JP4804391B2 - チルト補正制御装置 - Google Patents

Description

本発明は、例えばＤＶＤ−ＲＡＭ等の光ディスク上にランドトラック・グルーブトラック記録方式で情報を記録再生する光ディスク装置において、光ディスクと光ビームとのラジアルチルトずれに対する補正を制御する技術に関するものである。

近年の光ディスクに対する高容量化要求に応えるために、種々の高密度光ディスクフォーマットが提唱されている中、ランドトラック／グルーブトラックフォーマット（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭディスク）がある。このフォーマットは、光ディスクの半径方向にトラッキング制御の極性が互いに反転する凸構造のランドトラックと、凹構造のグルーブトラックとを有する。これらのトラックは、光ディスク上にスパイラル状に形成されており、これらトラックに情報が記録された上で再生がなされる。

ランドトラックやグルーブトラックのセクタの先頭にはヘッダ領域が設けられる。ヘッダ領域は、ＣＡＰＡ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ａｌｌｏｃａｔｅｄ Ｐｉｔ Ａｄｒｅｓｓ：相補的に配置されたピットアドレス）と呼ばれるアドレス情報が形成されている領域である。ヘッダ領域は、読出し光ヘッドがグルーブトラックの位置にいてもランドトラックの位置にいてもアドレス情報を抽出できることを目的として、プリピットから構成される。光ディスクにおいては、ヘッダ領域としてＣＡＰＡ１領域とＣＡＰＡ２領域とを有する。

光ディスクに情報を記録再生する光ディスク装置（光学式記録再生装置など）では、光ビームが材料膜上で常に所定の集束状態となるように制御するフォーカス制御、及び光ビームが常に所定のトラック上を正しく走査するように制御するトラッキング制御が、並行して行なわれる。

上記のようなフォーカス制御およびトラッキング制御が行われた上で光ビームのスポットがディスク面に垂直に入射されている（ラジアルチルトが無い）状態では、光検出器の両出力の間で左右対称な反射回折分布が得られ、それ以外のラジアルチルトが有る状態では、光検出器の両出力の間で光強度がずれる。その結果、ランドトラックやグルーブトラックの中心にビームスポットが位置している状態では、ＣＡＰＡ１領域とＣＡＰＡ２領域の振幅は等しくなる。

光ディスクに対してラジアルチルトが生じた場合には、従来技術（例えば、特許文献１、２を参照）として、ＣＡＰＡ１領域を光ビームが通過する際の反射光とＣＡＰＡ２領域を光ビームが通過する際の反射光とに基づいて第２のＲＦ信号を生成し、生成した第２のＲＦ信号に基づいて、上述したラジアルチルトを補正することで、光ビームとトラックとの間のラジアルチルトずれ補正のためのチルト制御の精度をさらに高めた構成が提案されている。
特開２０００−２９３８６８号公報 特開２０００−１４９２９６号公報

しかしながら、上記のような従来の光ディスク装置では、上述のようなランドトラックとグルーブトラックとを有する光ディスクに対しては、ラジアルチルトの要因で記録・再生品位が極端に悪くなる。

その場合、ＣＡＰＡ１領域から得られるＲＦ成分の信号と、ＣＡＰＡ２領域から得られるＲＦ成分の信号との振幅に差が生じるが、その差分を補正するようにラジアルチルトを制御するには、それ相応の処理時間を要する。

このような光ディスク装置に対して、昨今、記録・再生速度やランダムアクセスを速めることが要求されているが、上述したラジアルチルトずれの補正処理速度に関する問題は、記録再生速度の高速化要求に応えるうえで重大な課題となっている。

本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、光ディスクに対して記録・再生速度やランダムアクセスを確実に速めることができ、記録再生速度の高速化という市場要求に十分に応えることが可能な光ディスク装置を実現することができるチルト補正制御装置を提供する。

上記の課題を解決するために、本発明の請求項１記載のチルト補正制御装置は、円形状ディスク体で、ディスク周方向に沿って設けられたランドトラックおよびグルーブトラックの中心からディスク径方向の一方側にずれて設けられた第１のピット列と、前記ランドトラックおよびグルーブトラックの中心からディスク径方向の他方側にずれて設けられた第２のピット列とを有する光ディスクに対して、前記ランドトラックおよびグルーブトラックに沿って光ビームを走査照射する光ヘッド部と、前記光ヘッド部による前記光ビームの走査照射により得られた前記光ディスクに記録されている情報を再生信号として検出する再生信号検出器と、前記再生信号検出器が検出した前記再生信号を基にＲＦ信号を検出するＲＦ信号検出器と、前記ＲＦ信号検出器が検出した前記ＲＦ信号を基に、前記光ビームと前記ランドトラックおよびグルーブトラックとの位置ずれを示す信号として、前記第１のピット列に基づくＣＡＰＡ１の信号振幅と前記第２のピット列に基づくＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するＣＡＰＡ部信号検出器と、を備え、前記光ヘッド部に任意の第１のラジアルチルトを設定して、前記ＣＡＰＡ部信号検出器により、前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するとともに、前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出し、前記第１のラジアルチルトとは異なる第２のラジアルチルトを前記光ヘッド部に設定して、前記ＣＡＰＡ部信号検出器により、前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するとともに、前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出し、前記第１のラジアルチルトおよび前記第２のラジアルチルトとは異なる第３、・・・、第ｍ（ｍ＝４、５、・・・）の互いに異なるラジアルチルトを前記光ヘッド部に設定して、前記ＣＡＰＡ部信号検出器により、前記第３〜第ｍのラジアルチルトごとに、前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するとともに、前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出することにより、前記第１〜第ｍのラジアルチルトのぞれぞれにおいて検出した前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量のｍ個のデータから１次関数近似式を求めるとともに、前記第１〜第ｍのラジアルチルトのぞれぞれにおいて検出した前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量のｍ個のデータから１次関数近似式を求めて、その２つの１次関数近似式の交点におけるラジアルチルトを、最適なラジアルチルト値として検出し、そのラジアルチルト値を設定することを特徴とする。

また、本発明の請求項２記載のチルト補正制御装置は、円形状ディスク体で、ディスク周方向に沿って設けられたランドトラックおよびグルーブトラックの中心からディスク径方向の一方側にずれて設けられた第１のピット列と、前記ランドトラックおよびグルーブトラックの中心からディスク径方向の他方側にずれて設けられた第２のピット列とを有する光ディスクに対して、前記ランドトラックおよびグルーブトラックに沿って光ビームを走査照射する光ヘッド部と、前記光ヘッド部による前記光ビームの走査照射により得られた前記光ディスクに記録されている情報を再生信号として検出する再生信号検出器と、前記再生信号検出器が検出した前記再生信号を基にＲＦ信号を検出するＲＦ信号検出器と、前記再生信号検出器が検出した前記再生信号を基にウォブル信号を検出するウォブル信号検出器と、前記ＲＦ信号検出器が検出した前記ＲＦ信号または前記ウォブル信号検出器が検出した前記ウォブル信号を基に、前記光ビームと前記ランドトラックおよびグルーブトラックとの位置ずれを示す信号として、前記第１のピット列に基づくＣＡＰＡ１の信号振幅と前記第２のピット列に基づくＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するＣＡＰＡ部信号検出器と、を備え、前記光ヘッド部に任意の第１のラジアルチルトを設定して、前記ＣＡＰＡ部信号検出器により、前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するとともに、前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出し、前記第１のラジアルチルトとは異なる第２のラジアルチルトを前記光ヘッド部に設定して、前記ＣＡＰＡ部信号検出器により、前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するとともに、前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出し、前記第１のラジアルチルトおよび前記第２のラジアルチルトとは異なる第３、・・・、第ｍ（ｍ＝４、５、・・・）の互いに異なるラジアルチルトを前記光ヘッド部に設定して、前記ＣＡＰＡ部信号検出器により、前記第３〜第ｍのラジアルチルトごとに、前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するとともに、前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出することにより、前記第１〜第ｍのラジアルチルトのぞれぞれにおいて検出した前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量のｍ個のデータから１次関数近似式を求めるとともに、前記第１〜第ｍのラジアルチルトのぞれぞれにおいて検出した前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量のｍ個のデータから１次関数近似式を求めて、その２つの１次関数近似式の交点におけるラジアルチルトを、最適なラジアルチルト値として検出し、そのラジアルチルト値を設定することを特徴とする。

また、本発明の請求項３記載のチルト補正制御装置は、請求項１または請求項２に記載のチルト補正制御装置であって、前記ＣＡＰＡ部信号検出器は、前記光ディスクと前記光ビームとのラジアルチルトずれ量を計測する際に、検出するＲＦ信号として、前記光ディスクの情報を読み出すのに用いられるＲＦ出力を用いるか、フォーカス及びトラッキング誤差信号を生成するために前記光ピックアップから出力される信号を加算したＡＳ信号を用いるかを選択可能に構成されていることを特徴とする。

以上のように、光ヘッド部に任意の第１のラジアルチルト（ｔ１）を設定して、ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅の差分であるＬ１を検出し、同様にグルーブトラック上でもＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅の差分であるＧ１を検出する。

次に、前述に設定したラジアルチルトとは異なる第２のラジアルチルト（ｔ２）を光ヘッド部に設定して、ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅の差分であるＬ２を検出し、同様にグルーブトラック上でもＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅の差分であるＧ２を検出する。

次に、前述に設定したラジアルチルトとは異なる第ｎのラジアルチルト（ｔｎ）を光ヘッド部に設定して、ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅の差分であるＬｎを検出し、同様にグルーブトラック上でもＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅の差分であるＧｎを検出する。

ここで、ラジアルチルトに対するＣＡＰＡ１とＣＡＰＡ２の信号振幅差分が、ある傾きを有した１次関数に近似される。つまり、

ＲＦｕ・Ｌ＝ａ＊ｔ＋ｂ・・・（式１）
ＲＦｕ・Ｇ＝ｃ＊ｔ＋ｄ・・・（式２）

の式に置換できる。なお、式１と式２において、Ｌ及びＧはランドトラック及びグルーブトラックのＣＡＰＡ１とＣＡＰＡ２の信号振幅差分で、ｔはラジアルチルトで、ａ、ｂ、ｃ、ｄは一次近似式によって求められた数を表す。

前述のようにＤＶＤ−ＲＡＭのようなランドトラック／グルーブトラックフォーマットの光ディスクは、ディスク半径方向にトラッキングエラー信号の極性が互いに反転する凸構造のランドトラックと凹構造のグルーブトラックとを有する構造であるから、ランドトラックとグルーブトラックとで極性を切り替えて検出することが可能になるため、上式１、２の傾きも極性が逆になる。

このことを利用し、式１と式２の交点ｔ＝（ｄ−ｂ）／（ａ−ｃ）を適正なラジアルチルトとして検出することができる。
また、光ディスク上の任意の半径位置にて前述のように検出したラジアルチルト値を求めて、半径位置に対するラジアルチルトとして補間することで、再生・記録及びアクセス時に必要な情報の取得率を向上させることが可能になる。

以上のように本発明によれば、ラジアルチルトに対するＣＡＰＡ１とＣＡＰＡ２との信号振幅差分量の関係から求めた１次関数近似式をランドトラックとグルーブトラックで各々求めて最適なラジアルチルト値を検出し、そのラジアルチルト値を設定することにより、アクセス時におけるラジアルチルトを安定させるために要する時間を短縮化し、迅速にラジアルチルト値を補正することを可能にすることができる。

以上により、光ディスクに対して記録・再生速度やランダムアクセスを確実に速めることができ、記録再生速度の高速化という市場要求に十分に応えることが可能な光ディスク装置を実現することができる。

以下、本発明の実施の形態を示すチルト補正制御装置およびチルト補正制御方法について、図面を参照しながら具体的に説明する。
まず、本実施の形態のチルト補正制御装置の構成を説明する前に、チルト補正制御装置が組み込まれた光ディスク装置において、光ディスクのヘッダ領域αについて説明する。

図８に示すように、光ディスクのランドトラックＬやグルーブトラックＧのセクタの先頭にはヘッダ領域αが設けられる。ヘッダ領域αは、ＣＡＰＡ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ａｌｌｏｃａｔｅｄ Ｐｉｔ Ａｄｄｒｅｓｓ：相補的に配置されたピットアドレス）と呼ばれるアドレス情報が形成される領域である。ヘッダ領域αは、読出し光ヘッドがグルーブトラックの位置にいてもランドトラックの位置にいてもアドレス情報を抽出できることを目的として、プリピットから構成される。

ヘッダ領域αは、第１のピット列に該当するＣＡＰＡ１領域と、第２のピット列に該当するＣＡＰＡ２領域とを有する。ＣＡＰＡ１領域は、各セクタのグルーブトラックＧに対応してその先頭に配置される。ＣＡＰＡ２領域は、各セクタのランドトラックＬに対応してその先頭に配置される。ＣＡＰＡ１領域とＣＡＰＡ２領域とは、各セクタの先頭において隣接するランドトラックＬとグルーブトラックＧとの間に配置されているものの、光ディスクの同一径位置に設けられておらず、ランドトラックＬとグルーブトラックＧとの間で交互に径方向位置を違えて配置される。

ＣＡＰＡ１，２領域は、Ｖａｒｉａｂｌｅ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｏｓｉｌｌａｔｏｒ１，２（以下、ＶＦＯ１，２と称す）とセクタアドレス１，２とから構成される。ＶＦＯ１，２は、単一の周波数で記録されており、Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ（以下、ＰＬＬと称す）を引き込むために使用される。ＣＡＰＡ１領域に設けられるセクタアドレス１は、対応するグルーブトラックＧのセクタのアドレスを示し、ＣＡＰＡ２領域に設けられるセクタアドレス２は、対応するランドトラックＬのセクタのアドレスを示す。
（実施の形態）
図１は本実施の形態のチルト補正制御装置を組み込んだ光ディスク装置の構成を示すブロック図である。

この光ディスク装置は、構成要素を２つのブロックに分けることができる。すなわち、この光ディスク装置は、光ディスク３に光ビームを照射するため、および光ディスク３からの反射光を受けるためのディスク・光ヘッド部１００と、チルト制御部２００とを備える。チルト制御部２００は、チルト補正をディジタル制御で実現するための回路とアドレス読み取りのための回路とで構成される。

以下、ディスク・光ヘッド部１００とチルト制御部２００について、その構成および動作を説明する。
（ディスク・光ヘッド部１００）
ディスク・光ヘッド部１００は、図２に示すように、情報記録媒体である光ディスク３を回転させるため、例えばスピンドルモータからなるディスクモータ４、光ディスク３に光ビームを照射するための光ヘッド部１０１、及び光ヘッド部１０１を移動させるための移送手段の一例である移送モータ１３を備える。

光ヘッド部１０１は、光ビームを光ディスク３のディスク半径方向に移動させる移動手段を構成することができるもので、この光ヘッド部１０１の位置から光ビームが位置するゾーンを求めることができる。

光ヘッド部１０１は、半導体レーザー等の光源５、光源５より発生した光ビームが順に入射されるカップリングレンズ６、偏光ビームスプリッタ７、１／４波長板８、及び対物レンズ１０、チルトアクチュエータ１１、ならびに光ディスク３からの光ビームが入射される２分割光検出器１２を備える。光ヘッド部１０１は上記構成要素を必ずしも必須とするものではなく一例としてその構成を示す。本実施の形態では、チルトアクチュエータ１１と移送モータ１３とから走査器が構成され、２分割光検出器１２から再生信号検出器が構成される。

チルトアクチュエータ１１は、例えばラジアルチルト用のコイルを有する可動部と、永久磁石を有する固定部とにより構成される。チルトアクチュエータ１１の可動部に、対物レンズ１０は取り付けられる。２分割光検出器１２は、２つに分割された受光領域を有し、その分割線の方向は受光面上におけるトラック方向と対応する。

このような構成のディスク・光ヘッド部１００の動作を説明する。
光ディスク３は、ディスクモータ４によって所定の回転数（回転速度）で回転される。光源５より発生する光ビームは、カップリングレンズ６で平行光にされ、偏光ビームスプリッタ７及び１／４波長板８をこの順に通過し、対物レンズ１０により光ディスク３上に集束して照射される。

光ディスク３に照射された光ビームの反射光は、対物レンズ１０および１／４波長板８をこの順に通過し、偏光ビームスプリッタ７で反射された後に２分割光検出器１２上に照射される。２分割光検出器１２の２つの受光領域はそれぞれ照射光を電気信号ＴＥＰ、ＴＥＮ及び２分割光検出器の加算信号であるＲＦに変換して、チルト制御部２００に出力する。

光ディスク３に対する光ビームの照射位置は、移送モータ１３およびチルトアクチュエータ１１により調整する。移送モータ１３は、光ヘッド部１０１全体を光ディスク３のディスク半径方向に移動させる場合に用いられる。チルトアクチュエータ１１は、可動部のコイルに流れる電流に応じて生じる電気磁気力を利用して、固定部の永久磁石に対する相対位置を変化させることにより、光ディスク３のそり（ラジアルチルト）に合わせて光ビームを可動させる。
（チルト制御部２００）
チルト制御部２００は、ＴＥ信号検出回路２１と、ＲＦ信号検出回路２２と、ウォブル信号検出回路２３と、ランド・グルーブ極性検出スイッチ（ＳＷ）２４と、ドライバ２５と、ＣＡＰＡ部信号検出回路２６と、マイクロコンピュータ（マイコン）２７と、メモリ部２８と、チルトずれ検出回路２９とを備える。

ＴＥ信号検出回路２１は、トラッキングエラー検出器を構成するもので、図３に示すように、差動回路１５、低域通過フィルタ（以下、ＬＰＦと言う）１６、ランド・グルーブ極性検出スイッチ２４を備える。差動回路１５は、２分割光検出器１２から出力される電気信号ＴＥＰ、ＴＥＮの差分を算出して、その差分をＬＰＦ１６に通過させて、ＴＥ信号として出力する。ランド・グルーブ極性検出スイッチ２４は、マイクロコンピュータ２７から供給されるＴＲＰＯＬ信号に基づいて、トラッキング誤差（ＴＥ）信号として出力する。

ここで、ＴＲＰＯＬ信号は、ランドトラックからの出力とグルーブトラックからの出力とを判別する信号であって、マイクロコンピュータ２７で生成される。
ランド・グルーブ極性検出スイッチ２４は、ＴＲＰＯＬ信号に基づいて出力を切り替える。すなわち、ランド・グルーブ極性検出スイッチ２４は、グルーブトラックＧに対応する差動回路１５の出力（差分）を反転アンプ１７に出力し、ランドトラックＬに対応する差動回路１５の出力（差分）を反転アンプ１７に経ることなく、そのままＴＥ信号として出力する。

ウォブル信号検出回路２３は、ウォブル信号検出器を構成するもので、図４に示すように、差動回路１８、ＢＰＦ１９を備える。差動回路１８は、２分割光検出器１２から出力される電気信号ＴＥＰ、ＴＥＮの差分を出力し、その差分は、ＢＰＦ１９を通過してウォブル（ＷＢＬ）信号として出力される。

ＲＦ信号検出回路２２は、ＲＦ信号検出器を構成するもので、図５に示すように、加算回路２０を備える。加算回路２０は、２分割光検出器１２から出力される電気信号ＴＥＰ、ＴＥＮを加算して、ＡＳ信号として出力する。また、光ヘッド部１０１内部にて加算されて出力されるＲＦ信号は、ＲＦ信号検出回路２２を通じてＲＦ０信号として出力される。

ＣＡＰＡ部信号検出回路２６は、ラジアルチルトを補正するための構成であって、図６に示すように、ＲＦ０・ＡＳ・ウォブル信号選択スイッチ（ＳＷ）４７と、高域通過フィルタ（以下、ＨＰＦと言う）４０と、打ち抜き回路４１と、ＶＦＯ振幅検出回路４２と、第１のサンプルホールド回路４３と、第２のサンプルホールド回路４４と、差動回路４５とを備える。

ＲＦ０・ＡＳ・ウォブル信号選択ＳＷ４７は、２分割光検出器１２からＲＦ信号検出回路２２を通じて供給される電気信号ＲＦ（ＲＦ０、ＡＳ）、あるいはウォブル信号検出回路２３から出力されるウォブル信号ＷＢＬのいずれかを選択して、ＨＰＦ４０へ出力する。

ＨＰＦ４０は、ＲＦ０・ＡＳ・ウォブル信号選択ＳＷ４７から選択された一つの信号の直流成分を除去して打ち抜き回路４１に出力する。
打ち抜き回路４１は、マイクロコンピュータ２７から供給されるＣＡＰＡ検出信号（ＣＡＰＡ）に基づいて、電気信号ＲＦ０あるいはＡＳにおいてヘッダ領域α（図８参照）に対応する領域の信号ＲＦｃを抽出してＶＦＯ振幅検出回路４２に出力する。ここで、ＣＡＰＡ検出信号（ＣＡＰＡ）とは、ＲＦ信号におけるヘッダ領域α（図８参照）を判別する信号であって、マイクロコンピュータ２７で生成される。

ＶＦＯ振幅検出回路４２は、信号ＲＦｃからその振幅ＲＦｃ’を検出して、第１、第２のサンプルホールド回路４３，４４に出力する。
第１のサンプルホールド回路４３は、マイクロコンピュータ２７から供給されるＶＦＯ１検出信号（ＶＦＯ１）に基づいて、振幅ＲＦｃ’からＶＦＯ１に対応する信号領域の振幅ＲＦｃ’１を抽出して差動回路４５に出力する。ここで、ＶＦＯ１検出信号（ＶＦＯ１）とは、電気信号ＲＦ０あるいはＡＳにおいてＶＦＯ１（図８参照）に対応する信号領域を判別する信号であって、マイクロコンピュータ２７で生成される。

第２のサンプルホールド回路４４は、マイクロコンピュータ２７から供給されるＶＦＯ２検出信号（ＶＦＯ２）に基づいて、振幅ＲＦｃ’からＶＦＯ２に対応する信号領域の振幅ＲＦｃ’２を抽出して差動回路４５に出力する。ここで、ＶＦＯ２検出信号（ＶＦＯ２）とは、電気信号ＲＦ０あるいはＡＳにおいてＶＦＯ２（図８参照）に対応する信号領域を判別する信号であって、マイクロコンピュータ２７で生成される。

差動回路４５は、振幅ＲＦｃ’１と振幅ＲＦｃ’２との差分を生成して、その差分をＲＦｓとして出力する。ここで、ＲＦｓは、ラジアルチルトずれ量に該当する。
チルトずれ検出回路２９は、図７に示すように、ランド・グルーブ極性検出スイッチ２４と、反転アンプ５０と、ゲインアンプ５１と、ＬＰＦ５２とを備える。

ランド・グルーブ極性検出スイッチ２４は、マイクロコンピュータ２７から供給されるＴＲＰＯＬ信号に基づいて、上記の差分信号ＲＦｓを切り替えて出力する。すなわち、ランド・グルーブ極性検出スイッチ２４は、グルーブトラックＧに対応するＲＦｓ信号を反転アンプ５０に出力し、ランドトラックＬに対応するＲＦｓ信号を、反転アンプ５０を経ることなくそのままゲインアンプ５１に出力する。

反転アンプ５０は、ランド・グルーブ極性検出スイッチ２４を介して供給されるグルーブトラックＧに対応するＲＦｓ信号に反転処理を施したうえで、ゲインアンプ５１に出力する。

ゲインアンプ５１は、ランド・グルーブ極性検出スイッチ２４ないし反転アンプ５０から供給されるＲＦｓのゲイン調整を行ってＬＰＦ５２に出力する。ＬＰＦ５２は、ゲインアンプ５１の出力（ゲイン調整されたＲＦｓ）から高周波成分を除去したうえでラジアルチルトずれ量ＲＦｕとして出力する。

次に、ラジアルチルトの変化に対する電気信号ＲＦ及びウォブル信号ＷＢＬの信号波形の変動について、図８〜図１０および図１２〜図１４を用いて説明する。ここで説明を簡単にするために、ヘッダ領域αを除くランドトラックＬおよびグルーブトラックＧには記録マークは形成されていない、即ち未記録状態であることと仮定する。この信号波形の変動は、対物レンズ１０を通じて出力される光ビームのスポット（ＳＰ）とトラックＬ，Ｇとの間の位置整合性（チルト）に基づいて生じる。

スポット（ＳＰ）が各トラックＬ，Ｇのトラックセンタに位置し、図１２のように光ディスク３にそりが無くラジアルチルトが無い状態では、図８に示すように、電気信号ＲＦのＶＦＯ１における振幅ＲＦｃ’１と、ＶＦＯ２における振幅ＲＦｃ’２とほぼ等しくなる（ＲＦｃ’１−ＲＦｃ’２＝０）。このような振幅差は、ウォブル信号においても同様に生じる。

スポット（ＳＰ）が各トラックＬ，Ｇのトラックセンタに位置していても、図１３のように外周に向かって光ディスク３が光ヘッド部１０１に近づく方向にそっている状態では、図９に示すように、電気信号ＲＦのＶＦＯ１における振幅ＲＦｃ’１は、ＶＦＯ２における振幅ＲＦｃ’２より大きくなる（ＲＦｃ’１−ＲＦｃ’２＞０）。このような振幅差は、ウォブル信号においても同様に生じる。

スポット（ＳＰ）が各トラックＬ，Ｇのトラックセンタに位置していても、図１４のように外周に向かって光ディスク３が光ヘッド部１０１から遠ざかる方向にそっている状態では、図１０に示すように、電気信号ＲＦのＶＦＯ１における振幅ＲＦｃ’１は、ＶＦＯ２における振幅ＲＦｃ’２より小さくなる（ＲＦｃ’１−ＲＦｃ’２＜０）。このような振幅差は、ウォブル信号においても同様に生じる。

次に、ＣＡＰＡ部信号検出回路２６の動作の詳細を、図１１、図１５〜図１７および図２２の波形図を参照して説明する。ここで説明を簡単にするために、ヘッダ領域αを除くランドトラックＬおよびグルーブトラックＧには記録マークは形成されていない、即ち未記録状態であることと仮定する。

図１１に示すように、マイクロコンピュータ２７は、スポット（ＳＰ）がヘッダ領域αを通過する期間中の全期間においてＨｉｇｈ（以下、Ｈと称す）となるＣＡＰＡ検出信号（ＣＡＰＡ）を、打ち抜き回路４１に出力する。打ち抜き回路４１は、供給されるＣＡＰＡ検出信号（ＣＡＰＡ）がＨの期間の間、ＣＡＰＡを抽出し、その抽出結果として信号ＲＦｃをＶＦＯ振幅検出回路４２に出力する。ＶＦＯ振幅検出回路４２は、供給されるＣＡＰＡの抽出結果である信号ＲＦｃの振幅ＲＦｃ’を算出し、その算出結果（振幅ＲＦｃ’）を第１のサンプルホールド回路４３と第２のサンプルホールド回路４４とに出力する。

また図１１に示すように、マイクロコンピュータ２７は、ＶＦＯ１の出力が完了した直後のタイミングで立ち上がるＶＦＯ１検出信号（ＶＦＯ１）を生成して、第１のサンプルホールド回路４３に出力し、ＶＦＯ２の出力が完了した直後のタイミングで立ち上がるＶＦＯ２検出信号（ＶＦＯ２）を生成して、第２のサンプルホールド回路４４に出力する。

第１のサンプルホールド回路４３は、供給されるＶＦＯ１検出信号（ＶＦＯ１）が立ち上がる時点での振幅ＲＦｃ’を抽出することで、結果的にＶＦＯ１に対応する振幅ＲＦｃ’１を抽出する。

第２のサンプルホールド回路４４は、供給されるＶＦＯ２検出信号（ＶＦＯ２）が立ち上がる時点での振幅ＲＦｃ’を抽出することで、結果的にＶＦＯ２に対応する振幅ＲＦｃ’２を抽出する。

差動回路４５は、第１のサンプルホールド回路４３から出力されるＶＦＯ１に対応する振幅ＲＦｃ’１と、第２のサンプルホールド回路４４から出力されるＶＦＯ２に対応する振幅ＲＦｃ’２との差分を算出し、算出した差分をＲＦｓとしてチルトずれ検出回路２９に出力する。すなわち、ＲＦｃ’１＝ＲＦｃ’２の場合、差動回路４５は、図１５に示すように、零レベルのＲＦｓを出力する。またＲＦｃ’１＞ＲＦｃ’２の場合、差動回路４５は、図１６に示すように、一方極性（例えば、＋極性）であって振幅ＲＦｃ’１と振幅ＲＦｃ’２との間の差分に応じたレベルを有するＲＦｓを出力する。またＲＦｃ’１＜ＲＦｃ’２の場合、差動回路４５は、図１７に示すように、他方極性（例えば、−極性）であって振幅ＲＦｃ’１と振幅ＲＦｃ’２との間の差分に応じたレベルを有するＲＦｓを出力する。

図２２はラジアルチルトが発生しているときに、スポット（ＳＰ）がグルーブトラックＧとランドトラックＬを各１本ずつ連続して通過したときに出力されるＲＦ信号波形とウォブル信号波形を示し、その特徴が、グルーブトラックＧとランドトラックＬとで特徴が現れていることを示す。

以下、本実施の形態の光ディスク装置におけるチルト補正制御方法について、その詳細を、図１８のフローチャートを参照しながら説明する。
以下のチルト補正制御方法は、基本的にマイクロコンピュータ２７の指示に基づいて、各回路で実行される。

まず、ディスクモータ４、光源（レーザー）５、および光ヘッド部１０１のフォーカス動作を駆動させる（Ｓ１０１）。次に、光ヘッド部１０１のトラッキング動作を駆動させる（Ｓ１０２）。次に、ランド・グルーブ極性検出スイッチ２４を動作させる（Ｓ１０３）。これにより、ＲＦｕの出力が可能になる。

次に、第１のラジアルチルトを設定するために、マイクロコンピュータ２７からドライバ２５へ任意のラジアルチルトを設定させる命令を発行し、ドライバ２５からチルトアクチュエータ１１をマイクロコンピュータ２７から命令された量だけ可動させる（Ｓ１０４）。

次に、スチルジャンプを開始して、対物レンズ１０を通じて出力された光ビームをグルーブトラックＧに保持させる（Ｓ１０５）。具体的には、マイクロコンピュータ２７から光ヘッド部１０１に出力されるスチルジャンプ命令（以下、ＪＭＰと称す）を１回転毎にＨレベルにすることで、対物レンズ１０を通じて出力された光ビームをグルーブトラックＧにスチルジャンプさせて保持する。そして、スチルジャンプ（グルーブ）を実行しながら、チルトずれ検出回路２９をクリアしたうえで、その測定操作を実行する。すなわち、マイクロコンピュータ２７は、チルトずれ検出回路２９にクリア命令（以下、ＣＬＲと称す）と、測定命令ＳＴＡＲＴとを出力する。チルトずれ検出回路２９は、その命令を受けて測定を実行する。

次に、対物レンズ１０を通じて出力された光ビームが単一のグルーブトラックＧ上をトレースし、チルトずれ検出回路２９は、差動回路４５からの出力であるＲＦｓを測定して、結果的にＲＦｕとしてメモリ部２８に出力し記憶させる（Ｓ１０６）。

次に、スチルジャンプ位置を、ランドトラックＬに位置するように、対物レンズ１０を通じて出力された光ビームをランドトラックＬに保持させる（Ｓ１０７）。具体的には、マイクロコンピュータ２７から光ヘッド部１０１に出力されるＪＭＰ命令を１回転毎にＨレベルにすることで、対物レンズ１０を通じて出力された光ビームを、ランドトラックＬにスチルジャンプさせて保持する。そして、スチルジャンプ（ランド）を実行しながら、チルトずれ検出回路２９をクリアしたうえで、その測定操作を実行する。すなわち、マイクロコンピュータ２７は、チルトずれ検出回路２９にＣＬＲ命令と測定命令ＳＴＡＲＴとを出力する。チルトずれ検出回路２９は、その命令を受けて測定を実行する。

次に、対物レンズ１０を通じて出力された光ビームが単一のグルーブトラックＬ上をトレースし、チルトずれ検出回路２９は、差動回路４５からの出力であるＲＦｓを測定して、結果的にＲＦｕとしてメモリ部２８に出力し記憶させる（Ｓ１０８）。

次に、ＲＦｕを計測するラジアルチルトの設定ポイント数を決定し、その設定したチルト時のＲＦｕ振幅を計測し、当該計測回数が設定したポイント数に満たない場は、Ｓ１０４に戻す動作を繰り返す（Ｓ１０９）。例えば、Ｓ１０４で測定ポイントを１０箇所（ｍ＝１０）と設定した時のモデルを図１９に示す。Ｓ１０４からＳ１０８の動作が１０回（ｋ＝１〜１０）繰り返され、各々の設定したラジアルチルトとチルトずれ検出回路２９から出力であるＲＦｕの値がメモリ部２８に記憶される。

次に、メモリ部２８に蓄積された結果を基に得られる一次近似直線として、グルーブトラックからはＲＦｕ・Ｇ＝ｃ＊ｔ＋ｄ（式２）を導出し、ランドトラックからはＲＦｕ・Ｌ＝ａ＊ｔ＋ｂ（式１）を導出し、それらの二式からＲＦｕ・Ｇ＝ＲＦｕ・Ｌとなるラジアルチルトｔ＝（ｄ−ｂ）／（ａ―ｃ）を求めて、マイクロコンピュータ２７に格納する（Ｓ１１０）。

最後に、Ｓ１０４からＳ１１０までの計測・演算処理で求められたラジアルチルト値を、計測された光ディスク３の半径位置にて設定する（Ｓ１１１）。マイクロコンピュータ２７による目標ラジアルチルトの設定方法として、光ディスク３の任意のトラック位置（半径位置）の複数個所のランドトラックとグルーブトラックそれぞれで、チルトずれ検出回路２９からＲＦｕを求め、最適なラジアルチルトを検出（算出）する。

なお、チルト値測定箇所により光ディスク３の記録領域を領域（ゾーン）毎に区分けする必要がある。図２０では、光ディスク３に、その半径位置に応じて、７箇所（０半径位置、６半径位置、１１半径位置、１７半径位置、２３半径位置、３０半径位置、および３４半径位置）で目標ラジアルチルト値を測定して設定している。

なお、設定した複数個所（図２０では７箇所）の間の領域は、その両端のどちらに位置するラジアルチルト値を用いてもよいし、両端に位置するラジアルチルト値を線形補間することにより別途算出してもよいが、制御精度を高めるためには、線形補間するのが好ましく、この方法は、前述した図１８のフローチャートを改良した図２１のフローチャートに基づいて処理を行う必要がある。

図２１のフローチャートの処理を説明する。この処理は、図１８のフローチャートにおいて、Ｓ１０３の処理とＳ１０４の処理との間にＳ２０１の処理を加入し、さらにＳ１１０の処理とＳ１１１の処理との間にＳ２０２の処理を加入している。

Ｓ２０１では、移送モータ１３によって、光ヘッド部１０１を光ディスク３の半径位置としてその目標半径位置に移動する。
Ｓ２０２では、光ディスク３の区分け（ゾーン化）した領域であり、区分けされた領域分に光ヘッド部１０１が移動する。ゾーンをｐ個に設定した場合はｐ箇所でラジアルチルト値を設定するまでＳ１０４からＳ１１０までを繰り返す。

以上のように本実施の形態によれば、ラジアルチルトに対するＣＡＰＡ１とＣＡＰＡ２との信号振幅差分量の関係から求めた１次関数近似式を、ランドトラックとグルーブトラックで各々求めて最適なラジアルチルト値を検出し、そのラジアルチルト値を設定することにより、アクセス時におけるラジアルチルトを安定させるために要する時間を短縮化し、迅速にラジアルチルト値を補正することを可能にすることができる。

その結果、光ディスクに対して記録・再生速度やランダムアクセスを確実に速めることができ、記録再生速度の高速化という市場要求に十分に応えることが可能な光ディスク装置を実現することができる。

本発明のチルト補正制御装置は、光ディスクに対して記録・再生速度やランダムアクセスを確実に速めることができ、記録再生速度の高速化という市場要求に十分に応えることが可能な光ディスク装置を実現することができるもので、例えばＤＶＤ−ＲＡＭなどの光ディスク上にランドトラック・グルーブトラック記録方式で情報を記録再生する光ディスク装置等に適用できる。

本発明の実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置の構成を示すブロック図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置におけるディスク・光ヘッド部の構成を示すブロック図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置におけるＴＥ信号検出回路の構成を示すブロック図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置におけるウォブル信号検出回路の構成を示すブロック図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置におけるＲＦ信号検出回路の構成を示すブロック図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置におけるＣＡＰＡ部信号検出回路の構成を示すブロック図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置におけるチルトずれ検出回路の構成を示すブロック図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置においてラジアルチルトが無い場合のＲＦ信号とウォブル信号の状態説明図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置においてラジアルチルトが有る場合のＲＦ信号とウォブル信号の状態説明図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置においてラジアルチルトが有る場合のＲＦ信号とウォブル信号の他の状態説明図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置においてラジアルチルトが無い場合のＲＦ信号とＶＦＯ信号とＣＡＰＡ信号の状態説明図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置において光ディスクに反りが無い場合の光ヘッド部の状態説明図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置において光ディスクに反りが有る場合の光ヘッド部の状態説明図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置において光ディスクに反りが有る場合の光ヘッド部の他の状態説明図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置においてラジアルチルトが無い場合のＲＦ信号とＲＦｃ’信号とＲＦｓ信号の状態説明図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置においてラジアルチルトが有る場合のＲＦ信号とＲＦｃ’信号とＲＦｓ信号の状態説明図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置においてラジアルチルトが有る場合のＲＦ信号とＲＦｃ’信号とＲＦｓ信号の他の状態説明図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置におけるチルト補正制御方法の行程を示すフローチャート 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置におけるＲＦｕ信号とＴｉｌｔ（ｔ）との関係説明図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置におけるＴｉｌｔ（ｔ）とディスク半径位置との関係説明図 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置におけるチルト補正制御方法の他の行程を示すフローチャート 同実施の形態のチルト補正制御装置を用いた光ディスク装置においてラジアルチルトが有る場合のＲＦ信号とウォブル信号とＴＲＰＯＬ信号の状態説明図

符号の説明

３ 光ディスク
４ ディスクモータ
５ 光源
６ カップリングレンズ
７ 偏光ビームスプリッタ
８ １／４波長板
１０ 対物レンズ
１１ チルトアクチュエータ
１２ ２分割光検出器
１３ 移送モータ
１５ 差動回路
１６ ＬＰＦ
１７ 反転アンプ
１８ 差動回路
１９ ＢＰＦ
２０ 加算回路
２１ ＴＥ信号検出回路
２２ ＲＦ信号検出回路
２３ ウォブル信号検出回路
２４ ランド・グルーブ極性検出ＳＷ（スイッチ）
２５ ドライバ
２６ ＣＡＰＡ部信号検出回路
２７ マイクロコンピュータ（マイコン）
２８ メモリ部
２９ チルトずれ検出回路
３０ レーザー制御部
４０ ＨＰＦ
４１ 打ち抜き回路
４２ ＶＦＯ振幅検出回路
４３ 第１のサンプルホールド回路
４４ 第２のサンプルホールド回路
４５ 差動回路
４７ ＲＦ０・ＡＳ・ウォブル信号選択スイッチ（ＳＷ）
５０ 反転アンプ
５１ ゲインアンプ
５２ ＬＰＦ
１００ ディスク・光ヘッド部
１０１ 光ヘッド部
２００ チルト制御部

Claims (3)

1. 円形状ディスク体で、ディスク周方向に沿って設けられたランドトラックおよびグルーブトラックの中心からディスク径方向の一方側にずれて設けられた第１のピット列と、前記ランドトラックおよびグルーブトラックの中心からディスク径方向の他方側にずれて設けられた第２のピット列とを有する光ディスクに対して、前記ランドトラックおよびグルーブトラックに沿って光ビームを走査照射する光ヘッド部と、
   前記光ヘッド部による前記光ビームの走査照射により得られた前記光ディスクに記録されている情報を再生信号として検出する再生信号検出器と、
   前記再生信号検出器が検出した前記再生信号を基にＲＦ信号を検出するＲＦ信号検出器と、
   前記ＲＦ信号検出器が検出した前記ＲＦ信号を基に、前記光ビームと前記ランドトラックおよびグルーブトラックとの位置ずれを示す信号として、前記第１のピット列に基づくＣＡＰＡ１の信号振幅と前記第２のピット列に基づくＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するＣＡＰＡ部信号検出器と、
   を備え、前記光ヘッド部に任意の第１のラジアルチルトを設定して、前記ＣＡＰＡ部信号検出器により、前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するとともに、前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２との信号振幅の差分量を検出し、
   前記第１のラジアルチルトとは異なる第２のラジアルチルトを前記光ヘッド部に設定して、前記ＣＡＰＡ部信号検出器により、前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するとともに、前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出し、
   前記第１のラジアルチルトおよび前記第２のラジアルチルトとは異なる第３、・・・、第ｍ（ｍ＝４、５、・・・）の互いに異なるラジアルチルトを前記光ヘッド部に設定して、前記ＣＡＰＡ部信号検出器により、前記第３〜第ｍのラジアルチルトごとに、前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するとともに、前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出することにより、
   前記第１〜第ｍのラジアルチルトのぞれぞれにおいて検出した前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量のｍ個のデータから１次関数近似式を求めるとともに、前記第１〜第ｍのラジアルチルトのぞれぞれにおいて検出した前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量のｍ個のデータから１次関数近似式を求めて、その２つの１次関数近似式の交点におけるラジアルチルトを、最適なラジアルチルト値として検出し、そのラジアルチルト値を設定する
   ことを特徴とするチルト補正制御装置。
2. 円形状ディスク体で、ディスク周方向に沿って設けられたランドトラックおよびグルーブトラックの中心からディスク径方向の一方側にずれて設けられた第１のピット列と、前記ランドトラックおよびグルーブトラックの中心からディスク径方向の他方側にずれて設けられた第２のピット列とを有する光ディスクに対して、前記ランドトラックおよびグルーブトラックに沿って光ビームを走査照射する光ヘッド部と、
   前記光ヘッド部による前記光ビームの走査照射により得られた前記光ディスクに記録されている情報を再生信号として検出する再生信号検出器と、
   前記再生信号検出器が検出した前記再生信号を基にＲＦ信号を検出するＲＦ信号検出器と、
   前記再生信号検出器が検出した前記再生信号を基にウォブル信号を検出するウォブル信号検出器と、
   前記ＲＦ信号検出器が検出した前記ＲＦ信号または前記ウォブル信号検出器が検出した前記ウォブル信号を基に、前記光ビームと前記ランドトラックおよびグルーブトラックとの位置ずれを示す信号として、前記第１のピット列に基づくＣＡＰＡ１の信号振幅と前記第２のピット列に基づくＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するＣＡＰＡ部信号検出器と、
   を備え、前記光ヘッド部に任意の第１のラジアルチルトを設定して、前記ＣＡＰＡ部信号検出器により、前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するとともに、前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出し、
   前記第１のラジアルチルトとは異なる第２のラジアルチルトを前記光ヘッド部に設定して、前記ＣＡＰＡ部信号検出器により、前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するとともに、前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出し、
   前記第１のラジアルチルトおよび前記第２のラジアルチルトとは異なる第３、・・・、第ｍ（ｍ＝４、５、・・・）の互いに異なるラジアルチルトを前記光ヘッド部に設定して、前記ＣＡＰＡ部信号検出器により、前記第３〜第ｍのラジアルチルトごとに、前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出するとともに、前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量を検出することにより、
   前記第１〜第ｍのラジアルチルトのぞれぞれにおいて検出した前記ランドトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量のｍ個のデータから１次関数近似式を求めるとともに、前記第１〜第ｍのラジアルチルトのぞれぞれにおいて検出した前記グルーブトラック上のＣＡＰＡ１の信号振幅とＣＡＰＡ２の信号振幅との差分量のｍ個のデータから１次関数近似式を求め、その２つの１次関数近似式の交点におけるラジアルチルトを、最適なラジアルチルト値として検出し、そのラジアルチルト値を設定する
   ことを特徴とするチルト補正制御装置。
3. 前記ＣＡＰＡ部信号検出器は、前記光ディスクと前記光ビームとのラジアルチルトずれ量を計測する際に、検出するＲＦ信号として、前記光ディスクの情報を読み出すのに用いられるＲＦ出力を用いるか、フォーカス及びトラッキング誤差信号を生成するために前記光ピックアップから出力される信号を加算したＡＳ信号を用いるかを選択可能に構成されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載のチルト補正制御装置。

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