JP2697412B2 - ダイナミックram - Google Patents
ダイナミックramInfo
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Description
し、特に外部電源電位より低い内部電源電位を発生する
内部電源回路とその1/2の中間電位を発生する回路と
を有するダイナミックRAMに関する。
伴い、メモリセルを構成するコンデンサの対極の電位
を、信頼性上の理由等から電源電位と接地電位の中間電
位に設定している。そして16メガビットのダイナミッ
クRAMでは、低消費電流化のため、さらに外部電源電
位より低い電源電位を発生する内部電源回路を有するも
のも出現するに至った。この場合、外部電源電位は一般
的には5Vであるが、内部電源電位は3.3Vに下げら
れ使用される。これに伴い中間電位も、内部電元電位の
3.3Vと接地電位の中間値の1.65Vに設定され
る。
発生回路を有する従来のダイナミックRAMのブロック
図である。
電源電位VCCを受けて、通常3.3Vの内部電源電位
VINTを発生する。
INTを受けてその1/2の電位の中間電位HVを発生
する。
位HVは、外部電源電位VCCの揺れに対してその影響
を受けず安定し、この中間電位HVが供給される回路の
動作マージンの拡大につながる。しかしながら、電源投
入時には、内部電源電位VINTは外部電源電位VCC
を受けて立上るためその立上りが遅れ、更に、中間電位
発生回路4aの動作電位が低く定消費電流化されている
ためその駆動能力が小さく、中間電位HVが所定の電位
になるまでかなりの時間を要する。
は、「VCC立上げ後100μSで使用可能なこと」と
いう規定があり、この規定を満足させる為には、中間電
位発生回路4aを十分大きくしその駆動能力を確保しな
ければならない。
クRAMでは、内部電源電位VINTを受けて中間電位
HVを発生する構成となっているため、電源投入後、中
間電位HVが所定の電位になるまでの時間がかかり、こ
の時間を短かくしようとすると、消費電流が増大してし
まうという欠点があった。
立上り時間を短かくし、かつ消費電流を低減することが
できるダイナミックRAMを提供することにある。
AMは、外部電源が投入され外部電源電位が予め設定さ
れた電位に達したことを検知して検知信号を発生する電
源投入検知回路と、前記外部電源電位を受けこの外部電
源電位より低い電位の内部電源電位を発生する内部電源
回路と、前記外部電源電位を受けて第1の中間電位を発
生して中間電位供給接点へ供給し、前記検知信号が発生
しかつ前記第1の中間電位が所定の電位となったとき前
記中間電位供給接点への前記第1の中間電位の供給及び
中間電位発生機能を停止する所定の中間電位駆動能力を
もつ第1の中間電位発生回路と、前記内部電源電位を受
けて第2の中間電位を発生し前記検知信号が発生すると
前記中間電位供給接点へ前記第1の中間電位発生回路よ
り小さい中間電位駆動能力で前記第2の中間電位を供給
する第2の中間電位発生回路とを有することを特徴とし
ている。
説明する。
である。
源電位VCCが予め設定された電位に達したことを検知
して検知信号PONA,PONBを発生する電源投入検
知回路1と、外部電源電位VCCを受けこの外部電源V
CCより低い電位の内部電源電位VINTを発生する内
部電源回路2と、外部電源電位VCC及び基準電圧VR
EFを受けて第1の中間電位HV1を発生して中間電位
供給接点へ供給し、検知信号PONAが発生しかつ第1
の中間電位HV1が所定の電位となったとき中間電位供
給接点への第1の中間電位HV1の供給及び中間電位発
生機能を停止する大きな中間電位駆動能力をもつ第1の
中間電位発生回路3と、内部電源電位VINTを受けて
第2の中間電位HV2を発生し検知信号PONBが発生
すると中間電位供給接点へ第1の中間電位発生回路3よ
り小さい中間電位駆動能力で第2の中間電位HV2を供
給する第2の中間電位発生回路4とを有する構成となっ
ている。
の中間電位発生回路の具体例を示す回路図である。
間電位供給接点を接続する第1のトランジスタQ1と、
ゲートに内部基準電圧VRIを入力しソースを第1のト
ランジスタE1のソースと接続する第2のトランジスタ
と、これら第1及び第2のトランジスタQ1,Q2のド
レインと外部電源電位VCC点との間に接続されたカレ
ントミラー回路型の負荷回路のトランジスタQ4,Q5
と活性化制御用のトランジスタQ3とを備え第2のトラ
ンジスタQ2のドレインから第1の中間電位を出力する
差動増幅回路と、基準電圧VREFから内部基準電圧V
RIを発生するトランジスタQ6及び抵抗R1,R2
と、検知信号PONAとトランジスタQ2のドレインの
電位とから中間電位供給点への中間電位VH1の供給及
び供給の停止を制御するNCRゲートNR1,インバー
タIV1,IV2及びトランジスタQ7〜Q9とを含ん
だ構成となっている。なお、基準電圧VREFは外部電
源電位VCCから生成する。
内部電源電位VINTを受ける抵抗R3と、一端を接地
電位点と接続する抵抗R4と、ソースを抵抗R3の他端
と接続しゲートに第2の中間電位を入力するトランジス
タQ10と、ソースを抵抗R4の他端と接続しゲートに
第2の中間電位を入力するトランジスタQ13と、ゲー
ト及びドレインをトランジスタQ10のドレインと接続
するトランジスタQ11と、ゲート及びドレインをトラ
ンジスタQ13のドレインと接続しソースをトランジス
タQ11のソースと接続するトランジスタQ12と、ド
レインに内部電源電位VINTを受けゲートをトランジ
スタQ11のゲートと接続しソースから第2の中間電位
を出力するトランジスタQ14と、ソースを接地電位点
と接続しゲートをトランジスタQ12のゲートと接続し
ドレインをトランジスタQ14のソースと接続するトラ
ンジスタQ15と、ゲートに検知信号PONBを入力し
中間電位供給接点への第2の中間電位HV2の供給及び
供給の停止を制御するトランジスタQ16とを含んだ構
成となっている。
図4はこの実施例の動作を説明するための各部信号の波
形図である。
Cが5Vに達したことを検知し、外部電源電位VCCか
ら接地電位点になる検知信号PONAと、接地電位から
外部電源電位VCCになる検知信号PONBとを発生す
る。
ベルである電源投入から外部電源電位VCCが5Vに静
定するまでの期間ではトランジスタQ3,Q9がオン、
トランジスタQ7がオフとなり、トランジスタQ1〜Q
5による差動増幅回路が動作し、トランジスタQ8,Q
9を介して第1の中間電位HV1が中間電位供給接点へ
供給される。
ランジスタQ8によって中間電位供給接点を駆動し、ま
た外部電源電位VCCを受けて生成されるので、駆動能
力が大きく外部電源電位VCCの立上りに対する遅れが
少ない。従って中間電位供給接点の中間電位HV1の立
上りが早くなる。
に検知信号PONBが電源電位VCCレベルになると、
この時点までには第1の中間電位HV1はもちろん、第
2の中間電位HV2を所定のレベル(1.65V)に達
している。
トランジスタQ7はオンとなって第1の中間電位発生回
路3からの中間電位供給接点への中間電位HV1の供給
は停止し、またその中間電位発生機能も停止する。これ
と同時にトランジスタQ16がオンとなり、第2の中間
電位発生回路4から中間電位供給接点へ第2の中間電位
HV2が供給される。第2の中間電位発生回路4は抵抗
分圧型となっているので消費電流は小さくなっている。
電位(5V)に静定するまでは駆動能力の大きい第1の
中間電位発生回路3により第1の中間電位HV1を供給
して中間電位供給接点の中間電位の立上りを早くし、外
部電源電位VCCが静定し第2の中間電位HV2が所定
の電位に達した後は、第1の中間電位発生回路3の中間
電位発生機能が停止し消費電流が小さい第2の中間電位
発生回路4から第2の中間電位HV2が供給するので消
費電流を小さくすることができる。
VCCのみの検知により検知信号PONA,PONBを
出力する構成としたが、外部電源電位VCC及び内部電
源電位VINTの両方が共にそれぞれの予め設定された
電位に達したことを検知して検知信号PONA,PON
Bを出力する構成とすることにより、より確実かつ安定
した第1の中間電位HV1から第2の中間電位HV2へ
の切替えを行うことができる。
を供給する接点が1つだけでなく、例えばメモリセルの
容量素子の対極やビット線プリチャージ回路等のように
複数存在する。この場合、これらの中間電位には多少の
差があるので、上述したような第1及び第2の中間電位
発生回路を複数設け、それぞれの回路に別々に供給する
ようにしてもよい。
電位が所定のレベルに達したことを検知して検知信号を
発生する電源投入検知回路を設け、また外部電源電位か
ら第1の中間電位を発生する駆動能力の大きい第1の中
間電位発生回路を設け、電源投入から検知信号が発生す
るまでは第1の中間電位発生回路からの中間電位を所定
の接点へ供給し、検知信号発生後は内部電源電位から第
2の中間電位を発生する第2の中間電位発生回路から前
記接点へ中間電位を供給すると共に第1の中間電位発生
回路の中間電位発生機能を停止する構成とすることによ
り、電源投入後の前記接点の中間電位の立上り時間を短
かくし、かつ消費電流を低減することができる効果があ
る。
路の具体例を示す回路図である。
路の具体例を示す回路図である。
各部信号の波形図である。
ク図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 外部電源が投入され外部電源電位が予め
設定された電位に達したことを検知して検知信号を発生
する電源投入検知回路と、前記外部電源電位を受けこの
外部電源電位より低い電位の内部電源電位を発生する内
部電源回路と、前記外部電源電位を受けて第1の中間電
位を発生して中間電位供給接点へ供給し、前記検知信号
が発生しかつ前記第1の中間電位が所定の電位となった
とき前記中間電位供給接点への前記第1の中間電位の供
給及び中間電位発生機能を停止する所定の中間電位駆動
能力をもつ第1の中間電位発生回路と、前記内部電源電
位を受けて第2の中間電位を発生し前記検知信号が発生
すると前記中間電位供給接点へ前記第1の中間電位発生
回路より小さい中間電位駆動能力で前記第2の中間電位
を供給する第2の中間電位発生回路とを有することを特
徴とするダイナミックRAM。 - 【請求項2】 第1の中間電位発生回路が、ゲートを中
間電位供給接点を接続する第1のトランジスタと、ゲー
トに基準電圧を入力しソースを前記第1のトランジスタ
のソースと接続する第2のトランジスタと、前記第1及
び第2のトランジスタのドレインと外部電源電位点との
間に接続されたカレントミラー回路型の負荷回路とを備
え前記第2のトランジスタのドレインから第1の中間電
位を出力する差動増幅回路を含んで構成され、第2の中
間電位発生回路が、一端に内部電源電位を受ける第1の
抵抗と、一端を接地電位点と接続する第2の抵抗と、ソ
ースを前記第1の抵抗の他端と接続しゲートに第2の中
間電位を入力する第3のトランジスタと、ソースを前記
第2の抵抗の他端と接続しゲートに前記第2の中間電位
を入力する第4のトランジスタとを含んで構成された請
求項1記載のダイナミックRAM。 - 【請求項3】 第1及び第2の中間電位発生回路にそれ
ぞれ、中間電位供給接点への第1及び第2の中間電位の
供給及び供給の停止を制御するトランジスタを設けた請
求項1記載のダイナミックRAM。 - 【請求項4】 第1及び第2の中間電位発生回路がそれ
ぞれ複数個設けられた請求項3記載のダイナミックRA
M。 - 【請求項5】 電源投入検知回路を、外部電源電位及び
内部電源電位の両方がそれぞれの予め設定された電位に
達したことを検知して検知信号を発生する回路とした請
求項1記載のダイナミックRAM。 - 【請求項6】 基準電圧が外部電源電位から生成された
請求項2記載のダイナミックRAM。
Priority Applications (3)
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US07/958,301 US5319601A (en) | 1991-10-25 | 1992-10-08 | Power supply start up circuit for dynamic random access memory |
KR1019920019411A KR960009394B1 (ko) | 1991-10-25 | 1992-10-22 | 동적 임의 접근 메모리용 전원 회로 |
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JP3279387A JP2697412B2 (ja) | 1991-10-25 | 1991-10-25 | ダイナミックram |
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Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2699755B1 (fr) * | 1992-12-22 | 1995-03-10 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuit de démarrage et de sécurité contre les coupures d'alimentation, pour circuit intégré. |
US5612892A (en) * | 1993-12-16 | 1997-03-18 | Intel Corporation | Method and structure for improving power consumption on a component while maintaining high operating frequency |
KR970010284B1 (en) * | 1993-12-18 | 1997-06-23 | Samsung Electronics Co Ltd | Internal voltage generator of semiconductor integrated circuit |
US5497112A (en) * | 1994-07-12 | 1996-03-05 | General Instrument Corporation Of Delaware | Power-out reset system |
US5701090A (en) * | 1994-11-15 | 1997-12-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Data output circuit with reduced output noise |
JPH08221984A (ja) * | 1995-02-17 | 1996-08-30 | Nec Corp | 半導体記憶回路 |
JP3650186B2 (ja) * | 1995-11-28 | 2005-05-18 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置および比較回路 |
KR100383254B1 (ko) * | 1995-12-29 | 2003-08-14 | 고려화학 주식회사 | 오닉스 마블 제조용 비닐에스테르 수지의 제조방법 |
JP3938410B2 (ja) * | 1996-04-16 | 2007-06-27 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路 |
US5892394A (en) * | 1996-07-19 | 1999-04-06 | Holtek Microelectronics Inc. | Intelligent bias voltage generating circuit |
US6198339B1 (en) | 1996-09-17 | 2001-03-06 | International Business Machines Corporation | CVF current reference with standby mode |
KR100383253B1 (ko) * | 1997-12-31 | 2003-08-14 | 고려화학 주식회사 | F.r.p 절연봉 인발성형용 비닐에스테르 수지와 이를 이용한인발성형품의 제조방법 |
US6094395A (en) * | 1998-03-27 | 2000-07-25 | Infineon Technologies North America Corp. | Arrangement for controlling voltage generators in multi-voltage generator chips such as DRAMs |
JPH11288588A (ja) | 1998-04-02 | 1999-10-19 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体回路装置 |
US6112306A (en) * | 1998-10-06 | 2000-08-29 | Intel Corporation | Self-synchronizing method and apparatus for exiting dynamic random access memory from a low power state |
KR100283906B1 (ko) * | 1998-10-31 | 2001-03-02 | 김영환 | 반도체 메모리의 초기 안정화 신호 발생 회로 |
JP2000339958A (ja) | 1999-05-25 | 2000-12-08 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
US6457095B1 (en) | 1999-12-13 | 2002-09-24 | Intel Corporation | Method and apparatus for synchronizing dynamic random access memory exiting from a low power state |
JP2001210076A (ja) | 2000-01-27 | 2001-08-03 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路および半導体集積回路の内部電源電圧発生方法 |
KR100762842B1 (ko) * | 2001-10-23 | 2007-10-08 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 반도체 메모리 장치의 초기화 시스템 |
US7127631B2 (en) | 2002-03-28 | 2006-10-24 | Advanced Analogic Technologies, Inc. | Single wire serial interface utilizing count of encoded clock pulses with reset |
ITMI20021901A1 (it) * | 2002-09-06 | 2004-03-07 | Atmel Corp | Sistema di controllo di inserzione di potenza per un convertitore in riduzione di tensione |
JP4719425B2 (ja) * | 2004-03-19 | 2011-07-06 | ウインボンド エレクトロニクス コーポレイション | 二段階内部電圧生成回路及び方法 |
KR100648278B1 (ko) * | 2004-11-05 | 2006-11-23 | 삼성전자주식회사 | 벌크 라인 전압에 따른 프로그램 실행 구간의서스펜드/리쥼 기능을 갖는 불 휘발성 메모리 장치 및그것의 프로그램 방법 |
US7366931B2 (en) * | 2004-12-30 | 2008-04-29 | Intel Corporation | Memory modules that receive clock information and are placed in a low power state |
JP2006252721A (ja) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Elpida Memory Inc | オーバードライブ期間制御装置およびオーバードライブ期間決定方法 |
JP2009087398A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-23 | Toshiba Corp | 電源回路 |
FR2943866B1 (fr) * | 2009-03-24 | 2011-04-01 | Dolphin Integration Sa | Circuit d'alimentation pour mode de sommeil |
US8194491B2 (en) * | 2010-03-22 | 2012-06-05 | Elite Semiconductor Memory Technology Inc. | Power-up circuit |
JP5539776B2 (ja) * | 2010-03-31 | 2014-07-02 | スパンション エルエルシー | 半導体集積回路 |
US8987934B2 (en) * | 2011-11-09 | 2015-03-24 | Nxp B.V. | Power supply with extended minimum voltage output |
KR20140124093A (ko) * | 2013-04-16 | 2014-10-24 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 |
US8829944B1 (en) | 2013-09-30 | 2014-09-09 | Lattice Semiconductor Corporation | Dynamic power supply switching for clocking signals |
WO2015056041A1 (en) | 2013-10-18 | 2015-04-23 | Freescale Semiconductor, Inc. | Voltage supply circuit with an auxiliary voltage supply unit and method for starting up electronic circuitry |
US10672453B2 (en) * | 2017-12-22 | 2020-06-02 | Nanya Technology Corporation | Voltage system providing pump voltage for memory device and method for operating the same |
US11641160B1 (en) * | 2022-05-11 | 2023-05-02 | Nanya Technology Corporation | Power providing circuit and power providing method thereof |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5086238A (en) * | 1985-07-22 | 1992-02-04 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor supply incorporating internal power supply for compensating for deviation in operating condition and fabrication process conditions |
US5197033A (en) * | 1986-07-18 | 1993-03-23 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device incorporating internal power supply for compensating for deviation in operating condition and fabrication process conditions |
JPH0770216B2 (ja) * | 1985-11-22 | 1995-07-31 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路 |
US5087850A (en) * | 1989-04-19 | 1992-02-11 | Olympus Optical Co., Ltd. | Ultrasonic transducer apparatus |
US5063304A (en) * | 1990-04-27 | 1991-11-05 | Texas Instruments Incorporated | Integrated circuit with improved on-chip power supply control |
-
1991
- 1991-10-25 JP JP3279387A patent/JP2697412B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-10-08 US US07/958,301 patent/US5319601A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-10-22 KR KR1019920019411A patent/KR960009394B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
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