JP2023025727A - ドレッシングリング及び被加工物の研削方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】研削砥石に対してドレッシングを行う際に、被加工物とドレッシングボードとの入れ替え作業に要する時間を短縮する。【解決手段】加工砥石をドレッシングするためのリング状のドレッシング部材を有するドレッシングリングを提供する。好ましくは、被加工物の研削時には、ドレッシング部材の開口部に被加工物が配置される。また、好ましくは、ドレッシングリングは、ドレッシング部材が上面に固定されるリング状の支持プレートを更に備える。【選択図】図1
Description
本発明は、加工砥石をドレッシングするためのリング状のドレッシング部材を有するドレッシングリングと、被加工物を研削する研削工程、及び、当該ドレッシング部材で研削砥石をドレッシングするドレッシング工程を備える被加工物の研削方法と、に関する。
半導体デバイスチップの製造工程では、例えば、まず、シリコン等の半導体で形成され表面に複数の分割予定ラインが格子状に設定されたウェーハにおいて、複数の分割予定ラインで区画された各領域に、IC(Integrated Circuit)等のデバイスを形成する。
次いで、ウェーハの裏面側を研削してウェーハを薄化した後、各分割予定ラインに沿ってウェーハを分割する。これにより、ウェーハは、複数の半導体デバイスチップに分割される。ウェーハ(被加工物)の研削では、研削装置が使用される(例えば、特許文献1参照)。
研削装置は、被加工物を吸引保持する円板状のチャックテーブルを備える。チャックテーブルの上方には、スピンドルを含む研削ユニットが設けられている。スピンドルの下端部には、円板状のホイールマウントが固定されており、ホイールマウントの下面側には、円環状の研削ホイールが装着される。
研削ホイールは、円環状のホイール基台を有し、ホイール基台の下面側には、複数の研削砥石がホイール基台の周方向に沿って略等間隔で配置されている。各研削砥石は、砥粒と、砥粒を固定するためのボンド材(結合材)と、を有する。
研削ホイールで被加工物の研削を進めると、目詰まり、目つぶれ等により研削砥石の下面側の研削能力が低下する。それゆえ、研削能力を回復するために、定期的に研削砥石をドレッシングする必要がある。
しかし、ドレッシングを行うためには、チャックテーブルで吸引保持されていた被加工物をチャックテーブルから他の場所へ移動させ、入れ替わりに、チャックテーブルで円板状のドレッシングボードを吸引保持する、第1の入れ替え作業が必要になる。
更に、ドレッシングの終了後には、チャックテーブルで吸引保持されていたドレッシングボードをチャックテーブルから他の場所へ移動させ、入れ替わりに、チャックテーブルで被加工物を吸引保持する、第2の入れ替え作業も必要になる。
第1及び第2の入れ替え作業は、ドレッシングを行う度に行う必要があるので、入れ替え作業に要する時間の分だけ、作業効率が低下する。
本発明は係る問題点に鑑みてなされたものであり、研削砥石に対してドレッシングを行う際に、被加工物とドレッシングボードとの入れ替え作業に要する時間を短縮することを目的とする。
本発明の一態様によれば、加工砥石をドレッシングするためのリング状のドレッシング部材を有するドレッシングリングが提供される。
好ましくは、被加工物の研削時には、該ドレッシング部材の開口部に該被加工物が配置される。
また、好ましくは、ドレッシングリングは、該ドレッシング部材が上面に固定されるリング状の支持プレートを更に備える。
本発明の他の態様によれば、被加工物を研削する被加工物の研削方法であって、該被加工物を保持可能な保持面を有するチャックテーブルの該保持面で、研削ホイールの研削砥石をドレッシングするためのリング状のドレッシング部材を保持するドレッシング部材保持工程と、該保持面で保持された該ドレッシング部材の開口部において、該ドレッシング部材の上面よりも該被加工物の上面が上方に位置する様に、該被加工物を保持する被加工物保持工程と、スピンドルの周りに回転している該研削ホイールで該被加工物を研削する研削工程と、該ドレッシング部材の上方且つ該保持面の径方向において該被加工物よりも外側に該研削ホイールを位置付けた状態で、該チャックテーブルを所定の回転軸の周りに回転させながら、該研削ホイールを相対的に該保持面に向かって移動させることにより、該ドレッシング部材で該研削砥石をドレッシングするドレッシング工程と、を備える被加工物の研削方法が提供される。
好ましくは、該研削工程は、該保持面で保持された該被加工物の該上面よりも低く且つ該ドレッシング部材の該上面よりも高い所定の高さ位置に該研削砥石の下面が配置され該スピンドルの周りに回転している該研削ホイールと、該被加工物を保持し該所定の回転軸の周りに回転していない該チャックテーブルとを、該スピンドルの長手方向と直交する所定方向に沿って相対的に移動させながら、該被加工物を研削するクリープフィード研削を含む。
また、好ましくは、該研削工程は、該スピンドルの周りに回転している該研削ホイールと、該被加工物を保持し該所定の回転軸の周りに回転している該チャックテーブルと、を該スピンドルの長手方向に沿って相対的に移動させながら、該被加工物を研削するインフィード研削を含む。
本発明の一態様に係るドレッシングリングは、加工砥石をドレッシングするためのリング状のドレッシング部材を有する。例えば、ドレッシングリングの開口部に被加工物を配置することで、ドレッシングリングと、被加工物とを、同時にチャックテーブルで吸引保持できる。それゆえ、チャックテーブルにおいて被加工物とドレッシングボードとを入れ替える作業に要する時間を無くすことができる。
本発明の他の態様に係る被加工物の研削方法は、チャックテーブルの保持面でリング状のドレッシング部材を保持するドレッシング部材保持工程と、ドレッシング部材の開口部において、ドレッシング部材の上面よりも被加工物の上面が上方に位置する様に、被加工物を保持する被加工物保持工程と、研削工程と、ドレッシング工程と、を備える。研削工程では、スピンドルの周りに回転する研削ホイールで被加工物を研削できる。
更に、ドレッシング工程では、ドレッシング部材の上方、且つ、保持面の径方向で被加工物よりも外側に、研削ホイールを位置付ける。この状態で、チャックテーブルを所定の回転軸の周りに回転させながら、研削ホイールを相対的に保持面に向かって移動させることにより、ドレッシング部材で研削砥石をドレッシングできる。
この様に、ドレッシングリングと、被加工物とを、同時にチャックテーブルで吸引保持できるので、チャックテーブルにおいて被加工物とドレッシングボードとを入れ替える作業に要する時間を無くすことができる。
添付図面を参照して、本発明の一態様に係る実施形態について説明する。まず、ドレッシングで使用するドレッシングリング2の構造、形状等について説明する。図1(A)は、ドレッシングリング2を構成するドレッシング部材4及び支持プレート6の斜視図であり、図1(B)は、ドレッシングリング2の斜視図である。
ドレッシング部材4は、後述する研削砥石26bや、切削に使用する砥石である切削ブレード(不図示)等の加工砥石をドレッシングするために用いられる。ドレッシング部材4は、ホワイトアランダム(WA)、グリーンカーボン(GC)等の砥粒と、ビトリファイドボンド、レジンボンド等の砥粒を固定するボンド材(結合材)と、を有する。
本実施形態のドレッシング部材4は、上面4a及び下面4bを有する平板リング状であり、外径と略同心状に配置された所定の径の開口部4cを中央部に有する。ドレッシング部材4は、例えば、数百μmから1mm程度の厚さを有する。なお、ドレッシング部材4の厚さは、被加工物11の厚さに応じて適宜設定されてもよい。
ドレッシング部材4の下面4bは、上面6a及び下面6bを有する平板リング状の支持プレート6の上面6aに、接着剤(不図示)で固定される。支持プレート6は、例えば、アクリル樹脂、塩化ビニル樹脂等の樹脂や、ガラス繊維強化ポリエチレンフタラート等の複合材料で形成されている。
支持プレート6は、例えば、数百μmから1mm程度の厚さを有するが、支持プレート6の厚さは、被加工物11の厚さに応じて適宜設定されてもよい。本実施形態の支持プレート6は、ドレッシング部材4の外径よりも大きい外径を有する。
支持プレート6は、外径と略同心状に配置された開口部6cを有する。開口部6cは、ドレッシング部材4の開口部4cと略同じ径を有する。支持プレート6は、上面視で開口部6cの中心が開口部4cの中心と一致する様に、ドレッシング部材4に対して配置されている。
次に、図2から図6を参照して被加工物11(図4(A)等参照)の研削方法について説明する。図2は、1つの被加工物11に対してクリープフィード研削を施す際の研削方法を示すフロー図である。被加工物11の研削には、研削装置8が用いられる。
ここで、図5(A)及び図5(B)を参照して、研削装置8の構成を説明する。なお、図5(A)及び図5(B)に示すX軸方向(前後方向)、Y軸方向(左右方向)、及び、Z軸方向(上下方向)は互いに直交する。
研削装置8は、円板状のチャックテーブル10を有する。チャックテーブル10は、非多孔質のセラミックス等で形成された枠体12を有する。枠体12は、その高さに比べて径が十分に大きい有底円筒形状を有する。
枠体12の円筒状の凹部の底面には、複数の流路が放射状に形成されている。また、枠体12には、凹部の底面の中心を貫通する様に、中央流路が形成されている。中央流路の一端は、放射状に形成された複数の流路に接続しており、中央流路の他端は、真空ポンプ、エジェクタ等の吸引源(不図示)に接続している。
枠体12の凹部には多孔質セラミックスで形成された円板状の多孔質板14が固定されている。多孔質板14の外周部には、枠体12と同様にセラミックスで形成された非多孔質リング16が設けられている。更に、非多孔質リング16の外周部には、多孔質板14と同様に多孔質セラミックスで形成された多孔質リング18が設けられている。
多孔質リング18の外周側面は、枠体12の内周側面に接している。枠体12、多孔質板14、非多孔質リング16及び多孔質リング18の上面は、面一になっており、略平坦な保持面10aを構成している。多孔質板14及び多孔質リング18の各上面には、吸引源から負圧が伝達される。
なお、本実施形態における多孔質板14の径は、被加工物11の径と略同じであり、非多孔質リング16の外径(即ち、多孔質リング18の内径)は、開口部4c、6cの内径と略同じである。
チャックテーブル10の下部には、モータ等の回転駆動源が設けられている。チャックテーブル10は、回転駆動源により所定の回転軸(例えば、Z軸方向に略平行に配置された回転軸)の周りに回転可能である。
回転駆動源は、X軸方向移動機構(不図示)を構成するX軸方向移動板(不図示)に支持されている。X軸方向移動板は、X軸方向に略平行に配置された一対のガイドレール(不図示)上にスライド可能に取り付けられている。
X軸方向移動板の下面側には、ナット部(不図示)が設けられている。ナット部には、ボールねじ(不図示)が、回転可能に連結されている。ボールねじは、一対のガイドレールの間においてX軸方向と略平行に配置されている。
ボールねじの一端部には、ステッピングモータ等の駆動源(不図示)が連結されている。駆動源を動作させると、X軸方向移動板はX軸方向に沿って移動する。チャックテーブル10の上方には、研削ユニット20が配置されている。
研削ユニット20には、Z軸方向移動機構(不図示)が連結されている。Z軸方向移動機構は、Z軸方向に沿って配置された一対のガイドレール(不図示)を有する。各ガイドレールには、Z軸方向移動板(不図示)がスライド可能に取り付けられている。
Z軸方向移動板の後方側には、ナット部(不図示)が設けられている。ナット部には、一対のガイドレールの間においてZ軸方向に沿って設けられたボールねじ(不図示)が、回転可能に連結している。
ボールねじの上端部には、ステッピングモータ等の駆動源(不図示)が連結されている。駆動源でボールねじを回転させれば、Z軸方向移動板は、ガイドレールに沿ってZ軸方向に移動する。Z軸方向移動板には、上述の研削ユニット20が固定されている。
研削ユニット20は、円筒状のスピンドルハウジング(不図示)を有する。スピンドルハウジングには、円柱状のスピンドル22の一部が回転可能に収容されている。本実施形態のスピンドル22は、その長手方向がZ軸方向に沿って配置されている。
スピンドル22の上端部には、モータ等の回転駆動源(不図示)が設けられている。スピンドル22の下端部には、円板状のホイールマウント24を介して、環状の研削ホイール26が装着されている。研削ホイール26は、アルミニウム合金等の金属材料で形成された円環状のホイール基台26aを有する。
ホイール基台26aの下面側には、複数の研削砥石26bが、ホイール基台26aの下面の周方向に沿って略等間隔に配置されている。研削砥石26bは、例えば、金属、セラミックス、樹脂等で形成された結合材と、ダイヤモンド、cBN(cubic boron nitride)等で形成された砥粒と、を有する。
スピンドル22を回転させると、研削ホイール26はスピンドル22の周りに回転する。被加工物11を研削する際には、被加工物11と研削砥石26bとの接触領域に、研削水供給ノズル(不図示)から純水等の研削水が供給される。
研削装置8を用いて被加工物11を研削する際には、まず、ドレッシングリング2が多孔質リング18と重なり、上面4aが上を向く様に、ドレッシングリング2を保持面10a上に配置する(図3(A)参照)。
次いで、吸引源を動作させて、多孔質リング18(即ち、保持面10aの一部)でドレッシングリング2を吸引保持する(ドレッシング部材保持工程S10)。図3(A)は、ドレッシング部材保持工程S10を示す図であり、図3(B)は、保持面10aで保持されたドレッシングリング2の斜視図である。
ドレッシング部材保持工程S10の後、多孔質板14の外周と略同径の被加工物11をドレッシングリング2の開口部(即ち、開口部4c、6c)に配置する(図4(A)参照)。被加工物11は、例えば、表面11a側に複数のデバイス(不図示)が形成されたシリコン製の円板状のウェーハである。
但し、被加工物11の材料は、特に限定されない。被加工物11は、炭化ケイ素(SiC)、窒化ガリウム(GaN)等の化合物半導体で形成されてもよく、その他の材料で形成されてもよい。被加工物11の表面11a側には、樹脂製の保護テープ13が貼り付けられている。
被加工物11は、裏面11b側が上方に露出する様に、保護テープ13を介して表面11a側が多孔質板14(即ち、保持面10aの他の一部)で吸引保持される(被加工物保持工程S20)。図4(A)は、被加工物保持工程S20を示す図であり、図4(B)は、保持面10aで保持された被加工物11の斜視図である。
研削前の被加工物11及び保護テープ13の総厚は、ドレッシングリング2の厚さ(即ち、上面4aから下面6bまでの距離)よりも厚い。それゆえ、表面11a側を保持面10aで吸引保持すると、被加工物11の裏面(上面)11bは、ドレッシング部材4の上面4aよりも上方に位置する。
ドレッシングリング2の厚さは、研削装置8で研削された後の被加工物11の厚さに対応する高さよりも下にドレッシング部材4の上面4aが位置する様に、調整される。なお、多孔質リング18及び枠体12の外周部に、環状の段差部(不図示)を設けることで、上面4aの高さ位置を調整してもよい。
環状の段差部を設けることで、ドレッシング部材4の上面4aを研削後の被加工物11の厚さに対応する高さよりも下に配置できると共に、ドレッシングリング2の厚さを所定値以上に確保することで、ドレッシングリング2の機械的強度を確保できる。
被加工物保持工程S20の後、被加工物11を研削する(研削工程S30)。本実施形態の研削工程S30では、被加工物11に対してクリープフィード研削を施す。図5(A)は、クリープフィード研削を示す一部断面側面図であり、図5(B)はクリープフィード研削を示す上面図である。
クリープフィード研削では、スピンドル22の周りに回転している研削ホイール26の研削砥石26bの下面を、保持面10aで吸引保持された被加工物11の裏面11bよりも低く、且つ、ドレッシング部材4の上面4aよりも高い所定の高さ位置に配置する。
また、被加工物11を保持しているチャックテーブル10を、回転軸10b(図6(A)参照)の周りに回転させずに、所定の移動開始位置からX軸方向(所定方向)に沿って移動させる。
被加工物11が研削砥石26bの直下を移動するとき、被加工物11の裏面11b側が研削砥石26bの下面側に接触し、裏面11b側が研削される。この様に、チャックテーブル10と、研削ホイール26とを、X軸方向に相対的に移動させながら、被加工物11の裏面11b側を研削する。
チャックテーブル10をX軸方向に加工送りして、環状に配置された複数の研削砥石26bの内側に被加工物11が移動した後、研削砥石26bの下面が裏面11b側よりも上に位置する様に、研削ユニット20を一旦上昇させる。その後、チャックテーブル10を移動開始位置に戻す。
チャックテーブル10の移動開始位置からの移動による1回の研削(1パス)と、研削ユニット20の上昇と、チャックテーブル10の移動開始位置への戻りとは、1つの被加工物11に対して1回のクリープフィード研削を施す際の一連の動作となる。
被加工物11を所定の厚さになるまで薄化するためには、例えば、10パス(即ち、10セットの一連の動作)が必要になる。しかし、通常、10パス終了前に、研削砥石26bの研削能力が低下するので、研削砥石26bに対してドレッシングを施す必要がある。
例えば、5パス目終了時点において、ドレッシングを行う必要がある(S40でYES)(図2参照)。この場合、ドレッシングリング2で研削砥石26bをドレッシングする(ドレッシング工程S50)。図6(A)は、ドレッシング工程S50を示す一部断面側面図であり、図6(B)は、ドレッシング工程S50を示す上面図である。
ドレッシング工程S50では、ドレッシング部材4の上方、且つ、保持面10aの径方向において被加工物11の外周よりも外側に研削ホイール26を位置付けた状態で、チャックテーブル10を回転軸10bの周りに回転させながら、研削ホイール26を相対的に保持面10aに向かって移動させる。
例えば、チャックテーブル10の回転数は、40rpm以上300rpmの所定値に設定され、スピンドル22の回転数は、1000rpm以上3000rpmの所定値に設定される。また、例えば、研削ホイール26の研削送り速度(即ち、Z軸方向に沿って下降させる移動速度)は、0.5μm/s以上6.0μm/s以下の所定値に設定される。
研削砥石26bの下面側がドレッシング部材4の上面4a側に接してから、所定時間、研削砥石26bをドレッシングすれば、研削砥石26bの研削能力が略回復する。例えば、直径200mmの研削ホイールにおいて、仕上げ研削用の研削砥石26bをドレッシングする際には、次の様にドレッシング条件を設定する。
チャックテーブルの回転数 40rpm
スピンドルの回転数 2000rpm
研削送り速度 1.0μm/s
所定時間 300s
スピンドルの回転数 2000rpm
研削送り速度 1.0μm/s
所定時間 300s
ドレッシング工程S50の後、1つの被加工物11の研削は未だ終了していないので(S60でNO)、研削工程S30に戻り、残りの6パス目から10パス目に対応するクリープフィード研削を行う。これに対して、10パス目に対応するクリープフィード研削が終了した場合には(S60でYES)、フローを終了する。
本実施形態では、この様に、被加工物11と、ドレッシングリング2とを、保持面10aで同時に吸引保持できるので、チャックテーブル10において被加工物11とドレッシングボードとを入れ替える作業に要する時間を無くすことができる。
加えて、ドレッシング工程S50では、インフィード研削の要領で研削ホイール26をドレッシングする(即ち、インフィードドレッシング)。なお、インフィードドレッシングでは、クリープフィード研削の要領で研削ホイール26をドレッシングするクリープフィードドレッシングに比べて、研削砥石26bの下面において砥粒の下端位置をより均一にできるというメリットがある。
次に、第2の実施形態について説明する。第2の実施形態の研削工程S30では、クリープフィード研削ではなくインフィード研削を行う。図7(A)は、インフィード研削を示す一部断面側面図であり、図7(B)は、インフィード研削を示す上面図である。
第2の実施形態における保持面10aの形状は、第1の実施形態とは異なり、外周部に比べて中央部が僅かに突出する円錐形状を有する。但し、図7(A)では、便宜上、保持面10aを略平坦に示す。
また、回転軸10bは、保持面10aの一部が研削砥石26bの下面の軌跡で規定される研削面に対して略平行になる様に、Z軸に対して傾けられているが、図7(A)では、便宜上、回転軸10bをZ軸方向と略平行に示す。
インフィード研削では、スピンドル22の周りに回転している研削ホイール26を、被加工物11を保持した状態で回転軸10bの周りに回転しているチャックテーブル10に向けて、Z軸方向に沿って研削送りする。
研削砥石26bが、被加工物11の裏面11b側に接触すると、裏面11b側が研削される。この様に、研削ホイール26と、チャックテーブル10とを、Z軸方向に沿って相対的に移動させながら、被加工物11を研削する。
図8は、第2の実施形態に係る複数の被加工物11の研削方法を示すフロー図である。研削工程S30で、1つの被加工物11を所定の厚さまで薄化した後、ドレッシングが必要でない場合(S40でNO)、当該被加工物11を保持面10aから搬出し、別の被加工物11をチャックテーブル10へ新たに搬入する。
この様にして、被加工物11を順次、インフィード研削する。しかし、1枚以上の被加工物11をインフィード研削した後、研削砥石26bの研削能力の低下の程度に応じて、研削砥石26bに対してドレッシングを行う必要がある(S40でYES)。
第2の実施形態においても、ドレッシング工程S50では第1の実施形態と同様にインフィードドレッシングを行うので、加工中の被加工物11は保持面10aで吸引保持されたままでもよい。なお、加工後の被加工物11は、保持面10aから搬出されてもよい。
ドレッシング工程S50の後、他の被加工物11を研削する場合(S62でYES)、被加工物保持工程S20に戻る。これに対して、他の被加工物11を研削しない場合(S62でNO)、フローを終了する。
第2の実施形態でも、被加工物11と、ドレッシングリング2とを、保持面10aで同時に吸引保持できるので、チャックテーブル10において被加工物11とドレッシングボードとを入れ替える作業に要する時間を無くすことができる。
次に、第3の実施形態について説明する。第3の実施形態では、1つの円板状の被加工物11ではなく、図9(A)及び図9(B)に示す様に、3つのストリップ基板21に対してクリープフィード研削を施す。
各ストリップ基板21は、矩形板状であり、封止樹脂、モールド樹脂等で覆われる様に複数のデバイスチップ(不図示)がその内部に設けられている。各ストリップ基板21は、保持面10aで吸引保持される。
但し、チャックテーブル10の構造は、第1及び第2の実施形態とは異なる。具体的には、多孔質板14が、各ストリップ基板21に対応する矩形状の吸引領域14aを上面に有する。各吸引領域14aの周りは、非多孔質のセラミックスで形成され各々直線状の1つ又は2つの境界部30と、非多孔質リング16とで囲まれている。
なお、第3の実施形態における保持面10aは、第1の実施形態と同様に略平坦であり、枠体12、多孔質板14、非多孔質リング16、多孔質リング18及び境界部30の上面は、面一になっている。
第3の実施形態では、図2に示すフローに従い、ストリップ基板21の上面21a側を研削する。研削工程S30では、このチャックテーブル10で3つのストリップ基板21を同時に吸引保持し、チャックテーブル10を回転軸10bの周りに回転させることなく、X軸方向に移動させることで、各ストリップ基板21をクリープフィード研削する。
図9(A)は、クリープフィード研削を示す一部断面側面図であり、図9(B)は、クリープフィード研削を示す上面図である。本実施形態でも、被加工物11と、ドレッシングリング2とを、保持面10aで同時に吸引保持できるので、チャックテーブル10において被加工物11とドレッシングボードとを入れ替える作業に要する時間を無くすことができる。
その他、上述の実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。
2:ドレッシングリング
4:ドレッシング部材、4a:上面、4b:下面、4c:開口部
6:支持プレート、6a:上面、6b:下面、6c:開口部
8:研削装置、10:チャックテーブル、10a:保持面、10b:回転軸
11:被加工物、11a:表面、11b:裏面(上面)、13:保護テープ
12:枠体、14:多孔質板、14a:吸引領域
16:非多孔質リング、18:多孔質リング
20:研削ユニット、22:スピンドル、24:ホイールマウント
21:ストリップ基板、21a:上面
26:研削ホイール、26a:ホイール基台、26b:研削砥石、30:境界部
4:ドレッシング部材、4a:上面、4b:下面、4c:開口部
6:支持プレート、6a:上面、6b:下面、6c:開口部
8:研削装置、10:チャックテーブル、10a:保持面、10b:回転軸
11:被加工物、11a:表面、11b:裏面(上面)、13:保護テープ
12:枠体、14:多孔質板、14a:吸引領域
16:非多孔質リング、18:多孔質リング
20:研削ユニット、22:スピンドル、24:ホイールマウント
21:ストリップ基板、21a:上面
26:研削ホイール、26a:ホイール基台、26b:研削砥石、30:境界部
Claims (6)
- 加工砥石をドレッシングするためのリング状のドレッシング部材を有することを特徴とするドレッシングリング。
- 被加工物の研削時には、該ドレッシング部材の開口部に該被加工物が配置されることを特徴とする請求項1記載のドレッシングリング。
- 該ドレッシング部材が上面に固定されるリング状の支持プレートを更に備えることを特徴とする請求項1又は2記載のドレッシングリング。
- 被加工物を研削する被加工物の研削方法であって、
該被加工物を保持可能な保持面を有するチャックテーブルの該保持面で、研削ホイールの研削砥石をドレッシングするためのリング状のドレッシング部材を保持するドレッシング部材保持工程と、
該保持面で保持された該ドレッシング部材の開口部において、該ドレッシング部材の上面よりも該被加工物の上面が上方に位置する様に、該被加工物を保持する被加工物保持工程と、
スピンドルの周りに回転している該研削ホイールで該被加工物を研削する研削工程と、
該ドレッシング部材の上方且つ該保持面の径方向において該被加工物よりも外側に該研削ホイールを位置付けた状態で、該チャックテーブルを所定の回転軸の周りに回転させながら、該研削ホイールを相対的に該保持面に向かって移動させすることにより、該ドレッシング部材で該研削砥石をドレッシングするドレッシング工程と、を備えることを特徴とする被加工物の研削方法。 - 該研削工程は、該保持面で保持された該被加工物の該上面よりも低く且つ該ドレッシング部材の該上面よりも高い所定の高さ位置に該研削砥石の下面が配置され該スピンドルの周りに回転している該研削ホイールと、該被加工物を保持し該所定の回転軸の周りに回転していない該チャックテーブルとを、該スピンドルの長手方向と直交する所定方向に沿って相対的に移動させながら、該被加工物を研削するクリープフィード研削を含むことを特徴とする請求項4記載の被加工物の研削方法。
- 該研削工程は、該スピンドルの周りに回転している該研削ホイールと、該被加工物を保持し該所定の回転軸の周りに回転している該チャックテーブルと、を該スピンドルの長手方向に沿って相対的に移動させながら、該被加工物を研削するインフィード研削を含むことを特徴とする請求項4記載の被加工物の研削方法。
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