JP4786722B2 - 記録装置、記録レーザパワー設定方法 - Google Patents

Description

本発明は、光ディスク等の記録媒体に対する記録装置、及びその記録レーザパワー設定方法に関する。

特許第３１２４７２１号公報 特許第３８０１０００号公報 特開２０００−１３７９１８号公報 特許第３２５９６４２号公報

相変化光ディスクなどの記録可能型の記録媒体に対しては、記録レーザパワーの最適化、いわゆるＯＰＣ（Optimum Power Control）を行う必要があり、種々の手法が提案されている。

特許文献１、２では、γ法と言われる手法として、目標γ値とρレシオ等のパラメータを用いて光ディスクに対するレーザパワー最適値を求める手法が開示されている。
特に特許文献２では、目標γ値を近似する方法が記載されている。
また特許文献３，４には、パワー変化に対するジッター値等のエラー指標の最小値を検索し、最適パワーとする方法が開示されている。

ところで従来の手法には、以下のような問題が残されている。
まず、パワー変化に対するジッター値等のエラー指標の最小値を検索し、最適パワーとする方法については、最適な記録レーザパワーを探すために、過大な記録パワーを与える場合がある。相変化記録媒体においてはテスト領域を繰返し使用することから、過大な記録パワーにより、メディアが損傷してしまうことを考慮し、最適値を大きく超える記録パワーでＯＰＣを実行することは望ましくない。

一方、γ法の場合、実際の量産設計においては、目標γ値とρレシオの２つのパラメータに関して、全ての記録媒体の最適値を求める調査・作業は非常に大変なものであった。
また、従来のγ法のような再生ＲＦ信号の変調度を用いたＯＰＣ手法では、低い変調度（低パワー域）の再生ＲＦ信号では、次のような問題があり実運用上、課題は多い。
１．電気的な、或いは光学的なノイズ成分が再生ＲＦ信号にのることで、測定精度が著しく低下する。
２．低パワーでの記録では、記録媒体の持つ、周内感度変動等の影響を著しく受ける。
３．低パワーでの記録では、長いマークが形成するＲＦの成長と、短いマークが形成するＲＦの成長に違いが出るため、再生時に変調度カーブが複雑に歪んでしまう。
４．仮に単一長のマークだけを記録したとしても、形成されるマークの先頭部分と末尾部分において記録パワーに対するＲＦの成長に差が出るため、再生時に変調度カーブは歪を持ってしまう。

そこで本発明では、過大なパワーを与えないこと、また低いパワーで記録した場合の再生ＲＦ信号の低い変調度に基づく処理としないこと、さらにパラメータを１つとしてＯＰＣを実行できるようにすること、を目的とする。

本発明の記録装置は、記録媒体に対してレーザ照射を行い、情報の記録、再生、又は消去を行う光ヘッド部と、上記光ヘッド部によるレーザ出力の駆動を行うレーザ駆動部と、上記光ヘッド部により読み出された信号の変調度を測定する変調度測定部と、上記光ヘッド部から出力する記録レーザパワーの設定を行う記録レーザパワー設定処理として、上記レーザ駆動部及び上記光ヘッド部を制御して、記録媒体の試験領域に対し、レーザパワーを変化させながらの記録及び消去を実行させ、また上記光ヘッド部を制御して上記試験領域を再生させて再生信号の変調度測定値を上記変調度測定部から取得することで得られる、レーザパワーの変化に応じた消去特性と再生信号成長特性とに基づいて、消去が進む過程と成長が進む過程においてその変調度が一致するポイントであるパワー基準値を求め、該パワー基準値と予め設定された係数とに基づいて消去レーザパワーを演算し、該消去レーザパワーとの比が一定となるように記録レーザパワーを設定する処理を行う制御部とを備える。

また、上記制御部は上記記録レーザパワー設定処理として、上記レーザ駆動部及び上記光ヘッド部を制御して、第１の処理として、所定の固定値としたレーザパワーで上記試験領域に記録を実行させ、第２の処理として、上記第１の処理で記録を行った試験領域を、上記固定値以下の範囲でレーザパワーを変化させながら消去させ、第３の処理として、上記第２の処理で消去を行った試験領域を再生させて、上記変調度測定部による変調度の測定値から、上記消去特性を求め、第４の処理として、全消去状態の試験領域に、上記固定値以下の範囲でレーザパワーを変化させながら記録を実行させ、第５の処理として、上記第４の処理で記録を行った試験領域を再生させて、上記変調度測定部による変調度の測定値から、上記再生信号成長特性を求め、第６の処理として、上記消去特性と上記再生信号成長特性の一致点のパワーを上記パワー基準値として求めて、該パワー基準値に基づき上記記録レーザパワーを設定する。
また上記制御部は、上記第２の処理を複数回実行する。

又は上記制御部は上記記録レーザパワー設定処理として、上記レーザ駆動部及び上記光ヘッド部を制御して、第１の処理として、所定の固定値としたレーザパワーで上記試験領域に記録を実行させて該試験領域にマーク及びスペースを形成させ、第２の処理として、上記第１の処理で記録を行った試験領域におけるスペース部分への記録とマーク部分の消去を、上記固定値以下の範囲でレーザパワーを変化させながら実行させ、第３の処理として、上記第２の処理後の試験領域を再生させて、上記変調度測定部による変調度の測定値から、上記消去特性と上記再生信号成長特性の合成特性を求め、第４の処理として、上記合成特性から決定される上記パワー基準値に基づき、上記記録レーザパワーを設定する。

又は上記制御部は上記記録レーザパワー設定処理として、上記レーザ駆動部及び上記光ヘッド部を制御して、第１の処理として、所定の固定値としたレーザパワーで上記試験領域に記録を実行させて該試験領域にマーク及びスペースを形成させ、第２の処理として、上記第１の処理で記録を行った試験領域を、上記固定値以下の範囲でレーザパワーを変化させながら消去させ、第３の処理として、上記第１の処理で記録を行った試験領域におけるスペース部分への記録とマーク部分の消去を、上記固定値以下の範囲でレーザパワーを変化させながら実行させ、第４の処理として、上記第３の処理後の試験領域を再生させて、上記変調度測定部による変調度の測定値から、上記消去特性と上記再生信号成長特性の合成特性を求め、第５の処理として、上記合成特性から決定される上記パワー基準値に基づき、上記記録レーザパワーを設定する。

本発明の記録レーザパワー設定方法は、記録媒体の試験領域に対し、光ヘッド部から出力するレーザパワーを変化させながらの記録及び消去を実行させ、上記光ヘッド部により上記試験領域を再生させて再生信号の変調度測定値を取得し、上記変調度測定値から得られる、レーザパワーの変化に応じた消去特性と再生信号成長特性に基づいてパワー基準値を求め、上記パワー基準値を用いた演算により、記録レーザパワーを設定する。

このような本発明では、レーザパワーを変化させながらの記録及び消去の結果として再生信号（再生ＲＦ信号）の変調度を測定し、消去特性と再生信号成長特性からパワー基準値を求める。そして例えば消去特性曲線と再生信号成長特性曲線の交点に相当するパワーをパワー基準値とする。或いは消去特性曲線と再生信号成長特性曲線の合成特性の曲線からも同様のパワー基準値を求めることができる。即ち消去が進む過程と、成長が進む過程において、その変調度が一致するポイントである。
このパワー基準値が、或る程度変調度の高いポイントとなるようにすることで、低変調度領域での精度の低下を避けることができる。
また、ＯＰＣ過程で過度に高いレーザパワーを照射する必要はない。
そしてパワー基準値を求めることで、１つのパラメータ（係数）を用いた演算で最適な記録レーザパワーを算出でき、記録レーザパワー設定を行うことができる。

本発明によれば、消去特性と再生信号成長特性から得られるパワー基準値を用いることで、これまで複数必要であったパラメータを特定の係数のみでＯＰＣ結果分布を操作できるようになる。このため実際の量産設計において数多くの記録媒体を調査する際に大幅に工数を削減することができる。
また実際の使用時には、ＯＰＣ処理として、測定精度の安定しない変調度の低いＲＦ信号から得られた結果を用いないようにすることができるため、記録レーザパワーの決定精度の向上が実現できる。
また所定の固定値をパワー上限とし、最適パワーを大きく超えるパワーで試験（ＯＰＣ）することが無いため、記録媒体の試験領域に損傷を与える心配がない。

本発明の実施の形態のディスクドライブ装置のブロック図である。 実施の形態の記録パワー及びε値の説明図である。 第１の実施の形態のＯＰＣ処理のフローチャートである。 第１の実施の形態の消去特性曲線の説明図である。 第１の実施の形態のＲＦ成長曲線の説明図である。 第１、第２の実施の形態の基準点の設定の説明図である。 第２の実施の形態のＯＰＣ処理のフローチャートである。 第２の実施の形態の消去特性曲線の説明図である。 第３，第４の実施の形態のＯＰＣ処理のフローチャートである。 第３の実施の形態の記録／消去動作の説明図である。 第３の実施の形態の合成曲線の説明図である。 第４の実施の形態の合成曲線の説明図である。 実施の形態に係るテスト結果の説明図である。 実施の形態に係るテスト結果の説明図である。

以下、本発明の実施の形態について説明する。ここでは本発明の記録装置の例として相変化光ディスクに対して記録再生を行うディスクドライブ装置を例に挙げ、そのＯＰＣ動作について説明する。説明は次の順序で行う。
［１．ディスクドライブ装置の構成］
［２．第１の実施の形態としてのＯＰＣ動作］
［３．第２の実施の形態としてのＯＰＣ動作］
［４．第３の実施の形態としてのＯＰＣ動作］
［５．第４の実施の形態としてのＯＰＣ動作］
［６．実施の形態に係るＯＰＣ動作のテスト結果］

［１．ディスクドライブ装置の構成］

実施の形態のディスクドライブ装置の構成を図１で説明する。
本実施の形態のディスクドライブ装置は、例えばブルーレイディスク（Blu-ray Disc（登録商標））や、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の光ディスクに対して記録及び再生を行う記録再生装置である。そして特に相変化ディスク（書換可能型ディスク）に対するＯＰＣ動作につき特徴を有するものである。

光ディスク９０は、ディスクドライブ装置に装填されると図示しないターンテーブルに積載され、記録／再生動作時においてスピンドルモータ２によって一定線速度（ＣＬＶ）で回転駆動される。
そして再生時には光ピックアップ（光ヘッド部）１によって光ディスク９０上のトラックに記録されたマーク情報の読出が行われる。
また光ディスク９０に対してのデータ記録時には、光ピックアップ１によって光ディスク９０上のトラックに、ユーザーデータがフェイズチェンジマークとして記録される。

なお、光ディスク９０の内周エリア９１等には、再生専用の管理情報として例えばディスクの物理情報等がエンボスピット又はウォブリンググルーブによって記録されるが、これらの情報の読出も光ピックアップ１により行われる。
さらに光ディスク９０に対しては、光ピックアップ１によってディスク９０上のグルーブトラックのウォブリングとして埋め込まれたＡＤＩＰ（Address in Pregroove）情報の読み出しもおこなわれる。

光ピックアップ１内には、レーザ光源となるレーザダイオードや、反射光を検出するためのフォトディテクタ、レーザ光の出力端となる対物レンズ、対物レンズを介してディスク記録面にレーザ光を照射し、またその反射光をフォトディテクタに導く光学系等が形成される。
光ピックアップ１内において対物レンズは二軸機構によってトラッキング方向及びフォーカス方向に移動可能に保持されている。
また光ピックアップ１全体はスレッド機構３によりディスク半径方向に移動可能とされている。
また光ピックアップ１におけるレーザダイオードはレーザドライバ１３からのドライブ信号（ドライブ電流）によってレーザ発光駆動される。

ディスク９０からの反射光情報はフォトディテクタによって検出され、受光光量に応じた電気信号とされてマトリクス回路４に供給される。
マトリクス回路４には、フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
例えば再生データに相当する再生情報信号（ＲＦ信号）、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号などを生成する。
さらに、グルーブのウォブリングに係る信号、即ちウォブリングを検出する信号としてプッシュプル信号を生成する。
マトリクス回路４から出力されるＲＦ信号はデータ検出処理部５及び変調度測定部１９へ、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号は光学ブロックサーボ回路１１へ、プッシュプル信号はウォブル信号処理回路６へ、それぞれ供給される。

データ検出処理部５は、ＲＦ信号の２値化処理を行う。
例えばデータ検出処理部５では、ＲＦ信号のＡ／Ｄ変換処理、ＰＬＬによる再生クロック生成処理、ＰＲ（Partial Response）等化処理、ビタビ復号（最尤復号）等を行い、パーシャルレスポンス最尤復号処理（ＰＲＭＬ検出方式：Partial Response Maximum Likelihood検出方式）により、２値データ列を得る。
そしてデータ検出処理部５は、光ディスク９０から読み出した情報としての２値データ列を、後段のエンコード／デコード部７に供給する。

エンコード／デコード部７は、再生時おける再生データの復調と、記録時における記録データの変調処理を行う。即ち、再生時にはデータ復調、デインターリーブ、ＥＣＣデコード、アドレスデコード等を行い、また記録時にはＥＣＣエンコード、インターリーブ、データ変調等を行う。

再生時においては、上記データ検出処理部５で復号された２値データ列がエンコード／デコード部７に供給される。エンコード／デコード部７では上記２値データ列に対する復調処理を行い、光ディスク９０からの再生データを得る。
例えばランレングスリミテッドコード変調が施されて光ディスク９０に記録されたデータに対しての復調処理と、エラー訂正としてのＥＣＣデコード処理等を行って、光ディスク９０からの再生データを得る。
エンコード／デコード部７で再生データにまでデコードされたデータは、ホストインターフェース８に転送され、システムコントローラ１０の指示に基づいてホスト機器１００に転送される。ホスト機器１００とは、例えばコンピュータ装置やＡＶ（Audio-Visual）システム機器などである。

光ディスク９０に対する記録／再生時にはＡＤＩＰ情報の処理が行われる。
即ちグルーブのウォブリングに係る信号としてマトリクス回路４から出力されるプッシュプル信号は、ウォブル信号処理回路６においてデジタル化されたウォブルデータとされる。またＰＬＬ処理によりプッシュプル信号に同期したクロックが生成される。
ウォブルデータはＡＤＩＰ復調回路１６でＡＤＩＰアドレスを構成するデータストリームに復調されてアドレスデコーダ９に供給される。
アドレスデコーダ９は、供給されるデータについてのデコードを行い、アドレス値を得て、システムコントローラ１０に供給する。

記録時には、ホスト機器１００から記録データが転送されてくるが、その記録データはホストインターフェース８を介してエンコード／デコード部７に供給される。
この場合エンコード／デコード部７は、記録データのエンコード処理として、エラー訂正コード付加（ＥＣＣエンコード）やインターリーブ、サブコードの付加等を行う。またこれらの処理を施したデータに対して、ランレングスリミテッドコード変調を施す。

エンコード／デコード部７で処理された記録データは、ライトストラテジ部１４において、記録補償処理として、記録層の特性、レーザ光のスポット形状、記録線速度等に対する最適記録パワーの微調整やレーザドライブパルス波形の調整などが行われた状態のレーザドライブパルスとされ、レーザドライバ１３に供給される。
そしてレーザドライバ１３は、記録補償処理したレーザドライブパルスを光ピックアップ１内のレーザダイオードに与えてレーザ発光駆動を実行させる。これにより光ディスク９０に、記録データに応じたマークが形成されることになる。

なお、レーザドライバ１３は、いわゆるＡＰＣ回路（Auto Power Control）を備え、光ピックアップ１内に設けられたレーザパワーのモニタ用ディテクタの出力によりレーザ出力パワーをモニタしながらレーザの出力が温度などによらず一定になるように制御する。
記録時及び再生時のレーザ出力の目標値はシステムコントローラ１０から与えられ、記録時及び再生時にはそれぞれレーザ出力レベルが、その目標値になるように制御する。
記録時の最適なレーザパワーは、後述するＯＰＣ処理によって設定される。

光学ブロックサーボ回路１１は、マトリクス回路４からのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号から、フォーカス、トラッキング、スレッドの各種サーボドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。
即ちフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に応じてフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号を生成し、二軸ドライバ１８により光ピックアップ１内の二軸機構のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することになる。これによって光ピックアップ１、マトリクス回路４、光学ブロックサーボ回路１１、二軸ドライバ１８、二軸機構によるトラッキングサーボループ及びフォーカスサーボループが形成される。
また光学ブロックサーボ回路１１は、システムコントローラ１０からのトラックジャンプ指令に応じて、トラッキングサーボループをオフとし、ジャンプドライブ信号を出力することで、トラックジャンプ動作を実行させる。
また光学ブロックサーボ回路１１は、トラッキングエラー信号の低域成分として得られるスレッドエラー信号や、システムコントローラ１０からのアクセス実行制御などに基づいてスレッドドライブ信号を生成し、スレッドドライバ１５によりスレッド機構３を駆動する。スレッド機構３には、図示しないが、光ピックアップ１を保持するメインシャフト、スレッドモータ、伝達ギア等による機構を有し、スレッドドライブ信号に応じてスレッドモータを駆動することで、光ピックアップ１の所要のスライド移動が行なわれる。

スピンドルサーボ回路１２はスピンドルモータ２をＣＬＶ回転させる制御を行う。
スピンドルサーボ回路１２は、ウォブル信号に対するＰＬＬ処理で生成されるクロックを、現在のスピンドルモータ２の回転速度情報として得、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することで、スピンドルエラー信号を生成する。
またデータ再生時においては、データ検出処理部５内のＰＬＬによって生成される再生クロックが、現在のスピンドルモータ２の回転速度情報となるため、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成することもできる。
そしてスピンドルサーボ回路１２は、スピンドルエラー信号に応じて生成したスピンドルドライブ信号を出力し、スピンドルドライバ１７によりスピンドルモータ２のＣＬＶ回転を実行させる。
またスピンドルサーボ回路１２は、システムコントローラ１０からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータ２の起動、停止、加速、減速などの動作も実行させる。

以上のようなサーボ系及び記録再生系の各種動作はマイクロコンピュータによって形成されたシステムコントローラ１０により制御される。
システムコントローラ１０は、ホストインターフェース８を介して与えられるホスト機器１００からのコマンドに応じて各種処理を実行する。
例えばホスト機器１００から書込命令（ライトコマンド）が出されると、システムコントローラ１０は、まず書き込むべきアドレスに光ピックアップ１を移動させる。そしてエンコード／デコード部７により、ホスト機器１００から転送されてきたデータ（例えばビデオデータやオーディオデータ等）について上述したようにエンコード処理を実行させる。そして上記のようにエンコードされたデータに応じてレーザドライバ１３がレーザ発光駆動することで記録が実行される。

また例えばホスト機器１００から、光ディスク９０に記録されている或るデータの転送を求めるリードコマンドが供給された場合は、システムコントローラ１０はまず指示されたアドレスを目的としてシーク動作制御を行う。即ち光学ブロックサーボ回路１１に指令を出し、シークコマンドにより指定されたアドレスをターゲットとする光ピックアップ１のアクセス動作を実行させる。
その後、その指示されたデータ区間のデータをホスト機器１００に転送するために必要な動作制御を行う。即ちディスク９０からのデータ読出を行い、データ検出処理部５、エンコード／デコード部７における再生処理を実行させ、要求されたデータを転送する。

マトリクス回路４で得られるＲＦ信号は、変調度測定部１９にも供給される。変調度測定部１９は、後述するＯＰＣ動作の際に、再生されたＲＦ信号の変調度を測定し、システムコントローラ１０に供給する。
変調度とは、ＲＦ信号波形の振幅レベルに相当する。例えば所定Ｔのマーク再生時のＲＦ信号振幅のトップレベルをＬＨ、ボトムレベルをＬＬ、無信号時のレベルをＬＺとしたとき、変調度は（ＬＨ−ＬＬ）／（ＬＨ−ＬＺ）で表される。

メモリ部２０は、システムコントローラ１０が各種処理に用いるパラメータや定数等を記憶する。例えば不揮発性メモリで構成される。

なお図１の例は、ホスト機器１００に接続されるディスクドライブ装置として説明したが、実施の形態のディスクドライブ装置としては他の機器に接続されない形態もあり得る。その場合は、操作部や表示部が設けられたり、データ入出力のインターフェース部位の構成が、図１とは異なるものとなる。つまり、ユーザーの操作に応じて記録や再生が行われるとともに、各種データの入出力のための端子部が形成されればよい。もちろんディスクドライブ装置の構成例としては他にも多様に考えられる。

このディスクドライブ装置は、ディスク９０に対して記録動作を行う際には、実際の記録に先だって最適な記録レーザパワーへの調整処理（ＯＰＣ処理）を行うことになる。
このレーザパワー調整は、ディスク９０に設けられた試験領域（ＯＰＣ領域）に対して試し書きを行って実行する。
最適記録レーザパワーの判定処理は、例えば光ディスク９０が装填された際に実行してもよいし、実際に記録を行う直前に実行してもよい。

ＯＰＣ処理の説明に先立って、図２により記録時のレーザ駆動信号波形について説明しておく。
図２に、ライトストラテジ部１４で形成され、レーザドライバ１３により光ピックアップ１のレーザダイオードに与えるレーザ駆動信号波形の例を示している。
ここでは例として４Ｔマーク、７Ｔマークを形成する場合の波形を示す。なお「Ｔ」はチャネルクロック周期である。
レーザ駆動信号波形としては、図示するように形成するマーク長に応じたパルス数のパルストレイン波形とされる。
当該パルス波形は、冷却パワー、消去パワーＰｅ、記録パワーＰｐの各パルスレベルから形成される。
ここで、（消去パワーＰｅ）／（記録パワー）をε値とするが、本例では、ε値は常に固定とされる。即ち消去パワーＰｅに対する記録パワーＰｐの比は一定である。
後述するＯＰＣ動作には、このε値が固定であることを前提に行う。

［２．第１の実施の形態としてのＯＰＣ動作］

第１の実施の形態としてのＯＰＣ動作について説明する。
この第１の実施の形態のＯＰＣ動作の概略は次のとおりである。
相変化メディアとしてのディスク９０に対する、最適記録パワーを決定する方法として、まず最初に初期パワーで試験領域に対して通常ライトを行う。そしてその試験領域に対して、初期パワーを最大値とした所定の範囲で消去パワーを変動させて消去を行う。消去後、この試験領域の残留ＲＦの変調度を測定し、消去特性曲線を得る。
次に、当該試験領域に対して初期パワーで消去を行い、全消去状態としたうえで、その試験領域に対して、上記と同じ範囲の消去パワーにε値を固定とした記録パワー加えてテスト記録する。そして、その試験領域の成長ＲＦ信号の変調度を測定し、ＲＦ成長特性曲線を得る。
そして消去特性曲線とＲＦ成長特性曲線を重ね合わせたときに得られる交点を基準点として、基準点に相当するレーザパワーを用いた演算で、最適記録パワーを求めるものである。

図３〜図６を用いて、具体的なＯＰＣ処理例を説明する。
図３は、ＯＰＣ動作を実行する際のシステムコントローラ１０の処理を示している。
なお、ディスク９０がディスクドライブ装置に装填されると、ＯＰＣ動作が開始されるまでに、ディスク種別が特定され、ディスク種別ごとにＯＰＣ処理のための初期パワーが決められるものとする。ここでいうディスク種別とは、ディスクメーカー別、製造年式別、製品種別などとしての種別である。
初期パワーは設計者が予めディスク種別毎に決めたものでも、ディスクに管理情報として記録されている情報（レーザパワー推奨値）によるものでもよいものとする。
初期パワーは、該当の種別のディスクに対して記録した際、十分な再生信号の変調度が得られる程度のパワー強度であり、かつ、十分消去できる強度である必要があるが、記録品質は問題視しないものとする。

ステップＦ１０１として、システムコントローラ１０は最初に、ディスク９０の試験領域に対して初期パワーでの通常記録を実行させる。
即ち光ピックアップ１にディスク９０の試験領域にアクセスさせ、ライトストラテジ部１４及びレーザドライバ１３を制御して、上記初期パワーに基づく固定値の記録パワーＰｐによる記録動作を実行させる。なお、テスト用の記録データとして所定のマーク／スペースパターンを形成するための記録データを、エンコード／デコード部７から出力させる。
なお、このとき、重ね書き記録特性を考慮し、複数回記録を行うようにしてもよい。またステップＦ１０１の処理を行う前に、過去の記録マークによる影響を確実に排除するために、試験領域をＤＣ消去してもよい。

続いてシステムコントローラ１０はステップＦ１０２で、上記ステップＦ１０１で初期パワーで記録した試験領域に対して、消去パワーを変化させながら消去を行う。即ち光ピックアップ１に再度試験領域にアクセスさせ、ライトストラテジ部１４及びレーザドライバ１３に、例えば最大値が初期パワー、最小値が初期パワーの３分の１になるような消去パワーのふり幅Ｐｅ−ｍａｘ〜Ｐｅ−ｍｉｎとなるよう指示する。そして消去パワーを変化させながら、ＤＣ消去を実行させる。

ステップＦ１０３ではシステムコントローラ１０は、試験領域の残留ＲＦ信号の変調度を測定し、消去特性曲線を得る。即ち光ピックアップ１に試験領域の再生を実行させ、その際に変調度測定部１９で得られる変調度を取り込み、消去特性曲線を得る。

図４で消去特性曲線を説明する。
図４（ａ）は、ステップＦ１０１で試験領域に固定パワーで記録した状態で、その試験領域を再生したときに得られるＲＦ信号波形を示している。固定パワーでの記録のため、図のように、当該試験領域の再生時には所定の振幅レベルとなるＲＦ信号波形が得られる。
次に、ステップＦ１０２で上記のようにパワーを振って消去を行う。このとき、消去パワーをＰｅ−ｍｉｎからＰｅ−ｍａｘに上げていきながら消去を行ったとする。すると、その消去後、即ちステップＦ１０３の段階で、当該試験領域を再生して得られるＲＦ信号波形は図４（ｂ）のようになる。
即ち消去パワーが低い段階では殆ど記録マークの消去が行われていないが、消去パワーが高くなるにつれ、記録マークの消去が進み、消去パワーＰｅ−ｍａｘでは、ほぼ完全にマークが消去される。このため、ＲＦ信号波形は、低い消去パワーで消去を行った部分は大きな振幅のままであるが、徐々に振幅レベルが下がっていくことになる。

ステップＦ１０３では、この図４（ｂ）の状態のＲＦ信号波形が変調度測定部１９に供給され、変調度が測定される。
これによってシステムコントローラ１０は、図４（ｃ）のような消去特性曲線を得る。即ち横軸に消去パワー、縦軸に変調度をとった場合に、消去パワーに応じた残留ＲＦ信号の変調度を示す曲線である。

なお、ここまでの時点で、消去パワーＰｅ−ｍａｘが十分に消去できるパワーでなかった場合、図４（ｂ）のようなＲＦ信号波形が得られない。つまり、消去パワーＰｅ−ｍａｘで消去した部分でも、消去が十分に行われず、変調度が或る程度高いままの状態となることがある。
そこで、ステップＦ１０４でシステムコントローラ１０は、消去パワーＰｅ−ｍａｘで消去した部分の変調度が十分低くなっていない場合は、消去パワーＰｅ−ｍａｘが適切でない（消去パワー不足）と判断する。そしてシステムコントローラ１０はステップＦ１０５に進んで最大レベルの消去パワーＰｅ−ｍａｘの値を変更し（上方修正し）、ステップＦ１０１からの処理をやり直すようにする。

ステップＦ１０１〜Ｆ１０３で、図４（ｃ）のような消去特性曲線が適切に得られた場合は、システムコントローラ１０はステップＦ１０６に進む。そして次にＲＦ成長特性曲線を得る処理を行う。
まずステップＦ１０６では、光ピックアップ１、ライトストラテジ部１４、レーザドライバ１３を制御して、試験領域を一旦、消去パワーＰｅ−ｍａｘを使ってＤＣ消去させる。
なお、ここではステップＦ１０１〜Ｆ１０３と同じ試験領域を、ステップＦ１０７以下の処理で使用するものとして、ＤＣ消去させることとしているが、既にＤＣ消去された（或いは未使用の）別の試験領域を使用することとしてもよい。その場合、ステップＦ１０６の処理は不要である。

続いてシステムコントローラ１０は、光ピックアップ１、ライトストラテジ部１４、レーザドライバ１３を制御して、全消去された状態の試験領域に対し、消去パワーがＰｅ−ｍａｘ〜Ｐｅ−ｍｉｎとなるよう、消去パワーを変化させながら、テスト記録を実行させる。このとき、記録パワーはε値が一定となるよう出力する。
この動作について図５（ａ）（ｂ）（ｃ）で説明する。
図５（ａ）は、全消去された状態の試験領域を再生して得られるＲＦ信号波形を示している。全消去状態であるため、ＲＦ信号振幅はなく、ノイズレベルのみである。
図５（ｂ）上段が、このステップＦ１０７で記録を行った後に再生して得られるＲＦ信号波形である。
上記のように、消去パワーがＰｅ−ｍａｘ〜Ｐｅ−ｍｉｎとなるよう、消去パワーを変化させながら、テスト記録を実行させるとは、図５（ｂ）下段のようなレーザ駆動信号波形で記録を行わせることを言っている。
即ち、消去パワーをＰｅ−ｍｉｎ〜Ｐｅ−ｍａｘと徐々に変化させながら、その消去パワーに対し、ε値で決定される記録パワーによる記録パルスを合成したレーザ駆動信号波形で記録を行うものである。

このようなレーザ駆動信号波形で記録を行うことで、消去パワーが低く、つまり記録パワーが低い状態では、マークは十分に形成されないが、消去パワーが高くなるほど、つまり記録パワーが高くなるほど、マークが確実に形成される。従って、その記録後に再生を行うと、図５（ｂ）上段のようなＲＦ信号波形が得られることになる。

次に、ステップＦ１０８でシステムコントローラ１０は、試験領域のＲＦ信号の変調度を測定し、ＲＦ成長特性曲線を得る。即ち光ピックアップ１に試験領域の再生を実行させ、その際に変調度測定部１９で得られる変調度を取り込み、ＲＦ成長特性曲線を得る。
この場合、試験領域を再生して得られるＲＦ信号波形は、上記のように図５（ｂ）のようになる。ステップＦ１０８では、この図５（ｂ）の状態のＲＦ信号波形が変調度測定部１９に供給され、変調度が測定される。
これによってシステムコントローラ１０は、図５（ｃ）のようなＲＦ成長特性曲線を得る。即ち横軸に消去パワー、縦軸に変調度をとった場合に、消去パワーを変化させながらε値で決められる記録パワーで記録したことに応じたＲＦ信号の変調度を示す曲線である。

以上の処理で消去特性曲線とＲＦ成長特性曲線が得られたため、システムコントローラ１０はステップＦ１０９で、消去特性曲線とＲＦ成長特性曲線を用いて最適記録パワーを計算する。
図６に、消去特性曲線とＲＦ成長特性曲線をあわせて示す。
ここで、消去特性曲線とＲＦ成長曲線の交点、即ち、同じ変調度となる点を基準点ＢＰとする。そして基準点ＢＰに相当する消去パワーをＰｅ−ｄｅｔとする。
そして、消去パワーをＰｅ−ｄｅｔに所定の係数Ｋを乗じた値を、最適消去パワーＰｅ−ｒｅｓｕｌｔとする。
なお、係数Ｋとは、出荷前の設計工程等で、各種のディスクに対して調査を行って求められた値であり、ディスクドライブ装置内のメモリ部２０等に、ディスク種別に応じて記憶されている係数値である。

上述のように、消去パワーと記録パワーの関係は、ε値（＝Ｐｅ／Ｐｐ）に固定される。
従って、最適記録パワーは、最適消去パワーＰｅ−ｒｅｓｕｌｔが決まることで、ε値を用いて決定されることになる。
システムコントローラ１０は、このようにして最適記録パワーを設定し、以降、当該ディスク９０に対する記録動作時に、その最適記録パワーで記録が行われるように設定する。

このような本実施の形態のＯＰＣ処理によれば、従来、複数必要であったパラメータを特定の係数ＫのみでＯＰＣ結果分布を操作できるようになり、実際の量産設計において数多くのディスクを調査する際に大幅に工数を削減することができる。
例えば従来は、各種のディスクに対応して、目標γ値とρレシオ等の相互に影響を与える複数のパラメータを、他方を考慮しながら設定していかなくてはならなかったため、パラメータ設定は非常に繁雑な作業であった。ところが本例の場合、各種のディスクに対応して上記係数Ｋを予め決定しておけばよい。即ち基準の消去パワーＰｅ−ｄｅｔから１つのパラメータで記録パワーを決定すればよいため、当該作業は非常に簡易化される。

また、図６から分かるように、基準点ＢＰは、変調度があまり低くないポイントとすることができる。例えば変調度５０％前後のポイントである。
先に述べたように、変調度が例えば３０％程度の低い領域では、測定精度が安定しない。それに対して本例の場合は、測定精度の安定しない変調度の低いＲＦ信号から得られた結果を使わないで、ＯＰＣ結果を算出できるようになるため、パワー決定精度が向上される。
さらに、試し書き記録を行うパワーの最大値は、初期パワーに基づく固定の記録パワーである。従って最適パワーを大きく超えるパワーで試験することが無いため、ディスク９０の試験領域に損傷を与える心配がない。

［３．第２の実施の形態としてのＯＰＣ動作］

第２の実施の形態のＯＰＣ動作を説明する。
上記第１の実施の形態のＯＰＣ動作において、場合によっては図６（ａ）に示す基準点ＢＰ、つまり消去特性曲線とＲＦ成長曲線の交点が、変調度が高すぎる位置となることがある。例えば消去特性曲線が図６（ｂ）に破線で示すようになる場合である。この場合の基準点ＢＰ１は、変調度が高いポイントとなる。
このような場合、消去特性曲線とＲＦ成長曲線は、図６（ａ）の場合より鈍角で交わる。この消去特性曲線とＲＦ成長曲線の交点として求めたいのは、基準点における消去パワーＰｅ−ｄｅｔであるが、両曲線が鈍角で交わると、図６（ｂ）の横軸（つまり消去パワー）でのポイントの誤差が大きくなる。即ち、ディスク９０の感度変動により生じる変調度のばらつきが交点の示すパワー値に影響しやすくなる。これは、基準とする消去パワーＰｅ−ｄｅｔの決定精度を低くすることとなり、十分なパワー決定精度が得られないおそれがある。
このため、消去特性曲線を、図６（ｂ）の実線のように得られるようにし、両曲線が比較的鋭角で交わる基準点ＢＰ２を用いるようにすることが好ましい。

そこで第２の実施の形態では、システムコントローラ１０は図７のような処理を行うようにするものである。
なお、図７においてステップＦ１０１〜Ｆ１０９として図３と同一ステップ番号を付した処理は図３と同様であるため重複説明を避ける。この図７では、ステップＦ１０２の次にステップＦ１０２−２を追加する処理となる。
そしてこのステップＦ１０２−２では、ステップＦ１０２と同一の処理、即ちステップＦ１０１で初期パワーで記録した試験領域に対して、消去パワーをＰｅ−ｍａｘ〜Ｐｅ−ｍｉｎの範囲で変化させながら消去を行う。つまりパワーを変化させながら消去を行う動作を２回繰り返すことになる。

図８でこの処理の意味を説明する。
図８（ａ）は、ステップＦ１０１で試験領域に固定パワーで記録した状態で、その試験領域を再生したときに得られるＲＦ信号波形を示している。図４（ａ）の場合と同様、固定パワーでの記録のため、図のように、当該試験領域の再生時には所定の振幅レベルとなるＲＦ信号波形が得られる。
次に、ステップＦ１０２で上記のようにパワーを振って消去を行う。このとき、消去パワーをＰｅ−ｍｉｎからＰｅ−ｍａｘに上げていきながら消去を行ったとする。しかしながらメディアの特性等により、十分に消去がしきれないと、当該試験領域を再生して得られるＲＦ信号波形は図８（ｂ）のようになる。
この状態で消去特性曲線を得るとすると、図６（ｂ）の破線のようになってしまう。
そこでステップＦ１０２−２で、再度、パワーを振って消去を行う。これにより、２回目の消去後のステップＦ１０３の段階で、当該試験領域を再生して得られるＲＦ信号波形は図８（ｃ）のようになる。そしてこのＲＦ信号波形から、図８（ｄ）のような消去特性曲線を得ることができる。つまり図６（ｂ）の実線の消去特性曲線である。

このように消去特性曲線を得た後の処理（Ｆ１０４〜Ｆ１０９）は、第１の実施の形態と同様である。即ちＲＦ成長特性曲線を求め、消去特性曲線とＲＦ成長曲線の交点の基準点ＢＰ２から、基準となる消去パワーＰｅ−ｄｅｔを求める。そして消去パワーＰｅ−ｄｅｔに係数Ｋを乗算して最適消去パワーＰｅ−ｒｅｓｕｌｔを求める。最適記録パワーは、最適消去パワーＰｅ−ｒｅｓｕｌｔが決まることで、ε値を用いて決定される。
システムコントローラ１０は、このようにして最適記録パワーを設定し、以降、当該ディスク９０に対する記録動作時に、その最適記録パワーで記録が行われるように設定する。

このような第２の実施の形態により、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。またメディアの特性等により、消去特性曲線が良好に得られない場合にも対応して、精度の高い記録パワー設定を行うことができる。

［４．第３の実施の形態としてのＯＰＣ動作］

第３の実施の形態を図９（ａ）及び図１０，図１１を用いて説明する。
このＯＰＣ動作は、基本的なＯＰＣ動作の考え方は第１の実施の形態と同様であるが、より効率的にＯＰＣ動作を実行する例である。
即ち、最初に初期パワーで初期記録を行い、続けて同一領域に初期パワーを最大値とした所定の範囲でパワーを変動させて記録及び消去を行う。この場合において、初期パワーでの記録のマーク形成位置と、パワーを変動させて記録及び消去を行う場合の記録のマーク形成位置が重ならないようにし、かつ初期パワー記録を行った部分が消去されるようなＮＲＺＩデータパターンを用いるものである。

図９（ａ）は、ＯＰＣ動作を実行する際のシステムコントローラ１０の処理を示している。
この場合も、ディスク９０がディスクドライブ装置に装填されると、ＯＰＣ動作が開始されるまでに、ディスク種別が特定され、ディスク種別ごとにＯＰＣ処理のための初期パワーが決められるものとする。また初期パワーは設計者が予めディスク種別毎に決めたものでも、ディスクに管理情報として記録されている情報（レーザパワー推奨値）によるものでもよい。初期パワーは、該当の種別のディスクに対して記録した際、十分な再生信号の変調度が得られる程度のパワー強度であり、かつ、十分消去できる強度である必要があるが、記録品質は問題視しない。

ステップＦ２０１でシステムコントローラ１０は、光ピックアップ１，レーザドライバ１３，ライトストラテジ部１４を制御して、試験領域に対して初期パワーで通常記録を実行させる。このとき、重ね書き記録特性を考慮し、複数回記録してもよい。また、ステップＦ２０１を行う前に、試験領域をＤＣ消去してもよい。
ここで、記録に使用するＮＲＺＩデータパターンは、例えば図１０（ａ）に示すようなパターンとする。システムコントローラ１０は、例えばこのようなテスト記録用パターンをエンコード／デコード部７から発生させ、ライトストラテジ部１４に供給させる。ライトストラテジ部１４は図１０（ｃ）のようなレーザ駆動信号波形を生成し、レーザドライバ１３に与えることになる。

これにより、ディスク９０の試験領域には、領域Ａがスペース、領域Ｂがマークとされ、例えば９Ｔマーク、６Ｔマーク、７Ｔマーク等が形成される。
なお、この図１０（ａ）に示したＮＲＺＩデータパターンは一例にすぎない。また必ずしも多様なＴのマーク／スペースが形成されるものでなく、一定Ｔ長のマーク／スペースが形成されるパターンであってもよい。但し多様なマーク／スペース長とすることは、サーボ安定性の点で好適である。

次にシステムコントローラ１０はステップＦ２０２で、試験領域に消去パワーがＰｅ−ｍａｘ〜Ｐｅ−ｍｉｎとなるよう、消去パワーを変化させながら、記録及び消去を実行させる。このとき記録パワーはε値が一定となるよう出力する。
記録に使用するＮＲＺＩデータパターンは、図１０（ｂ）に示すパターンとする。システムコントローラ１０は、例えばこのようなテスト記録／消去用パターンをエンコード／デコード部７から発生させ、ライトストラテジ部１４に供給させる。ライトストラテジ部１４は図１０（ｄ）のようなレーザ駆動信号波形を生成し、レーザドライバ１３に与えることになる。
また、システムコントローラ１０は、消去パワーＰｅを図１０（ｅ）に示すように段階的に変化させる。図１０（ａ）〜（ｂ）を含む所定の区間を、試験領域における区間Ｄ１とすると、ステップＦ２０１，Ｆ２０２の動作は区間Ｄ１、Ｄ２・・・Ｄｎとしてｎ区間にわたって行う。その際にステップＦ２０２では、図１０（ｅ）のように、区間毎に消去パワー（及び消去パワーからε値で決定される記録パワー）を変化させるようにする。

このステップＦ２０２では、図１０（ｄ）のレーザ駆動信号波形に応じて光ピックアップ１内のレーザダイオードがレーザ出力を行うことになるため、領域Ａにおいて、マークが形成され、領域Ｂにおいて消去が行われることになる。つまりステップＦ２０１で初期パワーで記録した領域Ｂのマークが消去される。
またこのステップＦ２０２でのマーク形成の記録パワーは、区間Ｄ１，Ｄ２・・で徐々に上げられていき、また消去パワーも、徐々に上げられていくことになる。

次にステップＦ２０３でシステムコントローラ１０は、当該試験領域の変調度を測定し、消去特性曲線とＲＦ成長曲線を合成した合成特性曲線を得る。即ち光ピックアップ１に試験領域の再生を実行させ、その際に変調度測定部１９で得られる変調度を取り込み、合成特性曲線を得る。

図１１で合成特性曲線を説明する。
図１１（ａ）は、ステップＦ２０１で試験領域に固定パワーで記録した状態で、その試験領域を再生したときに得られるＲＦ信号波形を模式的に示している。
なお図では、１本の実線が図１０の領域ＢについてのＲＦ信号振幅であるとしている。図１０からわかるように例えば区間Ｄ１、Ｄ２・・Ｄｎのそれぞれには、多数の領域Ｂが存在するが、図示の都合上、図１１（ａ）では各区間Ｄ１、Ｄ２・・Ｄｎにつき、２本の実線（２つの領域Ｂ）のみでＲＦ信号振幅を示している。
ステップＦ２０１では固定パワーで記録を行ったため、図のように、当該試験領域の再生時には領域Ｂについて所定の振幅レベルとなるＲＦ信号波形が得られる。

次に、ステップＦ２０２で上記のようにパワーを振って領域Ａへの記録と領域Ｂの消去を行う。このとき、消去パワーをＰｅ−ｍｉｎからＰｅ−ｍａｘに上げていきながら消去を行ったとする。すると、その消去後、即ちステップＦ２０３の段階で、当該試験領域を再生して得られるＲＦ信号振幅は図１１（ｂ）のようになる。
図１１（ｂ）において破線が領域ＡのＲＦ信号振幅としている。
即ち消去パワーが低い段階では、領域Ａに十分なマークが形成されず、また領域Ｂの消去は十分に行われない。消去パワーが高くなるにつれ、領域Ｂでの記録マークの消去が進み、また領域Ａで徐々に十分なマークが形成されていくようになる。

このため区間Ｄ１〜Ｄｎを再生することで図示のようなＲＦ信号振幅が得られる。
ステップＦ２０３では、この図１１（ｂ）の状態のＲＦ信号波形が変調度測定部１９に供給され、変調度が測定される。
これによってシステムコントローラ１０は、図１１（ｃ）のような合成特性曲線を得ることができる。即ち横軸に消去パワー、縦軸に変調度をとった場合に、消去パワーに応じたＲＦ信号の変調度を示す曲線である。

ここで、図１１（ｂ）の実線は、上述した第１の実施の形態の消去特性曲線を得るＲＦ信号波形に相当し、また破線は、ＲＦ成長特性曲線を得るＲＦ信号波形に相当する。
即ち図１１（ｃ）の合成曲線は、消去特性曲線とＲＦ成長曲線を合成した曲線として得られることになる。
この合成曲線において変調度が最小となるポイントを基準点ＢＰとする。

上記のように試験領域はＲＦ成長曲線が取得可能な領域Ａと、消去特性曲線が取得可能な領域Ｂが交互に繰り返されている。そして変調度の最小となる基準点ＢＰより低消去パワー側では、領域ＡのＲＦ成長は領域Ｂの残留ＲＦよりもレベルが低いため、消去特性曲線が見えていることになる。一方、基準点ＢＰより高パワー側では、領域Ｂの残留ＲＦは、領域Ａの成長ＲＦよりもレベルが低いためＲＦ成長曲線が見えていることになる。即ち、図１１（ｃ）の合成曲線の最小値を検索することは、第１の実施の形態において図６（ａ）の交点を検索することに相当する。
つまり図９のステップＦ２０１〜Ｆ２０３で、図３のステップＦ１０１〜Ｆ１０８と同様の結果を得ることができる。

合成特性曲線が得られたため、システムコントローラ１０はステップＦ２０４で最適記録パワーを計算する。
即ち図１１（ｃ）の基準点ＢＰに相当する消去パワーをＰｅ−ｄｅｔとする。
そして、消去パワーをＰｅ−ｄｅｔに所定の係数Ｋを乗じた値を、最適消去パワーＰｅ−ｒｅｓｕｌｔとする。最適記録パワーは、最適消去パワーＰｅ−ｒｅｓｕｌｔが決まることで、ε値を用いて決定される。
システムコントローラ１０は、このようにして最適記録パワーを設定し、以降、当該ディスク９０に対する記録動作時に、その最適記録パワーで記録が行われるように設定する。

このような第３の実施の形態により、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。その上で、ステップＦ２０２でパワーを振った消去と記録を同時に行うことで、ＯＰＣ動作全体を効率化し、ＯＰＣ処理の時間を短縮できる。

［５．第４の実施の形態としてのＯＰＣ動作］

第４の実施の形態のＯＰＣ動作を説明する。
上記第３の実施の形態のＯＰＣ動作において、場合によっては図１１（ｃ）に示す基準点ＢＰ、つまり合成特性曲線の最小値が、変調度が高すぎる位置となることがある。例えば合成特性曲線が図１２（ｄ）に破線で示すようになる場合である。この場合の基準点ＢＰ１は、変調度が高いポイントとなる。
このような場合、合成特性曲線のボトムを示す角度が鈍角になり、ディスク９０の感度変動により生じる変調度のばらつきが最小点の示すパワー値に影響しやすくなるために十分なパワー決定精度が得られないおそれがある。そのような場合に第４の実施の形態を適用する。

第４の実施の形態では、システムコントローラ１０は図９（ｂ）の処理を行うようにする。なお、図９（ｂ）においてステップＦ２０１〜Ｆ２０４として図９（ａ）と同一ステップ番号を付した処理は図９（ａ）と同様であるため重複説明を避ける。この図９（ｂ）では、ステップＦ２０１の次にステップＦ２１０を追加する処理となる。

まずシステムコントローラ１０はステップＦ２０１で、試験領域に初期パワーでの記録を実行させる（図１０（ａ）（ｃ）参照）。仮にこの状態で再生を行うと、再生信号振幅は図１２（ａ）のようになる（図１１（ａ）と同様）。

次にシステムコントローラ１０はステップＦ２１０で、試験領域に対し、消去パワーをＰｅ−ｍａｘ〜Ｐｅ−ｍｉｎの範囲で変化させながら消去させる。ここでは消去のみを行うものであり、図１０（ｅ）のように区間毎に消去パワーを変化させるが、記録パルスは重畳しない。従って、単に初期パワーでの記録による領域Ｂのマークの消去が行われる。
仮にこの状態で再生を行うと、再生信号振幅は図１２（ｂ）のようになる。

次にシステムコントローラ１０はステップＦ２０２で、試験領域にパワーを振って記録及び消去を行う（図１０（ｂ）（ｄ）（ｅ）参照）。
つまり、領域Ｂについて２回目の消去を行うとともに、領域Ａについてパワーを振って記録を行うことになる。
これにより、ステップＦ２０３の段階で、当該試験領域を再生して得られるＲＦ信号波形は図１２（ｃ）のようになる。そしてこのＲＦ信号波形から、図１２（ｄ）に実線で示す合成特性曲線を得、基準点ＢＰ２を得ることができる。

このように合成特性曲線を得た後は、ステップＦ２０４で、第３の実施の形態と同様に最適記録パワーを求める。即ち合成特性曲線の変調度最低点となる基準点ＢＰ２から、基準となる消去パワーＰｅ−ｄｅｔを求める。そして消去パワーＰｅ−ｄｅｔに係数Ｋを乗算して最適消去パワーＰｅ−ｒｅｓｕｌｔを求める。最適記録パワーは、最適消去パワーＰｅ−ｒｅｓｕｌｔが決まることで、ε値を用いて決定される。
システムコントローラ１０は、このようにして最適記録パワーを設定し、以降、当該ディスク９０に対する記録動作時に、その最適記録パワーで記録が行われるように設定する。

このような第４の実施の形態により、第３の実施の形態と同様の効果を得ることができる。またメディアの特性等により、消去特性が良好に得られない合成特性となる場合にも対応して、精度の高い記録パワー設定を行うことができる。

［６．実施の形態に係るＯＰＣ動作のテスト結果］

以上、第１〜第４の実施の形態としてのＯＰＣ動作を説明したが、ここで、これらのＯＰＣ動作が実用上好適な動作となることを確認したテスト結果を示しておく。

実験では、ＤＶＤ＋ＲＷメディアとして、２００５年製、２００６年製、２００７年製の３種類の光ディスクを用いた。また、装置＃１，＃２として２つのディスクドライブ装置を用いた。そして以下の（１）〜（４）のテストを行った。

（１）メディア間の差をＯＰＣが吸収できるか確認するため、装置＃１を使って、上記３種類の光ディスクのパワーマージン試験を行う。
（２）次に、装置＃１を使って、３種類の光ディスクについて、ＯＰＣ結果をプロットする。
以上の（１）（２）結果を照らし合わせることで、メディア間の差をＯＰＣが吸収していることを確認する。

（３）さらに装置間の差をＯＰＣが吸収できるかを確認するため、装置＃２を使って２００７年製の光ディスクのパワーマージン試験を行う。
（４）次に、装置＃２を使って、２００７年製の光ディスクについて、ＯＰＣ結果をプロットする。
上記の２００７年製の光ディスクにおける装置＃１、＃２それぞれのパワーマージン結果と、ＯＰＣ結果を照らし合わせることで、装置間の差をＯＰＣが吸収していることを確認する。

図１３（ａ）は、上記（１）の結果である。即ち市販メディアが持つバラツキを本実施の形態のＯＰＣにより吸収できることを確認するために、識別ＩＤが同一で、生産年度が異なる上記３種類の光ディスクを用意し、それぞれの光ディスクについて、装置＃１でパワーマージン試験を行った結果である。縦軸にＰＩエラー、横軸に記録時の消去パワーを示している。
この結果より、２００６年製と２００７年製の光ディスクの最適パワーはほぼ同じであるものの、２００５年製の光ディスクはやや高いパワーを必要としていることがわかる。

次に、上記（２）として、上記（１）で使用した装置＃１を使って３種類の光ディスクのＯＰＣ結果を調査した結果を図１３（ｂ）に示す。これは第４の実施の形態の手法を使った場合のＯＰＣ結果をプロットしたものである。縦軸に変調度、横軸に消去パワーを示す。
この結果より、上記（１）の結果同様、２００５年製の光ディスクのみ、やや高いＯＰＣ結果になっていることがわかる。
これは、本ＯＰＣがメディアの持つバラツキを吸収していることを示している。

次に上記（３）として、装置間のバラツキを本例のＯＰＣにより吸収できることを確認するために、上記２００７年製の光ディスクについて、別の装置＃２を使い、パワーマージン試験を行った。これを、上記（１）の２００７年製の光ディスクの結果を重ねたのが図１４（ａ）である。
この結果より、装置＃２の方が、装置＃１と比較して、若干低パワー方向にシフトしている、即ち、装置＃１の方が高いパワーを必要としていることがわかる。
これは、光学系の持つばらつき、レーザー部品の持つばらつきなどにより、パワー効率に若干の差があることが考えられる。

次に、上記（４）として、上記（３）で使用した装置＃２を使って、２００７年製の光ディスクのＯＰＣ結果を調査する。図１４（ｂ）は、図１３（ｂ）と同様、第４の実施の形態の手法を使った場合の、装置＃１および装置＃２のＯＰＣ結果をプロットしたものである。
この結果より、上記（３）の結果同様、装置＃１の方が、やや高いＯＰＣ結果になっていることがわかる。
これは、本ＯＰＣが装置の持つバラツキを吸収していることを示している。

以上の実験結果から、本実施の形態のＯＰＣ手法が適切であることが確認された。
以上、実施の形態のＯＰＣ処理について説明してきたが、本発明としては第１〜第４の処理例に限らず、多様な変形例が考えられる。
また、記録装置としては、ＤＶＤ、ブルーレイディスクなどの各種光ディスクに対する記録装置が想定される。さらに、ディスク以外の光メディアの記録装置にも本発明の適用の可能性はある。

１ 光ピックアップ、５ データ検出処理部、７ エンコード／デコード部、１０ システムコントローラ、１３ レーザドライバ、１４ ライトストラテジ部、１９ 変調度測定部、９０ 光ディスク

Claims (6)

1. 記録媒体に対してレーザ照射を行い、情報の記録、再生、又は消去を行う光ヘッド部と、
   上記光ヘッド部によるレーザ出力の駆動を行うレーザ駆動部と、
   上記光ヘッド部により読み出された信号の変調度を測定する変調度測定部と、
   上記光ヘッド部から出力する記録レーザパワーの設定を行う記録レーザパワー設定処理として、上記レーザ駆動部及び上記光ヘッド部を制御して、記録媒体の試験領域に対し、レーザパワーを変化させながらの記録及び消去を実行させ、また上記光ヘッド部を制御して上記試験領域を再生させて再生信号の変調度測定値を上記変調度測定部から取得することで得られる、レーザパワーの変化に応じた消去特性と再生信号成長特性とに基づいて、消去が進む過程と成長が進む過程においてその変調度が一致するポイントであるパワー基準値を求め、該パワー基準値と予め設定された係数とに基づいて消去レーザパワーを演算し、該消去レーザパワーとの比が一定となるように記録レーザパワーを設定する処理を行う制御部と、
   を備えた記録装置。
2. 上記制御部は上記記録レーザパワー設定処理として、上記レーザ駆動部及び上記光ヘッド部を制御して、
   第１の処理として、所定の固定値としたレーザパワーで上記試験領域に記録を実行させ、
   第２の処理として、上記第１の処理で記録を行った試験領域を、上記固定値以下の範囲でレーザパワーを変化させながら消去させ、
   第３の処理として、上記第２の処理で消去を行った試験領域を再生させて、上記変調度測定部による変調度の測定値から、上記消去特性を求め、
   第４の処理として、全消去状態の試験領域に、上記固定値以下の範囲でレーザパワーを変化させながら記録を実行させ、
   第５の処理として、上記第４の処理で記録を行った試験領域を再生させて、上記変調度測定部による変調度の測定値から、上記再生信号成長特性を求め、
   第６の処理として、上記消去特性と上記再生信号成長特性の一致点のパワーを上記パワー基準値として求めて、該パワー基準値に基づき上記記録レーザパワーを設定する請求項１に記載の記録装置。
3. 上記制御部は、上記第２の処理を複数回実行する請求項２に記載の記録装置。
4. 上記制御部は上記記録レーザパワー設定処理として、上記レーザ駆動部及び上記光ヘッド部を制御して、
   第１の処理として、所定の固定値としたレーザパワーで上記試験領域に記録を実行させて該試験領域にマーク及びスペースを形成させ、
   第２の処理として、上記第１の処理で記録を行った試験領域におけるスペース部分への記録とマーク部分の消去を、上記固定値以下の範囲でレーザパワーを変化させながら実行させ、
   第３の処理として、上記第２の処理後の試験領域を再生させて、上記変調度測定部による変調度の測定値から、上記消去特性と上記再生信号成長特性の合成特性を求め、
   第４の処理として、上記合成特性から決定される上記パワー基準値に基づき、上記記録レーザパワーを設定する請求項１に記載の記録装置。
5. 上記制御部は上記記録レーザパワー設定処理として、上記レーザ駆動部及び上記光ヘッド部を制御して、
   第１の処理として、所定の固定値としたレーザパワーで上記試験領域に記録を実行させて該試験領域にマーク及びスペースを形成させ、
   第２の処理として、上記第１の処理で記録を行った試験領域を、上記固定値以下の範囲でレーザパワーを変化させながら消去させ、
   第３の処理として、上記第１の処理で記録を行った試験領域におけるスペース部分への記録とマーク部分の消去を、上記固定値以下の範囲でレーザパワーを変化させながら実行させ、
   第４の処理として、上記第３の処理後の試験領域を再生させて、上記変調度測定部による変調度の測定値から、上記消去特性と上記再生信号成長特性の合成特性を求め、
   第５の処理として、上記合成特性から決定される上記パワー基準値に基づき、上記記録レーザパワーを設定する請求項１に記載の記録装置。
6. 記録媒体の試験領域に対し、光ヘッド部から出力するレーザパワーを変化させながらの記録及び消去を実行させ、
   上記光ヘッド部により上記試験領域を再生させて再生信号の変調度測定値を取得し、
   上記変調度測定値から得られる、レーザパワーの変化に応じた消去特性と再生信号成長特性とに基づいて、消去が進む過程と成長が進む過程においてその変調度が一致するポイントであるパワー基準値を求め、
   該パワー基準値と予め設定された係数とに基づいて消去レーザパワーを演算し、該消去レーザパワーとの比が一定となるように記録レーザパワーを設定する記録装置の記録レーザパワー設定方法。

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