JP6701587B2 - 画像表示装置、処理方法、及び、プログラム - Google Patents
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Description
例えば、非特許文献1に記載のHMDは、走査方式を用いて網膜にて画像を形成する。更に、このHMDは、網膜からの反射光の強度を検出する。
画像に含まれる複数の画素にそれぞれ対応する複数の光を生成する光源部と、
上記光源部から眼までの光路を形成し、且つ、上記光路を介して、上記生成された複数の光を上記眼の網膜に直接に投影することにより、上記画像を上記網膜にて形成する投影部と、
上記眼の所定の部位における、上記複数の画素にそれぞれ対応する位置からの複数の反射光を、上記光路にて分岐する分岐部と、
上記分岐された複数の反射光のそれぞれの強度を前記複数の画素に対応する複数の検出器で検出する検出部と、
上記複数の画素のそれぞれに対する、上記生成された光の強度と上記検出された反射光の強度とに基づいて、上記複数の画素のそれぞれに対応する位置における上記部位の状態を表すパラメータを取得する処理部と、
を備える。
光源部が、画像に含まれる複数の画素にそれぞれ対応する複数の光を生成し、
上記光源部から眼までの光路を介して、上記生成された複数の光を上記眼の網膜に直接に投影することにより、上記画像を上記網膜にて形成し、
上記眼の所定の部位における、上記複数の画素にそれぞれ対応する位置からの複数の反射光を、上記光路にて分岐し、
上記分岐された複数の反射光のそれぞれの強度を前記複数の画素に対応する複数の検出器で検出し、
上記複数の画素のそれぞれに対する、上記生成された光の強度と上記検出された反射光の強度とに基づいて、上記複数の画素のそれぞれに対応する位置における上記部位の状態を表すパラメータを取得する。
画像に含まれる複数の画素にそれぞれ対応する複数の光を生成する光源部と、
上記光源部から眼までの光路を形成し、且つ、上記光路を介して、上記生成された複数の光を上記眼の網膜に直接に投影することにより、上記画像を上記網膜にて形成する投影部と、
上記眼の所定の部位における、上記複数の画素にそれぞれ対応する位置からの複数の反射光を、上記光路にて分岐する分岐部と、
上記分岐された複数の反射光のそれぞれの強度を上記複数の画素に対応する複数の検出器で検出する検出部と、
処理部と、
を備える画像表示装置の前記処理部において実行されるプログラムであって、
上記複数の画素のそれぞれに対して、上記生成した光の強度と上記検出した反射光の強度とに基づいて、上記複数の画素のそれぞれに対応する位置における上記部位の状態を表すパラメータを取得する。
(構成)
図1に表されるように、第1実施形態の画像表示装置1は、眼鏡型のヘッドマウントディスプレイ(HMD;Head Mounted Display)である。なお、画像表示装置1は、帽子型等の眼鏡型と異なる型のHMDであってもよい。画像表示装置1が用いる投影方式は、非走査方式である。
光源部121は、第1の平面P1にて格子状に配列された複数の光源を備える。複数の光源は、制御装置20から受信された画像情報が表す画像に含まれる複数の画素に対応する複数の光をそれぞれ生成する。
本例では、各画素に対応する光は、画像情報に含まれる、当該画素の光の強度を有する。
投影ユニット13は、投影部の一例である。
ところで、網膜REの反射率はかなり低い。しかしながら、画像表示装置1によれば、高い効率にて反射光を検出器に集めることができる。
なお、光源部121の位置と検出部123の位置とは、互いに交換されてもよい。
処理装置21は、記憶装置22に記憶されたプログラムを実行することにより、後述する機能を実現する。本例では、処理装置21は、CPU(Central Processing Unit)である。なお、処理装置21は、DSP(Digital Signal Processor)、又は、プログラム可能な論理回路装置(PLD;Programmable Logic Device)により構成されていてもよい。
なお、制御装置20は、集積回路(例えば、LSI(Large Scale Integration)等)により実現されてよい。
これによれば、周囲光の強度を検出する検出器を別途に設けることなく、周囲光の強度を検出できる。また、周囲光の強度を高い精度にて検出できる。
次に、画像表示装置1の動作について説明する。
制御装置20は、画像情報を生成し、生成した画像情報を本体10へ送信する。
これにより、本体10は、制御装置20から画像情報を受信する。
本体10の投影ユニット13は、光源部121により生成された複数の投影光を、眼EYの網膜REに直接に投影する。これにより、画像情報が表す画像が網膜REにて形成される。
また、走査方式を用いるとともに共焦点光学系を用いて反射光の強度を検出する場合よりも、分岐部122を設ける位置の自由度を高めることができる。この結果、反射光の強度が検出される対象として設定される眼EYの部位の自由度を高めることができる。
