[go: up one dir, main page]

JPH11297616A - ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法 - Google Patents

ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法

Info

Publication number
JPH11297616A
JPH11297616A JP10114219A JP11421998A JPH11297616A JP H11297616 A JPH11297616 A JP H11297616A JP 10114219 A JP10114219 A JP 10114219A JP 11421998 A JP11421998 A JP 11421998A JP H11297616 A JPH11297616 A JP H11297616A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
counter mass
actuator
linear motor
stage device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP10114219A
Other languages
English (en)
Inventor
Shin Matsui
紳 松井
Eiji Osanai
英司 小山内
Shinji Oishi
伸司 大石
Tadayuki Kubo
忠之 久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP10114219A priority Critical patent/JPH11297616A/ja
Priority to US09/187,408 priority patent/US6408045B1/en
Priority to EP98309167A priority patent/EP0917004A3/en
Priority to KR1019980048200A priority patent/KR100278263B1/ko
Publication of JPH11297616A publication Critical patent/JPH11297616A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Machine Tool Units (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Drilling And Boring (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 縦型ステージの動特性を改善する。 【解決手段】 Yリニアモータ40によってY軸方向
(鉛直方向)に駆動されるYステージ20は、ベルト6
2によって自重補償用のカウンターマス61に連結さ
れ、Yステージ20とベルト62の間は、空気圧を制御
できるベロフラムやエアーシリンダ等のアクチュエータ
70を介して結合されている。Xステージ30の位置情
報に基づいてアクチュエータ70を制御することで回転
モーメントを補正し、Yガイド11にかかる負荷を低減
する。定盤10の裏側には、カウンターマス61をYリ
ニアモータ40と逆向きに加速するリニアモータが設け
られており、これによってカウンターマス61の固有振
動を除去して、アクチュエータ70とともに除振効果を
高める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体デバイス等
を製造するためのリソグラフィ工程で使用する露光装置
や各種精密加工機あるいは各種精密測定器等に搭載され
るステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデ
バイス製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体デバイス等の製造に用いら
れる露光装置として一般的にステッパと呼ばれる装置が
知られている。これは、レチクルやマスク等原版のパタ
ーンをウエハ等基板に投影する投影光学系に対して、基
板を2次元的にステップ移動させ、一枚の基板に原版の
パターン複数個分を焼き付けるものである。
【0003】ステッパの投影光学系に対してウエハ等基
板をステップ移動させて位置決めするステージ装置は、
半導体デバイス等の高集積化に伴なってより高精度のも
のが要求される。
【0004】また、近年では、1枚のウエハから得られ
るデバイス製品の数すなわち取り個数を増大させるため
にウエハが大型化する傾向にあり、これに伴なってステ
ッパ等のステージ装置は大型化かつ高重量化する。この
ような状態で必要な精度を得るにはステージの動特性を
より一層向上させなければならず、ガイド等の剛性強化
が望まれるが、このためにステージ全体がさらに高重量
化する結果となる。
【0005】加えて、半導体デバイス等の低価格化のた
めに露光サイクルタイムを短縮してスループットを向上
させることが要求されており、ウエハ等を移動させるス
テージも高速駆動することが望まれる。ところが、大型
でしかも高重量なステージを高速化するには、ステージ
を支える構造体の剛性をより一層強化しなければなら
ず、このために装置全体が著しく大型化かつ高重量化
し、コスト高になるおそれがある。
【0006】他方、最近開発の進んでいる軟X線(荷電
粒子蓄積リング放射光)等を露光光とするX線露光装置
では、ウエハ等基板を垂直に保持し、鉛直またはこれに
近似する基準面内で2次元的にステップ移動させる縦型
ステージが用いられる。このような縦型ステージにおい
ては、上記の大型化や高速化等に伴なう問題に加えて、
ステージを重力方向に移動させるものであるためにステ
ージの自重補償を行なうカウンターマス機構等を必要と
するが、カウンターマス等に振動が発生すればウエハ等
の位置決め精度を劣化させる外乱となり、ステージの動
特性等も著しく劣化する。
【0007】図15および図16は一従来例による縦型
ステージを示すものでこれは、台板1110a上に立設
された定盤1110に沿ってY軸方向(鉛直方向)に往
復移動自在であるYステージ1120と、Yステージ1
120上をX軸方向に往復移動自在であるXステージ1
130と、Yステージ1120をY軸方向に移動させる
シリンダ1140と、Xステージ1130をX軸方向に
移動させる図示しないリニアモータ等を有するXYステ
ージである。
【0008】定盤1110は、Yステージ1120の裏
面をエアパッド等を介して非接触で支持するガイド面を
有する。また、定盤1110の一端には、Yステージ1
120をY軸方向に案内するための図示しないYガイド
(ヨーガイド)が設けられ、このYガイドとYステージ
1120の間も、エアパッド等によって非接触に保たれ
る。
【0009】Yステージ1120とXステージ1130
およびこれに保持された図示しないウエハ等の重さを相
殺(キャンセル)する自重補償機構1160は、一端に
Yステージ1120、他端にカウンターマス1161を
吊り下げるベルト1162と、これを巻回支持する滑車
1163を有し、カウンターマス1161の重量は、Y
ステージ1120およびXステージ1130とこれに保
持されたウエハ等を含むステージ可動部の重量にバラン
スするように設定されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の技術によれば、Yステージ上でXステージがX軸方向
に移動すると、YステージとXステージを含むステージ
可動部の重心位置が変わるため、Z軸のまわり(ωZ軸
方向)の回転モーメントの釣り合いバランスが変化す
る。ところが、カウンターマスのみではこのモーメント
を支えきれず、YステージのYガイド(ヨーガイド)に
過大な負荷がかかる。
【0011】このような大きな負荷を支えるためにはY
ガイドの剛性を増大させる必要があるが、Yガイドの剛
性強化にはYガイド等の大型化を伴なうため、ステージ
全体が大型化、高重量化し、ステージの動特性も悪化す
る。その結果、位置決めの高精度化や高速化が妨げられ
るという未解決の課題がある。
【0012】また、ステージとカウンターマスを連結す
るベルトには一般的にスチールベルトやワイヤー等が用
いられるが、ステージを移動させるときにスチールベル
ト等の剛性不足に起因する数十Hzの固有振動を発生す
る。加えてカウンターマス自体がもつ例えば50Hz以
上の固有振動がベルトを介して表側のステージに伝播す
る。これらの振動は、ステージの位置決め精度を著しく
悪化させ、位置決め制御系の周波数応答特性を向上させ
る際の大きな障害となる。
【0013】本発明は上記従来の技術の有する未解決の
課題に鑑みてなされたものであり、カウンターマス等の
自重補償機構を備えた縦型ステージの動特性を改善し、
装置の大型化等を招くことなく位置決めの高速化や高精
度化を大幅に促進できる高性能なステージ装置およびこ
れを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法を提供す
ることを目的とするものである。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のステージ装置は、基準面に沿って2次元
的に移動自在であるワークステージと、該ワークステー
ジを鉛直またはこれに近似する第1の方向に移動させる
第1の駆動手段と、前記ワークステージを第2の方向に
移動させる第2の駆動手段と、前記ワークステージの重
さにバランスするカウンターマスと、該カウンターマス
を前記ワークステージに連結する連結部材と、前記カウ
ンターマスを前記第1の方向と逆向きに移動させる第3
の駆動手段を有することを特徴とする。
【0015】ワークステージの第1の方向の加速度とカ
ウンターマスの加速度の絶対値が等しくなるように第3
の駆動手段を制御する制御系が設けられているとよい。
【0016】複数の連結部材が設けられており、各連結
部材の張力または有効長さを調節するためのアクチュエ
ータと、ワークステージの位置情報に基づいて前記アク
チュエータを制御する制御手段を有するとよい。
【0017】アクチュエータが、各連結部材とワークス
テージの連結部に配設されているとよい。
【0018】アクチュエータが、各連結部材とカウンタ
ーマスの連結部に配設されていてもよい。
【0019】アクチュエータが、各連結部材を巻回支持
する滑車の支持部に配設されていてもよい。
【0020】
【作用】ワークステージの重さにバランスする自重補償
用のカウンターマスは、ベルト等によってワークステー
ジに連結される。第2の駆動手段の駆動によってワーク
ステージの重心位置が変わり、このために回転モーメン
トのバランスが損われると、ワークステージの姿勢が変
化してヨーガイドに過大な負荷がかかる。そこで、ワー
クステージの位置情報に基づいて各ベルト等の張力また
は有効長さを変化させるアクチュエータを設けて、前記
回転モーメントを補正する。
【0021】これによって、ウエハ等をステップ移動さ
せるときにヨーガイドにかかる負荷を低減し、かつ、ス
テージ装置の動特性を大幅に改善できる。
【0022】また、アクチュエータに空気バネ、エアー
シリンダ、リニアモータ等を用いた場合は、これらが吸
振性を有するため、連結部材の剛性不足等によって発生
する振動を減衰させ、ステージの動特性をより一層改善
する効果が期待できる。
【0023】このように、カウンターマスを用いた自重
補償機構によってワークステージの重さをキャンセル
し、かつ、カウンターマスやベルト等からワークステー
ジに伝播する振動等を低減しても、なお、カウンターマ
スの固有振動を充分に除去することができず、ステージ
の動特性に悪影響を与えるおそれがある。このような振
動の周波数は数Hzと低いものの、露光装置のより一層
の高精度化や高速化に対応するためには無視することが
できない。
【0024】そこで、カウンターマスをワークステージ
と逆向きに加速してカウンターマスの固有振動をアクテ
ィブに抑制するための第3の駆動手段を設ける。第1の
駆動手段の制御系に与える指令値に基づいて第3の駆動
手段を制御することで、カウンターマスとワークステー
ジの加速度差をゼロにすれば、カウンターマスによる外
乱をほぼ完全に除去して、より一層位置決め精度を向上
させ、高速化を促進できる。
【0025】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
いて説明する。
【0026】図1は第1の実施の形態によるステージ装
置を示すもので、これは、図示しない台板上に立設され
た定盤10に沿ってY軸方向(鉛直またはこれに近似す
る方向)に往復移動自在であるYステージ20と、Yス
テージ20上をX軸方向に往復移動自在であるXステー
ジ30と、Yステージ20をY軸方向に移動させる第1
の駆動手段である一対のYリニアモータ40と、Xステ
ージ30をX軸方向に移動させる第2の駆動手段である
Xリニアモータ50を有するXYステージである。図1
においては、後述するYガイド11を説明するために図
示左側のYリニアモータ40を省略する。
【0027】定盤10は、Yステージ20とXステージ
30の裏面を図示しない静圧軸受装置であるエアパッド
等を介して非接触で支持する基準面であるXYガイド面
10aを有する。
【0028】定盤10のX軸方向の一端には、Yステー
ジ20をY軸方向に案内するヨーガイドであるYガイド
11(破線で示す)が立設され、Yガイド11のYガイ
ド面11aとYステージ20の間は、ヨーガイド静圧軸
受装置であるエアパッド20a等によって非接触に保た
れている。両Yリニアモータ40が駆動されると、Yス
テージ20が定盤10のXYガイド面10a上をYガイ
ド11に沿って移動する。
【0029】Yステージ20は、一対のYスライダ2
1,22とこれらによって両端を支持されたXリニアモ
ータ固定子52からなる枠体によって構成されている。
両Yスライダ21,22の裏面が定盤10のXYガイド
面10aに面しており、前述のようにエアパッド等を介
して非接触に支持される。また、図示左側のYスライダ
22は他方より長尺であり、その側面22aがYガイド
11のYガイド面11aに面しており、前述のようにエ
アパッド20a等を介して非接触に案内される(図2の
(b)参照)。両Yスライダ21,22はそれぞれ、連
結板23によってYリニアモータ可動子41に一体的に
結合されている。
【0030】Xステージ30は、天板31を有する中空
枠体であり、その中空部をXリニアモータ固定子52が
貫通している。天板31の表面は図示しないワークであ
るウエハを吸着保持するワークステージを形成してい
る。
【0031】両Yリニアモータ40は、前述のように連
結板23を介してYステージ20のYスライダ21,2
2と一体的に結合されたYリニアモータ可動子41と、
その開口部を貫通するYリニアモータ固定子42を有す
る。
【0032】各Yリニアモータ固定子42に供給される
電流によって、各Yリニアモータ可動子41にY軸方向
の推力が発生し、Yステージ20とXステージ30をY
軸方向に移動させる。可Xステージ30をYステージ2
0上でX軸方向に移動させるXリニアモータ可動子は、
Xステージ30の天板31の内側に固着されている。
【0033】Xリニアモータ固定子52に供給される電
流によって、Xリニアモータ可動子にX軸方向の推力が
発生し、Xステージ30をYリニアモータ固定子52に
沿ってX軸方向に移動させる。
【0034】Yステージ20とXステージ30等の重さ
を相殺(キャンセル)する自重補償機構であるカウンタ
ーマス機構60は、一端にYスライダ21,22すなわ
ちYステージ20、他端にカウンターマス61を吊り下
げる複数の連結部材であるベルト62と、これを巻回支
持する滑車63を有し、カウンターマス61の重量は、
Yステージ20とXステージ30およびこれに保持され
たウエハ等を含むステージ可動部全体の重量にバランス
するように設定されている。
【0035】Xステージ30がX軸方向に移動すると、
Yステージ20とXステージ30を含むステージ可動部
の重心位置が変わるため、Z軸のまわり(ωZ軸方向)
の回転モーメントの釣り合いバランスが損われる。とこ
ろが、カウンターマス機構60のみではこのモーメント
を受けることができず、Yステージ20を案内するYガ
イド(ヨーガイド)11に過大な負荷がかかる。
【0036】このような大きな負荷を支えるためには、
Yガイド11の剛性を著しく増大させる必要があるが、
Yガイド11の剛性強化にはYガイド11等の大型化を
伴なうため、ステージ全体がさらに大型化、高重量化
し、ステージの動特性も悪化して、位置決めの高精度化
や高速化を大きく妨げる結果となる。
【0037】また、Yステージ20とカウンターマス6
1を連結するベルト62には一般的にスチールベルトや
ワイヤー等が用いられるが、Yステージ20を移動させ
るときにスチールベルトの剛性不足等に起因する振動を
発生する。このような振動は、ステージの位置決め精度
を著しく悪化させ、位置決め制御系の周波数応答特性を
向上させる際の大きな障害となる。
【0038】そこでYステージ20と各ベルト62の連
結部に、Xステージ30の変位に応じてベルト62の張
力または有効長さを調節するためのアクチュエータ70
を設ける。アクチュエータ70は、図4ないし図6にそ
れぞれ示すようなベルト62の張力を制御するためのベ
ロフラム(空気バネ)71、エアーシリンダ72、リニ
アモータ73、あるいは図7に示すようにベルト62の
有効長さを変化させるための圧電素子74等を用いる。
両Yスライダ21,22を吊り下げるベルト62のそれ
ぞれのアクチュエータ70の駆動量を、後述するよう
に、Xステージ30の位置情報に基づいて個別に制御す
ることで、各ベルト62の張力または有効長さを調節す
る。このようにして、Xステージ30の移動に伴なって
発生する回転モーメントを打ち消す(補償する)こと
で、Yステージ20がYガイド11に与える負荷を低減
する。
【0039】加えて、ベロフラム71、エアーシリンダ
72およびリニアモータ73は、ベルト62の剛性不足
によって発生する固有振動や、カウンターマス61自体
の固有振動を吸収して減衰させる吸振効果を有する。す
なわち、アクチュエータ70によって、ベルト62から
Yステージ20に伝播する振動を低減し、位置決め精度
や、位置決め制御系の周波数応答特性を大幅に向上でき
るという利点もある。
【0040】Yガイド11のガイド面11aとこれに対
向するYステージ20(Yスライダ22)の間は、前述
のようにエアパッド20aによって非接触に保たれてい
る。Yステージ20は、エアパッド20aに加えて磁気
パッド20bを有し、これは、エアパッド20aと逆向
きの予圧を与えて、図2の(a)に示す軸受剛性k1
得るためのものである。
【0041】また、図3に示すように、Yガイド11と
平行して定盤10の裏面側にカウンターマスヨーガイド
64が配設されており、カウンターマスヨーガイド64
は、カウンターマス61の一端に設けられたカウンター
マスヨーガイド静圧軸受装置であるエアパッド61aお
よび磁気パッド61bに対向し、これらによって、カウ
ンターマス61をY軸方向に非接触で案内する。カウン
ターマス61の磁気パッド61bは、エアパッド61a
と逆向きの予圧を与えて、図2に示すようにYステージ
20側の軸受剛性k1 より大である軸受剛性k2 を得る
ように構成されている。
【0042】このようにカウンターマスヨーガイド64
の軸受剛性k2 をYガイド11の軸受剛性k1 より大き
くするのは、Xステージ30のX軸方向の移動に伴なっ
てYステージ20の重心位置が変化した場合に発生する
回転モーメントの影響を、カウンターマスヨーガイド6
4で受けて、Yステージ20にかかる回転モーメントを
小さくするためである。
【0043】Xステージ30のY軸方向とX軸方向の位
置は、それぞれ、Xステージ30と一体であるY測長用
ミラー30a、X測長用ミラー30bの反射光を受光す
る位置センサ30c,30dによって計測される。
【0044】次に、各アクチュエータ70として、図4
に示すベロフラム71を用いた場合を説明する。ベロフ
ラム71は、給気口71aを備えたベローズ71bを有
し、ベローズ71bの上端は、Yステージ20と一体で
ある第1のハウジング71cに連結され、ベローズ71
bの下端は、ベルト62の下端に結合された第2のハウ
ジング71dに連結されている。給気口71aに供給さ
れる空気の圧力を変えることで、ベローズ71b内の空
気圧を変化させ、これによってベルト62の張力を変化
させる。
【0045】図8は、Xステージ30のX軸方向の位置
情報に基づいてベローズ71bの空気圧を制御する制御
系を示すブロック図である。Xリニアモータ50の制御
を行なうサーボ系は、図示しないコンピュータから送ら
れる位置指令値と位置センサ30dからフィードバック
されるXステージ30のX軸方向の位置情報に基づいて
Xリニアモータ50の駆動量を制御する。また、上記の
位置指令値は、kp変換されてベロフラム制御系の圧力
指令値とともに制御手段であるコントローラ70aに送
信され、ベロフラム71の給気口71aに接続されたサ
ーボバルブを調節してベローズ71b内の空気圧を制御
する。
【0046】Xステージ30の位置指令値に変換係数k
pを乗じてベロフラム制御系の圧力指令値を加算してお
くことで、ステージ可動部の重心位置が変わるときに各
ベロフラム71内の空気圧を変化させ、各ベルト62の
張力を調節する。このようにして各ベルト62の張力を
個別に調節することで、Xステージ30の移動によって
発生する回転モーメントと逆向きの回転モーメントを発
生させ、Yガイド11にかかる負荷を低減する。
【0047】上記のモーメント補正を行なうことでYガ
イド11にかかる負荷が大幅に低減されるため、Yガイ
ド11を大型かつ高重量にすることなく、ステージの動
特性を大幅に向上させ、ステップ移動や位置決めの高速
化と高精度化に対応できる。
【0048】このようにアクチュエータ70によってY
ステージ20の回転モーメントを補正し、かつ、ベルト
62を介してYステージ20に伝播する振動を低減して
も、なおカウンターマス61からYステージ20に伝播
する振動を完全に除去するのは難しい。このような振動
は数Hzと低周波数ではあるが、位置決め精度をより一
層向上させかつ高速化を促進するためには無視すること
ができない。
【0049】そこで、図3に示すように、カウンターマ
ス61をYステージ20と逆向きに加速してカウンター
マス61の固有振動を抑制するための第3の駆動手段で
ある一対のリニアモータ80を設ける。両リニアモータ
80は、カウンターマス61の両端に配設され、それぞ
れ、Yステージ20をY軸方向に駆動するYリニアモー
タ40の裏側に位置する。
【0050】各リニアモータ80は、カウンターマス6
1と一体であるリニアモータ可動子81を有し、該リニ
アモータ可動子81は、定盤10の側縁に設けられたリ
ニアモータ固定子82に沿って移動する。リニアモータ
固定子82に供給される電流を制御することで、カウン
ターマス61のY軸方向の加速度が、Yリニアモータ4
0からYステージ20に与えられる加速度と逆向きで絶
対値が同じになるように調節すれば、カウンターマス6
1の固有振動による外乱をほぼ完全に除去することがで
きる。カウンターマス61を駆動するリニアモータ80
の制御系については図9に示すブロック図に基づいて後
述する。
【0051】ベルト62を含むカウンターマス機構60
からYステージ20に伝播する振動をアクチュエータ7
0によって減衰させ、かつ、カウンターマス61の固有
振動自体を低減することで、Yステージ20の制御系の
外乱を極めて効果的に除去し、より一層の位置決め精度
の向上と位置決めの高速化に貢献できる。
【0052】このように小型かつ高性能で高速化に適し
たステージ装置を用いることで、半導体デバイス等を製
造するための露光装置の小型化および高性能化と生産性
の向上に大きく貢献できる。
【0053】各アクチュエータ70として、ベロフラム
71の替わりに図5に示すエアーシリンダ72を用いた
場合は、以下の通りである。給気口72aを備えたシリ
ンダ72bはYステージ20と一体であり、ベルト62
の下端にはピストン72cが連結されている。給気口7
2aに供給される空気の圧力を変えることで、ベルト6
2の張力を変化させる。シリンダ72bの空気圧を制御
する制御系は図8と同様である。
【0054】各アクチュエータ70として、図6に示す
リニアモータ73を用いた場合は、以下の通りである。
リニアモータ73のコイル73aはYステージ20と一
体であり、ベルト62の下端には駆動用のマグネット7
3bが連結されている。コイル73aに供給される電流
を変えることで、ベルト62の張力を変化させる。コイ
ル73aに供給される電流を制御する制御系は図8と同
様である。
【0055】各アクチュエータ70として、図7に示す
圧電素子74を用いた場合は、以下の通りである。圧電
素子74の上端を支持するハウジング74aはYステー
ジ20と一体であり、ベルト62の下端には圧電素子7
4の下端を支持するハウジング74bが連結されてい
る。圧電素子74の電圧を変えることで、その厚さを変
化させ、ベルト62の有効長さを変化させる。圧電素子
74の電圧を制御する制御系は図8と同様である。
【0056】図9は、カウンターマス61をY軸方向に
駆動するリニアモータ80の制御系を示すものである。
Yリニアモータ40の制御を行なうサーボ系は、図示し
ないコンピュータから送られる位置指令値と位置センサ
30cからフィードバックされるYステージ20のY軸
方向の位置情報に基づいてYリニアモータ40の駆動量
を制御する。また、上記の位置指令値は、2回微分して
kp変換された加速度指令値としてカウンターマス61
のリニアモータ80に送られる。このような簡単な制御
系を付加するだけで、Yステージ20とカウンターマス
61の駆動量を同期的に制御できる。
【0057】図10は、第2の実施の形態を示すもの
で、これは、ベルト62とYステージ20の連結部にア
クチュエータ70を設ける替わりに、定盤10の上端に
配設された滑車63の軸受部(支持部)にアクチュエー
タ90を設けたものである。アクチュエータ90は、図
11に示すように、滑車63を回転支持するころがり軸
受63aを載置した軸受ベース63bと定盤10の間に
配設されたベロフラム91であり、該ベロフラム91の
内部構成は、図4のベロフラム71と同様であり、図8
と同様の制御系によって制御される。
【0058】ベロフラム91の替わりに、図5ないし図
7と同様のエアーシリンダ、リニアモータ、圧電素子等
を用いてもよい。
【0059】定盤10、Yガイド11、Yステージ2
0、Xステージ30、Yリニアモータ40、Xリニアモ
ータ50、カウンターマス機構60等については第1の
実施の形態と同様であるから同一符号で表わし、説明は
省略する。
【0060】このように、ベルトの張力や有効長さを調
節するアクチュエータを滑車の支持部に用いてもよい。
また、同様のアクチュエータを定盤の裏側のベルトとカ
ウンターマスの連結部に設けても、上記と同様の回転モ
ーメントの補償を効果的に行なうことができることは言
うまでもない。
【0061】次に、本発明によるステージ装置を用いた
X線露光装置の露光光学系について説明する。図12に
示すように、X線源であるSR発生装置(荷電粒子蓄積
リング)1から放射されたX線であるSR光(荷電粒子
蓄積リング放射光)はシートビーム状であるため、発光
点から所定の距離に設置されたミラー2によってY軸方
向に走査される。ミラー2は1枚に限らず、複数枚のミ
ラーを用いてもよい。
【0062】ミラー2によって反射されたSR光は、X
線透過膜上にX線吸収体からなるパターンが形成された
マスク等原版Mを透過し、感光材としてのレジストが塗
布されたウエハWに照射される。ウエハWは、前述のス
テージ装置上のウエハチャック(ワークステージ)に保
持され、ステージ装置によってステップ移動および位置
決めが行なわれる。
【0063】原版Mの上流側には露光時間を制御するた
めのシャッタ4が配設され、シャッタ4の駆動装置4a
はシャッタコントローラ4bによって制御される。ミラ
ー2とシャッタ4の間には図示しないベリリウム膜が設
けられており、ミラー側は超高真空、シャッタ側はヘリ
ウムガスの減圧雰囲気に制御される。
【0064】次に上記説明した露光装置を利用した半導
体デバイスの製造方法の実施例を説明する。図13は半
導体デバイス(ICやLSI等の半導体チップ、あるい
は液晶パネルやCCD等)の製造フローを示す。ステッ
プ1(回路設計)では半導体デバイスの回路設計を行な
う。ステップ2(マスク製作)では設計した回路パター
ンを形成したマスクを製作する。ステップ3(ウエハ製
造)ではシリコン等の材料を用いてウエハを製造する。
ステップ4(ウエハプロセス)は前工程と呼ばれ、上記
用意したマスクとウエハを用いて、リソグラフィ技術に
よってウエハ上に実際の回路を形成する。ステップ5
(組立)は後工程と呼ばれ、ステップ4によって作製さ
れたウエハを用いて半導体チップ化する工程であり、ア
ッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、パッケ
ージング工程(チップ封入)等の工程を含む。ステップ
6(検査)ではステップ5で作製された半導体デバイス
の動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行なう。こ
うした工程を経て半導体デバイスが完成し、これが出荷
(ステップ7)される。
【0065】図14は上記ウエハプロセスの詳細なフロ
ーを示す。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸
化させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶
縁膜を形成する。ステップ13(電極形成)ではウエハ
上に電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオ
ン打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ1
5(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ス
テップ16(露光)では上記説明した露光装置によって
マスクの回路パターンをウエハに焼付露光する。ステッ
プ17(現像)では露光したウエハを現像する。ステッ
プ18(エッチング)では現像したレジスト像以外の部
分を削り取る。ステップ19(レジスト剥離)ではエッ
チングが済んで不要となったレジストを取り除く。これ
らのステップを繰り返し行なうことによって、ウエハ上
に多重に回路パターンが形成される。本実施例の製造方
法を用いれば、従来は製造が難しかった高集積度の半導
体デバイスを製造することができる。
【0066】
【発明の効果】本発明は上述のように構成されているの
で、以下に記載するような効果を奏する。
【0067】ワークステージを移動させるときに、自重
補償用のカウンターマスの固有振動を効果的に抑制し、
カウンターマスの振動がステージに伝播して動特性等を
悪化させるのを防ぐ。
【0068】このようにしてステージの動特性を改善す
ることで、位置決め精度を向上させ、かつステージの高
速化を促進できる。
【0069】このステージ装置を露光装置に用いること
で、半導体デバイス等の高精細化や低価格化を大幅に促
進できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施の形態によるステージ装置を示す斜
視図である。
【図2】図1の装置のYガイド等を説明するもので、
(a)はYガイド等の軸受剛性を説明する図、(b)は
Yガイドの断面を示す図である。
【図3】図1の装置を裏側からみた斜視図である。
【図4】アクチュエータとして用いるベロフラムを説明
する図である。
【図5】アクチュエータとして用いるエアーシリンダを
説明する図である。
【図6】アクチュエータとして用いるリニアモータを説
明する図である。
【図7】アクチュエータとして用いる圧電素子を説明す
る図である。
【図8】アクチュエータの制御系を示すブロック図であ
る。
【図9】カウンターマスを駆動するリニアモータの制御
系を示すブロック図である。
【図10】第2の実施の形態を示す斜視図である。
【図11】図10のアクチュエータを説明する図であ
る。
【図12】X線露光装置を説明する図である。
【図13】半導体製造工程を示すフローチャートであ
る。
【図14】ウエハプロセスを示すフローチャートであ
る。
【図15】一従来例による縦型ステージを示す側面図で
ある。
【図16】図15の装置を示す立面図である。
【符号の説明】
10 定盤 11 Yガイド 20 Yステージ 23 連結板 30 Xステージ 40 Yリニアモータ 50 Xリニアモータ 60 カウンターマス機構 61 カウンターマス 62 ベルト 63 滑車 70,90 アクチュエータ 70a コントローラ 71,91 ベロフラム 72 エアーシリンダ 73,80 リニアモータ 74 圧電素子 81 リニアモータ可動子 82 リニアモータ固定子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/30 515G B23Q 1/14 B (72)発明者 久保 忠之 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基準面に沿って2次元的に移動自在であ
    るワークステージと、該ワークステージを鉛直またはこ
    れに近似する第1の方向に移動させる第1の駆動手段
    と、前記ワークステージを第2の方向に移動させる第2
    の駆動手段と、前記ワークステージの重さにバランスす
    るカウンターマスと、該カウンターマスを前記ワークス
    テージに連結する連結部材と、前記カウンターマスを前
    記第1の方向と逆向きに移動させる第3の駆動手段を有
    するステージ装置。
  2. 【請求項2】 ワークステージの第1の方向の加速度と
    カウンターマスの加速度の絶対値が等しくなるように第
    3の駆動手段を制御する制御系が設けられていることを
    特徴とする請求項1記載のステージ装置。
  3. 【請求項3】 複数の連結部材が設けられており、各連
    結部材の張力または有効長さを調節するためのアクチュ
    エータと、ワークステージの位置情報に基づいて前記ア
    クチュエータを制御する制御手段を有することを特徴と
    する請求項1または2記載のステージ装置。
  4. 【請求項4】 各駆動手段がリニアモータであることを
    特徴とする請求項1ないし3いずれか1項記載のステー
    ジ装置。
  5. 【請求項5】 アクチュエータが、各連結部材とワーク
    ステージの連結部に配設されていることを特徴とする請
    求項3または4記載のステージ装置。
  6. 【請求項6】 アクチュエータが、各連結部材とカウン
    ターマスの連結部に配設されていることを特徴とする請
    求項3または4記載のステージ装置。
  7. 【請求項7】 アクチュエータが、各連結部材を巻回支
    持する滑車の支持部に配設されていることを特徴とする
    請求項3または4記載のステージ装置。
  8. 【請求項8】 アクチュエータが空気バネを有すること
    を特徴とする請求項3ないし7いずれか1項記載のステ
    ージ装置。
  9. 【請求項9】 アクチュエータがエアーシリンダを有す
    ることを特徴とする請求項3ないし7いずれか1項記載
    のステージ装置。
  10. 【請求項10】 アクチュエータがリニアモータを有す
    ることを特徴とする請求項3ないし7いずれか1項記載
    のステージ装置。
  11. 【請求項11】 アクチュエータが圧電素子を有するこ
    とを特徴とする請求項3ないし7いずれか1項記載のス
    テージ装置。
  12. 【請求項12】 ワークステージを基準面に対して非接
    触に保つ静圧軸受装置が設けられていることを特徴とす
    る請求項1ないし11いずれか1項記載のステージ装
    置。
  13. 【請求項13】 ワークステージを第1の方向に案内す
    るヨーガイドと、前記ワークステージを前記ヨーガイド
    に対して非接触に保つヨーガイド静圧軸受装置が設けら
    れていることを特徴とする請求項1ないし12いずれか
    1項記載のステージ装置。
  14. 【請求項14】 カウンターマスを第1の方向に案内す
    るカウンターマスヨーガイドと、前記カウンターマスを
    前記カウンターマスヨーガイドに対して非接触に保つカ
    ウンターマスヨーガイド静圧軸受装置が設けられている
    ことを特徴とする請求項1ないし13いずれか1項記載
    のステージ装置。
  15. 【請求項15】 請求項1ないし14いずれか1項記載
    のステージ装置と、これに保持されたワークを露光する
    露光光学系を有する露光装置。
  16. 【請求項16】 露光光がX線であることを特徴とする
    請求項15記載の露光装置。
  17. 【請求項17】 請求項15または16記載の露光装置
    によってウエハを露光する工程を有するデバイス製造方
    法。
JP10114219A 1997-11-11 1998-04-09 ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法 Withdrawn JPH11297616A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10114219A JPH11297616A (ja) 1998-04-09 1998-04-09 ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法
US09/187,408 US6408045B1 (en) 1997-11-11 1998-11-06 Stage system and exposure apparatus with the same
EP98309167A EP0917004A3 (en) 1997-11-11 1998-11-10 Stage system and exposure apparatus with the same
KR1019980048200A KR100278263B1 (ko) 1997-11-11 1998-11-11 스테이지장치와 이것을 이용한 노광장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10114219A JPH11297616A (ja) 1998-04-09 1998-04-09 ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11297616A true JPH11297616A (ja) 1999-10-29

Family

ID=14632217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10114219A Withdrawn JPH11297616A (ja) 1997-11-11 1998-04-09 ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11297616A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003084087A (ja) * 2001-09-17 2003-03-19 Ricoh Co Ltd 縦型ステージの自重補償装置
JP2007134729A (ja) * 2000-06-02 2007-05-31 Asml Netherlands Bv リソグラフィ投影装置、支持アセンブリ、およびデバイス製造方法
JP2008030171A (ja) * 2006-07-31 2008-02-14 Yokogawa Electric Corp 位置決めステージと移送システム
CN110220822A (zh) * 2018-03-01 2019-09-10 安东帕有限责任公司 流变仪

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007134729A (ja) * 2000-06-02 2007-05-31 Asml Netherlands Bv リソグラフィ投影装置、支持アセンブリ、およびデバイス製造方法
JP2003084087A (ja) * 2001-09-17 2003-03-19 Ricoh Co Ltd 縦型ステージの自重補償装置
JP2008030171A (ja) * 2006-07-31 2008-02-14 Yokogawa Electric Corp 位置決めステージと移送システム
CN110220822A (zh) * 2018-03-01 2019-09-10 安东帕有限责任公司 流变仪

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6408045B1 (en) Stage system and exposure apparatus with the same
US7280185B2 (en) Stage system including fine-motion cable unit, exposure apparatus, and method of manufacturing device
JP4474020B2 (ja) 移動装置及び露光装置
KR100625625B1 (ko) 기판, 스테이지 장치, 스테이지 구동 방법, 노광 장치 및노광 방법
US7288859B2 (en) Wafer stage operable in a vacuum environment
US6999162B1 (en) Stage device, exposure system, method of device manufacture, and device
US20020080339A1 (en) Stage apparatus, vibration control method and exposure apparatus
US20060232142A1 (en) Split Coil Linear Motor for Z Force
JPH11317440A (ja) ステージ装置、露光装置およびデバイス製造方法
US7586218B2 (en) Moving apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US6320645B1 (en) Stage system and exposure apparatus, and device manufacturing method using the same
US6891597B2 (en) Driving apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US20030169412A1 (en) Reaction frame for a wafer scanning stage with electromagnetic connections to ground
JPH11297616A (ja) ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法
JP2002198285A (ja) ステージ装置およびその制振方法並びに露光装置
JPH11297613A (ja) ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法
JPH11145041A (ja) ステージ装置およびこれを用いた露光装置、ならびにデバイス製造方法
JP2001023896A (ja) ステージ装置及び露光装置
JPH10149974A (ja) ステージ装置、露光装置およびデバイス製造方法
US20070115451A1 (en) Lithographic System with Separated Isolation Structures
JP2001015579A (ja) ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法
JPH11297795A (ja) ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法
JP4011919B2 (ja) 移動装置及び露光装置並びに半導体デバイスの製造方法
JP2002175963A (ja) ステージ装置とその位置制御方法および露光装置並びに露光方法
JP2000352592A (ja) ステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにデバイス製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050406

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070330

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20070424