JP2008117176A - 電圧制御回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 電圧入力端子111に入力された入力電圧Vinは、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110により電圧調整され、電圧調整された出力電圧Voutが電圧出力端子112から出力される。電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110は、トランジスタ制御回路130から送られてくる制御電圧Vcに応じて電圧調整をする。短絡故障時には、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160から電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に、入力電圧Vinの電圧値が大きいほど値が大きくなる付加制御電圧Vaが入力されることにより、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110の抵抗値が増加して短絡電流が抑制される。このため入力電圧Vinが大きいほど、短絡保護動作した後の保持電流の電流値や発熱量を抑制できる。
【選択図】 図1
Description
電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10は、制御端子(ゲート)に入力される制御電圧Vcの電圧値が増加すると、導通抵抗が増加し、制御端子(ゲート)に入力される制御電圧Vcの電圧値が減少すると、導通抵抗が減少するという特性を有している。なお、「導通抵抗」とは、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10が導通状態になったときの、入力端子(ソース)と出力端子(ドレイン)との間の抵抗を意味する。
また電圧出力端子12には、被給電回路(図示省略)が接続され、この被給電回路には、設定電圧値となった電圧が供給される。
この分圧抵抗回路20は、電圧出力端子12から出力される出力電圧Voutを、分圧抵抗21,22にて分圧した分圧電圧Vpを出力する。分圧電圧Vpは、分圧抵抗22に印加される電圧であり、分圧抵抗21の抵抗値をR21、分圧抵抗22の抵抗値をR22とすると、次式にて示される。
Vp=Vout・[R22/(R21+R22)]
差動増幅器31は、分圧電圧Vpと基準電圧Vrefとの偏差に応じた制御電圧Vcを出力する。この制御電圧Vcは電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のゲートに入力される。
Vout=Vref・[(R21+R22)/R22]
そして、モニタ回路40、インバート回路50、トランジスタ制御用MOSトランジスタ60により、短絡保護回路が構成されている。
このモニタ用MOSトランジスタ41のゲートは、トランジスタ制御回路30の差動増幅器31の出力端子に接続されている。
ここで、「電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10のチャネル幅」を「モニタ用MOSトランジスタ41のチャネル幅」で割った除算値を、チャネル幅比αとすると、チャネル幅比αは例えば100となっている。
なお、短絡故障が発生していない通常状態では、インバート用MOSトランジスタ52及びトランジスタ制御用MOSトランジスタ60は遮断状態となっている。
このとき、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ10に流れる電流をi10、モニタ用MOSトランジスタ41(モニタ回路40)に流れる電流をi40とすると、i10/α=i40の関係が成り立っている。
インバート出力点53の電位が、高電位から低電位に変化(反転)すると、トランジスタ制御用MOSトランジスタ60のゲートに入力される電位も、高電位から低電位に変化し、トランジスタ制御用MOSトランジスタ60の導通抵抗が低くなる。
図7に示す電圧−電流特性は、片仮名の「フ」に似ていることから、「フの字特性」と呼ばれている。
Im=(Vt+ΔVt)/R42
Is=Vt/R42
[入力電圧Vin]×[保持電流Is]・・・・(1)
しかも、図6に示す実施例では保持電流Isの電流値は、予め設定した電流値(図7参照)に固定されている。
しかし、ICパッケージの許容耐熱容量自体は、従前のままである。
前記電圧出力端子から出力される出力電圧の電圧値を検出し、この出力電圧の電圧値が予め設定した設定電圧値となるように、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送る制御電圧の電圧値を制御するトランジスタ制御手段を備えた電圧制御回路において、
入力端子が前記電圧入力端子に接続され、出力端子が前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に接続されており、制御端子の電圧が高電位から低電位になると、前記電圧制御用MOSトランジスタの導通抵抗を増加させる付加制御電圧を、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送るトランジスタ制御用MOSトランジスタと、
モニタ用MOSトランジスタと可変抵抗器であるモニタ抵抗とを直列接続して形成されており、前記電圧制御用MOSトランジスタに対して並列接続されたモニタ回路と、
前記モニタ抵抗に印加されるモニタ電圧が入力端子に入力され、このモニタ電圧が予め設定した閾値をこえると、出力端子の電圧が高電位から低電位に変化するインバート回路と、
前記電圧入力端子に入力される前記入力電圧の電圧値を検出しており、前記入力電圧の電圧値が増加すると前記モニタ抵抗の抵抗値を増加させ、前記入力電圧の電圧値が減少すると前記モニタ抵抗の抵抗値を減少させる電圧検出・抵抗調整器を備えたことを特徴とする。
前記電圧出力端子から出力される出力電圧の電圧値を検出し、この出力電圧の電圧値が予め設定した設定電圧値となるように、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送る制御電圧の電圧値を制御するトランジスタ制御手段を備えた電圧制御回路において、
入力端子が前記電圧入力端子に接続され、出力端子が前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に接続されており、制御端子の電圧が高電位から低電位になると、前記電圧制御用MOSトランジスタの導通抵抗を増加させる付加制御電圧を、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送るトランジスタ制御用MOSトランジスタと、
モニタ用MOSトランジスタと抵抗値が固定されたモニタ抵抗とを直列接続して形成されており、前記電圧制御用MOSトランジスタに対して並列接続されたモニタ回路と、
前記モニタ抵抗に印加されるモニタ電圧が入力端子に入力され、このモニタ電圧が予め設定した閾値をこえると、出力端子の電圧が高電位から低電位に変化するインバート回路と、
第1のカレントミラートランジスタが介装されこのカレントミラートランジスタを流通した電流を前記モニタ抵抗に流す第1のラインと、第2のカレントミラートランジスタと入力電圧変換抵抗が直列状態となって介装されており、一端が前記電圧入力端子に接続され他端が接地電位に接続された第2のラインとを有するカレントミラー回路を備えたことを特徴とする。
この結果、短絡保護動作後に電圧制御回路に流れる電流(保持電流)の値は、入力電圧の電圧値が大きくなるほど、小さくなる。このため、入力電圧が大きい場合であっても、短絡時に生じる発熱量(=入力電圧×保持電流)を抑えることができ、熱損傷が発生せず、製品信頼性が向上する。
本発明の実施例1に係る電圧制御回路(ボルテージレギュレータ)101を、図1を参照して説明する。この電圧制御回路101は、モノリシックIC化された回路であり、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110と、分圧抵抗回路120と、トランジスタ制御回路130と、モニタ回路140と、インバート回路150と、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160と、電圧検出・抵抗調整器170を主要部材として構成されている。
そして、分圧抵抗回路120と、トランジスタ制御回路130により、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に送る制御電圧Vcの電圧値を制御するトランジスタ制御手段が構成されている。
電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110は、制御端子(ゲート)に入力される制御電圧の電圧値が増加すると、導通抵抗が増加し、制御端子(ゲート)に入力される制御電圧の電圧値が減少すると、導通抵抗が減少するという特性を有している。
また電圧出力端子112には、被給電回路(図示省略)が接続され、この被給電回路には、設定電圧値となった電圧が供給される。
この分圧抵抗回路120は、電圧出力端子112から出力される出力電圧Voutを、分圧抵抗121,122にて分圧した分圧電圧Vpを出力する。分圧電圧Vpは、分圧抵抗122に印加される電圧であり、分圧抵抗121の抵抗値をR121、分圧抵抗122の抵抗値をR122とすると、次式にて示される。
Vp=Vout・[R122/(R121+R122)]
差動増幅器131は、分圧電圧Vpと基準電圧Vrefとの偏差に応じた制御電圧Vcを出力する。この制御電圧Vcは電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のゲートに入力される。
このモニタ用MOSトランジスタ141のゲートは、トランジスタ制御回路130の差動増幅器131の出力端子に接続されている。
ここで、「電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のチャネル幅」を「モニタ用MOSトランジスタ141のチャネル幅」で割った除算値を、チャネル幅比αとすると、チャネル幅比αは例えば100となっている。
なお、インバート回路150を、図6に示すのと同様に、インバート抵抗とインバート用MOSトランジスタを直列接続して構成することもできる。
インバート素子151には閾値電圧Vtが設定されており、このインバート素子151の入力端の電圧が閾値電圧Vtを越えると、インバート素子151の出力端の電位が高電位から低電位に変化するようになっている。
例えば、図2に示すように、入力電圧Vinの電圧値が大きくなるとモニタ抵抗142の抵抗値を大きくし、入力電圧Vinの電圧値が小さくなるとモニタ抵抗142の抵抗値を小さくするように、抵抗値制御をする。
次に、上記構成となっている電圧制御回路101の定常時(短絡故障が生じていない状態)の動作を説明する。
トランジスタ制御回路130から、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110のゲート及びモニタ用MOSトランジスタ141のゲートに、制御電圧Vcを送ると、両MOSトランジスタ110,141は導通状態となる。
なお、短絡故障が発生していない通常状態では、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160は遮断状態となっている。
このとき、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流をi110、モニタ用MOSトランジスタ141(モニタ回路140)に流れる電流をi140とすると、i110/α=i140の関係が成り立っている。
Vout=Vref・[(R121+R122)/R122]
次に、電圧制御回路101の短絡故障発生時の動作を説明する。
電圧出力端子112に接続される被給電回路などで短絡故障が発生すると、前述した従来技術と同様に、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流i110が急増し、これに比例して、モニタ用MOSトランジスタ141(モニタ回路140)に流れる電流i140も急増する。
一方、入力電圧Vinの電圧値が大きいときには、モニタ抵抗142の抵抗値が大きくなっているため、電流i110ひいては電流i140の電流値がそれほど増加しなくても、モニタ電圧Vmの電圧値が、インバート素子151の閾値電圧Vtよりも大きくなる。
このようにして、インバート素子151の出力端子の電位が、高電位から低電位に変化(反転)すると、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160のゲートに入力される電位も、高電位から低電位に変化し、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160の導通抵抗が低くなる。
したがって、入力電圧Vinの電圧値が大きいほど、保持電流Isが小さくなる。
なお図3では3本の「フの字特性」のみを示しているが、入力電圧Vinの電圧値の増減に応じて、「フの字特性」もシフトしていく。図3で説明すると、入力電圧Vinの電圧値が増加するにしたがい、「フの字特性」が次第に左側にシフトしていき、保持電流Isが次第に小さくなる。
短絡故障が継続している場合には、電圧制御回路101には、次式(2)で示す電力に相当する熱が発生する。
[入力電圧Vin]×[保持電流Is]・・・・(2)
したがって、電圧入力端子111に入力される入力電圧Vinが大きくなっても、短絡故障時における、電圧制御回路101の発熱量は、この電圧制御回路101を組み込んだICパッケージの許容耐熱容量を越えることはない。
本発明の実施例2に係る電圧制御回路201を、図4を参照して説明する。なお、図1に示す実施例1と同一機能を果たす部分には同一符号を付し、重複する説明は省略する。
カレントミラーMOSトランジスタ213のゲートと、カレントミラーMOSトランジスタ214のゲートは接続されている。またカレントミラーMOSトランジスタ241は、そのゲートとドレインが接続されている。
カレントミラー回路210の第2ライン212は、その一端(高電位端)が電圧入力端子111に接続されており、その他端(低電位端)が接地電位に接続されている。
そして、第1ライン211の他端(低電圧端)から出力された電流i211は、モニタ抵抗142Aを流れる。
次に、上記構成となっている電圧制御回路201の短絡故障発生時の動作を説明する。
電圧出力端子112に接続される被給電回路などで短絡故障が発生すると、前述した従来技術と同様に、電圧制御用PチャネルMOSトランジスタ110に流れる電流i110が急増し、これに比例して、モニタ用MOSトランジスタ141(モニタ回路140A)に流れる電流i140も急増する。
しかも、電流i211及び電流i212の電流値は、入力電圧Vinの電圧値が大きくなるほど、大きくなる。
この場合、入力電圧Vinの電圧値が大きくなるほど、電流i211の電流値が大きくなるので、入力電圧Vinの電圧値が大きいほど、モニタ電圧Vmの増加割合が大きくなる。
一方、入力電圧Vinの電圧値が大きいときには、電流i211が大きくなっているため、電流i110ひいては電流i140の電流値がそれほど増加しなくても、モニタ電圧Vmの電圧値が、インバート素子151の閾値電圧Vtよりも大きくなる。
このようにして、インバート素子151の出力端子の電位が、高電位から低電位に変化(反転)すると、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160のゲートに入力される電位も、高電位から低電位に変化し、トランジスタ制御用MOSトランジスタ160の導通抵抗が低くなる。
したがって、入力電圧Vinの電圧値が大きいほど、保持電流Isが小さくなる。
したがって、電圧入力端子111に入力される入力電圧Vinが大きくなっても、短絡故障時における、電圧制御回路201の発熱量は、この電圧制御回路201を組み込んだICパッケージの許容耐熱容量を越えることはない。
110 制御用PチャネルMOSトランジスタ
111 電圧入力端子
112 電圧出力端子
120 分圧抵抗回路
130 トランジスタ制御回路
140,140A モニタ回路
150 インバート回路
160 トランジスタ制御用MOSトランジスタ
170 電圧検出・抵抗調整回路
210 カレントミラー回路
Claims (2)
- 外部から入力電圧が入力される電圧入力端子に、電圧制御用MOSトランジスタの入力端子が接続され、前記電圧制御用MOSトランジスタの出力端子が、電圧出力端子に接続されており、
前記電圧出力端子から出力される出力電圧の電圧値を検出し、この出力電圧の電圧値が予め設定した設定電圧値となるように、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送る制御電圧の電圧値を制御するトランジスタ制御手段を備えた電圧制御回路において、
入力端子が前記電圧入力端子に接続され、出力端子が前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に接続されており、制御端子の電圧が高電位から低電位になると、前記電圧制御用MOSトランジスタの導通抵抗を増加させる付加制御電圧を、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送るトランジスタ制御用MOSトランジスタと、
モニタ用MOSトランジスタと可変抵抗器であるモニタ抵抗とを直列接続して形成されており、前記電圧制御用MOSトランジスタに対して並列接続されたモニタ回路と、
前記モニタ抵抗に印加されるモニタ電圧が入力端子に入力され、このモニタ電圧が予め設定した閾値をこえると、出力端子の電圧が高電位から低電位に変化するインバート回路と、
前記電圧入力端子に入力される前記入力電圧の電圧値を検出しており、前記入力電圧の電圧値が増加すると前記モニタ抵抗の抵抗値を増加させ、前記入力電圧の電圧値が減少すると前記モニタ抵抗の抵抗値を減少させる電圧検出・抵抗調整器を備えたことを特徴とする電圧制御回路。 - 外部から入力電圧が入力される電圧入力端子に、電圧制御用MOSトランジスタの入力端子が接続され、前記電圧制御用MOSトランジスタの出力端子が、電圧出力端子に接続されており、
前記電圧出力端子から出力される出力電圧の電圧値を検出し、この出力電圧の電圧値が予め設定した設定電圧値となるように、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送る制御電圧の電圧値を制御するトランジスタ制御手段を備えた電圧制御回路において、
入力端子が前記電圧入力端子に接続され、出力端子が前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に接続されており、制御端子の電圧が高電位から低電位になると、前記電圧制御用MOSトランジスタの導通抵抗を増加させる付加制御電圧を、前記電圧制御用MOSトランジスタの制御端子に送るトランジスタ制御用MOSトランジスタと、
モニタ用MOSトランジスタと抵抗値が固定されたモニタ抵抗とを直列接続して形成されており、前記電圧制御用MOSトランジスタに対して並列接続されたモニタ回路と、
前記モニタ抵抗に印加されるモニタ電圧が入力端子に入力され、このモニタ電圧が予め設定した閾値をこえると、出力端子の電圧が高電位から低電位に変化するインバート回路と、
第1のカレントミラートランジスタが介装されこのカレントミラートランジスタを流通した電流を前記モニタ抵抗に流す第1のラインと、第2のカレントミラートランジスタと入力電圧変換抵抗が直列状態となって介装されており、一端が前記電圧入力端子に接続され他端が接地電位に接続された第2のラインとを有するカレントミラー回路を備えたことを特徴とする電圧制御回路。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013097858A (ja) * | 2011-11-01 | 2013-05-20 | Lsi Corp | デジタル入力検出器および関連する適応型電源 |
KR20180111628A (ko) | 2017-03-31 | 2018-10-11 | 에이블릭 가부시키가이샤 | 과전류 보호 회로 및 전압 레귤레이터 |
JP2020148465A (ja) * | 2019-03-11 | 2020-09-17 | エイブリック株式会社 | 電流センス回路 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009116679A (ja) * | 2007-11-07 | 2009-05-28 | Fujitsu Microelectronics Ltd | リニアレギュレータ回路、リニアレギュレーション方法及び半導体装置 |
US8378652B2 (en) * | 2008-12-23 | 2013-02-19 | Texas Instruments Incorporated | Load transient response time of LDOs with NMOS outputs with a voltage controlled current source |
TW201040544A (en) * | 2009-05-01 | 2010-11-16 | Linear Artwork Inc | Sensing system and its method |
TWI399006B (zh) * | 2010-06-23 | 2013-06-11 | Anpec Electronics Corp | 短路保護電路、短路保護方法及電源供應裝置 |
JP5950591B2 (ja) * | 2012-01-31 | 2016-07-13 | エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 | ボルテージレギュレータ |
JP2013238218A (ja) * | 2012-04-19 | 2013-11-28 | Fuji Electric Co Ltd | 電流制御機能および自己遮断機能を備えた半導体装置 |
CN105491726B (zh) * | 2016-01-05 | 2017-05-10 | 杰华特微电子(杭州)有限公司 | 一种自适应电流控制电路 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02118810A (ja) * | 1988-10-28 | 1990-05-07 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | ドロッパ型定電圧回路 |
JPH02281309A (ja) * | 1989-04-24 | 1990-11-19 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | ドロッパ型定電圧回路 |
JP2002318625A (ja) * | 2001-04-19 | 2002-10-31 | Seiko Instruments Inc | 電圧制御回路 |
JP2003216252A (ja) * | 2001-11-15 | 2003-07-31 | Seiko Instruments Inc | ボルテージレギュレータ |
JP2005157743A (ja) * | 2003-11-26 | 2005-06-16 | Fujitsu Ten Ltd | 負荷駆動装置及び負荷駆動システム |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0774976B2 (ja) | 1989-01-18 | 1995-08-09 | セイコー電子工業株式会社 | 電圧制御回路 |
US5912500A (en) * | 1995-11-22 | 1999-06-15 | Intevac, Inc. | Integrated photocathode |
US5781002A (en) * | 1996-02-23 | 1998-07-14 | Linear Technology Corporation | Anti-latch circuit for low dropout dual supply voltage regulator |
GB9721908D0 (en) * | 1997-10-17 | 1997-12-17 | Philips Electronics Nv | Voltage regulator circuits and semiconductor circuit devices |
US6005378A (en) * | 1998-03-05 | 1999-12-21 | Impala Linear Corporation | Compact low dropout voltage regulator using enhancement and depletion mode MOS transistors |
US6188211B1 (en) * | 1998-05-13 | 2001-02-13 | Texas Instruments Incorporated | Current-efficient low-drop-out voltage regulator with improved load regulation and frequency response |
US6157180A (en) * | 1999-03-04 | 2000-12-05 | National Semiconductor Corporation | Power supply regulator circuit for voltage-controlled oscillator |
US6812678B1 (en) * | 1999-11-18 | 2004-11-02 | Texas Instruments Incorporated | Voltage independent class A output stage speedup circuit |
US6259238B1 (en) * | 1999-12-23 | 2001-07-10 | Texas Instruments Incorporated | Brokaw transconductance operational transconductance amplifier-based micropower low drop out voltage regulator having counterphase compensation |
US6707340B1 (en) * | 2000-08-23 | 2004-03-16 | National Semiconductor Corporation | Compensation technique and method for transconductance amplifier |
US7173405B2 (en) * | 2003-07-10 | 2007-02-06 | Atmel Corporation | Method and apparatus for current limitation in voltage regulators with improved circuitry for providing a control voltage |
JPWO2006016456A1 (ja) * | 2004-08-10 | 2008-05-01 | ローム株式会社 | 回路の保護方法、保護回路およびそれを利用した電源装置 |
JP4546320B2 (ja) * | 2005-04-19 | 2010-09-15 | 株式会社リコー | 定電圧電源回路及び定電圧電源回路の制御方法 |
-
2006
- 2006-11-06 JP JP2006300002A patent/JP2008117176A/ja not_active Withdrawn
-
2007
- 2007-11-02 CN CN2007101680341A patent/CN101202503B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-11-02 CN CN201110392864.9A patent/CN102522891B/zh not_active Expired - Fee Related
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- 2007-11-05 TW TW096141703A patent/TW200832104A/zh unknown
- 2007-11-06 KR KR1020070112673A patent/KR101284477B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-06-03 US US12/477,434 patent/US7764056B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-11-20 KR KR1020120131765A patent/KR101229642B1/ko not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02118810A (ja) * | 1988-10-28 | 1990-05-07 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | ドロッパ型定電圧回路 |
JPH02281309A (ja) * | 1989-04-24 | 1990-11-19 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | ドロッパ型定電圧回路 |
JP2002318625A (ja) * | 2001-04-19 | 2002-10-31 | Seiko Instruments Inc | 電圧制御回路 |
JP2003216252A (ja) * | 2001-11-15 | 2003-07-31 | Seiko Instruments Inc | ボルテージレギュレータ |
JP2005157743A (ja) * | 2003-11-26 | 2005-06-16 | Fujitsu Ten Ltd | 負荷駆動装置及び負荷駆動システム |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013097858A (ja) * | 2011-11-01 | 2013-05-20 | Lsi Corp | デジタル入力検出器および関連する適応型電源 |
KR20180111628A (ko) | 2017-03-31 | 2018-10-11 | 에이블릭 가부시키가이샤 | 과전류 보호 회로 및 전압 레귤레이터 |
JP2018173868A (ja) * | 2017-03-31 | 2018-11-08 | エイブリック株式会社 | 過電流保護回路及びボルテージレギュレータ |
US10505438B2 (en) | 2017-03-31 | 2019-12-10 | Ablic Inc. | Overcurrent protection circuit and voltage regulator |
JP2020148465A (ja) * | 2019-03-11 | 2020-09-17 | エイブリック株式会社 | 電流センス回路 |
JP7203478B2 (ja) | 2019-03-11 | 2023-01-13 | エイブリック株式会社 | 電流センス回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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