JP5558735B2 - 光断層撮像装置及びその制御方法 - Google Patents
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Description
特に、フーリエドメイン方式のOCTは、深さ方向に関して一括スキャンが可能な構成を備えている。
以下において、このような光コヒーレンストモグラフィによる光断層画像撮像装置を、OCT装置と記す。
このような従来におけるシングルビームによる眼科用OCT装置の測定においては、上記黄斑部と視神経乳頭の両者が含まれるように、広い画角で測定することが望まれている。これらの測定においては、広い画角で測定しておき、後から黄斑部と視神経乳頭の画像情報を取得する操作が行われている。
また、特許文献1では、複数の光源、複数の光源に共通した物体光結像光学系を持ち、共通の参照光結像光源系と光源に対応した位置に離散配置された複数の光センサを有するOCT装置が開示されている。
ここでは、同時に多数点でデータを取得し、リファレンス光をずらすことで多点データを取得し、高速データの取得を可能にしている。
このように広い画角で測定すると測定に時間がかかり、固視微動に代表される眼球運動による画像の位置ずれや欠落が生じる。
また、上記特許文献1では複数の光源によるOCT装置を用い、同時に多数点でデータを取得することで、高速データの取得を可能にしているが、断層像の取得に際して光学系の特性を撮像部位に適合するように設定すること等について考慮されていない。
特に、被検査物が眼球等である場合、眼底の黄斑部と視神経乳頭との断層像の撮像の取得に際し、光学系の特性をこれらの部位に適合するように設定すること等については、全く考慮されていない。
本発明の光断層撮像装置は、
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、該複数の測定光におけるそれぞれの測定光に対応する複数の参照光とにおいて、互いに対応する戻り光と参照光とを合波した複数の光を用いて、該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記複数の測定光を走査する走査手段と、
前記走査手段により走査された前記複数の測定光を、前記被検査物の深さ方向に対して交差する方向における異なる照射領域に照射する照射手段と、
前記被検査物の深さ方向における断層画像を取得可能な範囲が、前記複数の光のうち少なくとも一つが他に対して、異なる深さ範囲になるように、前記複数の光におけるそれぞれの光を異なる深さ範囲で検出する検出手段と、
を備えることを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像装置は、
複数の測定光を照射した眼球からの複数の戻り光と、該複数の測定光におけるそれぞれの測定光に対応する複数の参照光とにおいて、互いに対応する戻り光と参照光とを合波した複数の光を用いて、該眼球の眼底部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記複数の測定光を走査する走査手段と、
前記走査手段により走査された前記複数の測定光を、前記眼底部の深さ方向に対して交差する方向における異なる照射領域に照射する照射手段と、
前記眼底部の黄斑部の断層画像を取得可能な範囲は、前記眼底部の視神経乳頭の断層画像を取得可能な範囲よりも小さくなるように、前記複数の光におけるそれぞれの光を検出する検出手段と、
を備えることを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像装置は、
複数の測定光を照射した眼球からの複数の戻り光と、該複数の測定光におけるそれぞれの測定光に対応する複数の参照光とにおいて、互いに対応する戻り光と参照光とを合波した複数の光を用いて、該眼球の眼底部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記複数の測定光を走査する走査手段と、
前記走査手段により走査された前記複数の測定光を、前記眼底部の深さ方向に対して交差する方向における異なる照射領域に照射する照射手段と、
前記眼底部の深さ方向における断層画像を取得可能な範囲が、前記複数の光のうち少なくとも一つが他に対して、異なるように、前記複数の光におけるそれぞれの光を検出する検出手段と、
前記検出された複数の光のうち第1の光に基づいて前記眼底部の黄斑部の断層画像を取得し、前記検出された複数の光のうち第2の光に基づいて前記眼底部の視神経乳頭の断層画像を取得する取得手段と、
を備えることを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像装置の制御方法は、
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、該複数の測定光におけるそれぞれの測定光に対応する複数の参照光とにおいて、互いに対応する戻り光と参照光とを合波した複数の光を用いて、該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記複数の測定光を走査する走査手段により走査された前記複数の測定光を、前記被検査物の深さ方向に対して交差する方向における異なる照射領域に照射する工程と、
前記被検査物の深さ方向における断層画像を取得可能な範囲が、前記複数の光のうち少なくとも一つが他に対して、異なる深さ範囲になるように、前記複数の光におけるそれぞれの光を異なる深さ範囲で検出する工程と、
を含むことを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像装置の制御方法は、
複数の測定光を照射した眼球からの複数の戻り光と、該複数の測定光におけるそれぞれの測定光に対応する複数の参照光とにおいて、互いに対応する戻り光と参照光とを合波した複数の光を用いて、該眼球の眼底部の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記複数の測定光を走査する走査手段により走査された前記複数の測定光を、前記眼底部の深さ方向に対して交差する方向における異なる照射領域に照射する工程と、
前記眼底部の黄斑部の断層画像を取得可能な範囲は、前記眼底部の視神経乳頭の断層画像を取得可能な範囲よりも小さくなるように、前記複数の光におけるそれぞれの光を検出する工程と、
を含むことを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像装置の制御方法は、
複数の測定光を照射した眼球からの複数の戻り光と、該複数の測定光におけるそれぞれの測定光に対応する複数の参照光とにおいて、互いに対応する戻り光と参照光とを合波した複数の光を用いて、該眼球の眼底部の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記複数の測定光を走査する走査手段により走査された前記複数の測定光を、前記眼底部の深さ方向に対して交差する方向における異なる照射領域に照射する工程と、前記眼底部の深さ方向における断層画像を取得可能な範囲が、前記複数の光のうち少なくとも一つが他に対して、異なるように、前記複数の光におけるそれぞれの光を検出する工程と、
前記検出された複数の光のうち第1の光に基づいて前記眼底部の黄斑部の断層画像を取得し、前記検出された複数の光のうち第2の光に基づいて前記眼底部の視神経乳頭の断層画像を取得する工程と、
を含むことを特徴とする。
[実施例1]
実施例1では、本発明を適用した光断層画像撮像装置(OCT装置)について、図1を用いて説明する。
本実施例のOCT装置100は、図1に示されるように、全体としてマイケルソン干渉系を構成している。
すなわち、光源から出射された光を、測定光と参照光とに分割する。
そして、測定光は複数の測定光路を有し、複数の測定光による戻り光と参照光路を経由した参照光とを合波して光干渉させた複数の合波光を用い、被検査物の断層画像を撮像するOCTシステムを備えた構成を備えている。
具体的には、図中、光源101から出射した光である出射光104はシングルモードファイバ110に導かれて光カプラー156に入射し、該光カプラー156にて第1の光路と第2の光路の2つの光路からなる出射光104−1〜2に分割される。
さらに、この2つの光路からなる出射光104−1〜2のそれぞれは、偏光コントローラ153−1を通過し、光カプラー131−1〜2にて参照光105−1〜2と測定光106−1〜2とに、50:50の強度比で分割する。
参照光105−1〜2と戻り光108−1〜2とは合波された後、透過型回折格子141−1〜2によって波長毎に分光され、センサーとして機能するラインカメラ139−1〜2に入射される。
ラインカメラ139−1〜2は各位置(波長)毎に光強度を電圧に変換し、その信号を用いて、被検眼107の断層像が構成される。
ただし、複数の光路に分岐する手段はこれに限定されず、光カプラー131−1と131−2の被検査物側、参照ミラー側に光カプラー156を配置してそれぞれ2つの測定光と2つの参照光に分岐してもよく、また参照ミラー側には光カプラー156を配置せずに参照光は1つの光路のみで構成されてもよい。
さらに、ここではラインカメラが複数ある場合について記載したが、1つで構成されていてもよい。
光源101は代表的な低コヒーレント光源であるSLD(Super Luminescent Diode)である。波長は830nm、バンド幅50nmである。
ここで、バンド幅は、得られる断層像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメーターである。
また、光源の種類は、ここではSLDを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ASE(Amplified Spontaneous Emission)等も用いることができる。
また、波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。さらに波長は、得られる断層像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましく、ここでは830nmとする。観察対象の測定部位によっては、他の波長を選んでも良い。
光カプラー131−1〜2によって分割された2つの光路による参照光105−1〜2は、偏光コントローラ153−2、ファイバ長可変装置155−1〜2を通過し、レンズ135−1にて、直径1mmの略平行光となって、出射される。次に、参照光105−1〜2は分散補償用ガラス115を通過し、レンズ135−2にて、ミラー114−1〜2に集光される。
次に、参照光105−1〜2はミラー114−1〜2にて方向を変え、再び光カプラー131−1〜2に向かう。
次に、参照光105−1〜2は光カプラー131−1〜2を通過し、ラインカメラ139−1〜2に導かれる。
ここで、分散補償用ガラス115は被検眼107を測定光106が往復した時の分散を、参照光105に対して補償するものである。
ここでは、日本人の平均的な眼球の直径として代表的な値を想定し、L=23mmとする。
さらに、117−1〜2は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、参照光105の光路長を、調整・制御することができる。
また、電動ステージ117−1〜2はパソコン125により高速に制御することができる。
参照光105−1と105−2にそれぞれ光路長を変化できるように、レンズ135−2およびミラー114は異なる電動ステージ117−1〜2により位置が制御される。
また、ファイバ長可変装置155−1〜2は各ファイバの長さの微調整を行う目的で設置され、測定光106−1〜2のそれぞれの測定部位に応じて、参照光105−1〜2の光路長を調整することができ、パソコン125から制御することができる。
光カプラー131−1〜2によって分割された測定光106−1〜2は、偏光コントローラ153−4を通過し、レンズ120−3にて、直径1mmの略平行光となって出射され、走査手段を構成するXYスキャナ119のミラーに入射される。
ここでは、簡単のため、XYスキャナ119は一つのミラーとして記したが、実際にはXスキャン用ミラーとYスキャン用ミラーとの2枚のミラーが近接して配置され、網膜127上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。また、測定光106−1〜2のそれぞれの中心はXYスキャナ119のミラーの回転中心と一致するようにレンズ120−1、3等が調整されている。
レンズ120−1、120−2は測定光106−1〜2が網膜127を走査するための光学系であり、測定光106を角膜126の付近を支点として、網膜127をスキャンする役割がある。
測定光106−1〜2はそれぞれ所望の異なる照射領域である眼底の黄斑部、視神経乳頭に結像するように構成されている。
両者は角度にしてΔω=約20°の角度差があるため、約20°の角度がつくようにファイバ端118−1〜2およびレンズ120−1〜3を構成しておく。
Δωは個体差があるため、レンズ120−1〜3およびファイバ端118−1〜2は調整することが可能となっている。
具体的には、レンズ120−1および120−3が複数のレンズで構成される。これらの複数のレンズのうち、いずれかが光軸方向に移動することで倍率を変更するようにする。あるいは、ファイバ端118−1〜2と角膜126の間に不図示の上記同様の複数のレンズで構成され、光軸方向にレンズが移動することで倍率を変更する倍率変更機構を設けるようにしてもよい。
また、ファイバ端118の位置を光軸に垂直な面内で移動できるような物点位置変更手段を設けてもよい。
以上のように、第1の光路と第2の光路による測定光の照射位置を調整する調整機構を設けることで、測定光106−1〜2をそれぞれ眼底部における黄斑部、視神経乳頭に結像するように構成されている。
また、117−3は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、付随するレンズ120−2の位置を、調整・制御することができる。レンズ120−2の位置を調整することで、被検眼107の網膜127の所望の層に測定光106を集光し、観察することが可能になる。
また、被検眼107が屈折異常を有している場合にも対応できる。測定光106−1〜2は被検眼107に入射すると、網膜127からの反射や散乱により戻り光108−1〜2となり、光カプラー131−1〜2を通過し、ラインカメラ139に導かれる。
ここで、電動ステージ117−3はパソコン125により、倍率変更機構と比較して高速に制御することができる。
調整機構の調整もまた同様である。
以上の構成を採ることにより、黄斑部と視神経乳頭を同時にスキャンすることが可能となり、またスキャン範囲を黄斑部と視神経乳頭に限定するため、測定時間を大幅に短縮しながら、診断に必要な画像を取得することができる。
網膜127にて反射や散乱された第1の光路と第2の光路による戻り光108−1〜2と参照光105−1〜2とは光カプラー131−1〜2により合波される。
そして、合波された光142はファイバ端から射出され、レンズ135−3によって略平行な光にされる。
この略平行光は、第1検出手段と第2検出手段を構成する透過型回折格子141−1〜2(第1分光手段と第2分光手段)に照射され、波長毎に分光される。
分光された光は結像レンズ143−1〜2で集光され、ラインカメラ139−1〜2(第1と第2ラインカメラ)にて光の強度が各位置(波長)毎に電圧に変換される。
ラインカメラ139−1〜2上には波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。
OCT装置の一般的な特性として、分光幅を大きくするとOCTの解像度が上がり、分光における波長分解能を上げると深さ方向の測定可能幅が広くなることが知られている。
それらは次の(数式1)、(数式2)で表すことができる。
R=1/(2ΔK) (数式1)
D=N/(2ΔK) (数式2)
ここで、RはOCTの解像度、ΔKはラインカメラで取得する波数幅、DはOCTにおける深さ方向の測定可能幅、Nは撮像に使用するラインカメラの画素数である。
但し、分光幅とは、ラインカメラのN画素に入射する光の波長の範囲であり、最大波長λmaxと最小波長λminの差λmax−λminである。
波数幅ΔKは、ΔK=1/λmin−1/λmaxで表される。
また、OCTの解像度は、一般的にコヒーレンス長の半分と定義される。
これからΔKが大きくなるとRは小さくなり(OCTの解像度が上がり)、Nを一定とするとΔKを小さくするほど(分光における波長分解能を上げるほど)Dが大きくなる(深さ方向の測定可能幅が広くなる)。
ここで言う波長分解能とは、分光幅を撮像に使用するラインカメラの画素数で割った、1画素あたりに取得する波長幅のことである。
但し、レンズの光学的収差により、実際の波長分解能はここでの定義によれば、波長分解能よりも大きくなるのが一般的である。
図1のように、複数の測定光で測定する場合においては、各測定光の測定スピードは同一であることが望ましく、そのためには撮像に使用するラインカメラの画素数Nを同一にしておくことが必要である。
このような場合、各光路における各合成光において異なるΔKを設定することで、以下の2つの測定を行うことができる。
測定1.ΔK大:狭い奥行き範囲を高解像度で測定
測定2.ΔK小:広い奥行き範囲を比較的低解像度で測定
この2つの測定を上述の黄斑部、視神経乳頭での測定に用いることで、それらの特性に合った測定を行うことができるため、効率良く測定することができる。
図2(a)に図1の光軸方向から見た図、図2(b)にその断面図を示す。
黄斑部と比較すると、視神経乳頭は内境界膜が奥深くまで落ち込んでおり、OCTで測定する際には広い範囲を測定しなければならない。
そのため、上記した一方の測定1を奥行きが狭い黄斑部に適用し、他方の測定2を奥行きが深い視神経乳頭に適用することで、光学系の特性を部位に合ったものにすることができる。
異なるΔKを設定して、測定1と2を行う手段について以下で述べる。
fを結像レンズ143−1〜2の焦点距離とし、Δθを光源101の波長幅を透過型回折格子141−1〜2によって回折される分光角の幅、Δyをラインカメラ139−1〜2における像の分光幅としたときに、次の(数式3)が成り立つ。
Δy=ftan(Δθ) (数式3)
分光角とは、ある単波長の光が回折格子に入射し回折される角度のことである。
Δθは光源の波長幅と回折格子のピッチによって決定される。ピッチとは、回折格子に周期的に刻まれているパターンの幅に関係する量であり、1mmあたり何本のパターンが刻まれているか(本/mm)で表される。
ここで、回折格子への入射角をα、回折角をβ、ピッチをpN、波長をλとすると、次の(数式4)で表される。
sinα+sinβ=pλ (数式4)
α=βのときに回折効率が最大となるような回折格子を用いると、Δθと光源の波長幅、回折格子のピッチの関係は、次の(数式5)式で表される。
α=β=sin-1(pλ/2) (数式5)
p=1200本/mm、λ=840nmとすると、α=β=30.26°となる。
このとき、λ=865nmの回折角βは32.27°、λ=815nmの回折角βは28.29°となる。ゆえに、Δθ=32.27−28.29=3.98°となる。
矢印でラインカメラ上での分光幅を示し、色づけしてある部分がラインカメラである。
また、図3(a)と図3(b)はそれぞれ焦点距離を短く設定した場合と長く設定した場合である。
図3(a)の結像レンズの焦点距離はf1であり、図3(b)の結像レンズの焦点距離はf2である。但し、f1<f2である。
焦点距離が異なることで、ΔyはそれぞれΔy1、Δy2とΔyの幅を変えることにより、ラインカメラに取り込まれる波長幅が変わり、数式1〜2におけるΔKを変えることができる。
例えば、f1を147mmとし、f2を200mmとすると、Δθが3.98°から、数
式3に代入すると、Δy1=10.24mm、Δy2=13.9mmとなる。
ラインカメラの画素ピッチを10μm、撮像に使用するラインカメラの画素数Nを1024画素とすると、ラインカメラで取得できるΔyの長さは10.24mmとなる。
すなわち、f1=147mmの焦点距離の場合は840±25nmの分光幅を得ることができるが、f2=200mmの焦点距離の場合は840±18.4nmの分光幅を得ることしかできない。すなわち、
f1=147mm:ΔK1=7.09×10−2[1/μm]
R1=7.05μm、D1=7.22mm
f2=200mm:ΔK2=5.22×10−2[1/μm]
R2=9.58μm、D2=9.81mm
となる。
また、結像レンズ143−1〜2の焦点距離を長くした場合には、ΔKが小さくなるので視神経乳頭の測定を行うことにより、光学系の特性を部位に合ったものにすることができる。
このように、本実施例の構成によれば、複数の測定光からなる光を用いて被検査物における異なる部位に照射し、断層像の取得に際して光学系の特性をこれらの部位に適合するように設定することにより、効率の良い撮像が可能となる。
特に、被検査物が眼球等である場合、眼底部の黄斑部と視神経乳頭との断層像の撮像の取得に際し、光学系の特性をこれらの部位に適合するように設定することにより、効率のよい撮像を行うことが可能となる。
ここでは、結像レンズ143−1〜2の焦点距離を入れ換えることを行う。
その方法としては、結像レンズ143−1〜2をズームレンズとすることで焦点距離を変化させても良いし、143−1と143−2のレンズを入れ換えても良い。
これら焦点距離可変機構によって、被検眼を左右変えることを行う。その他、ファイバ端118−1〜2が入れ替わっても良い。
ラインカメラ139−1〜2で光の強度から電圧に変換された電圧信号群はフレームグラバー140にてデジタル値に変換されて、パソコン125にてデータ処理を行い、断層像を形成する。
ここでは、ラインカメラ139−1〜2は1024画素を有し、合波された光142−1〜2の波長毎の強度を得ることができる。
上記は測定スピードを同一にするために、黄斑部と視神経乳頭の両撮像ともに、撮像に使用する画素数Nを1024画素で撮像したが、両撮像で使用する画素数Nを変えても良い。
例えば、結像レンズ143−1〜2の焦点距離を同じf=147mmとすると、Δy=10.24mmとなる。
ラインカメラの画素ピッチを10μm、撮像に使用するラインカメラの画素数Nを片方はN1=1024画素、他方はN2=512画素とすると、ラインカメラで取得できるΔyの長さはそれぞれ10.24mm、5.12mmとなる。
すなわち、1024画素を撮像に用いる場合は840±25nmの分光幅を得ることができるが、512画素を撮像に用いる場合は840±12.5nmの分光幅を得ることしかできない。すなわち、
N1=1024画素:ΔK1=7.09×10−2[1/μm]
R1=7.05μm、D1=7.22mm
N2=512画素:ΔK2=7.09×10−2[1/μm]
R2=14.1μm、D2=7.22mm
となる。
この場合には、同じ深さ方向の測定可能幅であるが、OCTの解像度はN1=1024画素とした方が良くなる。他方、測定スピードはN1=1024画素とした方が遅くなる。したがってこの測定によると、解像度を良くしながら時間をかけて測定する部位と、解像度は悪いながらも速く測定する部位を分けることができ、光学系の特性をこれらの部位に適合するように設定することにより、効率のよい撮像を行うことが可能となる。
光の強度から電圧への変換や、データ処理は上述した通りである。
ここでは、図4を用いて網膜127の断層像(光軸に平行な面)の取得について説明する。
図4(a)は被検眼107がOCT装置100によって観察されている様子を示している。
図1に示した構成と同一または対応する構成には同一の符号が付されているから、重複する構成についての説明は省略する。
図4(a)に示すように、測定光106−1〜2は角膜126を通して、網膜127に入射すると様々な位置における反射や散乱により戻り光108−1〜2となり、それぞれの位置での時間遅延を伴って、ラインカメラ139−1〜2に到達する。
上述のように、ラインカメラ139−1〜2で取得されるのは波長軸上のスペクトル領域の干渉縞となる。
次に、波長軸上の情報である該干渉縞を、ラインカメラ139−1〜2と透過型回折格子141−1〜2との特性を考慮して、合波された光142−1〜2毎に、光周波数軸の干渉縞に変換する。
さらに、変換された光周波数軸の干渉縞を逆フーリエ変換することで、深さ方向の情報が得られる。
結果として、XZ面での戻り光108−1の強度の2次元分布が得られ、それはすなわち断層像132である(図4(c))。
本来は、断層像132は上記説明したように、該戻り光108の強度をアレイ状に並べたものであり、例えば該強度をグレースケールに当てはめて、表示されるものである。
ここでは得られた断層像の境界のみ強調して表示している。
ここでは、XYスキャナの主走査方向をX軸方向、副走査方法をY軸方向として、スキャンする場合を示し、結果として複数のYZ面の断層像を得ることができる。
実施例1では結像レンズ143−1〜2の焦点距離を変えて左右の眼の測定を行ったのに対して、実施例2では透過型回折格子141−1〜2の格子ピッチを変えた構成例について説明する。
ピッチとは、回折格子に周期的に刻まれているパターンの幅に関係する量であり、1mmあたり何本のパターンが刻まれているか(本/mm)で表される。
OCT装置100のレイアウトに関しては、実施例1と同じであるため省略する。
矢印でラインカメラ上での分光幅を示し、色づけしてある部分がラインカメラである。
また、図5(a)と図5(b)はそれぞれ透過型回折格子141−1〜2のピッチを広い場合と狭い場合である。
図5(a)の透過型回折格子のピッチはp1であり、その際の回折される分光角の幅はΔθ1、図5(a)の透過型回折格子のピッチはp2であり、その際の回折される分光角の幅はΔθ2である。但し、Δθ1<Δθ2である。
透過型回折格子141−1〜2のピッチが広い場合は、回折される分光角の幅Δθが小さくなり、逆にピッチが狭い場合は、Δθは大きくなる。
それにより、(数式3)で表されるΔyが前者は小さくなり、後者は大きくなる。
すなわち、実施例1で結像レンズの焦点距離を変えたのと同等の効果が得られる。
焦点距離f1を実施例1と同じく147mmとし、p1を1200本/mm、p2を1500本/mmとすると、実施例1と同様に数式3から数式5を用いることにより、p1=1200本/mmのピッチの場合は840±25nmの分光幅を得ることができる。
しかし、p2を1500本/mmの焦点距離の場合は840±18.0nmの分光幅を得ることしかできない。すなわち
p1=1200本/mm:ΔK1=7.09×10-2[1/μm]
R1=7.05μm、D1=7.22mm
p2=1500本/mm:ΔK2=5.10×10-2[1/μm]
R2=9.81μm、D2=10.0mm
ΔyはそれぞれΔy1、Δy2と、Δyの幅を変えることにより、ラインカメラに取り込まれる波長幅が変わり、数式1〜2におけるΔKを変えることができる。
図5の場合には、図5(a)はΔKが大きい場合、図5(b)はΔKが小さい場合を示す。
したがって、透過型回折格子141−1〜2の格子ピッチを広くした場合には、ΔKが大きくなるので黄斑部の測定に、
また、透過型回折格子141−1〜2の格子ピッチを狭くした場合には、ΔKが小さくなるので視神経乳頭の測定を行うことにより、光学系の特性を部位に合ったものにすることができ、効率の良い測定を行うことができる。
実施例1では左右の眼を変えるときに光学系もこれに応じて変えたのに対して、実施例3では予め変えるための光学系を用意しておく構成例について説明する。
すなわち、実施例3では、OCT装置に第1の光路と第2の光路の他に第3の光路を含む3つの光路光(第1〜第3の測定光)を導くための3つの光路を用意しておき、それぞれの光路は以下に示すように構成される。
光路1:視神経乳頭(左眼用)
光路2:黄斑部(左眼、右眼用)
光路3:視神経乳頭(右眼用)
図6は、本実施例での測定システムの構成を示す図である。図1の測定システムの構成と比較すると、光路が2つから3つに増えていることに対応して各構成が増えている点が異なる。
200はOCT装置である。光源部と参照光路は、図1の2つの光路が3つの光路となっている構成のみの変更であるので、重複する説明は省略する。
測定系も基本的には図1の測定システムの構成と比較すると、2つの測定光が3つの測定光となっている構成となっている。
光カプラー131−1〜3によって分割された測定光106−1〜3は、偏光コントローラ153−4を通過し、レンズ120−3にて、直径1mmの略平行光となって出射され、XYスキャナ119のミラーに入射される。
レンズ120−1、120−2は測定光106−1〜3が網膜127を走査するための光学系であり、測定光106を角膜126の付近を支点として、網膜127をスキャンする役割がある。
一方、右眼を測定する際には、測定光106−1は光を照射せず、測定光106−2が黄斑部に結像し、測定光106−3が視神経乳頭に結像するように構成されている。
測定光106−2は左眼も右眼も測定の際には使用するが、測定光106−1および測定光106−3は、左眼と右眼の測定の際に入れ換える。これらのスイッチングは、光源部のシャッター157−1、157−3で行う。
図7(a)に本実施例の構成を示す。左眼と右眼で黄斑部と視神経乳頭の位置が逆になるため、予め3つの測定光路を上述したように用意しておく。
左眼は、第一の光路と第二の光路でそれぞれ視神経乳頭と黄斑部を測定し、右眼は、第三の光路と第二の光路でそれぞれ視神経乳頭と黄斑部を測定する。
左眼測定時の第三の光路と、右眼測定時の第一の光路はそれぞれの測定の際には使用しない。
光路1:黄斑部(右眼用)
光路2:視神経乳頭(左眼、右眼用)
光路3:黄斑部(左眼用)
という構成をとる。
左眼測定時の第一の光路と、右眼測定時の第三の光路はそれぞれの測定の際には使用しない。このような構成でも測定を行うことができる。
黄斑部と視神経乳頭の角度差やスキャン範囲、調整手段については、実施例1と同様であるため省略する。
網膜127にて反射や散乱された光である戻り光108−1〜3と参照光105−1〜3とは光カプラー131−1〜3により合波される。
そして、合波された光142はファイバ端から射出され、レンズ135−3によって略平行な光にされる。
この略平行光は透過型回折格子141−1〜3に照射され、波長毎に分光される。
分光された光は結像レンズ143−1〜3で集光され、ラインカメラ139−1〜3にて光の強度が各位置(波長)毎に電圧に変換される。ラインカメラ139−1〜3上には波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。
ΔKの異なる分光器にそれぞれ入射させることで、測定光路の構成において述べた黄斑部と視神経乳頭の測定を行う。
実施例1と同様に、以下の測定1を黄斑部に適用し、測定2を視神経乳頭に適用する。
測定1.ΔK大:狭い奥行き範囲を高解像度で測定
測定2.ΔK小:広い奥行き範囲を比較的低解像度で測定
ΔKの変更方法としては、実施例1と同様に、結像レンズ141−1〜3の焦点距離をそれぞれ異なる焦点距離にすることで、ΔyはそれぞれΔy1、Δy2と、Δyを変えることで行う。
その他、実施例2と同様に、透過型回折格子141−1〜3のピッチを変更してもよい。具体的な装置構成例は、実施例1、2と同じであるため、ここでは省略する。
図8(a)、図8(b)、図8(c)はそれぞれ、視神経乳頭(左眼用)、黄斑部(左眼、右眼用)、視神経乳頭(右眼用)を測定するための分光手段であり、それぞれ光路142−1、142−2、142−3の光を分光する。
視神経乳頭の測定用に計2本の光路があり、その2本(142−1および142−3)の光路においては、結像レンズの焦点距離を長くする(もしくは透過型回折格子のピッチを狭くする)ことでΔyをΔy2と大きくし、ΔKを小さくする。
また、黄斑部の測定においては、光路142−2における結像レンズ1の焦点距離を短くする(もしくは透過型回折格子のピッチを広くする)ことでΔy1とΔyを小さくし、ΔKを大きくする。以上のように分光手段を構成することで、黄斑部と視神経乳頭の測定を行う。
以上の構成においては、左眼の測定は視神経乳頭測定用の光路142−1と黄斑部測定用の光路142−2で行い、右眼の測定は視神経乳頭測定用の光路142−3と黄斑部測定用の光路142−2で行う。
ラインカメラ139−1〜3で光の強度から電圧に変換された電圧信号群はフレームグラバー140にてデジタル値に変換されて、パソコン125にてデータ処理を行い、断層像を形成する。
ここでは、ラインカメラ139−1〜3は1024画素を有し、合波された光142−1〜3の波長毎の強度を得ることができる。
図7(b)に示したような構成とするときには、黄斑部の測定用に計2本の光路となる。その2本(142−1および142−3)の光路においては、結像レンズ141−1および141−3の焦点距離を短くする(もしくは透過型回折格子141−1および141−3のピッチを広くする)ことでΔyをΔy1と小さくし、ΔKを大きくする。
また、視神経乳頭の測定においては、光路142−2における結像レンズ141−2の焦点距離を長くする(もしくは透過型回折格子141−2のピッチを狭くする)ことでΔyをΔy2と大きくし、ΔKを小さくする。それにより測定を行うことができる。
断層像の取得については、実施例1と同様であるため省略する。
101:光源
104:出射光
105:参照光
106:測定光
107:被検眼
108:戻り光
118:ファイバ端
119:XYスキャナ
120、135:レンズ
125:パソコン
131、156:光カプラー
139:ラインカメラ
140:フレームグラバー
141:透過型回折格子
142:合波された光
143:結像レンズ
156:光カプラー
Claims (19)
- 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、該複数の測定光におけるそれぞれの測定光に対応する複数の参照光とにおいて、互いに対応する戻り光と参照光とを合波した複数の光を用いて、該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記複数の測定光を走査する走査手段と、
前記走査手段により走査された前記複数の測定光を、前記被検査物の深さ方向に対して交差する方向における異なる照射領域に照射する照射手段と、
前記被検査物の深さ方向における断層画像を取得可能な範囲が、前記複数の光のうち少なくとも一つが他に対して、異なる深さ範囲になるように、前記複数の光におけるそれぞれの光を異なる深さ範囲で検出する検出手段と、
を備えることを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記被検査物が眼球であり、
前記検出手段は、前記眼球における眼底部の黄斑部の断層画像を取得可能な範囲は、前記眼球における眼底部の視神経乳頭の断層画像を取得可能な範囲よりも小さくなるように構成されることを特徴とする請求項1に記載の光断層撮像装置。 - 複数の測定光を照射した眼球からの複数の戻り光と、該複数の測定光におけるそれぞれの測定光に対応する複数の参照光とにおいて、互いに対応する戻り光と参照光とを合波した複数の光を用いて、該眼球の眼底部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記複数の測定光を走査する走査手段と、
前記走査手段により走査された前記複数の測定光を、前記眼底部の深さ方向に対して交差する方向における異なる照射領域に照射する照射手段と、
前記眼底部の黄斑部の断層画像を取得可能な範囲は、前記眼底部の視神経乳頭の断層画像を取得可能な範囲よりも小さくなるように、前記複数の光におけるそれぞれの光を検出する検出手段と、
を備えることを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記検出手段は、
複数のセンサーから構成され、
前記複数のセンサーそれぞれで検出される前記複数の光の波長の範囲が、前記複数のセンサーのうち少なくとも一つが他に対して、異なるように構成されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。 - 前記検出手段は、
複数のセンサーから構成され、
前記複数のセンサーそれぞれで検出される前記複数の光の波長の範囲が、前記複数のセンサーのうち少なくとも一つが他に対して、異なるように構成され、
前記被検査物が眼球であり、
前記複数のセンサーは、前記眼球における眼底部の黄斑部の断層画像を取得するための第1のセンサーと、前記眼球における眼底部の視神経乳頭の断層画像を取得するための第2のセンサーとを含み、
前記検出手段は、前記第1のセンサーに入射する光の波長の範囲は、前記第2のセンサーに入射する光の波長の範囲よりも大きくなるように構成されることを特徴とする請求項1または2に記載の光断層撮像装置。 - 前記検出手段は、複数の分光手段と、複数のセンサーとから構成され、
前記複数の分光手段は、前記複数のセンサーにおける前記合波光の分光幅が、少なくとも1つは異なる分光幅になるように構成されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。 - 前記複数の分光手段は、結像レンズの焦点距離あるいは回折格子のピッチが異なり、少なくとも1つは異なる分光幅に設定されていることを特徴とする請求項6に記載の光断層撮像装置。
- 前記結像レンズの焦点距離が可変となるように構成されていることを特徴とする請求項7に記載の光断層撮像装置。
- 前記検出手段は、複数の分光手段と、複数のセンサーとから構成され、
前記複数の分光手段は、前記複数のセンサーにおける前記合波光の分光幅が、少なくとも1つは異なる分光幅になるように構成され、
前記被検査物が眼球であり、
前記眼球が左眼か右眼かに従って、前記分光幅を変更する分光幅変更手段を備えることを特徴とする請求項1または2に記載の光断層撮像装置。 - 前記被検査物が眼球であり、
前記複数の測定光が第1の測定光と第2の測定光からなり、
前記第1の測定光による合波光により前記眼球における眼底部の黄斑部の断層画像が取得され、
前記第2の測定光による合波光により前記眼球における眼底部の視神経乳頭の断層画像が取得されることを特徴とする請求項1または2に記載の光断層撮像装置。 - 複数の測定光を照射した眼球からの複数の戻り光と、該複数の測定光におけるそれぞれの測定光に対応する複数の参照光とにおいて、互いに対応する戻り光と参照光とを合波した複数の光を用いて、該眼球の眼底部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記複数の測定光を走査する走査手段と、
前記走査手段により走査された前記複数の測定光を、前記眼底部の深さ方向に対して交差する方向における異なる照射領域に照射する照射手段と、
前記眼底部の深さ方向における断層画像を取得可能な範囲が、前記複数の光のうち少なくとも一つが他に対して、異なるように、前記複数の光におけるそれぞれの光を検出する検出手段と、
前記検出された複数の光のうち第1の光に基づいて前記眼底部の黄斑部の断層画像を取得し、前記検出された複数の光のうち第2の光に基づいて前記眼底部の視神経乳頭の断層画像を取得する取得手段と、
を備えることを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記被検査物が眼球であり、
前記複数の測定光が第1の測定光と第2の測定光と第3の測定光から成り、
前記第1の測定光又は前記第3の測定光による合波光により前記眼球における眼底部の黄斑部と視神経乳頭とのうち一方の断層画像が取得され、
前記第2の測定光による合波光により前記黄斑と前記視神経乳頭とのうち他方の断層画像が取得されることを特徴とする請求項1または2に記載の光断層撮像装置。 - 前記照射手段により照射される前記複数の測定光の前記被検査物の照射位置を調整する調整手段を備え、
前記調整手段は、倍率変更手段あるいは物点位置変更手段を備えていることを特徴とする請求項1または2に記載の光断層撮像装置。 - 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、該複数の測定光におけるそれぞれの測定光に対応する複数の参照光とにおいて、互いに対応する戻り光と参照光とを合波した複数の光を用いて、該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記複数の測定光を走査する走査手段により走査された前記複数の測定光を、前記被検査物の深さ方向に対して交差する方向における異なる照射領域に照射する工程と、
前記被検査物の深さ方向における断層画像を取得可能な範囲が、前記複数の光のうち少なくとも一つが他に対して、異なる深さ範囲になるように、前記複数の光におけるそれぞれの光を異なる深さ範囲で検出する工程と、
を含むことを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 前記被検査物が眼球であり、
前記検出する工程では、前記眼球における眼底部の黄斑部の断層画像を取得可能な範囲は、前記眼球における眼底部の視神経乳頭の断層画像を取得可能な範囲よりも小さくなるように、前記複数の光それぞれを検出することを特徴とする請求項14に記載の光断層撮像装置の制御方法。 - 複数の測定光を照射した眼球からの複数の戻り光と、該複数の測定光におけるそれぞれの測定光に対応する複数の参照光とにおいて、互いに対応する戻り光と参照光とを合波した複数の光を用いて、該眼球の眼底部の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記複数の測定光を走査する走査手段により走査された前記複数の測定光を、前記眼底部の深さ方向に対して交差する方向における異なる照射領域に照射する工程と、
前記眼底部の黄斑部の断層画像を取得可能な範囲は、前記眼底部の視神経乳頭の断層画像を取得可能な範囲よりも小さくなるように、前記複数の光におけるそれぞれの光を検出する工程と、
を含むことを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 前記被検査物が眼球であり、
前記複数の測定光が第1の測定光と第2の測定光からなり、
前記第1の測定光による合波光により前記眼球における眼底部の黄斑部の断層画像が取得され、
前記第2の測定光による合波光により前記眼球における眼底部の視神経乳頭の断層画像が取得されることを特徴とする請求項14または15に記載の光断層撮像装置の制御方法。 - 複数の測定光を照射した眼球からの複数の戻り光と、該複数の測定光におけるそれぞれの測定光に対応する複数の参照光とにおいて、互いに対応する戻り光と参照光とを合波した複数の光を用いて、該眼球の眼底部の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記複数の測定光を走査する走査手段により走査された前記複数の測定光を、前記眼底部の深さ方向に対して交差する方向における異なる照射領域に照射する工程と、
前記眼底部の深さ方向における断層画像を取得可能な範囲が、前記複数の光のうち少なくとも一つが他に対して、異なるように、前記複数の光におけるそれぞれの光を検出する工程と、
前記検出された複数の光のうち第1の光に基づいて前記眼底部の黄斑部の断層画像を取得し、前記検出された複数の光のうち第2の光に基づいて前記眼底部の視神経乳頭の断層画像を取得する工程と、
を含むことを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 請求項14乃至18のいずれか1項に記載の光断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009097415A JP5558735B2 (ja) | 2009-04-13 | 2009-04-13 | 光断層撮像装置及びその制御方法 |
PCT/JP2010/054907 WO2010119750A1 (en) | 2009-04-13 | 2010-03-16 | Optical tomographic imaging apparatus and control method for the same |
US12/738,919 US8425036B2 (en) | 2009-04-13 | 2010-03-16 | Optical tomographic imaging apparatus and control method for the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009097415A JP5558735B2 (ja) | 2009-04-13 | 2009-04-13 | 光断層撮像装置及びその制御方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010249584A JP2010249584A (ja) | 2010-11-04 |
JP2010249584A5 JP2010249584A5 (ja) | 2013-02-14 |
JP5558735B2 true JP5558735B2 (ja) | 2014-07-23 |
Family
ID=42320264
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009097415A Expired - Fee Related JP5558735B2 (ja) | 2009-04-13 | 2009-04-13 | 光断層撮像装置及びその制御方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8425036B2 (ja) |
JP (1) | JP5558735B2 (ja) |
WO (1) | WO2010119750A1 (ja) |
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WO2008148237A1 (en) * | 2007-06-06 | 2008-12-11 | Exalos Ag | Optical coherence tomography sensor |
DE102007046507B4 (de) * | 2007-09-28 | 2024-10-31 | Carl Zeiss Meditec Ag | Kurzkoheränz-Interferometer |
JP5339828B2 (ja) | 2007-10-04 | 2013-11-13 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮像装置及び光干渉断層撮像方法 |
JP5478840B2 (ja) | 2008-05-19 | 2014-04-23 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置および光断層撮像装置の制御方法 |
JP5546112B2 (ja) | 2008-07-07 | 2014-07-09 | キヤノン株式会社 | 眼科撮像装置および眼科撮像方法 |
JP5306075B2 (ja) | 2008-07-07 | 2013-10-02 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法 |
JP5473265B2 (ja) | 2008-07-09 | 2014-04-16 | キヤノン株式会社 | 多層構造計測方法および多層構造計測装置 |
JP5371315B2 (ja) | 2008-07-30 | 2013-12-18 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮像方法および光干渉断層撮像装置 |
JP4732541B2 (ja) | 2008-10-24 | 2011-07-27 | キヤノン株式会社 | アダプター、光断層画像撮像装置、プログラム、眼科装置 |
JP5279524B2 (ja) * | 2009-01-22 | 2013-09-04 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置、光断層撮像方法 |
JP5570125B2 (ja) | 2009-01-22 | 2014-08-13 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置 |
-
2009
- 2009-04-13 JP JP2009097415A patent/JP5558735B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-03-16 US US12/738,919 patent/US8425036B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-03-16 WO PCT/JP2010/054907 patent/WO2010119750A1/en active Application Filing
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10161855B2 (en) | 2014-10-16 | 2018-12-25 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Optical tomographic imaging method, optical tomographic imaging apparatus, and program |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010249584A (ja) | 2010-11-04 |
US20110176107A1 (en) | 2011-07-21 |
WO2010119750A1 (en) | 2010-10-21 |
US8425036B2 (en) | 2013-04-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120405 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121227 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130701 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
RD01 | Notification of change of attorney |
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|
A521 | Written amendment |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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