JP6033843B2 - 2つ以上のダイのためのマルチダイフェイスダウン積層 - Google Patents
2つ以上のダイのためのマルチダイフェイスダウン積層 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6033843B2 JP6033843B2 JP2014506538A JP2014506538A JP6033843B2 JP 6033843 B2 JP6033843 B2 JP 6033843B2 JP 2014506538 A JP2014506538 A JP 2014506538A JP 2014506538 A JP2014506538 A JP 2014506538A JP 6033843 B2 JP6033843 B2 JP 6033843B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microelectronic
- microelectronic element
- opening
- substrate
- front surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/065—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10D89/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/065—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10D89/00
- H01L25/0657—Stacked arrangements of devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/13—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the shape
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/16—Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations, e.g. centering rings
- H01L23/18—Fillings characterised by the material, its physical or chemical properties, or its arrangement within the complete device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
- H01L23/3107—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
- H01L23/3121—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed a substrate forming part of the encapsulation
- H01L23/3128—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed a substrate forming part of the encapsulation the substrate having spherical bumps for external connection
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/42—Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
- H01L23/433—Auxiliary members in containers characterised by their shape, e.g. pistons
- H01L23/4334—Auxiliary members in encapsulations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49811—Additional leads joined to the metallisation on the insulating substrate, e.g. pins, bumps, wires, flat leads
- H01L23/49816—Spherical bumps on the substrate for external connection, e.g. ball grid arrays [BGA]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/065—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10D89/00
- H01L25/0652—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10D89/00 the devices being arranged next and on each other, i.e. mixed assemblies
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/10—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices
- H01L25/50—Multistep manufacturing processes of assemblies consisting of devices, the devices being individual devices of subclass H10D or integrated devices of class H10
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
- H01L2224/061—Disposition
- H01L2224/0612—Layout
- H01L2224/0613—Square or rectangular array
- H01L2224/06134—Square or rectangular array covering only portions of the surface to be connected
- H01L2224/06136—Covering only the central area of the surface to be connected, i.e. central arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32135—Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/32145—Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/4824—Connecting between the body and an opposite side of the item with respect to the body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/50—Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73215—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L2225/04—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L2225/065—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10
- H01L2225/06503—Stacked arrangements of devices
- H01L2225/0651—Wire or wire-like electrical connections from device to substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L2225/04—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L2225/065—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10
- H01L2225/06503—Stacked arrangements of devices
- H01L2225/06527—Special adaptation of electrical connections, e.g. rewiring, engineering changes, pressure contacts, layout
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L2225/04—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L2225/065—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10
- H01L2225/06503—Stacked arrangements of devices
- H01L2225/06555—Geometry of the stack, e.g. form of the devices, geometry to facilitate stacking
- H01L2225/06562—Geometry of the stack, e.g. form of the devices, geometry to facilitate stacking at least one device in the stack being rotated or offset
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L2225/04—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L2225/065—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10
- H01L2225/06503—Stacked arrangements of devices
- H01L2225/06582—Housing for the assembly, e.g. chip scale package [CSP]
- H01L2225/06586—Housing with external bump or bump-like connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L2225/04—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L2225/065—All the devices being of a type provided for in the same main group of the same subclass of class H10
- H01L2225/06503—Stacked arrangements of devices
- H01L2225/06589—Thermal management, e.g. cooling
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/095—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
- H01L2924/097—Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
- H01L2924/09701—Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Description
本願は、2011年4月21日に出願された米国仮特許出願第61/477,877号、及び2011年11月29日に出願された米国特許出願第13/306,300号の出願日の利得を主張するものであり、これらの開示内容は、参照することによって、ここに含まれるものとする。本出願人の譲渡人に譲渡された以下の出願:いずれも2011年4月21日に出願された米国仮特許出願第61/477,820号、第61/477,883号、及び第61/477,967号もまた、参照することによって、ここに含まれるものとする。
本発明は、フェイスダウン状態で配置された積層半導体チップを備える超小型電子アセンブリ、及び該超小型電子アセンブリを製造する方法に関する。
なお、本発明の実施形態例を以下にさらに示す。
[実施形態例1]
第1及び第2の表面のそれぞれにより第1及び第2の横断方向に延びる平面を画定する第1及び第2の表面と、前記第1及び第2の表面間にて延びる第1及び第2の開口とを有する基板であって、前記第1の開口が前記第1の横断方向に延びる長手寸法を有し、前記第2の開口が前記第2の横断方向に延びる長手寸法を有し、前記第1及び第2の開口の長手寸法が前記第1及び第2の開口の短手寸法よりも大きな長さを有し、前記第1及び第2の開口の短手寸法がそれぞれ前記第2及び第1の横断方向に延びている、基板と、
前記第1の表面と向き合う前面と、前記前面から離れた裏面と、互いに向き合った第1及び第2の縁部と、前記第1及び第2の縁部間の方向に延びると共に前記前面及び前記裏面間にて延びる第3の縁部と、前記第1の開口と真直ぐに並んだ前記前面の中央領域におけるボンドパッドとを有する第1の超小型電子素子であって、前記中央領域が前記第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、第1の超小型電子素子と、
前記第1の超小型電子素子の裏面と向き合って、前記第1の超小型電子素子における第3の縁部を超えて突出した前面と、前記第2の開口と真直ぐに並んだ第2の超小型電子素子における前面の中央領域のボンドパッドとを有する第2の超小型電子素子であって、前記中央領域が、第2の超小型電子素子の互いに向き合った第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、第2の超小型電子素子と
を備え、
前記第1及び第2の超小型電子素子のボンドパッドが前記基板の導電要素に電気的に接続されている、超小型電子アセンブリ。
[実施形態例2]
前記第1の超小型電子素子のボンドパッドが、前記第1の開口と真直ぐに並んだ部分を有する第1のリードによって前記導電要素に電気的に接続されており、
前記第2の超小型電子素子のボンドパッドが、前記第2の開口と真直ぐに並んだ部分を有する第2のリードによって前記導電要素に電気的に接続されている、実施形態例1に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例3]
前記第1のリードが前記第1の開口を通って延びていない構成、及び前記第2のリードが前記第2の開口を通って延びていない構成の少なくとも一方となっている、実施形態例2に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例4]
前記ボンドパッドが、前記第1の開口を通って延びる第1のワイヤボンド、及び前記第2の開口を通って延びる第2のワイヤボンドによって前記導電要素に電気的に接続されている、実施形態例1に記載に超小型電子アセンブリ。
[実施形態例5]
前記第1の開口を通って延びる第1のリード及び第2のリードをさらに備え、
前記第1のリードが、前記第1の超小型電子素子におけるボンドパッドの少なくともいくつかを前記基板の導電要素に電気的に接続しており、
前記第2のリードが前記第2の開口と真直ぐに並んだ部分を有し、
前記第2のリードが前記第2の開口を通って延びておらず、
前記第2のリードが、前記第2の超小型電子素子における前記ボンドパッドの少なくともいくつかを前記基板の導電要素に電気的に接続している、実施形態例1に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例6]
前記第2のリードがリードボンドとなっている、実施形態例5に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例7]
前記第1及び第2の超小型電子素子の少なくとも1つにおける少なくとも一部と熱連通するヒートスプレッダをさらに備えている実施形態例1に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例8]
前記ヒートスプレッダが、前記第1及び第2の超小型電子素子のそれぞれにおける少なくとも一部と熱連通するようになっている、実施形態例7に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例9]
前記ヒートスプレッダが前記第2の超小型電子素子のみと熱連通するようになっている、実施形態例7に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例10]
前記基板の導電要素に電気的に接続された端子をさらに備え、
前記端子が前記超小型電子アセンブリを外部コンポーネントに電気的に接続するように構成されている、実施形態例1に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例11]
前記基板の導電要素を介して、前記端子の少なくともいくつか及び前記超小型電子素子の1つ又は複数に電気的に接続されたバッファ素子をさらに備え、
前記バッファ素子が、前記端子の少なくとも1つにて受信した少なくとも1つの信号を再生し、該再生した少なくとも1つの信号を前記導電要素の少なくとも1つを介して前記1つ又は複数の超小型電子素子に伝達するように構成されている、実施形態例10に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例12]
前記バッファ素子が、能動素子を内部に有する超小型電子素子となっている、実施形態例11に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例13]
前記第1の超小型電子素子と向き合って、前記第1の超小型電子素子の第3の縁部とは反対側の第4の縁部を超えて突出した前面を有する第3の超小型電子素子をさらに備え、
前記第3の超小型電子素子が前記前面にボンドパッドを有し、
前記ボンドパッドが、前記基板の第3の開口と真直ぐに並んでおり、前記導電要素に電気的に接続されている、実施形態例1に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例14]
前記第3の超小型電子素子のボンドパッドが前記第3の超小型電子素子における前面の中央領域に配置されており、
前記中央領域が、前記第3の超小型電子素子の互いに向き合った第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、実施形態例13に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例15]
第3のリードをさらに備え、
前記第3の超小型電子素子のボンドパッドが、前記第3のリードによって前記基板の導電要素の少なくともいくつかに電気的に接続されている、実施形態例13に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例16]
前記第3のリードがワイヤボンドとなっている、実施形態例15に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例17]
前記第3の超小型電子素子におけるボンドパッドの5つ以上から成る少なくとも1つの列が、前記第3の超小型電子素子の周縁部に隣接して配置されている、実施形態例13に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例18]
前記第2及び第3の超小型電子素子のそれぞれにおける前面が単一平面上に位置している、実施形態例13に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例19]
前記第3の超小型電子素子が前記第2の超小型電子の少なくとも一部と重なっている、実施形態例13に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例20]
前記基板の第1の表面と向き合う前面及び該前面から離れた裏面を有する第4の超小型電子素子をさらに備え、
前記第4の超小型電子素子が前記前面にボンドパッドを有しており、
前記ボンドパッドが、前記基板の第4の開口と真直ぐに並んでおり、前記導電要素に電気的に接続されている、実施形態例13に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例21]
前記第4の超小型電子素子のボンドパッドが、前記第4の超小型電子素子における前面の中央領域に配置されており、
前記中央領域が、前記第4の超小型電子素子の互いに向き合った第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、実施形態例20に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例22]
第4のリードをさらに備え、
前記第4の超小型電子素子のボンドパッドが、前記第4のリードによって前記基板の導電要素の少なくともいくつかに電気的に接続されている、実施形態例20に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例23]
前記第4のリードがワイヤボンドとなっている、実施形態例22に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例24]
前記第4の超小型電子素子におけるボンドパッドの5つ以上から成る少なくとも1つの列が、前記第4の超小型電子素子の周縁部に隣接して配置されている、実施形態例20に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例25]
前記第1及び第4の超小型電子素子のそれぞれにおける前面が単一平面上に位置している、実施形態例20に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例26]
前記第2の超小型電子素子が前記第4の超小型電子素子の少なくとも一部と重なっている、実施形態例20に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例27]
互いに向き合った第1及び第2の表面と、前記第1及び第2の表面間にて延びる少なくとも1つの第1の開口と、前記第1及び第2の表面間にて延びる少なくとも1つの第2の開口とを有する基板と、
前記第1の表面と向き合う前面と、前記前面から離れた裏面と、互いに向き合った第1及び第2の縁部と、前記第1及び第2の縁部間の方向に延びると共に前記前面及び前記裏面間にて延びる第3の縁部とを有し、かつ前記前面の中央領域にて第1の方向に延びて、前記少なくとも1つの第1の開口と真直ぐに並んでいる5つ以上のボンドパッドから成る少なくとも1つの列を有する第1の超小型電子素子であって、前記中央領域が、前記第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、第1の超小型電子素子と、
前記第1の超小型電子素子の裏面と向き合って、前記第1の超小型電子素子の第3の縁部を超えて突出した前面を有し、かつ前記第2の超小型電子素子における前面の中央領域にて第2の方向に延びて、前記少なくとも1つの第2の開口と真直ぐに並んでいる5つ以上のボンドパッドから成る少なくとも1つの列を有する第2の超小型電子素子であって、前記第2の方向が前記第1の方向を横断しており、前記中央領域が前記第2の超小型電子素子の互いに向き合った第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、第2の超小型電子素子と
を備え、
前記第1及び第2の超小型電子素子のボンドパッドが前記基板の導電要素に電気的に接続されている、超小型電子アセンブリ。
[実施形態例28]
前記少なくとも1つの第1の開口が前記第1の方向に延びる複数の第1の開口を含んでいる、実施形態例27に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例29]
前記少なくとも1つの第2の開口が前記第2の方向に延びる複数の第2の開口を含んでいる、実施形態例27に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例30]
前記第1の超小型電子素子と向き合って、前記第1の超小型電子素子における第3の縁部とは反対側の第4の縁部を超えて突出した前面を有する第3の超小型電子素子をさらに備え、
前記第3の超小型電子素子が前記前面にボンドパッドを有しており、
前記ボンドパッドが、前記基板の第3の開口と真直ぐに並んでおり、前記導電要素に電気的に接続されている、実施形態例27に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例31]
前記第3の超小型電子素子のボンドパッドが、前記第3の超小型電子素子における前面の中央領域に配置されており、
前記中央領域が、前記第3の超小型電子素子の互いに向き合った第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、実施形態例30に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例32]
第3のリードをさらに備え、
前記第3の超小型電子素子のボンドパッドが、前記第3のリードによって前記基板の導電要素の少なくともいくつかに電気的に接続されている、実施形態例30に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例33]
前記第3のリードがワイヤボンドとなっている、実施形態例32に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例34]
前記第3の超小型電子素子におけるボンドパッドの5つ以上から成る少なくとも1つの列が、前記第3の超小型電子素子の周縁部に隣接して配置されている、実施形態例30に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例35]
前記第2及び第3の超小型電子素子のそれぞれにおける前面が単一平面上に位置している、実施形態例30に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例36]
前記第3の超小型電子素子が前記第2の超小型電子素子の少なくとも一部と重なっている、実施形態例30に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例37]
前記基板の第1の表面と向き合う前面及び該前面から離れた裏面を有する第4の超小型電子素子をさらに備え、
前記第4の超小型電子素子が前記前面にボンドパッドを有しており、
前記ボンドパッドが、前記基板の第4の開口と真直ぐに並んでおり、前記導電要素に電気的に接続されている、実施形態例30に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例38]
前記第4の超小型電子素子のボンドパッドが、前記第4の超小型電子素子における前面の中央領域に配置されており、
前記中央領域が、前記第4の超小型電子素子の互いに向き合った第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、実施形態例37に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例39]
第4のリードをさらに備え、
前記第4の超小型電子素子のボンドパッドが、前記第4のリードによって前記基板の導電要素の少なくともいくつかに電気的に接続されている、実施形態例37に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例40]
前記第4のリードがワイヤボンドとなっている、実施形態例39に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例41]
前記第4の超小型電子素子におけるボンドパッドの5つ以上から成る少なくとも1つの列が、前記第4の超小型電子素子の周縁部に隣接して配置されている、実施形態例37に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例42]
前記第1及び第4の超小型電子素子のそれぞれにおける前面が単一平面上に位置している、実施形態例37に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例43]
前記第2の超小型電子素子が前記第4の超小型電子素子の少なくとも一部と重なっている、実施形態例37に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例44]
第1及び第2の表面のそれぞれにより第1及び第2の横断方向に延びる平面を画定する第1及び第2の表面と、前記第1及び第2の表面間にて延びる第1及び第2の開口とを有する基板であって、前記第1の開口が前記第1の横断方向に延びる長手寸法を有し、前記第2の開口が前記第2の横断方向に延びる長手寸法を有し、前記第1及び第2の開口の長手寸法が前記第1及び第2の開口の短手寸法よりも大きな長さを有し、前記第1及び第2の開口の短手寸法がそれぞれ前記第2及び第1の横断方向に延びている、基板と、
前記第1の表面に向き合う前面と、前記前面から離れた裏面と、互いに向き合った第1及び第2の縁部と、前記第1及び第2の縁部間の方向に延びると共に前記前面及び前記裏面間にて延びる第3の縁部と、前記第1の開口と真直ぐに並んだ前記前面の中央領域におけるボンドパッドとを有する第1の超小型電子素子であって、前記中央領域が前記第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、第1の超小型電子素子と、
前記第1の超小型電子素子の裏面と向き合って、前記第1の超小型電子素子における第1の縁部を超えて突出した前面と、前記基板の第1の表面及び第2の表面間にて延びる第3の開口と真直ぐに並んだ前記第2の超小型電子素子の前面におけるボンドパッドとを有する第2の超小型電子素子と、
前記第1の超小型電子素子の裏面と向き合って、前記第1の超小型電子素子における第3の縁部を超えて突出した前面と、前記第2の開口と真直ぐに並んだ前記第3の超小型電子素子における前面の中央領域のボンドパッドとを有する第3の超小型電子素子であって、前記中央領域が、前記第3の超小型電子素子の互いに向き合った第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、第3の超小型電子素子と、
前記第1の超小型電子素子の裏面と向き合って、前記第1の超小型電子素子における第3の縁部とは反対側の第4の縁部を超えて突出した前面と,前記基板の第1及び第2の表面間にて延びる第4の開口と真直ぐに並んだ前記第4の超小型電子素子の前面におけるボンドパッドとを有する第4の超小型電子素子と
を備え、
前記第1,第2,第3,及び第4の超小型電子素子のボンドパッドが前記基板の導電要素に電気的に接続されている、超小型電子アセンブリ。
[実施形態例45]
前記第3及び第4の超小型電子素子のそれぞれにおける前面が単一平面上に位置している、実施形態例44に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例46]
前記第3の超小型電子素子が前記第2の超小型電子素子の少なくとも一部と重なっている、実施形態例44に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例47]
前記第4の超小型電子素子が前記第2の超小型電子素子の少なくとも一部と重なっている、実施形態例44に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例48]
前記第3及び第4の超小型電子素子がそれぞれ前記第2の超小型電子素子の少なくとも一部と重なっている、実施形態例44に記載の超小型電子アセンブリ。
[実施形態例49]
実施形態例1,27、及び44のいずれか一項に記載の超小型電子アセンブリと、前記超小型電子アセンブリに電気的に接続された1つ又は複数の他の電子コンポーネントとを備えているシステム。
[実施形態例50]
ハウジングをさらに備え、
前記超小型電子アセンブリ及び前記他の電子コンポーネントが前記ハウジング内に実装されている、実施形態例49に記載のシステム。
Claims (15)
- 第1及び第2の表面のそれぞれにより第1の方向及び該第1の方向に交差する第2の方向に延びる平面を画定すると共に互いに対向する第1及び第2の表面と、前記第1及び第2の表面間にて延びる第1及び第2の開口とを有する基板であって、前記第1の開口が前記第1の方向に延びる長手寸法を有し、前記第2の開口が前記第2の方向に延びる長手寸法を有し、前記第1及び第2の開口の長手寸法が前記第1及び第2の開口の短手寸法よりも大きな長さを有し、前記第1及び第2の開口の短手寸法がそれぞれ前記第2及び第1の方向に延びている、基板と、
前記第1の表面と向き合う前面と、前記前面から離れた裏面と、前記第2の方向にて互いに対向する第1及び第2の縁部と、前記第1及び第2の縁部間の方向に延びると共に前記前面及び前記裏面間にて延びる第3の縁部と、前記第1の開口と真直ぐに並んだ前記前面における中央領域の複数のボンドパッドから成る列とを有する第1の超小型電子素子であって、前記中央領域が前記第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、第1の超小型電子素子と、
前記第1の超小型電子素子の裏面と向き合って、前記第1の超小型電子素子における第3の縁部を超えて突出した前面と、前記第2の開口と真直ぐに並んだ第2の超小型電子素子の前面における中央領域の複数のボンドパッドから成る列とを有する第2の超小型電子素子であって、前記中央領域が、第2の超小型電子素子における前記第1の方向にて互いに対向する第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、第2の超小型電子素子と
を備え、
前記第1及び第2の超小型電子素子のボンドパッドが前記基板の導電要素に電気的に接続されており、
前記第1の開口が、前記第1の方向にて前記第2の開口と間隔を空けており、
前記第1の方向にて前記第1の超小型電子素子における第3の縁部側に位置する前記第1の開口の短手縁部と、前記第1の超小型電子素子における第3の縁部とが、前記第2の超小型電子素子における前記第2の縁部及び前記中央領域間の外側領域と重複した状態で配置されている、超小型電子アセンブリ。 - 前記第1の超小型電子素子のボンドパッドが、前記第1の開口と真直ぐに並んだ部分を有する第1のリードによって前記導電要素に電気的に接続されており、
前記第2の超小型電子素子のボンドパッドが、前記第2の開口と真直ぐに並んだ部分を有する第2のリードによって前記導電要素に電気的に接続されている、請求項1に記載の超小型電子アセンブリ。 - 前記第1のリードが前記第1の開口を通って延びていない構成、及び前記第2のリードが前記第2の開口を通って延びていない構成の少なくとも一方となっている、請求項2に記載の超小型電子アセンブリ。
- 前記ボンドパッドが、前記第1の開口を通って延びる第1のワイヤボンド、及び前記第2の開口を通って延びる第2のワイヤボンドによって前記導電要素に電気的に接続されている、請求項1に記載に超小型電子アセンブリ。
- 前記第1及び第2の超小型電子素子の少なくとも1つにおける少なくとも一部と熱連通するヒートスプレッダをさらに備えている請求項1に記載の超小型電子アセンブリ。
- 前記基板の導電要素に電気的に接続された端子をさらに備え、
前記端子が前記超小型電子アセンブリを外部コンポーネントに電気的に接続するように構成されている、請求項1に記載の超小型電子アセンブリ。 - 前記基板の導電要素を介して、前記端子の少なくともいくつか及び前記超小型電子素子の1つ又は複数に電気的に接続されたバッファ素子をさらに備え、
前記バッファ素子が、前記端子の少なくとも1つにて受信した少なくとも1つの信号を再生し、該再生した少なくとも1つの信号を前記導電要素の少なくとも1つを介して前記1つ又は複数の超小型電子素子に伝達するように構成されている、請求項6に記載の超小型電子アセンブリ。 - 前記第1の超小型電子素子と向き合って、前記第1の超小型電子素子の第3の縁部とは反対側の第4の縁部を超えて突出した前面を有する第3の超小型電子素子をさらに備え、
前記第3の超小型電子素子が前記前面にボンドパッドを有し、
前記ボンドパッドが、前記基板の第3の開口と真直ぐに並んでおり、前記導電要素に電気的に接続されている、請求項1に記載の超小型電子アセンブリ。 - 前記第3の超小型電子素子のボンドパッドが前記第3の超小型電子素子における前面の中央領域に配置されており、
前記中央領域が、前記第3の超小型電子素子の互いに向き合った第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、請求項8に記載の超小型電子アセンブリ。 - 前記第3の超小型電子素子におけるボンドパッドの5つ以上から成る少なくとも1つの列が、前記第3の超小型電子素子の周縁部に隣接して配置されている、請求項8に記載の超小型電子アセンブリ。
- 前記基板の第1の表面と向き合う前面及び該前面から離れた裏面を有する第4の超小型電子素子をさらに備え、
前記第4の超小型電子素子が前記前面にボンドパッドを有しており、
前記ボンドパッドが、前記基板の第4の開口と真直ぐに並んでおり、前記導電要素に電気的に接続されている、請求項8に記載の超小型電子アセンブリ。 - 前記第4の超小型電子素子のボンドパッドが、前記第4の超小型電子素子における前面の中央領域に配置されており、
前記中央領域が、前記第4の超小型電子素子の互いに向き合った第1及び第2の縁部間距離の3分割中央部分にて延びている、請求項11に記載の超小型電子アセンブリ。 - 前記第4の超小型電子素子におけるボンドパッドの5つ以上から成る少なくとも1つの列が、前記第4の超小型電子素子の周縁部に隣接して配置されている、請求項11に記載の超小型電子アセンブリ。
- 請求項1に記載の超小型電子アセンブリと、前記超小型電子アセンブリに電気的に接続された1つ又は複数の他の電子コンポーネントとを備えているシステム。
- ハウジングをさらに備え、
前記超小型電子アセンブリ及び前記他の電子コンポーネントが前記ハウジング内に実装されている、請求項14に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201161477877P | 2011-04-21 | 2011-04-21 | |
US61/477,877 | 2011-04-21 | ||
US13/306,300 US8338963B2 (en) | 2011-04-21 | 2011-11-29 | Multiple die face-down stacking for two or more die |
US13/306,300 | 2011-11-29 | ||
PCT/US2012/034196 WO2012145477A1 (en) | 2011-04-21 | 2012-04-19 | Multiple die face-down stacking for two or more die |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014512694A JP2014512694A (ja) | 2014-05-22 |
JP2014512694A5 JP2014512694A5 (ja) | 2015-06-11 |
JP6033843B2 true JP6033843B2 (ja) | 2016-11-30 |
Family
ID=47020674
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014506538A Expired - Fee Related JP6033843B2 (ja) | 2011-04-21 | 2012-04-19 | 2つ以上のダイのためのマルチダイフェイスダウン積層 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8338963B2 (ja) |
EP (1) | EP2700098A1 (ja) |
JP (1) | JP6033843B2 (ja) |
KR (1) | KR20140028014A (ja) |
CN (1) | CN103620773B (ja) |
TW (1) | TWI479638B (ja) |
WO (1) | WO2012145477A1 (ja) |
Families Citing this family (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8553420B2 (en) | 2010-10-19 | 2013-10-08 | Tessera, Inc. | Enhanced stacked microelectronic assemblies with central contacts and improved thermal characteristics |
US8952516B2 (en) | 2011-04-21 | 2015-02-10 | Tessera, Inc. | Multiple die stacking for two or more die |
US8970028B2 (en) | 2011-12-29 | 2015-03-03 | Invensas Corporation | Embedded heat spreader for package with multiple microelectronic elements and face-down connection |
US8304881B1 (en) | 2011-04-21 | 2012-11-06 | Tessera, Inc. | Flip-chip, face-up and face-down wirebond combination package |
US8928153B2 (en) | 2011-04-21 | 2015-01-06 | Tessera, Inc. | Flip-chip, face-up and face-down centerbond memory wirebond assemblies |
US9013033B2 (en) * | 2011-04-21 | 2015-04-21 | Tessera, Inc. | Multiple die face-down stacking for two or more die |
US8633576B2 (en) | 2011-04-21 | 2014-01-21 | Tessera, Inc. | Stacked chip-on-board module with edge connector |
US8823165B2 (en) | 2011-07-12 | 2014-09-02 | Invensas Corporation | Memory module in a package |
US8569884B2 (en) | 2011-08-15 | 2013-10-29 | Tessera, Inc. | Multiple die in a face down package |
JP2014528652A (ja) | 2011-10-03 | 2014-10-27 | インヴェンサス・コーポレイション | パッケージの中心から端子グリッドをオフセットすることによるスタブ最小化 |
US8659142B2 (en) | 2011-10-03 | 2014-02-25 | Invensas Corporation | Stub minimization for wirebond assemblies without windows |
US8436477B2 (en) | 2011-10-03 | 2013-05-07 | Invensas Corporation | Stub minimization using duplicate sets of signal terminals in assemblies without wirebonds to package substrate |
US8653646B2 (en) | 2011-10-03 | 2014-02-18 | Invensas Corporation | Stub minimization using duplicate sets of terminals for wirebond assemblies without windows |
KR101894825B1 (ko) | 2011-10-03 | 2018-10-04 | 인벤사스 코포레이션 | 평행한 윈도우를 갖는 다중-다이 와이어 본드 어셈블리를 위한 스터브 최소화 |
US8629545B2 (en) | 2011-10-03 | 2014-01-14 | Invensas Corporation | Stub minimization for assemblies without wirebonds to package substrate |
EP2769409A1 (en) | 2011-10-03 | 2014-08-27 | Invensas Corporation | Stub minimization for multi-die wirebond assemblies with orthogonal windows |
US8704384B2 (en) | 2012-02-17 | 2014-04-22 | Xilinx, Inc. | Stacked die assembly |
US8704364B2 (en) * | 2012-02-08 | 2014-04-22 | Xilinx, Inc. | Reducing stress in multi-die integrated circuit structures |
US8957512B2 (en) | 2012-06-19 | 2015-02-17 | Xilinx, Inc. | Oversized interposer |
US8869088B1 (en) | 2012-06-27 | 2014-10-21 | Xilinx, Inc. | Oversized interposer formed from a multi-pattern region mask |
US9026872B2 (en) | 2012-08-16 | 2015-05-05 | Xilinx, Inc. | Flexible sized die for use in multi-die integrated circuit |
US9368477B2 (en) | 2012-08-27 | 2016-06-14 | Invensas Corporation | Co-support circuit panel and microelectronic packages |
US8848391B2 (en) | 2012-08-27 | 2014-09-30 | Invensas Corporation | Co-support component and microelectronic assembly |
US8848392B2 (en) | 2012-08-27 | 2014-09-30 | Invensas Corporation | Co-support module and microelectronic assembly |
US8946901B2 (en) | 2013-01-22 | 2015-02-03 | Invensas Corporation | Microelectronic package and method of manufacture thereof |
US8907500B2 (en) | 2013-02-04 | 2014-12-09 | Invensas Corporation | Multi-die wirebond packages with elongated windows |
US9070423B2 (en) | 2013-06-11 | 2015-06-30 | Invensas Corporation | Single package dual channel memory with co-support |
US9547034B2 (en) | 2013-07-03 | 2017-01-17 | Xilinx, Inc. | Monolithic integrated circuit die having modular die regions stitched together |
JP2015216263A (ja) * | 2014-05-12 | 2015-12-03 | マイクロン テクノロジー, インク. | 半導体装置 |
US9915869B1 (en) | 2014-07-01 | 2018-03-13 | Xilinx, Inc. | Single mask set used for interposer fabrication of multiple products |
US9281296B2 (en) | 2014-07-31 | 2016-03-08 | Invensas Corporation | Die stacking techniques in BGA memory package for small footprint CPU and memory motherboard design |
US9691437B2 (en) | 2014-09-25 | 2017-06-27 | Invensas Corporation | Compact microelectronic assembly having reduced spacing between controller and memory packages |
JP2016071269A (ja) * | 2014-09-30 | 2016-05-09 | 株式会社東芝 | 電子機器、及びシステム |
US9484080B1 (en) | 2015-11-09 | 2016-11-01 | Invensas Corporation | High-bandwidth memory application with controlled impedance loading |
KR102517779B1 (ko) * | 2016-02-18 | 2023-04-03 | 삼성전자주식회사 | 리드 프레임 및 이를 포함하는 반도체 패키지, 반도체 패키지의 제조 방법 |
US9679613B1 (en) | 2016-05-06 | 2017-06-13 | Invensas Corporation | TFD I/O partition for high-speed, high-density applications |
KR102647423B1 (ko) * | 2019-03-04 | 2024-03-14 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 와이어 본딩 연결 구조를 가지는 반도체 패키지 및 이를 포함하는 반도체 패키지 구조물 |
US11532595B2 (en) * | 2021-03-02 | 2022-12-20 | Micron Technology, Inc. | Stacked semiconductor dies for semiconductor device assemblies |
Family Cites Families (86)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02174255A (ja) | 1988-12-27 | 1990-07-05 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
US5679977A (en) | 1990-09-24 | 1997-10-21 | Tessera, Inc. | Semiconductor chip assemblies, methods of making same and components for same |
US5148265A (en) | 1990-09-24 | 1992-09-15 | Ist Associates, Inc. | Semiconductor chip assemblies with fan-in leads |
US5369552A (en) * | 1992-07-14 | 1994-11-29 | Ncr Corporation | Multi-chip module with multiple compartments |
JP3487524B2 (ja) * | 1994-12-20 | 2004-01-19 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置及びその製造方法 |
US5998864A (en) * | 1995-05-26 | 1999-12-07 | Formfactor, Inc. | Stacking semiconductor devices, particularly memory chips |
US5861666A (en) | 1995-08-30 | 1999-01-19 | Tessera, Inc. | Stacked chip assembly |
US5892660A (en) | 1996-08-29 | 1999-04-06 | Micron Technology, Inc. | Single in line memory module adapter |
US6742098B1 (en) | 2000-10-03 | 2004-05-25 | Intel Corporation | Dual-port buffer-to-memory interface |
US5977640A (en) | 1998-06-26 | 1999-11-02 | International Business Machines Corporation | Highly integrated chip-on-chip packaging |
US7525813B2 (en) | 1998-07-06 | 2009-04-28 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor device |
US6201695B1 (en) | 1998-10-26 | 2001-03-13 | Micron Technology, Inc. | Heat sink for chip stacking applications |
US6815251B1 (en) | 1999-02-01 | 2004-11-09 | Micron Technology, Inc. | High density modularity for IC's |
JP2000243875A (ja) * | 1999-02-23 | 2000-09-08 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 半導体装置 |
SE519108C2 (sv) | 1999-05-06 | 2003-01-14 | Sandvik Ab | Belagt skärverktyg för bearbetning av grått gjutjärn |
KR100393095B1 (ko) | 1999-06-12 | 2003-07-31 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지와 그 제조방법 |
US6199743B1 (en) | 1999-08-19 | 2001-03-13 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses for forming wire bonds from circuitry on a substrate to a semiconductor chip, and methods of forming semiconductor chip assemblies |
JP2001085609A (ja) * | 1999-09-17 | 2001-03-30 | Hitachi Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
US6414396B1 (en) | 2000-01-24 | 2002-07-02 | Amkor Technology, Inc. | Package for stacked integrated circuits |
JP3768761B2 (ja) | 2000-01-31 | 2006-04-19 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2001223324A (ja) | 2000-02-10 | 2001-08-17 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
JP2002076252A (ja) | 2000-08-31 | 2002-03-15 | Nec Kyushu Ltd | 半導体装置 |
SG95637A1 (en) | 2001-03-15 | 2003-04-23 | Micron Technology Inc | Semiconductor/printed circuit board assembly, and computer system |
SG106054A1 (en) | 2001-04-17 | 2004-09-30 | Micron Technology Inc | Method and apparatus for package reduction in stacked chip and board assemblies |
US6385049B1 (en) | 2001-07-05 | 2002-05-07 | Walsin Advanced Electronics Ltd | Multi-board BGA package |
SG118103A1 (en) | 2001-12-12 | 2006-01-27 | Micron Technology Inc | BOC BGA package for die with I-shaped bond pad layout |
KR100480909B1 (ko) | 2001-12-29 | 2005-04-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 적층 칩 패키지의 제조 방법 |
TW523890B (en) | 2002-02-07 | 2003-03-11 | Macronix Int Co Ltd | Stacked semiconductor packaging device |
DE10215654A1 (de) | 2002-04-09 | 2003-11-06 | Infineon Technologies Ag | Elektronisches Bauteil mit mindestens einem Halbleiterchip und Flip-Chip-Kontakten sowie Verfahren zu seiner Herstellung |
JP2004063767A (ja) | 2002-07-29 | 2004-02-26 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
US6762942B1 (en) | 2002-09-05 | 2004-07-13 | Gary W. Smith | Break away, high speed, folded, jumperless electronic assembly |
TW557556B (en) | 2002-09-10 | 2003-10-11 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | Window-type multi-chip semiconductor package |
US7495326B2 (en) | 2002-10-22 | 2009-02-24 | Unitive International Limited | Stacked electronic structures including offset substrates |
TW200419752A (en) * | 2003-03-18 | 2004-10-01 | United Test Ct Inc | Semiconductor package with heat sink |
SG148877A1 (en) | 2003-07-22 | 2009-01-29 | Micron Technology Inc | Semiconductor substrates including input/output redistribution using wire bonds and anisotropically conductive film, methods of fabrication and assemblies including same |
US7462936B2 (en) | 2003-10-06 | 2008-12-09 | Tessera, Inc. | Formation of circuitry with modification of feature height |
US7061121B2 (en) * | 2003-11-12 | 2006-06-13 | Tessera, Inc. | Stacked microelectronic assemblies with central contacts |
US7095104B2 (en) | 2003-11-21 | 2006-08-22 | International Business Machines Corporation | Overlap stacking of center bus bonded memory chips for double density and method of manufacturing the same |
DE10360708B4 (de) | 2003-12-19 | 2008-04-10 | Infineon Technologies Ag | Halbleitermodul mit einem Halbleiterstapel, Umverdrahtungsplatte, und Verfahren zur Herstellung derselben |
US20050173807A1 (en) | 2004-02-05 | 2005-08-11 | Jianbai Zhu | High density vertically stacked semiconductor device |
JP4370513B2 (ja) * | 2004-02-27 | 2009-11-25 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体装置 |
JP2005251957A (ja) | 2004-03-04 | 2005-09-15 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
US7078808B2 (en) | 2004-05-20 | 2006-07-18 | Texas Instruments Incorporated | Double density method for wirebond interconnect |
KR20050119414A (ko) | 2004-06-16 | 2005-12-21 | 삼성전자주식회사 | 에지 패드형 반도체 칩의 스택 패키지 및 그 제조방법 |
KR20060004298A (ko) | 2004-07-09 | 2006-01-12 | 삼성테크윈 주식회사 | 무선 전자 라벨 |
US7381593B2 (en) | 2004-08-05 | 2008-06-03 | St Assembly Test Services Ltd. | Method and apparatus for stacked die packaging |
US7217994B2 (en) | 2004-12-01 | 2007-05-15 | Kyocera Wireless Corp. | Stack package for high density integrated circuits |
TWI256092B (en) * | 2004-12-02 | 2006-06-01 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | Semiconductor package and fabrication method thereof |
JP2006172122A (ja) | 2004-12-15 | 2006-06-29 | Toshiba Corp | カード状記憶装置 |
JP4086068B2 (ja) * | 2004-12-27 | 2008-05-14 | 日本電気株式会社 | 半導体装置 |
US7205656B2 (en) | 2005-02-22 | 2007-04-17 | Micron Technology, Inc. | Stacked device package for peripheral and center device pad layout device |
US7250675B2 (en) | 2005-05-05 | 2007-07-31 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for forming stacked die and substrate structures for increased packing density |
KR101070913B1 (ko) | 2005-05-19 | 2011-10-06 | 삼성테크윈 주식회사 | 반도체 칩 적층 패키지 |
US7402911B2 (en) | 2005-06-28 | 2008-07-22 | Infineon Technologies Ag | Multi-chip device and method for producing a multi-chip device |
SG130066A1 (en) | 2005-08-26 | 2007-03-20 | Micron Technology Inc | Microelectronic device packages, stacked microelectronic device packages, and methods for manufacturing microelectronic devices |
JP2007134426A (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-31 | Renesas Technology Corp | マルチチップモジュール |
US20070152310A1 (en) | 2005-12-29 | 2007-07-05 | Tessera, Inc. | Electrical ground method for ball stack package |
KR100673965B1 (ko) | 2006-01-11 | 2007-01-24 | 삼성테크윈 주식회사 | 인쇄회로기판 및 반도체 패키지 제조방법 |
KR100690247B1 (ko) | 2006-01-16 | 2007-03-12 | 삼성전자주식회사 | 이중 봉합된 반도체 패키지 및 그의 제조 방법 |
KR20070088177A (ko) | 2006-02-24 | 2007-08-29 | 삼성테크윈 주식회사 | 반도체 패키지 및 그 제조 방법 |
US7368319B2 (en) | 2006-03-17 | 2008-05-06 | Stats Chippac Ltd. | Stacked integrated circuit package-in-package system |
SG136822A1 (en) | 2006-04-19 | 2007-11-29 | Micron Technology Inc | Integrated circuit devices with stacked package interposers |
JP5026736B2 (ja) | 2006-05-15 | 2012-09-19 | パナソニックヘルスケア株式会社 | 冷凍装置 |
TWI306658B (en) | 2006-08-07 | 2009-02-21 | Chipmos Technologies Inc | Leadframe on offset stacked chips package |
US7638868B2 (en) * | 2006-08-16 | 2009-12-29 | Tessera, Inc. | Microelectronic package |
KR100825784B1 (ko) | 2006-10-18 | 2008-04-28 | 삼성전자주식회사 | 휨 및 와이어 단선을 억제하는 반도체 패키지 및 그제조방법 |
US7772683B2 (en) | 2006-12-09 | 2010-08-10 | Stats Chippac Ltd. | Stacked integrated circuit package-in-package system |
JP2008198841A (ja) | 2007-02-14 | 2008-08-28 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
US7872356B2 (en) | 2007-05-16 | 2011-01-18 | Qualcomm Incorporated | Die stacking system and method |
US20090051043A1 (en) | 2007-08-21 | 2009-02-26 | Spansion Llc | Die stacking in multi-die stacks using die support mechanisms |
US7872340B2 (en) | 2007-08-31 | 2011-01-18 | Stats Chippac Ltd. | Integrated circuit package system employing an offset stacked configuration |
US8138610B2 (en) | 2008-02-08 | 2012-03-20 | Qimonda Ag | Multi-chip package with interconnected stacked chips |
JP5207868B2 (ja) | 2008-02-08 | 2013-06-12 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
US8253231B2 (en) | 2008-09-23 | 2012-08-28 | Marvell International Ltd. | Stacked integrated circuit package using a window substrate |
KR101479461B1 (ko) | 2008-10-14 | 2015-01-06 | 삼성전자주식회사 | 적층 패키지 및 이의 제조 방법 |
JP5056718B2 (ja) | 2008-10-16 | 2012-10-24 | 株式会社デンソー | 電子装置の製造方法 |
US20100193930A1 (en) | 2009-02-02 | 2010-08-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multi-chip semiconductor devices having conductive vias and methods of forming the same |
US8026589B1 (en) | 2009-02-23 | 2011-09-27 | Amkor Technology, Inc. | Reduced profile stackable semiconductor package |
JP5671681B2 (ja) * | 2009-03-05 | 2015-02-18 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. | 積層型半導体装置 |
TWI401785B (zh) | 2009-03-27 | 2013-07-11 | Chipmos Technologies Inc | 多晶片堆疊封裝 |
KR101601847B1 (ko) | 2009-05-21 | 2016-03-09 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지 |
TWM370767U (en) | 2009-06-19 | 2009-12-11 | fu-zhi Huang | Modulized computer |
US20100327419A1 (en) | 2009-06-26 | 2010-12-30 | Sriram Muthukumar | Stacked-chip packages in package-on-package apparatus, methods of assembling same, and systems containing same |
TWI474331B (zh) * | 2009-06-30 | 2015-02-21 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
US10128206B2 (en) | 2010-10-14 | 2018-11-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Conductive pillar structure |
KR101118711B1 (ko) * | 2010-12-17 | 2012-03-12 | 테세라, 인코포레이티드 | 중앙 콘택을 구비한 적층형 마이크로전자 조립체 |
-
2011
- 2011-11-29 US US13/306,300 patent/US8338963B2/en active Active
-
2012
- 2012-04-19 WO PCT/US2012/034196 patent/WO2012145477A1/en unknown
- 2012-04-19 JP JP2014506538A patent/JP6033843B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-04-19 EP EP12717551.1A patent/EP2700098A1/en not_active Withdrawn
- 2012-04-19 KR KR1020137030770A patent/KR20140028014A/ko not_active Withdrawn
- 2012-04-19 CN CN201280030798.3A patent/CN103620773B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2012-04-20 TW TW101114250A patent/TWI479638B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2012145477A1 (en) | 2012-10-26 |
TWI479638B (zh) | 2015-04-01 |
US20120267798A1 (en) | 2012-10-25 |
TW201248829A (en) | 2012-12-01 |
CN103620773A (zh) | 2014-03-05 |
EP2700098A1 (en) | 2014-02-26 |
CN103620773B (zh) | 2016-08-17 |
US8338963B2 (en) | 2012-12-25 |
JP2014512694A (ja) | 2014-05-22 |
KR20140028014A (ko) | 2014-03-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6033843B2 (ja) | 2つ以上のダイのためのマルチダイフェイスダウン積層 | |
US9437579B2 (en) | Multiple die face-down stacking for two or more die | |
US9640515B2 (en) | Multiple die stacking for two or more die | |
US9281295B2 (en) | Embedded heat spreader for package with multiple microelectronic elements and face-down connection | |
US10622289B2 (en) | Stacked chip-on-board module with edge connector | |
US7888185B2 (en) | Semiconductor device assemblies and systems including at least one conductive pathway extending around a side of at least one semiconductor device | |
JP4790157B2 (ja) | 半導体装置 | |
CN109671681B (zh) | 半导体封装件 | |
US6836021B2 (en) | Semiconductor device | |
US9271388B2 (en) | Interposer and package on package structure | |
JP2009506571A (ja) | インターポーザー基板に接続するための中間コンタクトを有するマイクロ電子デバイスおよびそれに関連する中間コンタクトを備えたマイクロ電子デバイスをパッケージする方法 | |
KR20020062820A (ko) | 적층된 다수개의 칩모듈 구조를 가진 반도체장치 | |
KR20050064144A (ko) | 수직 실장된 반도체 칩 패키지를 갖는 반도체 모듈 | |
KR20080073739A (ko) | 적층형 마이크로전자 패키지 | |
JP4047819B2 (ja) | Bgaハンダ・ボールによる相互接続部およびその作製方法 | |
JP4503611B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP2015523742A (ja) | 2以上のダイにおける複数ダイ・フェースダウン・スタッキング | |
JP2004253518A (ja) | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 | |
CN119447080A (zh) | 半导体装置 | |
KR20090074493A (ko) | 스택 패키지 | |
TW201428933A (zh) | 適用於二個或多個晶粒之多晶粒面朝下堆疊 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150417 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150417 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160215 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160219 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160510 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160927 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161026 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6033843 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |