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JP4241487B2 - Led駆動装置、バックライト光源装置及びカラー液晶表示装置 - Google Patents

Led駆動装置、バックライト光源装置及びカラー液晶表示装置 Download PDF

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Description

本発明は、直列接続された発光ダイオード(LED:light emitting diode)をパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動するようにしたLED駆動装置、このLED駆動装置により駆動されるバックライト光源装置及びカラー液晶表示装置に関する。
近年、液晶TVやプラズマディスプレイ(PDP:Plasma Display Panel)に代表されるようにディスプレイの薄型化が流れとしてあり、中でもモバイル用ディスプレイの多くは液晶系であり、忠実な色の再現性が望まれている。また、液晶パネルのバックライトは蛍光管を使ったCCFL(Cold Cathode Fluorescent Lamp)タイプが主流であるが、環境的に水銀レスが要求されてきており、CCFLに変わる光源として発光ダイオード等が有望視されている。
一般的に、発光ダイオードを表示画素に用いたディスプレイでは、発光ダイオードをマトリクスの駆動をするために、各画素に対してX−Yのアドレッシング駆動回路を必要とし、これにより、光らせたい画素の位置にある発光ダイオードを選択(アドレッシング)し、点灯させる時間を変調することにより輝度調整を実施し(パルス幅変調(PWM:Pulse Width Modulation)駆動)、所定の階調性のある表示画面を得ている。このため、駆動用の回路が複雑になりコストが高くなっている(例えば、特許文献1参照)。
特開2001−272938号公報
ところで、発光ダイオードは、寿命があり、不点灯になるが、個々の素子の壊れ方には、(1)断線してしまうOPENモードによる不良と、(2)短絡してしまうShortモードによる不良と、そのいずれでもなく、(3)光量の低下が発生するモードの3種類に大きくは分類される。
これらの故障を検出するためには、1つ1つのLED素子を独立した駆動回路で駆動する方法を採用するとともに、個々の素子の動作状態を常にフィードバックするシステムを構築しなければならないので、コストがかさみ、実際の機器では実現が困難であった。
また、発光ダイオードを個別の発光画素に使用した画像表示ディスプレイが存在しているが、その場合のマトリクス型の駆動においても、前述のように、発光ダイオード個々の素子の不良を個別に判断しさらに除去する機能を備えたシステムは、従来、存在していなかった。
発光ダイオードを液晶ディスプレイのバックライトとして使用する場合、個々の発光ダイオードの電力が大きく、個数が比較的少ないため、不良により不点灯箇所が生じると、ムラなどを生じ、見苦しい。また、照明用途のLED駆動装置においては、大電力駆動用のマトリクス駆動LSI等は作成されておらず、現実的にはコスト点で不利であるため、直列接続形式が用いられると考えられるが、直列接続形式では、個々の発光ダイオードの不良が発生し、それが、断線の場合では、一列全てが不点灯となり、著しい色ムラを生じてしまう。
そこで、本発明の目的は、上述の如き従来の実情に鑑み、直列接続された発光ダイオードを定電流駆動するにあたり、発光ダイオードの不良時にその箇所の特定し、不良箇所の素子電流を迂回することのできるLED駆動装置、このLED駆動装置により駆動されるバックライト光源装置及びカラー液晶表示装置を提供することにある。
本発明の更に他の目的、本発明によって得られる具体的な利点は、以下に説明される実施の形態の説明から一層明らかにされる。
本発明は、直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動するLED駆動装置であって、上記直列接続された複数の発光ダイオードの各々に並列に接続されたスイッチング素子と、任意の被測定発光ダイオード以外の発光ダイオードに流れる駆動電流をそれぞれスイッチング素子を介してバイパスし、被測定発光ダイオードのみに測定用の駆動電流を流す制御を行う制御回路と、上記被測定発光ダイオードに流れた測定用の駆動電流を検出して、不良箇所の発光ダイオードを特定する検出回路とを備え、上記直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動するための主定電流回路と測定用基準定電流回路を上記直列接続された複数の発光ダイオードに切換手段を介して選択的に接続可能としたことを特徴とする。
また、本発明は、直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動して、表示パネルを背面側から照明するバックライト光源装置であって、上記直列接続された複数の発光ダイオードの各々に並列に接続されたスイッチング素子と、任意の被測定発光ダイオード以外の発光ダイオードに流れる駆動電流をそれぞれスイッチング素子を介してバイパスし、被測定発光ダイオードのみに測定用の駆動電流を流す制御を行う制御回路と、上記被測定発光ダイオードに流れた測定用の駆動電流を検出して、不良箇所の発光ダイオードを特定する検出回路とを備え、上記直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動するための主定電流回路と測定用基準定電流回路を上記直列接続された複数の発光ダイオードに切換手段を介して選択的に接続可能としたことを特徴とする。
さらに、本発明は、カラーフィルタを備えた透過型のカラー液晶表示パネルと、直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動して、上記カラー液晶表示パネルを背面側から照明するバックライト光源装置とからなるカラー液晶表示装置であって、上記バックライト光源装置は、上記直列接続された複数の発光ダイオードの各々に並列に接続されたスイッチング素子と、任意の被測定発光ダイオード以外の発光ダイオードに流れる駆動電流をそれぞれスイッチング素子を介してバイパスし、被測定発光ダイオードのみに測定用の駆動電流を流す制御を行う制御回路と、上記被測定発光ダイオードに流れた測定用の駆動電流を検出して、不良箇所の発光ダイオードを特定する検出回路とを備え、上記直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動するための主定電流回路と測定用基準定電流回路を上記直列接続された複数の発光ダイオードに切換手段を介して選択的に接続可能としたことを特徴とする。
本発明では、直列接続された複数の素子の各々に並列に接続されたスイッチング素子を介して、任意の被測定発光ダイオード子以外の発光ダイオードに流れる駆動電流をそれぞれバイパスし、被測定発光ダイオードのみに測定用の駆動電流を流す制御を制御回路により行うことによって、上記被測定発光ダイオードに流れた測定用の駆動電流を検出回路により検出して、不良箇所の発光ダイオードを特定することができる。
また、本発明では、上記直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動するための主定電流回路と測定用基準定電流回路を上記直列接続された複数の発光ダイオードに切換手段を介して選択的に接続可能としたことにより、測定用基準定電流回路から測定用基準定電流を流して、上記発光ダイオードの不良を検出することができる。
さらに、上記制御回路により、上記検出回路により特定された不良箇所の素子に並列に接続されている上記トランジスタからなるスイッチング素子を上記パルス幅変調定電流駆動回路によるPWM駆動と同期して動作させて、不良箇所の素子に流れる駆動電流を常時バイパスさせる制御を行うことによって、不良箇所の素子電流をスイッチング素子を介してバイパスすることができる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、本発明は以下の例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、任意に変更可能であることは言うまでもない。
本発明は、例えば図1に示すような構成のバックライト方式のカラー液晶表示装置100に適用される。
このカラー液晶表示装置100は、透過型のカラー液晶表示パネル10と、このカラー液晶表示パネル10の背面側に設けられたバックライト光源装置20からなる。
透過型のカラー液晶表示パネル10は、ガラス等の構成された2枚の透明な基板(TFT基板11、対向電極基板12)を互いに対向配置させ、その間隙に例えばツイステッドネマチック(TN)液晶を封入した液晶層13を設けた構成となっている。TFT基板11にはマトリクス状に配置された信号線14と走査線15及びこれらの交点に配置されたスイッチング素子としての薄膜トランジスタ16と画素電極17が形成されている。薄膜トランジスタ16は走査線15により順次選択されると共に、信号線14から供給される映像信号を対応する画素電極17に書き込む。一方、対向電極基板12の内表面には対向電極18及びカラーフィルタ19が形成されている。
このカラー液晶表示装置100では、この様な構成の透過型のカラー液晶表示パネル10を2枚の偏光板31,32で挟み、バックライト光源装置20により背面側から白色光を照射した状態で、アクティブマトリクス方式で駆動することによって、所望のフルカラー 映像表示が得られる。
上記バックライト光源装置20は、光源21と波長選択フィルタ22からなり、上記光源21が出射する光で上記波長選択フィルタ22を介して上記カラー液晶表示パネル10を背面側から照明する。
このカラー液晶表示装置100は、例えば図2に電気的なブロック構成を示す駆動回路200により駆動される。
この駆動回路200は、カラー液晶表示パネル10やバックライト光源装置20の駆動電源を供給する電源部110、カラー液晶表示パネル10を駆動するXドライバ回路120及びYドライバ回路130、外部から映像信号が入力端子140を介して供給されるRGBプロセス処理部150、このRGBプロセス処理部150に接続された映像メモリ160及び制御部170、バックライト光源装置20の駆動制御するバックライト駆動制御部180等を備えてなる。
この駆動回路200において、入力端子140を介して入力された映像信号は、RGBプロセス処理部150によりクロマ処理等の信号処理がなされ、さらに、コンポジット信号からカラー液晶表示パネル10の駆動に適したRGBセパレート信号に変換されて、制御部170に供給されるとともに、画像メモリ160を介してXドライバ120に供給される。また、制御部170は、上記RGBセパレート信号に応じた所定のタイミングでXドライバ120及びYドライバ回路130を制御して、上記画像メモリ160を介してXドライバ120に供給されるRGBセパレート信号でカラー液晶表示パネル10を駆動することにより、上記RGBセパレート信号に応じた映像を表示する。
ここで、カラーフィルタ19は各画素電極17に対応した複数のセグメントに分割されている。例えば、図3の(A)に示すように3原色である赤色フィルタCFR、緑色フィルタCFG、青色フィルタCFBの3つのセグメント、図3の(B)に示すように3原色(RGB)にシアン(C)を加えた赤色フィルタCFR、シアン色フィルタCFC、緑色フィルタCFG、青色フィルタCFBの4つのセグメント、あるいは、図3の(C)に示すように3原色(RGB)にシアン(C)とイエロー(Y)を加えた赤色フィルタCFR、シアン色フィルタCFC、青色フィルタCFG、イエロー色フィルタCFY、青色フィルタCFBの5つのセグメントに分割されている。
ここで、上記バックライト光源装置20には、透過型のカラー液晶表示パネル10を背面に配設された複数の発光ダイオード(LED:light emitting diode)により照射するエリアライト方式の光源21が採用されている。
このバックライト光源装置20の光源21における発光ダイオードの配置について説明する。
図4は、発光ダイオードの配置例として、単位セル4−1,4−2毎に、赤の発光ダイオード1、緑の発光ダイオード2及び青の発光ダイオード3をそれぞれ2個使用し、合計6個の発光ダイオードを一列に配列した様子を示している。
この配置例では6個であるが、使用する発光ダイオードの定格、発光効率などにより、混合色をバランスの良い白色光とするために、光出力バランスを整える必要から、各色の個数配分は本例以外のバリエーションがありうる。
図4に示した配置例において、上記単位セル4−1と単位セル4−2は、全く同一の物であり、中央の両端矢印部分で接続されている。また、図5は、上記単位セル4−1及び単位セル4−2が接続された形を電気回路図記号のダイオードマークによって図示したものである。この例の場合、各発光ダイオード、すなわち、赤の発光ダイオード1、緑の発光ダイオード2、青の発光ダイオード3は左から右に電流が流れる方向に極性を合わせて直列接続されている。
ここで、赤の発光ダイオード1、緑の発光ダイオード2及び青の発光ダイオード3をそれぞれ2個使用し、合計6個の発光ダイオードを一列に配列した単位セル4を各色の発光ダイオードの個数でパターン表記すると図6に示すように(2G 2R 2B)となる。すなわち、(2G 2R 2B)は、緑と赤と青2個ずつ合計6個のパターンを基本単位としていることを示す。そして、図7に示すように、上記基本単位の単位セル4を3つ連続に繋げた場合、記号が3*(2G 2R 2B)で、発光ダイオードの個数でパターン表記すると(6G 6R 6B)で示される。
次に、上記バックライト光源装置20の光源21における実際の発光ダイオードの配置例を図7の表記に基づき説明する。
光源21には、図8に示すように、前述した発光ダイオードの基本単位(2G 2R 2B)の3倍を1つの中単位(6G 6R 6B)として、垂直に4行、水平に5列、合計で360個の発光ダイオードが配置されている。
そして、上記360個の発光ダイオード全てに対して、個々のアドレッシングを施すことは容易でないので、このバックライト光源装置20では、図9に示すような駆動構成としている。
すなわち、n列のそれぞれに対応するRGBのペアg1〜gnは、各列にRGBの各発光ダイオードそれぞれが独立して直列接続されており、DC−DCコンバータ7により定電流が流される構成となっている。
図10を参照して、定電流をLED直列接続基板m1,m2に流すための具体的な構成例の説明をする。
すなわち、複数の発光ダイオードLED1〜LEDnが直列接続されたLED列40は、一端が検出抵抗(Rc)5を介してDC−DCコンバーター7に接続され、また、他端がFET6を介して接地されている。
上記DC−DCコンバーター7は、出力電圧Vccの設定に対して、検出抵抗5による電圧降下を検出して、直列接続されたLED列に所定の定電流ILEDが流れるようにフィードバックループを構成している。この例では、上記検出抵抗5による降下電圧が上記DC−DCコンバーター7内に設けられたサンプルホールド回路を介して帰還される。
なお、この例では、定電流を波高値で制御するために、電流検出のフィードバックループにサンプルホールドを備えているが、これはひとつの例であって、他の方法を用いてもよい。
また、上記バックライト駆動制御部180に備えられたドライバーIC181からFET6のゲートに加えられるmain PWM(Pulse Width Modulation)信号により、LED列40に流れる電流が所定の期間ON−OFFされることにより、発光ダイオードの発光量を増減せしめる構成となっている。
すなわち、このバックライト光源装置20では、上記バックライト駆動制御部180に備えられたドライバーIC181から供給されるmain PWM信号によりFET6をスイッチング動作させて、複数の発光ダイオードLED1〜LEDnを直列接続してなるLED列40にDC−DCコンバーター7により供給された駆動電流をOn−OFFすることによって、上記発光ダイオードLED1〜LEDnをパルス幅変調定電流駆動するようになっている。
また、この構成例では、上記LED列40に測定用基準定電流を流すため測定用基準定電流回路であるDC−DCコンバータと、上記DC−DCコンバータ70に接続された検出抵抗(Rref)50と、切換スイッチ60を備え、上記LED列40の一端が上記切換スイッチ60を介して、上記LED列40に駆動電流を流すため主定電流回路である上記DC−DCコンバータ7と、上記LED列40に測定用基準定電流を流すため測定用基準定電流回路であるDC−DCコンバータ70に選択的に接続されるようになっている。
さらに、上記発光ダイオードLED1〜LEDnには、各々にスイッチング素子SW1〜SWnが並列に接続されており、、上記直列接続された複数の発光ダイオードLED1〜LEDnに流れる駆動電流を個別に上記スイッチング素子SW1〜SWnを介してバイパスすることができるようになっている。
このように、直列接続された複数の発光ダイオードLED1〜LEDnをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動するにあたり、上記直列接続された複数の発光ダイオードLED1〜LEDnに流れる駆動電流を個別にスイッチング素子SW1〜SWnを介してバイパス可能としたことにより、発光ダイオードの個々の不良を検出することができる。
ここで、通常の点灯時における駆動電流供給する主定電流回路である上記DC−DCコンバータ7は、比較的電圧が高い多数個の発光ダイオードLED1〜LEDnが直列接続されたLED列40を駆動する関係で、耐圧を必要とし、構成部品形状が大きい。これに対して、上記スイッチング素子SW1〜SWnを使用して、個々の発光ダイオードLED1〜LEDnに基準電流IrefLEDを流す際には、図11に示すように、発光ダイオードを1つだけ点灯させればよいので、電圧は非常に低くてよい。上記DC−DCコンバータ7を非常に低電圧まで動作可能な構成とするのは非効率なので、切換スイッチ60を介して上記LED列40に測定用基準定電流を流すため測定用基準定電流回路であるDC−DCコンバータ70を接続するようにしている。
このDC−DCコンバーター70は、出力電圧Vtestの設定に対して、検出抵抗(Rref)50による電圧降下を検出し、所定の定電流(IrefLED)が流れるようにフィードバックループを構成している。
また、DC−DCコンバータ70から基準電流IrefLEDを供給する際には、FET6は常時ONとされている。
なお、この図10及び図11に示した一群のLED列40は、図9に示したn列のそれぞれに対応するRGBのペアg1〜gnの1列に対している。したがって、同様の回路が、本例では、gn列×3倍(RGB分)必要となる。
図10及び図11に示した一群のLED列40におけるLED41の個数は、光量バランスの観点で個数は変動するので種々のケースが考えられる。特に、近年、総個数を削減する為に各素子の投入電力を大きくしているため、各素子の輝度特性のばらつきを検出して調整により克服する必要がある。
ここで、上記スイッチング素子SW1〜SWnにはトランジスタを用いることができ、上記トランジスタのベースに供給するスイッチング制御信号により、上記直列接続された複数の発光ダイオードLED1〜LEDnに流れる駆動電流を個別に上記トランジスタからなるスイッチング素子SW1〜SWnを介してバイパスする制御を行うことができる。
例えば図12に示す構成では、直列接続された5個の発光ダイオード41A〜41Eに個々に並列にスイッチング素子としてトランジスタ82A〜82Eが接続されており、各トランジスタ82A〜82Eのベース・エミッタ間にはクランプ用のダイオード83A〜83Eが接続され、さらに、各トランジスタ82A〜82Eのベースに結合用コンデンサ84A〜84Eが接続されている。
直列接続された5個の発光ダイオード41A〜41Eには、上から下に向けて、各々Vfa〜Vfeまでの、個別の電圧降下を有しており、製造ロットに応じてばらつきを持つ。また、直列接続された5個の発光ダイオード41A〜41EはFET6によってPWM駆動されている。
このような構成の駆動回路において、各トランジスタ82A〜82Eの各ベースには、上記バックライト駆動制御部180に備えられた駆動制御回路182からスイッチング制御信号として結合用コンデンサ84A〜84Eを介してsub_PWM信号a〜eが供給される。上記結合用コンデンサ84A〜84Eに入力されるsub_PWM信号a〜eは、ダイオード83A〜83Eによってトランジスタ82A〜82Eのエミッタ電位がクランプされるため、交流信号として扱うことができる。したがって、直列接続であっても電位を考えずに、トランジスタ82A〜82EのON−OFF駆動ができる。
例えば発光ダイオード41Aに並列接続されたトランジスタ82AがONすると、ダイオード41Aのアノード−カソード間はトランジスタ82Aのオン抵抗にて短絡バイパスされ、発光ダイオード41Aの駆動電流の全てがトランジスタ82Aに流れ、発光ダイオード41Aは不点灯となる。
ここで、図12に示した構成例における動作の一例を図13を参照して説明する。
図13において、(a)〜(b)は縦列接続された5つのトランジスタ82A〜82Eのベースに加えられるsub_PWM信号a〜eの波形を示している。又、t1,t2,t3,t4,t5はその時間軸上のタイミングを示している。
今、t1の時点では、sub_PWM信号aのみが低レベルであり、トランジスタ82Aはoffしている。t1時にはトランジスタ82B〜82Eは全てONしており、これにより、発光ダイオード41Aのみが点灯する。
同様にして、t2の時点には発光ダイオード41B,t3の時点には発光ダイオード41C,t4の時点には発光ダイオード41D,t5の時点には発光ダイオード41Eと順次個別に点灯させることができる。ここでは、5個の縦列接続を例としているが、これは、任意の個数n個の場合も同様である。バイパスする時間をOn−OFFの期間比率の操作により加減すれば、分流する電流の精度があがり、測定時間も確保可能である。
トランジスタ駆動用に使用するsub_PWM信号a〜eは、main_PWM信号と独立して選択することが可能な構成となっているため、自由度が高い。また、sub_PWM信号a〜eの周波数を上げることにより、点灯時間を非常に短くすることができ、素早い点灯が可能である。
次に、上述の(3)光量の低下が発生するモードのLED不良の検出について説明する。
上述の(3)光量の低下が発生するモードのLED不良は、発光ダイオードの発光量を測定する検出することができる。
そこで、参照して、バックライト光源装置20における発光ダイオードの発光量を測定するための構成例を図14に示す。
このバックライト光源装置20では、上述した一連の説明による動作により、任意個別の発光ダイオードを選択点灯可能である。そこで、上記複数の発光ダイオードが発光した光を受光して光量を検出する光センサを設け、測定用の駆動電流を流す被測定発光ダイオードを順次選択し、上記光センサによる検出出力に基づいて、上記複数の発光ダイオードの発光量のばらつきを測定することができる。
例えば、図14に示す構成例は、直接接続された複数の発光ダイオードLED1〜LEDnから発光された光を受光する光センサであるフォトダイオード185を備える。
フォトダイオード185の検出出力は演算増幅器186Aにより構成された電流電圧変換回路186を介してA/D変換器187に供給されデジタルデータとしてマイクロプロセッサ188に供給されるようになっている。
上記マイクロプロセッサ188は、上記直列接続された複数の発光ダイオードLED1〜LEDnに接続されたFET6をスイッチグ制御することによってPWM駆動するためのドライバーIC181及び上記直列接続された複数の発光ダイオードLED1〜LEDnにそれぞれ並列接続されたスイッチング素子SW1〜SWnにスイッチグ制御信号を供給する駆動制御回路182に対し、バス189を介して駆動設定制御信号を与え、上記FET6を常時オンにした状態で、任意の被測定発光ダイオード以外の発光ダイオードに流れる駆動電流をそれぞれスイッチング素子を介してバイパスし、被測定発光ダイオードのみに測定用の駆動電流を流す制御を行い、測定用の駆動電流を流す被測定発光ダイオードを順次選択し、上記光センサによる検出出力に基づいて、上記複数の発光ダイオードの発光量のばらつきを測定する。
すなわち、上記マイクロプロセッサ188は、任意の発光ダイオードを選択し、その発光ダイオードを非常に短い時間(例えば1μ秒)点灯させ、その値をフォトダイオード185により検出してメモリに記憶する。発光ダイオードが選択されるのは非常にわずかな時間であるので、例えば本例のように、360個の発光ダイオードが有り、個別に1μ秒の時間を要したとしても、合計は360μ秒ということになる。
なお、発光ダイオードを液晶用バックライト光源として使用する場合には、必ずしも、光センサは発光ダイオードの近傍に配置できず、配置上の制約と形状の制約を受ける。この際、形状により、離れたい位置に存在する発光ダイオードは弱く検出され、センサーに近い位置にある発光ダイオードの光は強く検出されるという場合がある。これらは、光学シュミレーションや基準発光ダイオードによる実測等により、補正値データーをメモリテーブルとして用意し、光学センスした光量データーを補正すること等で対応することができる。
ここで、発光ダイオードは長時間使用により輝度特性が劣化し発光量が少なくなる特性を有するので、発光量を維持するために駆動電流を徐々に増やすのでは寿命が短くなってしまうが、発光ダイオードの輝度特性についての経時変化を考慮した補正値データをメモリテーブルにようしておき、上記マイクロプロセッサ188により駆動電流を時間とともに減らす制御を行うようにすれば、発光ダイオードの寿命を延ばすことができる。
この構成例では、任意の発光ダイオードを駆動させ、発光出力データーを測定・記憶・補正することが可能であるので、光量が異常に低下した個別の発光ダイオードの識別が可能である。
次に、不良モードとして前述した (1)断線してしまうOPENモードによる不良の回避方法について図15乃至図17を参照して説明する。
図15に示す構成例では、上記直列接続された複数の発光ダイオードLED1〜LEDnに流れた駆動電流を検出して、不良箇所の発光ダイオードを特定する検出回路90が次のように設けられている。
すなわち、検出回路90は、上記直列接続された複数の発光ダイオードLED1〜LEDnとPWM駆動用のFET6との接続点が分圧抵抗91,92を介して接地され、また、上記FET6のゲートが分圧抵抗93,94を介して接地されており、上記分圧抵抗91,92の接続中点Pに得られる電圧と、上記分圧抵抗91,92の接続中点Qに得られる電圧をエクスクルーシブORゲート95で比較することにより不良箇所の発光ダイオードを特定する構成となっている。
この検出回路90において、上記FET6はゲートに与えられるmain_PWM信号に応じてスイッチング動作を行っているので、上記直列接続された複数の発光ダイオードLED1〜LEDnが正常な場合は、上記分圧抵抗91,92の接続中点Pに得られる電圧と、上記分圧抵抗91,92の接続中点Qに得られる電圧の変化が逆相になっており、エクスクルーシブORゲート95の出力は、常に論理”1”(Hiレベル)となっている。
そして、上記直列接続された複数の発光ダイオードLED1〜LEDnのどれか1つがOPENした場合、P点の電位は常にLoレベルになるため、エクスクルーシブORゲート95の出力はmain_PWM信号と同様の矩形波になる。
上記マイクロプロセッサ188は、この矩形波になることを検出した場合、上記駆動制御回路182を制御して、図16のフローチャートに示す手順に従って、上記直列接続された複数の発光ダイオードLED1〜LEDnにそれぞれ並列接続されたスイッチング素子SW1〜SWnを順次オンさせていくことによって、上記エクスクルーシブORゲート95の出力が論理”1”(Hiレベル)となった時のnが、故障箇所であると特定することができる。
すなわち、上記マイクロプロセッサ188は、オンにするスイッチング素子SW1〜SWnを示すスイッチ番号nをn=0すなわち全てのスイッチング素子SW1〜SWnをオフ状態とするように初期設定し(ステップS1)、エクスクルーシブORゲート95の出力が常に論理”1”(Hiレベル)となっている正常状態であるか、main_PWM信号と同様の矩形波になっている異常状態であるか判定する(ステップS2)。
上記エクスクルーシブORゲート95の出力が正常状態である場合には、スイッチ番号nがn=0すなわち全てのスイッチング素子SW1〜SWnがオフ状態とされているか否かを判定する(ステップS3)。
このステップS3における判定結果がYESすなわち全てのスイッチング素子SW1〜SWnがオフ状態とされている場合には、上記ステップS2に戻ってエクスクルーシブORゲート95の出力を繰り返し判定する。
また、上記ステップS2における判定の結果、上記エクスクルーシブORゲート95の出力が異常状態である場合には、番号nをインクリメント(n=n+1)して(ステップS4)、スイッチング素子SWnをオンして(ステップS4)、上記ステップS2に戻ってエクスクルーシブORゲート95の出力を判定する処理を繰り返し行う。
そして、上記ステップS2における判定の結果、上記エクスクルーシブORゲート95の出力が正常状態になると、上記ステップS3に移ってスイッチ番号nがn=0であるか否かの判定を行い、上記エクスクルーシブORゲート95の出力が正常状態になった時点でのスイッチ番号nで示されるスイッチング素子SWnが並列接続されている発光ダイオードLEDnがOPENモードの不良であると特定する(ステップS6)。
そして、上記マイクロプロセッサ188は、今、仮にn=3すなわち3番目の発光ダイオードが故障(OPEN)と特定された場合、図17に示すように、故障個所とされた3番目の発光ダイオード41Cは不良の認識がなされ、この発光ダイオード41Cに並列に接続されているスイッチング素子であるトランジスタ82Cには、上記FET6と同様のメインPWM信号をスイッチング制御信号として与え、並列に同期してON-OFFさせることにより、不良の認識がなされた発光ダイオード41Cに流れる駆動電流を上記トランジスタ82Cを介してバイパスすることができる。
次に、不良モードとして前述した、 (2)短絡してしまうShortモードによる不良の回避方法について説明する。ショートしてしまった場合、この構成例では、定電流制御の関係で、自動的にDC−DCコンバーター7の出力電圧Vsetがダイオード1個分の電圧低下をして、電気回路としては、正常に働く。また、前述した光学的検出機構を設けた場合は、故障した発光ダイオードを特定することができる。又、ショート不良は、あくまで異常時の状態であるため、経過的に(1)断線してしまうOPENモードに状態が変質・移行することがある。その場合、前述の手法で対処することができる。
本発明を適用したバックライト方式のカラー液晶表示装置の構成を示す模式的な斜視図である。 上記カラー液晶表示装置の駆動回路の構成を示すブロック図である。 上記カラー液晶表示装置おけるカラー液晶パネルに設けられるカラーフィルタの構成を示す模式的な平面図である。 上記カラー液晶表示装置を構成するバックライト光源装置における発光ダイオードの配置例を模式的に示す図である。 上記発光ダイオードの配置例における各発光ダイオードが接続された形を電気回路図記号のダイオードマークによって模式的に示した図である。 赤の発光ダイオード、緑の発光ダイオード及び青の発光ダイオードをそれぞれ2個使用し、合計6個の発光ダイオードを一列に配列した単位セルを各色の発光ダイオードの個数でパターン表記して模式的に示した図である。 基本単位の単位セル4を3つ連続に繋げた場合を発光ダイオードの個数でパターン表記して模式的に示した図である。 上記バックライト光源装置の光源21における実際の発光ダイオードの配置例をLEDの個数でパターン表記して模式的に示した図である。 上記バックライト光源装置における発光ダイオードの駆動構成を模式的に示す図である。 上記バックライト光源装置における直列接続された複数の発光ダイオードに定電流を流すための具体的な構成例を模式的に示す図である。 上記バックライト光源装置における直列接続された複数の発光ダイオード個々の素子の不良を検出するための具体的な構成例を模式的に示す図である。 上記バックライト光源装置における直列接続された複数の発光ダイオードにスイッチング素子としてトランジスタを接続してなる構成例を模式的に示す図である。 上記バックライト光源装置における直列接続された複数の発光ダイオードにスイッチング素子としてトランジスタを接続してなる構成例の動作を説明するための波形図である。 上記バックライト光源装置における発光ダイオードに発光量の低下が発生するモードのLED不良の検出するため構成例を模式的に示す図である。 上記バックライト光源装置における発光ダイオードが断線してしまうOPENモードのLED不良の検出するため構成例を模式的に示す図である。 上記OPENモードのLED不良が発生した場合に不良箇所の発光ダイオードを特定する手順を示すフローチャートである。 不良箇所の発光ダイオードに駆動電流をバイパスする動作を模式的に示す図である。
符号の説明
1,2,3,41,41A〜41E、LED1〜LEDn 発光ダイオード、4−1,4−2 単位セル、5,50 検出抵抗、7,70 DC−DCコンバーター、6 FET、10 カラー液晶表示パネル、11 TFT基板、12 対向電極基板、13 液晶層、14 信号線、15 走査線、16 薄膜トランジスタ、17 画素電極、18 対向電極、19 カラーフィルタ、20 バックライト光源装置、21 光源21、22 波長選択フィルタ、31,32 偏光板、40 LED列、50 切換スイッチ、82A〜82E トランジスタ、83A〜83E ダイオード、84A〜84E コンデンサ、100 カラー液晶表示装置、110 電源部、120 Xドライバ回路、130 Yドライバ回路、140 入力端子140、150 RGBプロセス処理部、160 映像メモリ、170 制御部、180 バックライト駆動制御部、181 ドライバーIC、182 駆動制御回路、185 フォトダイオード、186 電流電圧変換回路、186A 演算増幅器、187 A/D変換器、188 マイクロプロセッサ、200 駆動回路、SW1〜SWn スイッチング素子

Claims (12)

  1. 直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動するLED駆動装置であって、
    上記直列接続された複数の発光ダイオードの各々に並列に接続されたスイッチング素子と、
    任意の被測定発光ダイオード以外の発光ダイオードに流れる駆動電流をそれぞれスイッチング素子を介してバイパスし、被測定発光ダイオードのみに測定用の駆動電流を流す制御を行う制御回路と、
    上記被測定発光ダイオードに流れた測定用の駆動電流を検出して、不良箇所の発光ダイオードを特定する検出回路と
    を備え、
    上記直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動するための主定電流回路と測定用基準定電流回路を上記直列接続された複数の発光ダイオードに切換手段を介して選択的に接続可能としたLED駆動装置。
  2. 上記スイッチング素子はトランジスタからなり、上記直列接続された複数の発光ダイオードに流れる駆動電流を個別に上記トランジスタからなるスイッチング素子を介してバイパスする制御を行う制御回路を備える請求項1記載のLED駆動装置。
  3. 上記トランジスタのベース・エミッタ間に接続されたダイオードと、上記トランジスタのベースに接続されたコンデンサとを備え、
    上記制御回路は、上記トランジスタのベースに上記コンデンサを介してスイッチング制御信号を供給することにより、上記直列接続された複数の発光ダイオードに流れる駆動電流を個別に上記トランジスタからなるスイッチング素子を介してバイパスする制御を行う請求項2記載のLED駆動装置。
  4. 上記制御回路は、上記検出回路により特定された不良箇所の発光ダイオードに並列に接続されている上記トランジスタからなるスイッチング素子を上記パルス幅変調定電流駆動回路によるPWM駆動と同期して動作させることにより、不良箇所の発光ダイオードに流れる駆動電流を常時バイパスさせる制御を行う請求項2記載のLED駆動装置。
  5. 直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動して、表示パネルを背面側から照明するバックライト光源装置であって、
    上記直列接続された複数の発光ダイオードの各々に並列に接続されたスイッチング素子と、
    任意の被測定発光ダイオード以外の発光ダイオードに流れる駆動電流をそれぞれスイッチング素子を介してバイパスし、被測定発光ダイオードのみに測定用の駆動電流を流す制御を行う制御回路と、
    上記被測定発光ダイオードに流れた測定用の駆動電流を検出して、不良箇所の発光ダイオードを特定する検出回路と
    を備え、
    上記直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動するための主定電流回路と測定用基準定電流回路を上記直列接続された複数の発光ダイオードに切換手段を介して選択的に接続可能としたバックライト光源装置
  6. 上記スイッチング素子はトランジスタからなり、上記直列接続された複数の発光ダイオードに流れる駆動電流を個別に上記トランジスタからなるスイッチング素子を介してバイパスする制御を行う制御回路を備える請求項5記載のバックライト光源装置。
  7. 上記トランジスタのベース・エミッタ間に接続されたダイオードと、上記トランジスタのベースに接続されたコンデンサとを備え、
    上記制御回路は、上記トランジスタのベースに上記コンデンサを介してスイッチング制御信号を供給することにより、上記直列接続された複数の発光ダイオードに流れる駆動電流を個別に上記トランジスタからなるスイッチング素子を介してバイパスする制御を行う請求項6記載のバックライト光源装置。
  8. 上記制御回路は、上記検出回路により特定された不良箇所の発光ダイオードに並列に接続されている上記トランジスタからなるスイッチング素子を上記パルス幅変調定電流駆動回路によるPWM駆動と同期して動作させることにより、不良箇所の発光ダイオードに流れる駆動電流を常時バイパスさせる制御を行う請求項6記載のバックライト光源装置。
  9. カラーフィルタを備えた透過型のカラー液晶表示パネルと、直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動して、上記カラー液晶表示パネルを背面側から照明するバックライト光源装置とからなるカラー液晶表示装置であって、
    上記バックライト光源装置は、上記直列接続された複数の発光ダイオードの各々に並列に接続されたスイッチング素子と、任意の被測定発光ダイオード以外の発光ダイオードに流れる駆動電流をそれぞれスイッチング素子を介してバイパスし、被測定発光ダイオードのみに測定用の駆動電流を流す制御を行う制御回路と、上記被測定発光ダイオードに流れた測定用の駆動電流を検出して、不良箇所の発光ダイオードを特定する検出回路とを備え、上記直列接続された複数の発光ダイオードをパルス幅変調定電流駆動回路により定電流駆動するための主定電流回路と測定用基準定電流回路を上記直列接続された複数の発光ダイオードに切換手段を介して選択的に接続可能としたカラー液晶表示装置
  10. 上記スイッチング素子はトランジスタからなり、上記直列接続された複数の発光ダイオードに流れる駆動電流を個別に上記トランジスタからなるスイッチング素子を介してバイパスする制御を行う制御回路を備える請求項9記載のカラー液晶表示装置。
  11. 上記トランジスタのベース・エミッタ間に接続されたダイオードと、上記トランジスタのベースに接続されたコンデンサとを備え、
    上記制御回路は、上記トランジスタのベースに上記コンデンサを介してスイッチング制御信号を供給することにより、上記直列接続された複数の発光ダイオードに流れる駆動電流を個別に上記トランジスタからなるスイッチング素子を介してバイパスする制御を行う請求項10記載のカラー液晶表示装置。
  12. 上記制御回路は、上記検出回路により特定された不良箇所の発光ダイオードに並列に接続されている上記トランジスタからなるスイッチング素子を上記パルス幅変調定電流駆動回路によるPWM駆動と同期して動作させることにより、不良箇所の発光ダイオードに流れる駆動電流を常時バイパスさせる制御を行う請求項10記載のカラー液晶表示装置。
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