JP5053421B2 - 信号判定システム及び温度判定システム - Google Patents
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Description
また、前記A/D入力ポートに入力される前記アナログ信号のレベルがローレベルになる速度が遅い場合には、前記優先度の高い制御指令がなされたとは判断せずに、前記サーミスタが異常高温状態であると判断してもよい。
本発明の別の態様は、温度判定システムに関する。この温度判定システムは、A/D入力ポートを備える信号検出手段と、前記A/D入力ポートに接続されて、前記A/D入力ポートにアナログ信号を出力するサーミスタと、前記サーミスタの出力検知処理より優先する処理を行うためのオン信号に基づいて、前記A/D入力ポートに入力される前記サーミスタの出力を、前記オン信号が無い状態で前記サーミスタの出力検知処理がなされる第1のレベル範囲とは異なる第2のレベル範囲にシフトさせるレベルシフト手段と、を備え、前記信号検出手段は、前記A/D入力ポートに入力される前記サーミスタの信号が前記第2のレベル範囲にあるときに、前記サーミスタの出力検知処理より優先度の高い制御指令がなされたと判断するとともに、前記第2のレベル範囲に対応した所定のテーブル又は計算式を参照して前記サーミスタの出力検知処理を行う。
また、前記サーミスタは、直列に接続された第1の抵抗の抵抗値と合算された抵抗値に基づいてアナログ信号を出力し、前記レベルシフト手段は、スイッチ手段として機能するFETと第2の抵抗とを直列体として備え、かつ、前記直列体の一方の端子は前記サーミスタの出力に接続され、他方の端子はローレベルの電位に接続されてもよい。
また、前記第1の抵抗の抵抗値と前記第2の抵抗の抵抗値とは、前記第1のレベル範囲と、前記第2のレベル範囲とで、重複する範囲がないように設定されてもよい。
また、前記第1の抵抗の抵抗値と前記第2の抵抗の抵抗値とは、前記第1のレベル範囲と前記第2のレベル範囲の間に、所定レベル幅の第3のレベル範囲が存在するように、設定されており、前記信号検出手段は、前記FETがオフの状態で、前記サーミスタの出力が前記第3のレベル範囲に存在すると判断したときには、異常高温検出であると判断してもよい。
本発明の別の態様は、信号判定システムに関する。この信号判定システムは、A/D入力ポートを備える信号検出手段と、前記A/D入力ポートに接続され、前記A/D入力ポートにアナログ信号を出力するアナログ信号発生手段と、前記A/D入力ポートに入力される前記アナログ信号発生手段の前記アナログ信号のレベルを、ローレベルにシフトするスイッチ手段と、を備え、前記スイッチ手段は、前記アナログ信号の出力検知処理より優先される処理のための所定の制御信号によって動作したときに、前記アナログ信号発生手段の出力を前記ローレベルの電位に接続するように配置されている。
本発明の別の態様は、信号判定システムに関する。この信号判定システムは、A/D入力ポートを備える信号検出手段と、前記A/D入力ポートに接続されて、前記A/D入力ポートにアナログ信号を出力するアナログ信号発生手段と、前記アナログ信号発生手段の出力検知処理より優先する処理を行うためのオン信号に基づいて、前記A/D入力ポートに入力される前記アナログ信号発生手段の出力を、前記オン信号が無い状態で前記アナログ信号発生手段の出力検知処理がなされる第1のレベル範囲とは異なる第2のレベル範囲にシフトさせるレベルシフト手段と、を備え、前記信号検出手段は、前記A/D入力ポートに入力される前記アナログ信号発生手段の出力が前記第2のレベル範囲にあるときに、前記アナログ信号発生手段の出力検知処理より優先度の高い制御指令がなされたと判断するとともに、前記第2のレベル範囲に対応した所定のテーブル又は計算式を参照して前記アナログ信号発生手段の出力検知処理を行う。
図1は、本実施形態に係る温度判定システム10を模式的に示した機能ブロック図である。温度判定システム10は、判定部20と、温度検出部30と、優先信号発生部40と、レベルシフト部50とを備える。
図4は、第2の実施形態に係る温度判定システム110を模式的に示した機能ブロック図である。温度判定システム110は、判定部120と、温度検出部130と、優先信号発生部140と、レベルシフト部150とを備える。温度判定システム110が、第1の実施形態と異なる点は、レベルシフト部150においてスイッチ手段としてMOS型電界効果トランジスタ(以下、「FET」と表記する)を用いた点と、シフト用抵抗Rsを設けた点にある。温度検出部130及び優先信号発生部140の構成及び動作は第1の実施形態と同様である。また、判定部120は、構成は同じであるが、A/Dポート122で取得した信号の判定等の処理が異なる。
Vad1=Vcc×Ry/(Rc+Ry)…(1)
Ry=Rs×(Rx+Rth)/(Rs+Rx+Rth)…(2)
一方、優先デジタル信号オフの時のA/Dポート22のレベルVad2は以下の式(3)で表される。
Vad2=Vcc×(Rx+Rth)/(Rc+Rx+Ry)…(3)
したがって、採用するサーミスタRthの抵抗値の変動範囲を考慮して、レベル調整抵抗Rc、分圧調整抵抗Rxの抵抗値を設定することが必要となる。
設定例1:
サーミスタRth: 1.0kΩ(100℃)〜170kΩ(−30℃)
レベル調整抵抗Rc:20kΩ
分圧調整抵抗Rx: 2kΩ
シフト用抵抗Rs: 1.9kΩ
Vcc: 5V
優先デジタル信号オンの時のA/Dポート122のレベルVad1及び、優先デジタル信号オフの時のA/Dポート122のレベルVad2の範囲は、以下のようになる。
Vad1: 0.429〜0.275V
Vad2: 4.479〜0.652V
このように、信号のレンジが重なることはなく、さらに、0.429〜0.652Vの間にいずれのレンジにも属さない範囲がある。
20、120 判定部
22、122 A/Dポート
30、130 温度検出部
40、140 優先信号発生部
50、150 レベルシフト部
Rc レベル調整抵抗
Rx 分圧調整抵抗
Rs シフト用抵抗
Tr1 トランジスタ
FET 電界効果トランジスタ
Claims (8)
- A/D入力ポートを備える信号検出手段と、
前記A/D入力ポートに接続されて、前記A/D入力ポートにアナログ信号を出力するサーミスタと、
前記A/D入力ポートに入力される前記アナログ信号のレベルを、ローレベルに引き抜くスイッチ手段と、
を備え、
前記信号検出手段は、前記A/D入力ポートに入力される前記アナログ信号のレベルがローレベルである判断したときに、前記サーミスタの出力検知処理より優先度の高い制御指令がなされたと判断することを特徴とする温度判定システム。 - 前記A/D入力ポートに入力される前記アナログ信号のレベルがローレベルになる速度が遅い場合には、前記優先度の高い制御指令がなされたとは判断せずに、前記サーミスタが異常高温状態であると判断することを特徴とする請求項1に記載の温度判定システム。
- A/D入力ポートを備える信号検出手段と、
前記A/D入力ポートに接続されて、前記A/D入力ポートにアナログ信号を出力するサーミスタと、
前記サーミスタの出力検知処理より優先する処理を行うためのオン信号に基づいて、前記A/D入力ポートに入力される前記サーミスタの出力を、前記オン信号が無い状態で前記サーミスタの出力検知処理がなされる第1のレベル範囲とは異なる第2のレベル範囲にシフトさせるレベルシフト手段と、
を備え、
前記信号検出手段は、前記A/D入力ポートに入力される前記サーミスタの信号が前記第2のレベル範囲にあるときに、前記サーミスタの出力検知処理より優先度の高い制御指令がなされたと判断するとともに、前記第2のレベル範囲に対応した所定のテーブル又は計算式を参照して前記サーミスタの出力検知処理を行うことを特徴とする温度判定システム。 - 前記サーミスタは、直列に接続された第1の抵抗の抵抗値と合算された抵抗値に基づいてアナログ信号を出力し、
前記レベルシフト手段は、スイッチ手段として機能するFETと第2の抵抗とを直列体として備え、かつ、前記直列体の一方の端子は前記サーミスタの出力に接続され、他方の端子はローレベルの電位に接続されていることを特徴とする請求項3に記載の温度判定システム。 - 前記第1の抵抗の抵抗値と前記第2の抵抗の抵抗値とは、前記第1のレベル範囲と、前記第2のレベル範囲とで、重複する範囲がないように設定されていることを特徴とする請求項4に記載の温度判定システム。
- 前記第1の抵抗の抵抗値と前記第2の抵抗の抵抗値とは、前記第1のレベル範囲と前記第2のレベル範囲の間に、所定レベル幅の第3のレベル範囲が存在するように、設定されており、
前記信号検出手段は、前記FETがオフの状態で、前記サーミスタの出力が前記第3のレベル範囲に存在すると判断したときには、異常高温検出であると判断することを特徴とする請求項5に記載の温度判定システム。 - A/D入力ポートを備える信号検出手段と、
前記A/D入力ポートに接続され、前記A/D入力ポートにアナログ信号を出力するアナログ信号発生手段と、
前記A/D入力ポートに入力される前記アナログ信号発生手段の出力のレベルを、ローレベルにシフトするスイッチ手段と、
を備え、
前記スイッチ手段は、前記アナログ信号の出力検知処理より優先される所定の処理のための制御信号によって動作したときに、前記アナログ信号発生手段の出力を前記ローレベルの電位に接続するように配置されていることを特徴とする信号判定システム。 - A/D入力ポートを備える信号検出手段と、
前記A/D入力ポートに接続されて、前記A/D入力ポートにアナログ信号を出力するアナログ信号発生手段と、
前記アナログ信号発生手段の出力検知処理より優先する処理を行うためのオン信号に基づいて、前記A/D入力ポートに入力される前記アナログ信号発生手段の出力を、前記オン信号が無い状態で前記アナログ信号発生手段の出力検知処理がなされる第1のレベル範囲とは異なる第2のレベル範囲にシフトさせるレベルシフト手段と、
を備え、
前記信号検出手段は、前記A/D入力ポートに入力される前記アナログ信号発生手段の出力が前記第2のレベル範囲にあるときに、前記アナログ信号発生手段の出力検知処理より優先度の高い制御指令がなされたと判断するとともに、前記第2のレベル範囲に対応した所定のテーブル又は計算式を参照して前記アナログ信号発生手段の出力検知処理を行うことを特徴とする信号判定システム。
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KR101504429B1 (ko) * | 2013-09-02 | 2015-03-19 | 엘에스산전 주식회사 | 네거티브 온도 계수 서미스터를 이용한 온도 측정 장치 |
US10501003B2 (en) * | 2015-07-17 | 2019-12-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, lighting device, and vehicle |
JP2018534573A (ja) * | 2015-11-18 | 2018-11-22 | ピーエスティ・センサーズ・(プロプライエタリー)・リミテッドPst Sensors (Proprietary) Limited | デジタルセンサ |
DE102017214214A1 (de) * | 2017-08-15 | 2019-02-21 | Robert Bosch Gmbh | Temperatursensorschaltung |
CN109855119B (zh) * | 2017-11-30 | 2020-06-02 | 宁波方太厨具有限公司 | 一种燃气灶的热电偶和ntc温度传感器故障检测方法 |
CN110398304B (zh) * | 2018-04-25 | 2021-07-30 | 比亚迪半导体股份有限公司 | 一种温度传感器批量测试系统 |
CN112067153B (zh) * | 2020-08-15 | 2022-11-15 | 广东万和新电气股份有限公司 | 热敏电阻的温度检测装置以及智能家电 |
Family Cites Families (47)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2966061A (en) * | 1956-12-06 | 1960-12-27 | American Instr Co Inc | Relative humidity measuring apparatus |
US3781837A (en) * | 1971-07-08 | 1973-12-25 | Jac Inc | Ambient compensated temperature responsive device |
US4008398A (en) * | 1974-03-11 | 1977-02-15 | Schramm Benjamin B | Transducer signal conditioning circuit |
IT1041291B (it) * | 1975-08-21 | 1980-01-10 | Raggiotti G | Dispositivo di controllo e indicazione della temperatura corporea |
US4227411A (en) * | 1979-09-24 | 1980-10-14 | Rca Corporation | Relative humidity measurement |
US4430540A (en) * | 1981-06-15 | 1984-02-07 | Texas Instruments Incorporated | Data input apparatus for microwave oven controllers |
US4437171A (en) * | 1982-01-07 | 1984-03-13 | Intel Corporation | ECL Compatible CMOS memory |
US4575806A (en) * | 1982-03-26 | 1986-03-11 | Gould, Inc. | Precision temperature measuring system |
US4536851A (en) * | 1982-10-22 | 1985-08-20 | Damon Germanton | Electronic thermometer and associated apparatus |
JPS60166829A (ja) * | 1985-01-07 | 1985-08-30 | Omron Tateisi Electronics Co | 電子体温計 |
US5161893A (en) * | 1987-10-13 | 1992-11-10 | Respiratory Support Products, Inc. | Temperature measurement |
US4994792A (en) * | 1989-12-06 | 1991-02-19 | Ziegler Jr Eldon W | Fluid temperature monitoring system |
US5282685A (en) * | 1992-01-10 | 1994-02-01 | Anderson Instrument Company, Inc. | Electronic thermometer with redundant measuring circuits and error detection circuits |
US5611952A (en) * | 1994-06-30 | 1997-03-18 | Jones; Thaddeus M. | Temperature sensor probe and sensor detection circuit |
US5764094A (en) * | 1995-06-02 | 1998-06-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Level shift circuit for analog signal and signal waveform generator including the same |
US5872469A (en) * | 1996-04-05 | 1999-02-16 | Analog Devices, Inc. | Switched capacitor circuit adapted to store charge on a sampling capacitor related to a sample for an analog signal voltage and to subsequently transfer such stored charge |
US6088662A (en) * | 1996-12-13 | 2000-07-11 | Seagate Technology, Inc. | Thermoelectric temperature sensing system in a computer hard disc drive |
WO2002014883A2 (en) * | 2000-08-10 | 2002-02-21 | Xilinx, Inc. | Analog signal testing circuit and -method |
US6483371B1 (en) * | 2000-10-02 | 2002-11-19 | Northrop Grumman Corporation | Universal temperature compensation application specific integrated circuit |
JP4629892B2 (ja) * | 2001-03-27 | 2011-02-09 | 三菱電機株式会社 | 温度係数生成回路及びそれを用いた温度補償回路 |
JP2003121270A (ja) | 2001-10-12 | 2003-04-23 | Rinnai Corp | 温度検出回路通信装置 |
FR2845767B1 (fr) * | 2002-10-09 | 2005-12-09 | St Microelectronics Sa | Capteur numerique de temperature integre |
DE10250613B4 (de) * | 2002-10-30 | 2007-02-08 | Advanced Micro Devices, Inc., Sunnyvale | Integrierter RF-Signalpegeldetektor, der für die automatische Leistungspegelsteuerung verwendbar ist |
US6909266B2 (en) * | 2002-11-14 | 2005-06-21 | Fyre Storm, Inc. | Method of regulating an output voltage of a power converter by calculating a current value to be applied to an inductor during a time interval immediately following a voltage sensing time interval and varying a duty cycle of a switch during the time interval following the voltage sensing time interval |
US7104684B2 (en) * | 2002-11-29 | 2006-09-12 | Sigmatel, Inc. | On-chip digital thermometer to sense and measure device temperatures |
JP2005130020A (ja) * | 2003-10-21 | 2005-05-19 | Toshiba Corp | アナログレベルシフタ |
KR100666928B1 (ko) * | 2004-02-19 | 2007-01-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 온도변화에 따라 최적의 리프레쉬 주기를 가지는 반도체메모리 장치 |
US6949968B1 (en) * | 2004-02-20 | 2005-09-27 | National Semiconductor Corporation | Method for increasing the sensitivity of integrated circuit temperature sensors |
US7138820B2 (en) * | 2004-04-30 | 2006-11-21 | Xilinx, Inc. | System monitor in a programmable logic device |
US7089146B1 (en) * | 2004-09-28 | 2006-08-08 | National Semiconductor Corporation | Apparatus and method for sub-ranging conversion for temperature sensing |
US7356716B2 (en) * | 2005-02-24 | 2008-04-08 | International Business Machines Corporation | System and method for automatic calibration of a reference voltage |
US7341374B2 (en) * | 2005-10-25 | 2008-03-11 | Aimtron Technology Corp. | Temperature measurement circuit calibrated through shifting a conversion reference level |
JP4779572B2 (ja) | 2005-10-27 | 2011-09-28 | 株式会社安川電機 | 温度検出回路および温度検出方法 |
US7848901B2 (en) * | 2005-11-29 | 2010-12-07 | International Business Machines Corporation | Tracing thermal data via performance monitoring |
US7441949B2 (en) * | 2005-12-16 | 2008-10-28 | Micron Technology, Inc. | System and method for providing temperature data from a memory device having a temperature sensor |
US7565258B2 (en) * | 2006-03-06 | 2009-07-21 | Intel Corporation | Thermal sensor and method |
DE602006021740D1 (de) * | 2006-08-04 | 2011-06-16 | Stmicroelectronics Design And Applic S R O | Mikroelektronische schaltung ausgestattet mit einer thermischen schutzschaltung und thermische schutzmethode für eine mikroelektronische schaltung |
US20080258798A1 (en) * | 2007-04-18 | 2008-10-23 | Mediatek Inc. | Analog level shifter |
JP4573275B2 (ja) * | 2007-07-11 | 2010-11-04 | 本田技研工業株式会社 | 外気温測定装置 |
US7697365B2 (en) * | 2007-07-13 | 2010-04-13 | Silicon Storage Technology, Inc. | Sub volt flash memory system |
KR101522531B1 (ko) * | 2008-12-30 | 2015-05-26 | 주식회사 동부하이텍 | 히스테리시스 특성을 갖는 비교 장치 및 이를 이용한 전압 레귤레이터 |
JP5358332B2 (ja) * | 2009-07-23 | 2013-12-04 | テルモ株式会社 | 体温測定システム及びデータ読み取り装置ならびにその駆動制御方法 |
EP2355358A1 (en) * | 2010-02-04 | 2011-08-10 | Nxp B.V. | An ADC, a temperature sensor, a non-contact transponder, and a method of converting analog signals to digital signals |
US8672542B2 (en) * | 2010-05-26 | 2014-03-18 | Honeywell International Inc. | High resolution measurement of thermistor thermometry signals with wide dynamic range |
JP5634236B2 (ja) * | 2010-11-30 | 2014-12-03 | スパンション エルエルシー | レベルシフト回路及び半導体装置 |
US20140198820A1 (en) * | 2013-01-17 | 2014-07-17 | Honeywell International Inc. | Systems and methods for an auto-ranging temperature sensor |
US9810583B2 (en) * | 2013-05-17 | 2017-11-07 | Analog Devices, Inc. | Encoder circuit with feedback DAC |
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