JP3323882B2 - クロック同期式メモリ - Google Patents
クロック同期式メモリInfo
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- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 title claims description 36
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 32
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 7
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 24
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 102200091804 rs104894738 Human genes 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、動作モードを設定
するためのモードレジスタを備え、該モードレジスタに
設定された内容に従って、バースト長、ラップタイプ及
びCASレーテンシの動作モードを設定するクロック同
期式(クロック入力に同期してデータ入出力を行う)メ
モリに有効な技術に関するものである。
するためのモードレジスタを備え、該モードレジスタに
設定された内容に従って、バースト長、ラップタイプ及
びCASレーテンシの動作モードを設定するクロック同
期式(クロック入力に同期してデータ入出力を行う)メ
モリに有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、マイクロプロセッサの動作周波数
向上に伴い、高速アクセス可能なメモリが要求され、こ
れに応えるべく、シンクロナスDRAM等のクロック同
期式メモリが開発されている。シンクロナスDRAMで
は、動作モードを設定するためのモードレジスタを備
え、これに、バースト長、ラップタイプ及びCASレー
テンシを設定することにより、システムに最適な動作を
行わせることができる。ここで、バースト長は、連続し
て入出力するデータ数であり、例えば、1、2、4、8
及びフルページの何れかを選択することができる。ま
た、ラップタイプは、バーストアクセス(連続入出力)
の際に内部で生成されるカラムアドレスの変化のさせ方
であり、例えば、同一バンク内でカラムアドレスを連続
的に変化させるシーケンシャル方式と、カラムアドレス
をスクランブルさせるインターリーブ方式との一方を選
択することができる。更に、CASレーテンシは、リー
ドコマンド入力後、最初のデータが読めるまでのクロッ
ク数であり、例えば、1、2及び3の中から選択するこ
とができる。
向上に伴い、高速アクセス可能なメモリが要求され、こ
れに応えるべく、シンクロナスDRAM等のクロック同
期式メモリが開発されている。シンクロナスDRAMで
は、動作モードを設定するためのモードレジスタを備
え、これに、バースト長、ラップタイプ及びCASレー
テンシを設定することにより、システムに最適な動作を
行わせることができる。ここで、バースト長は、連続し
て入出力するデータ数であり、例えば、1、2、4、8
及びフルページの何れかを選択することができる。ま
た、ラップタイプは、バーストアクセス(連続入出力)
の際に内部で生成されるカラムアドレスの変化のさせ方
であり、例えば、同一バンク内でカラムアドレスを連続
的に変化させるシーケンシャル方式と、カラムアドレス
をスクランブルさせるインターリーブ方式との一方を選
択することができる。更に、CASレーテンシは、リー
ドコマンド入力後、最初のデータが読めるまでのクロッ
ク数であり、例えば、1、2及び3の中から選択するこ
とができる。
【0003】図2に、シンクロナスDRAMの概略構成
図を示す。
図を示す。
【0004】図に於いて、21はメモリセルアレイ、2
2はロウ・デコーダ、23はカラム・デコーダ、24は
ロウ・アドレス・バッファ、25はカラム・アドレス・
バッファ、26はデータ制御回路、27はデータ入出力
バッファ、28はコントロール・ロジック、29はモー
ドレジスタを含むモード設定部である。SSは、モード
設定部29中のモードレジスタの出力信号であり、コン
トロール・ロジック28に入力されている。
2はロウ・デコーダ、23はカラム・デコーダ、24は
ロウ・アドレス・バッファ、25はカラム・アドレス・
バッファ、26はデータ制御回路、27はデータ入出力
バッファ、28はコントロール・ロジック、29はモー
ドレジスタを含むモード設定部である。SSは、モード
設定部29中のモードレジスタの出力信号であり、コン
トロール・ロジック28に入力されている。
【0005】シンクロナスDRAMに於けるモード設定
は、入力専用ピンに必要な動作を示すコード(コマン
ド)を入力することによって実現する。通常、チップセ
レクト信号CS/、ロウアドレスストローブ信号RAS
/、カラムアドレスストローブ信号CAS/、及びライ
トイネーブル信号WE/を、”Low”レベルにし、ア
ドレス端子A0〜A6をデータ入力端子として使用す
る。
は、入力専用ピンに必要な動作を示すコード(コマン
ド)を入力することによって実現する。通常、チップセ
レクト信号CS/、ロウアドレスストローブ信号RAS
/、カラムアドレスストローブ信号CAS/、及びライ
トイネーブル信号WE/を、”Low”レベルにし、ア
ドレス端子A0〜A6をデータ入力端子として使用す
る。
【0006】図3に、モード設定部の構成を簡略化して
示す。
示す。
【0007】モードレジスタ31は、3ビットのDフリ
ップフロップ32、33及び34を備えている。Dフリ
ップフロップ32、33及び34の出力は、それぞれ、
バースト長、ラップタイプ、及びCASレーテンシを表
している。実際には、バースト長が、1、2、4、8及
びフルレングスの各々に対して1個のフリップフロップ
を備え、他のモードについても同様であるが、図3では
簡略化している。
ップフロップ32、33及び34を備えている。Dフリ
ップフロップ32、33及び34の出力は、それぞれ、
バースト長、ラップタイプ、及びCASレーテンシを表
している。実際には、バースト長が、1、2、4、8及
びフルレングスの各々に対して1個のフリップフロップ
を備え、他のモードについても同様であるが、図3では
簡略化している。
【0008】アンドゲート35、36及び37は、何れ
もモードレジスタセット信号MRSにより開かれ、その
出力は、7ビットのアドレスA0〜A6の値で定まる。
モードレジスタセット信号MRSは、アンドゲート38
の出力であり、チップセレクト信号CS/、ロウアドレ
スストローブ信号RAS/、カラムアドレスストローブ
信号CAS/、及びライトイネーブル信号WE/を、何
れも”Low”レベルとし、同時に、所定のアドレス値
A0〜A6を与えることにより、モードレジスタ31に
適当な動作モードを設定することができる。
もモードレジスタセット信号MRSにより開かれ、その
出力は、7ビットのアドレスA0〜A6の値で定まる。
モードレジスタセット信号MRSは、アンドゲート38
の出力であり、チップセレクト信号CS/、ロウアドレ
スストローブ信号RAS/、カラムアドレスストローブ
信号CAS/、及びライトイネーブル信号WE/を、何
れも”Low”レベルとし、同時に、所定のアドレス値
A0〜A6を与えることにより、モードレジスタ31に
適当な動作モードを設定することができる。
【0009】モードレジスタへのモード設定は、メモリ
アクセス前の初期化ルーチンによって行われる。ユーザ
は、メモリアクセス前に当該メモリアクセスの仕様及び
使用態様に応じて、モードレジスタの内容を設定する。
モードレジスタで指定される動作モードの内、CASレ
ーテンシとは、メモリアクセスのCASアドレス(列ア
ドレス)を受信(ラッチ)してから、最初のデータを出
し入れするまでのクロック数を意味する。したがって、
CASレーテンシを「2」に設定した場合には、CAS
アドレスを受信してから2クロック後に最初のデータを
出し入れする。
アクセス前の初期化ルーチンによって行われる。ユーザ
は、メモリアクセス前に当該メモリアクセスの仕様及び
使用態様に応じて、モードレジスタの内容を設定する。
モードレジスタで指定される動作モードの内、CASレ
ーテンシとは、メモリアクセスのCASアドレス(列ア
ドレス)を受信(ラッチ)してから、最初のデータを出
し入れするまでのクロック数を意味する。したがって、
CASレーテンシを「2」に設定した場合には、CAS
アドレスを受信してから2クロック後に最初のデータを
出し入れする。
【0010】一般に、DRAM等の半導体メモリは、電
源投入後、電源電位Vccが所定の電位に安定し、内部
回路が安定するまで、一定の時間を要し、その後、前記
シーケンスに従って、モードレジスタに適当な動作モー
ドの設定を行う必要がある。このため、電源投入後、ア
クセス可能になるまでの時間が長くなる。また、電源投
入後、メモリアクセス前に、初期化ルーチン等によるモ
ード設定が必要になる。
源投入後、電源電位Vccが所定の電位に安定し、内部
回路が安定するまで、一定の時間を要し、その後、前記
シーケンスに従って、モードレジスタに適当な動作モー
ドの設定を行う必要がある。このため、電源投入後、ア
クセス可能になるまでの時間が長くなる。また、電源投
入後、メモリアクセス前に、初期化ルーチン等によるモ
ード設定が必要になる。
【0011】このような問題を解決する手段として、シ
ンクロナスDRAMでは、レーザヒューズや電気的ヒュ
ーズ等の不揮発性スイッチ素子により、モードレジスタ
の初期値を設定しておき、電源投入後、電源電位の立ち
上がりを検知し、自動的にモードレジスタに初期値を設
定することにより、初期化ルーチン等によるモード設定
の繁雑さを低減することが提案されている(特開平7−
93970号公報)。
ンクロナスDRAMでは、レーザヒューズや電気的ヒュ
ーズ等の不揮発性スイッチ素子により、モードレジスタ
の初期値を設定しておき、電源投入後、電源電位の立ち
上がりを検知し、自動的にモードレジスタに初期値を設
定することにより、初期化ルーチン等によるモード設定
の繁雑さを低減することが提案されている(特開平7−
93970号公報)。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】同一デバイスについ
て、電源電位及びアクセスタイム等の仕様を変えること
が行われるが、一般に電源電位が高くなるとメモリのア
クセスタイムは短くなり、同一クロックで動作させると
レーテンシを小さくする(短くする)ことができる。こ
の場合に、前記のように、モードレジスタの内容を予め
固定してしまうと、電源電位に対して最適化されたレー
テンシを設定することができなくなる。
て、電源電位及びアクセスタイム等の仕様を変えること
が行われるが、一般に電源電位が高くなるとメモリのア
クセスタイムは短くなり、同一クロックで動作させると
レーテンシを小さくする(短くする)ことができる。こ
の場合に、前記のように、モードレジスタの内容を予め
固定してしまうと、電源電位に対して最適化されたレー
テンシを設定することができなくなる。
【0013】また、デバイスの仕様毎に、予め異なる動
作モードのデバイスを準備しておくことは、製造及び製
品管理上、極めて煩雑なものとなる。
作モードのデバイスを準備しておくことは、製造及び製
品管理上、極めて煩雑なものとなる。
【0014】本発明は、従来に於ける、かかる技術課題
を解決すべくなされたものである。
を解決すべくなされたものである。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明のクロック同期式
メモリは、動作モードを設定するためのモードレジスタ
を備え、該モードレジスタに設定された動作モードで、
クロック入力に同期してデータ入出力(データ出力のみ
を含む)を行うクロック同期式メモリに於いて、互いに
異なる動作モードが設定された複数のモードレジスタ
と、電源電位検出回路を含み、該電源電位検出回路より
の電源電位検出信号に応じて、上記複数のモードレジス
タの内の所定のモードレジスタを選択するモードレジス
タ選択回路とを備えて成ることを特徴とするものであ
る。
メモリは、動作モードを設定するためのモードレジスタ
を備え、該モードレジスタに設定された動作モードで、
クロック入力に同期してデータ入出力(データ出力のみ
を含む)を行うクロック同期式メモリに於いて、互いに
異なる動作モードが設定された複数のモードレジスタ
と、電源電位検出回路を含み、該電源電位検出回路より
の電源電位検出信号に応じて、上記複数のモードレジス
タの内の所定のモードレジスタを選択するモードレジス
タ選択回路とを備えて成ることを特徴とするものであ
る。
【0016】また、本発明のクロック同期式読み出し専
用メモリは、動作モードを設定するためのモードレジス
タを備え、該モードレジスタに設定された動作モード
で、クロック入力に同期してデータ出力を行うクロック
同期式読み出し専用メモリに於いて、互いに異なる動作
モードが設定された複数のモードレジスタと、電源電位
検出回路を含み、該電源電位検出回路よりの電源電位検
出信号に応じて、上記複数のモードレジスタの内の所定
のモードレジスタを選択するモードレジスタ選択回路と
を備え、上記各モードレジスタの内容が、メモリセルの
コードデータ書き込み時に設定されて成ることを特徴と
するものである。
用メモリは、動作モードを設定するためのモードレジス
タを備え、該モードレジスタに設定された動作モード
で、クロック入力に同期してデータ出力を行うクロック
同期式読み出し専用メモリに於いて、互いに異なる動作
モードが設定された複数のモードレジスタと、電源電位
検出回路を含み、該電源電位検出回路よりの電源電位検
出信号に応じて、上記複数のモードレジスタの内の所定
のモードレジスタを選択するモードレジスタ選択回路と
を備え、上記各モードレジスタの内容が、メモリセルの
コードデータ書き込み時に設定されて成ることを特徴と
するものである。
【0017】更に、本発明のクロック同期式読み出し専
用メモリは、上記モードレジスタがMOSトランジスタ
を含み、該モードレジスタの内容設定は、上記MOSト
ランジスタのチャネル部に当該MOSトランジスタのチ
ャネル型とは異なる型の不純物イオンを選択的に注入す
ることによって行われて成り、該不純物イオンの注入
は、上記コードデータの書き込みと同一マスクにより行
われて成ることを特徴とするものである。
用メモリは、上記モードレジスタがMOSトランジスタ
を含み、該モードレジスタの内容設定は、上記MOSト
ランジスタのチャネル部に当該MOSトランジスタのチ
ャネル型とは異なる型の不純物イオンを選択的に注入す
ることによって行われて成り、該不純物イオンの注入
は、上記コードデータの書き込みと同一マスクにより行
われて成ることを特徴とするものである。
【0018】本発明によれば、複数のモードレジスタを
設け、予め、それらに所定のレーテンシ等の動作モード
を設定しておき、電源電位に応じて何れかのモードレジ
スタを選択することにより、電源電位に応じて、最適な
レーテンシ等の設定が可能となるものである。また、デ
バイスの各仕様毎に、それぞれ動作モードの異なる、複
数種類のデバイスを準備しておく必要がなく、単一種類
のデバイスを用意するのみでよいため、製造及び製品管
理等に於ける煩雑さが解消されるものである。
設け、予め、それらに所定のレーテンシ等の動作モード
を設定しておき、電源電位に応じて何れかのモードレジ
スタを選択することにより、電源電位に応じて、最適な
レーテンシ等の設定が可能となるものである。また、デ
バイスの各仕様毎に、それぞれ動作モードの異なる、複
数種類のデバイスを準備しておく必要がなく、単一種類
のデバイスを用意するのみでよいため、製造及び製品管
理等に於ける煩雑さが解消されるものである。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照して詳細に説明する。
て、図面を参照して詳細に説明する。
【0020】図1は、本発明のクロック同期式メモリの
一実施形態であるシンクロナスDRAMの概略構成図で
ある。
一実施形態であるシンクロナスDRAMの概略構成図で
ある。
【0021】図に於いて、11はメモリセルアレイ、1
2はロウ・デコーダ、13はカラム・デコーダ、14は
ロウ・アドレス・バッファ、15はカラム・アドレス・
バッファ、16はデータ制御回路、17はデータ入出力
バッファ、18はコントロール・ロジック、19はモー
ドレジスタを含むモード設定部である。SSは、モード
設定部19中のモードレジスタの出力信号(動作モード
信号)であり、コントロール・ロジック18に入力され
ている。これにより、設定されたモードでの動作が行わ
れるものである。
2はロウ・デコーダ、13はカラム・デコーダ、14は
ロウ・アドレス・バッファ、15はカラム・アドレス・
バッファ、16はデータ制御回路、17はデータ入出力
バッファ、18はコントロール・ロジック、19はモー
ドレジスタを含むモード設定部である。SSは、モード
設定部19中のモードレジスタの出力信号(動作モード
信号)であり、コントロール・ロジック18に入力され
ている。これにより、設定されたモードでの動作が行わ
れるものである。
【0022】図4は、図1に示すシンクロナスDRAM
に於けるモード設定部19の構成を簡略化して示した構
成図である。
に於けるモード設定部19の構成を簡略化して示した構
成図である。
【0023】モード設定部19は、n個のモードレジス
タ411、412、…、41nを有し、該各モードレジ
スタには、それぞれ、異なる動作モードが設定されてい
る。42はモードレジスタ選択回路であり、該モードレ
ジスタ選択回路42よりの選択信号Snにより、セレク
タ43が制御されて、上記n個のモードレジスタの何れ
かよりの出力信号(動作モード信号)MD1、…、又は
MDnが選択されて、該選択出力信号SSがコントロー
ル・ロジック18に入力される。これにより、選択され
たモードレジスタに設定された動作モードでの動作が行
われるものである。
タ411、412、…、41nを有し、該各モードレジ
スタには、それぞれ、異なる動作モードが設定されてい
る。42はモードレジスタ選択回路であり、該モードレ
ジスタ選択回路42よりの選択信号Snにより、セレク
タ43が制御されて、上記n個のモードレジスタの何れ
かよりの出力信号(動作モード信号)MD1、…、又は
MDnが選択されて、該選択出力信号SSがコントロー
ル・ロジック18に入力される。これにより、選択され
たモードレジスタに設定された動作モードでの動作が行
われるものである。
【0024】図5に、上記各モードレジスタの構成を簡
略化して示す。
略化して示す。
【0025】なお、本発明に於いて、「モードレジス
タ」とは、動作モードを記憶する機能を有するものであ
ればよく、例えば、フリップフロップから成るレジスタ
を含むものに限定されるものではない。後述の説明によ
って明らかとなるように、例えば、ヒューズ素子のみか
ら成るものも含まれるものである。
タ」とは、動作モードを記憶する機能を有するものであ
ればよく、例えば、フリップフロップから成るレジスタ
を含むものに限定されるものではない。後述の説明によ
って明らかとなるように、例えば、ヒューズ素子のみか
ら成るものも含まれるものである。
【0026】モードレジスタ51は、3ビットのセット
/リセット端子付Dフリップフロップ52、53及び5
4を備えている。Dフリップフロップ52、53及び5
4の出力は、それぞれ、バースト長、ラップタイプ、及
びCASレーテンシを表している。実際には、バースト
長が、1、2、4、8及びフルレングスの各々に対して
1個のフリップフロップを備え、他のモードについても
同様であるが、図5では簡略化している。
/リセット端子付Dフリップフロップ52、53及び5
4を備えている。Dフリップフロップ52、53及び5
4の出力は、それぞれ、バースト長、ラップタイプ、及
びCASレーテンシを表している。実際には、バースト
長が、1、2、4、8及びフルレングスの各々に対して
1個のフリップフロップを備え、他のモードについても
同様であるが、図5では簡略化している。
【0027】各Dフリップフロップ52、53及び54
のセット端子(S)及びリセット端子(R)には、それ
ぞれ、スイッチ素子55〜60が接続されており、該ス
イッチ素子55〜60の他端は共通接続されて、電源投
入時にリセット信号RSTを出力するリセット信号発生
回路61の出力に接続されている。上記スイッチ素子
は、例えば、レーザにより、或いは電気的に溶断可能な
ヒューズ素子で構成され、製造過程に於いて、設定すべ
きモードに従って、選択的に溶断されている。或いは、
上記スイッチ素子は、レイアウト設計で接続/非接続が
選択される配線パターンであってもよい。
のセット端子(S)及びリセット端子(R)には、それ
ぞれ、スイッチ素子55〜60が接続されており、該ス
イッチ素子55〜60の他端は共通接続されて、電源投
入時にリセット信号RSTを出力するリセット信号発生
回路61の出力に接続されている。上記スイッチ素子
は、例えば、レーザにより、或いは電気的に溶断可能な
ヒューズ素子で構成され、製造過程に於いて、設定すべ
きモードに従って、選択的に溶断されている。或いは、
上記スイッチ素子は、レイアウト設計で接続/非接続が
選択される配線パターンであってもよい。
【0028】上記構成によれば、電源投入時に出力され
るリセット信号RSTにより、各スイッチ素子のオン/
オフ状態に応じた初期値が、各Dフリップフロップ5
2、53及び54に自動的に設定される。
るリセット信号RSTにより、各スイッチ素子のオン/
オフ状態に応じた初期値が、各Dフリップフロップ5
2、53及び54に自動的に設定される。
【0029】図5に示すモードレジスタに於いては、図
3に示したのと同様の回路を設けることにより、アドレ
ス端子を介して、外部より動作モード設定信号を入力さ
せ、該信号に基づく設定値を、クロック信号CKによっ
て、各Dフリップフロップ52、53及び54に取り込
ませる構成としている。これにより、動作モードの変更
を行うことができる構成としているものである。すなわ
ち、モードレジスタの初期値を用いずに、その内容を更
新したい場合は、従来の用い方と同様に、CS/、RA
S/、CAS/、及びWE/を”Low”レベルにし、
アドレス端子A0〜A6をデータ入力端子として使用す
ることにより、モードレジスタの内容の任意設定を行う
ことができるものである。
3に示したのと同様の回路を設けることにより、アドレ
ス端子を介して、外部より動作モード設定信号を入力さ
せ、該信号に基づく設定値を、クロック信号CKによっ
て、各Dフリップフロップ52、53及び54に取り込
ませる構成としている。これにより、動作モードの変更
を行うことができる構成としているものである。すなわ
ち、モードレジスタの初期値を用いずに、その内容を更
新したい場合は、従来の用い方と同様に、CS/、RA
S/、CAS/、及びWE/を”Low”レベルにし、
アドレス端子A0〜A6をデータ入力端子として使用す
ることにより、モードレジスタの内容の任意設定を行う
ことができるものである。
【0030】上述のように、図5に示すモードレジスタ
に於いては、モードレジスタの書き換えを可能としてい
るが、モードレジスタの内容を書き換える必要が無い場
合には、スイッチ素子による設定のみでよいため、各フ
リップフロップへのアドレス端子からの入力が不要とな
り、構成の簡略化を図ることができる。この場合のモー
ドレジスタ構成図を図6に示す。
に於いては、モードレジスタの書き換えを可能としてい
るが、モードレジスタの内容を書き換える必要が無い場
合には、スイッチ素子による設定のみでよいため、各フ
リップフロップへのアドレス端子からの入力が不要とな
り、構成の簡略化を図ることができる。この場合のモー
ドレジスタ構成図を図6に示す。
【0031】モードレジスタ71は、3ビットのセット
/リセット端子付Dフリップフロップ72、73及び7
4を備えている。Dフリップフロップ72、73及び7
4の出力は、それぞれ、バースト長、ラップタイプ、及
びCASレーテンシを表している。実際には、バースト
長が、1、2、4、8及びフルレングスの各々に対して
1個のフリップフロップを備え、他のモードについても
同様であるが、図6では簡略化している。
/リセット端子付Dフリップフロップ72、73及び7
4を備えている。Dフリップフロップ72、73及び7
4の出力は、それぞれ、バースト長、ラップタイプ、及
びCASレーテンシを表している。実際には、バースト
長が、1、2、4、8及びフルレングスの各々に対して
1個のフリップフロップを備え、他のモードについても
同様であるが、図6では簡略化している。
【0032】各Dフリップフロップ72、73及び74
のセット端子(S)及びリセット端子(R)には、それ
ぞれ、スイッチ素子75〜80が接続されており、該ス
イッチ素子75〜80の他端は共通接続されて、電源投
入時にリセット信号RSTを出力するリセット信号発生
回路81の出力に接続されている。上記スイッチ素子
は、例えば、レーザにより、或いは電気的に溶断可能な
ヒューズ素子で構成され、製造過程に於いて、設定すべ
きモードに従って、選択的に溶断されている。
のセット端子(S)及びリセット端子(R)には、それ
ぞれ、スイッチ素子75〜80が接続されており、該ス
イッチ素子75〜80の他端は共通接続されて、電源投
入時にリセット信号RSTを出力するリセット信号発生
回路81の出力に接続されている。上記スイッチ素子
は、例えば、レーザにより、或いは電気的に溶断可能な
ヒューズ素子で構成され、製造過程に於いて、設定すべ
きモードに従って、選択的に溶断されている。
【0033】上記構成によれば、電源投入時に出力され
るリセット信号RSTにより、各スイッチ素子のオン/
オフ状態に応じた初期値が、各Dフリップフロップ7
2、73及び74に自動的に設定される。但し、この場
合は、モードレジスタの設定内容は固定であり、各Dフ
リップフロップ72、73及び74の内容の書き換えを
行うことはできない。
るリセット信号RSTにより、各スイッチ素子のオン/
オフ状態に応じた初期値が、各Dフリップフロップ7
2、73及び74に自動的に設定される。但し、この場
合は、モードレジスタの設定内容は固定であり、各Dフ
リップフロップ72、73及び74の内容の書き換えを
行うことはできない。
【0034】更に、構成の簡略化を図り、フリップフロ
ップも省略して構成した場合のモードレジスタ構成図を
図7に示す。
ップも省略して構成した場合のモードレジスタ構成図を
図7に示す。
【0035】モードレジスタ91は、6個のスイッチ素
子92〜97から成る。スイッチ素子92と93とが組
となっており、該2つのスイッチ素子の一端は、それぞ
れ、電源電位及び接地電位に接続されており、他端は共
通接続されてバースト長出力となっている。また、スイ
ッチ素子94と95とが組となっており、該2つのスイ
ッチ素子の一端は、それぞれ、電源電位及び接地電位に
接続されており、他端は共通接続されてラップタイプ出
力となっている。更に、スイッチ素子96と97とが組
となっており、該2つのスイッチ素子の一端は、それぞ
れ、電源電位及び接地電位に接続されており、他端は共
通接続されてCASレーテンシ出力となっている。
子92〜97から成る。スイッチ素子92と93とが組
となっており、該2つのスイッチ素子の一端は、それぞ
れ、電源電位及び接地電位に接続されており、他端は共
通接続されてバースト長出力となっている。また、スイ
ッチ素子94と95とが組となっており、該2つのスイ
ッチ素子の一端は、それぞれ、電源電位及び接地電位に
接続されており、他端は共通接続されてラップタイプ出
力となっている。更に、スイッチ素子96と97とが組
となっており、該2つのスイッチ素子の一端は、それぞ
れ、電源電位及び接地電位に接続されており、他端は共
通接続されてCASレーテンシ出力となっている。
【0036】次に、モードレジスタ選択回路42の構成
について説明する。
について説明する。
【0037】モードレジスタ選択回路42は、メモリの
電源電位を検出し、該電源電位のレベルに応じた選択信
号Snを出力する回路である。
電源電位を検出し、該電源電位のレベルに応じた選択信
号Snを出力する回路である。
【0038】図8は、モードレジスタの個数が「3」で
ある場合のモードレジスタ選択回路の一構成例を示す構
成図である。
ある場合のモードレジスタ選択回路の一構成例を示す構
成図である。
【0039】また、下記の表1は、図8に示すモードレ
ジスタ選択回路の動作を示す表である。
ジスタ選択回路の動作を示す表である。
【0040】
【表1】
【0041】表1に示すように、電源電位Vccが、V
cc<Vb1(第1判定電位)、Vb1<Vcc<Vb
2(第2判定電位)、Vcc>Vb2の各場合で選択す
べきモードレジスタを切り換えているものである。
cc<Vb1(第1判定電位)、Vb1<Vcc<Vb
2(第2判定電位)、Vcc>Vb2の各場合で選択す
べきモードレジスタを切り換えているものである。
【0042】図8に於いて、101は、電源電位Vcc
が、第2判定電位Vb2を超えているか否かを検出して
検出出力信号VD1を出力する第1電源電位検出回路で
あり、102は、電源電位Vccが、第1判定電位Vb
1を超えるているか否かを検出して検出出力信号VD2
を出力する第2電源電位検出回路である。該2つの電源
電位検出回路101及び102よりの検出出力信号VD
1及びVD2を3個のアンドゲート103、104及び
105でデコードすることにより、電源電位のレベルに
応じて、選択信号S1、S2又はS3の何れかを出力さ
せる構成となっている。
が、第2判定電位Vb2を超えているか否かを検出して
検出出力信号VD1を出力する第1電源電位検出回路で
あり、102は、電源電位Vccが、第1判定電位Vb
1を超えるているか否かを検出して検出出力信号VD2
を出力する第2電源電位検出回路である。該2つの電源
電位検出回路101及び102よりの検出出力信号VD
1及びVD2を3個のアンドゲート103、104及び
105でデコードすることにより、電源電位のレベルに
応じて、選択信号S1、S2又はS3の何れかを出力さ
せる構成となっている。
【0043】図9に、上記電源電位検出回路の回路構成
図を示す。
図を示す。
【0044】図に示すように、k個のN型MOSトラン
ジスタTN1、…、TNkは、それぞれのゲートとドレ
インが接続され、接地電位GNDから節点Va間に、そ
れらのソース及びドレインを直列に接続されている。電
源電位Vccと節点Vaの間には抵抗Rが接続され、節
点VaはインバータINVの入力に接続されている。該
インバータINVの出力信号が検出出力信号VDとなっ
ている。
ジスタTN1、…、TNkは、それぞれのゲートとドレ
インが接続され、接地電位GNDから節点Va間に、そ
れらのソース及びドレインを直列に接続されている。電
源電位Vccと節点Vaの間には抵抗Rが接続され、節
点VaはインバータINVの入力に接続されている。該
インバータINVの出力信号が検出出力信号VDとなっ
ている。
【0045】次に、上記電源電位検出回路の動作を説明
する。
する。
【0046】図10は、上記電源電位検出回路の動作説
明図である。
明図である。
【0047】電源電位Vccの上昇に伴って、節点Va
の電位はk個のN型MOSトランジスタTN1〜TNk
の閾値の和まで上昇し、飽和する。一方、インバータI
NVの反転電位は、図に示すように上昇し、電源電位V
ccが判定電位Vbまで上昇したときに、節点Vaの電
位とインバータINVの反転電位との関係が反転して、
出力信号VDのレベルが反転し、”Low”レベルか
ら、”High”レベルになる。したがって、本検出回
路は、電源電位Vccが、判定電位Vb以下の場合
は、”Low”レベルの検出出力信号VDを出力し、一
方、電源電位Vccが、判定電位Vbを超えている場合
は、”High”レベルの検出出力信号VDを出力す
る。図9に於ける、N型MOSトランジスタTNの段
数、或いは抵抗Rの抵抗値の調整により、任意の判定電
位Vbを設定することができる。
の電位はk個のN型MOSトランジスタTN1〜TNk
の閾値の和まで上昇し、飽和する。一方、インバータI
NVの反転電位は、図に示すように上昇し、電源電位V
ccが判定電位Vbまで上昇したときに、節点Vaの電
位とインバータINVの反転電位との関係が反転して、
出力信号VDのレベルが反転し、”Low”レベルか
ら、”High”レベルになる。したがって、本検出回
路は、電源電位Vccが、判定電位Vb以下の場合
は、”Low”レベルの検出出力信号VDを出力し、一
方、電源電位Vccが、判定電位Vbを超えている場合
は、”High”レベルの検出出力信号VDを出力す
る。図9に於ける、N型MOSトランジスタTNの段
数、或いは抵抗Rの抵抗値の調整により、任意の判定電
位Vbを設定することができる。
【0048】最後に、セレクタ43の構成について説明
する。
する。
【0049】図11は、その構成図である。図に示すよ
うに、上記モードレジスタ選択回路42よりの選択信号
Sn(S1〜S3)に従って、選択的に導通する3個の
N型MOSトランジスタ111、112及び113から
構成されている。なお、同図に於いて、MD1、MD2
及びMD3は、図4に示す各モードレジスタよりの出力
信号であり、SSは、同コントロール・ロジック18へ
の出力信号である。例えば、電源電位Vccが、Vcc
<Vb1では、選択信号S1のみが”High”レベル
となり、これにより、N型MOSトランジスタ111の
みが導通して、モードレジスタ411の出力信号である
MD1が、セレクタ43の出力信号SSとして、コント
ロール・ロジック18に与えられる。
うに、上記モードレジスタ選択回路42よりの選択信号
Sn(S1〜S3)に従って、選択的に導通する3個の
N型MOSトランジスタ111、112及び113から
構成されている。なお、同図に於いて、MD1、MD2
及びMD3は、図4に示す各モードレジスタよりの出力
信号であり、SSは、同コントロール・ロジック18へ
の出力信号である。例えば、電源電位Vccが、Vcc
<Vb1では、選択信号S1のみが”High”レベル
となり、これにより、N型MOSトランジスタ111の
みが導通して、モードレジスタ411の出力信号である
MD1が、セレクタ43の出力信号SSとして、コント
ロール・ロジック18に与えられる。
【0050】例えば、本メモリに於ける第1判定電位V
b1が、2.7Vであり、第2判定電位Vb2が、4.
0Vであって、アクセスタイムが、電源電位2.5Vで
は、30ns、3.0Vでは、20ns、5.0Vで
は、10nsであるとすると、クロック周波数が100
MHz(周期10ns)のとき、モードレジスタ411
(MD1)のCASレーテンシには、「3」を、また、
モードレジスタ412(MD2)のCASレーテンシに
は、「2」を、更に、モードレジスタ413(MD3)
のCASレーテンシには「1」を、それぞれ初期設定し
ておく。本メモリを電源電位2.5Vで使用した場合
は、上記モードレジスタ選択回路42により、選択信号
S1が、”High”レベルになり、モードレジスタ4
11(MD1)がセレクタ43により選択されて、CA
Sレーテンシは、「3」に設定される。同様に、本メモ
リを電源電位3.0Vで使用した場合は、モードレジス
タ412(MD2)が選択されて、CASレーテンシは
「2」に設定され、電源電位5.0Vで使用した場合
は、モードレジスタ413(MD3)が選択されて、C
ASレーテンシは、「1」に設定される。このように、
初期化ルーチンでの設定を必要とすることなく、電源電
位に応じて、最適なCASレーテンシが自動的に設定さ
れるものである。
b1が、2.7Vであり、第2判定電位Vb2が、4.
0Vであって、アクセスタイムが、電源電位2.5Vで
は、30ns、3.0Vでは、20ns、5.0Vで
は、10nsであるとすると、クロック周波数が100
MHz(周期10ns)のとき、モードレジスタ411
(MD1)のCASレーテンシには、「3」を、また、
モードレジスタ412(MD2)のCASレーテンシに
は、「2」を、更に、モードレジスタ413(MD3)
のCASレーテンシには「1」を、それぞれ初期設定し
ておく。本メモリを電源電位2.5Vで使用した場合
は、上記モードレジスタ選択回路42により、選択信号
S1が、”High”レベルになり、モードレジスタ4
11(MD1)がセレクタ43により選択されて、CA
Sレーテンシは、「3」に設定される。同様に、本メモ
リを電源電位3.0Vで使用した場合は、モードレジス
タ412(MD2)が選択されて、CASレーテンシは
「2」に設定され、電源電位5.0Vで使用した場合
は、モードレジスタ413(MD3)が選択されて、C
ASレーテンシは、「1」に設定される。このように、
初期化ルーチンでの設定を必要とすることなく、電源電
位に応じて、最適なCASレーテンシが自動的に設定さ
れるものである。
【0051】以下、図12の動作タイミング図を参照し
て説明する。
て説明する。
【0052】電源電位Vccの立ち上がりにより、リセ
ット信号RSTが発生し、各モードレジスタに初期値が
設定される。その後、安定した電源電位Vccにより、
選択信号S1、S2及びS3の何れかが”High”レ
ベルになる。電源電位2.5Vでは、選択信号S1が”
High”レベルに、また、電源電位3.0Vでは、選
択信号S2が”High”レベルに、更に、電源電位
5.0Vでは、選択信号S3が”High”レベルにな
る。これにより、所定のモードレジスタが選択され、カ
ラムアドレスストローブ信号CAS/が”Low”レベ
ルに遷移した後、カラムアドレスAYを入力し、選択さ
れたモードレジスタのCASレーテンシ後に、データD
0〜D3が出力される。
ット信号RSTが発生し、各モードレジスタに初期値が
設定される。その後、安定した電源電位Vccにより、
選択信号S1、S2及びS3の何れかが”High”レ
ベルになる。電源電位2.5Vでは、選択信号S1が”
High”レベルに、また、電源電位3.0Vでは、選
択信号S2が”High”レベルに、更に、電源電位
5.0Vでは、選択信号S3が”High”レベルにな
る。これにより、所定のモードレジスタが選択され、カ
ラムアドレスストローブ信号CAS/が”Low”レベ
ルに遷移した後、カラムアドレスAYを入力し、選択さ
れたモードレジスタのCASレーテンシ後に、データD
0〜D3が出力される。
【0053】なお、以上の説明では、モードレジスタの
個数が3個の場合を例にとっているが、モードレジスタ
の個数は2以上の任意の個数に設定することができるも
のであることは言うまでもない。
個数が3個の場合を例にとっているが、モードレジスタ
の個数は2以上の任意の個数に設定することができるも
のであることは言うまでもない。
【0054】図13は、本発明のクロック同期式メモリ
の他の実施形態であるクロック同期式マスクROMの概
略構成図である。
の他の実施形態であるクロック同期式マスクROMの概
略構成図である。
【0055】図に於いて、121はメモリセルアレイ、
122はロウ・デコーダ、123はカラム・デコーダ、
124はロウ・アドレス・バッファ、125はカラム・
アドレス・バッファ、126はデータ制御回路、127
はデータ入出力バッファ、128はコントロール・ロジ
ック、129はモードレジスタを含むモード設定部であ
る。SSは、モード設定部129中のモードレジスタの
出力信号(動作モード信号)であり、コントロール・ロ
ジック128に入力されている。これにより、設定され
たモードでの動作が行われるものである。
122はロウ・デコーダ、123はカラム・デコーダ、
124はロウ・アドレス・バッファ、125はカラム・
アドレス・バッファ、126はデータ制御回路、127
はデータ入出力バッファ、128はコントロール・ロジ
ック、129はモードレジスタを含むモード設定部であ
る。SSは、モード設定部129中のモードレジスタの
出力信号(動作モード信号)であり、コントロール・ロ
ジック128に入力されている。これにより、設定され
たモードでの動作が行われるものである。
【0056】図14は、図13に示すクロック同期式マ
スクROMに於けるモード設定部129の構成を簡略化
して示した構成図である。
スクROMに於けるモード設定部129の構成を簡略化
して示した構成図である。
【0057】モード設定部129は、n個のモードレジ
スタ1411、1412、…、141nを有し、該各モ
ードレジスタには、それぞれ、異なる動作モードが設定
されている。142はモードレジスタ選択回路であり、
該モードレジスタ選択回路142よりの選択信号Snに
より、セレクタ143が制御されて、上記n個のモード
レジスタの何れかよりの出力信号(動作モード信号)M
D1、…、又はMDnが選択されて、該選択出力信号S
Sがコントロール・ロジック128に入力される。これ
により、選択されたモードレジスタに設定された動作モ
ードでの動作が行われるものである。
スタ1411、1412、…、141nを有し、該各モ
ードレジスタには、それぞれ、異なる動作モードが設定
されている。142はモードレジスタ選択回路であり、
該モードレジスタ選択回路142よりの選択信号Snに
より、セレクタ143が制御されて、上記n個のモード
レジスタの何れかよりの出力信号(動作モード信号)M
D1、…、又はMDnが選択されて、該選択出力信号S
Sがコントロール・ロジック128に入力される。これ
により、選択されたモードレジスタに設定された動作モ
ードでの動作が行われるものである。
【0058】本実施形態のクロック同期式のマスクRO
Mにおいては、モードレジスタ1411〜141nの初
期値の設定を、メモリセルのコードデータの書き込み工
程で行うものである。一般に、マスクROMのコードデ
ータの書き込みは、メモリセルトランジスタのチャネル
部に基板(ウエル)と同一導電型の不純物イオンを注入
することにより行う。例えば、NOR型NチャネルMO
SFETのメモリセルでは、P型不純物であるボロン
(B)イオンの注入の有無により、メモリセルをオン/
オフさせる。
Mにおいては、モードレジスタ1411〜141nの初
期値の設定を、メモリセルのコードデータの書き込み工
程で行うものである。一般に、マスクROMのコードデ
ータの書き込みは、メモリセルトランジスタのチャネル
部に基板(ウエル)と同一導電型の不純物イオンを注入
することにより行う。例えば、NOR型NチャネルMO
SFETのメモリセルでは、P型不純物であるボロン
(B)イオンの注入の有無により、メモリセルをオン/
オフさせる。
【0059】本実施形態に於けるモードレジスタは、上
記図6又は図7に示したものと同様の構成であるが(な
お、図5に示した構成と同様の構成のものであってもよ
い)、スイッチ素子の構成が異なる。すなわち、本実施
形態に於いては、上記スイッチ素子は、マスクROMの
メモリセルを構成するMOSFETと同一のMOSFE
Tから成り、各動作モードの初期値に応じて、選択的に
オン/オフ設定されているものである。すなわち、メモ
リセルのコードデータ書き込み時に、同時に(同一マス
クにより)、上記スイッチ素子を構成するトランジスタ
のチャネル部にも選択的に不純物イオン注入を行うこと
により、各スイッチ素子のオン/オフ設定が行われてい
るものである。
記図6又は図7に示したものと同様の構成であるが(な
お、図5に示した構成と同様の構成のものであってもよ
い)、スイッチ素子の構成が異なる。すなわち、本実施
形態に於いては、上記スイッチ素子は、マスクROMの
メモリセルを構成するMOSFETと同一のMOSFE
Tから成り、各動作モードの初期値に応じて、選択的に
オン/オフ設定されているものである。すなわち、メモ
リセルのコードデータ書き込み時に、同時に(同一マス
クにより)、上記スイッチ素子を構成するトランジスタ
のチャネル部にも選択的に不純物イオン注入を行うこと
により、各スイッチ素子のオン/オフ設定が行われてい
るものである。
【0060】マスクROMは、ユーザの仕様に応じて、
コードデータを製造工程において書き込む。通常、この
書き込みの時点で、該マスクROMの動作周波数等の使
用形態が決まっているため、電源電位等に応じた最適な
レーテンシを設定することができる。また、マスクRO
Mでは、通常、書き込み動作は行われないので、初期ル
ーチンによるモードレジスタの設定が可能なシステムと
すると、回路が複雑化する恐れがある。したがって、本
発明に於ける、初期ルーチンによるモードレジスタの設
定を行わない構成により、システム及びメモリ構成を簡
単化することができる。
コードデータを製造工程において書き込む。通常、この
書き込みの時点で、該マスクROMの動作周波数等の使
用形態が決まっているため、電源電位等に応じた最適な
レーテンシを設定することができる。また、マスクRO
Mでは、通常、書き込み動作は行われないので、初期ル
ーチンによるモードレジスタの設定が可能なシステムと
すると、回路が複雑化する恐れがある。したがって、本
発明に於ける、初期ルーチンによるモードレジスタの設
定を行わない構成により、システム及びメモリ構成を簡
単化することができる。
【0061】なお、本実施形態に於けるモードレジスタ
選択回路142及びセレクタ143の構成は、先に説明
した実施形態に於けるものと同一構成である。
選択回路142及びセレクタ143の構成は、先に説明
した実施形態に於けるものと同一構成である。
【0062】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明のク
ロック同期式メモリは、動作モードを設定するためのモ
ードレジスタを備え、該モードレジスタに設定された動
作モードで、クロック入力に同期してデータ入出力を行
うクロック同期式メモリに於いて、互いに異なる動作モ
ードが設定された複数のモードレジスタと、電源電位検
出回路を含み、該電源電位検出回路よりの電源電位検出
信号に応じて、上記複数のモードレジスタの内の所定の
モードレジスタを選択するモードレジスタ選択回路とを
備えて成ることを特徴とするものであり、かかる本発明
のクロック同期式メモリによれば、複数のモードレジス
タを設け、予め、それらに所定のレーテンシ等の動作モ
ードを設定しておき、電源電位に応じて何れかのモード
レジスタを選択することにより、電源電位に応じて、最
適なレーテンシ等の設定が可能となるものである。ま
た、デバイスの各仕様毎に、それぞれ動作モードの異な
る、複数種類のデバイスを準備しておく必要がなく、単
一種類のデバイスを用意するのみでよいため、製造及び
製品管理等に於ける煩雑さが解消されるものである。
ロック同期式メモリは、動作モードを設定するためのモ
ードレジスタを備え、該モードレジスタに設定された動
作モードで、クロック入力に同期してデータ入出力を行
うクロック同期式メモリに於いて、互いに異なる動作モ
ードが設定された複数のモードレジスタと、電源電位検
出回路を含み、該電源電位検出回路よりの電源電位検出
信号に応じて、上記複数のモードレジスタの内の所定の
モードレジスタを選択するモードレジスタ選択回路とを
備えて成ることを特徴とするものであり、かかる本発明
のクロック同期式メモリによれば、複数のモードレジス
タを設け、予め、それらに所定のレーテンシ等の動作モ
ードを設定しておき、電源電位に応じて何れかのモード
レジスタを選択することにより、電源電位に応じて、最
適なレーテンシ等の設定が可能となるものである。ま
た、デバイスの各仕様毎に、それぞれ動作モードの異な
る、複数種類のデバイスを準備しておく必要がなく、単
一種類のデバイスを用意するのみでよいため、製造及び
製品管理等に於ける煩雑さが解消されるものである。
【0063】また、本発明のクロック同期式読み出し専
用メモリは、動作モードを設定するためのモードレジス
タを備え、該モードレジスタに設定された動作モード
で、クロック入力に同期してデータ出力を行うクロック
同期式読み出し専用メモリに於いて、互いに異なる動作
モードが設定された複数のモードレジスタと、電源電位
検出回路を含み、該電源電位検出回路よりの電源電位検
出信号に応じて、上記複数のモードレジスタの内の所定
のモードレジスタを選択するモードレジスタ選択回路と
を備え、上記各モードレジスタの内容が、メモリセルの
コードデータ書き込み時に設定されて成ることを特徴と
するものであり、かかる本発明のクロック同期式読み出
し専用メモリによれば、複数のモードレジスタを設け、
予め、それらに所定のレーテンシ等の動作モードを設定
しておき、電源電位に応じて何れかのモードレジスタを
選択することにより、電源電位に応じて、最適なレーテ
ンシ等の設定が可能となるものである。また、デバイス
の各仕様毎に、それぞれ動作モードの異なる、複数種類
のデバイスを準備しておく必要がなく、単一種類のデバ
イスを用意するのみでよいため、製造及び製品管理等に
於ける煩雑さが解消されるものである。更に、何ら新た
な製造工程を増やすことなく、モードレジスタの設定を
行うことができ、チップコストの増加を抑えることがで
きるものである。
用メモリは、動作モードを設定するためのモードレジス
タを備え、該モードレジスタに設定された動作モード
で、クロック入力に同期してデータ出力を行うクロック
同期式読み出し専用メモリに於いて、互いに異なる動作
モードが設定された複数のモードレジスタと、電源電位
検出回路を含み、該電源電位検出回路よりの電源電位検
出信号に応じて、上記複数のモードレジスタの内の所定
のモードレジスタを選択するモードレジスタ選択回路と
を備え、上記各モードレジスタの内容が、メモリセルの
コードデータ書き込み時に設定されて成ることを特徴と
するものであり、かかる本発明のクロック同期式読み出
し専用メモリによれば、複数のモードレジスタを設け、
予め、それらに所定のレーテンシ等の動作モードを設定
しておき、電源電位に応じて何れかのモードレジスタを
選択することにより、電源電位に応じて、最適なレーテ
ンシ等の設定が可能となるものである。また、デバイス
の各仕様毎に、それぞれ動作モードの異なる、複数種類
のデバイスを準備しておく必要がなく、単一種類のデバ
イスを用意するのみでよいため、製造及び製品管理等に
於ける煩雑さが解消されるものである。更に、何ら新た
な製造工程を増やすことなく、モードレジスタの設定を
行うことができ、チップコストの増加を抑えることがで
きるものである。
【図1】本発明のクロック同期式メモリの一実施形態で
あるシンクロナスDRAMの概略構成図である。
あるシンクロナスDRAMの概略構成図である。
【図2】従来のシンクロナスDRAMの概略構成図であ
る。
る。
【図3】従来のシンクロナスDRAMに於けるモード設
定部の構成図である。
定部の構成図である。
【図4】本発明の一実施形態であるシンクロナスDRA
Mに於けるモード設定部の構成図である。
Mに於けるモード設定部の構成図である。
【図5】同モード設定部に於けるモードレジスタの一構
成例を示す構成図である。
成例を示す構成図である。
【図6】同モード設定部に於けるモードレジスタの他の
構成例を示す構成図である。
構成例を示す構成図である。
【図7】同モード設定部に於けるモードレジスタの更に
他の構成例を示す構成図である。
他の構成例を示す構成図である。
【図8】同モード設定部に於けるモードレジスタ選択回
路の一構成例を示す構成図である。
路の一構成例を示す構成図である。
【図9】同モードレジスタ選択回路を構成する電源電位
検出回路の構成図である。
検出回路の構成図である。
【図10】同電源電位検出回路の動作説明図である。
【図11】同モード設定部に於けるセレクタの一構成例
を示す構成図である。
を示す構成図である。
【図12】本発明のクロック同期式メモリの一実施形態
であるシンクロナスDRAMに於ける動作タイミング図
である。
であるシンクロナスDRAMに於ける動作タイミング図
である。
【図13】本発明のクロック同期式メモリの他の実施形
態であるクロック同期式マスクROMの概略構成図であ
る。
態であるクロック同期式マスクROMの概略構成図であ
る。
【図14】同クロック同期式マスクROMに於けるモー
ド設定部の構成図である。
ド設定部の構成図である。
19 モード設定部 411〜41n モードレジスタ 42 モードレジスタ選択回路 43 セレクタ 129 モード設定部 1411〜141n モードレジスタ 142 モードレジスタ選択回路 143 セレクタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11C 11/407
Claims (3)
- 【請求項1】 動作モードを設定するためのモードレジ
スタを備え、該モードレジスタに設定された動作モード
で、クロック入力に同期してデータ入出力を行うクロッ
ク同期式メモリに於いて、 互いに異なる動作モードが設定された複数のモードレジ
スタと、 電源電位検出回路を含み、該電源電位検出回路よりの電
源電位検出信号に応じて、上記複数のモードレジスタの
内の所定のモードレジスタを選択するモードレジスタ選
択回路とを備えて成ることを特徴とするクロック同期式
メモリ。 - 【請求項2】 動作モードを設定するためのモードレジ
スタを備え、該モードレジスタに設定された動作モード
で、クロック入力に同期してデータ出力を行うクロック
同期式読み出し専用メモリに於いて、 互いに異なる動作モードが設定された複数のモードレジ
スタと、 電源電位検出回路を含み、該電源電位検出回路よりの電
源電位検出信号に応じて、上記複数のモードレジスタの
内の所定のモードレジスタを選択するモードレジスタ選
択回路とを備え、 上記各モードレジスタの内容が、メモリセルのコードデ
ータ書き込み時に設定されて成ることを特徴とするクロ
ック同期式読み出し専用メモリ。 - 【請求項3】 上記モードレジスタがMOSトランジス
タを含み、該モードレジスタの内容設定は、上記MOS
トランジスタのチャネル部に当該MOSトランジスタの
チャネル型とは異なる型の不純物イオンを選択的に注入
することによって行われて成り、該不純物イオンの注入
は、上記コードデータの書き込みと同一マスクにより行
われて成ることを特徴とする、請求項2に記載のクロッ
ク同期式読み出し専用メモリ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19679197A JP3323882B2 (ja) | 1997-07-23 | 1997-07-23 | クロック同期式メモリ |
US09/119,807 US6215725B1 (en) | 1997-07-23 | 1998-07-21 | Clock-synchronized memory |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19679197A JP3323882B2 (ja) | 1997-07-23 | 1997-07-23 | クロック同期式メモリ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1139866A JPH1139866A (ja) | 1999-02-12 |
JP3323882B2 true JP3323882B2 (ja) | 2002-09-09 |
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ID=16363714
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP19679197A Expired - Fee Related JP3323882B2 (ja) | 1997-07-23 | 1997-07-23 | クロック同期式メモリ |
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Country | Link |
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JP (1) | JP3323882B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP4346526B2 (ja) | 2004-08-31 | 2009-10-21 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
KR100857441B1 (ko) | 2007-04-11 | 2008-09-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적 회로 |
JP5304129B2 (ja) * | 2008-09-17 | 2013-10-02 | 富士通株式会社 | メモリデバイス |
-
1997
- 1997-07-23 JP JP19679197A patent/JP3323882B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH1139866A (ja) | 1999-02-12 |
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