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JP5019274B2 - 共振アクチュエータ - Google Patents

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Description

本発明は共振アクチュエータに関し、より詳しくは圧電セラミック材料を使用した共振アクチュエータに関する。
従来より、図12に示すように、角棒形状に形成されたセラミック素体101の両端面に電極102a、102bが設けられた共振アクチュエータが知られている。
この共振アクチュエータは、矢印a方向に分極されており、電極102a、102bに交流電界が印加されて共振周波数又はその近傍周波数で駆動し、分極方向aと同一方向である矢印b方向の縦振動が得られるように構成されている。通常は、電極102a、102bと導線104a、104bとをばね端子103a、103bで保持したり、或いは電極102a、102bを導線104a、104bで直接保持することにより、交流電界が電極102a、102bに印加される。
この種の共振アクチュエータでは、振動方向の変位量は、通常、圧電定数dに比例すると考えられている。このため、共振アクチュエータ用のセラミック材料としては、従来より、大きな圧電定数を有するPb(Zr,Ti)O(チタン酸ジルコン酸鉛;以下「PZT」という。)をベースとした圧電材料の研究・開発が盛んに行われている。
例えば、非特許文献1では、圧電アクチュエータ等のパワーデバイスでは圧電セラミックの大振幅弾性振動を利用していることから、圧電セラミックの大振幅特性について記載されている。
この非特許文献1には、振動速度(=振動振幅×周波数)は、理論的には印加電界Eに比例して変動するが、PZT系圧電セラミックを共振周波数で駆動させた場合、電界強度がある一定レベルを超えると振動速度が徐々に理論値を下回るようになり、最終的に飽和すると報告されている。また、この非特許文献1には、PZTの振動速度限界と駆動電界との関係も示されており、前記振動速度限界は材料組成によって変化するものの、PZT系圧電セラミック材料では、振動速度は最大でも1m/sを超えないことが報告されている。
また、非特許文献2では、圧電アクチュエータ等の分野では、高い振動レベルのハイパワー材料が求められていることから、圧電性の評価法やPZT系圧電セラミックの組成と振動レベル特性等のハイパワー特性との関係が報告されている。
この非特許文献2には、PZT系圧電セラミックを共振周波数で駆動した場合、振動レベルがある一定値を超えると共振周波数frや機械的品質係数Qmが低下することが報告されている。
高橋貞行著「圧電材料の新展開」、株式会社TIC、ニューセラミックス VOL.11, No.8(1988),p29-34 高橋貞行著「ハイパワー材料の評価」、株式会社TIC、ニューセラミックス(1995), No.6, p17-21
非特許文献1に記載されているように、従来のPZT系圧電セラミックを共振アクチュエータに使用しても、ある一定以上の高電界を負荷すると振動速度は理論値を下回って安定性を欠くようになり最終的に飽和する。
すなわち、PZT系圧電セラミックを使用した共振アクチュエータでは、振動速度が大きくなると振動速度が飽和するため、結果として1m/sを超える振動速度を得ることができず、このため大きな変位量を有する共振アクチュエータを得ることができないという課題があった。しかも、ある一定以上の高電界では振動速度が印加電界に比例しなくなって理論値を下回るため、振動速度を理論値に制御するためのフィードバック回路が必要となり、デバイスの煩雑化を招くおそれがあった。
また、非特許文献2に記載されているように、従来のPZT系圧電セラミックを共振アクチュエータに使用した場合、振動速度が上昇するに伴い、共振周波数frや機械的品質係数Qmは低下することが知られている。したがって、共振周波数frの変化に追随するためのフィードバック回路を設ける必要がある。このためデバイスの煩雑化を招く上、機械的品質係数Qmの低下によって機械的損失が増大し、圧電セラミックの発熱量の増大を招くことから、大きな振動速度で使用するのは実用的に困難であった。
しかも、従来の共振アクチュエータは、上記図12に示すように、ばね端子103a、103b又は導線104a、104bで電極102a、102bを保持していることから、これらばね端子103a、103bや導線104a、104bが共振アクチュエータの振動を阻害するという問題点もあった。
本発明はこのような事情に鑑みなされたものであって、大きな機械的品質係数Qmを有することによって大きな振動速度の取得を可能とし、かつ機械的要因で振動が阻害されることのない共振アクチュエータを提供することを目的とする。
大きな振動速度が要求される共振アクチュエータの場合、従来より、圧電定数dの高いことが重要であると考えられており、このため材料面からは圧電定数dの高いPZTをベースとした圧電セラミック材料しか検討されてこなかった。
しかるに、本発明者らが種々の材料について検討したところ、ビスマス層状化合物は、圧電定数dはPZT系材料に比べて低いものの、該PZT系材料に比べ大きな機械的品質係数Qmを得ることができるという知見を得た。しかも、ビスマス層状化合物はある一定以上の高電界を印加しても振動速度が飽和することなく印加電界に略比例して上昇させることが可能であるということも分かった。
したがって、圧電セラミック材料としてビスマス層状化合物を使用し、かつ機械的要因で振動が阻害されないように電極形状を工夫することにより、より大きな機械的品質係数Qmを得ることができ、したがって低い電界で大きな振動速度を得ることができると考えられる。
本発明はこのような点に着目してなされたものであって、本発明に係る共振アクチュエータは、棒状に形成されたセラミック素体の振動方向の両端面に主電極が設けられると共に、前記振動方向と分極方向とが同一方向とされて共振周波数又はその近傍の周波数で駆動する共振アクチュエータにおいて、前記セラミック素体がビスマス層状化合物からなり、かつ、前記セラミック素体の側面中央部に接続電極が形成されると共に、前記接続電極と前記主電極とが引出導体を介して電気的に接続されていることを特徴としている。
尚、上記「側面中央部」とは、セラミック素体の側面部の中央部分のみならず、その近傍部分も含む。
また、本発明の共振アクチュエータは、前記セラミック素体は、結晶軸のc軸が前記分極方向と直交する方向に配向していることを特徴としている。
ビスマス層状化合物は、平面的な酸化ビスマス層の間にペロブスカイト構造を含む結晶構造で構成されるが、上記「結晶軸のc軸」とは、結晶軸の最も長い軸をいう。
上記構成によれば、共振アクチュエータが駆動しても振動の生じない不動状態の側面中央部に接続電極が形成されることとなる。したがって接続電極をばね端子や導線で保持して交流電界を印加しても、機械的要因で振動が阻害されるのを回避することできる。しかも、ビスマス層状化合物はPZT系材料に比べて大きな機械的品質係数Qmを有する。
したがって、本発明によれば、機械的要因で振動が阻害されるのを回避することができ、かつセラミック素体がビスマス層状化合物からなるので、より大きな機械的品質係数Qmを得ることができ、低い電界で大きな振動速度を得ることが可能となる。しかも、ビスマス層状化合物は、振動速度は印加電界を上げても飽和することなく略比例して上昇するので、高電界でも安定した駆動が可能となる。したがって、共振周波数frや振動速度vを制御するためのフィードバック回路が不要となり、デバイスの簡素化、コスト削減、小型化が可能になる。
さらに、大きな機械的品質係数Qmを得ることができることから、発熱量も抑制することができ、熱による振動速度の低下を防止することができる。
また、前記セラミック素体は、結晶軸のc軸が前記分極方向と直交する方向に配向しているので、機械的品質係数Qmを大きくすることができ、これにより安定して使用できる振動速度を大きくすることができ、より大きな変位量を有する共振アクチュエータを実現することができる。
本発明に係る共振アクチュエータの一実施の形態を示す斜視図である。 圧電セラミック素体が励振した場合の状態を模式的に示した斜視図である。 圧電セラミック素体がPZT材料で形成された場合の問題点を説明するための平面図(a)及び正面図(b)である。 試料番号1及び4の共振アクチュエータをばね端子で保持した状態を示す斜視図である。 試料番号2及び3の共振アクチュエータをばね端子で保持した状態を示す斜視図である。 試料番号1の周波数特性を示す図である。 試料番号2の周波数特性を示す図である。 試料番号3の周波数特性を示す図である。 試料番号4の周波数特性を示す図である。 実施例2で使用した測定装置の概略を示す図である。 試料番号1における印加電界と振動速度との関係を示す図である。 共振アクチュエータの従来例を示す斜視図である。
符号の説明
1 圧電セラミック素体
2a、2b 主電極
3a、3b 接続電極
4a、4b 引出導体
11 圧電セラミック素体
12a、12b 主電極
13a、13b 接続電極
14a、14b 引出導体
次に、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳説する。
図1は本発明に係る共振アクチュエータの一実施の形態を示す斜視図であって、本共振アクチュエータは、ビスマス層状化合物からなる矢印A方向に分極された角棒形状の圧電セラミック素体1を備え、分極方向Aと同一方向の矢印B方向に変位して縦振動が得られるように構成されている。
この共振アクチュエータは、具体的には、圧電セラミック素体1の振動方向Bの両端面には主電極2a、2bが形成されると共に、側面部5a、5bの中央部(側面中央部)には接続電極3a、3bが形成されている。そして、一方の主電極2aと一方の接続電極3aとは引出導体4aを介して電気的に接続され、さらに他方の主電極2bと他方の接続電極3bとは引出導体4bを介して電気的に接続されている。尚、引出導体4a、4bの幅は、主電極2a、2bの幅に比べ狭くなるように形成されている。
そして、接続電極3a、3bに共振周波数と同じ周波数の交流電界が印加されると共振アクチュエータは共振周波数frで振動して矢印B方向に変位し、これにより機械的要因で振動が阻害されることもなく、大きな振動速度を有する共振アクチュエータを得ることが可能となる。
以下、その原理を説明する。
図2は、圧電セラミック素体1が矢印B方向に振動した状態を示す図である。すなわち、上記共振アクチュエータを駆動させた場合、圧電セラミック素体1は矢印B方向に振動し、仮想線に示すように圧電セラミック素体1は変位する。
したがって、従来のように主電極2a、2bをばね端子や導線で保持すると、該ばね端子や導線によって圧電セラミック素体1の矢印B方向への振動が阻害され、大きな変位量を得ることができなくなる。
一方、圧電セラミック素体1が矢印B方向に振動する場合、該圧電セラミック素体1の側面中央部には振動の生じない不動状態のノード部6が存在する。
したがって、このノード部6にばね端子や導線を保持させて交流電界を印加するようにすれば、機械的要因で共振アクチュエータの振動が阻害されるのを回避することができる。
そこで、本実施の形態では、ノード部6に相当する側面中央部に接続電極3a、3bを形成し、かつ引出導体4a、4bを介して主電極2a、2bと接続電極3a、3bとが電気的に接続されるように電極形状を工夫している。
ところで、本発明者らの研究結果により、圧電セラミック素体をPZT系材料で形成した場合、上記図1に示すような電極形状にすると、縦振動が電界によって大きく阻害され、機械的品質係数Qmが極端に低下するとことが分かった。
図3は、PZT系材料からなる圧電セラミック素体1を備えた共振アクチュエータに、交流電界を印加した場合の電界発生状態を示した図であって、図3(a)は共振アクチュエータの平面図、図3(b)は正面図である。また、電極形状は図1と同様である。
共振アクチュエータが大きな変位量を確保するためには、矢印C方向の電界のみを有するのが望ましい。
しかしながら、圧電セラミック素体1をPZT系材料で形成した場合、対向する接続電極3a、3b間や引出導体4a、4b間にも電界が発生する。すなわち、矢印C方向のみならず、矢印D方向(矢印C方向に対し直交方向乃至斜め方向)にも電界が発生することとなり、その結果、縦振動自体が阻害され、機械的品質係数Qmが極端に低下する。
しかるに、圧電セラミック素体1がビスマス層状化合物からなる場合は、図1のような電極形状とすることにより、従来の電極形状(図12)と比べても機械的品質係数Qmが上昇することが分かった。すなわち、ビスマス層状化合物は異方性が大きく、かつ振動方向Bと分極方向Aとが同一方向であることから、対向する接続電極3a、3b間や引出電極4a、4b間での電界の影響を殆ど受けることもなく、大きな機械的品質係数Qmを得ることが可能となる。
さらに、引出電極4a、4bの幅を主電極2a、2bの幅よりも狭く形成することにより、矢印D方向への電界発生をより少なくすることができ、これによっても、より大きな機械的品質係数Qmを得ることが可能となる。
また、このビスマス層状化合物は、結晶軸のc軸をセラミック素体1の分極方向Aと直交する方向に配向させるのが好ましい。
すなわち、ビスマス層状化合物は、上述したように異方性が大きく、結晶軸のc軸をセラミック素体1の分極方向A(振動方向B)と直交する方向に配向させることにより、機械的品質係数Qmを大きくすることができる。
さらに、図1のような電極形状とすることにより、機械的要因により振動が阻害されるのを排除することができ、より一層大きな機械的品質係数Qmを得ることが可能となる。
尚、配向化したビスマス層状化合物は、後記〔実施例〕で詳述するように、TGG(Templated Grain Growth)法等で容易に作製することができる。すなわち、例えば、c軸配向した板状セラミック粉末と無配向の仮焼粉末とを含有したセラミック成形体を作製した後、該セラミック成形体に熱処理を施すことにより、容易に作製することができる。
そして、このように機械的品質係数Qmを大きくすることができることから、大きな振動速度vを得ることが可能となる。
すなわち、振動速度vと機械的品質係数Qmとの関係は数式(1)で表される。
v∝C 1/2・d・Qm・E …(1)
ここで、Cは弾性スチフネス係数である。
この数式(1)から明らかなように、振動速度vは、圧電定数dと機械的品質係数Qmとの積に比例する。したがって、ビスマス層状化合物の場合、圧電定数dはPZT系圧電セラミック材料に比べて約1/10と低いものの、機械的品質係数Qmを大きくすることができることから、結果として大きな振動速度vを得ることが可能となり、したがって変位量の大きな共振アクチュエータを得ることが可能となる。
また、ビスマス層状化合物の場合、ある一定以上の高電界を印加しても振動速度vが不安定化することなく、印加電界Eに略比例して上昇するもことも分かった。したがって、高電界でも安定して駆動させることが可能となり、共振周波数frや振動速度vを制御するためのフィードバック回路が不要となる。
そして、このようなビスマス層状化合物としては、特に限定されるものではなく、例えば、BiSrNb、BiWO、CaBiNb、BaBiNb、PbBiNb、BiTiNbO、BiTiTaO、BiTi12、SrBiTiNbO12、BaBiTiNbO12、PbBiTiNbO12、CaBiTi15、SrBiTi15、BaBiTi15、PbBiTi15、Na0.5Bi4.5Ti15、K0.5BiTi15、CaBiTi18、SrBiTi18、BaBiTi18、BiTiWo18、BiTiNbO21、Bi10Ti30等を使用することができる。
このように本実施の形態の共振アクチュエータは、圧電セラミック素体1がビスマス層状化合物からなり、かつ、振動方向に対し直交する側面中央部に接続電極3a、3bが形成されると共に、前記接続電極3a、3bと主電極2a、2bとが引出導体4a、4bを介して電気的に接続されているので、機械的要因で振動が阻害されることもなく大きな機械的品質係数Qmを得ることができ、低電界でも大きな振動速度vが得ることが可能となる。しかも、広範な電界強度範囲で振動速度vは印加電界Eに略比例して変動するので、高電界でも安定した駆動が可能となる。したがって共振周波数frや振動速度vを制御するためのフィードバック回路が不要となり、デバイスの簡素化、コスト削減、小型化が可能になる。
さらに、大きな機械的品質係数Qmを得ることができることから、発熱量も抑制することができ、熱による振動速度の低下を防止することができる。
また、従来のPZT系圧電セラミックスでは振動速度vが1m/sを超えて使用するのは困難であったが、ビスマス層状化合物では1m/sを超える振動速度vでも安定して使用することが可能であり、共振アクチュエータの特性を向上させることができる。
尚、本発明は上記実施の形態に限定されるものではない。上記実施の形態では、共振アクチュエータを共振周波数frで駆動させているが、共振周波数frから数%程度偏位した共振周波数近傍の周波数領域で駆動させても同様の作用効果を得ることができる。
次に、本発明の実施例を具体的に説明する。
〔試料番号1〕
ビスマス層状化合物としてc軸に配向したSrBiNb(以下、「SBN」という。)系材料を使用し、図4に示すような電極形状を有する試料番号1の共振アクチュエータを作製した。
すなわち、まず、セラミック素原料としてSrCO、Bi、Nb、Nd、及びMnCOを用意し、最終組成が組成式{100(Sr0.9Nd0.1BiNb)+MnO}を満たすように前記セラミック素原料を秤量し、この秤量物をPSZ(Partially Stabilized Zirconia;部分安定化ジルコニア)ボール及び水と共にボールミルに投入し、該ボールミル内で約16時間湿式混合して混合物を得た。
次いで、得られた前記混合物を乾燥した後、800℃の温度で2時間仮焼し、仮焼粉末を得た。
次いで、この仮焼粉末の一部を取り出し、該仮焼粉末とKClとが重量比で1:1となるように混合し、900℃の温度で10時間熱処理を行い、その後水洗してKClを除去し、セラミック粉末を得た。
ここで、走査型電子顕微鏡を使用してセラミック粉末を観察したところ、形状が異方性を有してc軸に配向しており、最大径φと高さHとの比φ/H(アスペクト比)が5程度の板状になっていることが確認された。
次いで、この板状セラミック粉末と上記仮焼粉末とが重量比で1:1となるように混合し、さらに適量の有機バインダ、分散剤、消泡剤及び表面活性剤とを添加し、PSZボール及び水と共にボールミルに投入し、該ボールミル内で約16時間湿式混合してセラミックスラリーを作製した。その後ドクターブレード法を使用してこのセラミックスラリーを成形し、厚みが約60μmの配向セラミックシートを作製した。
次いで、この配向セラミックシートを所定枚数積層した後、温度60℃、圧力30MPaの加圧条件で30秒間圧着処理を行い、積層成形体を作製した。
次いで、この積層成形体を温度350℃で5時間加熱し、さらに温度500℃で2時間加熱して脱バインダ処理を行い、その後温度1150℃で2時間、焼成して焼結体ブロックを作製した。すなわち、焼成により、板状セラミック粒子が種結晶(テンプレート)として上記仮焼粉末を取り込みながらホモエピタキシャル成長し、これにより配向化した焼結体ブロックが得られる(TGG法)。そして、焼結体ブロックから縦10mm、横10mm、厚み7mmのセラミック焼結体を、結晶軸のc軸が、縦10mm、厚み7mmの面に対して垂直方向を向くように、すなわちa−b面が厚み方向を向くように切り出した。
ここで、縦10mm、厚み7mmの面をX線回折法を使用して分析し、ロットゲーリング法によって配向度を求めたところ、配向度は90%であった。
次に、Agをターゲットとしてスパッタリング処理を行い、厚み方向(振動方向)の両端面に主電極を形成した後、浴温200℃のオイル中で10.0kV/mmの電界を30分間印加し、厚み方向に分極処理を行った。そして分極処理された試料を、縦(x)が2mm、横(y)が2mm、厚み(t)が7mmの寸法にダイサーカットを使用して切り出した。これにより図4に示すように、厚み方向の両端面に主電極12a、12bが形成されたSBN系材料からなる圧電セラミック素体11が得られた。
次いで、再び、Agをターゲットとしてスパッタリング処理を行い、各々側面中央部に接続電極13a、13bを形成し、さらに接続電極13a、13bと主電極12a、12bとを電気的に接続する引出導体14a、14bを形成し、これにより共振アクチュエータを得た。
次に、比較例として試料番号2〜4の共振アクチュエータを作製した。
〔試料番号2〕
試料番号1と同様の方法・手順で、図5に示すように、SBN系材料からなる圧電セラミック素体11の厚み方向の両端面に主電極12a、12bを形成した縦(x):2mm、横(y):2mm、厚み(t):7mmの共振アクチュエータを作製した。
〔試料番号3〕
PZT系材料を使用し、図5に示すような共振アクチュエータを作製した。
すなわち、まず、セラミック素原料としてPb、TiO、MnCO、及びNbを用意し、最終組成が組成式〔Pb{(Mn1/3Nb2/30.10Ti0.46Zr0.44}O〕を満たすように前記セラミック素原料を秤量し、この秤量物をPSZボール及び水と共にボールミルに投入し、該ボールミル内で約16時間湿式混合して混合物を得た。
次いで、得られた前記混合物を乾燥した後、900℃の温度で2時間仮焼し、仮焼粉末を得た。
そしてこの後、仮焼粉末、適量の有機バインダ、分散剤、消泡剤及び表面活性剤を添加し、PSZボール及び水と共にボールミルに投入し、該ボールミル内で約16時間湿式混合してセラミックスラリーを作製した。その後ドクターブレード法を使用してこのセラミックスラリーを成形し、厚みが約60μmのセラミックグリーンシートを作製した。
次いで、このセラミックグリーンシートを所定枚数積層した後、温度60℃、圧力30MPaの加圧条件で30秒間圧着処理を行い、積層成形体を作製した。
次いで、この積層成形体を温度350℃で5時間、更に温度500℃で2時間加熱して脱バインダ処理を行い、その後温度1200℃で2時間焼成し、焼結体ブロックを作製し、縦10mm、横10mm、厚み7mmに切り出してセラミック焼結体を得た。
次に、Agをターゲットとしてスパッタリング処理を行い、両端面に主電極を形成した後、浴温200℃のオイル中で10.0kV/mmの電界を30分間印加し、厚み方向に分極処理を行った。そして分極処理された試料を、試料番号1と同様、縦(x)が2mm、横(y)が2mm、厚み(t)が7mmの寸法にダイサーカットを使用して切り出した。そしてこれにより図5に示すように、PZT系材料からなる圧電セラミック素体16の両端面に主電極12a、12bが形成された共振アクチュエータを得た。
〔試料番号4〕
試料番号3と同様の方法・手順で、厚み方向の両端面に主電極12a、12bが形成されたPZT系材料からなる圧電セラミック素体16を作製した。
そしてその後は試料番号1と同様の方法・手順で、図4に示すような形状の接続電極13a、13b及び引出導体14a、14bを形成し、これにより縦(x):2mm、横(y):2mm、厚み(t):7mmの共振アクチュエータを得た。
〔各試料の特性評価〕
試料番号1、4については接続電極13a、13bをばね端子15a、15bで保持し(図4参照)、試料番号2、3については主電極12a、12bをばね端子15a、15bで保持し(図5参照)、これらのばね端子15a、15bを介して共振アクチュエータに0.071V/mmの電界を印加し、縦振動を励振させた。そして、インピーダンスアナライザ(アジレント・テクノロジー社製HP4294A)を使用してインピーダンス及び位相の周波数特性を測定し、さらに機械的品質係数Qmを求めた。
図6〜図9は試料番号1〜4におけるインピーダンス及び位相の周波数特性を示しており、横軸は周波数(kHz)、左縦軸はインピーダンスZ(kΩ)、右横軸は位相角θ(°)である。図中、実線がインピーダンス曲線、破線が位相曲線を示し、二点鎖線は位相角0°を示している。
表1は試料番号1〜4の圧電セラミック材料、電極形状、機械的品質係数Qm、及び周波数特性を示している。
Figure 0005019274
試料番号2の周波数特性(図7)と試料番号3の周波数特性(図8)とを比較すると、いずれも共振周波数fr及び反共振周波数faで位相が反転しているが、試料番号3は、試料番号2に比べ、共振周波数fr及び反共振周波数faの近傍におけるインピーダンス曲線は急峻さに劣っている。また、表1から明らかなように、試料番号3は機械的品質係数Qmが1100であるのに対し、試料番号2は機械的品質係数Qmが4000であり、したがってSBN系材料はPZT系材料に比べ、大きな機械的品質係数Qmが得られることが分かった。
また、試料番号4は、機械的品質係数Qmが300であり、試料番号3に比べて極端に低下しており、しかもその周波数特性は、図9に示すように位相曲線及びインピーダンス曲線共、大幅に乱れることが分かった。これは圧電セラミック材料としてPZT系材料を使用したため、電極形状を図4のようにすると、機械的要因による振動の阻害は生じないものの、対向する接続電極13a、13b間や引出導体14a、14b間に電界が発生し、このため、厚み方向の縦振動が阻害され、機械的品質係数Qmの低下を招いたものと思われる。
これに対し試料番号1は、機械的品質係数Qmが6000であり、試料番号2に比べても向上しており、しかも周波数特性(図6)も共振周波数fr及び反共振周波数faの近傍でより急峻なものとなっている。すなわち、電極形状を図4のようにし、かつ圧電セラミック素体11にSBN系材料を使用することにより、図5のような電極形状にした場合に比べて機械的要因で振動が阻害されるのを回避することができ、かつ対向する接続電極13a、13b間や引出電極14a、14b間で発生する電界の影響が抑制することができた。そして、その結果大きな機械的品質係数Qmを得ることができ、低い電界で大きな振動速度の得られることが分かった。
試料番号1の試料を使用して印加電界と振動速度との関係を調べた。
図10は、実施例2で使用した測定装置の概略図であって、該測定装置は、試料17にレーザー光を照射するレーザー照射装置18と、振動速度vを検出するレーザードップラー振動計19とを備えている。
そして、試料17の接続電極13a、13bをばね端子15a、15bで保持し、試料17に種々の電圧及び共振周波数の交流電界を印加すると共に、主電極12aの中心部にレーザー照射装置18からのレーザー光を照射し、レーザードップラー振動計19により試料17の振動速度vを測定した。
図11は、印加電界Eと振動速度vとの関係を示した図であり、横軸が印加電界E(V/mm)、縦軸が振動速度v(m/s)である。
この図11から明らかなように振動速度vは印加電界Eに略比例して変動し、印加電界Eが14V/mm程度になると振動速度は4m/s近くまで上昇することが分かった。
すなわち、従来のPZT系材料を使用した共振アクチュエータでは、振動速度は1m/s程度で飽和していたが(非特許文献1)、本発明の共振アクチュエータでは印加電界Eに略比例して変動することが確認された。

Claims (2)

  1. 棒状に形成されたセラミック素体の振動方向の両端面に主電極が設けられると共に、前記振動方向と分極方向とが同一方向とされて共振周波数又はその近傍の周波数で駆動する共振アクチュエータにおいて、
    前記セラミック素体がビスマス層状化合物からなり、
    かつ、前記セラミック素体の側面中央部に接続電極が形成されると共に、前記接続電極と前記主電極とが引出導体を介して電気的に接続されていることを特徴とする共振アクチュエータ。
  2. 前記セラミック素体は、結晶軸のc軸が前記分極方向と直交する方向に配向していることを特徴とする請求項1記載の共振アクチュエータ。
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