JP4308461B2 - 半導体記憶装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、半導体記憶装置に関し、特に、クロック信号に同期して外部からのデータおよび信号を取込むクロック同期型半導体記憶装置に関する。より特定的には、この発明は、クロック同期型半導体記憶装置のデータ取込タイミングを調整するための回路構成に関する。
【0002】
【従来の技術】
図25は、従来の半導体記憶装置の全体の構成を概略的に示す図である。図25において、半導体記憶装置900は、複数のメモリセルを含むメモリ回路902と、外部からのクロック信号CLKに従って内部クロック信号を生成するクロックバッファ904と、クロックバッファ904からの内部クロック信号に同期して外部からのコマンドCMDを取込み、このコマンドが指定する動作モードに必要な各種制御信号を生成する主制御回路906と、メモリ回路902と外部との間でデータの入出力を行なう入出力回路910と、主制御回路906の制御のもとに、この入出力回路910のデータ入出力動作を制御する入出力制御回路908を含む。
【0003】
メモリ回路902は、行列状に配列される複数のメモリセルと、主制御回路906の制御のもとに、アドレス信号ADDに従ってメモリセルの行および列を選択するメモリセル選択回路と、入出力回路910と内部データの転送を行なう書込/読出回路を含む。これらのメモリセル選択回路および書込/読出回路は、主制御回路906の制御のもとに、所定のシーケンスで活性化される。
【0004】
入出力制御回路908は、データの書込動作時に、外部から与えられるデータストローブ信号DQSに従って入出力回路910の外部データの入力動作を制御する。データの出力動作時においては、入出力制御回路908は、データの出力と同期してデータストローブ信号DQSを出力する。入出力回路910はデータ出力時においては内部クロック信号に同期してデータを出力する。
【0005】
したがって、データストローブ信号DQSは、データ書込時においては、半導体記憶装置におけるデータ取込みタイミングを与え、データ出力時においては、外部のコントローラまたはプロセッサにおけるデータ取込みタイミングを与える。
【0006】
主制御回路906は、このクロックバッファ904からの内部クロック信号の立上がりエッジで、外部から与えられるコマンドCMDをデコードし、このコマンドCMDが指定する動作モードを行うための各種制御信号を生成する。コマンドCMDは、複数の制御信号および特定のアドレス信号ビットを含む。これらの信号のクロック信号CLKの立上りエッジでの論理レベルの組合せにより、1つの動作モードを指示するコマンドが構成される。
【0007】
図26は、図25に示す入出力回路910の1ビットのデータ入力回路の構成を概略的に示す図である。図26において、データ入力回路は、データストローブ信号DQSの立上がりに応答して外部から与えられるデータDINを取込みラッチするラッチ回路920と、データストローブ信号DQSの立下がりに応答して、外部からのデータDINを取込みラッチするラッチ回路921と、転送指示信号DQSDTに従って、ラッチ回路920のラッチデータDILF0を取込みラッチするラッチ回路922と、転送指示信号DQSDTに従ってラッチ回路921のラッチデータDILF1を取込みラッチするラッチ回路923と、ラッチ指示信号ZLTTRに応答して、ラッチ回路922のラッチデータDIL0を取込みラッチするレジスタ回路924と、ラッチ転送指示信号ZLTTRに従ってラッチ回路923のラッチデータDIL1を取込みラッチするレジスタ回路925を含む。
【0008】
転送指示信号DQSDTは、データストローブ信号DQSの立下がりに応答してワンショットのパルスの形態で生成される。
【0009】
ラッチ転送指示信号ZLTTRは、データ書込時、内部クロック信号の立上がりに同期してワンショットのパルスの形態で生成される。このレジスタ回路924および925のラッチデータが並列に内部データバスへ転送される。
【0010】
内部データバスにおいては、偶数データアドレスに対応する偶数データバスと、奇数データアドレスに対応する奇数データバスが配置されており、列アドレス信号に従ってレジスタ回路924および925のラッチデータが、これらの偶数/奇数データバスへ転送される。
【0011】
図27は、図26に示すデータ入力回路の動作を示すタイミング図である。以下、図27を参照して、図26に示すデータ入力回路の動作について簡単に説明する。
【0012】
データ書込時においては、データストローブ信号DQSが、クロック信号CLKに同期して入力され、書込データDINが、このデータストローブ信号DQSに同期して入力される。
【0013】
ラッチ回路920は、このデータストローブ信号DQSの立上がりに応答して、外部データDINを取込みラッチし、内部ラッチデータDILF0を生成する。ラッチ回路921は、データストローブ信号DQSの立下がりに応答して外部データDINを取込み、内部ラッチデータDILF1を生成する。データ書込時においては、データストローブ信号DQSの立下がりに応答してワンショットのパルスの形態で、転送指示信号DQSDTが生成され、ラッチ回路922および923が、ラッチ回路920および921のラッチデータDILF0およびDILF1をそれぞれ取込みラッチする。
【0014】
次いで、クロック信号CLKの立上がりに応答してラッチ転送指示信号ZLTTRがワンショットのパルスの形態で生成され、レジスタ回路924および925が、ラッチ回路922および923のラッチデータDIL0およびDIL1を取込みラッチする。
【0015】
したがって、外部で、データストローブ信号DQSの立上りエッジおよび立下がりエッジに同期して転送されるデータDINを、内部で並列データに変換した後、クロック信号CLKに同期したラッチ転送指示信号ZLTTRに従って内部で並列に転送することにより、内部データDIL0およびDIL1の有効期間幅を、クロック信号CLKの1クロックサイクル期間とすることができ、実効有効データ幅を広くすることができる。
【0016】
メモリ回路902は、内部クロック信号に同期して動作しており、このデータストローブ信号DQSの立上がりエッジおよび立下がりエッジ両者に同期して転送されるデータに対し上述のような処理を行うことにより、クロック信号CLKの一方のエッジをトリガとして処理(書込/読出)を行なうことができる。
【0017】
このデータストローブ信号DQSを用いてデータの取込みを行なう方法は、ソースシンクロナス方式と呼ばれ、データ転送経路と同じ経路を介してデータストローブ信号を転送することにより、クロック発生回路からのクロック信号に対するコントローラから転送されるデータの遅延時間が大きくなり、有効データ幅が減少しても、半導体記憶装置において確実にデータの取込みを行なうことができる。
【0018】
クロック信号の立上がりエッジおよび立下がりエッジ両者に同期してデータを転送する方式は、DDR(ダブル・データ・レート)方式と呼ばれている。シリアルに転送されるデータを取込み、内部でクロック信号CLKに同期してラッチ転送指示信号ZLTTRを生成して、内部クロック信号のたとえば立上がりエッジに同期して並列内部書込データを生成する。メモリ回路においてクロック信号の一方のエッジをトリガとして書込みおよび読出しの処理を余裕をもって行なうことができる。これにより、高速のクロック信号に同期して、高速でデータを転送することができ、データのバンド幅が大きくなり、システムの処理効率を改善することができる。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】
図28は、従来の処理システムの構成の一例を示す図である。図28において、コントローラCLTに対し、4つのメモリMD0−MD3が配置される。これらのメモリMD0−MD3は、1つのメモリ装置であってもよく、またメモリモジュールであってもよい。
【0020】
これらのコントローラCLTおよびメモリMD0−MD3に対し共通に、クロック発生回路CGENからのクロック信号CLKが与えられる。
【0021】
コントローラCTLは、このクロック発生回路CGENからのクロック信号CLKに従ってデータ書込時には、データストローブ信号DQS、コマンドCMDおよび書込データDQを生成して、メモリMD0−MD3へ転送する。メモリMD0−MD3のそれぞれも、クロック入力CKに与えられるクロック発生回路CGENからのクロック信号CLKに同期して動作する。
【0022】
この図28に示す処理システムの構成の場合、コントローラCTLとメモリMD0−MD3の距離はそれぞれ異なる。したがって、クロック信号CLKがクロック発生回路CGENから発生されており、コントローラCTLからのデータの伝搬時間(フライトタイム)が長くなった場合、クロック信号CLKとデータストローブ信号DQSの位相差が大きくなる。
【0023】
図29は、この図28に示す処理システムのデータ書込時の動作を示すタイミング図である。図29においては、バースト長が4であり、1つのライトコマンドにより、4個のデータが書込まれる場合の動作を示す。
【0024】
メモリMD0が、コントローラCTLに最も近く、メモリMD3が、コントローラCTLから最も遠い。コントローラCTLからのデータストローブ信号DQSのクロック信号CLKに対する遅延は、メモリMD3において最も大きくなる。
【0025】
コマンドCMDとして、データ書込を示すライトコマンド(信号/WEで示す)が与えられると、次いで、クロック信号CLKに同期して、データストローブ信号DQSが転送される。このデータストローブ信号DQSのクロック信号CLKに対して、位相のずれは、たとえば±25%の位相差が許容される。
【0026】
したがって、このメモリMD0において、クロック信号CLKとデータストローブ信号DQSの位相差が、たとえば1/4サイクル存在する場合、クロック信号CLKの立上がりに応答して、ラッチ転送指示信号ZLTTRを生成した場合、データDIL0およびDIL1に対するホールド時間を十分に確保することができず、正確な内部データ転送を行なうことができなくなる可能性がある。
【0027】
メモリMD1においては、クロック信号CLKとデータストローブ信号DQSの位相がほぼ揃っており、データDIL0およびDIL1に対して、ラッチ転送指示信号ZLTTRに従って正確に内部データを生成することができる。また、メモリMD2においても、このクロック信号CLKに対するデータストローブ信号DQSの位相差は小さく、ラッチ転送指示信号ZLTTRに対するデータDIL0およびDIL1のセットアップ時間およびホールド時間を十分に確保することができ、正確に内部データを生成することができる。
【0028】
メモリMD3においては、さらにデータストローブ信号DQSが遅延され、また同様データDQの伝達も遅延されるため、クロック信号CLKの立上がりに同期してラッチ転送指示信号ZLTTRを生成した場合、このデータDIL0およびDIL1に対するセットアップ時間を十分に確保することができず、正確な内部書込データを生成することができなくなる可能性がある。
【0029】
なお、ここで、ライトコマンドは、図29において破線で示すように、その活性状態の期間を十分広く取り、ライトコマンドのクロック信号CLKに対するスキューは、メモリMD0−MD3のコマンドデコード動作に対して影響を及ぼさず、正確に、このコマンドCMDがデコードされて、ライトコマンドが与えられたと判定される。
【0030】
この図29に示すように、バースト長が4であり、1つのライトコマンドに従ってデータD0−D3が順次転送される場合、メモリとコントローラとの距離に応じてデータおよびデータストローブの転送時間が異なるため、クロック信号CLKに対する位相差が異なり、正確に内部データをラッチ転送指示信号に従って生成することができなくなる可能性が生じる。
【0031】
また、クロック信号CLKがさらに高速化された場合、処理ステムにおけるデータ伝搬経路の伝搬遅延時間(フライトタイム)は同じであるため、フライトタイムとクロックサイクル期間との差が小さくなると、この位相差がクロックサイクル期間内において占める割合がより大きくなる。
【0032】
今、図30に示すように、データストローブ信号DQSの位相がクロック信号CLKに対して半サイクル進んだ状態を考える。この場合、ライトコマンドが与えられ(ライトイネーブル信号/WEがLレベルに設定される)、続いて、そのクロックサイクル♯0においてデータストローブ信号DQSがHレベルに立上がり、データD0がメモリ内に取込まれ、ラッチデータDIL0が、データD0に変化する。次いで、このデータストローブ信号DQSが立下がると、ラッチデータDIL0およびDIL1が、外部データに応じて、データD0およびD1となる。
【0033】
ラッチ転送指示信号ZLTTRが、このライトコマンドが与えられてから2クロックサイクル経過時に生成されるため、クロックサイクル♯1においては、ラッチ転送指示信号は非活性状態にあり、クロックサイクル♯2において、ラッチ転送指示信号ZTTRが活性状態となる。このクロックサイクル♯2においては、データD2およびD3がラッチデータDIL0およびDIL1としてラッチされており、最初のデータD0およびD1のラッチ/転送動作は行なわれない。
【0034】
この図30に示すように、ライトコマンドが与えられてからデータストローブ信号DQSが立上がるまでの時間tDQSSが許容値を超えて短くなった場合、最初の転送データを取込むことができなくなるという問題が生じる。
【0035】
また、クロックサイクル♯2においてラッチ転送指示信号ZLTTRが活性化されたときに、ラッチデータDIL0およびDIL1(D2,D3)のセットアップ時間が不十分な場合、正確な内部書込データを生成することができない。
【0036】
また、次に、図31に示すように、データストローブ信号DQSが、クロック信号CLKよりもさらに遅れて生成される場合を考える。この場合、データストローブ信号DQSのフライトタイムが長く、ライトコマンドが与えられてから、次のクロックサイクル♯1において、データストローブ信号DQSが、Hレベルとなる。すなわち、その時間tDQSSが長くなった状態を考える。
【0037】
この場合、データストローブ信号DQSとデータDQは同一方向に転送されるため、データストローブ信号DQSの立上がりエッジおよび立下がりエッジに従って、データDQの取込みが行なわれ、ラッチデータDILF0およびDIL0およびDIL1が生成される。データストローブ信号DQSの立下がりに応答して、ラッチデータDIL0およびDIL1が生成されるため、クロックサイクル♯1においては、ラッチデータDIL0およびDIL1は、無効状態になる。
【0038】
クロックサイクル♯2において、ラッチ転送指示信号ZLTTRが活性化されるために、データD0およびD1に従って内部書込データが生成される。この場合においても、ラッチ転送指示信号ZLTTRに対する、ラッチデータDIL0およびDIL1のセットアップ時間が不十分であり、内部書込データを安定に生成することができなくなる可能性がある。
【0039】
また、図30および図31に示すように、ライトコマンドが与えられてから、第2クロックサイクル経過時において、ラッチ転送指示信号ZLTTRを活性化するため、クロックサイクル♯2におけるデータが、そのデータストローブ信号DQSのクロック信号CLKに対する位相関係に応じて異なり、正確に内部書込データを生成することができなくなる問題が生じる。特に、連続的にライトコマンドを与えてデータを書込む場合、このラッチ転送指示信号によりラッチされるデータは、最初のライトコマンドによるデータであるのか、次のライトコマンドによるデータであるのかの識別をすることができず、正確にコントローラからのメモリの位置に応じてデータの書込みを行なうことができなくなるという問題が生じる。
【0040】
また、データストローブ信号DQSについては、データ取込タイミングを正確に設定するために、データストローブ信号DQSは、所定期間、Lレベルに保持される。このデータストローブ信号DQSのLレベルの期間は、プリアンブルと呼ばれる。
【0041】
すなわち、図32において、ライトコマンドを発行するときには、コントローラは、ハイインピーダンス状態または中間電圧レベルに保持されていたデータストローブ信号DQSを一旦Lレベルに設定し、次いでクロック信号CLKに同期してデータストローブ信号DQSをHレベルに立上げる。
【0042】
このデータストローブ信号DQSのLレベルのプリアンブル部分を、1クロックサイクル期間に長くすることにより、フライトタイムが長くなった場合においても、データストローブ信号DQSの立上がりの開始時点、すなわちデータ取込みの開始時点を識別することが可能である。しかしながら、このようなデータストローブ信号DQSのプリアンブル部分を、たとえば1クロックサイクル期間設けた場合、このプリアンブル部分は、データストローブ信号DQSの伝搬に伴って同様に伝達されるため、コントローラから遠く離れたメモリにおいては、このプリアンブル期間データの取込を行なわないため、データ取込タイミングが遅くなる。したがって、異なるメモリに対しデータ書込を行なう場合、常にこのプリアンブル期間においてはデータの書込が行なわれないため、高速でデータの書込を行なうことができなくなるという問題が生じる。
【0043】
またプリアンブル期間を長くした場合においても、このプリアンブル期間を検出するタイミングが各メモリにおいて異なるため、正確にデータストローブ信号のプリアンブル部分を検出することができないという問題が生じる。
【0044】
コントローラからメモリに対してクロック信号を転送した場合、クロック信号のフライトタイムが、書込データおよびデータストローブ信号のフライトタイムと同じとなり、データのフライトタイムの影響を受けることなく各メモリにおいてデータの取込を行なうことが可能である。しかしながら、クロック信号は、このコントローラからメモリへ共通にボード上配線を介して伝達されるため、このクロック信号を伝達する部分の駆動能力を大きくする必要があり、コントローラの占有面積が大きくなり、またコントローラにおいてクロック信号を発生するための消費電力が大きくなる。そこで、これらのメモリおよびコントローラと別に、水晶発振器のような発振器で大きな駆動力で正確に、クロック信号を発生してコントローラおよびメモリに共通のシステムクロックを生成する。したがって、クロック信号とデータおよびデータストローブ信号との位相差がメモリとコントローラとの距離に応じて異なるという問題は、ボード実装システムにおいて常に生じる。特に高速クロック信号を使用する場合においてはフライトタイムとクロックサイクル期間とが同程度の長さとなり、メモリにおいて正確に内部データを転送することができないという問題が生じる。
【0045】
それゆえ、この発明の目的は、高速クロック信号に同期して正確にデータの取込/内部書込データの生成を行なうことのできる半導体記憶装置を提供することである。
【0046】
この発明の他の目的は、コントローラからの距離に関わらず、正確に高速クロック信号に同期してデータの取込および内部書込データの生成を行なうことのできる半導体記憶装置を提供することである。
【0047】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る半導体記憶装置は、コントローラを基準とする位置を示す位置情報を生成する位置情報生成回路と、この位置情報生成回路から生成された位置情報とコントローラから与えられる書込指示信号とに従って、コントローラから与えられるデータを取込むタイミングを調整してデータ取込指示信号を生成するデータ取込指示信号生成回路と、このデータ取込指示信号に従って、コントローラからのデータに対応する内部データを生成する書込回路とを含む。
【0048】
好ましくは、位置情報生成回路は、コントローラからのモード指示信号に従って、このコントローラから与えられる位置情報を取込み格納するレジスタ回路を含む。
【0049】
これに代えて、位置情報生成回路は、予め定められた端子に外部から固定的に与えられるデータに従って位置情報を生成する。
【0050】
好ましくは、半導体記憶装置はクロック信号に同期して動作し、位置情報生成回路は、コントローラから与えられる所定の信号とクロック信号との位相関係から位置情報を生成する回路を含む。
【0051】
好ましくは、位置情報生成回路は、クロック信号の変化点における所定の信号の論理レベルに従って位置情報を生成する。
【0052】
好ましくは、位置情報生成回路は、コントローラからの位置情報設定指示に従ってコントローラから与えられる所定の信号をクロック信号に同期して取込み、この取込んだ所定の信号に従って位置情報を生成する。
【0053】
また、これに代えて、位置情報生成回路は、コントローラからのデータアクセス指示に応答して、このコントローラから与えられる所定の信号をクロック信号に同期して取込み、この取込んだデータ取込みタイミング信号に従って位置情報を生成する。
【0054】
これに代えて、位置情報生成回路は、好ましくは、クロック信号の遅延量を設定する遅延量設定信号を位置情報として生成する。
【0055】
好ましくは、位置情報生成回路は、コントローラから与えられる遅延量設定データを格納する回路を含む。
【0056】
好ましくは、これに代えて、位置情報生成回路は、所定の端子の固定電圧に従って遅延量設定信号を生成する。
【0057】
好ましくは、データ取込指示信号生成回路は、遅延量に従ってクロック信号を遅延する回路を含む。
【0058】
また、これに代えて、好ましくは、位置情報生成回路は、クロック信号の立上りエッジおよび立下りエッジのいずれを選択するかを指定するエッジ選択信号を位置情報として生成する。
【0059】
好ましくは、位置情報生成回路は、コントローラからのエッジ指定データを格納して、エッジ選択信号を生成する回路を含む。
【0060】
好ましくは、位置情報生成回路は、所定の端子の電圧に従ってエッジ選択信号を生成する。
【0061】
好ましくは、データ取込指示信号生成回路は、エッジ選択信号に従って、クロック信号の応答すべきエッジを選択する回路を含む。
【0062】
また、これに代えて、好ましくは、位置情報生成回路は、このクロック信号の遅延量を設定する遅延量設定回路と、クロック信号の立上がりエッジおよび立下がりエッジのいずれを選択するかを指定するエッジ選択信号を生成するエッジ選択回路とを含む。
【0063】
好ましくは、このデータ取込指示信号生成回路は、遅延量設定回路の設定した遅延量、クロック信号を遅延する遅延回路と、この遅延回路の出力信号とエッジ選択信号と書込指示信号とに従ってデータ取込指示信号を生成する回路とを含む。
【0064】
好ましくは、遅延量設定回路およびエッジ選択回路はそれぞれ、コントローラから与えられる遅延量設定データおよびエッジ選択データを格納する回路を含む。
【0065】
これに代えて、好ましくは、遅延量設定回路およびエッジ選択回路は、それぞれ、所定の端子に固定的に与えられる信号に従って遅延量およびエッジ選択信号を生成する。
【0066】
好ましくは、半導体記憶装置は、クロック信号の立上がりエッジおよび立下がりエッジに同期してコントローラから与えられたデータを受ける入力回路を含む。
【0067】
入力回路は、好ましくは、コントローラからのデータストローブ信号に応答してコントローラからシリアルに与えられたデータを交互に取込む直列/並列変換回路を含み、書込回路は、データ取込指示信号に応答して直列/並列変換回路の出力データを同時に転送して内部書込データを生成する。
【0068】
好ましくは、クロック信号は、コントローラと別に配置されたクロック発生回路から発生される。
【0069】
半導体記憶装置において、コントローラに対する距離に応じた位置情報を設定し、この位置情報に従って内部書込データを生成するタイミングを調整することにより、信号/データのフライトタイムが、コントローラを基準とする位置に応じて異なる場合においても、正確にデータを取込むことができる。これにより、高速クロック信号を用いてデータ転送を行なう場合において、信号/データのフライトタイムが、クロック信号の1クロックサイクル期間と同程度になる場合においても、正確にデータを取込んで内部書込データを生成することができる。
【0070】
【発明の実施の形態】
[実施の形態1]
図1は、この発明に従う半導体記憶装置の要部の構成を概略的に示す図である。図1においては、データ書込に関連する部分の構成を示す。
【0071】
図1において、メモリ回路902は、行列状に配列される複数のメモリセルを有するメモリアレイ1と、活性化時、列アドレス信号に従ってメモリアレイ1の列を選択する列選択回路2と、活性化時、この列選択回路2により選択されたメモリセル列へ内部書込データを伝達して、選択メモリセルへデータを書込む書込回路3を含む。
【0072】
列選択回路2は、列アドレスデコーダおよび列選択ゲートなどの列選択に関連する回路を含む。
【0073】
書込回路3は、入出力回路910から与えられる内部書込データに従ってメモリセルに対する書込データを生成して、内部データ線および列選択回路2を介してメモリアレイ1の選択列にデータを書込む。
【0074】
主制御回路906は、クロックバッファ904から与えられる内部クロック信号の立上がりエッジで、コマンドCMDを取込んでデコードし、このコマンドCMDが指定する動作モードを指定する動作モード指示信号を生成するコマンドデコーダ4と、コマンドデコーダ4からの書込動作モード指示信号φwrに応答して活性化され、内部クロック信号をカウントして1クロックサイクル経過後バースト長期間の間、書込活性化信号WRTを活性状態に維持するバースト長カウンタ5と、コマンドデコーダ4からの書込動作モード指示信号φwrの活性化に応答して活性化され、バースト長カウンタ5からの書込活性化信号WRTの活性化期間中書込に必要な制御信号を生成する書込制御回路6を含む。
【0075】
この書込制御回路6は、図1においては、列選択回路2および書込回路3の動作を制御する。バースト長カウンタ5は、クロックバッファ904からのクロック信号の立上りエッジおよび立下がりエッジをカウントして、バースト長期間を決定する。このバースト長カウンタ5は、たとえば、書込動作モード指示信号φwrの活性化に応答してセットされるセット/リセットフリップフロップと、書込動作モード指示信号φwrを、クロック信号CLKの立上がりエッジおよび立下がりエッジに同期して転送するシフトレジスタとで構成される。このシフトレジスタの出力信号の活性化に応答してセット/リセットフリップフロップがリセットされる。シフトレジスタの1クロックサイクル遅延段から、書込活性化信号WRTが生成される。
【0076】
書込制御回路6は、書込動作モード指示信号φwrの活性化に応答して活性化されて、列選択動作を開始する。この書込制御回路6の非活性化が書込活性化信号WRTにより決定される。
【0077】
入出力制御回路908は、コントローラに対するメモリの位置を示す位置情報PIを生成する位置情報生成回路7と、この位置情報PIと内部クロック信号とデータストローブ信号DQSと書込動作活性化信号WRTとに従って入力回路9に対するデータストローブ信号DQS、転送指示信号DQSDTおよびラッチ転走指示信号ZLTTRを生成する入力制御回路8とを含む。
【0078】
この入力制御回路8は、データ書込時、外部からのデータストローブ信号DQSに従ってデータストローブ信号DQSおよび転送指示信号DQSDTを生成し、また位置情報PIに従ってラッチ転送指示信号ZLTTRの活性化タイミングを調整する。したがって入出力回路910に含まれる入力回路9においては、このラッチ転送指示信号ZLTTRの活性化タイミングが、位置情報PIに応じて調整されるため、メモリとコントローラとの距離すなわちデータのフライトタイムに係らず、正確に内部で内部クロック信号に同期して内部書込データを生成することができる。
【0079】
図2に示すように、位置情報PIは、コントローラCTLとメモリMDの間の距離、すなわち信号/データのフライトタイムFLTを示す。したがって、このフライトタイムFLTは、メモリのシステム内の位置に応じてデータストローブ信号DQSとクロック信号CLKとの位相関係が異なる場合においても、この位置情報PIでフライトタイムFLTの差を補償するようにメモリMD内でデータラッチ転送タイミングを調整することにより、書込データに対して、常に各メモリにおいて正確なタイミングでラッチ転送を行なって内部書込データを生成することができる。これにより、最初のラッチ転送指示信号ZLTTRと最初の内部書込データの対応関係を一致させることができ、データストローブ信号に長いプリアンブルを設けることなく、各メモリにおいてデータをラッチ転送することができる。また、データストローブ信号に長いプリアンブルを設ける必要がないため、異なるメモリに対し連続してデータを書きこむ場合において連続クロックにおいて書込データを転送することができ、高速データ転送を実現することができる。
【0080】
なお、入力回路9は、図26に示す構成と同様の構成を備え、各データ入力端子当たり、外部からシリアルに入力される1ビットデータを、2ビットの並列データに変換する。
【0081】
図3は、図28に示す処理システムにおけるメモリMD0−MD3それぞれの、内部書込データ生成タイミングを示す図である。以下、この図3を参照して、この発明の実施の形態1における内部書込データラッチ転送動作について説明する。
【0082】
図28に示すように、メモリMD0−MD3は、この順にコントローラCTLからの距離が遠くなり、信号/データのフライトタイムが長くなる。
【0083】
クロックサイクル♯0においてライトコマンドが与えられてデータ書込が指定されたとき、メモリMD0およびMD1は、コントローラに対する距離が近いため、次のクロックサイクル♯1において、内部のラッチデータD0およびD1(D0,1)が確定状態となる。この状態においては、位置情報PIに従ってクロックサイクル♯1におけるクロック信号CLKの立下がりに応答してラッチ転送指示信号ZLTTRを活性化し、また次のクロックサイクル♯2においても、ラッチ転送指示信号ZLTTRを、クロック信号CLKの立下がりに応答して活性化する。ここで、データ書込動作時において、バースト長が4であり、1つのライトコマンドにより4つのデータが書込まれる場合の動作を示す。
【0084】
一方、メモリMD2およびMD3は、コントローラから遠く離れているため、クロックサイクル♯2におけるクロック信号CLKの立上がりに応答してラッチ転送指示信号ZLTTRを生成する(活性化する)。これらのメモリMD2およびMD3においては、クロックサイクル♯2においてラッチデータDIL0およびDIL1は、データD0およびD1であり、このクロックサイクル♯2においてラッチ転送指示信号ZLTTRをクロック信号CLKの立上がりに応答して活性化することにより、長いフライトタイムにより第2クロックサイクルにおけるラッチデータが異なる場合においても正確に最初のデータをラッチして転送することができる。
【0085】
バースト長が4であるため、次のクロック♯3においても、再びクロック信号CLKの立上がりに応答してラッチ転送指示信号ZLTTRを活性化する。
【0086】
したがって、ラッチ転送指示信号ZLTTRが最初に活性化された時には、いずれのメモリにおいてもラッチデータDIL0およびDIL1は、最初の2つのデータD0およびD1であり、メモリの位置に関わらず最初のラッチ転送指示信号ZLTTRに従って最初の転送データD0およびD1を転送して内部書込データを生成することができる。
【0087】
したがって、信号/データのフライトタイムが、クロック信号CLKのサイクル期間程度となっても、この位置情報PIに従ってラッチ転送指示信号ZLTTRの活性化タイミングを調整することにより、メモリの位置すなわち信号/データのフライトタイムに関わらず、正確に内部でクロック信号に同期して内部書込データを生成することができる。内部回路は、クロック信号CLKに同期して動作しているため、正確にこの転送された内部書込データに従って内部書込動作を行なうことができる。
【0088】
なお、図3に示すタイミング図においては、ライトコマンドの活性化期間は、クロック信号CLKの立上がり期間の前後の短い期間のように示す。しかしながら、このライトコマンドもメモリに対するフライトタイムの影響を受けるため、このライトコマンドは、フライトタイムの影響を受けないように、十分に広い期間活性状態を維持するようにされる(図29参照)。したがって、ライトコマンドが与えられてから、正確にデータストローブ信号DQSおよび書込データのフライトタイムに応じて内部のラッチ/転送状態を制御することにより、内部データを内部クロック信号に同期して正確に生成することができる。
【0089】
図4は、図1に示す入力制御回路8に含まれるラッチ転送指示信号発生部および位置情報生成回路7の構成を示す図である。
【0090】
図4において、位置情報生成回路7は、位置情報PIを格納するレジスタ回路11を含む。このレジスタ回路は、外部からその保持データが設定されるレジスタ回路であってもよく、内部での保持データが設定されるレジスタ回路であってもよい。外部からのデータを格納するレジスタ回路としては、コラムレイテンシおよびバースト長などの動作パラメータを格納するモードレジスタの空きレジスタ回路を利用することができる。
【0091】
ラッチ転送指示信号発生部は、このレジスタ回路11からの位置情報PIとクロックバッファ904からの内部クロック信号CLKiを受けるEXNOR回路12と、EXNOR回路12の出力信号を所定時間遅延しかつ反転する反転遅延回路13と、EXNOR回路12の出力信号PKLと反転遅延回路13の出力信号と書込活性化信号WRTとを受けるNAND回路14を含む。このNAND回路14から、ラッチ転送指示信号ZLTTRが生成される。
【0092】
このEXNOR回路12は、位置情報PIがHレベルに固定されているときには、バッファ回路として動作し、一方、位置情報PIがLレベルに設定されている場合にはインバータ回路として動作する。反転遅延回路13およびNAND回路14は、書込活性化信号WRTの活性化時、このEXNOR回路12の出力信号の立上がりに応答してワンショットのパルス信号を生成するワンショットパルス発生回路として機能する。したがって位置情報PIをHレベルまたはLレベルに設定することにより、このラッチ転送指示信号ZLTTRを、内部クロック信号CLKiの立上がりエッジおよび立下がりエッジのいずれかをトリガとして活性化することができる。
【0093】
図5は、図4に示すラッチ転送指示信号発生部の動作を示すタイミング図である。図5においては、位置情報PIは、Hレベルに設定される。この位置情報PIがHレベルに設定されている場合には、EXNOR回路12は、バッファ回路として動作し、内部クロック信号CLKiに従ってその出力信号PKLを生成する。
【0094】
クロックサイクル♯0においてライトコマンドが与えられると、1.5サイクル経過後に、書込活性化信号WRTが活性化される。この書込活性化信号WRTの活性化に従って、NAND回路14が、EXNOR回路12の出力信号PKLの立上がりに応答してワンショットのパルス信号を発生する。したがって、クロックサイクル♯1のクロック信号CLKiの立上がり時においては、書込活性化信号WRTはLレベルであり、ラッチ転送指示信号ZLTTRはHレベルを維持する。クロックサイクル♯2において、EXNOR回路12の出力信号PKLが、内部クロック信号CLKiの立上がりに従って立上がると、このNAND回路14は、ラッチ転送指示信号ZLTTRを所定時間Lレベルに駆動する。このラッチ転送指示信号ZLTTRのLレベルの期間は、反転遅延回路13の遅延時間により決定される。バースト長は4であるため、この書込活性化信号WRTは2クロックサイクル期間Hレベルを維持する。したがってクロックサイクル♯3において、再びEXNOR回路12の出力信号PKLがLレベルに立上がると、ラッチ転送指示信号ZLTTRが再び活性化される。
【0095】
図3に示すように、コントローラから遠く離れたメモリにおいて、位置情報PIをHレベルに設定することにより、クロックサイクル♯2から、データのラッチ転送を行なって内部書込データを生成することができる。したがって、クロックサイクル♯2において生成された最初の並列データを確実に内部回路へ転送することができる。
【0096】
NAND回路14の遅延時間を少し長くすることにより、図3に示すように、クロックサイクル♯2および♯3において、内部クロック信号CLKiの立上がりエッジから少し遅れて、このラッチ転送指示信号ZLTTRを活性化することができる。またこれに代えて、後に説明するように、NAND回路14の出力に、さらに遅延回路が設けられてもよい。
【0097】
図6は、この位置情報PIがLレベルに設定されたときの、図4に示すラッチ転送指示信号発生部の動作を示すタイミング図である。
【0098】
この位置情報PIがLレベルに設定された場合には、EXNOR回路12は、インバータ回路として動作し、内部クロック信号CLKiと180°位相のずれた出力信号PKLを生成する。
【0099】
クロックサイクル♯0においてライトコマンドが与えられると、クロックサイクル♯1において内部クロック信号CLKiの立下がりに応答して、書込活性化信号WRTが活性化される。この書込活性化信号WRTは、また、バースト長が4であり、2サイクル期間Hレベルの活性状態を維持する。
【0100】
クロックサイクル♯1において書込活性化信号WRTがHレベルとなると、NAND回路14が、信号PKLの立上がりに応答してワンショットのパルス信号を生成する。したがって、クロックサイクル♯1において内部クロック信号CLKiがLレベルに立下がり、EXNOR回路12の出力信号PKLがHレベルに立上がると、ラッチ転送指示信号ZLTTRが、所定期間Lレベルとなる。
【0101】
次いで、クロックサイクル♯2において、内部クロック信号CLKiがLレベルとなると、信号PKLの立上がりに応答して、ラッチ転送指示信号ZLTTRが所定期間Lレベルとなる。
【0102】
したがって、位置情報PIをLレベルに設定することにより、図3に示すようにメモリMD0およびMD1のようにコントローラに対し比較的近くに設けられたメモリにおいて、ライトコマンドが与えられた次のサイクルにおいて、内部クロック信号CLKiの立下がりに応答して内部データのラッチ転送を行なって書込データを生成することができる。
【0103】
なお、この図6に示すタイミング図においても、NAND回路14のゲート遅延またはその出力部に設けられる遅延回路により、ラッチ転送指示信号ZLTTRの活性化時点を調整することができる。
【0104】
図7は、書込活性化信号WRTを発生する部分の構成の一例を示す図である。この図7に示す書込活性化信号発生部は、図1に示すバースト長カウンタ5に対応する。バースト長データBLは、バースト長4を示す状態に設定される。
【0105】
図7において、バースト長カウンタ5は、主制御回路からの書込動作モード指示信号φwrを、内部クロック信号CLKiに従って1.5サイクル遅延する1.5サイクル遅延回路20と、1.5サイクル遅延回路20の出力信号を、バースト長データBLが指定するクロックサイクル期間クロック信号CLKiに従ってシフトするシフト回路21と、1.5サイクル遅延回路20の出力信号に応答してセットされかつシフト回路21の出力信号に応答してリセットされるセット優先型セット/リセットフリップフロップ22を含む。セット優先型セット/リセットフリップフロップ22から、書込活性化信号WRTが生成される。
【0106】
シフト回路21は、可変シフト回路であり、バースト長データBLに従って、そのシフト段数が調整される。次に、この図7に示すバースト長カウンタ5の動作を図8に示すタイミング図を参照して説明する。
【0107】
クロックサイクル♯0においてライトコマンドが与えられると、内部クロック信号CLKiの立上がりに応答して、書込動作モード指示信号φwrが所定期間活性状態となる。1.5サイクル遅延回路20は、この書込指示信号φwrを内部クロック信号CLKiに従って1.5サイクル転送する。したがって、クロックサイクル♯1において、内部クロック信号CLKiの立下がりに応答して遅延回路20の出力信号がHレベルとなり、フリップフロップ20がセットされ、書込活性化信号WRTが活性化される。
【0108】
クロックサイクル♯2において再びライトコマンドが与えられると、書込指示信号φwrが活性化され、1.5サイクル遅延回路20を介して転送される。
【0109】
シフト回路21において、バースト長データBLが、バースト長4を示している場合には、クロックサイクル♯3において、内部クロック信号CLKiの立下がりに応答してシフト回路21の出力信号がHレベルとなる。
【0110】
このとき、クロックサイクル♯2において与えられたライトコマンドに従って、1.5サイクル遅延回路20の出力信号もHレベルとなる。フリップフロップ22はセット優先型セット/リセットフリップフロップであり、この遅延回路20からの出力信号に従って、そのセット状態を維持する。したがって、ライトコマンドを、この2サイクルごとに連続して印加する場合には、内部で書込活性化信号WRTは活性状態をその間維持する。
【0111】
クロックサイクル♯2においてライトコマンドが与えられていない場合には、図7において破線で示すように、このクロックサイクル♯2において、書込指示信号φwrはLレベルであり、クロックサイクル♯3において、遅延回路20の出力信号は、破線で示すように、Lレベルを維持する。したがって、この場合には、シフト回路21の出力信号に従ってフリップフロップ22がリセットされ、破線で示すように、書込活性化信号WRTが内部クロック信号CLiの立下がりに応答して非活性化される。
【0112】
この図7に示すバースト長カウンタ5を利用することにより、バースト長データBLに従ってバースト長期間確実に書込活性化信号WRTを活性状態に維持して、内部転送指示信号ZLTTRを所定のタイミングで活性化することができる。
【0113】
なお、この図7に示すバースト長カウンタ5の構成において、フリップフロップ22のリセット入力へは、遅延回路20の出力信号がLレベルのときにイネーブルされて、シフト回路21の出力信号を伝達してリセット入力Rへ与えるゲート回路が設けられてもよい。この構成の場合、フリップフロップ22は、セット優先型のフリップフロップでなくてもよい。
【0114】
[位置情報生成回路の構成1]
図9は、位置情報生成回路のレジスタ回路11の構成の一例を示す図である。図9においては、半導体記憶装置において通常設けられているモードレジスタ回路30に含まれる特定のレジスタRGiを、位置情報PIを生成するレジスタとして利用する。このモードレジスタ回路30においては、レジスタ回路RG0−RGnが設けられる。これらのレジスタ回路RG0−RGnは、モードレジスタセットコマンドが与えられると、対応のアドレス端子に与えられているアドレス信号ビットA0-Anを取込みラッチする。
【0115】
これらのレジスタ回路RG0-RGnは、同一構成を有するため、図9においてはレジスタ回路RGiの構成を代表的に示す。レジスタ回路RGiは、モードレジスタ設定指示信号φMRSを反転するインバータIV1と、モードレジスタ設定指示信号φMRSの活性化時活性化され対応のアドレス端子のアドレス信号ビットAiを転送するトライステートインバータバッファIV2と、トライステートインバータバッファIV2の出力信号を反転するインバータIV3と、インバータIV1からのモードレジスタ設定指示信号φMRSの反転信号に応答して活性化され、活性化時、インバータIV3の出力信号をインバータIV3の入力へ転送するトライステートインバータバッファIV4を含む。トライステートインバータバッファIV2から位置情報PIが出力される。
【0116】
モードレジスタ設定指示信号φMRSは、モードレジスタセットコマンドが与えられると所定期間Hレベルに設定される。トライステートインバータバッファIV2はモードレジスタ設定指示信号φMRSがHレベルのときに活性化され、インバータとして動作し、対応のアドレス端子のアドレス信号ビットAiを反転してインバータIV3に転送する。トライステートインバータバッファIV2は、モードレジスタ設定指示信号φMRSがLレベルのときには非活性化され、出力ハイインピーダンス状態となる。
【0117】
トライステートインバータバッファIV4は、モードレジスタ設定指示信号φMRSがLレベルのときに活性化され、インバータIV3とラッチ回路を構成する。従って、モードレジスタ30へのデータの設定後は、レジスタ回路RG0−RGnはラッチ状態となる。トライステートインバータバッファIV4は、モードレジスタ設定指示信号φMRSがHレベルのときには出力ハイインピーダンス状態となり、このレジスタ回路RGiは、与えられてデータを転送するスルー状態となる。
【0118】
したがって、このモードレジスタセットコマンドを与えて、モードレジスタ設定指示信号φMRSを活性化しかつ、対応のアドレス信号ビットAiをHレベルまたはLレベルに設定することにより、レジスタ回路RGiの記憶データが設定され、この記憶データに従って位置情報PIを生成することができる。
【0119】
このモードレジスタ回路30においては、バースト長データBLを格納するレジスタ回路、またコラムレイテンシCLを格納するレジスタ回路が設けられていてもよい。また、これらのバースト長データBLおよびコラムレイテンシCLは、別の系統のモードレジスタ回路に格納されても良い。複数系統のモードレジスタ回路が配置されている場合には、バンクアドレス信号ビットBA等によりモードレジスタ回路が特定される。
【0120】
これらのレジスタ回路RG0−RGnが、上述のインバータラッチの構成に代えて、セット/リセットフリップフロップで構成され、対応のアドレス信号ビットがHレベルのときにセットされるようにモードレジスタ回路30が構成されてもよい。この構成の場合、これらのレジスタ回路のデフォルト状態は、このフリップフロップがリセット状態である。
【0121】
また、これらのレジスタ回路RG0−RGnのあるレジスタ回路は、モードレジスタセットモード時において特定のデータ入力端子に与えられたデータに従って、それぞれの記憶データが設定されてもよい。
【0122】
図10は、モードレジスタ回路30を利用した場合の位置情報を設定する動作を示すタイミング図である。以下、この図10を参照して図9に示すモードレジスタ回路30に位置情報を設定する動作について説明する。コマンドCMDは、ロウアドレスストローブ信号/RAS、コラムアドレスストローブ信号/CAS、ライトイネーブル信号/WEをクロック信号CLKの立上がりエッジでLレベルに設定し、かつバンクアドレス信号ビットBA0をHレベル、バンクアドレス信号ビットBA1をLレベルに設定することにより、モードレジスタセットコマンドを指定する。このとき、アドレス信号ビットAiを位置情報に応じてHレベルまたはLレベルに設定し、かつ残りのアドレス信号ビット(Ai以外)をLレベルに設定する。
【0123】
通常、バンクアドレス信号ビットBA0をHレベルに設定した場合、拡張モードレジスタセット(MRS)モードが指定され、コラムレイテンシCLおよびバースト長データBLを設定するモードレジスタ回路と別のモードレジスタ回路が指定され、コラムレイテンシCLおよびバースト長BLの設定は行われない。これらのコラムレイテンシCLおよびバースト長BLの設定には、バンクアドレス信号ビットBA0が、Lレベルに設定される。しかしながら、この位置情報PIの設定が、これらのコラムレイテンシCLおよびバースト長BLの設定と並行して行われてもよい。この場合には、対応のアドレス信号ビットが、これらのコラムレイテンシCLおよびバースト長BLの値に対応する論理レベルに設定される。
【0124】
また、残りのアドレス信号ビットをLレベルに設定するのは、単なる一例であり、他の同時に設定される動作パラメータに従って適当な論理レベルに設定されても良い。他のレジスタ回路の記憶データが、不必要に変更されなければ良い。
【0125】
クロック信号CLKの立上がりに応答して、モードレジスタ設定指示信号φMRSがHレベルとなり、図9に示すトライステートインバータバッファIV2が活性化される。このときに、アドレス信号ビットAiのHレベルまたはLレベルにより、レジスタ回路RGiに位置情報PIが設定される。
【0126】
モードレジスタ回路30における残りのレジスタRGn−RG(i+1)、およびRG(i−1)−RG0に対しては、アドレス信号ビットがLレベルであり、このLレベルに応じたデータが設定される。この位置情報PIの設定時において、他の動作パラメータが設定されても良い。
【0127】
システムリセット時または電源投入時に、コントローラの制御のもとに、コラムレイテンシCLおよびバースト長BLが設定される。このときに、位置情報PIがあわせて同時に設定されても良い。
【0128】
図11は、コントローラCTLにおける位置情報PIの設定に関連する部分の構成を概略的に示す図である。図11において、コントローラCTLは、メモリそれぞれの位置情報を格納する位置情報テーブル30と、処理システム内のメモリへのアクセスなどを制御する中央制御部32と、中央制御部32からの初期化指示に従って、位置情報テーブル30に格納された位置情報に従って、各メモリに位置情報を転送する初期設定制御部34と、メモリと初期設定制御部34と中央制御部32との間のインターフェイスとなる入出力インターフェイス36を含む。
【0129】
位置情報テーブル30は、メモリMD0−MDnそれぞれについて、対応のメモリ番号と、それぞれのメモリに対応する位置情報PI0−PInをテーブル形式で格納する。初期設定制御部34は、中央制御部32からの初期化シーケンス実行指示に従って、この位置情報テーブル30に格納されたメモリ番号と対応の位置情報とを参照して、各メモリに対し、位置情報PIを設定する。
【0130】
このメモリへの位置情報設定時には、各メモリに対し、それぞれチップイネーブル信号/CEiを順次活性化することにより、メモリMD0−MDmを順次選択状態として、モードレジスタセットモードを与えて位置情報PIを格納する。コマンドCMDは、チップイネーブル信号が活性状態のときに有効コマンドが与えられたとメモリにおいて判定されて、コマンドのデコードが行われる。すなわち、チップイネーブル信号が非活性状態のときには、コマンドCMDは、NOPコマンドとして取り扱われる。
【0131】
図12は、このコントローラCTLの位置情報設定時の動作を示すフロー図である。以下、図12を参照して、図11に示すコントローラCTLの位置情報設定動作について説明する。
【0132】
まず、中央制御部32は、初期化を行なう必要があるか否かを判定する(ステップS1)。初期化シーケンスを実行する必要のある場合は、電源投入時またはシステムリセット時である。中央制御部32は、初期化シーケンスを行なう必要があると判断した場合には、初期設定制御部34を起動する。初期設定制御部34は、まずメモリを特定するメモリ番号kを初期値“0”に設定する(ステップS2)。次いで、このメモリ番号kに従って位置情報テーブル30を参照し、このメモリ番号kが指定するメモリMD0の位置情報PI0を読出す(ステップS3)。次いで、入出力インターフェイス36を介して、メモリMD0に対し、モードレジスタセットコマンドを与え、同時に、位置情報PI0を送出する(ステップS4)。
【0133】
位置情報の設定時においては、メモリ番号kにより特定されたメモリMD0に対し、チップイネーブル信号/CEを活性化し、残りのメモリMD1−MDmに対するチップイネーブル信号/CEは非活性状態に維持する。
【0134】
このメモリに対する位置情報を設定する場合、チップイネーブル信号/CEの活性化に代えて、メモリを特定するアドレス信号とともに、チップイネーブル信号/CEがメモリに共通に与えられてもよい。この場合、チップイネーブル信号/CEとメモリを特定するメモリアドレスは、メモリMDO−MDmに共通に与えられ、メモリアドレスが指定するメモリにおいて、チップイネーブル信号/CEの活性化に従ってモードレジスタの特定のレジスタ(RGi)に対する位置情報の設定が行なわれる。ただし、この場合には、各メモリにおいて、メモリ特定用のアドレス信号をデコードするデコーダを配置する必要がある。
【0135】
メモリMD0に位置情報PI0が設定されると、次いで、このメモリ番号kが、最終メモリMDmを指定しているか否かを判定する(ステップS5)。最初の位置情報設定動作時においては、メモリ番号kは0であるため、ステップS7へ移り、メモリ番号を1増分し、ステップS3へ戻る(ステップS7)。以降、このステップS3からステップS5およびS7の動作が、最終メモリに対する位置情報設定まで繰返し実行される。
【0136】
ステップS5において、最終メモリに対する位置情報が設定されたと判定されると、メモリMD0−MDmに対する位置情報PIの設定が終了する(ステップS6)。この後、別の処理を待合せる状態となる。
【0137】
この図11に示す情報テーブル30においては、システム実装時において、コントローラへのプログラムインストール時に、合わせて位置情報が格納される。これに代えて、予め、ROM(リード・オンリ・メモリ)に、テーブル形式で、メモリと位置情報とがプログラムされていてもよい。この場合には、システム実装時において、コントローラからの位置に応じて(例えば、メモリ実装用のソケットの位置に応じて)、各メモリに対する位置情報およびメモリ番号は、常に一意的に定められる。
【0138】
なお、コントローラを用いて位置情報PIを設定する場合、そのとき、また、ラッチ転送指示信号ZLTTRのクロック信号のエッジに対する遅延量も同様、特定のレジスタ回路に格納される遅延量設定データに応じて設定されてもよい。すなわち、図13に示すように、可変遅延回路40により、図4に示すNAND回路14の出力信号ZLTTRFを受けて、ラッチ転送指示信号ZLTTRを生成する。この可変遅延回路40の遅延量を、図示しないレジスタ回路からの遅延量設定データDLに従って調整する。
【0139】
この図13に示す可変遅延回路40を利用することにより、ラッチ転送指示信号ZLTTRの活性化タイミングを、内部クロック信号の立上がりエッジおよび立下がりエッジから遅らせることができ、図3に示すタイミング図のように、ラッチデータDIL0およびDIL1に対し十分にセットアップ時間およびホールド時間を確保して、安定に内部書込データを生成することができる。
【0140】
[位置情報生成回路の構成2]
図14は、位置情報生成回路の第2の構成を概略的に示す図である。図14においては、マザーボード50上に、メモリMD0−MD3が配置される。このメモリMD0−MD3は、それぞれ、メモリモジュールであり、複数のメモリチップCHを含む。このメモリチップCHが、それぞれ、図1に示す構成を備える。
【0141】
メモリMD0−MD3が、この順に、コントローラに対する距離が長くなるように配置される。
【0142】
メモリMD0およびMD1の位置情報設定端子55は、ボード上接地線51に接続される。メモリMD2およびMD3の位置情報設定端子55が、ボード上電源線52に接続される。したがって、メモリMD0およびMD1に対しては、位置情報PIは、Lレベルに固定的に設定され、メモリMD2およびMD3は、位置情報PIが、Hレベルに固定的に設定される。
【0143】
したがって、この図14に示す構成の場合、コントローラは、特に、各メモリMD0−MD3に対し、位置情報を設定することは要求されない。マザーボード50に配置されたモジュール実装用のソケット(図示せず)の位置情報設定端子を、コントローラに対する距離に応じて接地線または電源線に固定的に接続する。これにより、メモリチップCH内においては、特定の端子を介して位置情報PIが与えられ、電源投入後は常時、固定された位置情報PIを生成する。したがって、システムリセット時または電源投入時にコントローラが初期化シーケンスを行なって、位置情報を設定することは要求されず、位置情報設定処理が簡略化される。
【0144】
また、この図14に示すように、マザーボード50上に実装時において、位置情報設定端子を接地線51または電源線52に接続する場合、位置情報を保持するためのレジスタ回路は特に要求されず、メモリチップ内における位置情報生成部の占有面積を低減することができる。
【0145】
[位置情報生成回路の構成3]
図15は、位置情報生成回路の構成3の動作を示すタイミング図である。図15に示す位置情報設定動作においては、たとえばモードレジスタセットコマンドMRSを与え、次のクロック信号CLKの立上がり時における特定の信号の論理レベルを判定し、位置情報PIを生成する。図15においては、この特定の信号として、データストローブ信号DQSが用いられる。
【0146】
図15に示す波形図を参照して、メモリMD0およびMD1においては、データストローブ信号DQSが、クロック信号CLKの立上がりエッジでHレベルであり、位置情報PIが、Lレベルに設定される。一方、メモリMD2およびMD3においては、クロック信号CLKの立上がりエッジにおいて、データストローブ信号DQSがLレベルであるため、位置情報PIがHレベルに設定される。
【0147】
信号/データのフライトタイムが、クロック信号CLKの1サイクル期間程度にまで遅延しているだけであり、このデータストローブ信号DQSがさらに遅延し、クロック信号CLKの立上がりエッジにおいてHレベルとなった場合には、この信号/データのフライトタイムが、クロック信号CLKの1クロックサイクル期間以上であり、正確なデータのラッチ転送を保証することができないため、このような状態は、考察対象とはしない。すなわち、たとえばデータストローブ信号DQSが、クロック信号CLKに対しては±50%程度位相がずれる場合について正確なデータの転送を保証する。
【0148】
図16は、図15に示す位置情報検出機能を有する位置情報生成回路の構成の一例を示す図である。図16において、位置情報生成回路7は、コマンドデコーダ4からのモードレジスタ設定指示信号φMRSを、クロック信号CLKの1クロックサイクル期間遅延する1クロック遅延回路60と、1クロック遅延回路60の出力信号の立上がりに応答してワンショットのパルス信号を生成するワンショットパルス発生回路61と、ワンショットパルス発生回路61の出力信号MRLTに応答して、データストローブ信号DQSを取込み、位置情報PIを生成するラッチ回路62を含む。
【0149】
ワンショットパルス発生回路61は、1クロック遅延回路60の出力信号の立上がりに応答してワンショットのパルス信号MRLTを生成する。したがって、モードレジスタセットコマンドが与えられて1クロックサイクル経過後に、このワンショットパルス信号MRLTが活性化される。
【0150】
ラッチ回路62は、リセット信号RSTを反転するインバータ62a、ワンショットパルス信号MRLTとリセット信号RSTとを受けるOR回路62bと、インバータ62aの出力信号とデータストローブ信号DQSとを受けるAND回路62cと、OR回路62bの出力信号がHレベルのとき活性化され、AND回路62cの出力信号を反転するトライステートインバータバッファ62eと、トライステートインバータバッファ62eの出力信号を反転するインバータ62fと、OR回路62bの出力信号を反転するインバータ62dと、インバータ62dの出力信号がHレベルのとき活性化され、インバータ62fの出力信号をインバータ62fの入力へ転送するトライステートインバータバッファ62gとを含む。インバータ62gの出力から位置情報が出力される。
【0151】
リセット信号RSTは、システムリセット時または電源投入時に活性化される。次に、この図16に示す位置情報生成回路の動作を、図17に示すタイミング図を参照して説明する。
【0152】
位置情報設定時においては、内部回路ノードの所定の初期化動作は、完了しており、このリセット信号RSTにより、位置情報PIは、Hレベルに初期設定される。リセット完了後は、リセット信号RSTはLレベルにある。ワンショットパルス発生回路61の出力するワンショットパルス信号MRLTが発生されるまで、OR回路62bの出力信号はLレベルであり、トライステートインバータバッファ62eは出力ハイインピーダンス状態のため、データストローブ信号DQSの伝達は、禁止され、トライステートインバータバッファ62gとインバータ62fとによって構成されるラッチ回路により、位置情報のHが保持される。
【0153】
モードレジスタセットコマンドが与えられると、コマンドデコーダ4は、所定期間モードレジスタ設定指示信号φMRSを活性状態に保持する。このモードレジスタ設定指示信号φMRSが、1クロック遅延回路60より、1クロックサイクル期間遅延されて出力される。このモードレジスタセットコマンドが与えられたクロックサイクルにおいては、ワンショットパルス信号MRLTは発生されていないため、ラッチ回路62においては、OR回路62bの出力信号がLレベルであり、トライステートインバータバッファ62eは、出力ハイインピーダンス状態にある。従って、AND回路62cの出力信号がデータストローブ信号DQSに従って変化しても、このラッチ回路62からの出力信号PIは変化しない。
【0154】
モードレジスタセットコマンドが与えられてから1クロックサイクルが経過すると、ワンショットパルス発生回路61が、1クロック遅延回路60の出力信号に従ってワンショットのパルス信号MRLTを発生する。ワンショットのパルス信号MRLTに従って、ラッチ回路62において、トライステートインバータバッファ62gは、非活性化されて出力ハイインピーダンス状態となり、ラッチ回路62のラッチ状態が開放される。
【0155】
また、このワンショットのパルス信号MRLTに従って、OR回路62bの出力信号がHレベルとなり、トライステートインバータバッファ62eが活性化され、位置情報PIが、AND回路62cの出力信号に従って変化する。すなわち、このクロック信号CLKの立上がり時におけるデータストローブ信号DQSがAND回路62cおよびトライステートインバータバッファ62eを介して取込まれ、位置情報PIが設定される。
【0156】
ワンショットパルス信号MRLTが、Lレベルに復帰すると、OR回路62bの出力信号がLレベルとなり、トライステートインバータバッファ62eが出力ハイインピーダンス状態となる。一方、トライステートインバータ62gが活性化され、インバータ62fとトライステートインバータバッファ62gによりラッチ回路が構成され、取込まれた位置情報PIがラッチされる。
【0157】
したがって、クロック信号CLKの立上がりエッジにおいて、データストローブ信号DQSがHレベルであれば、位置情報PIは、Lレベルとなる。一方、このクロック信号CLKの立上がりエッジにおいてデータストローブ信号DQSがLレベルであれば、位置情報PIはHレベルを維持する。
【0158】
したがって、図17に示すように、データストローブ信号DQSの遅延時間が短い場合(状態(I))、位置情報PIは、Lレベルに設定され(状態(I))、また、データストローブ信号DQSの遅延時間が長い場合(状態(II))、位置情報PIは、リセット状態のHレベルを維持する(状態(II))。
【0159】
メモリ個々において、遅延時間に応じて位置情報を設定することにより、システム構成が変わり、信号伝搬遅延が異なる場合においても、正確に、各メモリにおいて位置情報を設定することができる。
【0160】
また、このラッチ回路62が、モードレジスタ回路に含まれるモードレジスタの場合、コマンドCMDとして、このモードレジスタを特定するアドレス信号ビットAiを含ませて、このモードレジスタセットコマンドが与えられかつアドレス信号ビットAiがHレベルのときに、モードレジスタ設定指示信号φMRSが活性化される構成が用いられてもよい。この場合には、位置情報を設定するモード時においてのみモードレジスタ設定指示信号φMRSが活性化されるため、正確に位置情報を、他のレジスタ回路の記憶データに影響を及ぼすことなく取込みかつラッチすることができる。
【0161】
以上のように、この位置情報生成回路の構成3においては、位置情報を、特定の動作モード時において、特定のタイミング検出用の信号としてデータストローブ信号を用い、このデータストローブ信号DQSのクロック信号の立上がりエッジにおける論理レベルを判定して、位置情報を生成しており、各メモリの信号伝搬遅延に応じてメモリ個々に位置情報を生成することができ、コントローラの負荷が軽減される。
【0162】
また、システムバスの負荷が変更され、各メモリに対する信号/データのフライトタイムが変更される場合においても、正確に各メモリにおいて位置情報を設定することができる。また、システム拡張時においてメモリの数が変更される場合においても、各メモリにおいて正確に位置情報を生成することができる。
【0163】
なお、上述の説明においては、データストローブ信号DQSを、位置情報を生成するために用いている。しかしながら、このデータストローブ信号DQSに代えて、たとえば特定のデータビットが用いられてもよく、フライトタイムの影響が大きく現われる信号であればよい。
【0164】
[位置情報生成回路の構成4]
図18は、位置情報生成回路7の構成4に従うメモリの動作を示すタイミング図である。図18においては、メモリMD0−MD3における位置情報生成動作について示す。これらのメモリMD0−MD3は、コントローラに対しこの順に近く配置される。データ書込を示すライトコマンド(信号/WEのLレベルで示す)が与えられると、次のクロックサイクルにおいて、データストローブ信号DQSの論理レベルを識別し、その識別した論理レベルに従って位置情報を生成する。この生成された位置情報に従って、ラッチ転送指示信号ZLTTRが生成される。したがって、メモリMD0およびMD1においては、データ書込時、ライトコマンドが与えられて次のクロックサイクルにおけるクロック信号CLKの立上がりエッジにおいて、データストローブ信号DQSがHレベルであり、ラッチ転送指示信号ZLTTRが、そのクロックサイクルにおいてクロック信号CLKの立下がりに応答して生成される。
【0165】
一方、メモリMD2およびMD3においては、コントローラからの距離が遠いため、ライトコマンドが与えられてから、次のクロックサイクルにおいてクロック信号CLKの立上がりエッジにおいては、データストローブ信号DQSはLレベルである。したがって、ラッチ転送指示信号ZLTTRは、次のクロックサイクルにおいてクロック信号CLKの立上がりエッジに同期して生成される。
【0166】
この図18に示すように、データ書込時、常時、データストローブ信号の論理レベルを識別して、位置情報を生成することにより、システム負荷の変動に起因して、信号/データのフライトタイムが変化する場合においても正確に、内部書込データの生成を行なうことができる。
【0167】
図19は、位置情報生成回路7の変更例4の構成の一例を示す図である。図19において、位置情報生成回路7は、コマンドデコーダ4からの書込動作モード指示信号φwrをクロック信号CLKの1クロックサイクル期間遅延する1クロック遅延回路70と、1クロック遅延回路70の出力信号の立上がりに応答してワンショットのパルス信号を発生するワンショットパルス発生回路71と、ワンショットパルス発生回路71からのワンショットパルス信号WRLTに応答して、データストローブ信号を取込みラッチするラッチ回路72を含む。
【0168】
コマンドデコーダ4は、コマンドCMDがデータ書込を示すライトコマンドのとき(ライトイネーブル信号/WEがLレベルである状態を図18において代表的に示す)、クロック信号CLKの立上がりに応答して、書込動作モード指示信号φwrを活性化する。
【0169】
1クロック遅延回路70は、この書込動作モード指示信号φwrを1クロックサイクル遅延する。したがって、ライトコマンドが与えられてから次のクロックサイクルにおけるクロック信号CLKの立上がりに応答して、この1クロック遅延回路70の出力信号がHレベルに立上がる。
【0170】
ワンショットパルス発生回路71が、この1クロック遅延回路70の出力信号の立上がりに応答してワンショットパルスを発生するため、このワンショットパルス発生回路71からのワンショットパルス信号WRLTは、ライトコマンドが与えられた次のクロックサイクルにおいて発生される。
【0171】
ラッチ回路72は、ワンショットパルス発生回路71からのワンショットパルス信号WRLTを反転するインバータ72aと、このワンショットのパルス信号WRLTに応答して活性化され、活性化時データストローブ信号DQSを反転して出力するトライステートインバータバッファ72bと、トライステートインバータバッファ72aの出力信号を反転するインバータ72cと、インバータ72aの出力信号がHレベルのとき活性化され、活性化時インバータ72cの出力信号を反転してインバータ72cの入力へ転送するトライステートインバータバッファ72dとを含む。
【0172】
インバータ72cの入力に位置情報PIが生成され、この位置情報PIは、通常動作時、トライステートインバータバッファ72dにより駆動される。トライステートインバータバッファ72bおよび72dは、非活性化時出力ハイインピーダンス状態である。活性状態のトライステートインバータバッファ72dとインバータ72cとによりラッチ回路が形成される。次に、この図19に示す位置情報生成回路7の動作を、図20に示すタイミング図を参照して説明する。
【0173】
ライトコマンドが与えられると、クロック信号CLKの立上がりに同期して、書込動作モード指示信号φwrが活性化され、1クロック遅延回路70が、1クロックサイクル期間書込動作モード指示信号φwrを遅延する。したがって、次のクロックサイクルにおいてクロック信号CLKの立上がりに応答して、ワンショットパルス発生回路72からのワンショットパルス信号WRLTが活性化される。
【0174】
このワンショットパルス信号WRLTの発生に従って、ラッチ回路72においてトライステートインバータバッファ72bが活性化され、データストローブ信号DQSを反転して転送する。これにより、ラッチ回路72にデータストローブ信号DQSが取込まれ、位置情報PIが、この取込んだデータストローブ信号DQSに従って、その状態が決定される。
【0175】
このワンショットパルス信号WRLTがLレベルとなると、トライステートインバータバッファ72bが非活性化され出力ハイインピーダンス状態となり、一方、トライステートインバータバッファ72dが活性化されてインバータとして動作し、ラッチ回路72はラッチ状態となる。
【0176】
位置情報PIは、この取込んだデータストローブ信号DQSの反転信号である。位置情報PIがLレベルのときには、このクロックサイクルにおけるクロック信号CLKの立下がりに応答してラッチ転送指示信号ZLTTRが活性化され(状態(I))、一方、位置情報PIがHレベルのときには、次のクロックサイクルにおけるクロック信号CLKの立上がりに応答して、ラッチ転送指示信号ZLTTRが生成される(状態(II))。
【0177】
ライトコマンドが与えられると、書込動作モード指示信号φwrが再び活性化され、同様の動作が行なわれ、次のクロックサイクルにおいてデータストローブ信号DQSの論理レベルに従って位置情報が生成され、その生成された位置情報に従ってラッチ転送指示信号ZLTTRが生成される。
【0178】
したがって、このデータ書込毎に、常に位置情報を生成しており、動作環境に応じて正確に、データラッチ転送タイミングを調整することができ、正確に、内部書込データを転送することができる。
【0179】
以上のように、この発明の実施の形態1に従えば、メモリのコントローラに対する位置に応じて、データラッチ転送タイミングを調整しており、フライトタイムがメモリ毎に異なる場合においても、正確に内部書込データのラッチ転送を行なうことができる。
【0180】
[実施の形態2]
図21は、この発明の実施の形態2に従う入力制御回路8の構成を概略的に示す図である。図21に示す入力制御回路8においては、2ビットの位置情報に従って、ラッチ転送指示信号ZLTTRを生成する。図21において、入力制御回路8は、位置情報PI0に従ってクロック信号CLKを遅延する可変遅延回路80と、この可変遅延回路80の出力信号CLKDと位置情報PI1と書込活性化信号WRTとに従ってラッチ転送指示信号ZLTTRを生成するパルス発生回路82を含む。
【0181】
可変遅延回路80は、クロック信号CLK(内部クロック信号CLKi)を所定時間遅延する遅延回路80aと、位置情報PI0を反転するインバータ80bと、遅延回路80aの出力信号と位置情報PI0とを受けるNAND回路80cと、インバータ80bの出力信号とクロック信号CLKとを受けるNAND回路80dと、NAND回路80dおよび80cの出力信号を受けて出力信号CLKDを生成するNAND回路80eを含む。
【0182】
位置情報PI0がHレベルのときには、インバータ80bの出力信号がLレベルとなり、NAND回路80bの出力信号がHレベルに固定され、一方、NAND回路80cおよび80eがインバータとして動作し、クロック信号CLKを遅延して出力信号CLKDを生成する。
【0183】
位置情報PI0がLレベルのときには、NAND回路80cの出力信号がHレベルに固定され、インバータ80bの出力信号がHレベルとなる。したがって、この場合には、クロック信号CLKが、NAND回路80dおよび80eの有するゲート遅延だけ遅延されて出力される。
【0184】
パルス発生回路82は、可変遅延回路80の出力信号CLKDと位置情報PI1とを受けるEXNOR回路82aと、EXNOR回路82aの出力信号を反転しかつ所定時間遅延する反転遅延回路82bと、EXNOR回路82aの出力信号と反転遅延回路82bの出力信号と書込活性化信号WRDとを受けてラッチ転送指示信号ZLTTRを生成するNAND回路82cを含む。
【0185】
位置情報PI1がHレベルのときには、EXNOR回路82aが、バッファ回路として動作し、可変遅延回路80の出力信号CLKDに従って、その出力信号を生成する。一方、位置情報PI1がLレベルのときには、EXNOR回路82aはインバータとして動作し、可変遅延回路80の出力信号CLKDを反転する。
【0186】
反転遅延回路82bおよびNAND回路82cは、書込活性化信号WRTの活性化時、EXNOR回路82aの出力信号の立上がりに応答してワンショットのパルス信号を発生するワンショットパルス発生回路として動作する。したがって、このワンショットパルス発生回路82においては、位置情報PI1により、可変遅延回路80の出力信号CLKDの立上がりエッジおよびまたは立下がりエッジのいずれでワンショットパルスを発生するかを決定する。
【0187】
図22は、図21に示す入力制御回路8の動作を示すタイミング図である。以下、図22を参照して、図21に示す入力制御回路8の動作について説明する。
【0188】
(1) PI0=PI1=Lレベルのとき:
位置情報PI0およびPI1がともにLレベルに設定された場合には、可変遅延回路80は、クロック信号CLKに従って出力信号CLKDを生成し、また、パルス発生回路82は、この出力信号CLKDの立下がりに応答して、書込活性化信号WRTの活性化時ワンショットのパルス信号を生成する。
【0189】
したがって、ライトコマンドが、クロックサイクル♯0において与えられた場合、クロックサイクル♯1のクロック信号CLKの立下がりに応答して書込活性化信号WRTが活性化されると、このクロック信号CLKの立下がりに応答して、ラッチ転送指示信号ZLTTRが活性化される。このラッチ転送指示信号の活性化は、クロックサイクル♯1および♯2において行なわれる。ここでは、バースト長が4であり、書込活性化信号WRTが2クロックサイクル期間活性状態に保持される場合を想定している。
【0190】
(2) PI0=HレベルかつPI1=Lレベルのとき:
この状態においては、可変遅延回路80は、遅延回路80aの有する遅延時間τ(80a)だけ、クロック信号CLKを遅延して出力信号CLKDを生成している。ここで、ゲート遅延は無視している。パルス発生回路82は、可変遅延回路80の出力信号CLKDの立下がりに応答してワンショットのパルスを発生する。
【0191】
したがって、クロックサイクル♯0においてライトコマンドが与えられ、クロックサイクル♯1においてクロック信号CLKの立下がりに応答して書込活性化信号WRTが活性化されると、遅延回路80aの有する遅延時間τ(80a)経過後に、ラッチ転送指示信号ZLTTRが活性化される。クロックサイクル♯2においても、同様、クロック信号CLKの立下がりから、遅延時間τ(80a)経過後に、ラッチ転送指示信号ZLTTRが活性化される。
【0192】
(3) PI0=Lレベル、かつPI1=Hレベルのとき:
この状態においては、可変遅延回路80は、クロック信号CLKに従って出力信号CLKDを生成し、パルス発生回路82は、出力信号CLKDの立上がりに応答してワンショットのパルス信号を生成する。
【0193】
したがって、クロックサイクル♯0においてライトコマンドが与えられると、クロックサイクル♯1においてクロック信号CLKの立下がりに応答して書込活性化信号WRTが活性化されると、クロックサイクル♯2においてクロック信号CLKの立上がりに応答して、ラッチ転送指示信号が活性化される。バースト長が4であるため、次のクロックサイクル♯3においてもクロック信号CLKの立上がりに応答してラッチ転送指示信号ZLTTRが活性化される。
【0194】
(4) PI0=PI1=Hレベルのとき:
この状態においては、可変遅延回路80が、遅延回路80aが有する遅延時間τ(80a)だけクロック信号CLKを遅延して、出力信号CLKDを生成している。パルス発生回路82は、この出力信号CLKDの立上がりに応答してワンショットのパルス信号を生成する。
【0195】
したがって、ライトコマンドが、クロックサイクル♯0において与えられて、クロックサイクル♯1においてクロック信号CLKの立下がりに応答して書込活性化信号WRTが活性化されると、クロックサイクル♯2および♯3それぞれにおいて、クロック信号CLKが立上がってから、遅延時間τ(80a)が経過した後に、ラッチ転送指示信号ZLTTRが活性化される。
【0196】
メモリMD0−MD3それぞれの位置情報PI0およびPI1の値を変更することにより、内部でのラッチ転送指示信号ZLTTRが活性化されるタイミングを異ならせることができ、コントローラからの距離に応じてより細かく、メモリ内部でのラッチタイミングを調整することができる。したがって、クロック信号CLKがより高速のクロック信号となり、隣接メモリ間における信号/データのフライトタイムの時間差が大きく影響する場合においても、この2ビットのデータを利用して位置情報を生成して、遅延量を調整することにより、正確に内部データの書込タイミングを設定することができる。
【0197】
図23は、位置情報PI0およびPI1を生成する回路の構成の一例を示す図である。図23において、位置情報生成回路7は、モードレジスタ回路30に含まれるレジスタ回路RGiおよびRGjにより構成される。このモードレジスタ回路内のレジスタ回路RGiおよびRGjに、モードレジスタセットコマンドに従ってそれぞれの記憶データを設定することにより、位置情報PI0およびPI1を生成する。
【0198】
モードレジスタセットコマンドは、コントローラから与えられ、図11に示すテーブルメモリ31に、各メモリ番号に対応して、2ビットの位置情報を記憶し、各メモリに対し、初期化シーケンス時において、位置情報PI0およびPI1を設定する。このときの初期化シーケンスの動作は、図12に示すフロー図と同じである。したがって、このモードレジスタ回路30を利用することにより、コントローラの制御の下に、正確に、メモリの位置に応じた位置情報を設定することができる。
【0199】
図24は、多ビット位置情報を生成する位置情報生成回路7の変更例を概略的に示す図である。図24においては、外部端子55aおよび55bを介して、位置情報PI0およびPI1が与えられる。すなわち、この図24に示す構成においては、図14に示すように、メモリモジュールとしてマザーボード実装時において、これらの位置情報設定端子55aおよび55bが、ボード上電源線およびボード上接地線に、その位置に応じて接続される。そのマザーボード実装時において、ソケットは、固定的にボード上に実装されているため、各ソケットの位置情報設定端子を、予めこのソケットの実装位置に応じて接地線および電源線に接続しておくことにより、メモリモジュール実装時、ソケットに挿入するだけで、各メモリの位置情報を設定することができる。
【0200】
なお、上述の説明においては、位置情報として、2ビットの位置情報が用いられている。しかしながら、この位置情報は、さらに3ビットまたは4ビットのように、さらに多ビットの位置情報が用いられてもよい。モードレジスタセットモードで、専用のレジスタ回路に、この多ビット位置情報を設定する構成が利用されればよい。
【0201】
以上のように、この発明の実施の形態2に従えば、多ビット位置情報を設定しており、メモリ個々に、そのラッチ転送指示信号活性化タイミングを設定することができ、正確に、内部書込データを生成することができる。したがって、外部クロック信号の周期は、データバスのフライトタイムと同程度またはより短い超高速バスシステムにおいても、正確にデータの取込を行なって、内部書込データを生成することができ、安定なメモリ動作を保証することができる。
【0202】
また、実施の形態1および2においても、データラッチ転送指示信号に従って、内部書込データ転送を行なっており、メモリ位置に応じて、そのラッチ転送指示信号活性化タイミングが調整されており、データストローブ信号DQSのプリアンブルを特に1サイクル長く設けて、データ書込タイミングを知らせる必要がなく、連続して、異なるメモリに対し、各クロックサイクル毎にデータライト動作を行なうことができる(データストローブ信号のプリアンブルを、各異なるメモリに対して、転送する必要がないため)。
【0203】
上述の説明においては、DDRモードクロック同期型半導体記憶装置における内部でシリアル/パラレル変換する回路においてパラレルデータを生成する回路部分に対するラッチ転送指示信号を生成している。しかしながら、クロック信号の立上がりエッジまたは立下がりエッジでデータの転送を行なうシングル・データ・レートモードで動作するSDRメモリにおいても、バースト長モードでデータの書込が行なわれる場合において、データの取込および内部書込データの生成を行なう回路部分に、上述のラッチ転送指示信号を与えることにより、正確に、高速クロック信号に同期して内部書込データをメモリ位置にかかわらず生成することができる。
【0204】
すなわち、SDRメモリのデータ書込時においても、内部書込データが内部クロック信号に従って転送されており、ライトドライバの活性化タイミングを、このラッチ転送指示信号に従って調整することにより、正確に、高速クロック時においても、データの書込を行なうことができる。
【0205】
【発明の効果】
以上のように、この発明に従えば、メモリ位置に応じて、内部書込データを生成するタイミングをメモリの位置情報に応じて調整するように構成しており、信号/データのフライトタイムがクロック信号のサイクル時間と同程度となった場合においても、正確に、内部書込データを生成することができ、メモリの安定な動作を保証することができる。
【0206】
すなわち、コントローラを基準とする位置を示す位置情報を生成する位置情報生成回路からの位置情報とコントローラから与えられる書込指示信号に従って、このコントローラから与えられるデータを取込むタイミングを調整してデータ取込指示信号を生成し、このデータ取込指示信号に従って外部データに対応する内部データを生成することにより、コントローラからの位置にかかわらず、データ取込タイミングをその位置情報において調整することができ、正確に、内部書込データを生成することができる。
【0207】
位置情報は、コントローラからモード指示信号に従って内部のレジスタ回路に設定することにより、正確にかつ容易に、半導体記憶装置内に位置情報をメモリ位置に応じて設定することができる。
【0208】
また、これに代えて、位置情報を、予め定められた端子に外部から固定的に与えることにより、位置情報設定シーケンスが不要となり、また容易に位置情報を設定することができる。また、半導体記憶装置内において位置情報を格納するレジスタ回路も不要となり、回路占有面積を低減することができる。
【0209】
また、コントローラから与えられるデータ取込タイミング信号とクロック信号との位相関係からこの位相情報を生成することにより、メモリの実際の動作環境に応じて正確に、データ取込指示信号を生成することができる。
【0210】
また、クロック信号の変化点におけるデータ取込タイミング信号の論理レベルに従って位置情報を生成することにより、簡易な回路構成で確実に、位置情報をこのデータ/信号のフライトタイムに応じて生成することができる。
【0211】
この位相関係検出をコントローラからのモード指示信号に従って行って、検出結果をレジスタ回路等に保持することにより、初期設定時などにおいて正確に位置情報を設定することができる。システム拡張時などにおいて、フライトタイムが変化する場合においても、コントローラの負荷を増加させることなく正確に各メモリの位置情報を生成して内部データのラッチ転送を行うことができる。
【0212】
また、これに代えて、情報の検出をデータアクセス指示が行われるとき、特にデータ書込が行われるときに、あわせて行うことにより、動作パラメータの変動などによりフライトタイムが変化した場合においても正確に位置情報を生成する。
【0213】
また、位置情報を、半導体記憶装置が同期動作するクロック信号の遅延量を設定する信号で構成することにより、コントローラからの距離に応じて正確にデータ取込みを行うタイミングを調整することができ、コントローラに対する位置に係らずに正確に内部データを転送することができる。
【0214】
この遅延量設定データをコントローラからのデータに従って生成することにより、正確にメモリのコントローラに対する位置に応じてクロック信号の遅延量を設定することができる。
【0215】
また、この遅延量を所定の端子の電圧に従って生成することにより、遅延量設定のシーケンスが不要となり、容易にメモリ位置に応じてクロック信号の遅延量を小占有面積で設定することができる。
【0216】
また、この遅延量に従ってクロック信号を遅延することにより、データ取込指示信号を正確にメモリ位置に応じたタイミングで生成することができる。
【0217】
また、位置情報を、半導体記憶装置が同期動作するクロック信号のエッジ選択信号で構成することにより、フライトタイムの長いデータに対しても正確に内部で取込んで内部データを生成することができる。
【0218】
また、エッジ選択信号をコントローラからのエッジ指定データを格納して生成することにより、正確にメモリ位置に応じた取込タイミングを設定することができる。
【0219】
また、エッジ選択信号を、所定の端子の電圧で生成することにより、エッジ選択信号を生成するためのシーケンスが不要となり、容易にエッジ選択信号を生成することができる。
【0220】
また、データ取込タイミングを、指定されたクロック信号のエッジに従って生成することにより正確にメモリ位置に応じてデータの取込転送を行うことができる。
【0221】
また、データ取込み指示信号を、クロック信号の遅延量を設定する遅延量設定信号に従ってクロック信号を遅延する遅延回路と、このクロック信号のエッジの立上がりエッジおよび立下がりエッジのいずれを選択するかを指定する信号に従ってクロック信号のエッジを選択する回路により生成することにより、高速クロック信号により、フライトタイムの影響が、隣接メモリ間においても大きく現れる場合においても、半導体記憶装置において正確に、コントローラから位置に応じた位置情報を生成して、正確にデータ取込を行なうことができる。
【0222】
また、このデータ取込指示信号を、クロック信号を遅延量設定回路により設定された遅延量だけ遅延して出力し、かつエッジ選択信号により生成されたエッジとデータ書込モード指示信号とに従って取込指示信号を生成することにより、正確にデータ書込時においてのみ遅延量およびエッジ選択の位置情報に応じたデータ取込指示信号を生成することができる。
【0223】
また、遅延量設定信号およびエッジ選択信号を、それぞれ、コントローラから与えられる遅延量設定データおよびエッジ選択データにより設定することにより、簡易な回路構成で確実に、これらの遅延量設定データおよびエッジ選択信号を生成することができる。
【0224】
また、これらのエッジ選択信号および遅延量設定信号を、所定の端子に固定的に与えられる信号に従って生成することにより、簡易な回路構成で確実に、遅延量設定信号およびエッジ選択信号を生成することができる。また、これらの信号を格納するためのレジスタ回路が特別に要求されないため、回路占有面積を低減することができる。
【0225】
また、入力回路においては、クロック信号の立上がりエッジおよび立下がりエッジに同期してデータを受けており、DDRモードにおいて、内部でデータの直列/並列変換を行なう場合に、正確に、書込指示信号に従って与えられたデータの取込を行って内部データの転送を行なうことができる。
【0226】
また、書込回路が、このデータ取込指示信号に従って直列/並列変換回路の出力データを同時に転送して内部書込データを生成することにより、内部で、並列書込データを正確に、転送することができる。
【0227】
また、クロック信号は、コントローラとは別に配置されたクロック発生回路から発生する場合、このクロック信号に対するフライトタイムの影響が大きい場合においても、正確に、半導体記憶装置内でデータ取込タイミングをコントローラからの指示に応じて調整することができ、コントローラの負荷を増大させることなく、クロック信号を各半導体記憶装置に転送して、各半導体記憶装置内において正確なデータの取込および内部書込データの生成を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明に従う半導体記憶装置の全体の構成を概略的に示す図である。
【図2】 この発明におけるフライトタイムと位置情報との対応関係を概略的に示す図である。
【図3】 この発明に従う半導体記憶装置の動作を示すタイミング図である。
【図4】 図1に示す入力制御回路の構成の一例を示す図である。
【図5】 図4に示す入力制御回路の動作を示すタイミング図である。
【図6】 図4に示す入力制御回路の動作を示すタイミング図である。
【図7】 図1に示すバースト長カウンタの構成の一例を示す図である。
【図8】 図7に示すバースト長カウンタの動作を示すタイミング図である。
【図9】 図1に示す位置情報生成回路の構成の一例を示す図である。
【図10】 図9に示す位置情報生成回路への位置情報設定動作タイミングを示す図である。
【図11】 コントローラの要部の構成を概略的に示す図である。
【図12】 図11に示すコントローラの初期化シーケンスの動作フローを示す図である。
【図13】 図4に示す入力制御回路の変更例を示す図である。
【図14】 図1に示す位置情報生成回路の他の構成を概略的に示す図である。
【図15】 図1に示す位置情報生成回路の他の構成の動作を示すタイミング図である。
【図16】 図15に示す動作を実現する位置情報生成回路の構成の一例を示す図である。
【図17】 図16に示す位置情報生成回路の動作を示すタイミング図である。
【図18】 図1に示す位置情報生成回路のその他の構成の動作を示すタイミング図である。
【図19】 図18に示す動作タイミングを実現する位置情報生成回路の構成の一例を示す図である。
【図20】 図19に示す位置情報生成回路の動作を示すタイミング図である。
【図21】 図1に示す入力制御回路の他の構成を示す図である。
【図22】 図21に示す入力制御回路の動作を示すタイミング図である。
【図23】 図21に示す位置情報を生成する回路の構成の一例を示す図である。
【図24】 図21に示す位置情報を生成する回路の他の構成を概略的に示す図である。
【図25】 従来の半導体記憶装置の全体の構成を概略的に示す図である。
【図26】 図25に示す入出力回路の入力部の構成を概略的に示す図である。
【図27】 図26に示す入力回路の動作を示すタイミング図である。
【図28】 従来の半導体記憶装置を用いた処理システムの構成の一例を示す図である。
【図29】 図28に示す処理システムの動作を示すタイミング図である。
【図30】 従来の半導体記憶装置のフライトタイムの問題点を説明するためのタイミング図である。
【図31】 従来の半導体記憶装置の問題点を説明するためのタイミング図である。
【図32】 従来の半導体記憶装置におけるデータストローブ信号の波形を概略的に示す図である。
【符号の説明】
1 メモリアレイ、2 列選択回路、3 書込回路、4 コマンドデコーダ、5 バースト長カウンタ、6 書込制御回路、7 位置情報生成回路、8 入力制御回路、9 入力回路、CTL コントローラ、MD0−MD3 メモリ、11 レジスタ、12 EXNOR回路、13 反転遅延回路、14 NAND回路、50 マザーボード、51 ボード上接地線、52 ボード上電源線、55,55a,55b 位置情報設定端子、62 ラッチ回路、72 ラッチ回路、30 モードレジスタ回路、RGi,RGj レジスタ回路、80 可変遅延回路、82 パルス発生回路。
Claims (9)
- コントローラからの制御信号に従って動作する半導体記憶装置であって、
前記コントローラを基準とする位置を示す位置情報を生成する位置情報生成回路と、
前記位置情報生成回路から生成された位置情報と前記コントローラから与えられる書込指示信号とに従って、前記コントローラから与えられるデータに対応する内部データを生成するタイミングを調整してラッチ転送指示信号を生成するラッチ転送指示信号生成回路と、
前記ラッチ転送指示信号に従って、前記コントローラから与えられるデータに対応する内部データを生成する書込回路と、を備え、
当該半導体記憶装置は、クロック信号に同期して動作し、
前記位置情報生成回路は、少なくとも、前記コントローラから与えられるデータストローブ信号と前記クロック信号との位相関係に基づいて前記位置情報を生成する、半導体記憶装置。 - コントローラからの制御信号に従って動作する半導体記憶装置であって、
前記コントローラを基準とする位置を示す位置情報を生成する位置情報生成回路と、
前記位置情報生成回路から生成された位置情報と前記コントローラから与えられる書込指示信号とに従って、前記コントローラから与えられるデータに対応する内部データを生成するタイミングを調整してラッチ転送指示信号を生成するラッチ転送指示信号生成回路と、
前記ラッチ転送指示信号に従って、前記コントローラから与えられるデータに対応する内部データを生成する書込回路と、を備え、
当該半導体記憶装置は、クロック信号に同期して動作し、
前記位置情報生成回路は、少なくとも、前記クロック信号の変化点における、前記コントローラから与えられるデータストローブ信号の論理レベルに基づいて前記位置情報を生成する、半導体記憶装置。 - 前記位置情報生成回路は、前記コントローラからのモードレジスタセットコマンドに応答して、前記クロック信号に同期して前記コントローラから与えられる前記データストローブ信号を取込み、該取込んだデータストローブ信号に従って前記位置情報を生成する、請求項1又は2記載の半導体記憶装置。
- 前記位置情報生成回路は、前記コントローラから与えられるライトコマンドに応答して、前記コントローラから与えられる前記データストローブ信号を前記クロック信号に同期して取込み、該取り込んだデータストローブ信号に従って前記位置情報を生成する、請求項1又は2記載の半導体記憶装置。
- 前記位置情報生成回路は、前記位置情報として、前記クロック信号の立上りエッジおよび立下りエッジのいずれを選択するかを指定するエッジ選択信号を生成する、請求項1又は2記載の半導体記憶装置。
- 前記ラッチ転送指示信号生成回路は、前記エッジ選択信号に従って、前記クロック信号の応答すべきエッジを選択する回路を含む、請求項5記載の半導体記憶装置。
- 前記半導体記憶装置は、クロック信号の立上がりエッジおよび立下がりエッジに同期して前記コントローラから与えられたデータを受ける入力回路をさらに備える、請求項1又は2記載の半導体記憶装置。
- 前記入力回路は、前記コントローラからのデータストローブ信号に応答して、前記コントローラからシリアルに与えられたデータを交互に取込む直列/並列変換回路を備え、前記書込回路は、前記ラッチ転送指示信号に応答して、前記直列/並列変換回路の出力データを同時に転送して前記内部書込データを生成する、請求項7記載の半導体記憶装置。
- 前記クロック信号は、前記コントローラと別に配置されたクロック発生回路から発生される、請求項1から8のいずれかに記載の半導体記憶装置。
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KR100554845B1 (ko) * | 2003-12-15 | 2006-03-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자의 dqs 신호 생성 회로 및 그 생성 방법 |
JP2006053981A (ja) * | 2004-08-11 | 2006-02-23 | Fujitsu Ltd | 記憶装置、記憶装置リード方法 |
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KR100608372B1 (ko) * | 2004-12-03 | 2006-08-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법 |
US7280417B2 (en) * | 2005-04-26 | 2007-10-09 | Micron Technology, Inc. | System and method for capturing data signals using a data strobe signal |
US7215584B2 (en) * | 2005-07-01 | 2007-05-08 | Lsi Logic Corporation | Method and/or apparatus for training DQS strobe gating |
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US7355920B2 (en) * | 2006-02-16 | 2008-04-08 | Micron Technology, Inc. | Write latency tracking using a delay lock loop in a synchronous DRAM |
US7908507B2 (en) * | 2006-02-28 | 2011-03-15 | Fujitsu Semiconductor Limited | Apparatus and method for masking input of invalid data strobe signal |
TWI302318B (en) * | 2006-09-06 | 2008-10-21 | Nanya Technology Corp | Memory control circuit and method |
US7802166B2 (en) | 2006-09-27 | 2010-09-21 | Qimonda Ag | Memory controller, memory circuit and memory system with a memory controller and a memory circuit |
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KR101009336B1 (ko) * | 2008-12-31 | 2011-01-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법 |
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JP3832947B2 (ja) * | 1997-11-14 | 2006-10-11 | 富士通株式会社 | データ転送メモリ装置 |
US5889726A (en) * | 1997-11-17 | 1999-03-30 | Micron Electronics, Inc. | Apparatus for providing additional latency for synchronously accessed memory |
JP3789222B2 (ja) * | 1998-01-16 | 2006-06-21 | 富士通株式会社 | Dll回路及びそれを内蔵するメモリデバイス |
KR100400311B1 (ko) * | 2001-06-29 | 2003-10-01 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자의 신호 지연 제어 장치 |
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