションM1に移動させるように駆動し、次に、
(1)廃液吸引針組立体1500により検出が完了した第1のキュベット中の廃液を吸引するステップと、
(2)前記第2の基質ノズル1900により前記第2のキュベットに前記励起基質IIを添加し、励起基質IIの作用で、測定対象サンプル中の特異性物質が発光し、光電子増倍管検出組立体1400により光子数を受信し、かつ記録し検出を行うステップと、
(3)前記第1の基質ノズル1300により前記第3のキュベットに前記励起基質Iを添加するステップと、
(4)第4のキュベットを前記第1のキュベット処理ステーションM1で前記第4のキュベット収納キャビティ1726に取り入れるステップとを同期に実行するステップと、
5)駆動機構1200によりキュベット回転トレイ1700を90°回転させ、第1のキュベット収納キャビティ1726を第1のキュベット処理ステーションM1に移動させ、第2のキュベット収納キャビティ1726を第4のキュベット処理ステーションM4に移動させ、第3のキュベット収納キャビティ1726を第3のキュベット処理ステーションM3に移動させ、第4のキュベット収納キャビティ1726を第2のキュベット処理ステーションM2に移動させるように駆動し、次に、
(1)前記第1のキュベット処理ステーションM1で前記第1のキュベットを取り出し、かつ第5のキュベットを取り入れるステップと、
(2)前記廃液吸引針組立体1500により前記第2のキュベットの廃液を吸引するステップと、
(3)前記第2の基質ノズル1900により前記第3のキュベットに前記励起基質IIを添加し、励起基質IIの作用で、測定対象サンプル中の特異性物質が発光し、光電子増倍管検出組立体1400により光子数を受信し、かつ記録し検出を行うステップと、
(4)前記第1の基質ノズル1300により前記第4のキュベットに前記励起基質Iを添加するステップとを同期に実行するステップとを含む。
キュベット入りステーションで、測定対象サンプルを入れた第1のキュベットを前記測定室1000に取り入れるステップS1と、
キュベット測定ステーションで、光電子増倍管検出組立体1400により第2のキュベットの光子数を測定するステップS2とを含む。
1)第1のキュベット処理ステーションM1で測定対象サンプルを入れた第1のキュベットをキュベット回転トレイ1700の第1のキュベット収納キャビティに取り入れるステップと、
2)前記キュベット回転トレイ1700が回転して前記第1のキュベット収納キャビティを第2のキュベット処理ステーションM2に移動させ、第1の基質ノズル1300により前記第2のキュベット処理ステーションM2で前記第1のキュベットに励起基質Iを添加するステップと、
3)前記キュベット回転トレイ1700が回転して前記第1のキュベット収納キャビティを第3のキュベット処理ステーションM3に移動させ、第2の基質ノズル1900により前記第1のキュベットに励起基質IIを添加し、励起基質IIの作用で、測定対象サンプル中の特異性物質が発光し、光電子増倍管検出組立体1400により光子数を受信し、かつ記録し検出を行うステップと、
4)前記キュベット回転トレイ1700が回転して前記第1のキュベット収納キャビティを第4のキュベット処理ステーションM4に移動させ、前記廃液吸引針組立体1500により前記第1のキュベットの廃液を吸引するステップと、
5)前記キュベット回転トレイ1700が回転して前記第1のキュベット収納キャビティを第1のキュベット処理ステーションM1に移動させ、前記第1のキュベット処理ステーションM1で前記第1のキュベットを取り出し、かつ新たなキュベットを取り入れるステップとを含む。
1110 底板
1112 第1の貫通孔
1114 第5の環状ボス
1115 第1の収容溝
1116 第4の環状ボス
1117 第2の収容溝
1118 開口
1120 内部シェル
1121 環状溝
1122 第2の環状ボス
1124 第2の貫通孔
1130 外部シェル
1131 第1の頸部
1132 第4の環状凹溝
1133 第1の肩部
1134 第3の環状凹溝
1135 第3の肩部
1136 段差孔
1137 第3の頸部
1138 第3の貫通孔
1139 第4の貫通孔
1140 上部カバー
1141 カバープレート
1142 第3の環状ボス
1143 第1のブラインドホール
1144 キュベット出入口
1145 第1の円柱台
1146 第2の円柱台
1147 第1の遮光組立体収容溝
1200 駆動機構
1220 接続ブロック
1240 回転プラットフォーム
1260 モータ
1300 第1の基質ノズル
1400 光電子増倍管検出組立体
1500 廃液吸引針組立体
1600 光結合素子
1700 キュベット回転トレイ
1720 上板
1722 段差孔
1724 第2の環状台
1726 キュベット収納キャビティ
1728 第2の遮光組立体収容溝
1729 弾性部材
1730 第1の環状ボス
1740 周壁
1742 測定ウィンドウ
1744 透光孔
1760 回転軸
1762 切欠溝
1764 バンプ
1766 第2のブラインドホール
1770 第2の環状凹溝
1780 第1の環状台
1782 第1の部分
1784 第2の部分
1790 第5の環状凹溝
1800 軸受
1900 第2の基質ノズル
11361 第1の孔
11362 第2の孔
11363 第1の環状凹溝
Claims (18)
- 暗室、第1の基質ノズル、光電子増倍管検出組立体、廃液吸引針組立体、キュベット回転トレイ及び複数のキュベット処理ステーションを含み、前記キュベット回転トレイが測定室内に自転可能に設置されたマルチキュベット処理ステーション並列処理測定室であって、
前記複数のキュベット処理ステーションの間は互いに遮光密封され、
上部カバーをさらに含み、前記キュベット回転トレイは上板及び周壁を含み、前記上部カバーが前記上板の上方に位置し、前記上板は対向して設置された第1の表面及び第2の表面を含み、前記周壁が前記第1の表面に位置し、前記周壁が前記キュベット回転トレイの中心軸線を取り囲んで前記キュベット回転トレイのキャビティを形成し、前記第2の表面が前記上部カバーに向き、前記第2の表面が前記上部カバーと隙間嵌めし、前記第2の表面に複数の第1の遮光組立体収容溝が開設され、各前記第1の遮光組立体収容溝内に遮光組立体が設置され、前記遮光組立体が前記第1の遮光組立体収容溝と前記上部カバーとの間に弾性的に挟んで設置されていることを特徴とするマルチキュベット処理ステーション並列処理測定室。 - 底板、内部シェル及び外部シェルをさらに含み、前記底板、外部シェル及び上部カバーにより収容空間が囲まれ、前記キュベット回転トレイ及び前記内部シェルが前記収容空間内に設置され、前記キュベット回転トレイが前記キュベット回転トレイの径方向に沿って前記内部シェルと前記外部シェルとの間に設置され、前記キュベット回転トレイが前記キュベット回転トレイの軸方向に沿って前記上部カバーと前記底板との間に位置し、前記底板、前記外部シェル、前記内部シェル、前記キュベット回転トレイ及び前記上部カバーが前記暗室を構成することを特徴とする請求項1に記載の測定室。
- 前記キュベット回転トレイは複数のキュベット収納領域を含み、前記上部カバーのカバープレートに複数の第2の遮光組立体収容溝が開設され、前記複数の第2の遮光組立体収容溝が複数の前記第1の遮光組立体収容溝と一対一に対応し、前記キュベット収納領域が対応する前記キュベット処理ステーションに回転すると、前記第2の遮光組立体収容溝と前記第1の遮光組立体収容溝は一対一に対応して前記遮光組立体を収納する空間を形成することを特徴とする請求項1に記載の測定室。
- 複数の前記第2の遮光組立体収容溝、複数の前記第1の遮光組立体収容溝、複数の前記キュベット収納領域及び複数の前記キュベット処理ステーションが一対一に対応し、前記遮光組立体は弾性部材及び遮光プレートを含み、前記弾性部材が前記第1の遮光組立体収容溝内に収容され、前記キュベット回転トレイが回転すると、前記弾性部材は前記遮光プレートを前記上部カバーの底板又は前記第2の遮光組立体収容溝内に当接させることを特徴とする請求項3に記載の測定室。
- 前記上部カバーのカバープレートの底面中央に第1のブラインドホールが開設され、前記第1のブラインドホールの底面中央に順に第1の円柱台及び第2の円柱台が下向きに突出して形成され、前記第1の円柱台の直径が前記第2の円柱台の直径よりも大きく、前記第1の円柱台と前記第2の円柱台との接続部に位置制限段差が形成され、前記キュベット回転トレイの前記上板の前記第2の表面の中央に段差孔が開設され、前記段差孔は大きな孔及び小さな孔を含み、前記大きな孔が前記小さな孔の上方に位置し、前記大きな孔と前記小さな孔との接続部に段差面が形成され、前記大きな孔内に軸受が設置され、前記第2の円柱台が前記軸受内に嵌着され、前記軸受が軸方向に沿って前記位置制限段差と前記段差面との間に位置制限されることを特徴とする請求項1に記載の測定室。
- 前記キュベット回転トレイの前記上板の前記第2の表面は前記大きな孔の周縁で突出して第2の環状台が形成され、前記第2の環状台が前記第1のブラインドホール内に嵌着されることを特徴とする請求項5に記載の測定室。
- 前記外部シェルの上部と前記キュベット回転トレイとの接続部に第1のラビリンス構造が形成され、前記第1のラビリンス構造は第1の環状ボス及び第1の環状凹溝を含み、前記外部シェルに前記第1の環状ボス及び前記第1の環状凹溝の一方が形成され、前記キュベット回転トレイに前記第1の環状ボス及び前記第1の環状凹溝の他方が形成されることを特徴とする請求項2に記載の測定室。
- 前記外部シェルは円筒形を呈し、前記キュベット回転トレイの上板に径方向に沿って外向きに前記第1の環状ボスが突出して形成され、前記外部シェルのキャビティが段差孔であり、前記外部シェルの段差孔は第1の孔及び第2の孔を含み、前記第1の孔と前記第2の孔との接合部に第1の環状凹溝が形成され、前記第1の環状ボスが前記第1の環状凹溝内に嵌め込まれて相対的にスライドすることができることを特徴とする請求項7に記載の測定室。
- 前記内部シェルの上部と前記キュベット回転トレイとの接続部に第2のラビリンス構造が形成され、前記第2のラビリンス構造は第2の環状ボス及び第2の環状凹溝を含み、前記キュベット回転トレイに前記第2の環状ボス及び前記第2の環状凹溝の一方が形成され、前記内部シェルの上部に前記第2の環状ボス及び前記第2の環状凹溝の他方が形成されることを特徴とする請求項2に記載の測定室。
- 前記上板は円板状であり、前記周壁が前記上板の外縁を鉛直下向きに延伸させて形成され、前記内部シェルが前記キュベット回転トレイの前記キャビティ内に位置し、前記内部シェルが軸方向に沿って前記キュベット回転トレイの前記上板の前記第1の表面と前記底板との間に位置し、前記第2の環状ボスが前記内部シェルの前記キュベット回転トレイに接近した端に位置し、前記キュベット回転トレイの上板の前記第1の表面に第1の環状台が突出して形成され、前記第1の環状台に周方向に沿って前記第2の環状凹溝が開設して形成され、前記第2の環状ボスが前記第2の環状凹溝に嵌め込まれて相対的にスライドすることができることを特徴とする請求項9に記載の測定室。
- 前記上部カバーは前記外部シェルに固定され、前記外部シェルの上部と前記上部カバーとの接続部に第3のラビリンス構造が形成され、前記第3のラビリンス構造は第3の環状ボス及び第3の環状凹溝を含み、前記上部カバーに前記第3の環状ボス及び前記第3の環状凹溝の一方が形成され、前記外部シェルに前記第3の環状ボス及び前記第3の環状凹溝の他方が形成されることを特徴とする請求項2に記載の測定室。
- 前記外部シェルは円筒状を呈し、前記上部カバーは円形のカバープレート及び第3の環状ボスを含み、前記カバープレートの外縁が突出して前記第3の環状ボスが形成され、前記第3の環状凹溝が前記外部シェルの前記上部カバーに接近した端に位置し、前記第3の環状ボスが前記第3の環状凹溝に嵌合して当接することを特徴とする請求項11に記載の測定室。
- 前記外部シェルは円筒状を呈し、前記底板と前記外部シェルとの接続部に第4のラビリンス構造が形成され、前記第4のラビリンス構造は第4の環状ボス及び第4の環状凹溝を含み、前記底板に前記第4の環状ボス及び前記第4の環状凹溝の一方が形成され、前記外部シェルに前記第4の環状ボス及び前記第4の環状凹溝の他方が形成され、前記底板の外縁が突出して前記第4の環状ボスが形成され、前記第4の環状凹溝が前記外部シェルの前記底板に接近した端に位置し、前記第4の環状ボスが前記第4の環状凹溝に嵌合して当接することを特徴とする請求項2に記載の測定室。
- 前記底板と前記キュベット回転トレイとの接続部に第5のラビリンス構造が形成され、前記第5のラビリンス構造は第5の環状ボス及び第5の環状凹溝を含み、前記底板に前記第5の環状ボス及び前記第5の環状凹溝の一方が形成され、前記キュベット回転トレイに前記第5の環状ボス及び前記第5の環状凹溝の他方が形成され、前記第5の環状ボスが前記底板に位置し、前記底板の外縁が突出して前記第4の環状ボスが形成され、前記第5の環状ボスの内径が前記第4の環状ボスよりも小さく、前記第5の環状ボスと前記第4の環状ボスの中心軸線が同じであり、前記第5の環状凹溝が前記キュベット回転トレイの前記底板に接近した端に位置し、前記第5の環状ボスが前記第5の環状凹溝に嵌め込まれて相対的にスライドすることができることを特徴とする請求項13に記載の測定室。
- 駆動機構をさらに含み、前記外部シェル、前記内部シェル及び前記底板が一体成形され、前記底板に第1の貫通孔が開設され、前記内部シェルが前記第1の貫通孔を取り囲み、前記外部シェルが前記内部シェルを取り囲み、前記外部シェルと前記内部シェルが離間して設置され、前記駆動機構は前記第1の貫通孔を貫通して前記キュベット回転トレイに接続されて前記キュベット回転トレイを自転させるように駆動することを特徴とする請求項2に記載の測定室。
- 前記上部カバーが前記外部シェルに固定され、前記外部シェルの上部と前記キュベット回転トレイとの接続部に第1のラビリンス構造が形成され、及び/又は前記内部シェルの上部と前記キュベット回転トレイとの接続部に第2のラビリンス構造が形成されることを特徴とする請求項15に記載の測定室。
- 駆動機構をさらに含み、前記底板に第1の貫通孔が開設され、前記底板に前記第1の貫通孔の径方向に沿って第4の環状ボス及び第5の環状ボスが内向きに順に形成され、前記第4の環状ボスが前記底板の外縁を上向きに延伸させて形成され、前記第5の環状ボス、第4の環状ボス及び前記第1の貫通孔の中心軸線が同じであり、前記第5の環状ボスの内径が前記第4の環状ボスよりも小さく、前記第4の環状ボスと前記第5の環状ボスとの間に第1の収容溝が形成され、前記第5の環状ボスと前記第1の貫通孔との間に第2の収容溝が形成され、前記外部シェル及び前記キュベット回転トレイの底部が前記第1の収容溝に位置し、前記内部シェルの底部が前記第2の収容溝に位置し、前記駆動機構は前記第1の貫通孔を貫通して前記キュベット回転トレイに接続されて前記キュベット回転トレイを自転させるように駆動することを特徴とする請求項2に記載の測定室。
- 前記外部シェル、前記内部シェルが前記底板に固定され、前記上部カバーが前記外部シェルに固定され、前記底板と前記外部シェルとの接続部に第1のラビリンス構造が形成され、前記底板と前記キュベット回転トレイとの接続部に第2のラビリンス構造が形成され、前記外部シェルと前記上部カバーとの接続部に第3のラビリンス構造が形成され、前記外部シェルと前記キュベット回転トレイとの接続部に第4のラビリンス構造が形成され、前記内部シェルと前記キュベット回転トレイとの接続部に第5のラビリンス構造が形成されることを特徴とする請求項2に記載の測定室。
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