JP5301285B2 - 集束型質量分析計イオンガイド、分光計および方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title description 11
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 349
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims abstract description 61
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 10
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 7
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 claims description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 29
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 16
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 15
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 10
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 10
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 8
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 6
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 description 6
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 description 5
- 238000000534 ion trap mass spectrometry Methods 0.000 description 5
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 5
- 230000000153 supplemental effect Effects 0.000 description 5
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 4
- 230000005405 multipole Effects 0.000 description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 4
- 239000012491 analyte Substances 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 238000000065 atmospheric pressure chemical ionisation Methods 0.000 description 3
- 238000000816 matrix-assisted laser desorption--ionisation Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000000451 chemical ionisation Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000752 ionisation method Methods 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 102100022704 Amyloid-beta precursor protein Human genes 0.000 description 1
- 101000823051 Homo sapiens Amyloid-beta precursor protein Proteins 0.000 description 1
- DZHSAHHDTRWUTF-SIQRNXPUSA-N amyloid-beta polypeptide 42 Chemical compound C([C@@H](C(=O)N[C@@H](C)C(=O)N[C@@H](CCC(O)=O)C(=O)N[C@@H](CC(O)=O)C(=O)N[C@H](C(=O)NCC(=O)N[C@@H](CO)C(=O)N[C@@H](CC(N)=O)C(=O)N[C@@H](CCCCN)C(=O)NCC(=O)N[C@@H](C)C(=O)N[C@H](C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)CC)C(=O)NCC(=O)N[C@@H](CC(C)C)C(=O)N[C@@H](CCSC)C(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)NCC(=O)NCC(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)CC)C(=O)N[C@@H](C)C(O)=O)[C@@H](C)CC)C(C)C)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC=CC=1)NC(=O)[C@@H](NC(=O)[C@H](CC(C)C)NC(=O)[C@H](CCCCN)NC(=O)[C@H](CCC(N)=O)NC(=O)[C@H](CC=1N=CNC=1)NC(=O)[C@H](CC=1N=CNC=1)NC(=O)[C@@H](NC(=O)[C@H](CCC(O)=O)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC(O)=CC=1)NC(=O)CNC(=O)[C@H](CO)NC(=O)[C@H](CC(O)=O)NC(=O)[C@H](CC=1N=CNC=1)NC(=O)[C@H](CCCNC(N)=N)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC=CC=1)NC(=O)[C@H](CCC(O)=O)NC(=O)[C@H](C)NC(=O)[C@@H](N)CC(O)=O)C(C)C)C(C)C)C1=CC=CC=C1 DZHSAHHDTRWUTF-SIQRNXPUSA-N 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 150000001793 charged compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000001360 collision-induced dissociation Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 238000002330 electrospray ionisation mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000010265 fast atom bombardment Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000000615 nonconductor Substances 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 108090000765 processed proteins & peptides Proteins 0.000 description 1
- 238000005173 quadrupole mass spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000004451 qualitative analysis Methods 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 238000010187 selection method Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
- H01J49/065—Ion guides having stacked electrodes, e.g. ring stack, plate stack
- H01J49/066—Ion funnels
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
- H01J49/063—Multipole ion guides, e.g. quadrupoles, hexapoles
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- H—ELECTRICITY
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- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
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Description
本発明は概して、質量分析法に関し、さらに詳細には質量分析計に用いられるイオンガイドに関する。
質量分析法は、未知の化合物を識別し、公知の化合物の正確な質量を決定するための効果的な分析技術であることが証明されている。有利なことに、化合物を微量で検出または分析することができ、これによって化合物を化学的複合混合物においてきわめて低濃度で識別することができる。驚くほどのことではないが、質量分析法は、医学、薬学、食品科学、半導体製造、環境科学、セキュリティおよび他の多くの分野において実用的な用途を見出している。
したがって、本発明の目的は、効率的に捕捉しかつガスに同伴されるイオンの広い直径のビームの半径を低減する、より高感度の集束型イオンガイドを提供することである。
図1は、本発明の態様の例示としてのイオンガイド12を含む例示的な質量分析計10を示す。図示されているように、質量分析計10は、オリフィス78を通じて低圧境界16にイオンを供給するイオン源14を含む。低圧境界16は、オリフィス80によってイオンガイド12にイオンを供給する。排出されるイオンおよび他の粒子は、オリフィス86によって4極子質量フィルタ20aおよび20bおよび加圧衝突セル21を含む分析器領域18に供給される。質量フィルタ20bを出たイオンは、イオン検出器22に衝突する。
式中、φoは、印加される時間に独立な電圧であり、
であり、nは、ロッド対の数である(Gerlich, Inhomogeneous Rf-Fields - A Versatile Tool For The Study Of Processes With Slow Ions, Advances In Chemical Physics 82: 1-176 1992によって説明されている)。一般にイオンガイドは、半径rの丸いロッドから構成される。式(1)を近似するために、丸い断面を有する2n個の等しく分離されたロッドセグメントの場合には、外接半径Riに対するロッドの半径riの関係は、1次に対して、以下のように与えられる。
その結果、n=2の場合には、Ri〜riであり、n=3の場合には、Ri〜2riであり、n=4の場合には、Ri〜3riなどとなる。4極子イオンガイドの場合には、ri/Riが、たとえば、1.148として計算され、電界の歪みを最小限に抑え、実質的に4極電界を提供する(「Quadrupole Mass Spectrometry and its Applications」、(1995)Peter H. Dawson, ed., American Institute of Physics Press, Woodbury, New York, NY,1995, p.129に記載されている)。実際には、比は、所望の性能特性を達成するために、実験的に調整されることができる。
Ubは、DC電圧であり、VaccosΩtは、Dawson(前記)によって定義されるx軸およびy軸に沿った半径方向の偏位を有する角周波数Ω=2πfで振動する振幅VacのRF電圧である。通常、φは、4個のロッドに印加され、その結果、一方の対向する対のロッドは、DC電圧Ubおよび振幅VacのRF電圧を受信し、他方の対のロッドは、対向する極性の電圧-Ubおよび振幅VacのRFの対向する位相を受信する。次に、任意の段34に関して軸38に沿ったイオンの移動の式は、Mathieuの式を用いて分析的に解かれることができ、イオンは、質量対電荷量比に基づいて、効率的に伝達、放出または分離されることができ、それによって、m/z選択可能性を提供する。
式中、m/zは、イオンの質量対電荷量比であり、Riは、ロッドの外接半径である。4極子イオンガイドの電位が式(3)および(4)によって記載される限り、特定のm/zのイオンがイオンガイド12の各段34のロッドセグメント36間を通過するかどうかは、式(5)および(6)のそれぞれのaおよびqによって主に決定される。ロッド間を通過するイオンは、安定であることを示している。
ウェルは、より小さいRi、より大きいRF電圧Vacおよびより高いRF周波数Ωの場合により深くなる。分解DCの振幅Ub-iのほか、空間電荷は、ウェル深さ<D>を減少させる傾向がある。多極子に関する完全な表現はまた、Gerlichによって与えられるUb-lの影響を含む。イオンがより低圧の第2の領域13を通じてバックグラウンドガスとの接触を受けるときには、イオンは、バックグラウンドガスによって運動量移行を受ける。イオンの並進エネルギを低減するそれらの衝突は、イオン移動の全体的な振幅を低減するように機能し、軸38付近のイオンを閉じ込め、それによって、イオンビームの半径をさらに減少させる。Ri、VacおよびΩを調整することによって、ウェル深さを増大させることは、軸38付近のさらなる集束化を促進する。
式中、βlは、質量対電荷量比iのイオンの安定度係数(βx<1およびβy>0内のイオンのみが安定である)であり、Ωは、半径方向の周波数2πfである。イオン基本周波数βx、βyは、β<0.6の場合に近似されることができるが、aおよびqにおける級数展開によって与えられている。
となり、式中、
であり、VnおよびCnはそれぞれ、セグメントnとn-1との間の電圧および静電容量であり、Cnは、セグメントnに関するロッドの静電容量である。DC電圧源160は、図示されるように分離抵抗器130〜136を介して供給されることができ、または各セグメントに関して独立に駆動されることができ、または両方の手法の組み合わせを用いることができる。
であり、式中、Eは電界強度であり、Pはバッファガスの圧力であり、Lはイオンガイドのゲート段と出口段34-nの出口との距離であり、Tはバッファガスの温度であり、K0は、
であり、式中、zeはイオンの電荷であり、kbはボルツマン定数であり、mIおよびmBはイオンおよびバッファガスの質量であり、Nはバッファガスの数密度である。間隙50は、各段34の間の最小縞電界歪み(minimum fringe field distortion)を提供する。イオンガイド12の幾何構成は、間隙50を含み、定数ri/Riは、十分に画定された1/Eを提供し、それによって、十分に画定されたtdおよび衝突断面Ω'の潜在的に正確な尺度を得ることが可能となる。
Claims (58)
- ガイド軸に沿って延びるn段を含むイオンガイドであって、
該n段のそれぞれが、該ガイド軸を中心として配置される複数の対向する細長い導電ロッドセグメントを含み、
該n段のうちi番目の該細長い導電ロッドセグメントのそれぞれが、長さli、断面半径riおよび該ガイド軸から距離Ri+riに位置する中心軸を有し、
電圧源が、該段のそれぞれの該複数の対向する細長い導電ロッドセグメントのうちの2つの隣接する導電ロッドセグメントの間にAC成分を有する電圧を提供し、該ガイド軸に沿ってイオンを導くために交流電界を生成し、
ri/Riが、該ガイド軸に沿って実質的に一定であり、該段のうちの少なくとも2つの段に関してはRiが異なる、イオンガイド。 - n段のそれぞれに関して、Ri+1≦Riである、請求項1記載のイオンガイド。
- 電圧源が、段のそれぞれにおいて、対向する細長い導電ロッドセグメントにDC分解電位をさらに提供する、請求項2記載のイオンガイド。
- 電圧源が、対向する細長い導電ロッドセグメント間に大きさ2Ub-iのDC成分をさらに提供する、請求項3記載のイオンガイド。
- 電圧源が、少なくとも1組の隣接するn段の間にDC成分Uc-iをさらに提供する、請求項1記載のイオンガイド。
- DC成分Uc-iが、ガイド軸に沿ってDC電界を提供する、請求項5記載のイオンガイド。
- n段のうち少なくとも1つの段に関してUc-iが、該n段のうちの該段においてイオンを捕捉するために、ガイド軸に沿って導かれる該イオンのエネルギを超える、請求項5記載のイオンガイド。
- n段のうちn番目の段に関してUc-iが、該n段のうちの該n番目の段の付近でイオンを捕捉するために、ガイド軸に沿って導かれる該イオンのエネルギを超える、請求項5記載のイオンガイド。
- n段のうち(n-1)番目の段に関してUciが、該n段のうちの該(n-1)番目の段の付近でイオンを捕捉するために、ガイド軸に沿って導かれる該イオンのエネルギを超える、請求項5記載のイオンガイド。
- AC成分が、n段のそれぞれのうちi番目のそれぞれに関して周波数Ωiおよび振幅Vac-iを有する、請求項1記載のイオンガイド。
- n段のうち少なくとも2つに関してVac-iが異なる、請求項10記載のイオンガイド。
- n段のうち少なくとも2つに関してΩiが異なる、請求項10記載のイオンガイド。
- 質量対電荷量比m/zの各イオンに関して、q=zVac-i/mri 2Ωi 2が、n段のすべてに関して実質的に一定である、請求項12記載のイオンガイド。
- 電圧源が、n段のそれぞれのうちi番目の複数の対向する細長いロッドの間に周波数ω'iを有する少なくとも1つの追加AC成分をさらに提供する、請求項1記載のイオンガイド。
- n段のそれぞれが、2対の対向する細長いロッドを含み、実質的に4極性の電界を生成する、請求項1記載のイオンガイド。
- n段のそれぞれに関してri/Riが1.12〜1.15である、請求項15記載のイオンガイド。
- liのそれぞれが1cmより大きい、請求項1記載のイオンガイド。
- li>li+1である、請求項1記載のイオンガイド。
- n段のそれぞれの隣接する段のロッドが、ガイド軸に沿って少なくとも1mmの間隙によって分離される、請求項1記載のイオンガイド。
- 電圧源が、複数の直列相互接続されるコンデンサを含み、n段のそれぞれのロッドに対する電圧が、該直列コンデンサのうちの2つの間から提供される、請求項1記載のイオンガイド。
- 電圧源が、直列相互接続されるコンデンサの1つとそれぞれが並列に相互接続される、複数の抵抗器をさらに含む、請求項20記載のイオンガイド。
- n段のうち第1の段が、第1の圧力の領域から延び、該n段のうちn番目の段が、第2の圧力の領域へと延び、該第2の圧力が、該第1の圧力より大きい、請求項1記載のイオンガイド。
- n個のセグメントのうち第1のセグメントが、第1の圧力の領域から延びるよう導き、該n個のセグメントのうちn番目のセグメントが、第2の圧力の領域へと導き、該第1の圧力が、該第2の圧力より大きい、請求項1記載のイオンガイド。
- Riが、各段に関して入口から出口まで減少する、請求項1記載のイオンガイド。
- 請求項1記載のイオンガイドを備える、質量分析計。
- 少なくとも3つのn段に関してRiが異なる、請求項1記載のイオンガイド。
- n段のうちの少なくとも1つの段が、2対の対向する細長いロッドを含み、実質的に4極性の電界を生成する、請求項1記載のイオンガイド。
- n段のそれぞれの少なくとも1つの段に関してri/Riが1.12〜1.15である、請求項27記載のイオンガイド。
- n段の少なくとも1つの段が、3対の対向する細長いロッドを含む、請求項1記載のイオンガイド。
- n段の少なくとも1つの段が、4対の対向する細長いロッドを含む、請求項1記載のイオンガイド。
- n段の少なくとも1つの段が、5対またはそれ以上の対向する細長いロッドを含む、請求項1記載のイオンガイド。
- n段のそれぞれの隣接する段のロッドが、ガイド軸に沿って1〜3mmの間隙によって分離される、請求項1記載のイオンガイド。
- n段の少なくとも2つに関してri/Riが一定である、請求項1記載のイオンガイド。
- 請求項1記載のイオンガイドを備える、質量分析計。
- liの少なくとも1つがli+1より大きい、請求項1記載のイオンガイド。
- その間に交流電界を生成するための、ガイド軸を中心として配置される少なくとも部分的に導電性の複数の対向する細長いロッドセグメントを含むイオンガイドであって、
該細長いロッドセグメントのそれぞれが、半径r(x)を有する実質的に円形の断面を有し、該ガイド軸から位置r(x)+R(x)で中心に置かれ、xは、該ガイド軸に沿った位置xを表し、r(x)/R(x)は、該ガイド軸に沿ったxの値に関して実質的に一定であり、かつ少なくともr(x)とR(x)のうちの1つが、該ガイド軸に沿って一定ではない、
イオンガイド。 - 細長いロッドセグメントと相互に接続されて交流電界を生成するAC電圧源をさらに含む、請求項36記載のイオンガイド。
- AC電圧源が、対向するロッドセグメント対の間にAC電圧を印加する、請求項37記載のイオンガイド。
- 細長い導電ロッドが、ガイドの開口部および出口を画定し、該出口でイオンを捕捉するために捕捉レンズをさらに含む、請求項36記載のイオンガイド。
- 捕捉レンズが開口部プレートを含む、請求項39記載のイオンガイド。
- 捕捉レンズが少なくとも1対の対向するロッドを含む、請求項40記載のイオンガイド。
- R(x)がガイド軸に沿って線形に減少する、請求項36記載のガイド。
- 細長い導電ロッドが、ガイド軸に沿ってより高圧の領域からより低圧の領域まで延びる、請求項36記載のイオンガイド。
- イオンガイドが、軸に沿って実質的に4極性の電界を生成するように配置された、少なくとも部分的に導電性の2対の複数の対向する細長いロッドセグメントを含む、請求項36記載のイオンガイド。
- 電圧源が、複数の対抗する細長いロッドの間に大きさU(x)のDC成分をさらに提供する、請求項36記載のイオンガイド。
- AC電圧源が、Ωの周波数の成分を有するAC電圧を生成する、請求項37記載のイオンガイド。
- AC電圧源が、可変振幅のAC電圧を提供するように変更されてもよい、請求項37記載のイオンガイド。
- AC電圧源が調節可能な周波数のAC電圧を提供する、請求項37記載のイオンガイド。
- 電圧源が、複数の対向する細長いロッド間で周波数ωiを有する少なくとも1つの追加AC成分をさらに提供する、請求項38記載のイオンガイド。
- 請求項36記載のイオンガイドを備える、質量分析計。
- n段のそれぞれが、ガイド軸に沿って少なくとも実質的に4極性の電界を生成するように配置される2対の細長い導電ロッドセグメントを含む、請求項1記載のイオンガイド。
- n段のそれぞれが、ガイド軸に沿って6極性の電界を生成するように配置される3対の細長い導電ロッドセグメントを含む、請求項1記載のイオンガイド。
- n段のそれぞれが、ガイド軸に沿って8極性の電界を生成するように配置される4対の細長い導電ロッドセグメントを含む、請求項1記載のイオンガイド。
- n段のそれぞれが、ガイド軸に沿ってn極性の電界を生成するように配置される2n対の細長い導電ロッドセグメントを含む、請求項1記載のイオンガイド。
- n段を更に含み、かつ該n段のそれぞれが、ガイド軸に沿って実質的に4極性の電界を生成するように配置される2対の細長いロッドセグメントを含む、請求項36記載のイオンガイド。
- n段を更に含み、かつ該n段のそれぞれが、ガイド軸に沿って6極性の電界を生成するように配置される3対の細長いロッドセグメントを含む、請求項36記載のイオンガイド。
- n段を更に含み、かつ該n段のそれぞれが、ガイド軸に沿って8極性の電界を生成するように配置される4対の細長いロッドセグメントを含む、請求項36記載のイオンガイド。
- n段を更に含み、かつ該n段のそれぞれが、ガイド軸に沿ってn極性の電界を生成するように配置される2n対の細長いロッドセグメントを含む、請求項36記載のイオンガイド。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/331,153 | 2006-01-13 | ||
US11/331,153 US7569811B2 (en) | 2006-01-13 | 2006-01-13 | Concentrating mass spectrometer ion guide, spectrometer and method |
PCT/CA2007/000049 WO2007079588A1 (en) | 2006-01-13 | 2007-01-11 | Concentrating mass spectrometer ion guide, spectrometer and method |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009523300A JP2009523300A (ja) | 2009-06-18 |
JP2009523300A5 JP2009523300A5 (ja) | 2011-03-10 |
JP5301285B2 true JP5301285B2 (ja) | 2013-09-25 |
Family
ID=38255947
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008549729A Active JP5301285B2 (ja) | 2006-01-13 | 2007-01-11 | 集束型質量分析計イオンガイド、分光計および方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7569811B2 (ja) |
JP (1) | JP5301285B2 (ja) |
CA (1) | CA2636821C (ja) |
DE (1) | DE112007000146B4 (ja) |
GB (1) | GB2455831B (ja) |
WO (1) | WO2007079588A1 (ja) |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7569811B2 (en) * | 2006-01-13 | 2009-08-04 | Ionics Mass Spectrometry Group Inc. | Concentrating mass spectrometer ion guide, spectrometer and method |
GB0620468D0 (en) * | 2006-10-16 | 2006-11-22 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
JP4918846B2 (ja) * | 2006-11-22 | 2012-04-18 | 株式会社日立製作所 | 質量分析装置及び質量分析方法 |
US7868289B2 (en) * | 2007-04-30 | 2011-01-11 | Ionics Mass Spectrometry Group Inc. | Mass spectrometer ion guide providing axial field, and method |
JP5262010B2 (ja) | 2007-08-01 | 2013-08-14 | 株式会社日立製作所 | 質量分析計及び質量分析方法 |
US7671344B2 (en) | 2007-08-31 | 2010-03-02 | Battelle Memorial Institute | Low pressure electrospray ionization system and process for effective transmission of ions |
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JP6571124B2 (ja) * | 2017-03-30 | 2019-09-04 | 太陽誘電株式会社 | 電子部品モジュールの製造方法 |
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GB2595876B (en) * | 2020-06-09 | 2024-02-07 | Microsaic Systems Plc | Mass spectrometry ion funnel |
GB2625377A (en) | 2022-12-16 | 2024-06-19 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Interface Ion guide |
Family Cites Families (27)
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US7034292B1 (en) * | 2002-05-31 | 2006-04-25 | Analytica Of Branford, Inc. | Mass spectrometry with segmented RF multiple ion guides in various pressure regions |
JP2004014177A (ja) | 2002-06-04 | 2004-01-15 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
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CA2583653C (en) * | 2004-10-28 | 2016-12-06 | Albert Edward Litherland | Method and apparatus for separation of isobaric interferences |
US7259371B2 (en) * | 2005-01-10 | 2007-08-21 | Applera Corporation | Method and apparatus for improved sensitivity in a mass spectrometer |
US7449687B2 (en) * | 2005-06-13 | 2008-11-11 | Agilent Technologies, Inc. | Methods and compositions for combining ions and charged particles |
US7569811B2 (en) * | 2006-01-13 | 2009-08-04 | Ionics Mass Spectrometry Group Inc. | Concentrating mass spectrometer ion guide, spectrometer and method |
EP1984934A4 (en) * | 2006-02-08 | 2015-01-14 | Dh Technologies Dev Pte Ltd | HIGH FREQUENCY ION GUIDE |
US7868289B2 (en) * | 2007-04-30 | 2011-01-11 | Ionics Mass Spectrometry Group Inc. | Mass spectrometer ion guide providing axial field, and method |
US7985951B2 (en) * | 2007-12-20 | 2011-07-26 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
-
2006
- 2006-01-13 US US11/331,153 patent/US7569811B2/en active Active
-
2007
- 2007-01-11 WO PCT/CA2007/000049 patent/WO2007079588A1/en active Search and Examination
- 2007-01-11 GB GB0813724A patent/GB2455831B/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-01-11 DE DE112007000146.1T patent/DE112007000146B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2007-01-11 CA CA2636821A patent/CA2636821C/en active Active
- 2007-01-11 JP JP2008549729A patent/JP5301285B2/ja active Active
-
2009
- 2009-05-07 US US12/437,203 patent/US7932488B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009523300A (ja) | 2009-06-18 |
DE112007000146T5 (de) | 2008-12-18 |
GB0813724D0 (en) | 2008-09-03 |
GB2455831B (en) | 2011-06-15 |
CA2636821A1 (en) | 2007-07-19 |
US7932488B2 (en) | 2011-04-26 |
WO2007079588A1 (en) | 2007-07-19 |
US20090218484A1 (en) | 2009-09-03 |
US7569811B2 (en) | 2009-08-04 |
DE112007000146B4 (de) | 2014-09-04 |
US20070164213A1 (en) | 2007-07-19 |
CA2636821C (en) | 2015-04-07 |
GB2455831A (en) | 2009-06-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130118 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
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|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130222 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130301 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130322 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130329 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130529 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130619 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5301285 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |