JP5229292B2 - 樹脂封止装置および樹脂封止方法 - Google Patents
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- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims description 105
- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims description 105
- 238000007789 sealing Methods 0.000 title claims description 58
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 124
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 claims description 34
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims description 32
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 19
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 25
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 22
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 11
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000011343 solid material Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/93—Batch processes
- H01L24/95—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
- H01L24/97—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the groups H01L21/18 - H01L21/326 or H10D48/04 - H10D48/07 e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/156—Material
- H01L2924/15786—Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
- H01L2924/15787—Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
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Description
また、上金型1と下金型2とは樹脂成形に適した温度に加熱されているが、基板10は常温であるため、そのまま樹脂封止すると、溶融した樹脂材料が基板10に熱を奪われて流動性が低下し、未充填やボイド等の問題が発生しやすい。そのため、樹脂封止に際して、基板10を予め加熱しておく必要があるが、前述の樹脂封止装置では、上金型1を基板10に押し当てて加熱し、所定の温度に達するまでの待ち時間が必要であった。
さらに、前述の樹脂封止装置では、成形品を可動ピン6で突き出して離型させる場合に、基板10が前記エジェクタピン6の狭い先端面で突き出される。このため、突き出された際の衝撃力で基板10自体が破損するおそれがある。特に、成形品である封止樹脂8にクラックが発生すると、被封止物である半導体素子9やAuワイヤ11が破損するおそれがあり、歩留まりが悪いといった問題点がある。
本発明は、前記問題点に鑑み、基板に実装した半導体素子を樹脂封止した成形品を、金型から離型する際に生じ得る基板の破損を防止し、歩留まりの高い樹脂封止装置および樹脂封止方法を提供することを課題とする。
また、下金型セットを成形位置および待機位置の間を往復移動させることができるので、樹脂封止材料供給装置、及び基板搬送装置を上下金型間に進入させる必要がなくなり、上下金型の型開量を小さくでき、樹脂封止装置全体を小さくできる。特に、型開量を小さくできることから、型締め機構も小さくでき、樹脂封止装置をより一層、小型化できる。
さらに、型締め機構はキャビティブロックのみを動作させるので、下金型セット全体を動作させる場合に比べ、型締めに必要な駆動力を抑制でき、小型で安価な樹脂封止装置が得られる。
そして、上金型セットの下面に基板を保持できる保持機構を備えているので、下金型セットのキャビティ部に樹脂封止材料を供給し、成形位置に移動させた後、直ちに前記基板を型締めして樹脂封止できる。このため、硬化時間が短い樹脂封止材料をも使用できるので、汎用性の高い樹脂封止装置が得られるだけでなく、成形サイクルが短くなり、生産性の高い樹脂封止装置が得られる。
特に、離型方向にフレームガイドが付勢されていれば、前記フレームガイドが待機位置に位置する場合に、前記フレームガイドの内側縁部に基板を搭載する際に、または、前記基板を搭載した前記フレームガイドを待機位置から成形位置に移動させる場合に、基板は宙吊り状態にある。このため、前記基板の下面に実装された電子部品、および、前記電子部品と基板とを接続する接続ワイヤ等が、キャビティブロックに当接することを防止できる。
また、基板の位置決め作業が簡単、かつ、正確になるので、生産性が向上するとともに、成形不良が少なくなり、歩留まりが向上する。
本実施形態によれば、バネ力に基づくフレームガイドの付勢力を利用して成形品をキャビティブロックから離型できる。このため、他の離型用部材を使用する場合であっても、前記離型用部材の駆動力を低減できるので、設計が容易になるとともに、生産エネルギーの低い樹脂封止装置が得られる。
本実施形態によれば、枠状のフレームガイドで基板の外周縁部を持ち上げるので、前記基板に負荷される外力がより一層、分散,緩和される。このため、前記基板の破損をより一層、効果的に防止できる。
また、上金型セットの下面に基板を保持できる保持機構を備えているので、下金型セットのキャビティ部に樹脂封止材料を供給し、成形位置に移動させた後、直ちに前記基板を型締めして樹脂封止できる。このため、硬化時間が短い樹脂封止材料をも使用できるので、汎用性の高い樹脂封止方法が得られるだけでなく、成形サイクルが短くなり、生産性の高い樹脂封止方法が得られるという効果がある。
さらに、本発明によれば、前記フレームガイドに、下面に電子部品を実装した前記基板を位置決めし、前記下金型セットを成形位置に移動させるとともに、前記キャビティブロック及びフレームガイドを上昇させて前記基板を前記上金型セットの保持機構に保持させ、前記キャビティブロック及びフレームガイドを下降させるとともに、前記下金型セットを前記待機位置に移動させ、前記キャビティブロックのキャビティ部に樹脂封止材料を供給し、前記下金型セットを成形位置に移動させた後、前記キャビティブロック及びフレームガイドを上昇させ、前記上金型セットと、前記下金型セットのキャビティブロックおよび前記フレームガイドとで前記基板を型締めして樹脂封止する。このため、基板を上金型セットの保持機構に保持させてから樹脂封止するまでの間に予備加熱でき、基板を加熱するための待ち時間が不要になるという効果がある。
本実施形態に係る樹脂封止装置は、図1A,1Bに示すように、導電パターンが印刷されたセラミック製の基板1の片面に所定のピッチで実装した光半導体素子2、例えば、LEDを樹脂封止するためのものである。
また、前記上プレート91と前記下プレート93との間には、ゴム材等からなる緩衝部材94を4隅に計4箇所で挟持しており、その位置は前述したトランスファーピン66の軸心上に配置されている。さらに、前記上プレート91は、その両側下面縁部に設けたガイド部95を介してガイドシャフト96を軸心方向にスライド可能に支持している。そして、前記ガイドシャフト96,96は、常時、外方に付勢するようにスプリング96aがそれぞれ組み付けられているとともに、その先端部に設けた連結バー97を介して連結されている。さらに、前記連結バー97の両端部には、係止爪97aがそれぞれ設けられている。
一方、下プレート93は、その下面にスポンジ等からなる板状当接部材98を接着してある。前記板状当接部材98は、その下面に最も深い底面正方形の凹部98aを設けるとともに、最下面との間に若干の隙間を形成するように格子状の凸部98bが設けられている。そして、吸引パイプ99が前記凹部98aにそれぞれ連通し、前記基板1を吸引可能となっている。
まず、電動モータ14を駆動してボールネジ15を回動させることにより、図4において2点鎖線で示した待機位置Pまでスライドプレート30をスライド移動させる。そして、露出したフレームガイド65の環状段部65aに基板1を手動あるいは図示しないインローダ装置で位置決めする。
本実施形態では、フレームガイド65に環状段部65aが形成されているので、基板1を手動で位置決めする作業が簡単、かつ、正確になる。また、フレームガイド65に切り欠き部65bが形成されているので、作業者が基板1を位置決めする際に、基板1を掴んだ指の逃がしとなり、基板1を手動で位置決めする作業が簡単、かつ、正確になる。
なお、前記基板1の位置決めはフレームガイド65に設けた位置決めピン(図示せず)で行ってもよい。
なお、本実施形態によれば、基板1はフレームガイド65の内周縁部に位置決めされており、前記フレームガイド65はキャビティブロック63の上面から上方に突き出すように付勢されている。このため、前記基板1は宙づり状態にある。この結果、キャビティブロック63が成形位置まで移動する際に振動,衝撃等が加わっても、基板1に搭載されている光半導体素子2、あるいは、前記光半導体素子2と基板1とを接続するAuワイヤが、前記キャビティブロック63に当接することを防止できる。
なお、前記ロワープレート54が上昇するとき、ロワープレート54に連結されたピストン55が上昇し、大径部55aの上面に存在していた液体は図示しない排出口から排出され、ロワープレート54の動作に追従する。
また、当接部材98の下面を格子状に形成することによって、均一な吸着力を確保できると共に、基板1の撓みを最小にできるので、基板1の損傷を防止できる。
そして、保持装置90に設けた緩衝部材94は前述したトランスファーピン66の軸心上に設置されているので、基板1をトランスファーピン66で突き出した際に、基板1に余分なモーメント荷重が負荷されず、損傷をより一層効果的に防止できる。
また、半導体素子は、前記基板の片面に限らず、両面に実装したものであってもよいことは勿論である。
さらに、本実施形態では緩衝部材94がゴムである場合を例示したが、例えばスプリング等、弾性を有するものであればよい。
そして、本実施形態では板状当接部材98はスポンジで例示したが、材質は特に限定されず、アルミ、鋼鉄等、金属製でも良い。特に、本実施形態では、板状当接部材98の下面に底面正方形の凹部98aおよび格子状の凸部98bを配置する場合について説明したが、必ずしもこれに限らない。例えば、最も撓みが大きい当接部材の中央部に凸部を形成し、その凸部を中心として凹部を放射状に形成しても良い。
2:光半導体素子
3:成形品
5:半導体装置
9:樹脂封止材料
10:ベースプレート
11:タイバ
12:プラテン
13:ガイドレール
20:上金型セット
22:上金型チェス
24:吸引孔
30:スライドプレート
40:下金型セット
41:下金型ダイセット
55:ピストン
60:下金型チェス
62:バックプレート
62a:ショルダーボルト
62b:スプリング
62c:ガイドピン
63:キャビティブロック
64:トランスファープレート
65:フレームガイド
65a:環状段部
65b:切り欠き部
66:トランスファーピン
67:凹所
68:キャビティ部
69:樹脂溜まり部
70:連通部
71:ピン孔
72:圧力センサー
80:昇降装置
90:保持装置
91:上プレート
93:下プレート
94:緩衝部材
98:板状当接部材
98a:凹部
99:吸引パイプ
100:ディスペンサ装置
Claims (5)
- 下面に基板を保持可能な保持機構を備えた上金型セットと、
上面にキャビティ部を有するキャビティブロックを搭載し、かつ、ベースプレートに沿って成形位置および待機位置の間を水平移動機構を介して往復移動可能な下金型セットと、からなり、
前記成形位置に位置する前記キャビティブロックを型締め機構で上下動させることにより、前記上金型セットの下面と前記下金型セットのキャビティブロックとで、電子部品を実装した前記基板を挟持して型締めし、前記キャビティ部に供給された樹脂封止材料に前記基板の電子部品を浸漬して樹脂封止する樹脂封止装置であって、
前記キャビティブロックの外周のうち、少なくとも対向する2辺に、前記基板の外周縁部を位置決めできる位置決め用段部を形成したフレームガイドを配置し、前記基板の外周縁部を前記フレームガイドで押し上げて離型することを特徴とする樹脂封止装置。 - フレームガイドが、キャビティブロックから成形品を離型する方向にバネ力で付勢されていることを特徴とする請求項1に記載の樹脂封止装置。
- フレームガイドが、キャビティブロックの外周を囲む枠形状に形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の樹脂封止装置。
- キャビティブロックを間にして対向するフレームガイドの少なくとも1辺に、基板を引き上げるための切り欠き部を設けたことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の樹脂封止装置。
- 下面に基板を保持可能な保持機構を備えた上金型セットと、
上面にキャビティ部を有するキャビティブロックを搭載し、かつ、ベースプレートに沿って成形位置および待機位置の間を水平移動機構を介して往復移動可能な下金型セットと、からなり、
前記キャビティ部に供給された樹脂封止材料に前記基板に実装した電子部品を浸漬して樹脂封止する樹脂封止方法であって、
前記下金型セットを待機位置に移動させた後、前記キャビティブロックの外周のうち、少なくとも対向する2辺に配置され、かつ、前記基板の外周縁部を位置決めできる位置決め用段部を形成したフレームガイドに、下面に電子部品を実装した前記基板を位置決めする工程と、
前記下金型セットを成形位置に移動させるとともに、前記キャビティブロック及びフレームガイドを上昇させて前記基板を前記上金型セットの保持機構に保持させる工程と、
前記キャビティブロック及びフレームガイドを下降させるとともに、前記下金型セットを前記待機位置に移動させる工程と、
前記キャビティブロックのキャビティ部に樹脂封止材料を供給する工程と、
前記下金型セットを成形位置に移動させた後、前記キャビティブロック及びフレームガイドを上昇させることにより、前記上金型セットと、前記下金型セットのキャビティブロックおよび前記フレームガイドとで前記基板を型締めすることにより、樹脂封止する工程と、
前記キャビティブロック及びフレームガイドを下降させるとともに、樹脂封止された前記基板の外周縁部を前記フレームガイドで押し上げて離型することを特徴とする樹脂封止方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010224093A JP5229292B2 (ja) | 2010-10-01 | 2010-10-01 | 樹脂封止装置および樹脂封止方法 |
TW100128703A TWI440104B (zh) | 2010-10-01 | 2011-08-11 | 樹脂封裝裝置及樹脂封裝方法 |
KR1020110083537A KR101324843B1 (ko) | 2010-10-01 | 2011-08-22 | 수지밀봉장치 및 수지밀봉방법 |
CN201110308979.5A CN102555135B (zh) | 2010-10-01 | 2011-09-28 | 树脂密封装置及树脂密封方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010224093A JP5229292B2 (ja) | 2010-10-01 | 2010-10-01 | 樹脂封止装置および樹脂封止方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012079937A JP2012079937A (ja) | 2012-04-19 |
JP5229292B2 true JP5229292B2 (ja) | 2013-07-03 |
Family
ID=46136897
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010224093A Expired - Fee Related JP5229292B2 (ja) | 2010-10-01 | 2010-10-01 | 樹脂封止装置および樹脂封止方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5229292B2 (ja) |
KR (1) | KR101324843B1 (ja) |
CN (1) | CN102555135B (ja) |
TW (1) | TWI440104B (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102709787B (zh) * | 2012-05-29 | 2015-06-17 | 胡立光 | 换向器压注模具的自动脱模方法及其装置 |
KR101423267B1 (ko) | 2013-06-05 | 2014-07-25 | 주식회사 씨티랩 | 반도체 소자 구조물 성형장치 |
KR101463944B1 (ko) * | 2013-06-28 | 2014-11-26 | 주식회사 참테크 | 수지성형 금형장치 |
JP5854096B1 (ja) * | 2014-07-29 | 2016-02-09 | 第一精工株式会社 | 樹脂封止装置 |
JP6491508B2 (ja) | 2015-03-23 | 2019-03-27 | Towa株式会社 | 樹脂封止装置及び樹脂成形品の製造方法 |
CN104908190B (zh) * | 2015-06-17 | 2018-04-20 | 苏州迈瑞微电子有限公司 | 塑封模具 |
NL2016011B1 (en) * | 2015-12-23 | 2017-07-03 | Besi Netherlands Bv | Press, actuator set and method for encapsulating electronic components with at least two individual controllable actuators. |
JP6079925B1 (ja) * | 2016-03-30 | 2017-02-15 | 第一精工株式会社 | 樹脂封止装置及び樹脂封止装置の異常検知方法 |
JP6742273B2 (ja) * | 2017-05-18 | 2020-08-19 | アピックヤマダ株式会社 | モールド金型及び樹脂モールド方法 |
JP6482616B2 (ja) * | 2017-08-21 | 2019-03-13 | Towa株式会社 | 樹脂成形装置及び樹脂成形品製造方法 |
KR102030529B1 (ko) * | 2018-02-27 | 2019-10-10 | 문영엽 | 플립칩 패키지 몰딩 장치 및 방법 |
CN109103115B (zh) * | 2018-08-15 | 2020-05-26 | 临沂金霖电子有限公司 | 一种防黏的半导体封装工艺及用于半导体封装工艺的模具 |
CN109590382B (zh) * | 2018-11-02 | 2020-08-11 | 永康市腾毅汽车模具有限公司 | 一种侧抽芯斜导柱 |
JP2020185754A (ja) * | 2019-05-17 | 2020-11-19 | Towa株式会社 | 成形型、樹脂成形装置及び樹脂成形品の製造方法 |
JP7277936B2 (ja) * | 2020-04-28 | 2023-05-19 | アピックヤマダ株式会社 | 樹脂モールド装置 |
JP2023176518A (ja) * | 2022-05-31 | 2023-12-13 | アピックヤマダ株式会社 | 樹脂封止装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1271640A3 (en) * | 1996-07-12 | 2003-07-16 | Fujitsu Limited | Mold for manufacturing semiconductor device |
JPH1119971A (ja) * | 1997-06-30 | 1999-01-26 | Tsukuba Seiko Kk | 封止成形装置 |
JP4215593B2 (ja) * | 2003-08-06 | 2009-01-28 | アピックヤマダ株式会社 | 樹脂モールド装置 |
KR100598459B1 (ko) * | 2004-12-10 | 2006-07-11 | 주식회사 쎄크 | 칩 본딩장치 |
KR101001096B1 (ko) * | 2006-09-19 | 2010-12-14 | 다이-이치 세이코 가부시키가이샤 | 수지 밀봉 장치 |
JP5148175B2 (ja) * | 2007-06-06 | 2013-02-20 | 住友重機械工業株式会社 | 樹脂封止装置および樹脂封止方法 |
KR20100001690A (ko) * | 2008-06-27 | 2010-01-06 | (주)티.에스정밀 | 반도체 패키지 제조용 금형 장치 |
CN101677071A (zh) * | 2008-09-16 | 2010-03-24 | 玉晶光电股份有限公司 | 用于发光二极管封装工艺的脱模机构 |
-
2010
- 2010-10-01 JP JP2010224093A patent/JP5229292B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-08-11 TW TW100128703A patent/TWI440104B/zh not_active IP Right Cessation
- 2011-08-22 KR KR1020110083537A patent/KR101324843B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2011-09-28 CN CN201110308979.5A patent/CN102555135B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201246404A (en) | 2012-11-16 |
KR20120034556A (ko) | 2012-04-12 |
TWI440104B (zh) | 2014-06-01 |
KR101324843B1 (ko) | 2013-11-01 |
JP2012079937A (ja) | 2012-04-19 |
CN102555135A (zh) | 2012-07-11 |
CN102555135B (zh) | 2014-07-30 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120824 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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|
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