[go: up one dir, main page]

JP2003209047A - 移動装置及びその制御方法並びにデバイスの製造方法 - Google Patents

移動装置及びその制御方法並びにデバイスの製造方法

Info

Publication number
JP2003209047A
JP2003209047A JP2002007981A JP2002007981A JP2003209047A JP 2003209047 A JP2003209047 A JP 2003209047A JP 2002007981 A JP2002007981 A JP 2002007981A JP 2002007981 A JP2002007981 A JP 2002007981A JP 2003209047 A JP2003209047 A JP 2003209047A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stators
movable
stator
moving device
moving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002007981A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4011919B2 (ja
Inventor
Hiroaki Takeishi
洋明 武石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2002007981A priority Critical patent/JP4011919B2/ja
Priority to US10/340,684 priority patent/US20030139044A1/en
Publication of JP2003209047A publication Critical patent/JP2003209047A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4011919B2 publication Critical patent/JP4011919B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages
    • G03F7/70725Stages control
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/709Vibration, e.g. vibration detection, compensation, suppression or isolation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Atmospheric Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 外部へ振動が伝達することなく、高精度な移
動が可能な移動装置及びそれを適用した露光装置を提供
すること。 【解決手段】 可動子2、2'と固定子1、1'とを有す
るアクチュエータ8、8'により可動部3を駆動する際
の反力を、左右の固定子1、1'の移動により吸収す
る。ここで、可動部3の移動距離と固定子1、1'の移
動距離とが所定の関係となるように、アクチュエータ
8、8'を制御する。これによって、ステージを駆動し
たときに外部へ振動を伝達することなく、高精度な移動
が可能な移動装置及びそれを適用した露光装置を提供す
ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、移動装置及びその
制御方法並びにデバイスの製造方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、基板、部品、構造体その他の物体
をステージ上に載せて移動する移動装置は、ますます高
精度な制御が求められている。例えば、半導体デバイス
等の製造に用いられる露光装置では、半導体デバイスの
高集積化に伴って、より高精度な微細加工技術が要求さ
れており、これを実現するには、ウエハステージ等の移
動装置を高精度に制御する必要がある。
【0003】半導体デバイスの製造に用いられる露光装
置には、代表的なものとして、ステップ・アンド・リピ
ート型の露光装置(ステッパという)及びステップ・ア
ンド・スキャン型の露光装置(スキャナという)があ
る。
【0004】ステッパは、半導体デバイスを製造するた
めに用いられる基板(例えば、ウエハやガラス基板)を
ステップ移動させながら、基板上の複数の露光領域に原
版(例えば、レチクルやマスク)のパターンを投影光学
系を介して順次露光する露光装置である。
【0005】スキャナは、ステップ移動と走査露光とを
繰り返すことにより、基板上の複数の領域に露光転写を
繰り返す露光装置である。
【0006】スキャナは、スリットにより露光光を制限
することによって、投影光学系の光軸に比較的近い部分
のみを使用している。このため、一般的に、ステッパよ
りも高精度かつ広画角な微細パターンの露光が可能であ
る。
【0007】これらの露光装置は、ウエハやレチクルを
高速で移動させるステージ(ウエハステージ、レチクル
ステージ)を備えている。露光装置がステージを駆動す
ると、ステージの加減速に伴う慣性力の反力が生じる。
この反力がステージ定盤に伝わると、ステージ定盤の揺
れや振動を引き起こす。その結果、露光装置の機構系で
固有振動が励起され、高周波振動が起こる。このような
振動は、移動装置を高精度に制御する妨げとなる。
【0008】この反力による装置の振動を低減するため
に、いくつかの提案がなされている。例えば、特開平5
−77126号公報に記載された移動装置では、ステー
ジを駆動するために使用されるリニアモータの固定子を
ステージ定盤とは独立した床で支持することで、反力に
よるステージ定盤の揺れを防止している。
【0009】また、特開平5−121294号公報に記
載された移動装置では、ウエハステージ及び投影レンズ
を支持するマシンフレームに対して、水平方向に発生す
る力アクチュエータがステージの駆動に伴う反力と同等
の補償力を付与することによって、反力による装置の揺
れを軽減している。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
移動装置では、移動装置の揺れを軽減できたとしても、
床に対してもしくは実質的に床と一体とみなせる部材を
介して、ステージを駆動したときの反力が床に伝達され
ていた。移動装置から伝達された反力は、床を振動さ
せ、この振動は移動装置の周辺に設置される装置を振動
させる。このため、従来の移動装置は、移動装置の周辺
に設置される装置に悪影響を及ぼす可能性があった。
【0011】通常、移動装置を設置するエリアの床は、
20〜40Hz程度の固有振動数を持っている。移動装
置の動作に伴って、このような床の固有振動が励起され
ると、周辺の装置へ悪影響が及ぼされる。
【0012】このような悪影響は、床の剛性を上げるな
どの処置により、ある程度振動を抑えることができる。
しかし、この処置を行うために、移動装置を設置する建
物の建築コストがかかっていた。また、例えば、半導体
製造プロセスの場合、ウエハの大口径化に伴ってウエハ
1枚当たりの処理時間がますます短縮されており、ステ
ージ速度は増加傾向をたどっている。これに伴って、ス
テージ駆動時の反力もますます大きくなっている。
【0013】そのため、移動装置を設置する建物で振動
を抑えるのではなく、移動装置から外部へ振動が伝達す
ることなく、高精度な移動を実現できる移動装置が求め
られていた。
【0014】本発明は、上記の問題点に鑑みてなされた
ものであり、例えば、外部へ振動を伝達することなく、
高精度な移動が可能な移動装置及びそれを適用した露光
装置を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の側面は、
可動部と、可動部とともに移動する可動子と、移動可能
な固定子とを有する第1アクチュエータと、固定子を駆
動する第2アクチュエータと、前記第1アクチュエータ
により前記可動部を駆動する際に、前記可動部の移動距
離と前記固定子の移動距離とが所定の関係となるように
第2アクチュエータを制御する制御器とを有することを
特徴とする。
【0016】本発明の好適な実施の形態によれば、前記
制御器は、前記可動部の移動距離と前記固定子の移動距
離とが所定の関係となるようにフィードバック制御によ
り制御する。
【0017】本発明の好適な実施の形態によれば、前記
所定の関係は、複数の固定子ごとに個別に定められてい
る。
【0018】本発明の好適な実施の形態によれば、前記
所定の関係は、前記可動部と前記固定子との質量比に従
って定められている。
【0019】本発明の好適な実施の形態によれば、前記
所定の関係は、前記固定子及び前記可動子の状態量に応
じて動的に変化する関係である。
【0020】本発明の好適な実施の形態によれば、前記
所定の関係は、前記第1アクチュエータの動特性を示す
関数と前記第2アクチュエータの動特性を示す関数との
比で定められている。
【0021】本発明の第2の側面は、上述した移動装置
を有する露光装置に関する。
【0022】本発明の第3の側面は、可動部と、該可動
部とともに移動する可動子及び移動可能な固定子を有す
る第1アクチュエータと、該固定子を駆動する第2アク
チュエータとを有する移動装置の制御方法に係り、前記
可動部を駆動する際に、前記可動部の移動距離と前記固
定子の移動距離とが所定の関係となるように第2アクチ
ュエータを制御することを特徴とする。
【0023】本発明の第4の側面は、上記の露光装置を
用いて基板上に回路を形成することを特徴とする。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
好適な実施の形態としての移動装置及びそれを適用した
露光装置を説明する。ただし、この実施の形態に記載さ
れている具体的事項は、本発明の理解を助けるためのも
のに過ぎず、本発明の範囲をそれらに限定するものでは
ない。なお、図面に記載された同様の部分に対しては、
対応する符号を用いている。
【0025】本発明の好適な実施形態における移動装置
は、移動可能な可動部3と、この可動部3とともに移動
する可動子2、2'と、移動可能な固定子1、1'とを備
える。本発明の好適な本実施形態における移動装置は、
可動部3を駆動する際に、可動部3の移動距離と固定子
1、1'の移動距離とが予め設定した関係となるように
制御する。その結果、本発明の好適な実施形態における
移動装置は、可動子部3を駆動する際に、この移動装置
から外部(例えば、床や他の装置)へ振動が伝達するこ
とがなく、また、可動部3を高精度に移動させることが
できる。[移動装置の構成]本発明の好適な実施形態にお
ける移動装置の構成は、図1及び図2を参照して示され
る。まず、図1を参照しながら、可動体の移動時の反力
を相殺する原理を説明する。図1において、図1(a)
は移動装置の構成を示す平面図であり、図1(b)はそ
の断面図である。図1(a)及び図1(b)に示される
ように、移動装置の基準面である平面ガイド面6が基準
構造体4上に設けられている。この平面ガイド面6に対
して、可動部3が静圧軸受7によって非接触に支持され
ている。可動部3は平面ガイド面6に沿ってY方向に移
動することができる。可動部3の両脇には、それぞれ可
動部3をY方向に駆動するための電磁アクチュエータ
8、8'が設けられている。可動部3は、これらの2組
の電磁アクチュエータ8、8'によって駆動される。電
磁アクチュエータ8、8'は、平面ガイド面6に沿って
移動する可動部3に連結された可動子2、2'と固定子
1、1'とでそれぞれ構成されている。左右の固定子
1、1'は、平面ガイド6に対して、静圧軸受9によっ
て非接触に支持されており、Y方向に移動することがで
きる。また、この固定子1、1'は、所定の質量をも
ち、可動部3の加減速による反力を吸収する機能を持
つ。可動部3上には、例えば天板5が設けられている。
天板5上には被移動物(例えばウエハ)を置くことがで
きる。ここでは、固定子1、1'を永久磁石で構成し、
可動子2、2'をコイルで構成してもよい。また、移動
装置を制御するために、不図示の干渉計が1個または複
数設けられており、基準構造体4を基準として、可動子
2、2'或いは可動部3を位置決めをすることができ
る。同様に、平面内を移動する固定子1、1'の位置決
めするために、不図示の干渉計により固定子1、1'の
位置を計測することができる。
【0026】左右の固定子1、1'は、可動部3(天板
5を含む)及び可動子2、2'を含む可動体300が移
動するときに作用する力の反力を受ける。この反力によ
り、左右の固定子1、1'は、平面ガイド面6に沿って
移動する。左右の固定子1、1'は、平面ガイド面6に
沿って移動することにより、可動体300の駆動に伴う
反力を吸収する働きをしている。例えば、可動部3等を
含む可動体300を+Y方向に駆動すると、左右の固定
子1、1'は−Y方向に反力を受けて−Y方向に移動す
ることにより反力を吸収する。
【0027】過言すると、可動部3を含む可動体300
が移動するときに作用する加減速時の反力を固定子が
1、1'が受けている。反力を受けた固定子1、1'(反
力可動部)が移動することにより、この反力は運動エネ
ルギーに変換される。ここでは、固定子の数が2つであ
るが、固定子の数は、例えば、1つであっても、3つ以
上であってもよい。
【0028】上記の構成によれば、可動体300に作用
する力とその反力が基準構造体4上の平面ガイド面6上
に制限されるため、可動体300に作用する駆動力と固
定子1、1'に作用する反力による装置基準構造体4の
振動を防止することができる。さらに、装置が設置され
たエリアの床や他の装置への振動の伝達もなくすことが
できる。
【0029】また、固定子1、1'の質量を、可動部3
を含む可動体300の質量より十分大きくすることによ
り、固定子1、1'が移動する範囲を小さく制限でき
る。これによって、装置の小型化が実現され、例えば、
半導体工場の床面積を縮小し、半導体工場全体の建設コ
ストを下げることができる。
【0030】次に、本発明の好適な実施の形態としての
移動装置のより具体的な構成を説明する。図2は、本発
明の好適な実施形態における移動装置の構成を示す図で
ある。図2に示すように、移動装置の基準面である平面
ガイド面6が基準構造体4上に設けられている。この平
面ガイド面6に対して、可動部3(不図示)が静圧軸受
7によって非接触に支持されており、XY方向に移動す
ることができる。可動部3上には天板5(X−Yステー
ジ)が取り付けられている。可動部3の両脇には、可動
部3をY方向の長ストロークおよびX方向の短ストロー
クに駆動するための電磁アクチュエータ8、8'が設け
られている。電磁アクチュエータ8、8'は、それぞれ
左右に互いに分離・独立した可動子2、2'と固定子
1、1'とを有する。左右の可動子2、2'には、それぞ
れ左右2個の可動部Yマグネット10と、左右2個の可
動部Xマグネット11とが取り付けられている。左右の
固定子1、1'は、平面ガイド面6に対して、静圧軸受
9によって非接触に支持されており、XY方向(平面方
向)に移動することができる。また、固定子1、1'は
所定の質量を持ち、可動部3及び可動子2、2'を含む
可動体300の加減速に伴う反力を、固定子1、1'が
移動することにより吸収している。また、左右の固定子
1、1'の内部には、X軸リニアモータ単相コイル12
と、Y方向に複数のコイルを並べたY軸リニアモータ多
相コイル13とが配置され、これらを切り替えてX軸及
びY軸の移動を行う。
【0031】天板5(X−Yステージ)の位置は、レー
ザヘッド16、Y軸計測用ミラー17、X軸計測用バー
ミラー18、左右2個のY軸計測用ディテクタ19、前
後2個のX軸計測用ディテクタ20等から構成されるレ
ーザ干渉計によって計測される。具体的には、天板5の
X軸方向の位置は、天板5に塔載された光学素子22、
22'にY方向からレーザ光が照射され、その計測光が
X軸方向に反射または偏光されてX軸計測用バーミラー
18に照射され、X軸計測用ディテクタ20で計測され
る。また、天板5のY軸方向の位置は、Y方向からレー
ザ光がY軸計測用バーミラー17に照射されてX軸計測
用ディテクタ19で計測される。固定子1、1'のY軸
方向の位置は、左右2つの固定子Y軸計測用ディテクタ
21で計測される。
【0032】天板5(X−Yステージ)に原版(レチク
ル)又は基板(ウエハ)が載置された可動部3は、可動
子2、2'と左右の固定子1、1'とでそれぞれ構成され
る電磁アクチュエータ8、8'によってXY方向に移動
する。左右の固定子1、1'は、この可動部3及び可動
子2、2'を含む可動体300に作用する力の反力を受
ける。この反力により左右の固定子1、1'は平面ガイ
ド面6上を移動する。左右の固定子1、1'が平面ガイ
ド面6上を移動することにより、左右の固定子1、1'
が反力を吸収する。本実施形態では、例えば、可動部3
を含む可動体300が+Y方向に移動すると、左右の固
定子1、1'は−Y方向に反力を受けて−Y方向に移動
する。反力を吸収することによる効果は、前述の通りで
ある。
【0033】さらに、本実施形態では、固定子1、1'
をY軸方向へ駆動するアクチュエータとして、左右2個
のY軸位置制御用リニアモータ14、14'が基準構造
体4に設けられている。同様に、固定子1、1'をX軸
方向へ駆動できる左右前後4個のX軸位置制御用リニア
モータ15、15'が基準構造体4に設けられている。
【0034】天板5を搭載した可動部3が、可動子2、
2'と左右の固定子1、1'とからなる電磁アクチュエー
タ8、8'によってY方向に駆動される場合を考える。
この場合、Y軸計測用ディテクタ19により計測された
可動部3の位置情報を用いて、可動子2、2'と左右の
固定子1、1'からなる電磁アクチュエータ8、8'をフ
ィードバック制御することによって、可動部3を位置決
めすることができる。
【0035】具体的には、制御器40は、Y軸計測用デ
ィテクタ19による計測結果(Y方向の実際の位置)に
基づいて、可動部3が目標位置に到達するように、電磁
アクチュエータ8、8'を制御する。また、制御器40
は、可動部3を含む可動体300を移動させるときに、
固定子1、1'が受ける反力を吸収するために、可動部
3の目標位置に基づいて、Y軸位置制御用リニアモータ
14、14'を制御する。このフィードバック制御につ
いて、図3を用いて更に詳細に説明する。
【0036】図3は、本発明の好適な実施形態における
移動装置の可動部でのフィードバック制御系を示すブロ
ック図である。図3において、P1(s)は可動子2、
2'と左右の固定子1、1'とからなる電磁アクチュエー
タ8、8'の動特性を表す。P2(s)はリニアモータ
14、14'と左右の固定子1、1'とからなる系の動特
性を表す。P1(s)及びP2(s)は計測位置Y1、
Y2を出力する。ここで、Y1はY軸計測用ディテクタ
19により計測された可動部3の計測位置を表す。Y2
はY軸計測用ディテクタ21、21'により計測された
固定子1、1'の計測位置を表す。
【0037】このフィードバック制御系は、図2の制御
器40によって制御されている。制御器40は、典型的
には、操作量を与える補償器C1(s)を含む。補償器
C1(s)は、可動部3をその目標値R1に従って所定
の位置へと駆動するための操作量をP1(s)に与える
機能を持つ。図3では、P1(s)への操作量がP2
(s)へも入力されているが、これは、電磁アクチュエ
ータ8、8'に発生させる操作量が可動部3の反力に相
当することに基づいている。
【0038】ここで、P2(s)が完全な線形要素であ
れば、Y1とY2は常に作用・反作用の法則で拘束され
るので、可動子2、2'を駆動したときの反力は、固定
子1、1'が移動することによって効果的に吸収され
る。
【0039】しかしながら、実際には、例えば、平面ガ
イド面6に対して構成された静圧軸受9の持つ非線型成
分や、固定子1、1'に対する不図示の配線あるいは配
管の実装などの影響により、P2(s)が完全な線形要
素でない場合がある。外乱が発生した場合も同様に考え
られる。このような場合は、固定子1、1'が移動する
ことによる反力の吸収効果が低減する。
【0040】そこで、以下に示す本発明のより好適な実
施形態では、補償器C2(s)を更に設け、固定子1、
1'の計測位置Y2を用いて、固定子1、1'の位置を制
御するフィードバック制御系を構成する。
【0041】図4は、本発明のより好適な実施形態にお
ける移動装置における固定子1、1'のフィードバック
制御系を示すブロック図である。
【0042】このフィードバック制御系では、固定子
1、1'の計測位置Y2をフィードバック信号とする補
償器C2(s)が更に設けられている。また、固定子
1、1'の位置を制御するフィードバック制御系の目標
位置を与えるためにC3(s)が設けられている。
【0043】このフィードバック制御系では、可動部3
の移動距離と固定子1、1'の移動距離との比が所定値
となるように可動部3及び固定子1、1'を制御してい
る。これによって、可動部3が移動するときに生じる反
力を固定子1、1'が移動することによって、より効果
的に吸収することができる。
【0044】なお、補償器C1(s)は、可動部3の位
置精度を決定するものであり、露光精度を左右する。よ
って、C1(s)はできるだけ広帯域のものであること
が望ましい。一方、補償器C2(s)は、反力を吸収す
る固定子1、1'の位置精度を決定するものである。よ
って、必ずしも広帯域のものである必要はない。C2
(s)の制御帯域はC1(s)の制御帯域と同一か、C
1(s)の制御帯域よりも狭い制御帯域で十分である。
【0045】2つのフィードバック制御系を用いて、Y
1およびY2が高精度に制御される場合、C3(s)は
以下のように設定することができる。
【0046】C3(s)= P2(s)/P1(s) これによって、可動部3の移動距離と固定子1、1'の
移動距離との比が、可動子2、2'と左右の固定子1、
1'からなる電磁アクチュエータ8、8'の動特性と、リ
ニアモータ14、14'と左右の固定子1、1'からなる
系の動特性との比となるように、電磁アクチュエータ
8、8'及びリニアモータ14、14'を制御することが
できる。この場合、P2(s)への操作量はほぼゼロと
なることがわかる。これは、可動部3を駆動するときの
反力が効率よく吸収されていることを意味する。
【0047】通常、電磁アクチュエータ8、8'は、P
1(s)あるいはP2(s)が2重積分器のように構成
される。また、そのゲインは質量の逆数で表されること
から、最も単純なC3(s)は、可動部3と固定子1、
1'との質量比で表現されることが分かる。固定子1、
1'の制御系への目標位置を、可動部3の目標位置R1
に、可動部3と固定子1、1'との質量比を乗じた値と
すれば、反力を効果的に吸収することができる。
【0048】しかし、制御目的によっては、一般には、
動特性を具備したC3(s)を乗ずる構成をとることも
できる。例えば、固定子1、1'を制御するアクチュエ
ータの操作量ができるだけ小さくなるように、可動部3
と固定子1、1'との質量比とは異なる値をC3(s)
のゲインとして設定することができる。これによって、
基準構造体4を支持するY軸位置制御用リニアモータ1
4、14'で発生する力を小さくすることができ、結果
として、基準構造体4に与える力を小さくすることがで
きる。基準構造体4へ力が加わると、基準構造体4が変
形する可能性があるので、そのような力を小さくするこ
とが重要である。
【0049】このように基準構造体4に加わる力が小さ
くなるように決定されたC3(s)と、可動部3と固定
子1、1'との質量比で決定されたC3(s)との中庸
の値を設定すれば、両者のトレードオフを考慮したより
精密な制御系を実現することができる。
【0050】さらに、図2に示したような固定子1、
1'を2つ独立に配置した系において、2つの固定子の
質量や特性に差がある場合は、C3(s)を2つの固定
子1、1'に対して独立に設定することにより、前述と
同様又はそれ以上の効果を得ることができる。
【0051】図5は、本発明の好適な実施形態における
移動装置における2つの固定子を独立に制御するフィー
ドバック制御系を示すブロック図である。
【0052】図5において、2つの固定子1、1'の特
性P21(s)、P22(s)、これらの固定子を制御する
ための補償器の特性C21(s)、C22(s)、可動部の
目標位置R1に乗じて各固定子1、1'の目標値を設定
するための特性C31(s)、C32(s) がそれぞれ示
されている。このフィードバック制御系の動作原理は、
図4のフィードバック制御系の動作原理と同様である。
このように、フィードバック系を固定子1、1'ごとに
設定することによって、それぞれの固定子1、1'を独
立に制御することができる。
【0053】また、可動部3および固定子1、1'の状
態量(位置)に基づいて、C3(s)を変化させること
も可能である。この場合は、制御目的に応じてC3
(s)を設定すればよい。
【0054】さらに、固定子が3つ以上である場合も同
様にして、C3(s)を3つ以上の固定子ごとに独立し
てフィードバック制御系を設定することができる。
【0055】以上のように、上記のフィードバック制御
系を用いることにより、P2(s)が完全な線形要素で
ない場合でも、反力を効果的に吸収することができる。
また、固定子が複数ある場合でも、フィードバック制御
系を複数の固定子ごとに独立に設定することによって、
反力を効果的に吸収することができる。
【0056】次に、図6を参照しながら本発明の移動装
置(6軸可動ステージ)の他の好適な実施の形態を説明
する。
【0057】図6(a)及び図6(b)において、天板
5には、ウエハチャック30と位置計測用のバーミラー
60、61が設けられている。ウエハチャック30は、
位置決め対象物であるウエハ31を真空吸着して保持す
る。バーミラー60、61は、不図示のレーザ干渉計か
らの計測光を反射する。天板5は、XYスライダー38
に対して、磁石を利用した自重補償部(不図示)によっ
て非接触で浮上し、6軸方向に自由度をもっている。ま
た、天板5は、天板5とXYスライダー38との間で駆
動力を発生するアクチュエータによって、6軸方向(X
YZ方向およびこの軸回り方向)に微小駆動される。6
軸微動用のアクチュエータとしては、X方向に2個、Y
方向に1個、Z方向に3個のリニアモータが設けられて
いる。2つのX方向微動リニアモータを逆方向に駆動す
れば、Z軸回り(θ方向)に天板を駆動することがで
き、3つのZ方向微動リニアモータのそれぞれの駆動力
を調整することで、X軸回り(ωX方向)及びY軸回り
(ωY方向)に天板5を駆動することができる。また、
微動用リニアモータの固定子となるコイルはXYスライ
ダー38側に設けられ、微動用リニアモータの可動子と
なる永久磁石は天板側に設けられる。
【0058】XYスライダー38は、エアーベアリング
(静圧軸受)35により、Xガイドバー28とYガイド
バー29にガイドされている。また、XYスライダー3
8は、Z方向に関して、エアーベアリング(静圧軸受)
35により基準構造体4上面にガイドされている。
【0059】Xガイドバー28とYガイドバー29の両
端部付近にはリニアモータの可動子(マグネット)2
6、27が取り付けられていて、XY各2個のリニアモ
ータ固定子(コイル)24、25に電流を流すことによ
りローレンツ力を発生させ、Xガイドバー28をY方向
に、Yガイドバー29をX方向に駆動できる構成になっ
ている。XY各2個のリニアモータ固定子(コイル)2
4、25は、Z方向にエアーベアリング(静圧軸受)3
4により基準構造体4上面にガイドされていて、XY方
向(平面方向)に自由度を持っている。
【0060】XYスライダー38のX方向に関する移動
について説明する。前記ローレンツ力によりYガイドバ
ー29をX方向に駆動すると、静圧軸受35を介してX
Yスライダー38にX方向の力が加わる。ここで、XY
スライダー38とYガイドバー29を以下X可動部とい
う。X可動部を加減速させると、Xリニアモータ固定子
25にその反力が働く。Xリニアモータ固定子25は、
静圧軸受34によってXY方向に移動可能に支持されて
いるため、この反力によって、Xリニアモータ固定子2
5はX方向に移動する。その移動時の加速度と速度は、
Xリニアモータ固定子25の質量とX可動部の質量比に
より決まる。例えば、Xリニアモータ固定子25の質量
を200kg/個、X可動部の質量40kgとすると質
量比は10:1になるので、Xリニアモータ固定子21
の加速度、速度とも理想的にはX可動部の1/10にな
る。このようにして、Xリニアモータ固定子25がX方
向に移動することにより、基準構造体4には理想的には
Xリニアモータ固定子25にかかるX方向の反力がかか
らない。
【0061】しかしながら、前述のようにXリニアモー
タ固定子25が移動する際に抵抗や摩擦等が生じ、Xリ
ニアモータ固定子25は、意図した通りに移動するとは
限らない。
【0062】そこで、Xリニアモータ固定子25は、基
準構造体4に対して相対的に駆動するために、リニアモ
ータ固定子位置制御用リニアモータ33が少なくともX
方向について2個、Y方向について1個設けられてい
る。リニアモータ固定子位置制御用リニアモータ33
は、Xリニアモータ固定子25の移動距離とX可動部の
移動距離との比が所定値となるよう駆動する。
【0063】すなわち、この移動装置では、Xリニアモ
ータ固定子25とX可動部とは、図4、5等を参照して
説明したフィードバック制御系を用いて、Xリニアモー
タ固定子25の移動距離とX可動部の移動距離との比が
所定値となるように精密制御される。
【0064】また、X可動部重心とXリニアモータ可動
子の力の発生点のZ方向高さを同一にすることにより、
ωY方向のモーメント力の発生を押さえることができる
ので、基準構造体4に駆動反力が入らなくできる。同様
に、Xリニアモータ可動子22の力の発生点と、Xリニ
アモータ固定子25の重心のZ方向高さを同一にするこ
とにより、ωY方向のモーメント力の発生を押さえるこ
とができる。
【0065】上記のX方向についての説明はY方向につ
いても同様に当てはまる。
【0066】本実施形態によれば、XYスライダーがX
Y方向に移動可能であるため、XYスライダーの位置に
応じてリニアモータが出力する駆動力が異なる。例え
ば、図6(a)においてXYスライダー38が+Y方向
に移動した後+X方向に移動するとき、XYスライダー
38を+X方向に移動する際にはXYスライダー38が
+Y方向に寄っているため、図面上側のXリニアモータ
25が出力する駆動力の方が、図面下側のXリニアモー
タ25が出力する駆動力よりも大きい。このような場合
に両Xリニアモータの出力する駆動力が同じであれば、
XYスライダー38がθ方向にモーメントを受けるため
である。もし仮に、各固定子を一体的に連結した場合、
XYスライダーの位置によっては駆動反力を打ち消す際
にθ方向のモーメントがかかることになる。本実施形態
では、このようにリニアモータが出力する駆動力が異な
る場合でも、リニアモータ固定子が独立して基準構造体
4にXY方向に移動可能に支持されているので、それぞ
れの固定子が独立して駆動反力を打ち消すことができ
る。本実施形態においても、前述のフィードバック制御
系を用いて、Xリニアモータ固定子25の移動距離とX
可動部の移動距離との比が所定値となるように精密制御
することによって、反力による振動の発生を抑えること
ができる。
【0067】以上述べたように、本発明の好適な実施形
態によれば、可動部の移動時(加減速時)の反力を固定
子が受け、反力を受けて移動することにより、反力が固
定子の運動エネルギーに変換・吸収される。そして、可
動部の移動距離と固定子の移動距離とが予め設定した関
係となるように制御することにより、可動体の駆動時の
反力によって装置の基準構造体が加振されることを効果
的に防止することができる。
【0068】また、左右2つの固定子(反力可動部)が
可動体の加速度に応じて装置の基準構造体上を移動する
ので、移動体が移動する時の偏荷重を小さくできる。
【0069】上記ステージを有する本発明の露光装置に
よれば、第1に、ステージの移動に伴う振動や揺れの影
響を軽減することで、オーバーレイ精度、線幅精度、ス
ループットの向上等、従来以上の高精度を達成すること
ができる。また、移動体が移動する時の偏荷重を小さく
できることにより、オーバーレイ精度の向上が図れる。
更に、ステージの加減速に伴う反力が床に及ぼす影響を
小さくすることで、同一床に設置されている他の装置に
与える影響を小さくすることができるとともに、床への
設置面積の増大を防ぎ、設置床の剛性などの制限を緩和
することができるなどの効果が得られる。
【0070】次に、本発明の移動装置を半導体デバイス
の製造プロセスで用いられる露光装置に適用した場合の
実施の形態について説明する。
【0071】図7は、本発明の移動装置を半導体デバイ
スの製造プロセスに適用した場合に用いられる露光装置
の概念図を示したものである。
【0072】本発明の好適な実施形態における露光装置
50は、照明光学系51、レチクル52、投影光学系5
3、基板54、移動装置55で構成される。照明光学系
51は、例えば、エキシマレーザ、フッ素エキシマレー
ザなどを光源とした紫外光を露光光として用いることが
できる。照明光学系51からの光は、レチクル52に照
射される。レチクル52を通った光は、投影光学系53
を通して、基板54上に焦点を結び、基板54表面に塗
布された感光材を露光する。基板54は、図1及び図2
の天板5上に置かれ、本発明の移動装置55を用いて所
定の位置へ移動する。
【0073】図8は、上記の露光装置を用いた半導体デ
バイスの全体的な製造プロセスのフローである。ステッ
プ1(回路設計)では半導体デバイスの回路設計を行
う。ステップ2(マスク作製)では設計した回路パター
ンに基づいてマスクを作製する。一方、ステップ3(ウ
エハ製造)ではシリコン等の材料を用いてウエハを製造
する。ステップ4(ウエハプロセス)は前工程と呼ば
れ、上記のマスクとウエハを用いて、リソグラフィ技術
によってウエハ上に実際の回路を形成する。次のステッ
プ5(組み立て)は後工程と呼ばれ、ステップ4によっ
て作製されたウエハを用いて半導体チップ化する工程で
あり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディン
グ)、パッケージング工程(チップ封入)等の組立て工
程を含む。ステップ6(検査)ではステップ5で作製さ
れた半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テスト等
の検査を行う。こうした工程を経て半導体デバイスが完
成し、これを出荷(ステップ7)する。
【0074】図9は、上記ウエハプロセスの詳細なフロ
ーを示す。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸
化させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶
縁膜を成膜する。ステップ13(電極形成)ではウエハ
上に電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオ
ン打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ1
5(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ス
テップ16(露光)では上記の露光装置を用いてウエハ
を精密に移動させ、回路パターンをウエハに転写する。
ステップ17(現像)では露光したウエハを現像する。
ステップ18(エッチング)では現像したレジスト像以
外の部分を削り取る。ステップ19(レジスト剥離)で
はエッチングが済んで不要となったレジストを取り除
く。これらのステップを繰り返し行うことによって、ウ
エハ上に多重に回路パターンを形成する。
【0075】上記のプロセスを用いることにより、露光
工程においてウエハを精密に移動させ、回路パターンを
ウエハに転写することができる。また、露光工程におい
て他の装置へ振動が伝達することなくウエハを露光する
ことができる。
【0076】
【発明の効果】本発明によれば、例えば、外部へ振動が
伝達することなく、高精度な移動が可能な移動装置及び
それを適用した露光装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 移動装置の概略図である。
【図2】 本発明の好適な実施形態における移動装置の
駆動を説明するための概略図である。
【図3】 本発明の好適な実施形態における移動装置の
フィードバック制御系を示すブロック図である。
【図4】 本発明のさらに好適な実施形態における移動
装置のフィードバック制御系を示すブロック図である。
【図5】 本発明のさらに好適な実施形態における移動
装置のフィードバック制御系を示すブロック図である。
【図6】 本発明の他の好適な実施形態における移動装
置を示す図である。
【図7】 本発明の移動装置を半導体デバイスの製造プ
ロセスに適用した場合に用いられる露光装置の概念図で
ある。
【図8】 半導体デバイスの全体的な製造プロセスのフ
ローを示す図である。
【図9】 ウエハプロセスの詳細なフローを示す図であ
る。
【符号の説明】
1、1':固定子、2、2':可動子、3:可動部、4:
基準構造体、5:天板、6:平面ガイド面、7:静圧軸
受、8、8':電磁アクチュエータ、9:静圧軸受、1
0:可動部Yマグネット、11:可動部Xマグネット、
12:X軸リニアモータ単相コイル、13:Y軸リニア
モータ多相コイル、14、14':Y軸位置制御用リニ
アモータ、15:X軸位置制御用リニアモータ、16:
レーザヘッド、17:Y軸計測用ミラー、18:X軸計
測用バーミラー、19:Y軸計測用ディテクタ、20:
X軸計測用ディテクタ、21:固定子Y軸計測用ディテ
クタ、22、22':光学素子、24:リニアモータ固
定子(コイル)、25:リニアモータ固定子(コイ
ル)、26:リニアモータの可動子(マグネット)、2
7:リニアモータの可動子(マグネット)、28:Xガ
イドバー、29:Yガイドバー、30:θ、Z軸チルト
ステージ、31:ウエハチャック、32:リニアモータ
固定子位置制御用リニアモータ(Y軸)、33:リニア
モータ固定子位置制御用リニアモータ(X軸)、34:
エアーベアリング(静圧軸受)、35:エアーベアリン
グ、36:リニアモータ、37:リニアモータ、38:
XYスライダー、40:制御器、50:露光装置、5
1:照明光学系、52:レチクル、53:投影光学系、
54:基板、55:移動装置、60、61:バーミラ
ー、300:可動体

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 可動部と、 前記可動部とともに移動する可動子と、移動可能な固定
    子とを有する第1アクチュエータと、 前記固定子を駆動する第2アクチュエータと、 前記第1アクチュエータにより前記可動部を駆動する際
    に、前記可動部の移動距離と前記固定子の移動距離とが
    所定の関係となるように第2アクチュエータを制御する
    制御器と、を有することを特徴とする移動装置。
  2. 【請求項2】 前記制御器は、前記可動部の移動距離と
    前記固定子の移動距離とが所定の関係となるようにフィ
    ードバック制御により制御することを特徴とする請求項
    1に記載の移動装置。
  3. 【請求項3】 前記所定の関係は、複数の固定子ごとに
    個別に定められていることを特徴とする請求項1または
    請求項2に記載の移動装置。
  4. 【請求項4】 前記所定の関係は、前記可動部と前記固
    定子との質量比に従って定められていることを特徴とす
    る請求項1または請求項2に記載の移動装置。
  5. 【請求項5】 前記所定の関係は、前記固定子及び前記
    可動子の状態量に応じて動的に変化する関係であること
    を特徴とする請求項1または請求項2に記載の移動装
    置。
  6. 【請求項6】 前記所定の関係は、前記第1アクチュエ
    ータの動特性を示す関数と前記第2アクチュエータの動
    特性を示す関数との比で定められていることを特徴とす
    る請求項1または請求項2に記載の移動装置。
  7. 【請求項7】 請求項1乃至請求項6のいずれか1項に
    記載の移動装置を備えることを特徴とする露光装置。
  8. 【請求項8】 可動部と、該可動部とともに移動する可
    動子及び移動可能な固定子を有する第1アクチュエータ
    と、該固定子を駆動する第2アクチュエータとを有する
    移動装置の制御方法であって、 前記可動部を駆動する際に、前記可動部の移動距離と前
    記固定子の移動距離とが所定の関係となるように第2ア
    クチュエータを制御することを特徴とする移動装置の制
    御方法。
  9. 【請求項9】 請求項7に記載の露光装置を用いて基板
    上に回路を形成することを特徴とする半導体デバイスの
    製造方法。
JP2002007981A 2002-01-16 2002-01-16 移動装置及び露光装置並びに半導体デバイスの製造方法 Expired - Fee Related JP4011919B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002007981A JP4011919B2 (ja) 2002-01-16 2002-01-16 移動装置及び露光装置並びに半導体デバイスの製造方法
US10/340,684 US20030139044A1 (en) 2002-01-16 2003-01-13 Moving apparatus and control method therefor, and device manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002007981A JP4011919B2 (ja) 2002-01-16 2002-01-16 移動装置及び露光装置並びに半導体デバイスの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003209047A true JP2003209047A (ja) 2003-07-25
JP4011919B2 JP4011919B2 (ja) 2007-11-21

Family

ID=19191373

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002007981A Expired - Fee Related JP4011919B2 (ja) 2002-01-16 2002-01-16 移動装置及び露光装置並びに半導体デバイスの製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20030139044A1 (ja)
JP (1) JP4011919B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005203567A (ja) * 2004-01-15 2005-07-28 Canon Inc 駆動装置、露光装置及びデバイス製造方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3919592B2 (ja) * 2002-04-24 2007-05-30 キヤノン株式会社 ステージ装置及びその制御方法並びに露光装置
WO2013057779A1 (ja) * 2011-10-17 2013-04-25 トヨタ自動車株式会社 ハイブリッド車両の制御装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL9100407A (nl) * 1991-03-07 1992-10-01 Philips Nv Optisch lithografische inrichting met een krachtgecompenseerd machinegestel.
JP2714502B2 (ja) * 1991-09-18 1998-02-16 キヤノン株式会社 移動ステージ装置
US5684856A (en) * 1991-09-18 1997-11-04 Canon Kabushiki Kaisha Stage device and pattern transfer system using the same
US5528118A (en) * 1994-04-01 1996-06-18 Nikon Precision, Inc. Guideless stage with isolated reaction stage
US6246204B1 (en) * 1994-06-27 2001-06-12 Nikon Corporation Electromagnetic alignment and scanning apparatus
JP3659529B2 (ja) * 1996-06-06 2005-06-15 キヤノン株式会社 露光装置およびデバイス製造方法
KR100521704B1 (ko) * 1997-09-19 2005-10-14 가부시키가이샤 니콘 스테이지장치, 주사형 노광장치 및 방법, 그리고 이것으로제조된 디바이스
US20010003028A1 (en) * 1997-09-19 2001-06-07 Nikon Corporation Scanning Exposure Method
JP2000049066A (ja) * 1998-07-27 2000-02-18 Canon Inc 露光装置およびデバイス製造方法
JP3595708B2 (ja) * 1998-10-30 2004-12-02 キヤノン株式会社 露光装置、デバイス製造方法および制御方法
JP2000164506A (ja) * 1998-11-27 2000-06-16 Canon Inc 露光方法および装置
TW546551B (en) * 1999-12-21 2003-08-11 Asml Netherlands Bv Balanced positioning system for use in lithographic apparatus
DE60136667D1 (de) * 2000-02-21 2009-01-08 Sharp Kk Präzisionsträgerplatte
JP4474020B2 (ja) * 2000-06-23 2010-06-02 キヤノン株式会社 移動装置及び露光装置
US6573976B2 (en) * 2000-10-04 2003-06-03 Canon Kabushiki Kaisha Exposure apparatus, exposure method, and semiconductor device manufacturing method
US6885430B2 (en) * 2000-11-16 2005-04-26 Nikon Corporation System and method for resetting a reaction mass assembly of a stage assembly
US6927505B2 (en) * 2001-12-19 2005-08-09 Nikon Corporation Following stage planar motor
WO2004008611A1 (ja) * 2002-07-10 2004-01-22 Nikon Corporation モータ、ロボット、基板ローダ及び露光装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005203567A (ja) * 2004-01-15 2005-07-28 Canon Inc 駆動装置、露光装置及びデバイス製造方法
US7795833B2 (en) 2004-01-15 2010-09-14 Canon Kabushiki Kaisha Driving apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Also Published As

Publication number Publication date
US20030139044A1 (en) 2003-07-24
JP4011919B2 (ja) 2007-11-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6359679B1 (en) Positioning device, exposure device, and device manufacturing method
JP3554186B2 (ja) 露光装置、デバイス製造方法および反力受け方法
US6654098B2 (en) Stage apparatus, exposure apparatus, and device production method
US20060232142A1 (en) Split Coil Linear Motor for Z Force
US6987558B2 (en) Reaction mass for a stage device
WO2001027978A1 (fr) Substrat, dispositif a etage, procede d'attaque d'etage, systeme d'exposition et procede d'exposition
US7586218B2 (en) Moving apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
JPH11189332A (ja) ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法
JP2005203567A (ja) 駆動装置、露光装置及びデバイス製造方法
JP3679776B2 (ja) 駆動装置、露光装置及びデバイス製造方法
HK1220808A1 (zh) 移动体装置和曝光装置以及器件制造方法
JP2002198285A (ja) ステージ装置およびその制振方法並びに露光装置
JP2000216082A (ja) ステ―ジ装置および露光装置
JP4011919B2 (ja) 移動装置及び露光装置並びに半導体デバイスの製造方法
JP2004111653A (ja) 位置決め装置及びそれを適用した露光装置並びに半導体デバイスの製造方法
JP2002175963A (ja) ステージ装置とその位置制御方法および露光装置並びに露光方法
JPH11297613A (ja) ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法
JP2004152902A (ja) 位置決め装置
JP2002198286A (ja) 露光装置
JP2002151379A (ja) ステージ装置および露光装置
JPH11316607A (ja) ステージ装置、露光装置およびデバイス製造方法
JP2001148336A (ja) テーブル駆動装置、露光装置およびデバイス製造方法
JPH11297616A (ja) ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法
JP2001217172A (ja) ステージ装置及び露光装置
JP2001015579A (ja) ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040611

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050715

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050722

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050920

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070319

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070517

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070611

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070809

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070831

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070906

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100914

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100914

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110914

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110914

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120914

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120914

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130914

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees