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JP2017011025A - Electronic component storage package, electronic device and electronic module - Google Patents

Electronic component storage package, electronic device and electronic module Download PDF

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JP2017011025A
JP2017011025A JP2015122979A JP2015122979A JP2017011025A JP 2017011025 A JP2017011025 A JP 2017011025A JP 2015122979 A JP2015122979 A JP 2015122979A JP 2015122979 A JP2015122979 A JP 2015122979A JP 2017011025 A JP2017011025 A JP 2017011025A
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Japan
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conductor
frame
insulating layer
electronic component
storage package
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JP2015122979A
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Japanese (ja)
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鬼塚 善友
Yoshitomo Onizuka
善友 鬼塚
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Abstract

【課題】絶縁基板が小型化しても、枠状絶縁層間のビア導体同士が補助導体を介して接続される際に、絶縁層間の密着性の低下に起因した気密信頼性の低下を抑制する。【解決手段】第1枠状絶縁層104の開口部の内側面に、下端から上端にかけて第1切り欠き部107aが形成されているとともに、第1切り欠き部107aの内側面の下端から上端にかけて導体で埋められた第1導体107が形成されている。平面視で第2枠状絶縁層105の開口部の内側面の一部が第1枠状絶縁層104の開口部の内側面から突出した段差部117を有している。段差部117の内側面に、下端から上端にかけて第2切り欠き部108aが形成されているとともに、第2切り欠き部108aの内側面の下端から上端にかけて導体で埋められた第2導体108が形成されている。第1導体107と第2導体108とが第2枠状絶縁層105の上面に形成された補助導体109、110で接続される。【選択図】図1Even when an insulating substrate is reduced in size, when via conductors between frame-shaped insulating layers are connected to each other via an auxiliary conductor, a decrease in hermetic reliability due to a decrease in adhesion between insulating layers is suppressed. A first notch 107a is formed from the lower end to the upper end on the inner surface of the opening of the first frame-like insulating layer 104, and from the lower end to the upper end of the inner surface of the first notch 107a. A first conductor 107 filled with a conductor is formed. A part of the inner surface of the opening of the second frame-shaped insulating layer 105 has a stepped portion 117 protruding from the inner surface of the opening of the first frame-shaped insulating layer 104 in plan view. A second cutout portion 108a is formed on the inner side surface of the stepped portion 117 from the lower end to the upper end, and a second conductor 108 filled with a conductor is formed from the lower end to the upper end of the inner side surface of the second cutout portion 108a. Has been. The first conductor 107 and the second conductor 108 are connected by auxiliary conductors 109 and 110 formed on the upper surface of the second frame-shaped insulating layer 105. [Selection] Figure 1

Description

本発明は、半導体素子等の電子部品を気密に収容するための電子部品収納用パッケージ、電子装置および電子モジュールに関するものである。   The present invention relates to an electronic component storage package, an electronic device, and an electronic module for hermetically storing electronic components such as semiconductor elements.

従来、半導体素子や圧電振動素子等の電子部品を搭載するための電子部品収納用パッケージとして、一般に、セラミック焼結体等からなる絶縁基板に設けた電子部品の凹状の搭載部を蓋体で塞いで気密封止するようにしたものが用いられている。このような電子部品収納用パッケージは、上面に電子部品の搭載部を有する平板状の下部絶縁層と、この下部絶縁層の上面に搭載部を取り囲んで積層された枠状の上部絶縁層とを有する絶縁基板と、絶縁基板(上部絶縁層)の上面に形成され蓋体の接合面となる枠状のメタライズ層と、搭載部から下部絶縁層の下面等にかけて形成された配線導体とにより基本的に構成されている。搭載部に電子部品が搭載され、電子部品の各電極が配線導体に電気的に接続された後、枠状のメタライズ層の上面に金属等の蓋体がろう材等を介して接合されて、絶縁基板と蓋体とからなる容器の内部に電子部品が気密に封止されて電子装置が製作される。   Conventionally, as an electronic component storage package for mounting an electronic component such as a semiconductor element or a piezoelectric vibration element, a concave mounting portion of an electronic component provided on an insulating substrate made of a ceramic sintered body is generally covered with a lid. The one that is hermetically sealed is used. Such an electronic component storage package includes a flat lower insulating layer having an electronic component mounting portion on the upper surface, and a frame-shaped upper insulating layer laminated around the mounting portion on the upper surface of the lower insulating layer. Basically, it has an insulating substrate, a frame-like metallized layer that is formed on the upper surface of the insulating substrate (upper insulating layer) and serves as a bonding surface of the lid, and a wiring conductor formed from the mounting portion to the lower surface of the lower insulating layer It is configured. An electronic component is mounted on the mounting portion, and after each electrode of the electronic component is electrically connected to the wiring conductor, a lid body such as metal is joined to the upper surface of the frame-like metallized layer via a brazing material, An electronic device is manufactured by hermetically sealing an electronic component inside a container composed of an insulating substrate and a lid.

絶縁基板の上部絶縁層の内部には、上下方向にビア導体が形成される場合がある。この場合、枠状のメタライズ層がこのビア導体を介して配線導体に電気的に接続される。これにより、例えば電子部品に対するグランドの安定性やシールド性が高められる。なお、厚みのある電子部品を搭載部に収容するために、上部絶縁層を複数の枠状の絶縁層で形成することがある。上部絶縁層のビア導体の下側、および下部絶縁層のビア導体の上側に上下のビア導体間を良好に電気的に接続するために、例えば円形状の補助導体を形成している。これにより、ビア導体間の接続領域が大きくなり、上下のビア導体間を良好に電気的に接続することが可能となる。   Via conductors may be formed in the vertical direction inside the upper insulating layer of the insulating substrate. In this case, the frame-like metallized layer is electrically connected to the wiring conductor via the via conductor. Thereby, for example, the stability of the ground and the shielding property with respect to the electronic component are enhanced. In order to accommodate a thick electronic component in the mounting portion, the upper insulating layer may be formed of a plurality of frame-shaped insulating layers. For example, a circular auxiliary conductor is formed on the lower side of the via conductor of the upper insulating layer and the upper side of the via conductor of the lower insulating layer in order to electrically connect the upper and lower via conductors satisfactorily. As a result, the connection region between the via conductors is increased, and the upper and lower via conductors can be electrically connected satisfactorily.

特開平11-214944号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-214944

上記電子部品収納用パッケージはそのサイズが小さくなる傾向があり、それに伴い枠状の上部絶縁層の幅も狭いものとなる傾向がある。枠状の上部絶縁層の幅が狭くなると、上部絶縁層の内部にビア導体を形成した場合、ビア導体同士を接続する補助導体の外周部から上部絶縁層の内側面または外側面までの距離が極めて小さくなり、積層工程において上部絶縁層と下部絶縁層との密着部で狭い部分を有するものとなって、密着性が低減してしまい、上部絶縁層にデラミネーションが発生して気密信頼性が低下する可能性があった。   The electronic component storage package tends to be reduced in size, and accordingly, the width of the frame-like upper insulating layer tends to be narrow. When the width of the frame-shaped upper insulating layer is reduced, when a via conductor is formed inside the upper insulating layer, the distance from the outer peripheral portion of the auxiliary conductor connecting the via conductors to the inner side surface or the outer side surface of the upper insulating layer is increased. It becomes extremely small, and in the laminating process, there is a narrow portion at the close contact portion between the upper insulating layer and the lower insulating layer, the adhesiveness is reduced, delamination occurs in the upper insulating layer, and airtight reliability is improved. There was a possibility of decline.

本発明の一つの態様の電子部品収納用パッケージは、上面に電子部品を搭載するための搭載部を有する下部絶縁層と、該下部絶縁層上に前記搭載部を取り囲んで積層され、上面に蓋体が接合される開口部を有する第1枠状絶縁層と、前記下部絶縁層と前記第1枠状絶縁層との間に形成される第2枠状絶縁層とを有する電子部品収納用パッケージであって、前記第1枠状絶縁層の開口部の内側面に、下端から上端にかけて第1切り欠き部が形成されているとともに、該第1切り欠き部の内側面の下端から上端にかけて導体で埋められた第1導体が形成されており、平面視で前記第2枠状絶縁層の開口部の内側面の一部が前記第1枠状絶縁層の開口部の内側面から突出した段差部を有しており、該段差部の内側面に
、下端から上端にかけて第2切り欠き部が形成されているとともに、該第2切り欠き部の内側面の下端から上端にかけて導体で埋められた第2導体が形成されており、前記第1導体と前記第2導体とが前記第2枠状絶縁層の上面に形成された補助導体で接続されている。
An electronic component storage package according to one aspect of the present invention includes a lower insulating layer having a mounting portion for mounting an electronic component on an upper surface, and the upper insulating layer is stacked so as to surround the mounting portion. Electronic component storage package having a first frame-like insulating layer having an opening to which a body is joined, and a second frame-like insulating layer formed between the lower insulating layer and the first frame-like insulating layer A first cutout portion is formed on the inner side surface of the opening of the first frame-like insulating layer from the lower end to the upper end, and the conductor extends from the lower end to the upper end of the inner side surface of the first cutout portion. A step in which a part of the inner surface of the opening of the second frame-shaped insulating layer protrudes from the inner surface of the opening of the first frame-shaped insulating layer in a plan view is formed. A second cut from the lower end to the upper end on the inner surface of the stepped portion. A notch is formed, and a second conductor filled with a conductor is formed from the lower end to the upper end of the inner side surface of the second notch, and the first conductor and the second conductor are The two conductors are connected by an auxiliary conductor formed on the upper surface of the frame-like insulating layer.

本発明の一つの態様の電子部品収納用パッケージによれば、上面に電子部品を搭載するための搭載部を有する下部絶縁層と、該下部絶縁層上に前記搭載部を取り囲んで積層され、上面に蓋体が接合される開口部を有する第1枠状絶縁層と、前記下部絶縁層と前記第1枠状絶縁層との間に形成される第2枠状絶縁層とを有しており、第1枠状絶縁層の開口部の内側面に、下端から上端にかけて第1切り欠き部が形成されているとともに、第1切り欠き部の内側面の下端から上端にかけて導体で埋められた第1導体が形成されており、平面視で第2枠状絶縁層の開口部の内側面の一部が第1枠状絶縁層の開口部の内側面から突出した段差部を有しており、段差部の内側面に、下端から上端にかけて第2切り欠き部が形成されているとともに、第2切り欠き部の内側面の下端から上端にかけて導体で埋められた第2導体が形成されており、第1導体と第2導体とが前記第2枠状絶縁層の上面に形成された補助導体で接続されている。   According to the electronic component storage package of one aspect of the present invention, a lower insulating layer having a mounting portion for mounting an electronic component on the upper surface, and the upper insulating layer is stacked on the lower insulating layer so as to surround the mounting portion. A first frame-like insulating layer having an opening to which a lid is bonded, and a second frame-like insulating layer formed between the lower insulating layer and the first frame-like insulating layer. The first cutout portion is formed on the inner side surface of the opening of the first frame-like insulating layer from the lower end to the upper end, and is filled with a conductor from the lower end to the upper end of the inner side surface of the first cutout portion. 1 conductor is formed, and a part of the inner surface of the opening of the second frame-shaped insulating layer has a stepped portion protruding from the inner surface of the opening of the first frame-shaped insulating layer in plan view; A second notch is formed on the inner surface of the step from the lower end to the upper end, and the second A second conductor filled with a conductor is formed from the lower end to the upper end of the inner surface of the notch, and the first conductor and the second conductor are auxiliary conductors formed on the upper surface of the second frame-like insulating layer. It is connected.

そのため、第1枠状絶縁層の幅が狭いものとなっても、第2枠状絶縁層の露出した段差部側(つまり、絶縁基板の外周から離間する側)に補助導体を延出させて形成することができ、第1枠状絶縁層の幅に対する導体同士を接続するための補助導体が占める割合を小さくできる。つまり、第1枠状絶縁層の第1導体の外周側において内部導体が介在しない部分を大きいものとすることができる。したがって、絶縁層間の密着性の低下に起因した気密信頼性の低下が抑制された電子部品収納用パッケージを提供できる。   Therefore, even if the width of the first frame-shaped insulating layer is narrow, the auxiliary conductor is extended to the exposed stepped portion side of the second frame-shaped insulating layer (that is, the side away from the outer periphery of the insulating substrate). The ratio of the auxiliary conductor for connecting the conductors to the width of the first frame-like insulating layer can be reduced. That is, the portion where the inner conductor is not interposed on the outer peripheral side of the first conductor of the first frame-like insulating layer can be made large. Therefore, it is possible to provide an electronic component storage package in which a decrease in hermetic reliability due to a decrease in adhesion between insulating layers is suppressed.

また、蓋体を枠状メタライズ層にろう材で接合する際に、段差部がろう材の溜まり部となり、ろう材が第1導体を介して搭載部側に流れ込むことが抑制される。したがって、搭載される電子部品とろう材との短絡が抑制された、誤作動等の不具合がない信頼性の高い電子部品収納用パッケージを提供できる。   Further, when the lid is joined to the frame-like metallized layer with the brazing material, the stepped portion becomes a brazing material reservoir, and the brazing material is suppressed from flowing into the mounting portion via the first conductor. Therefore, it is possible to provide a highly reliable electronic component storage package in which short circuit between the mounted electronic component and the brazing material is suppressed and there is no malfunction such as malfunction.

(a)は本発明の実施形態における電子部品収納用パッケージを示す上面透視図であり、(b)は(a)のX−X’線における断面透視図である。(A) is an upper surface perspective view which shows the electronic component storage package in embodiment of this invention, (b) is a cross-sectional perspective view in the X-X 'line | wire of (a). 図1(a)の要部を示す拡大上面透視図である。It is an expansion top perspective view which shows the principal part of Fig.1 (a). 図1(a)の要部を示す拡大斜透視図である。It is an expansion perspective view which shows the principal part of Fig.1 (a). 本発明の実施形態における電子部品収納用パッケージの他の例の要部を示す拡大斜透視図である。It is an expansion perspective view which shows the principal part of the other example of the electronic component storage package in embodiment of this invention.

本発明の電子部品収納用パッケージについて、添付の図面を参照しつつ説明する。図1(a)は本発明の電子部品収納用パッケージの実施の形態の一例を示す上面図であり、図1(b)は図1(a)のX−X’線における断面図である。絶縁基板101は、互いに積層
された下部絶縁層103と第1枠状絶縁層104、および第2枠状絶縁層105とを有している。
下部絶縁層103は搭載部102を上面に有している。下部絶縁層103と第1枠状絶縁層104、および第2枠状絶縁層105からなる枠状部とによって絶縁基板101に凹部が設けられている。
The electronic component storage package of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1A is a top view showing an example of an embodiment of an electronic component storage package according to the present invention, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line XX ′ of FIG. The insulating substrate 101 includes a lower insulating layer 103, a first frame-shaped insulating layer 104, and a second frame-shaped insulating layer 105 that are stacked on each other.
The lower insulating layer 103 has a mounting portion 102 on the upper surface. A recessed portion is provided in the insulating substrate 101 by the lower insulating layer 103, the frame-shaped portion including the first frame-shaped insulating layer 104 and the second frame-shaped insulating layer 105.

最上層となる第1枠状絶縁層104には、上面に枠状メタライズ層116を有している。溝部内には側面導体が配置されている。また、絶縁基板101には、搭載部102に搭載される電子部品113と外部電気回路(図示せず)との導電路として、接続導体114、外部接続導体106
が設けられている。また、この例では、絶縁基板101の角部分にキャスタレーション111が
設けられている。
The first frame-like insulating layer 104 which is the uppermost layer has a frame-like metallized layer 116 on the upper surface. A side conductor is disposed in the groove. The insulating substrate 101 has a connection conductor 114 and an external connection conductor 106 as a conductive path between the electronic component 113 mounted on the mounting portion 102 and an external electric circuit (not shown).
Is provided. In this example, a castellation 111 is provided at a corner portion of the insulating substrate 101.

このような絶縁基板101は、母基板(図示せず)に個片の電子部品収納用パッケージと
なる複数の配線基板領域が配列されてパッケージ集合体が形成されたのち、これらの配線基板領域を個片に分割するために、各配線基板領域の境界に形成された分割溝により母基板が個片に分割されて作製される。そして、個々の電子部品収納用パッケージとなる。
Such an insulating substrate 101 is formed by arranging a plurality of wiring board regions to be packaged for individual electronic component storage on a mother board (not shown) to form a package assembly. In order to divide into individual pieces, the mother board is produced by being divided into individual pieces by dividing grooves formed at the boundary of each wiring board region. And it becomes an individual electronic component storage package.

電子部品収納用パッケージは、上面の中央部に電子部品113を搭載するための搭載部102を有する平板状の下部絶縁層103上に、まず第2枠状絶縁層105が、搭載部102を取り囲む
ように積層される。さらに、第2枠状絶縁層105上に、第2枠状絶縁層105の開口部よりも大きい開口部を有する第1枠状絶縁層104が積層されて、絶縁基板101が作製される。これにより、下部絶縁層103の上面と第2枠状絶縁層105、第1枠状絶縁層104の内側面とによ
って、電子部品113を気密封止するための凹部が絶縁基板101の上面に形成される。さらに、平面視で第2枠状絶縁層105の開口部の内側面の一部が第1枠状絶縁層104の開口部の内側面から突出するように段差部117が形成される。
In the electronic component storage package, a second frame-shaped insulating layer 105 first surrounds the mounting portion 102 on a flat lower insulating layer 103 having a mounting portion 102 for mounting the electronic component 113 in the center of the upper surface. Are laminated. Further, the first frame-shaped insulating layer 104 having an opening larger than the opening of the second frame-shaped insulating layer 105 is laminated on the second frame-shaped insulating layer 105, whereby the insulating substrate 101 is manufactured. Accordingly, a recess for hermetically sealing the electronic component 113 is formed on the upper surface of the insulating substrate 101 by the upper surface of the lower insulating layer 103 and the inner surface of the second frame-shaped insulating layer 105 and the first frame-shaped insulating layer 104. Is done. Further, the stepped portion 117 is formed so that a part of the inner surface of the opening of the second frame-shaped insulating layer 105 protrudes from the inner surface of the opening of the first frame-shaped insulating layer 104 in plan view.

下部絶縁層103、第1枠状絶縁層104、第2枠状絶縁層105は、例えば酸化アルミニウム
質焼結体や窒化アルミニウム焼結体,ムライト質焼結体,ガラス−セラミック焼結体等のセラミック材料からなる。例えば同様のセラミック材料からなる下部絶縁層103と第1枠
状絶縁層104、第2枠状絶縁層105とが同時焼成されて、パッケージ集合体の母基板が作製されている。
The lower insulating layer 103, the first frame-shaped insulating layer 104, and the second frame-shaped insulating layer 105 are made of, for example, an aluminum oxide sintered body, an aluminum nitride sintered body, a mullite sintered body, a glass-ceramic sintered body, or the like. Made of ceramic material. For example, the lower insulating layer 103 made of the same ceramic material, the first frame-shaped insulating layer 104, and the second frame-shaped insulating layer 105 are simultaneously fired to produce the mother board of the package assembly.

絶縁基板101は、例えば全体の外形が、平面視で一辺の長さが1.6〜10mm程度の長方形状であり、厚みが0.3〜2mm程度の板状であり、上面に上記のような凹部を有している
。なお、絶縁基板101を構成する下部絶縁層103は、複数の絶縁層が積層されて構成されたものであってもよい。また、第1枠状絶縁層104、第2枠状絶縁層105を含む枠状部は、3層以上の絶縁層が積層されて構成されたものであってもよい。
The insulating substrate 101 has, for example, a rectangular shape with a side length of about 1.6 to 10 mm and a thickness of about 0.3 to 2 mm in a plan view, and has a concave portion as described above on the upper surface. doing. Note that the lower insulating layer 103 constituting the insulating substrate 101 may be configured by stacking a plurality of insulating layers. Further, the frame-shaped portion including the first frame-shaped insulating layer 104 and the second frame-shaped insulating layer 105 may be configured by laminating three or more insulating layers.

ここで、電子装置がTCXO(Temperature Compensated Crystal Oscillator、温度補償水晶発振器)等の複数の電子部品(図示せず)が凹部内に収容されるようなものである場合には、複数の電子部品が搭載される段状の搭載部102を形成するために、枠状部が2
層以上の絶縁層で構成されており、例えば図1で示すように短辺側の片方に段差部117が
形成された絶縁基板101が作製される。
Here, when the electronic device is such that a plurality of electronic components (not shown) such as TCXO (Temperature Compensated Crystal Oscillator) are accommodated in the recess, the plurality of electronic components are In order to form a stepped mounting portion 102 to be mounted, two frame-shaped portions are provided.
For example, as shown in FIG. 1, an insulating substrate 101 having a stepped portion 117 formed on one side on the short side is manufactured.

絶縁基板101を製造するための母基板は、各絶縁層が酸化アルミニウム質焼結体からな
る場合であれば、例えば次のようにして作製される。まず酸化アルミニウム,酸化珪素,酸化マグネシウムおよび酸化カルシウム等の原料粉末に適当な有機バインダや溶剤,可塑剤等を添加混合して泥漿状にするとともに、これを例えばドクターブレード法やロールカレンダー法等のシート成形法によりシート状となすことにより複数枚のセラミックグリーンシートを得る。次に一部のセラミックグリーンシートに適当な打ち抜き加工を施して枠状に成形するとともに、枠状に成形していない平板状のセラミックグリーンシートの上に枠状のセラミックグリーンシートが位置するように上下に積層する。その後、その積層体を高温で焼成することにより母基板が製作される。
A mother substrate for manufacturing the insulating substrate 101 is produced, for example, as follows if each insulating layer is made of an aluminum oxide sintered body. First, a suitable organic binder, solvent, plasticizer, etc. are added to and mixed with raw material powders such as aluminum oxide, silicon oxide, magnesium oxide and calcium oxide to form a slurry, and this is, for example, a doctor blade method or a roll calender method. A plurality of ceramic green sheets are obtained by forming into a sheet by a sheet forming method. Next, some of the ceramic green sheets are appropriately punched into a frame shape, and the frame-shaped ceramic green sheet is positioned on a flat ceramic green sheet that is not formed into a frame shape. Laminate up and down. Thereafter, the mother board is manufactured by firing the laminate at a high temperature.

搭載部102は、例えば四角板状の電子部品113と同様に四角形状である。図1の例では、各コーナー部に4つの接続導体114が形成されている。この接続導体114は、搭載部102に
搭載される半導体素子等の電子部品113の電極(図示せず)を接続するための導通経路と
して機能する。電子部品113は、通常、その外形が上面視で四角形状で、その主面のコー
ナー部や外周部に沿った部分に接続用の複数の電極(図示せず)が形成されている。そのような電極の接続を容易かつ確実に行なえるようにするため、接続導体114は搭載部102の
コーナー部に形成されている。
The mounting portion 102 has a quadrangular shape, for example, like the square plate-shaped electronic component 113. In the example of FIG. 1, four connection conductors 114 are formed at each corner. The connection conductor 114 functions as a conduction path for connecting an electrode (not shown) of an electronic component 113 such as a semiconductor element mounted on the mounting portion 102. The external shape of the electronic component 113 is generally quadrangular when viewed from above, and a plurality of electrodes (not shown) for connection are formed on portions of the main surface along the corner portion and the outer peripheral portion. The connection conductor 114 is formed at the corner portion of the mounting portion 102 so that the electrodes can be connected easily and reliably.

電子部品113の各電極と接続導体114との接続は、導電性接着剤等の接合材115を介して
行なわれる。すなわち、電子部品113の主面のコーナー部に形成された電極が接続導体114に対向するように電子部品113を搭載部102に位置決めして、あらかじめ接続導体114に被
着させておいた接合材115を加熱して硬化させれば、電子部品113の電極と接続導体114と
が接続される。
Each electrode of the electronic component 113 and the connection conductor 114 are connected through a bonding material 115 such as a conductive adhesive. That is, the bonding material that has been attached to the connection conductor 114 in advance by positioning the electronic component 113 on the mounting portion 102 so that the electrode formed at the corner of the main surface of the electronic component 113 faces the connection conductor 114. If 115 is heated and cured, the electrode of the electronic component 113 and the connection conductor 114 are connected.

なお、接続導体114は、この実施の形態の例では電子部品113として半導体素子を用いた例を説明しているので上記のような位置に形成されているが、その他の電子部品(図示せず)を搭載する場合やその他の電子部品を複数搭載する場合であれば、その電子部品の電極の配置に応じて位置や形状を変えて形成してもよい。このような電子部品としては、例えば、セラミック圧電素子や弾性表面波素子等の圧電素子,容量素子,抵抗器等を挙げることができる。   The connection conductor 114 is formed at the position as described above because an example in which a semiconductor element is used as the electronic component 113 is described in the example of this embodiment, but other electronic components (not shown) are used. ) Or a plurality of other electronic components, the position and shape may be changed according to the arrangement of the electrodes of the electronic component. Examples of such electronic components include piezoelectric elements such as ceramic piezoelectric elements and surface acoustic wave elements, capacitive elements, resistors, and the like.

接続導体114は、例えば、搭載部102またはその周辺から絶縁基板101の外表面にかけて
電気的に導出されている。接続導体114は、搭載部102に搭載される電子部品113の各電極
を外部の電気回路(図示せず)に電気的に接続するための導電路の一部として機能する。図1に示す例においては、接続導体114は搭載部102から下部絶縁層103に形成されるビア
導体(図示せず)を介して、絶縁基板101の下面に電気的に導出され、この下面に形成さ
れた外部接続導体106に電気的に接続されている。接続導体114と外部接続導体106との電
気的な接続は、例えば上記ビア導体に加えて他の導体(図示せず)を含む接続導体によって行なわれていてもよい。
For example, the connection conductor 114 is electrically derived from the mounting portion 102 or its periphery to the outer surface of the insulating substrate 101. The connection conductor 114 functions as a part of a conductive path for electrically connecting each electrode of the electronic component 113 mounted on the mounting unit 102 to an external electric circuit (not shown). In the example shown in FIG. 1, the connecting conductor 114 is electrically led out to the lower surface of the insulating substrate 101 from the mounting portion 102 via a via conductor (not shown) formed in the lower insulating layer 103, The external connection conductor 106 thus formed is electrically connected. The electrical connection between the connection conductor 114 and the external connection conductor 106 may be performed, for example, by a connection conductor including another conductor (not shown) in addition to the via conductor.

また、絶縁基板101の第1枠状絶縁層104の上面には、搭載部102を取り囲んで枠状メタ
ライズ層116が形成されている。枠状メタライズ層116は、搭載部102を取り囲んでおり、
この枠状メタライズ層116に蓋体(図示せず)や金属枠体(図示せず)が接合される。そ
して、搭載部102に電子部品113を搭載し、電子部品113の電極を導電性接着剤等の接合材115で接続導体114に接続した後、枠状メタライズ層116の上面に蓋体を接合することにより、蓋体と絶縁基板101とからなる容器内に電子部品113が気密封止されて電子装置となる。また、あらかじめ枠状メタライズ層116に金属枠体をロウ付けした後に、金属枠体上に蓋
体を接合した構造としてもよい。
Further, a frame-shaped metallized layer 116 is formed on the upper surface of the first frame-shaped insulating layer 104 of the insulating substrate 101 so as to surround the mounting portion 102. The frame-shaped metallization layer 116 surrounds the mounting part 102,
A lid (not shown) or a metal frame (not shown) is joined to the frame-like metallized layer 116. Then, the electronic component 113 is mounted on the mounting portion 102, the electrodes of the electronic component 113 are connected to the connection conductor 114 with a bonding material 115 such as a conductive adhesive, and then the lid is bonded to the upper surface of the frame-like metallized layer 116. As a result, the electronic component 113 is hermetically sealed in the container composed of the lid and the insulating substrate 101 to form an electronic device. Alternatively, a structure in which a metal frame is brazed to the frame-like metallized layer 116 in advance and then a lid is joined to the metal frame is also possible.

枠状メタライズ層116は、蓋体を絶縁基板101にシーム溶接や電子ビーム溶接等の方法で接合するための金属部材として機能する。蓋体は、例えば四角板状であり、鉄−ニッケル合金や鉄−ニッケル−コバルト合金等の金属材料やセラミック材料からなり、ろう付け法や溶接法(例えばシーム溶接や電子ビーム溶接等)の接合法で下面の外周部が枠状メタライズ層116に接合される。なお、蓋体がセラミック材料からなる場合は、ろう付け法や溶
接法によって枠状メタライズ層116に接合できるようにするために、蓋体の接合面となる
領域に、メタライズ法やめっき法等の方法により接合用の金属層(図示せず)を形成しておけばよい。
The frame-like metallized layer 116 functions as a metal member for joining the lid to the insulating substrate 101 by a method such as seam welding or electron beam welding. The lid is, for example, a square plate and is made of a metal material such as an iron-nickel alloy or an iron-nickel-cobalt alloy or a ceramic material, and is connected by a brazing method or a welding method (for example, seam welding or electron beam welding). The outer peripheral portion of the lower surface is bonded to the frame-like metallized layer 116 by law. In addition, when the lid is made of a ceramic material, in order to be able to be joined to the frame-like metallized layer 116 by a brazing method or a welding method, a metallizing method, a plating method, etc. A metal layer (not shown) for bonding may be formed by a method.

また、第1枠状絶縁層104の内側面には第1切り欠き部107aが形成されており、この第1切り欠き部107aを埋めた第1導体107が形成されている。さらに、第2枠状絶縁層105
の内側面には第2切り欠き部108aが形成されており、この第2切り欠き部108aを埋めた第2導体108が形成されている。第1導体107と第2導体108は、第1補助導体109および第2補助導体110を介して接続されている。第2導体108は、下部絶縁層103に形成されるビ
ア導体112を介して、下部絶縁層103の下面に形成される外部接続導体106に接続されてい
る。つまり、枠状メタライズ層116がこれらの導体を介して外部接続導体106に電気的に接続される。これにより、例えば電子部品113に対するグランド(接地)の安定性やシール
ド性が高められる構造となっている。
Further, a first notch 107a is formed on the inner side surface of the first frame-like insulating layer 104, and a first conductor 107 filling the first notch 107a is formed. Further, the second frame-shaped insulating layer 105
A second cutout portion 108a is formed on the inner surface of the second conductor 108, and a second conductor 108 filling the second cutout portion 108a is formed. The first conductor 107 and the second conductor 108 are connected via the first auxiliary conductor 109 and the second auxiliary conductor 110. The second conductor 108 is connected to the external connection conductor 106 formed on the lower surface of the lower insulating layer 103 via the via conductor 112 formed in the lower insulating layer 103. That is, the frame-like metallized layer 116 is electrically connected to the external connection conductor 106 through these conductors. As a result, for example, the grounding (grounding) stability and shielding performance for the electronic component 113 are improved.

そして、電子部品113が搭載された個片の電子部品収納用パッケージの外部接続導体106が、半田等を介して外部の電気回路に接続されることにより、電子部品113の電極が接続
導体114,下部絶縁層103に形成される配線導体(図示せず),および外部接続導体106を
介して外部の電気回路に電気的に接続される。
Then, the external connection conductor 106 of the individual electronic component storage package on which the electronic component 113 is mounted is connected to an external electric circuit via solder or the like, whereby the electrode of the electronic component 113 is connected to the connection conductor 114, It is electrically connected to an external electric circuit via a wiring conductor (not shown) formed in the lower insulating layer 103 and an external connection conductor 106.

なお、第1導体107、第2導体108、接続導体114,枠状メタライズ層116および外部接続導体106等の導体部分は、例えば、タングステンやモリブデン,マンガン,銅,銀等のメ
タライズからなる。このようなメタライズとなる金属材料のペースト(金属ペースト)を、母基板となるセラミックグリーンシートに所定パターンに印刷しておき、各セラミックグリーンシートと同時焼成する方法で形成される。
The conductor portions such as the first conductor 107, the second conductor 108, the connection conductor 114, the frame-like metallized layer 116, and the external connection conductor 106 are made of metallization such as tungsten, molybdenum, manganese, copper, silver, or the like. Such a metal material paste (metal paste) to be metallized is printed in a predetermined pattern on a ceramic green sheet to be a mother substrate, and is formed by simultaneous firing with each ceramic green sheet.

これらの導体部分の露出部には、酸化腐食を抑止するとともに、接続導体114と電子部
品113の電極との接続や、外部接続導体106と外部の電気回路との接続をより容易で強固なものとするために、それらの露出した表面に1〜20μm程度の厚みのニッケルめっき層と0.1〜3.0μm程度の厚みの金めっき層とが順次被着されているのがよい。
The exposed parts of these conductor parts suppress oxidative corrosion and make connection between the connection conductor 114 and the electrode of the electronic component 113 and connection between the external connection conductor 106 and the external electric circuit easier and stronger. Therefore, a nickel plating layer having a thickness of about 1 to 20 μm and a gold plating layer having a thickness of about 0.1 to 3.0 μm are preferably sequentially deposited on the exposed surfaces.

電子部品収納用パッケージは、上面に電子部品113を搭載するための搭載部102を有する下部絶縁層103と、下部絶縁層103上に搭載部102を取り囲んで積層され、上面に蓋体が接
合される開口部を有する第1枠状絶縁層104と、下部絶縁層103と第1枠状絶縁層104との
間に形成される第2枠状絶縁層105とを有する電子部品収納用パッケージであって、第1
枠状絶縁層104の開口部の内側面に、下端から上端にかけて第1切り欠き部107aが形成されているとともに、第1切り欠き部107aの内側面の下端から上端にかけて導体で埋めら
れた第1導体107が形成されており、平面視で第2枠状絶縁層105の開口部の内側面の一部が第1枠状絶縁層104の開口部の内側面から突出した段差部117を有しており、段差部117
の内側面に、下端から上端にかけて第2切り欠き部108aが形成されているとともに、第
2切り欠き部108aの内側面の下端から上端にかけて導体で埋められた第2導体108が形成されており、第1導体107と第2導体108とが第2枠状絶縁層105の上面に形成された補助
導体109、110で接続されている。
The electronic component storage package has a lower insulating layer 103 having a mounting portion 102 for mounting an electronic component 113 on the upper surface, and is laminated on the lower insulating layer 103 so as to surround the mounting portion 102, and a lid is bonded to the upper surface. And a second frame-shaped insulating layer 105 formed between the lower insulating layer 103 and the first frame-shaped insulating layer 104. First
A first notch 107a is formed on the inner surface of the opening of the frame-like insulating layer 104 from the lower end to the upper end, and is filled with a conductor from the lower end to the upper end of the inner surface of the first notch 107a. One conductor 107 is formed, and a part of the inner surface of the opening of the second frame-shaped insulating layer 105 has a stepped portion 117 protruding from the inner surface of the opening of the first frame-shaped insulating layer 104 in plan view. Step part 117
A second cutout 108a is formed on the inner surface of the second cutout from the lower end to the upper end, and a second conductor 108 filled with a conductor is formed from the lower end of the inner side of the second cutout 108a to the upper end. The first conductor 107 and the second conductor 108 are connected by auxiliary conductors 109 and 110 formed on the upper surface of the second frame-shaped insulating layer 105.

このような構造としたことから、電子部品収納用パッケージ(絶縁基板101)が小型化
して第1枠状絶縁層104の幅が狭いものとなっても、第2枠状絶縁層105の露出した段差部117側(つまり、絶縁基板101の外周から離間する側)に補助導体109、110を延出させて形成することができ、第1枠状絶縁層104の幅に対する導体同士を接続するための補助導体109、110が占める割合を小さくできる。つまり、第1枠状絶縁層104の第1導体107の外周
側において内部導体が介在しない部分を大きいものとすることができる。したがって、絶縁層間の密着性の低下に起因した気密信頼性の低下が抑制された電子部品収納用パッケージを提供できる。
Because of such a structure, even if the electronic component storage package (insulating substrate 101) is downsized and the width of the first frame-shaped insulating layer 104 is narrow, the second frame-shaped insulating layer 105 is exposed. The auxiliary conductors 109 and 110 can be formed to extend to the stepped portion 117 side (that is, the side away from the outer periphery of the insulating substrate 101), and the conductors for the width of the first frame-like insulating layer 104 are connected to each other. The proportion of the auxiliary conductors 109 and 110 can be reduced. That is, the portion of the first frame-like insulating layer 104 where the inner conductor is not present on the outer peripheral side of the first conductor 107 can be made large. Therefore, it is possible to provide an electronic component storage package in which a decrease in hermetic reliability due to a decrease in adhesion between insulating layers is suppressed.

第1枠状絶縁層104の内側面には第1切り欠き部107aが設けられ、この第1切り欠き部107a内に前述した第1導体107が設けられている。また、第2枠状絶縁層105の内側面に
は第2切り欠き部108aが設けられ、この第2切り欠き部108a内に前述した第2導体108
が設けられている。これら、第1導体107、第2導体108は、例えば上記接続導体114等と
同様の金属材料からなり、同様の方法で形成されている。
A first cutout portion 107a is provided on the inner side surface of the first frame-shaped insulating layer 104, and the first conductor 107 described above is provided in the first cutout portion 107a. A second notch 108a is provided on the inner surface of the second frame-shaped insulating layer 105, and the second conductor 108 described above is provided in the second notch 108a.
Is provided. The first conductor 107 and the second conductor 108 are made of, for example, the same metal material as that of the connection conductor 114 and are formed by the same method.

また、第1切り欠き部107a、第2切り欠き部108aは、例えば第1枠状絶縁層104、第
2枠状絶縁層105となるセラミックグリーンシートを打ち抜き加工して枠状に成形する前
に、打ち抜き予定の部分の外周に跨るように貫通孔を設けておくことによって形成することができる。このセラミックグリーンシートが上記打ち抜き予定の部分で打ち抜かれれば
、貫通孔が縦方向に分断されて、枠状のセラミックグリーンシートの内側面に第1切り欠き部107a、第2切り欠き部108aが形成される。この打ち抜き加工の際に、上記貫通孔内に第1導体107や第2導体108となるメタライズペーストがあらかじめ充填されていれば、第1導体107や第2導体108となるメタライズペーストが充填された第1切り欠き部107a
や第2切り欠き部108aを形成することが可能である。
Further, the first cutout portion 107a and the second cutout portion 108a are formed, for example, before punching a ceramic green sheet to be the first frame-like insulating layer 104 and the second frame-like insulating layer 105 into a frame shape. It can be formed by providing a through hole so as to straddle the outer periphery of the part to be punched. When this ceramic green sheet is punched at the portion to be punched, the through hole is divided in the vertical direction, and the first cutout portion 107a and the second cutout portion 108a are formed on the inner surface of the frame-shaped ceramic green sheet. Is done. During the punching process, if the metallized paste that becomes the first conductor 107 and the second conductor 108 is filled in the through hole in advance, the metallized paste that becomes the first conductor 107 and the second conductor 108 is filled. First notch 107a
It is possible to form the second notch 108a.

ここで、第1導体107の形成位置は特に限定されないが、図1(a)に示すように、第
1導体107の形成位置を比較的枠幅を大きい第1枠状絶縁層104の内側面のコーナー部に設けることにより、第1枠状絶縁層104の第1導体107の外周側において内部導体が介在しない部分をより大きいものとすることができる。したがって、絶縁層間の密着性の低下に起因した気密信頼性の低下がさらに効果的に抑制される。
Here, although the formation position of the first conductor 107 is not particularly limited, as shown in FIG. 1A, the formation position of the first conductor 107 is the inner surface of the first frame-like insulating layer 104 having a relatively large frame width. By providing at the corner portion, the portion of the first frame-like insulating layer 104 on the outer peripheral side of the first conductor 107 where the internal conductor is not interposed can be made larger. Therefore, a decrease in hermetic reliability due to a decrease in adhesion between insulating layers is further effectively suppressed.

また、蓋体を枠状メタライズ層116にろう材(図示せず)で接合する際に、段差部117がろう材の溜まり部となり、ろう材が第1導体107を介して搭載部102側に流れ込むことが抑制される。したがって、搭載される電子部品113とろう材との短絡が抑制された、誤作動
等の不具合がない信頼性の高い電子部品収納用パッケージを提供できる。
Further, when the lid is joined to the frame-like metallized layer 116 with a brazing material (not shown), the stepped portion 117 becomes a brazing material reservoir, and the brazing material is placed on the mounting portion 102 side via the first conductor 107. Inflow is suppressed. Therefore, it is possible to provide a highly reliable electronic component storage package in which short circuit between the mounted electronic component 113 and the brazing material is suppressed and there is no malfunction such as malfunction.

第1導体107には、露出部にニッケルめっき層や金めっき層が被着されているため、こ
れらめっき層はろう材が濡れ易く、蓋体を枠状メタライズ層116にろう材で接合する際に
、第1枠状絶縁層104の内側面に露出した第1導体107の部分を介してろう材が搭載部102
側に流れ込み易い。しかし、このように段差部117が形成されていることから、段差部117がろう材の溜まり部となり、ろう材が第1導体107を介して搭載部102側に流れ込むことが抑制される。
Since the first conductor 107 is coated with a nickel plating layer or a gold plating layer on the exposed portion, the plating layer easily wets the brazing material, and when the lid is joined to the frame-like metallized layer 116 with the brazing material. Further, the brazing material is mounted on the mounting portion 102 through the portion of the first conductor 107 exposed on the inner surface of the first frame-like insulating layer 104.
Easy to flow to the side. However, since the stepped portion 117 is formed in this way, the stepped portion 117 serves as a brazing material reservoir, and the brazing material is suppressed from flowing into the mounting portion 102 via the first conductor 107.

ここで、図1(a)に示すように、例えば平面視で第1枠状絶縁層104の内側面に形成
される第1導体107と第2枠状絶縁層105の内側面に形成される第2導体108の位置をずら
すことにより、第1導体107を介してろう材が流れ込んだとしても、第1導体107と第2導体108が位置ずれしており、ろう材が搭載部102まで流れ込む経路が長くなることから、段差部117に形成された補助導体110で留まり易い。また、第1導体107に対する第2導体108の位置は、段差部117を形成しても電子部品113の搭載部102への収容性に影響し難い絶縁
基板101の短辺側に設けるのがよい。このような構造により、電子部品113の搭載部102へ
の収容性を確保しながら、電子部品113とろう材との短絡がより効果的に抑制された、誤
作動等の不具合がない信頼性の高い電子部品収納用パッケージを提供できる。
Here, as shown in FIG. 1A, for example, the first conductor 107 formed on the inner surface of the first frame-shaped insulating layer 104 and the inner surface of the second frame-shaped insulating layer 105 are formed in a plan view. By shifting the position of the second conductor 108, even if the brazing material flows through the first conductor 107, the first conductor 107 and the second conductor 108 are displaced, and the brazing material flows into the mounting portion 102. Since the path becomes long, the auxiliary conductor 110 formed on the stepped portion 117 is likely to stay. Further, the position of the second conductor 108 with respect to the first conductor 107 is preferably provided on the short side of the insulating substrate 101 that does not easily affect the capacity of the electronic component 113 to be mounted on the mounting portion 102 even if the stepped portion 117 is formed. . With such a structure, a short circuit between the electronic component 113 and the brazing material is more effectively suppressed, while ensuring the accommodation of the electronic component 113 in the mounting portion 102, and there is no malfunction such as malfunction. A package for storing high electronic components can be provided.

また、補助導体109、110は、平面視において電子部品収納用パッケージの外周縁部から離間するように、第1導体107に対して偏った位置に設けられている。このような構造と
したことから、電子部品収納用パッケージが小型化して第1枠状絶縁層104の幅が狭くな
っても、第1枠状絶縁層104の幅に対する第1導体107および第2導体108を接続するため
の補助導体109、110が占める領域をさらに小さくできる。したがって、絶縁層間において密着不良が発生する可能性をさらに効果的に低減でき、絶縁層間の密着性の低下に起因した気密信頼性の低下が抑制された電子部品収納用パッケージを提供できる。
In addition, the auxiliary conductors 109 and 110 are provided at positions offset from the first conductor 107 so as to be separated from the outer peripheral edge portion of the electronic component storage package in a plan view. With such a structure, even if the electronic component storage package is downsized and the width of the first frame-shaped insulating layer 104 is reduced, the first conductor 107 and the second conductor with respect to the width of the first frame-shaped insulating layer 104 are reduced. The area occupied by the auxiliary conductors 109 and 110 for connecting the conductor 108 can be further reduced. Therefore, the possibility of occurrence of poor adhesion between insulating layers can be further effectively reduced, and an electronic component storage package can be provided in which a decrease in hermetic reliability due to a decrease in adhesion between insulating layers is suppressed.

補助導体109、110の構成について、図1、図2を基に説明する。なお、図2は本発明の電子部品収納用パッケージのコーナー部を示す要部拡大上面透視図である。第1枠状絶縁層104の内側面には第1切り欠き部107aが設けられ、この第1切り欠き部107a内に前述
した第1導体107が設けられている。そして、第1導体107の下端に接して第1枠状絶縁層104の下面に第1補助導体109が形成されており、この第1補助導体109は電子部品収納用
パッケージの外周縁部(図1の例では絶縁基板101の外周コーナー部)から離間するよう
に、第1導体107に対して偏った位置に設けられている。これにより、第1枠状絶縁層104の幅に対する第1補助導体109が形成されない領域を大きくすることができる。
The configuration of the auxiliary conductors 109 and 110 will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is an enlarged top perspective view of the main part showing the corner part of the electronic component storage package of the present invention. A first cutout portion 107a is provided on the inner side surface of the first frame-shaped insulating layer 104, and the first conductor 107 described above is provided in the first cutout portion 107a. A first auxiliary conductor 109 is formed on the lower surface of the first frame-like insulating layer 104 in contact with the lower end of the first conductor 107, and the first auxiliary conductor 109 is an outer peripheral edge portion (see FIG. In the first example, it is provided at a position biased with respect to the first conductor 107 so as to be separated from the outer peripheral corner portion of the insulating substrate 101. Thereby, the area | region in which the 1st auxiliary conductor 109 with respect to the width | variety of the 1st frame-shaped insulating layer 104 is not formed can be enlarged.

また、第2枠状絶縁層105の内側面には第2切り欠き部108aが設けられ、この第2切り欠き部108a内に前述した第2導体108が設けられている。そして、第2導体108の上端に
接して第2枠状絶縁層105の上面に第2補助導体110が形成されており、この第2補助導体110も同様に電子部品収納用パッケージの外周縁部から離間するように、第1導体107に対して偏った位置に設けられている。第1補助導体109や第2補助導体110は、第1導体107
や第2導体108と同様に、開口部を形成する際に打ち抜き予定の部分で打ち抜かれている
The second frame-shaped insulating layer 105 is provided with a second cutout portion 108a on the inner side surface, and the second conductor 108 described above is provided in the second cutout portion 108a. A second auxiliary conductor 110 is formed on the upper surface of the second frame-like insulating layer 105 in contact with the upper end of the second conductor 108, and the second auxiliary conductor 110 is also the outer peripheral edge portion of the electronic component storage package. It is provided at a position biased with respect to the first conductor 107 so as to be separated from the first conductor 107. The first auxiliary conductor 109 and the second auxiliary conductor 110 are the first conductor 107.
As with the second conductor 108, when the opening is formed, it is punched at the portion to be punched.

そして、平面視で第1補助導体109と第2補助導体110の一部が上下方向に積層されることにより、第1導体107と第2導体108が第1補助導体109と第2補助導体110を介して上下方向に接続される。そして、第1枠状絶縁層104の幅に対する第1補助導体109が形成されない領域を大きくすることができる。なお、平面視において第1補助導体109と積層され
ない第2補助導体110の一部は、段差部117上に露出して第1導体107と第2導体108とを接続する導通経路として作用する。
Then, a part of the first auxiliary conductor 109 and the second auxiliary conductor 110 are laminated in the vertical direction in plan view, so that the first conductor 107 and the second conductor 108 become the first auxiliary conductor 109 and the second auxiliary conductor 110. It is connected in the vertical direction via. In addition, a region where the first auxiliary conductor 109 is not formed with respect to the width of the first frame-like insulating layer 104 can be enlarged. A part of the second auxiliary conductor 110 not stacked with the first auxiliary conductor 109 in plan view is exposed on the stepped portion 117 and acts as a conduction path connecting the first conductor 107 and the second conductor 108.

なお、第1補助導体109、第2補助導体110の形状は、第1導体107、第2導体108の大きさや形状、形成位置に応じて適切に形状を変更することができる。例えば、第1導体107
と第2導体108との距離が近い場合、第1補助導体109や第2補助導体110は、その面積は
小さなものでよい。また、平面透視において図1〜図3に示すように第1導体107の一部
と第2導体108の一部が重なるように、かつ第2導体108が電子部品収納用パッケージの外周縁部から離間する位置に設けた場合には、段差部117に上に第2補助導体110が形成された形状であっても第1導体107と第2導体108との距離がさらに近いものとなり、第1補助導体109や第2補助導体110は、その面積をさらに小さなものとすることができる。また、第1導体107、第2導体108の形成位置を絶縁基板101の長辺や短辺の直線部分に形成する
場合は、第1導体107に対して偏った位置となるように、その形状を上面透視で半月状と
して形成すればよい。
Note that the shapes of the first auxiliary conductor 109 and the second auxiliary conductor 110 can be appropriately changed according to the size and shape of the first conductor 107 and the second conductor 108 and the formation position. For example, the first conductor 107
When the distance between the first auxiliary conductor 109 and the second conductor 108 is short, the area of the first auxiliary conductor 109 and the second auxiliary conductor 110 may be small. Further, as shown in FIGS. 1 to 3, the first conductor 107 and the second conductor 108 overlap so that the second conductor 108 overlaps the outer peripheral edge of the electronic component storage package as shown in FIGS. In the case where the second auxiliary conductor 110 is formed on the stepped portion 117, the distance between the first conductor 107 and the second conductor 108 becomes even shorter when the second auxiliary conductor 110 is formed on the stepped portion 117. The area of the auxiliary conductor 109 and the second auxiliary conductor 110 can be further reduced. Further, when the formation positions of the first conductor 107 and the second conductor 108 are formed on the straight portions of the long side and the short side of the insulating substrate 101, the shape of the first conductor 107 and the second conductor 108 is set so as to be offset from the first conductor 107 May be formed in a half-moon shape when viewed from above.

また、第1導体107と第2導体108は、平面透視で重ならない位置に設けられている。このような構造としたことから、第1導体107と第2導体108が焼成後に上面に突出しにくいものとなり、突き上げる応力が上面方向に加わりにくいものとなる。つまり、絶縁基板101となるセラミックグリーンシート積層体を焼成する際に、セラミックと第1導体107や第2導体108等のメタライズとの収縮の違いにより、第1枠状絶縁層104においては、第1導体107が上面方向に突出することがある。また、第2枠状絶縁層105においては、第2導体108が上面方向に突出することがある。   Further, the first conductor 107 and the second conductor 108 are provided at positions that do not overlap with each other in a plan view. Due to such a structure, the first conductor 107 and the second conductor 108 do not easily protrude to the upper surface after firing, and the pushing-up stress is difficult to be applied in the upper surface direction. In other words, when the ceramic green sheet laminate that is to be the insulating substrate 101 is fired, the first frame-like insulating layer 104 has the One conductor 107 may protrude in the upper surface direction. In the second frame-shaped insulating layer 105, the second conductor 108 may protrude in the upper surface direction.

しかし、このような状態においても、第1導体107と第2導体108が平面透視で重ならない位置に設けられていれば、第1枠状絶縁層104における突き上げる応力は第1枠状絶縁
層104の厚みの範囲内で作用するだけに留まる。また、第2枠状絶縁層105における突き上げる応力は第2枠状絶縁層105の厚みの範囲内で作用するだけに留まる。つまり、第1導
体107と第2導体108が焼成後に突き上げる応力が上面方向に加わりにくいものとなり、第1枠状絶縁層104の上面に形成される枠状メタライズ層116への第1導体107の突出を抑制
することができる。よって、枠状メタライズ層116の平坦度の劣化が抑制された、また蓋
体との接合性を良好に行うことができる気密信頼性に優れた電子部品収納用パッケージを提供できる。
However, even in such a state, if the first conductor 107 and the second conductor 108 are provided at a position where they do not overlap with each other in a plan view, the upward stress in the first frame-shaped insulating layer 104 is increased. It only stays within the thickness range. Further, the stress to be pushed up in the second frame-shaped insulating layer 105 only acts within the range of the thickness of the second frame-shaped insulating layer 105. That is, the stress that the first conductor 107 and the second conductor 108 push up after firing is less likely to be applied in the upper surface direction, and the first conductor 107 is applied to the frame-like metallized layer 116 formed on the upper surface of the first frame-like insulating layer 104. Protrusion can be suppressed. Therefore, it is possible to provide an electronic component storage package excellent in airtight reliability in which deterioration of flatness of the frame-like metallized layer 116 is suppressed and bonding property with the lid can be satisfactorily performed.

このように、第1導体107と第2導体108が平面透視で重ならない位置に形成するには、例えば図4に示すような構造とすればよい。第1枠状絶縁層104において第1導体107は絶縁基板101のコーナー部に形成される。第1導体107は半ビア状であり、第1導体107が第
1枠状絶縁層104の内側面に露出している。また、絶縁基板101の短辺側から長辺側の一部
にかけて段差部117が形成されるように第2枠状絶縁層105が形成される。そして、第2導体108が段差部117の短辺側から長辺側の一部にかけて形成されている。第2導体108も半
ビア状であり、第2導体108が第2枠状絶縁層105の内側面に露出している。
In this way, in order to form the first conductor 107 and the second conductor 108 at a position where they do not overlap with each other in plan perspective, a structure as shown in FIG. 4 may be used, for example. In the first frame-like insulating layer 104, the first conductor 107 is formed at the corner portion of the insulating substrate 101. The first conductor 107 has a semi-via shape, and the first conductor 107 is exposed on the inner surface of the first frame-shaped insulating layer 104. In addition, the second frame-shaped insulating layer 105 is formed so that a stepped portion 117 is formed from the short side of the insulating substrate 101 to a part of the long side. The second conductor 108 is formed from the short side of the stepped portion 117 to a part of the long side. The second conductor 108 also has a semi-via shape, and the second conductor 108 is exposed on the inner surface of the second frame-shaped insulating layer 105.

そして、第1導体107と第2導体108が平面透視で重ならない位置に形成されるようにすればよい。この際、第1導体107と第2導体108とは、第1枠状絶縁層104に隠れた領域に
形成される第1補助導体109と、段差部117の上面および第1枠状絶縁層104に隠れた領域
に形成される第2補助導体110とを介して電気的に接続されている。なお、第1補助導体109と第2補助導体110とは、平面透視でその一部が重なる位置に設けられており、これに
より第1導体107と第2導体108とを良好に電気的に接続することが可能となる。
Then, the first conductor 107 and the second conductor 108 may be formed at a position where they do not overlap with each other in a plan view. At this time, the first conductor 107 and the second conductor 108 include the first auxiliary conductor 109 formed in a region hidden by the first frame-shaped insulating layer 104, the upper surface of the stepped portion 117, and the first frame-shaped insulating layer 104. It is electrically connected via a second auxiliary conductor 110 formed in a hidden area. Note that the first auxiliary conductor 109 and the second auxiliary conductor 110 are provided at positions where a part thereof overlaps in a plan view, and thereby the first conductor 107 and the second conductor 108 are electrically connected to each other well. It becomes possible to do.

ここで、上記のように第1導体107と第2導体108を半ビア状として、第1導体107と第
2導体108が第1枠状絶縁層104と第2枠状絶縁層105の内側面に露出している構造にする
ことにより、次のような効果もある。つまり、セラミックと第1導体107および第2導体108のメタライズとの収縮の違いによって、仮に第1導体107および第2導体108が突出したとしても、第1導体107および第2導体108は搭載部102側(水平方向)に突出するものと
なり、突出による応力を搭載部102側(水平方向)に逃がすことができる。よって、第1
導体107や第2導体108が焼成後に突き上げる応力が上面方向(枠状メタライズ層116側)
に作用することが抑制されて、さらに効果的に枠状メタライズ層116の平坦度の劣化が抑
制された、また蓋体との接合性を良好に行うことができる気密信頼性に優れた電子部品収納用パッケージを提供できる。
Here, as described above, the first conductor 107 and the second conductor 108 are formed in a semi-via shape, and the first conductor 107 and the second conductor 108 are the inner surfaces of the first frame-shaped insulating layer 104 and the second frame-shaped insulating layer 105. By adopting a structure that is exposed to the surface, there are the following effects. That is, even if the first conductor 107 and the second conductor 108 protrude due to the difference in contraction between the ceramic and the metallization of the first conductor 107 and the second conductor 108, the first conductor 107 and the second conductor 108 are not mounted on the mounting portion. The protrusion protrudes toward the 102 side (horizontal direction), and stress due to the protrusion can be released to the mounting portion 102 side (horizontal direction). Therefore, the first
The stress that the conductor 107 and the second conductor 108 push up after firing is in the direction of the upper surface (the frame-like metallized layer 116 side)
An electronic component with excellent hermetic reliability in which deterioration of the flatness of the frame-like metallized layer 116 is further effectively suppressed and the bonding property with the lid can be satisfactorily suppressed. A storage package can be provided.

また、第2導体108は、平面透視において第1導体107の仮想外周部内に重なる位置に設けられている。このような構造としたことから、第1導体107と第2導体108とを平面透視で極めて近くに配置することができる。つまり、第1導体107と第2導体108とを接続する際に、導通抵抗が大きくなることが抑制される。よって、枠状メタライズ層116がこの第
1導体107、第2導体108を介して外部接続導体106に良好に電気的に接続される。これに
より、電子部品113に対するグランド(接地)の安定性やシールド性が高められた電子部
品収納用パッケージを提供できる。
The second conductor 108 is provided at a position overlapping the virtual outer periphery of the first conductor 107 in plan perspective. Due to such a structure, the first conductor 107 and the second conductor 108 can be arranged very close to each other in a plan view. That is, when the first conductor 107 and the second conductor 108 are connected, an increase in conduction resistance is suppressed. Therefore, the frame-like metallized layer 116 is well electrically connected to the external connection conductor 106 via the first conductor 107 and the second conductor 108. As a result, it is possible to provide an electronic component storage package in which the stability (grounding) of the electronic component 113 and the shielding performance are improved.

このように、第2導体108が平面透視において第1導体107の仮想外周部内に重なる位置に設けられた構造は、例えば図2に示すような構造とすればよい。第1枠状絶縁層104に
おいて第1導体107は絶縁基板101のコーナー部に形成される。第1導体107は半ビア状で
あり、第1導体107が第1枠状絶縁層104の内側面に露出している。また、絶縁基板101の
短辺側から長辺側の一部にかけて段差部117が形成されるように第2枠状絶縁層105が形成される。そして、第2導体108が段差部117の短辺側から長辺側の一部にかけて形成されている。第2導体108も半ビア状であり、第2導体108が第2枠状絶縁層105の内側面に露出
している。そして、第2導体108が平面透視において第1導体107の仮想外周部内に重なる位置に形成すればよい。
As described above, the structure in which the second conductor 108 is provided at a position where it overlaps the virtual outer periphery of the first conductor 107 in a plan view may be a structure as shown in FIG. 2, for example. In the first frame-like insulating layer 104, the first conductor 107 is formed at the corner portion of the insulating substrate 101. The first conductor 107 has a semi-via shape, and the first conductor 107 is exposed on the inner surface of the first frame-shaped insulating layer 104. In addition, the second frame-shaped insulating layer 105 is formed so that a stepped portion 117 is formed from the short side of the insulating substrate 101 to a part of the long side. The second conductor 108 is formed from the short side of the stepped portion 117 to a part of the long side. The second conductor 108 also has a semi-via shape, and the second conductor 108 is exposed on the inner surface of the second frame-shaped insulating layer 105. Then, the second conductor 108 may be formed at a position that overlaps with the virtual outer peripheral portion of the first conductor 107 in plan perspective.

図2の場合、第2導体108が平面透視において第1導体107の仮想外周部内の一部に重なるとともに、第1枠状絶縁層104と第2枠状絶縁層105との積層面において、第1導体107
の一部と第2導体108の一部が平面透視で重なる構造となっている。この平面透視で重な
る領域は平面透視における枠状メタライズ層116のごくわずかなものであり、第2枠状絶
縁層105における突き上げる応力が第1枠状絶縁層104に形成される第1導体107を介して
ほとんど作用しない構造であり、枠状メタライズ層116の平坦性が確保されやすいものと
なる。
In the case of FIG. 2, the second conductor 108 overlaps a part of the virtual outer periphery of the first conductor 107 in a plan view, and the first frame-shaped insulating layer 104 and the second frame-shaped insulating layer 105 are stacked on the first surface. 1 conductor 107
A part of the second conductor 108 overlaps with a part of the second conductor 108. The overlapping region in the plane perspective is a very small amount of the frame-like metallized layer 116 in the plane perspective, and the first conductor 107 formed in the first frame-like insulating layer 104 is subjected to the stress that pushes up in the second frame-like insulating layer 105. Therefore, the flatness of the frame-like metallized layer 116 is easily ensured.

また、第1導体107の一部と第2導体108の一部が平面透視で重なる領域が形成されているため、上記記載の効果とともに、第1導体107と第2導体108が第1補助導体109、第2
補助導体110だけでなくこの平面透視で重なる領域を有するため、さらに効果的に導通抵
抗が大きくなることが抑制されるという効果もある。
In addition, since a region is formed in which a part of the first conductor 107 and a part of the second conductor 108 overlap each other in a plan view, the first conductor 107 and the second conductor 108 are combined with the first auxiliary conductor in addition to the effects described above. 109, second
Since there is not only the auxiliary conductor 110 but also the overlapping region in the plane perspective, there is an effect that the conduction resistance is further effectively suppressed from increasing.

電子装置は、上記記載の電子部品収納用パッケージ(絶縁基板101)と、該電子部品収
納用パッケージに搭載された電子部品113とを有している。このような構造としたことか
ら、電子部品収納用パッケージ(絶縁基板101)が小型化して第1枠状絶縁層104の幅が狭いものとなっても、第2枠状絶縁層105の露出した段差部117側(つまり、絶縁基板101の
外周から離間する側)に補助導体109、110を延出させて形成することができ、第1枠状絶縁層104の幅に対する導体同士を接続するための補助導体109、110が占める割合を小さく
できる。よって、第1枠状絶縁層104の第1導体107の外周側において内部導体が介在しない部分を大きいものとすることができ、絶縁層間の密着性の低下に起因した気密信頼性の低下が抑制された電子装置を実現できる。
The electronic device includes the electronic component storage package (insulating substrate 101) described above and the electronic component 113 mounted on the electronic component storage package. Because of such a structure, even if the electronic component storage package (insulating substrate 101) is downsized and the width of the first frame-shaped insulating layer 104 is narrow, the second frame-shaped insulating layer 105 is exposed. The auxiliary conductors 109 and 110 can be formed to extend to the stepped portion 117 side (that is, the side away from the outer periphery of the insulating substrate 101), and the conductors for the width of the first frame-like insulating layer 104 are connected to each other. The proportion of the auxiliary conductors 109 and 110 can be reduced. Therefore, a portion where the inner conductor is not present on the outer peripheral side of the first conductor 107 of the first frame-like insulating layer 104 can be made large, and a decrease in hermetic reliability due to a decrease in adhesion between the insulating layers is suppressed. Can be realized.

また、搭載部102内に段差部117が形成されていることから、この段差部117がろう材の
溜まり部となり、ろう材が第1導体107や第2導体108を介して搭載部102側に流れ込むこ
とが抑制される。よって、電子部品113とろう材との短絡がより効果的に抑制された、誤
作動等の不具合がない信頼性の高い電子装置を実現できる。
Further, since the stepped portion 117 is formed in the mounting portion 102, the stepped portion 117 becomes a reservoir portion for the brazing material, and the brazing material passes through the first conductor 107 and the second conductor 108 to the mounting portion 102 side. Inflow is suppressed. Therefore, it is possible to realize a highly reliable electronic device in which a short circuit between the electronic component 113 and the brazing material is more effectively suppressed and there is no malfunction such as malfunction.

また、絶縁基板101に形成された第1導体107と第2導体108が焼成後に突き上げる応力
が上面方向に加わりにくいものとなり、第1枠状絶縁層104の上面に形成される枠状メタ
ライズ層116への第1導体107の突出を抑制とすることができる。よって、枠状メタライズ層116の平坦度の劣化が抑制された、また蓋体との接合性を良好に行うことができる気密
信頼性に優れた電子装置を実現できる。
Further, the stress that the first conductor 107 and the second conductor 108 formed on the insulating substrate 101 push up after firing becomes difficult to be applied in the upper surface direction, and the frame-shaped metallized layer 116 formed on the upper surface of the first frame-shaped insulating layer 104. Protrusion of the first conductor 107 into the can be suppressed. Therefore, it is possible to realize an electronic device with excellent airtight reliability in which deterioration of the flatness of the frame-like metallized layer 116 is suppressed and the bonding property with the lid can be satisfactorily performed.

また、絶縁基板101に形成された第1導体107と第2導体108とを平面視で極めて近くに
配置することができ、第1導体107と第2導体108とを接続する際に、導通抵抗が大きくなることが抑制される。よって、枠状メタライズ層116がこの第1導体107、第2導体108を
介して外部接続導体106に良好に電気的に接続されるため、電子部品113に対するグランドの安定性やシールド性が高められた電子装置を実現できる。
In addition, the first conductor 107 and the second conductor 108 formed on the insulating substrate 101 can be arranged very close to each other in plan view, and when the first conductor 107 and the second conductor 108 are connected, the conduction resistance Is suppressed from increasing. Therefore, since the frame-like metallized layer 116 is well electrically connected to the external connection conductor 106 via the first conductor 107 and the second conductor 108, the stability of the ground for the electronic component 113 and the shielding performance are improved. An electronic device can be realized.

電子モジュールは、上記記載の電子装置と、該電子装置が接合材119を介して接続され
たモジュール用基板118とを有している。このような構造としたことから、より小型化の
電子装置を用いた電子機器の小型化・薄型化に寄与できる電子モジュールを実現できる。
The electronic module includes the electronic device described above and a module substrate 118 to which the electronic device is connected via a bonding material 119. With such a structure, it is possible to realize an electronic module that can contribute to the reduction in size and thickness of an electronic device using a smaller electronic device.

また、電子装置を構成する電子部品収納用パッケージが上記のように気密信頼性の低下が抑制されるため、動作信頼性に優れた電子モジュールを実現できる。そして、導通抵抗が大きくなることを抑制して、第1導体107、第2導体108を介して良好に枠状メタライズ層116を外部接続導体106に接続することができる。つまり、枠状メタライズ層116にろう
材等の接合材により機械的・電気的に接合される金属等の蓋体が電子部品収納用パッケージの上面を覆うことになる。
In addition, since the electronic component storage package constituting the electronic device is prevented from being deteriorated in airtight reliability as described above, an electronic module having excellent operational reliability can be realized. Then, the increase in the conduction resistance can be suppressed, and the frame-like metallized layer 116 can be satisfactorily connected to the external connection conductor 106 via the first conductor 107 and the second conductor 108. That is, a lid made of metal or the like that is mechanically and electrically joined to the frame-like metallized layer 116 by a joining material such as a brazing material covers the upper surface of the electronic component storage package.

よって、搭載部102に収容された電子部品113を電磁的に良好にシールドする構造となるため、電子部品113に対するグランドの安定性やシールド性が高められて、外部環境から
のノイズを遮蔽して動作信頼性に優れた電子モジュールを実現できる。
Therefore, the electronic component 113 housed in the mounting part 102 has a structure that electromagnetically shields it satisfactorily, so that the ground stability and shielding performance against the electronic component 113 are improved, and noise from the external environment is shielded. An electronic module with excellent operational reliability can be realized.

なお、本発明は上述の実施の形態の一例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば種々の変更は可能である。例えば、上述の実施の形態の一例では、電子部品収納用パッケージを構成する絶縁基板101の形状を長辺と短辺が異なる長方形状
としたが、正方形状としてもよい。また、絶縁基板101を3層の絶縁層(下部絶縁層103が1層、第1枠状絶縁層104が1層、第2枠状絶縁層105が1層の合計3層構成)から構成し
たが、電子部品113の収容形態に合わせて4層以上の絶縁層から構成してもよい。また、
第1導体107、第2導体108は搭載部102のコーナー部の1箇所に形成したが、電子部品の
搭載位置や導通抵抗を調整するために、2箇所以上で辺の中央部等その他の箇所に形成してもよい。また、枠状メタライズ層116の上面に蓋体をシーム溶接で接合するために、四
角枠状の鉄−ニッケル−コバルト合金等の金属枠体(図示せず)を接合した構造としてもよい。
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. For example, in the example of the above-described embodiment, the shape of the insulating substrate 101 constituting the electronic component storage package is a rectangular shape having different long sides and short sides, but may be a square shape. Further, the insulating substrate 101 is composed of three insulating layers (a total of three layers including one lower insulating layer 103, one first frame-shaped insulating layer 104, and one second frame-shaped insulating layer 105). However, it may be composed of four or more insulating layers in accordance with the accommodation form of the electronic component 113. Also,
The first conductor 107 and the second conductor 108 are formed at one place in the corner portion of the mounting portion 102. However, in order to adjust the mounting position and conduction resistance of the electronic component, other places such as the center portion of the side at two or more locations. You may form in. Further, in order to join the lid to the upper surface of the frame-like metallized layer 116 by seam welding, a metal frame (not shown) such as a square-frame iron-nickel-cobalt alloy may be joined.

101・・・絶縁基板
102・・・搭載部
103・・・下部絶縁層
104・・・第1枠状絶縁層
105・・・第2枠状絶縁層
106・・・外部接続導体
107・・・第1導体
107a・・・第1切り欠き部
108・・・第2導体
108a・・・第2切り欠き部
109・・・第1補助導体
110・・・第2補助導体
111・・・キャスタレーション
112・・・ビア導体
113・・・電子部品
114・・・接続導体
115、119・・・接合材
116・・・枠状メタライズ層
117・・・段差部
118・・・モジュール用基板
101 ・ ・ ・ Insulating substrate
102 ・ ・ ・ Mounting part
103 ... lower insulation layer
104 ... 1st frame-shaped insulating layer
105 ... 2nd frame-shaped insulating layer
106 ・ ・ ・ External connection conductor
107 ... 1st conductor
107a ... 1st notch
108 ... Second conductor
108a ... 2nd notch
109 ... 1st auxiliary conductor
110 ... Second auxiliary conductor
111 ・ ・ ・ Castellation
112 ・ ・ ・ via conductor
113 ・ ・ ・ Electronic components
114 ・ ・ ・ Connection conductor
115,119 ・ ・ ・ Joint material
116 ・ ・ ・ Frame metallization layer
117 ... Step
118 ・ ・ ・ Substrate for module

Claims (6)

上面に電子部品を搭載するための搭載部を有する下部絶縁層と、該下部絶縁層上に前記搭載部を取り囲んで積層され、上面に蓋体が接合される開口部を有する第1枠状絶縁層と、前記下部絶縁層と前記第1枠状絶縁層との間に形成される第2枠状絶縁層とを有する電子部品収納用パッケージであって、
前記第1枠状絶縁層の開口部の内側面に、下端から上端にかけて第1切り欠き部が形成されているとともに、該第1切り欠き部の内側面の下端から上端にかけて導体で埋められた第1導体が形成されており、
平面視で前記第2枠状絶縁層の開口部の内側面の一部が前記第1枠状絶縁層の開口部の内側面から突出した段差部を有しており、該段差部の内側面に、下端から上端にかけて第2切り欠き部が形成されているとともに、
該第2切り欠き部の内側面の下端から上端にかけて導体で埋められた第2導体が形成されており、
前記第1導体と前記第2導体とが前記第2枠状絶縁層の上面に形成された補助導体で接続されていることを特徴とする電子部品収納用パッケージ。
A first insulating frame having a lower insulating layer having a mounting portion for mounting an electronic component on the upper surface, and an opening laminated on the lower insulating layer so as to surround the mounting portion and to which a lid is joined. An electronic component storage package comprising: a layer; and a second frame-shaped insulating layer formed between the lower insulating layer and the first frame-shaped insulating layer,
A first cutout is formed from the lower end to the upper end on the inner side surface of the opening of the first frame-like insulating layer, and is filled with a conductor from the lower end to the upper end of the inner side surface of the first cutout portion. A first conductor is formed;
A part of the inner surface of the opening of the second frame-shaped insulating layer has a stepped portion protruding from the inner surface of the opening of the first frame-shaped insulating layer in plan view, and the inner surface of the stepped portion In addition, a second notch is formed from the lower end to the upper end,
A second conductor filled with a conductor is formed from the lower end to the upper end of the inner surface of the second notch,
The electronic component storage package, wherein the first conductor and the second conductor are connected by an auxiliary conductor formed on an upper surface of the second frame-like insulating layer.
前記補助導体は、平面視において前記電子部品収納用パッケージの外周縁部から離間するように、前記第1導体に対して偏った位置に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の電子部品収納用パッケージ。 The said auxiliary conductor is provided in the position biased with respect to the said 1st conductor so that it may space apart from the outer periphery part of the said electronic component storage package in planar view. Electronic component storage package. 前記第1導体と前記第2導体は、平面透視で重ならない位置に設けられていることを特徴とする請求項1および請求項2のいずれかに記載の電子部品収納用パッケージ。 3. The electronic component storage package according to claim 1, wherein the first conductor and the second conductor are provided at positions that do not overlap with each other in a plan view. 前記第2導体は、平面透視において前記第1導体の仮想外周部内に重なる位置に設けられていることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の電子部品収納用パッケージ。 4. The electronic component storage package according to claim 1, wherein the second conductor is provided at a position overlapping with a virtual outer peripheral portion of the first conductor when seen in a plan view. 5. 請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の電子部品収納用パッケージと、該電子部品収納用パッケージに搭載された電子部品とを有していることを特徴とする電子装置。 5. An electronic apparatus comprising: the electronic component storage package according to claim 1; and an electronic component mounted on the electronic component storage package. 請求項5に記載の電子装置と、該電子装置が接続されたモジュール用基板とを有していることを特徴とする電子モジュール。 6. An electronic module comprising: the electronic device according to claim 5; and a module substrate to which the electronic device is connected.
JP2015122979A 2015-06-18 2015-06-18 Electronic component storage package, electronic device and electronic module Pending JP2017011025A (en)

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