JP4672902B2 - Power semiconductor module - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は電力用半導体チップやチップ抵抗器などのチップ部品を一つのモジュール内にはんだ付けして形成した電力用半導体モジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】
図4に従来の電力用半導体モジュールの断面図を示し,図4によって従来の構造を説明する。表面に銅回路3を形成した電気絶縁層2で金属基板1の片面を覆い,銅回路3のランド5にチップ部品4がはんだ8で固着され,回路基板11が完成し,この回路基板11を樹脂ケース21で囲み,上からエポキシ樹脂等の封止材22で充填されて完成する電力用半導体モジュールは電力制御等の用途に用いられる。チップ部品4の下部と金属基板上の電気絶縁層とで挟まれた隙間6は熱伝導率が良くない空気で充たされている。チップ部品4で発生した熱が熱伝導で主として放出する経路は,微少断面のはんだ8,ランド5,電気絶縁層2,とその下層の金属基板1へと熱伝導して該金属基板から外部に放出していた。電力用半導体
モジュールに通電する電力が大きくなると内部で発生する熱が増し,チップ部品の接続部のはんだ8の温度が高くなり通電時と停止時との温度差が大きくなってはんだクラックが発生して接続不良となって信頼性低下の原因となっていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
大電力を通電する電力用半導体モジュールでは,はんだクラックが発生しやすくなり寿命が低下するので,発生した熱の放出が効果的に行われる電力用半導体モジュールの提供が本発明の課題である。
【0004】
【課題を解決するための手段】
チップ部品から発生する熱を効果的に放出する為に,熱伝導率が悪い空気層の厚みを極小にすることに着眼した。金属基板上に電気絶縁層を介して設けられた銅回路のランドに,チップ部品をはんだ付けし,樹脂ケースで囲まれ,該樹脂ケースの内部に封止材が注入硬化される電力用半導体モジュールにおいて,対向する一対のランド間の中間位置で,銅回路の下層の電気絶縁層と,上記チップ部品とで挟まれる隙間に対して,高熱伝導性電気絶縁部材を圧入させることによってチップ部品表面から直に金属基板に熱伝導する経路を形成して,従来の熱伝導経路に加えて熱放出させるようにした。
【0005】
請求項2に関しては,高熱伝導性電気絶縁部材はチップ部品及び部品取付基板に対して密着させる為に,弾性を有するゴム状の有機化合物又は,無機物が混錬されたゴム状の有機化合物で形成された部材とした。固体の電気絶縁物である有機化合物は空気より熱伝導率が大きい。シリコンカーバイドのような無機物は熱伝導率が大きくて,これをシリコンゴムで混錬して弾性体の高熱伝導性電気絶縁部材を得て,チップ部品及び部品取付基板に対して密着させるように挟み込むと効果的な熱伝合経路が形成される。
【0007】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の一形態を図1およびその要部拡大図である図2によって説明する。金属基板1の上に電気絶縁層2を介して銅回路3が形成され,4のチップ部品がはんだ付けされるランド5が銅回路に設けられている。クリームはんだを該ランドに印刷塗布し,チップ部品の端子が該クリームはんだ上に載置された部分に光ビームを照射することで局部加熱されてはんだが融解し,照射を停止して冷却すると,はんだ8が硬化し,その後,必要部位にボンディングワイヤ7でボンディングすると回路が接続されて回路基板11が完成する。この回路基板を底部となるように樹脂ケース21で囲んで固着し,上からエポキシ樹脂などの封止材22を注入して加熱硬化する。このようにして形成した電力用半導体モジュールは使用電力が大きくなるに従い内部発熱量が多くなるので,この熱を効果的に放熱させる為にチップ部品の銅回路への固着の前に次の工程を行う。チップ部品4が固着される一対のランド5とランド51との間にゴム状の有機化合物に高熱伝導性の無機物,例えばシリコンカーバイドやベリリヤセラミックスを混錬してシート状にした高熱伝導性電気絶縁部材9(以下、伝熱部材9と称する)を挟み込むようにしてチップ部品を載置しランドのクリームはんだに光ビームを照射して加熱し,はんだ付けが完了する。固着したチップ部品4の下部と回路基板との間の隙間6には弾性を有する伝熱部材9が,はさみ込まれておりチップの温度上昇は,従来の伝熱部材9が無い場合より低い値となり半導体モジュールの寿命,信頼性の向上に寄与した。
【0008】
他の実施の形態では,図3に示すように,金属基板1の上に固着した電気絶縁層2はベリリヤセラミックスであり,熱伝導率は0.58を有し,アルミナの熱伝導率0.070に対し8倍以上も高い。(熱伝導率の単位は,キロカロリー/平方センチ・秒・℃)このような電気絶縁物に接してチップ部品を搭載することに着目したもので,金属基板1の上にベリリヤセラミックスの電気絶縁層2を介して銅回路3が形成され,該銅回路の厚みに相当する高さの部品載置台10が電気絶縁層2に形成されている。チップ部品4がこの部品載置台に載せられてランド5にはんだ付けされる。クリームはんだを該ランドに印刷塗布し,チップ部品の端子が該クリームはんだ上に載置された基板全体を加熱してもよく,絶縁物が無機物のみであり,高い温度に耐えるので,光ビームを照射することで局部加熱しなくてもよい。その後,必要部位にボンディングワイヤ7でボンディングすると回路が接続されて回路基板11が完成する。この回路基板11を底部となるように樹脂ケース21で囲んで固着し,上からエポキシ樹脂などの封止材22を注入して加熱硬化する
【0009】
図3に示した実施例で寸法精度をゆるめてコストを下げる為には,チップ部品4が直に接している部品載置台11の上に隙間が出来るので,隙間にシリコンオイルのような毛細管現象で吸い上げて保持されるような耐熱性の液体を充顛させることも有効である。
【0010】
【発明の効果】
従来,チップ部品と回路基板の隙間に空気が断熱していた部分に対して,熱伝導性を向上させたので,従来と同一の電力容量でのモジュールの回路基板サイズを小さくすることが出来たのでコストが削減出来て,省資源にも寄与した。チップ部品の温度を低く抑える事ができたので半導体モジュール全体の寿命,信頼性の向上に寄与している。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態を示す断面図である。
【図2】 本発明の実施形態を示す要部拡大図である。
【図3】 本発明の他の実施形態を示す断面図である。
【図4】 従来の回路装置の構造を示す断面図である。
【符号の説明】
1 金属基板
2 電気絶縁層
3 銅回路
4 チップ部品
5 ランド
6 隙間
7 ボンディングワイヤ
8 はんだ
9 高熱伝導性電気絶縁部材(伝熱部材)
10 部品載置台
11 回路基板
21 樹脂ケース
22 封止材
51 ランド[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a power semiconductor module formed by soldering chip components such as a power semiconductor chip and a chip resistor in one module.
[0002]
[Prior art]
FIG. 4 shows a cross-sectional view of a conventional power semiconductor module, and the conventional structure will be described with reference to FIG. One surface of the
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
In a power semiconductor module that conducts a large amount of power, solder cracks are likely to occur and the life is shortened. Therefore, it is an object of the present invention to provide a power semiconductor module in which the generated heat is effectively released.
[0004]
[Means for Solving the Problems]
We focused on minimizing the thickness of the air layer with poor thermal conductivity in order to effectively release the heat generated from the chip components. A power semiconductor module in which chip parts are soldered to copper circuit lands provided on an electric insulating layer on a metal substrate, surrounded by a resin case, and a sealing material is injected and cured inside the resin case In this case, at a middle position between a pair of opposing lands, a high thermal conductivity electrical insulating member is pressed into a gap sandwiched between the electrical insulating layer below the copper circuit and the chip component from the surface of the chip component. A heat conduction path was formed directly on the metal substrate, and heat was released in addition to the conventional heat conduction path.
[0005]
With respect to claim 2, the high thermal conductivity electrical insulating member is formed of a rubbery organic compound having elasticity or a rubbery organic compound kneaded with an inorganic substance so as to be in close contact with the chip component and the component mounting substrate. It was set as the member made. Organic compounds that are solid electrical insulators have a higher thermal conductivity than air. Inorganic materials such as silicon carbide have high thermal conductivity, and knead them with silicon rubber to obtain an elastic, high thermal conductivity electrical insulating member that is sandwiched between the chip component and the component mounting substrate. And an effective heat transfer path is formed.
[0007]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
One embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1 and FIG. A
[0008]
In another embodiment, as shown in FIG. 3, the electrical
In order to reduce the dimensional accuracy and reduce the cost in the embodiment shown in FIG. 3, since a gap is formed on the component mounting table 11 with which the
[0010]
【The invention's effect】
Conventionally, the thermal conductivity was improved for the part where air was thermally insulated in the gap between the chip component and the circuit board, so the module circuit board size with the same power capacity as before could be reduced. As a result, costs were reduced and resources were saved. Since the temperature of the chip components can be kept low, it contributes to the improvement of the lifetime and reliability of the entire semiconductor module.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an enlarged view of a main part showing an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing another embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a cross-sectional view showing the structure of a conventional circuit device.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
DESCRIPTION OF
Claims (2)
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