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JP4271539B2 - チップスケールマーカー及びマーキング方法 - Google Patents

チップスケールマーカー及びマーキング方法 Download PDF

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JP4271539B2 JP2003330484A JP2003330484A JP4271539B2 JP 4271539 B2 JP4271539 B2 JP 4271539B2 JP 2003330484 A JP2003330484 A JP 2003330484A JP 2003330484 A JP2003330484 A JP 2003330484A JP 4271539 B2 JP4271539 B2 JP 4271539B2
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Description

本発明はチップスケールマーカー及びマーキング方法に係り、より詳細にはレーザービームでウェーハチップ上に文字をマーキングする際、ウェーハホルダ上のウェーハの反り(warpage)を除去してレーザーシステム及びウェーハ間のマーキング距離を一定に維持した後マーキングする装置及びこれを用いたマーキング方法に関する。
半導体装置の製造工程でウェーハ上に多くのチップが形成される。これらチップを生産ロット別に区別するために各チップの表面に文字及び/または数字が表示される。このよな用途でレーザービームを使用するチップスケールマーカーが使われる。従来にはダイシング後に各チップにロット番号をマーキングしたが、先端技術の発達により集積回路(IC)の軽薄短小化が可能になるにつれて、高作業効率及び大量生産のためにウェーハ上で個別チップに対するマーキングを施した後にダイシングを行う。ところで、ウェーハサイズは大きくなる一方、ウェーハの厚さは従来と同じかまたは薄くなりつつウェーハの反りが大きな問題になっている。
図1は一般的なチップスケールマーカー10の構成を概略的に示す断面図である。
図1を参照すれば、ウェーハホルダ20上にウェーハWが載置されており、ウェーハホルダ20の下方にレーザーシステム30が配置されている。レーザーシステム30のレーザーソースから発振されたレーザービームはガルバノスキャナ(図示せず)及びF−θレンズ(図示せず)を通じてウェーハW上のチップに照射されてチップの表面に文字を記録する。このようなレーザーシステムは特許文献1に開示されている。
ウェーハホルダ20の上方にウェーハWのチップに刻み込まれた文字などを認識するためのカメラ40が配置されている。このカメラ40はX−Yステージ50に連結されて動く。X−Yステージ50及びウェーハホルダ20はテーブル60に装着されている。
図2はウェーハに照射されるレーザービームの焦点深度(Depth of focus:D.O.F)を示し、図3はウェーハホルダ上にローディングされたウェーハの反りを示す。
図2を参照すれば、ガルバノスキャナ(図示せず)を通過したレーザービームはf−θレンズ34を通過してf−θレンズ34から水平に載置されたウェーハ上のチップに照射される。この時、D.O.F範囲内にマーキング面、すなわち、チップ表面が位置して初めて良質のマーキングが行われる。ここで、D.O.Fは次の数式1で表現される。
D.O.F=±2λ(f/D)2 (数式1)
ここで、D:入射されるビームの直径
f:焦点距離
λ:レーザービームの波長
一方、多数のチップが形成されたウェーハは自重、ウェーハ表面のコーティング及びその他加工などの影響により一定方向に反る現象が発生する。このような反り現象はウェーハサイズが大きくて厚さが薄いほど、そしてコーティング材質の硬化時に収縮量が大きいほど大きく現れる。この時、反り現象によるウェーハの加工面の高さ偏差(図3のh)が前記D.O.Fより大きい場合、加工面上のチップの位置によってレーザー出力の密度とレーザービームの大きさとが変わり、マーキング品質が低下して線幅も一定でなくなり、かつマーキング位置も変わる問題が発生する。
特開平9−248692号公報
本発明の目的は、前記従来技術の問題点を改善するために創出されたものであって、ウェーハの反りを除去して迅速かつ正確にレーザーマーキングを施しうるチップスケールマーカーを提供することである。
本発明の他の目的は、前記チップスケールマーカーを使用するマーキング方法を提供することである。
前記の目的を達成するために本発明のチップスケールマーカーは、ウェーハマーキング用レーザーシステムと、マーキング対象ウェーハが装着されるウェーハホルダと、前記ウェーハホルダの上方に前記ウェーハを撮影する撮影用カメラと、を具備するチップスケールマーカーにおいて、前記ウェーハホルダは中央にウェーハ吸着用真空プレートを具備して前記真空プレート周囲にウェーハ回転手段を具備するが、前記レーザーシステムと対向する領域の一部が露出された開放領域を有し、このような前記ウェーハホルダの開放されていない領域上に前記ウェーハから反りを除去するための反り除去手段が備えられており、前記反り除去手段は、前記ウェーハの上方から垂直移動するものであって、前記ウェーハに下向きの力を加えるための、所定の充填物が満たされたバッグであることを特徴とする。
前記ウェーハ回転手段は、前記ウェーハホルダ上で回転する環状の第1プレートと、前記第1プレート上で回転する環状の第2プレートと、前記真空プレートと前記第2プレートとの間に備えられた環状の第3プレートと、を含み、前記第2プレートは前記第1プレート上に備えられた駆動手段により駆動するように構成されており、前記第3プレートは前記第2プレートの回転により昇降するように第2プレートと接触しつつ、前記ウェーハホルダの前記開放領域に該当する領域が開放されることが望ましい。
また、前記第1プレート外周にギアが備えられており、前記第1プレート周囲に前記ギアを回転駆動させるピニオンギアが備えられることが望ましい。
前記真空プレートは、表面に多数のホールが形成されており、内部は中空構造であり、下部に真空ポンプが連結され、表面に炭素ゴムのような静電気防止用マットが形成されることが望ましい。
また、前記駆動手段は、前記第1プレートの外周に本体が固定され、前記本体から突出するシリンダロッドの端部が前記第2プレートに連結された空圧シリンダまたは電気シリンダであることが望ましい。
一方、前記第2プレートの内周面に前記第3プレートから突出した部材と接触する複数の傾斜溝が形成され、前記突出した部材は、前記第3プレートの外周に形成され、前記傾斜溝上に載せられて前記第3プレートが前記第2プレートにより支持されるようにし、前記第2プレートの回転によって前記傾斜溝に沿って移動しながら前記第3プレートを前記第1プレートから昇降させる複数の支持ピンであることが望ましい。
前記第2プレートが回転する時、前記第3プレートの垂直上昇を確保するために、前記第1プレートに複数のピンが備えられており、前記第3プレートに前記複数のピンに対応する複数のホールが形成されたことが望ましい。
一方、前記ウェーハ回転手段は、前記ウェーハホルダ上で回転駆動する環状の第4プレートと、前記第4プレート上で前記第4プレートに従動回転する環状の第5プレートと、を含むが、前記ウェーハホルダ上には前記第5プレートの一側をホールディングして垂直に移動させる垂直移動軸をさらに具備し、前記第5プレートは前記ウェーハホルダの前記開放領域に該当する領域が開放されたことが望ましい。
前記第4プレート外周にギアが備えられており、前記第4プレート周囲に前記第4プレートを回転駆動させるピニオンギアが備えられ、前記第4プレートが回転する時、前記第5プレートの垂直上昇を確保するために、前記第4プレートに複数のピンが備えられており、前記第5プレートに前記複数のピンに対応する複数のホールが形成されることが望ましい。
前記バッグの外部はポリエステル(PET)にCuまたはNi金属が添加された導電性繊維材質であり、前記バッグの内部はビニルコーティングが形成されることが望ましい。
また、前記充填物はスポンジ、あるいは圧縮空気であることが望ましい。
前記他の目的を達成するために、ウェーハマーキング用レーザーシステムと、マーキング対象ウェーハが装着されるウェーハホルダと、前記ウェーハホルダの上方に前記ウェーハを撮影する撮影用カメラと、を具備し、前記ウェーハホルダは中央にウェーハ吸着用真空プレートを具備して前記真空プレート周囲にウェーハ回転手段を具備し、前記レーザーシステムと対向する領域の一部が露出された開放領域を有し、このような前記ウェーハホルダの開放されていない領域上に前記ウェーハから反りを除去するための反り除去手段が備えられており、前記反り除去手段は、前記ウェーハの上方から垂直移動するものであって、前記ウェーハに下向きの力を加えるための、所定の充填物が満たされたバッグであることを特徴とするチップスケールマーカーを用いてマーキングする方法において、(a)前記ウェーハを前記ウェーハホルダに装着する段階と、(b)前記反り除去手段で前記ウェーハを押さえて反りを除去する段階と、(c)前記ウェーハを撮影してチップの位置を測定し、その位置を認識する段階と、(d)前記開放領域上の前記チップを前記レーザーシステムを用いて前記チップの位置情報によってマーキングする段階と、(e)前記反り除去手段を前記ウェーハからリリーズする段階と、(f)前記ウェーハ回転手段で前記ウェーハを所定角度回転させて前記(b)ないし(e)段階を反復する段階と、を具備することが望ましい。

前記(b)段階は、前記反りが除去されたウェーハを前記真空プレートに吸着固定する段階をさらに含むことが望ましい。
本発明によるチップスケールマーカー及びマーキング方法によれば、ウェーハマーキング前に反りのあるウェーハを延ばしてウェーハのチップをいずれもレーザーシステムから一定のマーキング距離に位置させてマーキングを施すためにマーキング品質を向上させることができる。
以下、添付した図面を参照して本発明のチップスケールマーカーのマーキング距離補正装置による第1実施例を詳細に説明する。この過程で図面に示された層や領域の厚さは明細書の明確性のために誇張されて図示されたものである。
図4ないし図6を参照すれば、ウェーハホルダ120は一側が固定支持されている。ウェーハホルダ120でウェーハがローディングされる領域A1は第1及び第2開放領域A2、A3を含む。第1開放領域A2を通じて下方に位置するレーザーシステム100からレーザービームがウェーハの背面に照射される。第1開放領域A2はウェーハがウェーハ領域A1の真中に位置した時、ウェーハ領域A1の中心点(図6のC)から所定角度に分割されたレーザーマーキングしようとする領域A2'より広いことが望ましい。例えば、ウェーハを90°間隔に回転させつつマーキングする場合、図6に示したように、中心点Cを含んでレーザーマーキング領域A2'より広い領域A2を開放する。第2開放領域A3に図7に示したような中空構造の真空プレート130が固定される。真空プレート130も第1開放領域A2に対応する領域が開放されてその上に配置されるウェーハのマーキングが施されるようにする。
真空プレート130はウェーハホルダ120の第2開放領域A3に所定直径、例えばウェーハの直径より1〜2インチ程度小さな直径を有する。真空プレート130は図7に示したように多数のホール130aを含む。真空プレート130の下部は真空ポンプ(図示せず)に連結されている。ウェーハに接触する真空プレート130の表面にはウェーハのチップの回路に影響を及ぼさないように静電気防止用マット(図示せず)、例えば炭素ゴムが付着されることが望ましい。また、この炭素ゴムは後述するウェーハの反り除去過程及びウェーハを真空プレートからリリーズする過程で発生する衝撃によりウェーハが割れることを防止する。
図8はウェーハ回転手段が備えられたウェーハホルダの斜視図であり、図9は図8のA部分の拡大図である。
図4、図8及び図9を参照すれば、参照番号140、150及び160は各々ウェーハホルダ120に備えられたウェーハ回転手段を構成する環状の第1ないし第3プレートである。第1プレート140はウェーハホルダ120上で真空プレート130の外周から所定距離離れて配置されている。第1プレート140上に環状の第2プレート150が配置されている。環状の第3プレート160は第1プレート140上で第2プレート150と真空プレート130との間に配置されているが、第1開放領域A2に対応するように一側が開放されている。
また図4を参照すれば、ウェーハホルダ120の上方の真空プレート130に対応する領域に押え部170が設けられている。前記押え部170上方に配置されたCCDカメラ180によりウェーハW上のチップの位置が測定されて制御部(図示せず)に伝送される。押え部170の一側は垂直移動軸172に連結されて上下移動する。
押え部170は真空プレート130上のウェーハWを押さえて延ばす作用をする。このために押え部170に真空プレート130の上面をカバーする形状の押え棒174が備えられる。図10はこのような押え棒174の一例を図示する。押え棒174の上部は連結部176によって垂直移動軸172に連結されて垂直移動を通じてウェーハWを押さえたりまたはリリーズする。ウェーハと接触する押え棒174には、ウェーハWと接触する部分がチップに形成された回路に影響を及ぼさないように静電気防止物質、例えばポリエステルにCu及びNi金属が添加された導電性繊維材質を使用することが望ましい。
押え棒174の内部に圧縮空気またはスポンジなどが満たされることが望ましい。そして、押え棒174の内部に圧縮空気を満たして使用する場合には前記導電性繊維材質の内部にビニルコーティングを形成し、外部圧縮空気供給源(図示せず)に連結されることが望ましい。
一方、図8で符号122はウェーハを移送するロボットアーム(図示せず)の出入り口としてのスリット122aが形成されたプレートである。
以下、第1ないし第3プレート140、150、160をより具体的に説明する。
図8を参照すれば、第1プレート140の円周に沿って所定長さのギアプレート142が固定装着されている。ギアプレート142の外周にギアが形成されている。このようなギアプレート142はウェーハホルダ120に備えられたピニオンギア144により駆動する。ピニオンギア144を回転させれば環状の第1ないし第3プレート140、150、160が共に回転する。ギアプレート142は第1プレート140と一体型に形成されていてもよい。
第1プレート140の一側円周に外側の方向に延びて空圧または電気シリンダを支持する突出部(以下、サポータ)149が形成されている。このサポータ149上に空圧シリンダ146が配置されている。空圧シリンダ146のシリンダロッド147は第2プレート150に固定された固定部材158に連結されている。固定部材158に曲線溝(図11の158a)が形成されている。したがって図11に示したように、シリンダロッド147が直線運動をする時、シリンダロッド147の端部は曲線溝158aに沿って移動する。その結果、第2プレート150は回転運動する。曲線溝158aの代りに所定の強度を有するスプリング(図示せず)をシリンダロッド147と固定部材158との間に連結することも可能である。したがって、空圧シリンダ146を作動させてシリンダロッド147を前進させれば、第2プレート150が第1プレート140から回転する(図11の点線参照)。
図9の第3プレート160と第2プレート150との結合関係を示す拡大図面を参照すれば、第2プレート150の内周面に傾斜溝151が形成されている。第3プレート160の外周面に図5に示したように等間隔で3つの溝162が形成されているが、この溝162にブッシング163が固定設置されている。ブッシング163内に支持ピン161が回転自在に設置される。傾斜溝151に支持ピン161の一部が接触する。したがって、第3プレート160は同心円上で3ケ所に均一に離れて配置された3つの支持ピン161を通じて第2プレート150により支持される。支持ピン161が空圧シリンダ146の作動により傾斜溝151に沿って移動しながら第3プレート160が第1プレート140から上下移動する。参照番号155は、第1プレート140上に設けられて第2プレート150が空圧シリンダ146の作動により回転する時に回転経路から離脱しないようにガイドするガイドローラ155である。ガイドローラ155は第2プレート150の円周に接触設置されて第2プレート150の回転に従動して回転することが望ましい。
3つのプレート140、150、160はピニオンギア144の回転と共に回転し、空圧シリンダ146の動作により第3プレート160が第1プレート140から上下移動する。また、第1プレート140の上部に多数の凸ピン(図5の145参照)が形成されている。そして、第3プレート160に凸ピン145と同数の凹ホール165とが形成されている。凸ピン145は凹ホール165に対応する位置に形成される。このような凸ピン145により第2プレート150が回転すると、第3プレート160は第1プレート140から垂直に移動する。凸ピン145及び凹ホール165は各々第3プレート160及び第1プレート140に形成されてもよい。
一方、第3プレート160のウェーハが載置される領域上にウェーハ収納を円滑にするための多数の突起部166が形成されている。突起部166の高さは第3プレート160が下降した状態で真空プレート130より低いことが望ましい。
ウェーハホルダ120及び環状の第1ないし第3プレート140、150、160の作用を図面を参照して説明する。
まず、ロボットアーム(図示せず)によりウェーハホルダ120上にウェーハが載置される過程を説明する。第3プレート160の開放領域をロボットアーム(図示せず)の進行方向に位置させる。このために、図8に示したようにピニオンギア144により第1プレート140を時計方向に約45°回転させる。次いで、前記ウェーハをホールディングしたロボットアームをスロット122aを通じて第3プレート160の開放領域に進入させて真空プレート130上に整列する。
次に、空圧シリンダ146を作動させてシリンダロッド147を前進させれば第2プレート150が回転しながら第3プレート160は第1プレート140から垂直に上昇する。このように第3プレート160が上昇して突起部166が真空プレート130上に整列されたウェーハと接触して支持したら、ロボットアームをウェーハホルダ120から引き出す。
次いで、ピニオンギア144により第1プレート140を逆時計回り方向に回転させて第3プレート160を元の位置に戻せば、第3プレート160の開放領域と真空プレート130及びウェーハホルダ120の開放領域とが重なる。この時、ウェーハは突起部166に載置された状態で回転する。
次いで、空圧シリンダ146のシリンダロッド147を元の位置に戻せば、第3プレート160の支持ピン161は傾斜溝151に沿って元来の位置に降り、その結果、前記ウェーハは真空プレート130上に載置される。
次いで、垂直移動軸172を下方に所定距離移動させて押え棒174によりウェーハを押える。この状態で真空プレート130の内部から空気を取り除いて前記ウェーハを真空プレート130に吸着させる。これによりウェーハの反りが除去される。
次いで、押え棒174に連結された垂直移動軸172を上方に移動させ、カメラ180で下方のウェーハを撮影して制御部(図示せず)にチップの位置情報を送る。前記制御部は入力されたチップの位置情報からチップの位置を把握してレーザーシステム100にマーキング作業を行わせしめる。
開放された領域でのチップマーキングが終われば、真空プレート130に連結された真空ポンプ(図示せず)をオフにした後、空圧シリンダ146のシリンダロッド147を直進させる。このようにして、第3プレート160が上昇し、上昇した第3プレート160によりウェーハが浮き上がる。すなわち、ウェーハは真空プレート130から上方に所定距離離れる。次いで、ピニオンギア144により第1プレート140を時計回り方向に約90°回転させれば、第2及び第3プレート150、160とウェーハとは共に時計回り方向に90°回転する。
次に、ウェーハは動かずに第1ないし第3プレート140、150、160だけ元の位置に戻す過程を説明する。まず、空圧シリンダ146を作動させてシリンダロッド147を元の位置に戻してウェーハを真空プレート130上に位置させる。そして、垂直移動軸172を使用して押え棒174を下方に移動させてウェーハを延ばし、真空プレート130内部を真空状態にしてウェーハを真空プレート130上に固定させる。次いで、ピニオンギア144を逆時計回り方向に90°回転させる。この時、第2及び第3プレート150、160は第1プレート140上で元の位置に戻るが、前記ウェーハは真空プレート130に固定されて時計回り方向に90°回転した状態そのままに維持される。次いで前述したようにCCDカメラ180でチップの位置を撮影してマーキングを施す。
以後、前記方法を反復してウェーハの残りの領域上に形成されたチップに対するマーキング作業を行う。
図12は、本発明の第2実施形態によるチップスケールマーカーの構成を概略的に示す断面図であり、図13は図12に示したウェーハ回転手段を具備したウェーハホルダの分解斜視図であり、第1実施例と同じ構造の構成要素には同じ符号を使用して詳細な説明を省略する。
図12及び図13を参照すれば、ウェーハホルダ220は一側が固定支持されている。ウェーハホルダ220でウェーハがローディングされる領域A1は第1及び第2開放領域A2、A3を含む。第1開放領域A2を通じてウェーハホルダ220の下方に位置するレーザーシステム100からレーザービームがウェーハの背面に照射される。第1開放領域A2は、ウェーハがウェーハ領域A1の真中に位置した時、ウェーハ領域A1の中心点Cから所定角度に分割されたレーザーマーキングしようとする領域より広いことが望ましい。第2開放領域A3に図7に示したような中空構造の真空プレート130が固定される。真空プレート130も第1開放領域A2に対応する領域が開放されていてその上に配置されるウェーハのマーキングを行わせる。
真空プレート130は図7に示したように多数のホール130aを含む。真空プレート130下部は真空ポンプ(図示せず)に連結されている。ウェーハに接触する真空プレート130の表面にはウェーハのチップの回路に影響を及ぼさないように静電気防止用マット(図示せず)、例えば炭素ゴムが付着されたことが望ましい。また、この炭素ゴムは後述するウェーハの反り除去過程及びウェーハを真空プレートからリリーズする過程で発生する衝撃によりウェーハが割れることを防止する。
図14はウェーハ回転手段が備えられたウェーハホルダの斜視図である。
図12及び図14を参照すれば、符号240及び260は各々ウェーハホルダ220に備えられたウェーハ回転手段を構成する環状の第4及び第5プレートである。第4プレート240はウェーハホルダ220上で真空プレート130の外周から所定距離離れて配置されている。環状の第5プレート260は第4プレート240上で内周面が真空プレート130に接触するように配置されており、第1開放領域A2に対応するように一側が開放されている。一方、第5プレート260の外周はウェーハホルダ220上に設けられた垂直移動軸224のホルダ225によってホールディングされるように支持されて垂直移動軸224の垂直移動によりウェーハホルダ220上で垂直移動する。
また図12を参照すれば、ウェーハホルダ220の上方の真空プレート130に対応する領域に押え部170が設けられている。前記押え部170上方に配置されたCCDカメラ180によりウェーハW上のチップの位置が測定されて制御部(図示せず)に伝送される。押え部170の一側は垂直移動軸172に連結されて上下移動する。
一方、図14で符号222はウェーハを移送するロボットアーム(図示せず)の出入り口としてのスリット222aが形成されたプレートである。
以下、第4及び第5プレート240、260をより具体的に説明する。
図14を参照すれば、第4プレート240の円周に沿って所定長さのギアプレート242が固定装着されている。ギアプレート242の外周にギアが形成されている。このようなギアプレート242はウェーハホルダ220に備えられたピニオンギア244により駆動する。ピニオンギア244を回転させれば環状の第4及び第5プレート240、260が共に回転する。ギアプレート242は第1プレート240と一体型に形成されていてもよい。
第4プレート240の上部に多数の凸ピン(図13の245参照)が形成されている。そして第5プレート260に凸ピン245と同数の凹ホール265とが形成されている。凸ピン245は凹ホール265に対応する位置に形成される。このような凸ピン245及び凹ホール265により、第5プレート260が垂直移動軸224により第4プレート240から垂直に移動すると、第5プレート260が第4プレート240から偏差なしに垂直移動する。凸ピン245及び凹ホール265は各々第5プレート260及び第4プレート240に形成されていてもよい。
一方、第5プレート260のウェーハが載置される領域上にウェーハ収納を円滑にするための多数の突起部266が形成されている。突起部266の高さは第5プレート260が下降した状態で真空プレート130より低いことが望ましい。
ウェーハホルダ220及び環状の第4ないし第5プレート240、260の作用を図面を参照して説明する。
まず、ロボットアーム(図示せず)によりウェーハホルダ220上にウェーハが載置される過程を説明する。第5プレート260の開放部がウェーハホルダ220の開放領域A2に整列された状態で前記ウェーハをホールディングした前記ロボットアームをスロット222aを通じて進入させて真空プレート230上に整列する。
次に、第5プレート260の外周をホールディングしたホルダ225を支持する垂直移動軸224を上昇させて突起部266が真空プレート130上に整列されたウェーハと接触すれば、前記ウェーハは第5プレート260上に載置してロボットアームはウェーハホルダ220から除去する。
次いで、垂直移動軸224を下降させれば、第5プレート260は元の位置に下降し、その結果、前記ウェーハは真空プレート130上に載置される。
次いで、垂直移動軸172を下方に所定距離移動させて押え棒174によりウェーハを押える。この状態で真空プレート130の内部から空気を取り除いて前記ウェーハを真空プレート130に吸着させる。これによりウェーハの反りが除去される。
次いで、押え棒174に連結された垂直移動軸172を上方に移動させ、カメラ180で下方のウェーハを撮影して制御部(図示せず)にチップの位置情報を送る。前記制御部は入力されたチップの位置情報からチップの位置を把握してレーザーシステム100にマーキング作業を行わせしめる。
開放された領域でのチップマーキングが終われば、真空プレート130に連結された真空ポンプ(図示せず)をオフにした後、垂直移動軸224を上昇させ、かつホルダ225に支持された第5プレート260を上昇させて第5プレート260上のウェーハを真空プレート130から離す。すなわち、ウェーハは真空プレート130から上方に所定距離離れる。次いで、ピニオンギア244により第4プレート240を時計回り方向に約90°回転させれば、第4プレート240の凸ピン245によって凹ホール265が噛み合って第5プレート260がウェーハと共に時計回り方向に90°回転する。この時、垂直移動軸224のホルダ225は第5プレート260を摺動自在に支持する。
次に、ウェーハは動かずに第4ないし第5プレート240、260だけ元の位置に戻す過程を説明する。まず、垂直移動軸224を下方に動かしてウェーハを真空プレート130上に位置させる。そして、垂直移動軸172を使用して押え棒174を下方に移動させてウェーハを延ばし、真空プレート130内部を真空状態にしてウェーハを真空プレート130上に固定させる。次いで、垂直移動軸172を上方に移動させて押え棒174をウェーハから取り除く。そして、ピニオンギア144を逆時計回り方向に90°回転させる。この時、第5プレート260は第4プレート240上で元の位置に戻るが、前記ウェーハは真空プレート130に固定されて時計回り方向に90°回転した状態そのままに維持される。次いで、前述したようにCCDカメラ180でチップの位置を撮影してマーキングを施す。
以後、前記方法を反復してウェーハの残りの領域上に形成されたチップに対するマーキング作業を行う。
本発明は図面を参照して実施例を参考として説明されたが、これは例示的なものに過ぎず、当業者であればこれより多様な変形及び均等な実施例が可能であるという点を理解できる。したがって、本発明の真の技術的保護範囲は特許請求の範囲に限って決まるものである。
本発明は、ウェーハの反りを除去して迅速かつ正確にレーザーマーキングを施しうるチップスケールマーカーに適用できる。
一般的なチップスケールマーカーの概略図である。 ウェーハに照射されるレーザービームのD.O.Fを説明するための図である。 ウェーハホルダ上でのウェーハ反りを示す断面図である。 本発明の第1実施例によるチップスケールマーカーの構成を概略的に示す断面図である。 図4に示したウェーハ回転手段を具備するウェーハホルダの分解斜視図である。 ウェーハホルダの開放領域を説明する図である。 図4に示した真空プレートの斜視図である。 ウェーハ回転手段が備えられたウェーハホルダの斜視図である。 図8のA部分の拡大図である。 前記押え棒の一実施形態を示した図である。 図8の空圧シリンダの作用を説明する概略平面図である。 本発明の第2実施形態によるチップスケールマーカーの構成を概略的に示す断面図である。 図12に示したウェーハ回転手段を具備したウェーハホルダの分解斜視図である。 ウェーハ回転手段が備えられたウェーハホルダの斜視図である。
符号の説明
100 レーザーシステム
120 ウェーハホルダ
130 真空プレート
130a ホール
140 第1プレート
150 第2プレート
160 第3プレート
166 突起部
170 押え部
172 垂直移動軸
174 押え棒
176 連結部
180 CCDカメラ

Claims (25)

  1. ウェーハマーキング用レーザーシステムと、マーキング対象ウェーハが装着されるウェーハホルダと、前記ウェーハホルダの上方に前記ウェーハを撮影する撮影用カメラと、を具備するチップスケールマーカーにおいて、
    前記ウェーハホルダは中央にウェーハ吸着用真空プレートを具備して前記真空プレート周囲にウェーハ回転手段を具備するが、前記レーザーシステムと対向する領域の一部が露出された開放領域を有し
    このような前記ウェーハホルダの開放されていない領域上に前記ウェーハから反りを除去するための反り除去手段が備えられており、
    前記反り除去手段は、前記ウェーハの上方から垂直移動するものであって、前記ウェーハに下向きの力を加えるための、所定の充填物が満たされたバッグであることを特徴とするチップスケールマーカー。
  2. 前記ウェーハホルダは、前記開放領域が、
    装着されたウェーハの少なくとも1/4前記レーザーシステムに露出することを特徴とする請求項1に記載のチップスケールマーカー。
  3. 前記ウェーハ回転手段は、
    前記ウェーハホルダ上で回転する環状の第1プレートと、
    前記第1プレート上で回転する環状の第2プレートと、
    前記真空プレートと前記第2プレートとの間に備えられた環状の第3プレートと、を含み、
    前記第2プレートは前記第1プレート上に備えられた駆動手段により駆動するように構成され、
    前記第3プレートは前記第2プレートの回転により昇降するように第2プレートと接触しつつ、前記ウェーハホルダの前記開放領域に該当する領域が開放されることを特徴とする請求項1に記載のチップスケールマーカー。
  4. 前記第1プレート外周にギアが備えられており、
    前記第1プレート周囲に前記ギアを回転駆動させるピニオンギアが備えられたことを特徴とする請求項3に記載のチップスケールマーカー。
  5. 前記駆動手段は、
    前記第1プレートの外周に本体が固定され、前記本体から突出するシリンダロッドの端部が前記第2プレートに連結された空圧シリンダまたは電気シリンダであることを特徴とする請求項3に記載のチップスケールマーカー。
  6. 前記第2プレートの内周面に前記第3プレートから突出した部材と接触する複数の傾斜溝が形成されたことを特徴とする請求項3に記載のチップスケールマーカー。
  7. 前記突出した部材は、
    前記第3プレートの外周に形成され、前記傾斜溝上に載せられて前記第3プレートが前記第2プレートにより支持されるようにし、前記第2プレートの回転によって前記傾斜溝に沿って移動しながら前記第3プレートを前記第1プレートから昇降させる複数の支持ピンであることを特徴とする請求項6に記載のチップスケールマーカー。
  8. 前記第1プレート上に前記第2プレートの回転をガイドするガイド手段が備えられたことを特徴とする請求項3に記載のチップスケールマーカー。
  9. 前記第2プレートが回転する時、前記第3プレートの垂直上昇を確保するために、前記第1プレートに複数のピンが備えられており、
    前記第3プレートに前記複数のピンに対応する複数のホールが形成されたことを特徴とする請求項3に記載のチップスケールマーカー。
  10. 前記第2プレートが回転する時、前記第3プレートの垂直上昇を確保するために、前記第1プレートに複数のホールが備えられており、前記第3プレートに前記複数のホールに対応する複数のピンが形成されたことを特徴とする請求項3に記載のチップスケールマーカー。
  11. 前記ウェーハ回転手段は、
    前記ウェーハホルダ上で回転駆動する環状の第4プレートと、
    前記第4プレート上で前記第4プレートに従動回転する環状の第5プレートと、を含み、
    前記ウェーハホルダ上には前記第5プレートの一側をホールディングして垂直に移動させる垂直移動軸をさらに具備し、
    前記第5プレートは前記ウェーハホルダの前記開放領域に該当する領域が開放されたことを特徴とする請求項1に記載のチップスケールマーカー。
  12. 前記第4プレート外周にギアが備えられており、
    前記第4プレート周囲に前記第4プレートを回転駆動させるピニオンギアが備えられたことを特徴とする請求項11に記載のチップスケールマーカー。
  13. 前記第4プレートが回転する時、前記第5プレートの垂直上昇を確保するために、前記第4プレートに複数のピンが備えられており、前記第5プレートに前記複数のピンに対応する複数のホールが形成されたことを特徴とする請求項11に記載のチップスケールマーカー。
  14. 前記第4プレートが回転する時、前記第5プレートの垂直上昇を確保するために、前記第4プレートに複数のホールが備えられており、第5プレートに前記複数のホールに対応する複数のピンが形成されたことを特徴とする請求項11に記載のチップスケールマーカー。
  15. 前記真空プレートは、
    表面に多数のホールが形成されており、
    内部は中空構造であり、下部に真空ポンプが連結されたことを特徴とする請求項1、3、11のうちいずれか1項に記載のチップスケールマーカー。
  16. 前記真空プレートは、
    表面に静電気防止用マットが形成されたことを特徴とする請求項15に記載のチップスケールマーカー。
  17. 前記静電気防止用マットは、
    炭素ゴムで製造されたことを特徴とする請求項16に記載のチップスケールマーカー。
  18. 前記バッグの外部はポリエステルにCuまたはNi金属が添加された導電性繊維材質であることを特徴とする請求項1に記載のチップスケールマーカー。
  19. 前記充填物はスポンジであることを特徴とする請求項18に記載のチップスケールマーカー。
  20. 前記バッグの内部はビニルコーティングが形成され、前記バッグの外部はポリエステルにCuまたはNi金属が添加された導電性繊維材質であることを特徴とする請求項1に記載のチップスケールマーカー。
  21. 前記充填物は圧縮空気であることを特徴とする請求項20に記載のチップスケールマーカー。
  22. ウェーハマーキング用レーザーシステムと、マーキング対象ウェーハが装着されるウェーハホルダと、前記ウェーハホルダの上方に前記ウェーハを撮影する撮影用カメラと、を具備し、前記ウェーハホルダは中央にウェーハ吸着用真空プレートを具備して前記真空プレート周囲にウェーハ回転手段を具備するが、前記レーザーシステムと対向する領域の一部が露出された開放領域を有し、このような前記ウェーハホルダの開放されていない領域上に前記ウェーハから反りを除去するための反り除去手段が備えられており、前記反り除去手段は、前記ウェーハの上方から垂直移動するものであって、前記ウェーハに下向きの力を加えるための所定の充填物が満たされたバッグであることを特徴とするチップスケールマーカーを用いてマーキングする方法において、
    (a)前記ウェーハを前記ウェーハホルダに装着する段階と、
    (b)前記反り除去手段で前記ウェーハを押さえて反りを除去する段階と、
    (c)前記ウェーハを撮影してチップの位置を測定し、その位置を認識する段階と、
    (d)前記開放領域上の前記チップを前記レーザーシステムを用いて前記チップの位置情報によってマーキングする段階と、
    (e)前記反り除去手段を前記ウェーハからリリーズする段階と、
    (f)前記ウェーハ回転手段で前記ウェーハを所定角度回転させて前記(b)ないし(e)段階を反復する段階と、を具備することを特徴とするチップスケールマーカーを用いたマーキング方法。
  23. 前記(b)段階は、前記反りが除去されたウェーハを前記真空プレートに吸着固定する段階を含むことを特徴とする請求項22に記載のチップスケールマーカーを用いたマーキング方法。
  24. 前記ウェーハ回転手段は、
    前記ウェーハホルダ上で回転駆動する環状の第1プレートと、
    前記第1プレート上で回転する環状の第2プレートと、
    前記真空プレートと前記第2プレートとの間に備えられた環状の第3プレートと、を含むが、
    前記第2プレートは前記第1プレート上に備えられた駆動手段により駆動するように備えられており、
    前記第3プレートは前記第2プレートの回転により昇降するように第2プレートと接触しつつ、前記開放領域に該当する領域が開放されたことを特徴とする請求項22に記載のチップスケールマーカーを用いたマーキング方法。
  25. 前記ウェーハ回転手段は、
    前記ウェーハホルダ上で回転駆動する環状の第4プレートと、
    前記第4プレート上で前記第4プレートに従動回転する環状の第5プレートと、を含み、
    前記ウェーハホルダ上には前記第5プレートの一側をホールディングして垂直に移動させる垂直移動軸をさらに具備し、
    前記第5プレートは前記開放領域に該当する領域が開放されたことを特徴とする請求項22に記載のチップスケールマーカーを用いたマーキング方法。
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