第1実施形態の第1変形例の画像表示装置について説明する。第1実施形態の第1変形例の画像表示装置は、第1実施形態の画像表示装置に対して、反射光の強度が検出される対象として、瞳孔及び虹彩の表面を用いる点において相違している。以下、第1実施形態の第1変形例の画像表示装置の、第1実施形態に対する相違点を中心として説明する。なお、第1実施形態の第1変形例の説明において、第1実施形態と共通する又は対応する符号が用いられる。
検出部123は、リレーレンズ124から入射された複数の反射光の強度のそれぞれを検出する。
本例では、第2のレンズR2の主面と、瞳面PUIと、の間の距離d2は、第2のレンズR2の焦点距離f2に十分に近い。従って、第2のレンズR2は、瞳面PUI内の1点における反射光を、互いに略平行に進行する光として第1のレンズR1へ出射する。第1のレンズR1及びリレーレンズ124は、第2のレンズR2から入射された、互いに略平行に進行する光を、第2の平面P2にて1点に収束させる。
従って、第1実施形態の第1変形例の画像表示装置1によれば、眼EYに照射される光の強度が変化してから、当該変化に伴って瞳孔の径が変化するまでの時間を測定することにより、上記疾患の検査を行なうことができる。
第1実施形態の第2変形例の画像表示装置について説明する。第1実施形態の第2変形例の画像表示装置は、第1実施形態の画像表示装置と光学系が相違している。以下、第1実施形態の第2変形例の画像表示装置の、第1実施形態に対する相違点を中心として説明する。なお、第1実施形態の第2変形例の説明において、第1実施形態と共通する又は対応する符号が用いられる。
第2のレンズR2は、一次像面PIと、第2のレンズR2の主面と、の間の距離が、第2のレンズR2の焦点距離f2と一致する位置に配置される。
第1実施形態の第3変形例の画像表示装置について説明する。第1実施形態の第3変形例の画像表示装置は、第1実施形態の画像表示装置と光学系が相違している。以下、第1実施形態の第3変形例の画像表示装置の、第1実施形態に対する相違点を中心として説明する。なお、第1実施形態の第3変形例の説明において、第1実施形態と共通する又は対応する符号が用いられる。
本例では、光源ユニット12及び投影ユニット13の機能は、第1のレンズR1、第2のレンズR2、分岐部122及びリレーレンズ125と同様の機能を含む。
リレーレンズ125には、分岐部122により分岐された複数の反射光が入射される。リレーレンズ125は、分岐部122から入射された複数の反射光を検出部123へ出射する。リレーレンズ125は、網膜REからの反射光を、第2の平面P2にて結像する。
検出部123は、リレーレンズ125から入射された複数の反射光の強度のそれぞれを検出する。
次に、第2実施形態の画像表示装置について説明する。第2実施形態の画像表示装置は、第1実施形態の画像表示装置に対して、投影方式として走査方式を用いる点において相違している。以下、第2実施形態の画像表示装置の、第1実施形態に対する相違点を中心として説明する。なお、第2実施形態の説明において、第1実施形態と共通する又は対応する符号が用いられる。
本例では、光源は、N個の色のレーザ光を生成する。Nは、光源により生成される光の色の数を表す。本例では、Nは、3を表す。本例では、光源は、赤色、青色、及び、緑色のレーザ光を生成する。Nは、1、2、又は、4以上の整数を表してもよい。換言すると、光源により生成されるレーザ光は、N個の色の光を含む。
本例では、光源は、半導体レーザである。光源は、半導体レーザと異なるレーザであってもよい。
本例では、ミラー129は、マイクロミラーである。マイクロミラーは、MEMSの一例である。なお、ミラー129は、マイクロミラーと異なるミラーであってもよい。
なお、光源部126の位置と検出部132の位置とは、互いに交換されてもよい。
本例では、画像表示装置1は、ラスター走査方式を用いている。なお、画像表示装置1は、ラスター走査方式と異なる走査方式を用いてもよい。
従って、第2実施形態の画像表示装置1によれば、検出部132の検出器に入射される光に含まれる、網膜REにおいて投影光が照射される点(換言すると、集光点)の周辺からの反射光及び散乱光の成分を、ピンホールフィルタ131によって抑制することができる。この結果、集光点からの反射光の強度を高い精度にて検出できる。従って、検出された反射光の強度に基づいて、網膜REの状態を高い精度にて検出できる。
10 本体
11 フレーム
12,12A 光源ユニット
121 光源部
122 分岐部
123 検出部
124 リレーレンズ
125 リレーレンズ
126 光源部
127 レンズ
128 分岐部
129 ミラー
13,13A 投影ユニット
130 レンズ
131 ピンホールフィルタ
132 検出部
20 制御装置
21 処理装置
22 記憶装置
201 画像情報生成部
202 反射光強度取得部
203 反射率取得部
CB ケーブル
EY 眼
LE レンズ部
P1 第1の平面
P2 第2の平面
PH ピンホール
PI 一次像面
PUI 瞳面
R1 第1のレンズ
R2 第2のレンズ
RE 網膜
Claims (10)
- 時間の経過に伴って変化する映像又は動画である画像に含まれる異なる強度を有する複数の画素にそれぞれ対応する複数の光を生成する光源部と、
前記光源部から眼までの光路を形成し、且つ、前記光路を介して、前記生成された複数の光を前記眼の網膜に直接に投影することにより、前記画像を前記網膜にて形成する投影部と、
前記眼の所定の部位における、前記複数の画素にそれぞれ対応する位置からの複数の反射光を、前記光路にて分岐する分岐部と、
前記分岐された複数の反射光のそれぞれの強度を前記複数の画素に対応する複数の検出器で検出する検出部と、
前記複数の画素のそれぞれに対する、前記生成された光の強度と前記検出された反射光の強度とに基づいて、前記複数の画素のそれぞれに対応する位置における前記部位の状態を表すパラメータを取得する処理部と、
を備える、画像表示装置。 - 請求項1に記載の画像表示装置であって、
前記パラメータの取得は、前記検出された反射光の強度に基づく強度を、前記生成された光の強度によって除することを含む、画像表示装置。 - 請求項1又は請求項2に記載の画像表示装置であって、
前記画像は、時間の経過に伴って変化し、
前記パラメータの取得は、前記検出された反射光の強度に基づく強度の所定の期間に亘る積分値を、前記生成された光の強度の前記期間に亘る積分値によって除することを含む、画像表示装置。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の画像表示装置であって、
前記反射光の強度に基づく強度は、前記検出された反射光の強度から周囲光の強度を減じた値である、画像表示装置。 - 請求項4に記載の画像表示装置であって、
前記検出部は、前記光源部が光を生成しない期間において前記周囲光の強度を検出する、画像表示装置。 - 請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の画像表示装置であって、
前記処理部は、前記パラメータを位置に関して微分した値を取得する、画像表示装置。 - 請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の画像表示装置であって、
前記光源部は、前記複数の光をそれぞれ生成し且つ第1の平面にて格子状に配列された複数の光源を含み、
前記検出部は、前記分岐された複数の反射光をそれぞれ検出し且つ第2の平面にて格子状に配列された複数の検出器を含む、画像表示装置。 - 光源部が、時間の経過に伴って変化する映像又は動画である画像に含まれる異なる強度を有する複数の画素にそれぞれ対応する複数の光を生成し、
前記光源部から眼までの光路を介して、前記生成された複数の光を前記眼の網膜に直接に投影することにより、前記画像を前記網膜にて形成し、
前記眼の所定の部位における、前記複数の画素にそれぞれ対応する位置からの複数の反射光を、前記光路にて分岐し、
前記分岐された複数の反射光のそれぞれの強度を前記複数の画素に対応する複数の検出器で検出し、
前記複数の画素のそれぞれに対する、前記生成された光の強度と前記検出された反射光の強度とに基づいて、前記複数の画素のそれぞれに対応する位置における前記部位の状態を表すパラメータを取得する、処理方法。 - 請求項8に記載の処理方法であって、
前記複数の光は、第1の平面にて格子状に配列された複数の光源によりそれぞれ生成され、
前記分岐された複数の反射光は、第2の平面にて格子状に配列された複数の検出器によりそれぞれ検出される、処理方法。 - 時間の経過に伴って変化する映像又は動画である画像に含まれる異なる強度を有する複数の画素にそれぞれ対応する複数の光を生成する光源部と、
前記光源部から眼までの光路を形成し、且つ、前記光路を介して、前記生成された複数の光を前記眼の網膜に直接に投影することにより、前記画像を前記網膜にて形成する投影部と、
前記眼の所定の部位における、前記複数の画素にそれぞれ対応する位置からの複数の反射光を、前記光路にて分岐する分岐部と、
前記分岐された複数の反射光のそれぞれの強度を前記複数の画素に対応する複数の検出器で検出する検出部と、
処理部と、
を備える画像表示装置の前記処理部において実行されるプログラムであって、
前記複数の画素のそれぞれに対して、前記生成した光の強度と前記検出した反射光の強度とに基づいて、前記複数の画素のそれぞれに対応する位置における前記部位の状態を表すパラメータを取得する、プログラム。
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