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JP2008117176A - 電圧制御回路 - Google Patents

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JP2008117176A
JP2008117176A JP2006300002A JP2006300002A JP2008117176A JP 2008117176 A JP2008117176 A JP 2008117176A JP 2006300002 A JP2006300002 A JP 2006300002A JP 2006300002 A JP2006300002 A JP 2006300002A JP 2008117176 A JP2008117176 A JP 2008117176A
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Abstract

【課題】 入力電圧の電圧値が大きくても短絡故障発生時の発熱量を抑制する。
【解決手段】 電圧入力端子111に入力された入力電圧Vinは、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110により電圧調整され、電圧調整された出力電圧Voutが電圧出力端子112から出力される。電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110は、トランジスタ制御回路130から送られてくる制御電圧Vcに応じて電圧調整をする。短絡故障時には、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160から電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に、入力電圧Vinの電圧値が大きいほど値が大きくなる付加制御電圧Vaが入力されることにより、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110の抵抗値が増加して短絡電流が抑制される。このため入力電圧Vinが大きいほど、短絡保護動作した後の保持電流の電流値や発熱量を抑制できる。
【選択図】 図1

Description

本発明は電圧制御回路に関し、短絡故障が発生しても熱損傷が生じないように工夫したものである。
電圧制御回路(ボルテージレギュレータ)は、電源と被給電回路との間に接続される回路である。この電圧制御回路は、電源から電圧制御回路に入力される電圧値が変動しても、電圧制御回路から被給電回路に出力する電圧値を一定に保持するように制御を行う。
このような電圧制御回路を電源部に組み込めば、電源(例えば電池)の出力電圧が変動しても、被給電回路に一定の電圧値となっている電圧を供給することができる。したがって、携帯電話、ゲーム機、ノートパソコン等の携帯機器の電源部には、モノリシックIC化された電圧制御回路が組み込まれている。
ここで、電圧制御回路の基本的な回路構成及び動作原理を、図5を参照して説明する。図5に示すように、電圧制御回路1は、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10と、分圧抵抗回路20と、トランジスタ制御回路30を主要部材として構成されている。
電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10は、その入力端子(ソース)が電圧制御回路1の電圧入力端子11に接続されており、その出力端子(ドレイン)が電圧制御回路1の電圧出力端子12に接続されている。
電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10は、制御端子(ゲート)に入力される制御電圧Vcの電圧値が増加すると、導通抵抗が増加し、制御端子(ゲート)に入力される制御電圧Vcの電圧値が減少すると、導通抵抗が減少するという特性を有している。なお、「導通抵抗」とは、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10が導通状態になったときの、入力端子(ソース)と出力端子(ドレイン)との間の抵抗を意味する。
電圧制御回路1の電圧入力端子11には、電源(例えば電池など)から電源電圧(入力電圧)Vinが入力される。この入力電圧Vinは、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10により電圧値が制御され、予め設定した設定電圧値となった出力電圧Voutが、電圧制御回路1の電圧出力端子12から出力される。なお、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10による電圧制御手法は後述する。
また電圧出力端子12には、被給電回路(図示省略)が接続され、この被給電回路には、設定電圧値となった電圧が供給される。
分圧抵抗回路20は、分圧抵抗21と分圧抵抗22とを直列接続したものである。この分圧抵抗回路20の一端(高電圧端)は電圧出力端子12に接続され、他端(低電圧端)は接地電位に接続されている。
この分圧抵抗回路20は、電圧出力端子12から出力される出力電圧Voutを、分圧抵抗21,22にて分圧した分圧電圧Vpを出力する。分圧電圧Vpは、分圧抵抗22に印加される電圧であり、分圧抵抗21の抵抗値をR21、分圧抵抗22の抵抗値をR22とすると、次式にて示される。
Vp=Vout・[R22/(R21+R22)]
トランジスタ制御回路30は、差動増幅器(オペアンプ)31と基準電圧源32を有している。差動増幅器31の非反転入力端子(+端子)には、分圧電圧Vpが入力され、差動増幅器31の反転入力端子(−端子)には、基準電圧源32から出力された基準電圧Vrefが入力される。
差動増幅器31は、分圧電圧Vpと基準電圧Vrefとの偏差に応じた制御電圧Vcを出力する。この制御電圧Vcは電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のゲートに入力される。
上記構成となっている電圧制御回路(ボルテージレギュレータ)1により、電圧出力端子12から出力される出力電圧Voutの電圧値を設定値(一定値)に保つ動作原理は次の通りである。
例えば出力電圧Voutの電圧値が設定値(一定値)を越えて増加すると、分圧電圧Vpの電圧値も増加し、これに伴い制御電圧Vcの電圧値が増加する。制御電圧Vcの電圧値が増加すると、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10の導通抵抗が増加し、この導通抵抗の増加により出力電圧Voutが減少し、出力電圧Voutの電圧値が設定値(一定値)に戻る。
逆に、例えば出力電圧Voutの電圧値が設定値(一定値)よりも減少すると、分圧電圧Vpの電圧値も減少し、これに伴い制御電圧Vcの電圧値が減少する。制御電圧Vcの電圧値が減少すると、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10の導通抵抗が減少し、この導通抵抗の減少により出力電圧Voutが増加し、出力電圧Voutの電圧値が設定値(一定値)に戻る。
このようにして、出力電圧Voutの電圧値が設定値(一定値)に保持される。なお、出力電圧Voutの設定値(一定値)は次式にて示される。
Vout=Vref・[(R21+R22)/R22
ところで、電圧出力端子12に接続される被給電回路などで短絡故障が発生すると、電圧出力端子12の電圧の電圧値は、接地電位の電圧値または接地電位に近い電圧値にまで、急激に減少する。このように、短絡故障を原因として電圧出力端子12の電圧値が大幅に減少すると、分圧電圧Vpの電圧値、ひいては制御電圧Vcの電圧値も大幅に減少する。制御電圧Vcの電圧値が大幅に減少すると、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10の導通抵抗が大幅に減少して、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に流れる電流の電流値が大幅に増加する。
このように、短絡故障を契機として、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に大電流が流れると、この大電流による発熱が増加し、この電圧制御回路1を組み込んだICパッケージが熱的なダメージを受ける恐れがある。つまり、短絡故障を原因として、ICパッケージの許容耐熱容量を越える大量の熱が発生して、電圧制御回路1等のICが熱損傷する恐れがある。
そこで、短絡故障が発生しても、制御用MOSトランジスタに流れる電流を制限する短絡保護回路を付加した電圧制御回路が開発されている(例えば特許文献1参照)。
次に、短絡保護回路を付加した電圧制御回路(ボルテージレギュレータ)1Aを、図6を参照して説明する。なお、図5と同一部分には同一符号を付し、重複する説明は省略する。
図6に示すように、この電圧制御回路(ボルテージレギュレータ)1Aは、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10、分圧抵抗回路20、トランジスタ制御回路30の他に、モニタ回路40、インバート回路50、トランジスタ制御用MOSトランジスタ60を更に備えている。
そして、モニタ回路40、インバート回路50、トランジスタ制御用MOSトランジスタ60により、短絡保護回路が構成されている。
モニタ回路40は、モニタ用MOSトランジスタ41とモニタ抵抗42とを直列接続して形成されており、モニタ用MOSトランジスタ41のドレインとモニタ抵抗42との接続点を、モニタ電圧出力点43としている。
このモニタ回路40は、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に対して並列接続されている。つまり、モニタ回路40の一端(高電圧端)は電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のソースに接続されており、モニタ回路40の他端(低電圧端)は電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のドレインに接続されている。
モニタ回路40のモニタ用MOSトランジスタ41は、その制御端子(ゲート)に入力される電圧の電圧値が増加すると、導通抵抗が増加し、その制御端子(ゲート)に入力される電圧の電圧値が減少すると、導通抵抗が減少するという特性を有している。
このモニタ用MOSトランジスタ41のゲートは、トランジスタ制御回路30の差動増幅器31の出力端子に接続されている。
更に、モニタ用MOSトランジスタ41を、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10と対比して説明すると、両MOSトランジスタ10,41のチャネル長は等しい。また、モニタ用MOSトランジスタ41のチャネル幅は、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のチャネル幅に比べて小さくなっている。
ここで、「電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のチャネル幅」を「モニタ用MOSトランジスタ41のチャネル幅」で割った除算値を、チャネル幅比αとすると、チャネル幅比αは例えば100となっている。
したがって、両MOSトランジスタ10,41が導通状態になっている場合には、モニタ用MOSトランジスタ41に流れる電流の電流値は、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に流れる電流の電流値を1/α(例えば1/100)倍した小さな電流値となる。
このため、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に流れる電流が増減した場合には、モニタ用MOSトランジスタ41に流れる電流の電流値も増減し、しかも、両MOSトランジスタ10,41の電流値は比例関係を保ちつつ増減する。換言すると、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に流れる電流を、1/α(例えば1/100)倍のスケールにして、モニタ用MOSトランジスタ41によってモニタするようにしている。
インバート回路50は、インバート抵抗51とインバート用MOSトランジスタ52とを直列接続して形成されており、インバート抵抗51とインバート用MOSトランジスタ52のドレインとの接続点を、インバート出力点53としている。
このインバート回路50は、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に対して並列接続されている。つまり、インバート回路50の一端(高電圧端)は電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のソースに接続されており、インバート回路50の他端(低電圧端)は電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のドレインに接続されている。
インバート用MOSトランジスタ52のゲートは、モニタ回路40のモニタ電圧出力点43に接続されている。
トランジスタ制御用MOSトランジスタ60は、そのソースが、電圧入力端子11に接続され、そのドレインが、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のゲート、及び、モニタ用MOSトランジスタ41のゲートに接続されている。そして、トランジスタ制御用MOSトランジスタ60のゲートは、インバート回路50のインバート出力点53に接続されている。
トランジスタ制御用MOSトランジスタ60は、その制御端子(ゲート)に入力される電圧の電圧値が増加すると、導通抵抗が増加し、その制御端子(ゲート)に入力される電圧の電圧値が減少すると、導通抵抗が減少するという特性を有している。
上記構成となっている電圧制御回路1Aにおいて、トランジスタ制御回路30から、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のゲート及びモニタ用MOSトランジスタ41のゲートに、制御電圧Vcを送ると、両MOSトランジスタ10,41は導通状態となる。
なお、短絡故障が発生していない通常状態では、インバート用MOSトランジスタ52及びトランジスタ制御用MOSトランジスタ60は遮断状態となっている。
電圧入力端子11に入力電圧Vinが入力され、且つ、電圧出力端子12に被給電回路が接続されている状態において、両MOSトランジスタ10,41が導通状態になると、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10及びモニタ用MOSトランジスタ41に電流が流れる。
このとき、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に流れる電流をi10、モニタ用MOSトランジスタ41(モニタ回路40)に流れる電流をi40とすると、i10/α=i40の関係が成り立っている。
一方、電圧出力端子12に接続される被給電回路などで短絡故障が発生すると、前述したように、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に流れる電流i10が急増し、これに比例して、モニタ用MOSトランジスタ41(モニタ回路40)に流れる電流i40も急増する。
モニタ回路40に流れる電流が急増すると、モニタ抵抗42に印加されるモニタ電圧Vm(電流i40がモニタ抵抗42を流れることにより発生する電圧)が急増する。このモニタ電圧Vmは、モニタ電圧出力点43を介してインバート用MOSトランジスタ52に印加される。このため、モニタ電圧Vmがインバート用MOSトランジスタ52の閾値電圧Vtを越えると、インバート用MOSトランジスタ52は導通する。
このようにして、インバート用MOSトランジスタ52が導通すると、インバート出力点53の電位は、高電位(電圧入力端子11の電位と同等な電圧)から低電位(電圧出力端子12の電位(接地電位)と同等な電位)に変化する。
インバート出力点53の電位が、高電位から低電位に変化(反転)すると、トランジスタ制御用MOSトランジスタ60のゲートに入力される電位も、高電位から低電位に変化し、トランジスタ制御用MOSトランジスタ60の導通抵抗が低くなる。
トランジスタ制御用MOSトランジスタ60の導通抵抗が低くなると、このMOSトランジスタ60は、ソースに入力された入力電圧Vinを、導通抵抗の値に応じて電圧値を調整し、電圧値を調整した付加制御電圧Vaを、ドレインから出力する。この付加制御電圧Vaは電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のゲートに入力される。
結局、短絡故障が発生した時には、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のゲートには、トランジスタ制御回路30から出力された制御電圧Vcが印加されるのみならず、トランジスタ制御用MOSトランジスタ60から出力された付加制御電圧Vaも印加される。
このように、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に、制御電圧Vcのみならず付加制御電圧Vaも印加されるため、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10の導通抵抗が急激に増加する。電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10の導通抵抗が急激に増加するため、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に流れる電流i10も急激に抑制され、電流i10の電流値が低下する。
この結果、短絡故障が発生しても、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に流れる電流の電流値を抑制することができ、短絡電流による熱的なダメージの発生を防止するようにしている。
図7は、短絡保護回路を付加した電圧制御回路1Aにおける、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に流れる電流(電圧出力端子12から出力される出力電流)と、電圧出力端子12から出力される出力電圧Voutとの関係を示す特性図である。
図7に示すように、出力電流が最大電流Imになっている状態において、出力電圧Voutが低下してくると電圧低下に伴い出力電流も低下する。そして、出力電圧Voutが零になったとき、即ち、電圧出力端子12が接地電位と短絡したときには、出力電流は保持電流Isとなる。
図7に示す電圧−電流特性は、片仮名の「フ」に似ていることから、「フの字特性」と呼ばれている。
上記「フの字特性」は、インバート用MOSトランジスタ52のソース電位(電圧出力端子12の電位)と接地電位とが異なるため、インバート用MOSトランジスタ52の閾値電圧が、バックゲート効果により変動することにより生じるものである。
ここで、インバート用MOSトランジスタ52の閾値電圧をVt、バックゲート効果による閾値電圧の変動分をΔVt、モニタ抵抗42の抵抗をR42とすると、最大電流Im及び保持電流Isは、それぞれ、次のように表される。
Im=(Vt+ΔVt)/R42
Is=Vt/R42
特公平7−74976号公報
図6に示す従来の電圧制御回路1Aでは、短絡故障が発生した場合には、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10の抵抗値を大きくするように制御して、電圧制御回路1Aに流れる電流(電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に流れる電流)の電流値を抑制している。具体的には、短絡故障発生時に電圧制御回路1Aに流れる電流(電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に流れる電流)の電流値が、保持電流Isで示す電流値となるようにしている。
このため、短絡故障が継続している場合には、電圧制御回路1Aには、次式(1)で示す電力に相当する熱が発生し続ける。
[入力電圧Vin]×[保持電流Is]・・・・(1)
しかも、図6に示す実施例では保持電流Isの電流値は、予め設定した電流値(図7参照)に固定されている。
ところで、電圧制御回路は各種の産業分野(例えば車載レギュレータや大電流レギュレータ等の分野)で使用されており、適用する産業分野によっては、電圧制御回路の電圧入力端子に入力される入力電圧の電圧値が大きくなってきている。
電圧制御回路に入力される入力電圧の電圧値が大きい場合には、電圧制御回路に流れる電流の電流値を、保持電流Isで示す電流値に抑制したとしても、式(1)から分かるように、発生電力(Vin×Is)が大きくなり、電圧制御回路を組み込んだICパッケージの発熱量が大きくなる。
しかし、ICパッケージの許容耐熱容量自体は、従前のままである。
この結果、電圧制御回路に入力される入力電圧の電圧値が大きい場合には、ICパッケージの許容耐熱容量を越える熱が発生して、電圧制御回路等のICが熱損傷することが懸念されていた。
本発明は、上記従来技術に鑑み、電圧制御回路に入力される入力電圧の電圧値が大きくても、短絡故障時の発熱を抑えて熱損傷を防止することができる、信頼性の高い電圧制御回路を提供することを目的とする。
上記課題を解決する本発明の構成は、外部から入力電圧が入力される電圧入力端子に、電圧制御用MOSトランジスタの入力端子が接続され、前記電圧制御用MOSトランジスタの出力端子が、電圧出力端子に接続されており、
前記電圧出力端子から出力される出力電圧の電圧値を検出し、この出力電圧の電圧値が予め設定した設定電圧値となるように、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送る制御電圧の電圧値を制御するトランジスタ制御手段を備えた電圧制御回路において、
入力端子が前記電圧入力端子に接続され、出力端子が前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に接続されており、制御端子の電圧が高電位から低電位になると、前記電圧制御用MOSトランジスタの導通抵抗を増加させる付加制御電圧を、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送るトランジスタ制御用MOSトランジスタと、
モニタ用MOSトランジスタと可変抵抗器であるモニタ抵抗とを直列接続して形成されており、前記電圧制御用MOSトランジスタに対して並列接続されたモニタ回路と、
前記モニタ抵抗に印加されるモニタ電圧が入力端子に入力され、このモニタ電圧が予め設定した閾値をこえると、出力端子の電圧が高電位から低電位に変化するインバート回路と、
前記電圧入力端子に入力される前記入力電圧の電圧値を検出しており、前記入力電圧の電圧値が増加すると前記モニタ抵抗の抵抗値を増加させ、前記入力電圧の電圧値が減少すると前記モニタ抵抗の抵抗値を減少させる電圧検出・抵抗調整器を備えたことを特徴とする。
また本発明の構成は、外部から入力電圧が入力される電圧入力端子に、電圧制御用MOSトランジスタの入力端子が接続され、前記電圧制御用MOSトランジスタの出力端子が、電圧出力端子に接続されており、
前記電圧出力端子から出力される出力電圧の電圧値を検出し、この出力電圧の電圧値が予め設定した設定電圧値となるように、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送る制御電圧の電圧値を制御するトランジスタ制御手段を備えた電圧制御回路において、
入力端子が前記電圧入力端子に接続され、出力端子が前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に接続されており、制御端子の電圧が高電位から低電位になると、前記電圧制御用MOSトランジスタの導通抵抗を増加させる付加制御電圧を、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送るトランジスタ制御用MOSトランジスタと、
モニタ用MOSトランジスタと抵抗値が固定されたモニタ抵抗とを直列接続して形成されており、前記電圧制御用MOSトランジスタに対して並列接続されたモニタ回路と、
前記モニタ抵抗に印加されるモニタ電圧が入力端子に入力され、このモニタ電圧が予め設定した閾値をこえると、出力端子の電圧が高電位から低電位に変化するインバート回路と、
第1のカレントミラートランジスタが介装されこのカレントミラートランジスタを流通した電流を前記モニタ抵抗に流す第1のラインと、第2のカレントミラートランジスタと入力電圧変換抵抗が直列状態となって介装されており、一端が前記電圧入力端子に接続され他端が接地電位に接続された第2のラインとを有するカレントミラー回路を備えたことを特徴とする。
本発明では、入力電圧の電圧値が変動しても出力電圧の電圧値が設定電圧値となるように、電圧制御用MOSトランジスタの導通抵抗を調整し、更に、短絡故障時には、電圧制御用MOSトランジスタの導通抵抗を通常時よりも増加させる短絡保護動作をすることにより、短絡時に流れる短絡電流を抑制している。しかも、入力電圧の電圧値が大きくなればなる程、短絡電流の値が小さい状態で、短絡保護動作を開始するようにしている。
この結果、短絡保護動作後に電圧制御回路に流れる電流(保持電流)の値は、入力電圧の電圧値が大きくなるほど、小さくなる。このため、入力電圧が大きい場合であっても、短絡時に生じる発熱量(=入力電圧×保持電流)を抑えることができ、熱損傷が発生せず、製品信頼性が向上する。
以下に本発明を実施するための最良の形態を実施例に基づき詳細に説明する。
<実施例1の回路構成>
本発明の実施例1に係る電圧制御回路(ボルテージレギュレータ)101を、図1を参照して説明する。この電圧制御回路101は、モノリシックIC化された回路であり、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110と、分圧抵抗回路120と、トランジスタ制御回路130と、モニタ回路140と、インバート回路150と、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160と、電圧検出・抵抗調整器170を主要部材として構成されている。
そして、分圧抵抗回路120と、トランジスタ制御回路130により、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に送る制御電圧Vcの電圧値を制御するトランジスタ制御手段が構成されている。
電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110は、その入力端子(ソース)が電圧制御回路101の電圧入力端子111に接続されており、その出力端子(ドレイン)が電圧制御回路101の電圧出力端子112に接続されている。
電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110は、制御端子(ゲート)に入力される制御電圧の電圧値が増加すると、導通抵抗が増加し、制御端子(ゲート)に入力される制御電圧の電圧値が減少すると、導通抵抗が減少するという特性を有している。
電圧制御回路101の電圧入力端子111には、電源(例えば電池など)から電源電圧(入力電圧)Vinが入力される。この入力電圧Vinは、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110により電圧値が制御され、予め設定した設定電圧値となった出力電圧Voutが、電圧制御回路101の電圧出力端子112から出力される。
また電圧出力端子112には、被給電回路(図示省略)が接続され、この被給電回路には、設定電圧値となった電圧が供給される。
分圧抵抗回路120は、分圧抵抗121と分圧抵抗122とを直列接続したものである。この分圧抵抗回路120の一端(高電圧端)は電圧出力端子112に接続され、他端(低電圧端)は接地電位に接続されている。
この分圧抵抗回路120は、電圧出力端子112から出力される出力電圧Voutを、分圧抵抗121,122にて分圧した分圧電圧Vpを出力する。分圧電圧Vpは、分圧抵抗122に印加される電圧であり、分圧抵抗121の抵抗値をR121、分圧抵抗122の抵抗値をR122とすると、次式にて示される。
Vp=Vout・[R122/(R121+R122)]
トランジスタ制御回路130は、差動増幅器(オペアンプ)131と基準電圧源132を有している。差動増幅器131の非反転入力端子(+端子)には、分圧電圧Vpが入力され、差動増幅器131の反転入力端子(−端子)には、基準電圧源132から出力された基準電圧Vrefが入力される。
差動増幅器131は、分圧電圧Vpと基準電圧Vrefとの偏差に応じた制御電圧Vcを出力する。この制御電圧Vcは電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のゲートに入力される。
モニタ回路140は、モニタ用MOSトランジスタ141と可変抵抗器であるモニタ抵抗142とを直列接続して形成されており、モニタ用MOSトランジスタ141のドレインとモニタ抵抗142との接続点を、モニタ電圧出力点143としている。
このモニタ回路140は、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に対して並列接続されている。つまり、モニタ回路140の一端(高電圧端)は電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のソースに接続されており、モニタ回路140の他端(低電圧端)は電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のドレインに接続されている。
モニタ回路140のモニタ用MOSトランジスタ141は、その制御端子(ゲート)に入力される電圧の電圧値が増加すると、導通抵抗が増加し、その制御端子(ゲート)に入力される電圧の電圧値が減少すると、導通抵抗が減少するという特性を有している。
このモニタ用MOSトランジスタ141のゲートは、トランジスタ制御回路130の差動増幅器131の出力端子に接続されている。
更に、モニタ用MOSトランジスタ141を、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110と対比して説明すると、両MOSトランジスタ110,141のチャネル長は等しい。また、モニタ用MOSトランジスタ141のチャネル幅は、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のチャネル幅に比べて小さくなっている。
ここで、「電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のチャネル幅」を「モニタ用MOSトランジスタ141のチャネル幅」で割った除算値を、チャネル幅比αとすると、チャネル幅比αは例えば100となっている。
したがって、両MOSトランジスタ110,141が導通状態になっている場合には、モニタ用MOSトランジスタ141に流れる電流の電流値は、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流の電流値を1/α(例えば1/100)倍した小さな電流値となる。
このため、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流が増減した場合には、モニタ用MOSトランジスタ141に流れる電流の電流値も増減し、しかも、両MOSトランジスタ110,141の電流値は比例関係を保ちつつ増減する。換言すると、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流を、1/α(例えば1/100)倍のスケールにして、モニタ用MOSトランジスタ141によってモニタするようにしている。
インバート回路150は、インバート素子151により構成されている。
なお、インバート回路150を、図6に示すのと同様に、インバート抵抗とインバート用MOSトランジスタを直列接続して構成することもできる。
このインバート回路150(インバート素子151)の入力端子はモニタ電圧出力点143に接続され、インバート回路150(インバート素子151)の出力端子はトランジスタ制御用MOSトランジスタ160のゲートに接続されている。
インバート素子151には閾値電圧Vtが設定されており、このインバート素子151の入力端の電圧が閾値電圧Vtを越えると、インバート素子151の出力端の電位が高電位から低電位に変化するようになっている。
トランジスタ制御用MOSトランジスタ160は、そのソースが、電圧入力端子111に接続され、そのドレインが、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のゲート、及び、モニタ用MOSトランジスタ141のゲートに接続されている。
トランジスタ制御用MOSトランジスタ160は、その制御端子(ゲート)に入力される電圧の電圧値が増加すると、導通抵抗が増加し、その制御端子(ゲート)に入力される電圧の電圧値が減少すると、導通抵抗が減少するという特性を有している。
電圧検出・抵抗調整器170は、電圧入力端子111に入力される入力電圧Vinの電圧値を検出し、この入力電圧Vinの電圧値に応じて、可変抵抗器であるモニタ抵抗142の抵抗値を調整する。
例えば、図2に示すように、入力電圧Vinの電圧値が大きくなるとモニタ抵抗142の抵抗値を大きくし、入力電圧Vinの電圧値が小さくなるとモニタ抵抗142の抵抗値を小さくするように、抵抗値制御をする。
<定常時の動作>
次に、上記構成となっている電圧制御回路101の定常時(短絡故障が生じていない状態)の動作を説明する。
トランジスタ制御回路130から、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のゲート及びモニタ用MOSトランジスタ141のゲートに、制御電圧Vcを送ると、両MOSトランジスタ110,141は導通状態となる。
なお、短絡故障が発生していない通常状態では、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160は遮断状態となっている。
電圧入力端子111に入力電圧Vinが入力され、且つ、電圧出力端子112に被給電回路が接続されている状態において、両MOSトランジスタ110,141が導通状態になると、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110及びモニタ用MOSトランジスタ141に電流が流れる。
このとき、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流をi110、モニタ用MOSトランジスタ141(モニタ回路140)に流れる電流をi140とすると、i110/α=i140の関係が成り立っている。
ここで、電圧制御回路101の電圧出力端子112から出力される出力電圧Voutの電圧値を設定値(一定値)に保つ動作を説明する。
例えば出力電圧Voutの電圧値が設定値(一定値)を越えて増加すると、分圧電圧Vpの電圧値も増加し、これに伴い制御電圧Vcの電圧値が増加する。制御電圧Vcの電圧値が増加すると、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110の導通抵抗が増加し、この導通抵抗の増加により出力電圧Voutが減少し、出力電圧Voutの電圧値が設定値(一定値)に戻る。
逆に、例えば出力電圧Voutの電圧値が設定値(一定値)よりも減少すると、分圧電圧Vpの電圧値も減少し、これに伴い制御電圧Vcの電圧値が減少する。制御電圧Vcの電圧値が減少すると、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10の導通抵抗が減少し、この導通抵抗の減少により出力電圧Voutが増加し、出力電圧Voutの電圧値が設定値(一定値)に戻る。
このようにして、出力電圧Voutの電圧値が設定値(一定値)に保持される。なお、出力電圧Voutの設定値(一定値)は次式にて示される。なお、R121は分圧抵抗121の抵抗値であり、R122は分圧抵抗122の抵抗値である。
Vout=Vref・[(R121+R122)/R122
<短絡故障発生時の動作>
次に、電圧制御回路101の短絡故障発生時の動作を説明する。
電圧出力端子112に接続される被給電回路などで短絡故障が発生すると、前述した従来技術と同様に、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流i110が急増し、これに比例して、モニタ用MOSトランジスタ141(モニタ回路140)に流れる電流i140も急増する。
モニタ回路140に流れる電流が急増すると、モニタ抵抗142に印加されるモニタ電圧Vm(電流i140がモニタ抵抗142を流れることにより発生する電圧)が急増する。このモニタ電圧Vmの電圧値は、電流i140の電流値が同一であっても、可変抵抗器であるモニタ抵抗142の抵抗値が大きいときには大きくなり、モニタ抵抗142の抵抗値が小さいときには小さくなる。
本実施例では、電圧検出・抵抗調整器170により、入力電圧Vinの電圧値が大きくなるとモニタ抵抗142の抵抗値を大きくし、入力電圧Vinの電圧値が小さくなるとモニタ抵抗142の抵抗値を小さくするように、抵抗値制御をしている。
したがって、入力電圧Vinの電圧値が小さいときには、モニタ抵抗142の抵抗値が小さくなっているため、電流i110ひいては電流i140の電流値がある値を越えて増加することを条件に、モニタ電圧Vmの電圧値が、インバート素子151の閾値電圧Vtよりも大きくなる。
一方、入力電圧Vinの電圧値が大きいときには、モニタ抵抗142の抵抗値が大きくなっているため、電流i110ひいては電流i140の電流値がそれほど増加しなくても、モニタ電圧Vmの電圧値が、インバート素子151の閾値電圧Vtよりも大きくなる。
つまり、入力電圧Vinの電圧値が大きくなればなるほど、電流i110ひいては電流i140の電流値がより小さい状態で、モニタ電圧Vmの電圧値がインバート素子151の閾値電圧Vtを越える。
モニタ電圧Vmの電圧値がインバート素子151の閾値電圧Vtよりも大きくなると、インバート素子151の出力端子の電位が、高電位から低電位に変化する。
このようにして、インバート素子151の出力端子の電位が、高電位から低電位に変化(反転)すると、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160のゲートに入力される電位も、高電位から低電位に変化し、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160の導通抵抗が低くなる。
トランジスタ制御用MOSトランジスタ160の導通抵抗が低くなると、このMOSトランジスタ160は、ソースに入力された入力電圧Vinを、導通抵抗の抵抗値に応じて電圧値を調整し、電圧値を調整した付加制御電圧Vaを、ドレインから出力する。この付加制御電圧Vaは電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のゲートに入力される。
結局、短絡故障が発生した時には、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のゲートには、トランジスタ制御回路130から出力された制御電圧Vcが印加されるのみならず、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160から出力された付加制御電圧Vaも印加される。
このように、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に、制御電圧Vcのみならず付加制御電圧Vaも印加されるため、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110の導通抵抗が急激に増加する。電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110の導通抵抗が急激に増加するため、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流i110も急激に抑制され、電流i110の電流値が低下する。
この結果、短絡故障が発生しても、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流の電流値を抑制することができ、短絡電流による熱的なダメージの発生を防止するようにしている。
しかも、入力電圧Vinの電圧値が大きくなればなるほど、電流i110ひいては電流i140の電流値がより小さい状態で、モニタ電圧Vmの電圧値がインバート素子151の閾値電圧Vtを越え、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流i110を抑制する制御が開始される。
したがって、入力電圧Vinの電圧値が大きいほど、保持電流Isが小さくなる。
図3は、電圧制御回路101における、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流(電圧出力端子112から出力される出力電流)と、電圧出力端子112から出力される出力電圧Voutとの関係を示す特性図である。
図3において、特性曲線Iは入力電圧Vinの電圧値が「小」のときの「フの字特性」を示しており、特性IIは入力電圧Vinの電圧値が「中」のときの「フの字特性」を示しており、特性IIIは入力電圧Vinの電圧値が「大」のときの「フの字特性」を示している。
なお図3では3本の「フの字特性」のみを示しているが、入力電圧Vinの電圧値の増減に応じて、「フの字特性」もシフトしていく。図3で説明すると、入力電圧Vinの電圧値が増加するにしたがい、「フの字特性」が次第に左側にシフトしていき、保持電流Isが次第に小さくなる。
図3からも分かるように、入力電圧Vinが大きくなるにつれて、保持電流Isが小さくなる。
短絡故障が継続している場合には、電圧制御回路101には、次式(2)で示す電力に相当する熱が発生する。
[入力電圧Vin]×[保持電流Is]・・・・(2)
本実施例では、入力電圧Vinが大きいときには、保持電流Isが小さくなるため、入力電圧Vinが大きくても、式(2)で示す電力値は、入力電圧Vinが小さいときと比べて、大きく変化することはない。
したがって、電圧入力端子111に入力される入力電圧Vinが大きくなっても、短絡故障時における、電圧制御回路101の発熱量は、この電圧制御回路101を組み込んだICパッケージの許容耐熱容量を越えることはない。
この結果、実施例1に係る電圧制御回路101を、高電圧仕様のボルテージレギュレータとして使用しても、短絡時の熱損傷が発生せず、製品信頼性が高くなる。
<実施例2の回路構成>
本発明の実施例2に係る電圧制御回路201を、図4を参照して説明する。なお、図1に示す実施例1と同一機能を果たす部分には同一符号を付し、重複する説明は省略する。
この電圧制御回路201は、モノリシックIC化された回路であり、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110と、分圧抵抗回路120と、トランジスタ制御回路130と、モニタ回路140Aと、インバート回路150と、カレントミラー回路210を主要部材として構成されている。
モニタ回路140Aは、モニタ用MOSトランジスタ141と固定抵抗であるモニタ抵抗142Aとを直列接続して形成されており、モニタ用MOSトランジスタ141のドレインとモニタ抵抗142Aとの接続点を、モニタ電圧出力点143としている。
カレントミラー回路210は、第1ライン211と第2ライン212を有しており、第1ライン211にはカレントミラーMOSトランジスタ213が介装され、第2ライン212にはカレントミラーMOSトランジスタ214と入力電圧変換抵抗215が直列状態となって介装されている。
カレントミラーMOSトランジスタ213のゲートと、カレントミラーMOSトランジスタ214のゲートは接続されている。またカレントミラーMOSトランジスタ241は、そのゲートとドレインが接続されている。
カレントミラー回路210の第1ライン211は、その一端(高電位端)が電圧入力端子111に接続されており、その他端(低電位端)がモニタ電圧出力端143に接続されている。
カレントミラー回路210の第2ライン212は、その一端(高電位端)が電圧入力端子111に接続されており、その他端(低電位端)が接地電位に接続されている。
このカレントミラー回路210では、第2ライン212に流れる電流i212の電流値が小さくなるように、入力電圧変換抵抗215の抵抗値を大きくしている。また第1ライン211に流れる電流i211の電流値は、第2ライン212に流れる電流i212の電流値よりも大きく、第1ライン211に流れる電流i211の電流値は、第2ライン212に流れる電流i212の電流値に比例している。
そして、第1ライン211の他端(低電圧端)から出力された電流i211は、モニタ抵抗142Aを流れる。
他の部分の構成は、図1に示す実施例1と同様である。
<短絡故障発生時の動作>
次に、上記構成となっている電圧制御回路201の短絡故障発生時の動作を説明する。
電圧出力端子112に接続される被給電回路などで短絡故障が発生すると、前述した従来技術と同様に、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流i110が急増し、これに比例して、モニタ用MOSトランジスタ141(モニタ回路140A)に流れる電流i140も急増する。
また、カレントミラー回路210の第2ライン212に流れる電流i212の電流値が急増し、これに併せて、第1ライン211に流れる電流i211の電流値も急増する。
しかも、電流i211及び電流i212の電流値は、入力電圧Vinの電圧値が大きくなるほど、大きくなる。
モニタ抵抗142Aに流れる電流i140及び電流i211の電流値が急増すると、モニタ抵抗142Aに印加されるモニタ電圧Vm(電流i140及び電流i211がモニタ抵抗142Aを流れることにより発生する電圧)が急増する。
この場合、入力電圧Vinの電圧値が大きくなるほど、電流i211の電流値が大きくなるので、入力電圧Vinの電圧値が大きいほど、モニタ電圧Vmの増加割合が大きくなる。
したがって、入力電圧Vinの電圧値が小さいときには、電流i211が小さくなっているため、電流i110ひいては電流i140の電流値がある値を越えて増加することを条件に、モニタ電圧Vmの電圧値が、インバート素子151の閾値電圧Vtよりも大きくなる。
一方、入力電圧Vinの電圧値が大きいときには、電流i211が大きくなっているため、電流i110ひいては電流i140の電流値がそれほど増加しなくても、モニタ電圧Vmの電圧値が、インバート素子151の閾値電圧Vtよりも大きくなる。
つまり、入力電圧Vinの電圧値が大きくなればなるほど、電流i110ひいては電流i140の電流値がより小さい状態で、モニタ電圧Vmの電圧値がインバート素子151の閾値電圧Vtを越える。
モニタ電圧Vmの電圧値がインバート素子151の閾値電圧Vtよりも大きくなると、インバート素子151の出力端子の電位が、高電位から低電位に変化する。
このようにして、インバート素子151の出力端子の電位が、高電位から低電位に変化(反転)すると、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160のゲートに入力される電位も、高電位から低電位に変化し、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160の導通抵抗が低くなる。
トランジスタ制御用MOSトランジスタ160の導通抵抗が低くなると、このMOSトランジスタ160は、ソースに入力された入力電圧Vinを、導通抵抗の抵抗値に応じて電圧値を調整し、電圧値を調整した付加制御電圧Vaを、ドレインから出力する。この付加制御電圧Vaは電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のゲートに入力される。
結局、短絡故障が発生した時には、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のゲートには、トランジスタ制御回路130から出力された制御電圧Vcが印加されるのみならず、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160から出力された付加制御電圧Vaも印加される。
このように、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に、制御電圧Vcのみならず付加制御電圧Vaも印加されるため、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110の導通抵抗が急激に増加する。電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110の導通抵抗が急激に増加するため、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流i110も急激に抑制され、電流i110の電流値が低下する。
この結果、短絡故障が発生しても、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流の電流値を抑制することができ、短絡電流による熱的なダメージの発生を防止するようにしている。
しかも、入力電圧Vinの電圧値が大きくなればなるほど、電流i110ひいては電流i140の電流値がより小さい状態で、モニタ電圧Vmの電圧値がインバート素子151の閾値電圧Vtを越え、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流i110を抑制する制御が開始される。
したがって、入力電圧Vinの電圧値が大きいほど、保持電流Isが小さくなる。
本実施例では、入力電圧Vinが大きいときには、保持電流Isが小さくなるため、入力電圧Vinが大きくても、前述した式(2)で示す電力値は、入力電圧Vinが小さいときと比べて、大きく変化することはない。
したがって、電圧入力端子111に入力される入力電圧Vinが大きくなっても、短絡故障時における、電圧制御回路201の発熱量は、この電圧制御回路201を組み込んだICパッケージの許容耐熱容量を越えることはない。
この結果、実施例2に係る電圧制御回路201を、高電圧仕様のボルテージレギュレータとして使用しても、短絡時の熱損傷が発生せず、製品信頼性が高くなる。
本発明の電圧制御回路は、携帯電話等の携帯機器の電源部のみならず、使用環境温度が高い車載レギュレータや、大電流を流す大電流レギュレータなどに、適用することができる。
本発明の実施例1に係る電圧制御回路を示す回路図である。 電圧検出・抵抗調整器による抵抗値制御特性を示す特性図である。 実施例1における出力電流と出力電圧との関係を示す特性図である。 本発明の実施例2に係る電圧制御回路を示す回路図である。 電圧制御回路の基本構成を示す回路図である。 従来の電圧制御回路を示す回路図である。 従来技術における出力電流と出力電圧との関係を示す特性図である。
符号の説明
101,201 電圧制御回路
110 制御用PチャネルMOSトランジスタ
111 電圧入力端子
112 電圧出力端子
120 分圧抵抗回路
130 トランジスタ制御回路
140,140A モニタ回路
150 インバート回路
160 トランジスタ制御用MOSトランジスタ
170 電圧検出・抵抗調整回路
210 カレントミラー回路

Claims (2)

  1. 外部から入力電圧が入力される電圧入力端子に、電圧制御用MOSトランジスタの入力端子が接続され、前記電圧制御用MOSトランジスタの出力端子が、電圧出力端子に接続されており、
    前記電圧出力端子から出力される出力電圧の電圧値を検出し、この出力電圧の電圧値が予め設定した設定電圧値となるように、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送る制御電圧の電圧値を制御するトランジスタ制御手段を備えた電圧制御回路において、
    入力端子が前記電圧入力端子に接続され、出力端子が前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に接続されており、制御端子の電圧が高電位から低電位になると、前記電圧制御用MOSトランジスタの導通抵抗を増加させる付加制御電圧を、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送るトランジスタ制御用MOSトランジスタと、
    モニタ用MOSトランジスタと可変抵抗器であるモニタ抵抗とを直列接続して形成されており、前記電圧制御用MOSトランジスタに対して並列接続されたモニタ回路と、
    前記モニタ抵抗に印加されるモニタ電圧が入力端子に入力され、このモニタ電圧が予め設定した閾値をこえると、出力端子の電圧が高電位から低電位に変化するインバート回路と、
    前記電圧入力端子に入力される前記入力電圧の電圧値を検出しており、前記入力電圧の電圧値が増加すると前記モニタ抵抗の抵抗値を増加させ、前記入力電圧の電圧値が減少すると前記モニタ抵抗の抵抗値を減少させる電圧検出・抵抗調整器を備えたことを特徴とする電圧制御回路。
  2. 外部から入力電圧が入力される電圧入力端子に、電圧制御用MOSトランジスタの入力端子が接続され、前記電圧制御用MOSトランジスタの出力端子が、電圧出力端子に接続されており、
    前記電圧出力端子から出力される出力電圧の電圧値を検出し、この出力電圧の電圧値が予め設定した設定電圧値となるように、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送る制御電圧の電圧値を制御するトランジスタ制御手段を備えた電圧制御回路において、
    入力端子が前記電圧入力端子に接続され、出力端子が前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に接続されており、制御端子の電圧が高電位から低電位になると、前記電圧制御用MOSトランジスタの導通抵抗を増加させる付加制御電圧を、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送るトランジスタ制御用MOSトランジスタと、
    モニタ用MOSトランジスタと抵抗値が固定されたモニタ抵抗とを直列接続して形成されており、前記電圧制御用MOSトランジスタに対して並列接続されたモニタ回路と、
    前記モニタ抵抗に印加されるモニタ電圧が入力端子に入力され、このモニタ電圧が予め設定した閾値をこえると、出力端子の電圧が高電位から低電位に変化するインバート回路と、
    第1のカレントミラートランジスタが介装されこのカレントミラートランジスタを流通した電流を前記モニタ抵抗に流す第1のラインと、第2のカレントミラートランジスタと入力電圧変換抵抗が直列状態となって介装されており、一端が前記電圧入力端子に接続され他端が接地電位に接続された第2のラインとを有するカレントミラー回路を備えたことを特徴とする電圧制御回路。
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