JP5091659B2 - X線診断装置 - Google Patents
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- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 148
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 145
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 119
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 117
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 37
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 16
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 16
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 13
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 6
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 35
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 19
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 19
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 19
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 11
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 238000013178 mathematical model Methods 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
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Description
(実施の形態1)
先ず、実施の形態1を説明するに先立ち、従来技術における感度劣化の補正について図2を参照して説明し、本発明装置を実現するに至った経緯とする。
Y=AX …… (1)
で表される。Aは劣化係数である。
Yt=Y・Exp(−t/τ) …… (2)
で表される。τは回復係数である。このとき、感度Sは、劣化前の初期感度をS0とすると、
S=S0・(1−Yt) …… (3)
で表されることが分っているとする。
Yt=AX・Exp(−t/τ) …… (4)
となり、一方、感度Stは、式(4)を式(3)に代入し、
St=S0・(1−AX・Exp(−t/τ)) …… (5)
となる。
St・X=S0・(1−AX・Exp(−t/τ))・X …… (6)
が出力され、(1−AX・Exp(−t/τ))だけ少ない出力しか得られない。
Yn´=Yn+ΔYn´=(Yn−1+ΔYn´−1)・Exp(−(tn−tn−1)/τ)+AXn+ΔYn …… (7)
となる。ここで、感度劣化誤差のみについて展開すると、
ΔYn´=ΔYn+ΔYn´−1・Exp(−(tn−tn−1)/τ)
+ΔYn´−2・Exp(−(tn−tn−2)/τ)
+………) … (8)
となる。図3において、図示実線(イ)は実際の感度劣化の変化であり、図示点線(ロ)は誤差を含む推定した劣化感度の変化を表す。このように過去の感度劣化誤差が時間の経過とともに累積されていくことが分る。
このX線診断装置は、被写体(人間や動物などの生体)1にX線を照射するX線管2a及び視野サイズを定めるX線絞り2bで構成されるX線発生部2と、天板3上に所望の姿勢を保持する被写体1を透過してくるX線を検出し、視野サイズに応じた検出領域でのX線透過データを得るX線検出部4とが互いに向き合うように支持体5に支持される。支持体5は床面などに立設される保持装置6に回転可能に保持されている。
画像診断処理本体部7は、当該画像診断処理本体部7のユーザインタフェースとなるキーボード・マウスなどの操作部11と、例えば複数の表示部12a,…,12nと、撮影条件に従って撮影制御を実施する撮影制御部13と、画像処理部14とで構成される。なお、複数の表示部部12a,…,12nを設けているのは、ユーザが機能別ないし要求別に画像をモニタするためである。
YCor=1−SCor/SO=1−C1/CO …… (9)
により算出できるので、当該YCorをX線入射直前の感度劣化として置き換える。
Y=YCorExp(−t/τ)+AX …… (10)
として表現できるので、以後リセット前と同様に補正を継続する。
ここで、図4に示す誤差調整部143の構成を説明する前に、図5を参照して視野サイズについて説明する。
先ず、ユーザが操作部11から例えばX線管1の管電圧,管電流、X線絞り等の撮影X線条件と、被写体1中の検査部位(拡大率を含む)等の撮影幾何条件及び回転速度、撮影枚数、データ収集レートその他の条件等のデータを撮影制御部13に入力すると、これら条件データを適宜なメモリ(図示せず)に保存する。同じく操作部11から感度劣化の補正誤差をリセットする調整幅データを誤差調整部143に設定する。なお、調整幅データは、検査開始前および検査中のいつでもユーザの指示により変更することが可能である。
撮影制御部13は、上記条件のもとにX線管2a及びX線絞り2bを制御し、また、X線検出部4に対して収集レートを設定する。
図6は本発明に係るX線診断装置の実施の形態2を説明する誤差調整手段の構成図である。なお、X線診断装置全体の構成は、図1と同様であるので、図1の説明に譲る。
本実施の形態は、視野サイズごとに感度劣化の補正誤差を調整する機構を設けた構成であってもよい。
図7は本発明に係るX線診断装置の実施の形態3を説明する誤差調整部の構成図である。なお、X線診断装置全体の構成は、図1と同様であるので、図1の説明に譲る。
この実施の形態は、複数の視野サイズA,B,C,D(A,B,C,Dは図示せず。以下,同じ)設定に基づき、検出器4aの検出領域A´,B´,C´,D´(図8参照)によって検出した画素値の感度劣化補正の誤差を自動的に調整する誤差調整部143を設けた構成である。
例えば、視野サイズA,Bを設定し、図9に示す視野サイズA,Bを設定した場合における検出器4aの検出領域A´、B´内の画素値を例に上げて説明する。
実施の形態3は隣接する2つの検出領域の境界画素値から求めた調整係数を用いて、ゴースト補正部142で得られるX線入射の比較的多い検出領域の画素値を調整するようにしたが、この調整係数(誤差量E)を用いて、感度劣化にも反映させる構成であってもよい。
Claims (3)
- 所定の視野サイズのもとに照射されるX線を受けて被写体から透過してくる透過X線量を検出し、前記視野サイズに応じた検出領域の各画素の画素値を取り出すX線検出手段と、このX線検出手段で取り出した各画素の画素値から前記透過X線量の入射による前記X線検出手段の感度劣化値を算出し、この算出された感度劣化値から求められる補正係数を用いて、前記各画素の画素値を補正するゴースト補正手段とを設け、この補正された画素値に基づいて前記被写体の画像を表示するX線診断装置において、
表示された被写体の画像の中にアーチファクトと認識できる誤差を含んだ画像が存在する場合、操作手段から入力される増・減指示信号に基づき、所定の調整幅に変換した調整信号を出力し、前記ゴースト補正手段で算出される前記検出領域の画素値の感度劣化値を前記検出領域内の各画素値に関して同一の調整率でもって調整する誤差調整手段を備えたことを特徴とするX線診断装置。 - 複数の視野サイズのもとに照射されるX線を受けて被写体から透過してくる透過X線量を検出し、各視野サイズに応じた検出領域の各画素の画素値を取り出すX線検出手段と、このX線検出手段で取り出した各検出領域の各画素の画素値から前記透過X線量の入射による前記X線検出手段の感度劣化値を算出し、この算出された感度劣化値から求められる補正係数を用いて、前記各検出領域の各画素の画素値を補正するゴースト補正手段とを設け、この補正された各検出領域の画素値に基づいて前記被写体の画像を表示するX線診断装置において、
前記視野サイズに応じて幾何学的な形状をなして現れるアーチファクトを含む画像が存在する場合、操作手段から前記検出領域ごとに入力される増・減指示信号に基づき、所望とする調整幅に変換した調整信号を出力し、前記ゴースト補正手段で算出される該当検出領域における各画素の画素値の感度劣化値を調整する誤差調整手段を備えたことを特徴とするX線診断装置。 - 複数の視野サイズのもとに照射されるX線を受けて被写体から透過してくる透過X線量を検出し、各視野サイズに応じた検出領域の各画素の画素値を取り出すX線検出手段と、このX線検出手段で取り出した各検出領域の各画素の画素値から前記透過X線量の入射による前記X線検出手段の感度劣化値を算出し、この算出された感度劣化値から求められる補正係数を用いて、前記各検出領域の各画素の画素値を補正するゴースト補正手段とを設け、この補正された各検出領域の画素値に基づいて前記被写体の画像を表示するX線診断装置において、
前記ゴースト補正手段の出力側に設けられ、当該ゴースト補正手段による補正誤差をリセットする誤差調整部を設け、
この誤差調整部は、前記複数の視野サイズにそれぞれ対応する複数の検出領域の各画素のデジタル画素値から、前記複数の検出領域のうち大きさが近い2つの検出領域どうしの境界部分における各画素のデジタル画素値を抽出する複数の境界プロファイル抽出手段と、各境界プロファイル抽出手段で抽出された境界部分の各画素位置のデジタル画素値ごとに平均化してノイズを除去する平均化手段と、ノイズを除去した両検出領域の境界部分の各画素位置に対する画素値の変化から変化傾向を表す調整係数を取得する手段と、両検出領域の境界部分に関する調整係数を用いて、前記ゴースト補正手段で算出される所定の検出領域の画素値に含む誤差分をリセットする手段とを備えたことを特徴とするX線診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007333266A JP5091659B2 (ja) | 2007-12-25 | 2007-12-25 | X線診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007333266A JP5091659B2 (ja) | 2007-12-25 | 2007-12-25 | X線診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009153627A JP2009153627A (ja) | 2009-07-16 |
JP5091659B2 true JP5091659B2 (ja) | 2012-12-05 |
Family
ID=40958300
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007333266A Expired - Fee Related JP5091659B2 (ja) | 2007-12-25 | 2007-12-25 | X線診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5091659B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5216680B2 (ja) * | 2009-04-23 | 2013-06-19 | 株式会社日立メディコ | X線ct装置およびこれを用いたデータ取得方法 |
JP5897307B2 (ja) * | 2011-11-17 | 2016-03-30 | 株式会社東芝 | 医用画像診断装置 |
KR101431646B1 (ko) * | 2013-02-12 | 2014-08-20 | 주식회사 쎄크 | 데이터처리장치, 데이터처리방법 및 컴퓨터 판독가능 기록매체 |
JP6962165B2 (ja) * | 2017-12-11 | 2021-11-05 | 株式会社島津製作所 | X線透視撮影装置 |
JP7304765B2 (ja) | 2019-08-06 | 2023-07-07 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線診断装置および医用画像処理装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2653443B2 (ja) * | 1987-09-18 | 1997-09-17 | 株式会社東芝 | ガンマカメラ感度補正装置 |
JP4497615B2 (ja) * | 2000-01-13 | 2010-07-07 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、補正方法及び記録媒体 |
JP2003156567A (ja) * | 2001-11-20 | 2003-05-30 | Shimadzu Corp | X線フラットパネル検出器の感度補正方法及びその装置並びにx線検出装置 |
JP4786306B2 (ja) * | 2005-11-16 | 2011-10-05 | 株式会社東芝 | X線感度補正における補正データの作成方法及びx線ct装置 |
-
2007
- 2007-12-25 JP JP2007333266A patent/JP5091659B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009153627A (ja) | 2009-07-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20101222 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20120529 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120914 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150921 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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