JP5364191B2 - 高速メモリーバス上の同期データ書込み - Google Patents
高速メモリーバス上の同期データ書込み Download PDFInfo
- Publication number
- JP5364191B2 JP5364191B2 JP2012194419A JP2012194419A JP5364191B2 JP 5364191 B2 JP5364191 B2 JP 5364191B2 JP 2012194419 A JP2012194419 A JP 2012194419A JP 2012194419 A JP2012194419 A JP 2012194419A JP 5364191 B2 JP5364191 B2 JP 5364191B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- write
- memory device
- strobe
- ticks
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 title claims description 73
- 241000238876 Acari Species 0.000 claims description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 60
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 7
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 7
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 241000699670 Mus sp. Species 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
- G11C7/1084—Data input buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/22—Safety or protection circuits preventing unauthorised or accidental access to memory cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/24—Memory cell safety or protection circuits, e.g. arrangements for preventing inadvertent reading or writing; Status cells; Test cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/20—Address safety or protection circuits, i.e. arrangements for preventing unauthorized or accidental access
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4078—Safety or protection circuits, e.g. for preventing inadvertent or unauthorised reading or writing; Status cells; Test cells
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Memory System (AREA)
Description
(発明の背景)
1.発明の分野
本発明は一般に同期メモリーシステムに関するものであり、特に、高速メモリーバス上の書込みデータを同期させる方法に関するものである。
1.発明の分野
本発明は一般に同期メモリーシステムに関するものであり、特に、高速メモリーバス上の書込みデータを同期させる方法に関するものである。
2.関連技術の説明
好適なコンピュータシステムを図1に示す。コンピュータシステム1は、プロセッサ401、メモリーシステム2、及び拡張バスコントローラ402を具えている。メモリーシステム2及び拡張バスコントローラ402は、ローカルバス400によってプロセッサ401に結合されている。拡張バスコントローラ402は1つ以上の拡張バスにも結合され、拡張バス403には、大容量記憶(マスストレージ)装置、キーボード、マウス、グラフィクス・アダプタ、及びマルチメディア・アダプタのような種々の周辺装置を取り付けることができる。
好適なコンピュータシステムを図1に示す。コンピュータシステム1は、プロセッサ401、メモリーシステム2、及び拡張バスコントローラ402を具えている。メモリーシステム2及び拡張バスコントローラ402は、ローカルバス400によってプロセッサ401に結合されている。拡張バスコントローラ402は1つ以上の拡張バスにも結合され、拡張バス403には、大容量記憶(マスストレージ)装置、キーボード、マウス、グラフィクス・アダプタ、及びマルチメディア・アダプタのような種々の周辺装置を取り付けることができる。
メモリーシステム2はメモリーコントローラ100を具えて、メモリーコントローラ100は、メモリーバス106によって複数のメモリーモジュール200、300に接続されている。メモリーバスは複数の信号線101〜105から構成されて、それぞれの信号線が、データDATA(複数の線101上)、ストローブSTROBE、書込みクロックWCLK、コマンドクロックCCLK、及びコマンド/アドレスCMD/ADDR(複数の線105上)を伝える。メモリーモジュール200、300は、コマンドクロックCCLKの立上りエッジに同期して、メモリーコントローラ100からコマンドを受け取る。メモリーモジュール200、300が書込みデータを受け取った短時間後に、メモリーモジュール200、300は、書込みクロックWCLKの立上り及び立下りエッジに同期して書込みデータを受け取る。同期半導体メモリーデバイスが書込みデータを受け取ってから、同期半導体メモリーデバイスが書込みデータの受け取りを開始する時点までに経過する書込みクロックサイクル数は、書込みレイテンシ(待ち時間)として知られている。システムの初期化中には、メモリーシステム2が所望の書込みレイテンシで動作するように、メモリーコントローラ及びメモリーモジュールを初期化する。
各メモリーモジュール200はレジスタ201を含み、そして図に示す例では、複数の同期半導体メモリーデバイス202〜205を含む。図4に、同期半導体メモリーデバイス202〜205のうちの1つへの書込み動作についてのタイミング図を示す。書込みクロックWCLKは、コマンドクロックCCLKの2倍の周波数で動作する。両クロックは同期し、従ってコマンドクロックCCLKのN個のクロックサイクルNの先頭で、書込みクロックWCLKの対応する2N個のクロックサイクルが始まる。図4では、好適なメモリーが、1つの書込みクロックサイクルに等しい書込みレイテンシWLで動作を開始する。従って、クロックサイクルT1において、書込みコマンドをコマンドバスCMD上に発行すると、システムはクロックサイクルT2において、書込みレイテンシWLの要求を待機して、書込みサイクルT3において、書込みデータの受け取りを開始する。同期半導体メモリーデバイスは、バーストモードとして知られている動作を行い、従って次のいくつかのクロックサイクルにわたって、データを受け取り続ける。図に示す例では、同期半導体メモリーデバイスが、4つのクロックサイクルT3〜T6にわたって長さ8のバーストを受け取る。従って、コマンドクロックと書込みクロックとが位相同期している場合には、同期半導体メモリーデバイスは、このデバイスが(書込みクロックと同期している)書込みコマンドを受け取った後に経過する書込みクロック数を数えて、書込みデータの受け取りを開始すべき時点を決定することができる。
しかし、コマンドクロック及びデータクロックは同期していなくてもよい。ここで図2に、図1のメモリーモジュール200のより詳細な図を示す。メモリーモジュール200はレジスタ201を特徴的に具えて、レジスタ201はコマンドクロックCCLK及びコマンド/アドレスCMD/ADDRを一時蓄積(バッファリング)するために使用する。そして一時蓄積したコマンドクロックCCLK及びコマンド/アドレスCMD/ADDRを、それぞれ内部信号線104'及び105'上で、同期半導体メモリーデバイス202〜205の各々に分配する。他方では、同期半導体メモリーデバイス202〜205の各々が、メモリーバス106に直結したそれぞれのデータ信号線101、ストローブ信号線102、及び書込みクロック信号線103を有する。コマンドクロック信号はレジスタ201による一時蓄積によって遅延されるのに対し、書込みクロックWCLKは半導体メモリーデバイス202〜205に直結されているので、書込みクロックとコマンドクロックとの間には不定の位相ずれ(位相シフト)が存在する。例えば、図5A及び図5Bは、1つの書込みクロック、書込みレイテンシWLの書込み動作についてのタイミング図である。図5Aと図5Bとでは、書込みクロック及びコマンドクロックの波形が同じに見える。しかし、図5Aでは、位相ずれPSが1.5書込みクロック分であり、従って同期半導体メモリーデバイスが、クロックT2において書込みレイテンシWLの要求を満足して、クロックT3〜T6においてデータを受け取るべきであるのに対し、図5Bでは、位相ずれPSが0.5書込みクロック分であり、従って同期半導体メモリーデバイスが、クロックT1において書込みレイテンシWLの要求を満足して、クロックT2〜T5においてデータを受け取るべきである。位相ずれが、同期半導体メモリーデバイスの外部のデバイスによってもたらされるので、同期半導体メモリーデバイスが、書込みデータの受け取りを開始すべき時点である、書込みクロックWCLKの適切なサイクルを正確に決定することは不可能である。
従って、互いに位相ずれが生じ得る、独立したコマンドクロック及びデータクロックを採用したメモリーシステムにおいて、書込みデータを同期させる装置及び方法の必要性が存在する。
(発明の概要)
本発明は、独立した書込みクロック及びコマンドクロックを有する同期半導体メモリーデバイス及び同期半導体メモリーシステムにおいて、書込みデータを同期させる方法及びシステムに指向したものである。本発明は、コマンドクロックとデータクロックとの間に不定の位相ずれが存在する場合でも、同期半導体メモリーデバイスが、書込みデータの受け取りを開始すべき時点の書込みクロックサイクルを正確に決定することを可能にする。本発明は、書込み動作中には通常未使用である非バッファの(一時蓄積しない)データストローブ信号を利用する。本発明のメモリーコントローラは、同期半導体メモリーデバイスが書込みデータの受け取りを開始すべき時点の書込みクロックサイクルにおいて、書込みフラグをデータストローブ信号線上に送信する。本発明の同期半導体メモリーデバイスは、メモリーコントローラによって送信された書込みフラグを検出して、書込みフラグの検出時に書込みデータの受け取りを開始する。
本発明は、独立した書込みクロック及びコマンドクロックを有する同期半導体メモリーデバイス及び同期半導体メモリーシステムにおいて、書込みデータを同期させる方法及びシステムに指向したものである。本発明は、コマンドクロックとデータクロックとの間に不定の位相ずれが存在する場合でも、同期半導体メモリーデバイスが、書込みデータの受け取りを開始すべき時点の書込みクロックサイクルを正確に決定することを可能にする。本発明は、書込み動作中には通常未使用である非バッファの(一時蓄積しない)データストローブ信号を利用する。本発明のメモリーコントローラは、同期半導体メモリーデバイスが書込みデータの受け取りを開始すべき時点の書込みクロックサイクルにおいて、書込みフラグをデータストローブ信号線上に送信する。本発明の同期半導体メモリーデバイスは、メモリーコントローラによって送信された書込みフラグを検出して、書込みフラグの検出時に書込みデータの受け取りを開始する。
(好適な実施例の詳細な説明)
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する。図面中では、同一参照番号は同様の構成要素を表わす。図3に、例えば図2のデバイス202のような、1つの同期半導体メモリーデバイスのより詳細な図を示す。好適な実施例では、同期半導体メモリーデバイスが、独立したコマンドクロック及び書込みクロックを有するダブル・データレート(2倍転送速度)のSDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory:同期ダイナミック・ランダムアクセス・メモリー)である。ダブル・データレートのSDRAMは、書込みクロックの立上り遷移(エッジ)及び立下り遷移の両方で書込みデータを受け取るSDRAMである。書込みクロックサイクルの各立上りまたは立下り遷移は、ティック(チック、刻み)として知られている。同期半導体メモリー装置は、制御、アドレス指定、及びデータの入力/出力を行うために使用する種々の回路を具えている。例えば、同期半導体メモリーデバイスは、信号線104上のコマンドクロックCCLK、信号線103上の書込みクロックWCLK、及び複数の信号線105上のコマンド/アドレスCMD/ADDRを受け取る制御論理回路601を具えている。制御論理回路601は、受信したコマンドを復号化するコマンドデコーダ(復号化器)602、及び書込みレイテンシのような特定の動作パラメータの制御法を設定するためのレジスタ603を具えている。書込みレイテンシとは、半導体メモリーデバイスが書込みコマンドを受け取った時点(コマンドクロックに同期している)から、同期半導体メモリーデバイスが書込みデータの受け取りを開始する時点(書込みクロックに同期している)までに経過する書込みクロックサイクル数である。システムの初期化中には、メモリーコントローラ100が、適切な制御値をレジスタ603の1つの領域に書き込むことによって、同期半導体メモリーデバイスを、特定の書込みレイテンシWLで動作するように初期化する。同期半導体メモリーデバイスは一旦初期化されると、この特定の書込みレイテンシでの書込みデータの受け取りを開始して、この時に、メモリーコントローラが同期半導体メモリーデバイスへのデータ供給を行う。これらの特徴の利用は慣例のことであり、簡単のためこれ以上の説明は省略する。
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する。図面中では、同一参照番号は同様の構成要素を表わす。図3に、例えば図2のデバイス202のような、1つの同期半導体メモリーデバイスのより詳細な図を示す。好適な実施例では、同期半導体メモリーデバイスが、独立したコマンドクロック及び書込みクロックを有するダブル・データレート(2倍転送速度)のSDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory:同期ダイナミック・ランダムアクセス・メモリー)である。ダブル・データレートのSDRAMは、書込みクロックの立上り遷移(エッジ)及び立下り遷移の両方で書込みデータを受け取るSDRAMである。書込みクロックサイクルの各立上りまたは立下り遷移は、ティック(チック、刻み)として知られている。同期半導体メモリー装置は、制御、アドレス指定、及びデータの入力/出力を行うために使用する種々の回路を具えている。例えば、同期半導体メモリーデバイスは、信号線104上のコマンドクロックCCLK、信号線103上の書込みクロックWCLK、及び複数の信号線105上のコマンド/アドレスCMD/ADDRを受け取る制御論理回路601を具えている。制御論理回路601は、受信したコマンドを復号化するコマンドデコーダ(復号化器)602、及び書込みレイテンシのような特定の動作パラメータの制御法を設定するためのレジスタ603を具えている。書込みレイテンシとは、半導体メモリーデバイスが書込みコマンドを受け取った時点(コマンドクロックに同期している)から、同期半導体メモリーデバイスが書込みデータの受け取りを開始する時点(書込みクロックに同期している)までに経過する書込みクロックサイクル数である。システムの初期化中には、メモリーコントローラ100が、適切な制御値をレジスタ603の1つの領域に書き込むことによって、同期半導体メモリーデバイスを、特定の書込みレイテンシWLで動作するように初期化する。同期半導体メモリーデバイスは一旦初期化されると、この特定の書込みレイテンシでの書込みデータの受け取りを開始して、この時に、メモリーコントローラが同期半導体メモリーデバイスへのデータ供給を行う。これらの特徴の利用は慣例のことであり、簡単のためこれ以上の説明は省略する。
同期半導体メモリーデバイス202は、種々の慣例の回路に結合したアドレスレジスタ605も具えて、これは、同期半導体メモリーデバイスのメモリーアレイ611をアドレス指定するために使用する。これらの回路は、リフレッシュカウンタ607、行アドレス・マルチプレクサ(多重器)606、バンク制御論理回路608、行アドレス・ラッチ兼デコーダ610、列アドレス・ラッチ兼カウンタ609、及び列デコーダ613を含む。同期半導体メモリーデバイスは入力径路及び出力径路も具えて、これらの径路は、I/O(入出力)ゲート兼マスク回路612、出力レジスタ618、出力ドライバ(駆動装置)619、読出しストローブ発生器620、レシーバ(受信回路)614、マスクレジスタ615、入力レジスタ616、及び書込みFIFO(First-in First-out:先入れ先出しバッファ)兼ドライバ617を含む。読出しストローブ発生器620は、同期半導体メモリーデバイスが読出しデータを出力する際のデータストローブ信号STROBEを発生するために使用する。慣例の同期半導体メモリーデバイスでは、デバイスが読出しデータを出力していない時には、データストローブ信号STROBEは通常トライステート(ハイ、ロー、及び高インピーダンスの3状態)である。これらの回路の使用は慣例のことであり、簡単のため、これらの回路の機能についてのこれ以上の説明は省略する。
前に図2に示して説明したように、複数の同期半導体メモリーデバイス202〜205をメモリーモジュール200上に集合させて、メモリーモジュール200は、コマンドクロックCCLKは一時蓄積するが書込みクロックWCLKは直結させるレジスタ201を具えて、同期半導体メモリーデバイス202〜205の各々に見られるように、メモリーコントローラ100が両クロックを同期させて送信する場合でも、これら2つのクロック間には不定の位相ずれが存在する。このことの結果として、同期半導体メモリーデバイス202〜205が、書込みデータの受け取りを開始する時点の書込みクロックWCLKのサイクルを正確に決定することができる。
本発明は、非バッファのデータストローブ信号STROBEの新たな使用法を採用することによって、この問題を解決する。慣例の同期半導体メモリーデバイスでは、この同期半導体メモリーデバイスが読出しデータを出力する際には、データストローブ信号STROBEを同期半導体メモリーデバイスによって駆動し、他のすべての状況下では、データストローブ信号はトライステートである。図3に示すように、本発明はストローブ検出回路604を、同期半導体メモリーデバイス20の制御論理回路601に追加したものである。ストローブ検出回路604は、データストローブ信号線102に接続する。ストローブ検出回路604は、同期半導体メモリーデバイスが書込みコマンドを受信した後に動作可能(イネーブル状態)にして、書込みバーストが完了した後にオフ状態にする。
図7に示すように、本発明のメモリーコントローラ100は書込みストローブ発生器700を具えている。書込み動作中には、メモリーコントローラ100が、書込みストローブ発生器700を使用することによって、データストローブ信号を特定方法で駆動して、同期半導体メモリーデバイス202が書込みデータの受け取りを開始すべき時点の書込みクロックサイクルをマークする(目印を付ける)。メモリーコントローラ100がデータストローブ信号を駆動して適切な書込みサイクルをマークする方法を、図6のタイミング図に示す。好適な実施例では、前記メモリーコントローラが、書込みデータの先頭に一致する時点でデータストローブ信号STROBEを論理値ハイ(高値)にもっていき、書込みバーストの残りの期間中にはデータストローブ信号STROBEをロー(低値)にもっていく。ストローブ検出回路604は、データストローブ信号STROBEの論理値ハイを検出して、入力書込み径路(レシーバ614、マスクレジスタ615、入力レジスタ616、及び書込みFIFO兼ドライバ617)をトリガ(起動)して、書込みデータを受け取る。
より詳細には、メモリーコントローラ100は、4つの別個の状態変化を通してデータストローブ信号STROBEを駆動する。最初は、データストローブ信号STROBEはトライステートである。データストローブ信号のこの領域を、図6にTS1で示す。第1の状態変化は、トライステート状態から論理レベルローのプリアンブル(前置き)信号Pへの変化である。同期半導体メモリーデバイスが書込みコマンドを受信すると、ストローブ検出回路604がイネーブル状態にされて、ストローブ発生器620がディスエーブル(動作不可)状態にされる。ストローブ信号線がトライステート状態にある時点でストローブ検出回路604をイネーブル状態にした場合には、ストローブ検出回路604が、データストローブ信号STROBEの論理値ハイの状態を誤検出する可能性が存在する。誤検出は、ストローブ検出回路604がイネーブル状態である際に、データストローブ信号を論理値ローにもっていくことによって防止することができる。このことは、論理値ローの信号である、データストローブ信号STROBEのプリアンブル部分Pを使用することによって達成される。論理値ハイへの遷移を高い信頼性で検出するために、ストローブ信号をローにしておく必要のある時間長は、ストローブ検出器604の速度に依存する。好適な実施例では、前記プリアンブル部分を、書込みクロックの1.5サイクル(即ち3ティック)分だけ維持する。代案の実施例では、前記プリアンブル部分を1サイクル(即ち2ティック)分だけ維持する。さらに他の代案の実施例では、前記プリアンブルを完全に省略することができる。
第2の状態変化は、プリアンブル信号Pから、書込みデータの先頭をマークするフラグFへの変化である。メモリーコントローラ100がデータストローブ信号STROBEを、書込みクロックWCLKの1ティック(即ち半サイクル)分だけ論理値ハイにもっていくと、フラグFが同期半導体メモリーデバイスに伝達される。同期半導体メモリーデバイスがこのフラグ信号を受信すると、書込みデータの受け取りを開始して、この書込みデータを書込みFIFO兼ドライバ回路617に一時蓄積する。このデータは、書込みバーストの終わりに、書込みバーストの残りからのデータと組み合わせて、メモリーアレイ611に書き込む。
第3の状態変化は、書込みフラグFの解除である。好適な実施例では、書込みバーストの残りは7ティックであり、書込みバーストの残りについて、同期半導体メモリーデバイスは書込みデータの受け取りを継続する。この時間中には、メモリーコントローラ100がデータストローブ信号STROBEを、F'のマークを付けた領域で示すようにローにもっていく。追加的な書込みデータが到着する間に、同期半導体メモリーデバイスはこのデータを、書込みFIFO兼ドライバ回路617に一時蓄積する。
最後の状態変化は、トライステート状態に戻る変化である。メモリーコントローラが一旦、書込みバーストに関連するデータの送信を完了すると、同期半導体メモリーデバイスはもはやデータを受け取るべきではない。メモリーコントローラは、図中にTS2のマークを付けた領域で示すように、データストローブ信号STROBEをトライステートにすることによって、この状況を表現する。これによって、同期半導体メモリーデバイスが書込みデータの受け取りを停止する。これに加えて、同期半導体メモリーデバイスは、書込みFIFO兼ドライバ回路617に一時蓄積していたデータも、メモリーアレイ611に書き込んで、これにより書込み動作を完了する。
前に説明したように、読出しデータの出力がなければデータストローブ信号STROBEは通常トライステートにするので、プリアンブルPの使用は、フラグの誤検出を防止するように設計する。フラグ信号の高い信頼性での検出を保証するために、プリアンブルを維持する必要のある時間長は、ストローブ検出回路604の速度に依存し、そして読出しコマンドから書込みコマンドまでに経過せざるを得ない最短時間長に影響を与える。
書込みコマンドが読出しコマンドに続く際のメモリーデバイスの速度を改善するためには、プリアンブル信号Pをなくすか、あるいはその影響を最小限にすることが望ましい。従って、本発明はさらに2つの代案実施例を含み、これらはプリアンブルPが、読出しコマンドに続く書込みコマンドに与える潜在的な影響をなくすものである。第1の代案実施例は、書込みクロックとコマンドクロックとの間の位相ずれが、不定ではあるが不変のままである、ということを利用するものである。従って、同期半導体メモリーデバイスがコマンドクロックと書込みクロックとの時間関係を知ることができる場合には、データストローブ信号線上のフラグ信号を書込みデータの同期目的に使用することは、メモリーシステムの初期化中のみに実行しさえすればよい。例えば、書込み期間中にメモリーコントローラ100が前記プリアンブル及びフラグを送信するダミー書込みを、初期化プロセスに含めることができる。書込みデータの受け取りを開始する時点に相当する書込みクロックエッジ(WRITE(書込み)コマンドを受け取った時点のコマンドクロックエッジからの相対値)を観測するように、制御論理回路601を変更することができる。このように、メモリーコントローラ200はSTROBE(ストローブ)信号線上のプリアンブル及びフラグ信号を使用して、制御論理回路601に、コマンドクロックと書込みクロックとの位相差を知らせる。この位相差は、WRITEコマンドを受け取った時点から、メモリーデバイスがデータの受け取りを開始する時点までに経過した書込みクロックサイクル数として表現することができ、そして例えば、メモリーデバイスのモードレジスタの1つの領域のように、メモリーデバイスのレジスタに記憶することができる。通常動作中には、制御論理回路601は、上記のように記憶しているタイミング差を用いて、同期半導体メモリーデバイス202が書込みデータを受け取るべき時点を決定することができる。このことは、同期半導体メモリーデバイスの通常動作中に、プリアンブル及びフラグ信号をデータストローブ信号線上に送信して、これにより、読出しに続く書込みを行う際に、メモリーデバイスの性能を改善する必要性を解消する。
第2の代案実施例では、各書込み処理において、データストローブ信号上でフラグを送信するが、プリアンブル信号は除く。誤検出後に一時蓄積したデータのいずれかをメモリーアレイ611に書き込む前に、この誤検出を発見すれば、プリアンブル信号の使用を必要とする誤検出の問題に対処することができる。より詳細には、同期半導体メモリーデバイスがWRITEコマンドを受け取る前に制御論理回路601がストローブ検出器601をディスエーブル状態にして、書込み径路の回路(レシーバ614、マスクレジスタ615、入力レジスタ616、書込みFIFO兼ドライバ617)をリセット状態にして、書込み径路の回路がデータを受け取って一時蓄積することを防止する。制御論理回路601はWRITEコマンドを受け取ると、ストローブ検出器604をイネーブル状態にして、瞬間的な信号であるリセット信号を論理反転して、これにより、書込み径路の回路がストローブ検出器604の制御下で、データを受け取って一時記憶することを可能にする。前記メモリーコントローラがプリアンブル信号を使用しなければ、ストローブ検出器604が、データストローブ信号線STROBEのトライステート状態を論理値ハイとして誤検出して、書込み径路の回路にデータの受け取り及び一時蓄積を開始させることがある。しかし、フラグの誤検出の後には、データストローブ信号線STROBE上に論理値ローが7つ連続することがない、というのは、メモリーコントローラ100が、WRITEコマンドを発行する7ティック以内に、正しいフラグを送信するからである。従って、ストローブ検出器604が、データストローブ信号線STROBE上に論理値ハイを検出した後に論理値ローを7つ連続して計数(カウント)しない場合に、書込み径路の回路にリセット信号を送信するように、ストローブ検出器604を変更することができる。この瞬時的なリセット信号によって、書込み径路の回路が、あらゆる一時蓄積データを廃棄して、適正なフラグを受信するとデータ取得を開始して、これにより、不適正なデータがメモリーアレイ611に書き込まれることを防止する。ストローブ検出器604が、データストローブ信号線STROBE上で論理値ローを7つ連続して検出した後に、ストローブ検出器604がディスエーブル状態になって、ストローブ検出器604が第2のトライステート状態(即ち信号状態TS2)をフラグとして誤検出することを防止する。第2の代案実施例は、7つ未満の論理値ローを連続して検出した後にも、随意的にリセットを表わす信号を受信不可とすることができる。例えばデータストローブ検出器604が、データストローブ信号線STROBE上で、論理値ハイに続いて論理値ローを5つまたは6つ連続して検出した後に、データストローブ検出器604がリセット信号を発行しないようにすること(あるいはまた、書込み径路の回路がリセット信号に応答しないようにすること)が望ましいことがある。このことは、ストローブ信号検出器604が第2のトライステート状態(即ち信号状態TS2)をフラグとして誤検出した場合に、ストローブ信号検出器604がリセットを発行しないようにすることである。
以上では本発明の特定の実施例について説明及び図示してきたが、本発明はこれらの特定の実施例に限定されるものではなく、本発明の範囲を逸脱することなく、多数の変形、変更、及び等価な要素への代替を行うことができる。従って、本発明の範囲は、説明及び図示した詳細及び特定構造に限定されるものではなく、特許請求の範囲によってのみ限定される。
Claims (18)
- メモリーデバイスを動作させる方法において、この方法が、
書込みクロック信号を受信するステップと;
コマンドクロック信号を受信するステップと;
前記コマンドクロック信号のクロックエッジに同期して、書込みコマンドを受信して、ストローブ検出器をイネーブル状態にするステップとを具えて、前記ストローブ検出器が書込みストローブ信号線を検測して、該書込みストローブ信号線が、前記書込みクロック信号のクロックエッジに関連するストローブ信号の書込みフラグに対応する第1論理状態と、前記書込みストローブ信号の書込みフラグ解除部分に対応する第2論理状態とを有して、
前記方法がさらに、前記ストローブ検出器が、前記第1論理状態の前記ストローブ信号を検出すると、前記書込みフラグに関連するクロックエッジにおいて、前記書込みクロック信号を用いて書込みデータをバッファに書き込むクロック同期書込みを開始するステップと;
前記ストローブ検出器が、前記第2論理状態の前記ストローブ信号を検出すると、前記書込みクロック信号を用いた書込みデータのクロック同期書込みを継続して、前記第2論理状態の前記ストローブ信号を検出している間の、前記書込みクロック信号のティック数を計数するステップと;
前記ストローブ検出器が、前記第1論理状態の前記ストローブ信号を検出すると、前記計数値が第1の所定数未満である場合には、前記バッファをリセットして、以前にクロック同期書込みしたデータを廃棄するステップと
を具えていることを特徴とするメモリーデバイスの動作方法。 - さらに、
前記計数値が第2の所定数に達すると、前記バッファがリセットされることを防止するステップを具えていることを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記第1の所定数が、前記メモリーデバイスの書込みバースト長よりも1ティック少ない数に等しいことを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記メモリーデバイスの書込みバースト長が8ティックであり、前記第1の所定数が7ティックであることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記第2の所定数が、前記メモリーデバイスの書込みバースト長よりも2ティック少ない数に等しいことを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記第2の所定数が、前記メモリーデバイスの書込みバースト長よりも3ティック少ない数に等しいことを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記メモリーデバイスの書込みバースト長が8ティックであり、前記第2の所定数が6ティックであることを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記メモリーデバイスの書込みバースト長が8ティックであり、前記第2の所定数が5ティックであることを特徴とする請求項2に記載の方法。
- メモリーデバイスが、
書込みクロック信号を受信するための書込みクロック入力径路と;
コマンドクロック信号を受信するためのコマンドクロック信号径路と;
前記コマンドクロック信号のクロックエッジに同期して、書込みコマンドを受信するためのコマンド信号径路と;
書込みデータを受信するための、少なくとも1つの信号径路と;
ストローブ検出器に結合したデータストローブ信号径路とを具えて、前記ストローブ検出器が、前記データストローブ信号径路の論理状態を検測して、前記データストローブ信号径路が、書込みフラグに対応する第1論理状態と、書込みフラグ解除部分に対応する第2論理状態とを有して;
前記メモリーデバイスがさらに論理回路を具えて、該論理回路が、前記書込みコマンド、及び前記ストローブ検出器が前記第1論理状態を検出したことに応答して、前記書込みクロック信号を用いて書込みデータをバッファに書き込むクロック同期書込みを開始して、
前記論理回路が、前記ストローブ検出器が前記第2論理状態を検出したことに応答して、書込みデータを前記バッファに書き込むクロック同期書込みを継続して、前記ストローブ検出器が前記第2論理状態を検出している間の、前記書込みクロックのティック数を計数して、
前記論理回路が、前記ストローブ検出器が前記第1論理状態の前記ストローブ信号を検出したことに応答して、前記計数値が第1の所定数未満である場合に、前記バッファをリセットして、以前にクロック同期書込みしたデータを廃棄する
ことを特徴とするメモリーデバイス。 - 前記論理回路が、前記計数値が第2の所定数に達したことに応答して、前記バッファがリセットされることを防止することを特徴とする請求項9に記載のメモリーデバイス。
- 前記第1の所定数が、前記メモリーデバイスの書込みバースト長よりも1ティック少ない数に等しいことを特徴とする請求項10に記載のメモリーデバイス。
- 前記メモリーデバイスの書込みバースト長が8ティックであり、前記第1の所定数が7ティックであることを特徴とする請求項10に記載のメモリーデバイス。
- 前記第2の所定数が、前記メモリーデバイスの書込みバースト長よりも2ティック少ない数に等しいことを特徴とする請求項10に記載のメモリーデバイス。
- 前記第2の所定数が、前記メモリーデバイスの書込みバースト長よりも3ティック少ない数に等しいことを特徴とする請求項10に記載のメモリーデバイス。
- 前記メモリーデバイスの書込みバースト長が8ティックであり、前記第2の所定数が6ティックであることを特徴とする請求項10に記載のメモリーデバイス。
- 前記メモリーデバイスの書込みバースト長が8ティックであり、前記第2の所定数が5ティックであることを特徴とする請求項10に記載のメモリーデバイス。
- 前記メモリーデバイスが、同期ダイナミック・ランダムアクセス・メモリーであることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記メモリーデバイスが、同期ダイナミック・ランダムアクセス・メモリーであることを特徴とする請求項9に記載のメモリーデバイス。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/641,516 US6807613B1 (en) | 2000-08-21 | 2000-08-21 | Synchronized write data on a high speed memory bus |
US09/641,516 | 2000-08-21 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002521301A Division JP5189238B2 (ja) | 2000-08-21 | 2001-08-21 | 高速メモリーバス上の同期データ書込み |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013030264A JP2013030264A (ja) | 2013-02-07 |
JP5364191B2 true JP5364191B2 (ja) | 2013-12-11 |
Family
ID=24572710
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002521301A Expired - Fee Related JP5189238B2 (ja) | 2000-08-21 | 2001-08-21 | 高速メモリーバス上の同期データ書込み |
JP2012194419A Expired - Fee Related JP5364191B2 (ja) | 2000-08-21 | 2012-09-04 | 高速メモリーバス上の同期データ書込み |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002521301A Expired - Fee Related JP5189238B2 (ja) | 2000-08-21 | 2001-08-21 | 高速メモリーバス上の同期データ書込み |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6807613B1 (ja) |
EP (1) | EP1312092A2 (ja) |
JP (2) | JP5189238B2 (ja) |
KR (1) | KR100801177B1 (ja) |
CN (1) | CN1291416C (ja) |
AU (1) | AU2001286556A1 (ja) |
WO (1) | WO2002017323A2 (ja) |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2370667B (en) * | 2000-09-05 | 2003-02-12 | Samsung Electronics Co Ltd | Semiconductor memory device having altered clock frequency for address and/or command signals, and memory module and system having the same |
US6675272B2 (en) | 2001-04-24 | 2004-01-06 | Rambus Inc. | Method and apparatus for coordinating memory operations among diversely-located memory components |
JP4159415B2 (ja) * | 2002-08-23 | 2008-10-01 | エルピーダメモリ株式会社 | メモリモジュール及びメモリシステム |
KR100626375B1 (ko) * | 2003-07-21 | 2006-09-20 | 삼성전자주식회사 | 고주파로 동작하는 반도체 메모리 장치 및 모듈 |
US7178048B2 (en) * | 2003-12-23 | 2007-02-13 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | System and method for signal synchronization based on plural clock signals |
US7336547B2 (en) * | 2004-02-27 | 2008-02-26 | Micron Technology, Inc. | Memory device having conditioning output data |
US7126874B2 (en) * | 2004-08-31 | 2006-10-24 | Micron Technology, Inc. | Memory system and method for strobing data, command and address signals |
US7301831B2 (en) | 2004-09-15 | 2007-11-27 | Rambus Inc. | Memory systems with variable delays for write data signals |
DE102005019041B4 (de) * | 2005-04-23 | 2009-04-16 | Qimonda Ag | Halbleiterspeicher und Verfahren zur Anpassung der Phasenbeziehung zwischen einem Taktsignal und Strobe-Signal bei der Übernahme von zu übertragenden Schreibdaten |
CN100430868C (zh) * | 2005-12-26 | 2008-11-05 | 威盛电子股份有限公司 | 数据缓冲系统及数据缓冲装置的读取方法 |
US7501854B2 (en) * | 2006-12-07 | 2009-03-10 | International Business Machines Corporation | True/complement generator having relaxed setup time via self-resetting circuitry |
US7688652B2 (en) * | 2007-07-18 | 2010-03-30 | Mosaid Technologies Incorporated | Storage of data in memory via packet strobing |
JP5106942B2 (ja) * | 2007-07-31 | 2012-12-26 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | メモリリード制御回路 |
US8489912B2 (en) | 2009-09-09 | 2013-07-16 | Ati Technologies Ulc | Command protocol for adjustment of write timing delay |
US8270235B2 (en) * | 2010-06-04 | 2012-09-18 | Xilinx, Inc. | Dynamic detection of a strobe signal within an integrated circuit |
CN101923524B (zh) * | 2010-08-04 | 2012-08-22 | 苏州国芯科技有限公司 | 一种基于clb总线的存储器接口方法 |
US8825967B2 (en) | 2011-12-08 | 2014-09-02 | Conversant Intellectual Property Management Inc. | Independent write and read control in serially-connected devices |
US10224072B2 (en) * | 2017-05-26 | 2019-03-05 | Micron Technology, Inc. | Error detection code hold pattern synchronization |
KR20180132381A (ko) * | 2017-06-02 | 2018-12-12 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 그의 동작 방법 |
US11735237B2 (en) | 2019-02-27 | 2023-08-22 | Rambus Inc. | Low power memory with on-demand bandwidth boost |
CN111221769B (zh) * | 2019-12-28 | 2023-08-29 | 江苏科大亨芯半导体技术有限公司 | 单线读写通讯方法 |
CN115617732B (zh) * | 2022-11-14 | 2023-03-31 | 南京芯驰半导体科技有限公司 | Apb总线结构、片上系统、车辆及访问方法 |
CN116631469B9 (zh) * | 2023-07-19 | 2024-06-25 | 长鑫存储技术有限公司 | 时钟信号生成电路、方法及存储器 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03224197A (ja) | 1990-01-30 | 1991-10-03 | Toshiba Corp | 多ポートram及び情報処理装置 |
JP2551338B2 (ja) * | 1993-07-23 | 1996-11-06 | 日本電気株式会社 | 情報処理装置 |
US5717954A (en) * | 1995-10-13 | 1998-02-10 | Compaq Computer Corporation | Locked exchange FIFO |
US5748914A (en) * | 1995-10-19 | 1998-05-05 | Rambus, Inc. | Protocol for communication with dynamic memory |
JP3612634B2 (ja) * | 1996-07-09 | 2005-01-19 | 富士通株式会社 | 高速クロック信号に対応した入力バッファ回路、集積回路装置、半導体記憶装置、及び集積回路システム |
US6115318A (en) * | 1996-12-03 | 2000-09-05 | Micron Technology, Inc. | Clock vernier adjustment |
KR100232896B1 (ko) * | 1996-12-31 | 1999-12-01 | 김영환 | 저전력형 반도체 메모리 소자 |
JP3695902B2 (ja) | 1997-06-24 | 2005-09-14 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
WO1999000734A1 (fr) * | 1997-06-27 | 1999-01-07 | Hitachi, Ltd. | Module memoire et systeme de traitement de donnees |
JPH1155084A (ja) | 1997-07-29 | 1999-02-26 | Matsushita Electric Works Ltd | 出力遅延回路 |
KR100274602B1 (ko) * | 1997-11-20 | 2000-12-15 | 윤종용 | 동기형 메모리 장치 |
JP2959542B2 (ja) * | 1997-11-28 | 1999-10-06 | 日本電気株式会社 | 半導体装置 |
US6003118A (en) * | 1997-12-16 | 1999-12-14 | Acer Laboratories Inc. | Method and apparatus for synchronizing clock distribution of a data processing system |
US6292428B1 (en) * | 1998-02-03 | 2001-09-18 | Fujitsu Limited | Semiconductor device reconciling different timing signals |
JP4075140B2 (ja) * | 1998-06-25 | 2008-04-16 | 富士通株式会社 | 電子装置及び半導体記憶装置 |
JP2000163969A (ja) * | 1998-09-16 | 2000-06-16 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JP3708729B2 (ja) | 1998-11-18 | 2005-10-19 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP3746161B2 (ja) * | 1998-11-19 | 2006-02-15 | 富士通株式会社 | 半導体装置 |
JP2000163308A (ja) * | 1998-11-25 | 2000-06-16 | Melco Inc | メモリ装置 |
KR100311042B1 (ko) * | 1999-06-26 | 2001-11-02 | 윤종용 | 기입 주기의 프로그래밍이 가능한 동기식 메모리 장치 및 이를 이용한 데이터 기입 방법 |
JP4216415B2 (ja) * | 1999-08-31 | 2009-01-28 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置 |
US7107476B2 (en) * | 2001-11-21 | 2006-09-12 | Hynix Semiconductor Inc. | Memory system using non-distributed command/address clock signals |
JP2003228511A (ja) * | 2002-02-04 | 2003-08-15 | Elpida Memory Inc | データ書込方法及びメモリシステム |
KR100496857B1 (ko) * | 2002-05-17 | 2005-06-22 | 삼성전자주식회사 | 외부적으로 데이터 로드 신호를 갖는 반도체 메모리 장치및 이 반도체 메모리 장치의 직렬 데이터의 병렬데이터로의 프리패치 방법 |
-
2000
- 2000-08-21 US US09/641,516 patent/US6807613B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-08-21 WO PCT/US2001/025957 patent/WO2002017323A2/en active Application Filing
- 2001-08-21 AU AU2001286556A patent/AU2001286556A1/en not_active Abandoned
- 2001-08-21 CN CNB018144292A patent/CN1291416C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2001-08-21 JP JP2002521301A patent/JP5189238B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2001-08-21 KR KR1020037002586A patent/KR100801177B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2001-08-21 EP EP01966012A patent/EP1312092A2/en not_active Withdrawn
-
2012
- 2012-09-04 JP JP2012194419A patent/JP5364191B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1291416C (zh) | 2006-12-20 |
KR100801177B1 (ko) | 2008-02-05 |
JP5189238B2 (ja) | 2013-04-24 |
WO2002017323A2 (en) | 2002-02-28 |
AU2001286556A1 (en) | 2002-03-04 |
JP2004507032A (ja) | 2004-03-04 |
JP2013030264A (ja) | 2013-02-07 |
CN1447973A (zh) | 2003-10-08 |
EP1312092A2 (en) | 2003-05-21 |
US6807613B1 (en) | 2004-10-19 |
WO2002017323A3 (en) | 2003-01-30 |
KR20030028812A (ko) | 2003-04-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5364191B2 (ja) | 高速メモリーバス上の同期データ書込み | |
KR100365386B1 (ko) | 반도체메모리시스템과그동작방법및최대지연시간측정방법 | |
CN100547681C (zh) | 存储器装置及在存储器装置中读取数据的方法 | |
TWI474320B (zh) | 雙倍資料率虛擬靜態隨機存取記憶體及其控制器、存取與操作方法、寫入與讀取方法 | |
US6032274A (en) | Method and apparatus for compressed data testing of more than one memory array | |
US5909701A (en) | Interface for high speed memory | |
US7975164B2 (en) | DDR memory controller | |
US6603706B1 (en) | Method and apparatus for synchronization of read data in a read data synchronization circuit | |
EP2808801B1 (en) | Multiple data rate memory with read timing information | |
JP4308461B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2007272929A (ja) | リードデータ用のシステムレイテンシーレベライゼーション | |
KR100499417B1 (ko) | 디디알 에스디램에서의 링잉 현상 방지 방법 및 그 장치 | |
US20100306570A1 (en) | Asynchronous interface circuit and data transfer method | |
KR100443607B1 (ko) | 메모리 장치의 국부 제어신호 발생 방법 및 장치 | |
KR20090045641A (ko) | 반도체 메모리 장치 및 그의 동작방법 | |
US6094704A (en) | Memory device with pipelined address path | |
JP4419074B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
US6918016B1 (en) | Method and apparatus for preventing data corruption during a memory access command postamble | |
US6920526B1 (en) | Dual-bank FIFO for synchronization of read data in DDR SDRAM | |
JP4266436B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
US5235694A (en) | Multi i/o device system using temporary store of ram data when associated communicating i/o devices are operating at various clocking phases | |
KR100323141B1 (ko) | 동기형반도체메모리장치 | |
JPH10340596A (ja) | データ記憶装置および半導体記憶装置 | |
CN116013389A (zh) | 电子装置、数据选通闸控信号产生电路以及方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130729 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130813 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130906 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |