[go: up one dir, main page]

JP2003003134A - Icチップ接着用シートおよびicパッケージ - Google Patents

Icチップ接着用シートおよびicパッケージ

Info

Publication number
JP2003003134A
JP2003003134A JP2001186941A JP2001186941A JP2003003134A JP 2003003134 A JP2003003134 A JP 2003003134A JP 2001186941 A JP2001186941 A JP 2001186941A JP 2001186941 A JP2001186941 A JP 2001186941A JP 2003003134 A JP2003003134 A JP 2003003134A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sheet
resin
chip
adhesive
chip bonding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001186941A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiko Ohashi
和彦 大橋
Tasuku Yokomizo
資 横溝
Koji Yoshida
浩二 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Gore Tex Inc
Original Assignee
Japan Gore Tex Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Gore Tex Inc filed Critical Japan Gore Tex Inc
Priority to JP2001186941A priority Critical patent/JP2003003134A/ja
Priority to US10/175,141 priority patent/US7307350B2/en
Priority to EP02254323A priority patent/EP1270697A3/en
Publication of JP2003003134A publication Critical patent/JP2003003134A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J7/00Adhesives in the form of films or foils
    • C09J7/20Adhesives in the form of films or foils characterised by their carriers
    • C09J7/22Plastics; Metallised plastics
    • C09J7/24Plastics; Metallised plastics based on macromolecular compounds obtained by reactions involving only carbon-to-carbon unsaturated bonds
    • C09J7/245Vinyl resins, e.g. polyvinyl chloride [PVC]
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J7/00Adhesives in the form of films or foils
    • C09J7/20Adhesives in the form of films or foils characterised by their carriers
    • C09J7/22Plastics; Metallised plastics
    • C09J7/26Porous or cellular plastics
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L24/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/50Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/86Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using tape automated bonding [TAB]
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K3/00Use of inorganic substances as compounding ingredients
    • C08K3/01Use of inorganic substances as compounding ingredients characterized by their specific function
    • C08K3/016Flame-proofing or flame-retarding additives
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K5/00Use of organic ingredients
    • C08K5/0008Organic ingredients according to more than one of the "one dot" groups of C08K5/01 - C08K5/59
    • C08K5/0066Flame-proofing or flame-retarding additives
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2203/00Applications of adhesives in processes or use of adhesives in the form of films or foils
    • C09J2203/326Applications of adhesives in processes or use of adhesives in the form of films or foils for bonding electronic components such as wafers, chips or semiconductors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2301/00Additional features of adhesives in the form of films or foils
    • C09J2301/10Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by the structural features of the adhesive tape or sheet
    • C09J2301/12Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by the structural features of the adhesive tape or sheet by the arrangement of layers
    • C09J2301/124Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by the structural features of the adhesive tape or sheet by the arrangement of layers the adhesive layer being present on both sides of the carrier, e.g. double-sided adhesive tape
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2301/00Additional features of adhesives in the form of films or foils
    • C09J2301/40Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by the presence of essential components
    • C09J2301/408Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by the presence of essential components additives as essential feature of the adhesive layer
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2427/00Presence of halogenated polymer
    • C09J2427/006Presence of halogenated polymer in the substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/29001Core members of the layer connector
    • H01L2224/29099Material
    • H01L2224/2919Material with a principal constituent of the material being a polymer, e.g. polyester, phenolic based polymer, epoxy
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/4824Connecting between the body and an opposite side of the item with respect to the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73215Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83194Lateral distribution of the layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/838Bonding techniques
    • H01L2224/8385Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01012Magnesium [Mg]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01015Phosphorus [P]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01019Potassium [K]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/0102Calcium [Ca]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01027Cobalt [Co]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/0103Zinc [Zn]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01057Lanthanum [La]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01074Tungsten [W]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/014Solder alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/06Polymers
    • H01L2924/0665Epoxy resin
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/06Polymers
    • H01L2924/078Adhesive characteristics other than chemical
    • H01L2924/07802Adhesive characteristics other than chemical not being an ohmic electrical conductor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/095Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
    • H01L2924/097Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
    • H01L2924/09701Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/156Material
    • H01L2924/15786Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
    • H01L2924/15787Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/249921Web or sheet containing structurally defined element or component
    • Y10T428/249953Composite having voids in a component [e.g., porous, cellular, etc.]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/249921Web or sheet containing structurally defined element or component
    • Y10T428/249953Composite having voids in a component [e.g., porous, cellular, etc.]
    • Y10T428/249955Void-containing component partially impregnated with adjacent component
    • