JP2646782B2 - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
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- JP2646782B2 JP2646782B2 JP2019132A JP1913290A JP2646782B2 JP 2646782 B2 JP2646782 B2 JP 2646782B2 JP 2019132 A JP2019132 A JP 2019132A JP 1913290 A JP1913290 A JP 1913290A JP 2646782 B2 JP2646782 B2 JP 2646782B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ディスクの記録，再生に用いる光ヘッド
装置に関する。
装置に関する。
従来の光ヘッド装置にはトラック誤差信号やフォーカ
ス誤差信号検出方式により種々の構成のものがあるが、
多数のレンズやプリズムを用いて構成されている第２図
にその一例を示す。
ス誤差信号検出方式により種々の構成のものがあるが、
多数のレンズやプリズムを用いて構成されている第２図
にその一例を示す。
この従来の光ヘッド装置では、トラック誤差信号検出
には３ビーム法、焦点誤差信号検出には非点収差法が用
いられている。光源である半導体レーザ１からの放射光
２は回折格子16により回折され、０次光のメインビーム
の他に、＋１次光と−１次光のサブビームに分けられ
る。ビームスプリツタ13を透過後、収束レンズ４により
第３図に示されるように光ディスク８面上にメインビー
ムスポット26とサブビームスポット27,28が形成され
る。なお第３図において、24はピットを示す。光ディス
ク８において反射された光は逆の光路を通り、ビームス
プリッタ13で反射され、凸レンズ17と円筒レンズ14によ
り非点収差を持つ光となり６分割光検出器15に入射す
る。
には３ビーム法、焦点誤差信号検出には非点収差法が用
いられている。光源である半導体レーザ１からの放射光
２は回折格子16により回折され、０次光のメインビーム
の他に、＋１次光と−１次光のサブビームに分けられ
る。ビームスプリツタ13を透過後、収束レンズ４により
第３図に示されるように光ディスク８面上にメインビー
ムスポット26とサブビームスポット27,28が形成され
る。なお第３図において、24はピットを示す。光ディス
ク８において反射された光は逆の光路を通り、ビームス
プリッタ13で反射され、凸レンズ17と円筒レンズ14によ
り非点収差を持つ光となり６分割光検出器15に入射す
る。
第４図はその６分割光検出器15に入射した光の集光状
態を示す図である。（ｂ）は光ディスク面に光が合焦し
た時（ａ），（ｃ）は光ディスクが合焦点状態から収束
レンズ４に近づいた時と遠ざかった時の集光状態を示し
ている。これより焦点誤差信号は光検出素子21,22,23,2
4の出力をＶ（21）,V（22）,V（23）,V（24）とする
と、Ｖ（21）＋Ｖ（24）−Ｖ（22）−Ｖ（23）より検出
される。一方、トラック誤差信号検出には光ディスク８
面上でメインビームスポット26がピット24からはずれた
とき、二つのサブビームスポット27,28の反射光量にア
ンバランスが生じることを利用している。すなわち、光
ディスク８面上のサブビーム27,28はそれぞれ６分割光
検出器15上では光検出素子19,20に集光するので、それ
ぞれの出力をＶ（19）,V（20）とすると、トラック誤差
信号はＶ（19）−Ｖ（20）で検知される。また、記録信
号はメインビームの全光量すなわちＶ（21）＋Ｖ（22）
＋Ｖ（23）＋Ｖ（24）より検出される。
態を示す図である。（ｂ）は光ディスク面に光が合焦し
た時（ａ），（ｃ）は光ディスクが合焦点状態から収束
レンズ４に近づいた時と遠ざかった時の集光状態を示し
ている。これより焦点誤差信号は光検出素子21,22,23,2
4の出力をＶ（21）,V（22）,V（23）,V（24）とする
と、Ｖ（21）＋Ｖ（24）−Ｖ（22）−Ｖ（23）より検出
される。一方、トラック誤差信号検出には光ディスク８
面上でメインビームスポット26がピット24からはずれた
とき、二つのサブビームスポット27,28の反射光量にア
ンバランスが生じることを利用している。すなわち、光
ディスク８面上のサブビーム27,28はそれぞれ６分割光
検出器15上では光検出素子19,20に集光するので、それ
ぞれの出力をＶ（19）,V（20）とすると、トラック誤差
信号はＶ（19）−Ｖ（20）で検知される。また、記録信
号はメインビームの全光量すなわちＶ（21）＋Ｖ（22）
＋Ｖ（23）＋Ｖ（24）より検出される。
上述した従来の光ヘッド装置では、光ディスクからの
戻り光を光軸外に出す二軸系の構成のため装置の小型化
及び軽量化が困難であった。
戻り光を光軸外に出す二軸系の構成のため装置の小型化
及び軽量化が困難であった。
本発明の目的は、小型・軽量かつ光の利用率の高い光
ヘッド装置を提供することにある。
ヘッド装置を提供することにある。
本発明の光ヘッド装置は、 光源と、 前記光源からの出射光を実質的に３つのビームに分け
る回折格子と、 前記光源の像を記録媒体上に絞り込む結像レンズ系
と、 前記記録媒体からの戻り光を前記結像レンズ系の光軸
外に回折分離するホログラム素子と、 前記回折素子及び前記ホログラム素子と前記記録媒体
との間に配置された４分の１波長板と、 前記光軸外に分離された回折光を受光して焦点誤差信
号、トラック誤差信号、記録信号を得る光検出器とを有
し、 前記回折格子及び前記ホログラム素子は、複屈折結晶
よりなる複屈折回折格子型素子で、かつ、それぞれの結
晶光学軸が互いに直交しており、前記ホログラム素子
は、前記光源からの出射光をほとんど回折せず、前記記
録媒体からの戻り光をほとんど回折するように結晶光学
系軸が設定されていることを特徴としている。
る回折格子と、 前記光源の像を記録媒体上に絞り込む結像レンズ系
と、 前記記録媒体からの戻り光を前記結像レンズ系の光軸
外に回折分離するホログラム素子と、 前記回折素子及び前記ホログラム素子と前記記録媒体
との間に配置された４分の１波長板と、 前記光軸外に分離された回折光を受光して焦点誤差信
号、トラック誤差信号、記録信号を得る光検出器とを有
し、 前記回折格子及び前記ホログラム素子は、複屈折結晶
よりなる複屈折回折格子型素子で、かつ、それぞれの結
晶光学軸が互いに直交しており、前記ホログラム素子
は、前記光源からの出射光をほとんど回折せず、前記記
録媒体からの戻り光をほとんど回折するように結晶光学
系軸が設定されていることを特徴としている。
本発明の作用・原理は次の通りである。本発明では装
置を小型化するために、従来の光ヘッド装置のビームス
プリッタと焦点誤差信号検出用光学系を一枚のホログラ
ム素子を用いて光ヘッドの構成を一軸系としている。こ
の一軸系の構成にした場合、光源から出射した光はホロ
グラム素子とトラック誤差信号検出に用いる３ビーム発
生用の回折格子を通るため不要な回折光成分も生じる。
そこで光の利用率の高い光ヘッドを実現する場合には、
ホログラム素子及び３ビーム発生用の回折格子を偏光性
を有する複屈折回折格子型構造としている。
置を小型化するために、従来の光ヘッド装置のビームス
プリッタと焦点誤差信号検出用光学系を一枚のホログラ
ム素子を用いて光ヘッドの構成を一軸系としている。こ
の一軸系の構成にした場合、光源から出射した光はホロ
グラム素子とトラック誤差信号検出に用いる３ビーム発
生用の回折格子を通るため不要な回折光成分も生じる。
そこで光の利用率の高い光ヘッドを実現する場合には、
ホログラム素子及び３ビーム発生用の回折格子を偏光性
を有する複屈折回折格子型構造としている。
複屈折回折格子を実現する方法として、次に述べる複
屈折結晶を用いる方法がある。第５図に示すように、複
屈折結晶であるニオブ酸リチウム52のＸ板、あるいはＹ
板に安息香酸によるプロトン交換を施すと結晶光学軸に
平行な偏光の光である異常光に対する屈折率は約0.09増
加し、その光学軸に垂直な偏光の光である常光に対する
屈折率は約0.04減少する。そこでプロトン交換を施した
交換領域53と施さない非交換領域54とを周期的に配置し
た格子にすると回折格子として作用する。
屈折結晶を用いる方法がある。第５図に示すように、複
屈折結晶であるニオブ酸リチウム52のＸ板、あるいはＹ
板に安息香酸によるプロトン交換を施すと結晶光学軸に
平行な偏光の光である異常光に対する屈折率は約0.09増
加し、その光学軸に垂直な偏光の光である常光に対する
屈折率は約0.04減少する。そこでプロトン交換を施した
交換領域53と施さない非交換領域54とを周期的に配置し
た格子にすると回折格子として作用する。
この格子には、交換領域53を通過する常光と非交換領
域54を通過する常光の位相差を相殺するために第５図に
示すように交換領域上に位相補償膜55を形成すると、常
光に対してはこの格子は回折格子としては働かず、回折
させずに透過させることができる。つまり、この格子は
単なる透明基板に見える。一方、上記の常光に対する位
相差相殺条件を満足させながら交換領域53の深さを変え
ることにより、異常光に対する位相差を適当な値に設定
することができ、異常光に対しては任意の回折効率が得
られる。例えば、位相差がπのときは、異常光は完全に
回折される。このような複屈折回折格子は偏光子として
応用が検討されており、セカンドオプトエレクトロニク
スコンファレンスのテクニカルダイジェスト第167頁か
ら第169頁に掲載の賣野，他著「BIREFRINGENT GRATING
POLARIZER」の論文に述べられている。
域54を通過する常光の位相差を相殺するために第５図に
示すように交換領域上に位相補償膜55を形成すると、常
光に対してはこの格子は回折格子としては働かず、回折
させずに透過させることができる。つまり、この格子は
単なる透明基板に見える。一方、上記の常光に対する位
相差相殺条件を満足させながら交換領域53の深さを変え
ることにより、異常光に対する位相差を適当な値に設定
することができ、異常光に対しては任意の回折効率が得
られる。例えば、位相差がπのときは、異常光は完全に
回折される。このような複屈折回折格子は偏光子として
応用が検討されており、セカンドオプトエレクトロニク
スコンファレンスのテクニカルダイジェスト第167頁か
ら第169頁に掲載の賣野，他著「BIREFRINGENT GRATING
POLARIZER」の論文に述べられている。
上記では回折格子及びホログラム素子の複屈折回折格
子型構造として複屈折結晶材料ニオブ酸リチウムにプロ
トン交換法で格子の回折効率に異方性を持たせる方法を
挙げたが、特願昭61−170244号明細書に記載の格子溝の
ついた複屈折媒質に、その媒質の常光あるいは異常光の
一方の屈折率と同じ物質をその格子溝に充填することに
よっても可能である。さらに、特願昭62−98854号明細
書に記載の格子溝のついた等方性媒質に、液晶などの複
屈折材料を充填した複屈折回折格子型構造においても実
現可能である。
子型構造として複屈折結晶材料ニオブ酸リチウムにプロ
トン交換法で格子の回折効率に異方性を持たせる方法を
挙げたが、特願昭61−170244号明細書に記載の格子溝の
ついた複屈折媒質に、その媒質の常光あるいは異常光の
一方の屈折率と同じ物質をその格子溝に充填することに
よっても可能である。さらに、特願昭62−98854号明細
書に記載の格子溝のついた等方性媒質に、液晶などの複
屈折材料を充填した複屈折回折格子型構造においても実
現可能である。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第１図は、本発明の第１の実施例を示す図で、第２図
に示した従来技術と同じものは同じ符号で示している。
この光ヘッド装置は、光源である半導体レーザ１と、半
導体レーザからの出射光を実質的に三つのビームに分け
る複屈折回折格子構造の回折格子11と、光源の像を光デ
ィスク８上に絞り込む結像レンズ系を構成するコリメー
トレンズ３及び収束レンズ４と、光ディスク８からの戻
り光を結像レンズ系の光軸外に回折分離する複屈折回折
格子型構造のホログラム素子５と、回折格子11及びホロ
グラム素子５と光ディスク８との間に配置された４分の
１波長板（λ/4板）６と、光軸外に分離された回折光を
受光する６分割光検出器７及び光検出器12とから構成さ
れている。
に示した従来技術と同じものは同じ符号で示している。
この光ヘッド装置は、光源である半導体レーザ１と、半
導体レーザからの出射光を実質的に三つのビームに分け
る複屈折回折格子構造の回折格子11と、光源の像を光デ
ィスク８上に絞り込む結像レンズ系を構成するコリメー
トレンズ３及び収束レンズ４と、光ディスク８からの戻
り光を結像レンズ系の光軸外に回折分離する複屈折回折
格子型構造のホログラム素子５と、回折格子11及びホロ
グラム素子５と光ディスク８との間に配置された４分の
１波長板（λ/4板）６と、光軸外に分離された回折光を
受光する６分割光検出器７及び光検出器12とから構成さ
れている。
この光ヘッド装置では、光源である半導体レーザ１か
らの直線偏光である放射光２の偏光面に対してホログラ
ム素子５の結晶光学軸は垂直に、そして回折格子11の結
晶光学軸は平行に設定している。そのため、放射光２は
ホログラム素子５には常光として入射し、回折格子11に
は異常光として入射し、作用のところで述べたようにホ
ログラム素子５では回折されずに透過し、回折格子11の
みで回折される。この回折格子11での異常光の位相差
は、トラック誤差信号検出に用いるサブビーム用にわず
かに回折するように設定している。サブビームを伴った
放射光２はコリメートレンズ３でコリメート光10に変換
され、λ/4板６によって円偏光に変換される。そして、
収束レンズ４で光ディスク８面上に従来の光ヘッド装置
と同じく第３図に示されるように収束される。
らの直線偏光である放射光２の偏光面に対してホログラ
ム素子５の結晶光学軸は垂直に、そして回折格子11の結
晶光学軸は平行に設定している。そのため、放射光２は
ホログラム素子５には常光として入射し、回折格子11に
は異常光として入射し、作用のところで述べたようにホ
ログラム素子５では回折されずに透過し、回折格子11の
みで回折される。この回折格子11での異常光の位相差
は、トラック誤差信号検出に用いるサブビーム用にわず
かに回折するように設定している。サブビームを伴った
放射光２はコリメートレンズ３でコリメート光10に変換
され、λ/4板６によって円偏光に変換される。そして、
収束レンズ４で光ディスク８面上に従来の光ヘッド装置
と同じく第３図に示されるように収束される。
光ディスク８で反射された戻り光は、収束レンズ4,λ
/4板6,コリメートレンズ３を逆の経路で通る。λ/4板６
では、戻り光の偏光状態は円偏光から放射光２の偏光面
と垂直な直線偏光に変換される。そのため、戻り光は回
折格子11に対しては常光、ホログラム素子５に対しては
異常光として入射して、回折格子11では回折されずに透
過し、ホログラム素子５のみで回折される。このホログ
ラム素子の異常光の位相差は、完全に回折するようにπ
に設定されている。この回折光のうち＋１次回折光は６
分割光検出器７に入射し誤差信号検出と記録信号検出に
用いられ、メインビームの−１次回折光は光検出器12に
入射し記録信号検出に用いられる。
/4板6,コリメートレンズ３を逆の経路で通る。λ/4板６
では、戻り光の偏光状態は円偏光から放射光２の偏光面
と垂直な直線偏光に変換される。そのため、戻り光は回
折格子11に対しては常光、ホログラム素子５に対しては
異常光として入射して、回折格子11では回折されずに透
過し、ホログラム素子５のみで回折される。このホログ
ラム素子の異常光の位相差は、完全に回折するようにπ
に設定されている。この回折光のうち＋１次回折光は６
分割光検出器７に入射し誤差信号検出と記録信号検出に
用いられ、メインビームの−１次回折光は光検出器12に
入射し記録信号検出に用いられる。
このホログラム素子５は、第６図に示すようにトラッ
ク方向45に垂直な分割線44で仕切られた回折方向が異な
る２つのＡホログラム領域36とＢホログラム領域37とよ
り形成されており、第７図に示すように光検出器７及び
12に回折光を集光させる。第７図（ｂ）は光ディスク８
に収束光の焦点が合っている時で、Ａホログラム領域36
とＢホログラム領域37に入射した光ディスクからの戻り
光のうちメインビームの回折光は６分割光検出器７の分
割線上の点40及び41に収束する。Ａホログラム領域36
は、半導体レーザ１より出射し発散する球面波と回折光
の収束点40から発散する球面波との干渉縞に相当するホ
ログラムパターンを持っている。一方、Ｂホログラム領
域37は、半導体レーザ１からの発散する球面波と回折光
の収束点41から発散する球面波との干渉縞に相当するホ
ログラムパターンを持っている。第７図（ａ）及び
（ｃ）は、光ディスク８が変位して収束レンズ４から遠
ざかった場合と近づいた場合である。
ク方向45に垂直な分割線44で仕切られた回折方向が異な
る２つのＡホログラム領域36とＢホログラム領域37とよ
り形成されており、第７図に示すように光検出器７及び
12に回折光を集光させる。第７図（ｂ）は光ディスク８
に収束光の焦点が合っている時で、Ａホログラム領域36
とＢホログラム領域37に入射した光ディスクからの戻り
光のうちメインビームの回折光は６分割光検出器７の分
割線上の点40及び41に収束する。Ａホログラム領域36
は、半導体レーザ１より出射し発散する球面波と回折光
の収束点40から発散する球面波との干渉縞に相当するホ
ログラムパターンを持っている。一方、Ｂホログラム領
域37は、半導体レーザ１からの発散する球面波と回折光
の収束点41から発散する球面波との干渉縞に相当するホ
ログラムパターンを持っている。第７図（ａ）及び
（ｃ）は、光ディスク８が変位して収束レンズ４から遠
ざかった場合と近づいた場合である。
そこで６分割光検出器７内の４つの光検出素子31,32,
33,34の出力をＶ（31）,V（32）,V（33）,V（34）とす
ると、焦点誤差信号は（Ｖ（31）＋Ｖ（34））−（Ｖ
（32）＋Ｖ（33））から得られる。一方、トラッキング
誤差信号は、従来の技術と同様に３ビーム法を用いてお
り、光ディスク８からメインビームに伴って戻ってきた
サブビームはそれぞれ光検出素子29,30に収束するが、
２つの光検出素子29,30の出力をＶ（29）,V（30）とす
ると、Ｖ（29）−Ｖ（30）より得られる。また、記録信
号はメインビームの戻り光の総和すなわち６分割光検出
器７の内の光検出素子31,32,33,34の出力の総和と光検
出器12の出力との和Ｖ（31）＋Ｖ（32）＋Ｖ（33）＋Ｖ
（34）＋Ｖ（12）で得られる。
33,34の出力をＶ（31）,V（32）,V（33）,V（34）とす
ると、焦点誤差信号は（Ｖ（31）＋Ｖ（34））−（Ｖ
（32）＋Ｖ（33））から得られる。一方、トラッキング
誤差信号は、従来の技術と同様に３ビーム法を用いてお
り、光ディスク８からメインビームに伴って戻ってきた
サブビームはそれぞれ光検出素子29,30に収束するが、
２つの光検出素子29,30の出力をＶ（29）,V（30）とす
ると、Ｖ（29）−Ｖ（30）より得られる。また、記録信
号はメインビームの戻り光の総和すなわち６分割光検出
器７の内の光検出素子31,32,33,34の出力の総和と光検
出器12の出力との和Ｖ（31）＋Ｖ（32）＋Ｖ（33）＋Ｖ
（34）＋Ｖ（12）で得られる。
以上のように本実施例の光ヘッド装置では、行きの光
に対するホログラム素子の回折及び戻り光に対する回折
格子の回折を発生させないようにして光の利用率を高め
ている。
に対するホログラム素子の回折及び戻り光に対する回折
格子の回折を発生させないようにして光の利用率を高め
ている。
第８図は本発明の第２の実施例を示すもので、第１の
実施例のコリメートレンズ３と収束レンズ４を一つの結
像レンズ９で置き換えたものである。
実施例のコリメートレンズ３と収束レンズ４を一つの結
像レンズ９で置き換えたものである。
第９図は本発明の第３の実施例を示すもので、第２の
実施例の平板であるホログラム素子５と回折格子11とλ
/4板６とを、貼り合わせて一枚の素子とした光ヘッド装
置である。
実施例の平板であるホログラム素子５と回折格子11とλ
/4板６とを、貼り合わせて一枚の素子とした光ヘッド装
置である。
第10図は本発明の第４の実施例を示すもので、第３の
実施例の６分割光検出器７と光検出器12と半導体レーザ
１とを、一つのパッケージ内に収めた光ヘッド装置であ
る。
実施例の６分割光検出器７と光検出器12と半導体レーザ
１とを、一つのパッケージ内に収めた光ヘッド装置であ
る。
上記の各実施例では、光の利用率を高めるために回折
格子及びホログラム素子を複屈折回折格子型構造として
いる。本発明の他の実施例として、光利用率は低いが、
上記の各実施例と同じ構成で、複屈折回折格子構造でな
い通常の回折格子及びホログラム素子を用いてもよい。
格子及びホログラム素子を複屈折回折格子型構造として
いる。本発明の他の実施例として、光利用率は低いが、
上記の各実施例と同じ構成で、複屈折回折格子構造でな
い通常の回折格子及びホログラム素子を用いてもよい。
本発明の光ヘッド装置では、ホログラム素子を用いて
いるため構成の簡素化ができ、さらに一軸系の構成をと
ることができ装置の小型・軽量化が可能である。また、
ホログラム素子及び回折格子を複屈折回折格子型構造に
することにより、光ディスクの信号を高効率に再生する
ことができる。
いるため構成の簡素化ができ、さらに一軸系の構成をと
ることができ装置の小型・軽量化が可能である。また、
ホログラム素子及び回折格子を複屈折回折格子型構造に
することにより、光ディスクの信号を高効率に再生する
ことができる。
第１図は本発明の第１の実施例を示す図、 第２図は従来の光ヘッド装置の基本構成図、 第３図は従来の光ヘッド装置の光ディスク面上での集光
スポット状態を示す図、 第４図は従来の光ヘッド装置での６分割光検出器への入
射光状態を説明するための図、 第５図は本発明に用いるホログラム素子と回折格子の構
造を説明するための図、 第６図は本発明の光ヘッド装置に用いられているホログ
ラム素子の構成を示す図、 第７図は本発明の光ヘッド装置の光検出器に集光する回
折光の集光状態を説明するための図、 第８図は本発明の第２の実施例を示す図、 第９図は本発明の第３の実施例を示す図、 第10図は本発明の第４の実施例を示す図である。 １……半導体レーザ ２……放射光 ３……コリメートレンズ ４……収束レンズ ５……ホログラム素子 ６……λ/4板 7,15……６分割光検出器 ８……光ディスク ９……結像レンズ 10……コリメート光 11,16……回折格子 12……光検出器 13……ビームスプリッタ 14……円筒レンズ 17……凸レンズ 24……ピット 26……メインビーム 27,28……サブビーム 19,20,21,22,23,24,29,30,31,32,33,34……光検出素子 36,37……格子領域 40,41……収束点 44……分割線 45……トラック方向 52……ニオブ酸リチウム 53……交換領域 54……非交換領域 55……位相補償膜
スポット状態を示す図、 第４図は従来の光ヘッド装置での６分割光検出器への入
射光状態を説明するための図、 第５図は本発明に用いるホログラム素子と回折格子の構
造を説明するための図、 第６図は本発明の光ヘッド装置に用いられているホログ
ラム素子の構成を示す図、 第７図は本発明の光ヘッド装置の光検出器に集光する回
折光の集光状態を説明するための図、 第８図は本発明の第２の実施例を示す図、 第９図は本発明の第３の実施例を示す図、 第10図は本発明の第４の実施例を示す図である。 １……半導体レーザ ２……放射光 ３……コリメートレンズ ４……収束レンズ ５……ホログラム素子 ６……λ/4板 7,15……６分割光検出器 ８……光ディスク ９……結像レンズ 10……コリメート光 11,16……回折格子 12……光検出器 13……ビームスプリッタ 14……円筒レンズ 17……凸レンズ 24……ピット 26……メインビーム 27,28……サブビーム 19,20,21,22,23,24,29,30,31,32,33,34……光検出素子 36,37……格子領域 40,41……収束点 44……分割線 45……トラック方向 52……ニオブ酸リチウム 53……交換領域 54……非交換領域 55……位相補償膜
Claims (1)
- 【請求項１】光源と、 前記光源からの出射光を実質的に３つのビームに分ける
回折格子と、 前記光源の像を記録媒体上に絞り込む結像レンズ系と、 前記記録媒体からの戻り光を前記結像レンズ系の光軸外
に回折分離するホログラム素子と、 前記回折素子及び前記ホログラム素子と前記記録媒体と
の間に配置された４分の１波長板と、 前記光軸外に分離された回折光を受光して焦点誤差信
号、トラック誤差信号、記録信号を得る光検出器とを有
し、 前記回折格子及び前記ホログラム素子は、複屈折結晶に
よりなる複屈折回折格子型素子で、かつ、それぞれの結
晶光学軸が互いに直交しており、前記ホログラム素子
は、前記光源からの出射光をほとんど回折せず、前記記
録媒体からの戻り光をほとんど回折するように結晶光学
軸が設定されていることを特徴とする光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019132A JP2646782B2 (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 光ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019132A JP2646782B2 (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 光ヘッド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03225635A JPH03225635A (ja) | 1991-10-04 |
| JP2646782B2 true JP2646782B2 (ja) | 1997-08-27 |
Family
ID=11990942
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019132A Expired - Fee Related JP2646782B2 (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2646782B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6032535B2 (ja) * | 2011-10-17 | 2016-11-30 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 光ピックアップおよび光記録再生装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62141653A (ja) * | 1985-12-16 | 1987-06-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ピツクアツプ |
| JPS6455745A (en) * | 1987-08-26 | 1989-03-02 | Sharp Kk | Optical pickup device |
| JP2701849B2 (ja) * | 1987-09-28 | 1998-01-21 | 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 | 光ピックアップ装置 |
| JPH01189052A (ja) * | 1988-01-22 | 1989-07-28 | Fuji Elelctrochem Co Ltd | 光磁気記録装置の光学ヘッド |
-
1990
- 1990-01-31 JP JP2019132A patent/JP2646782B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03225635A (ja) | 1991-10-04 |
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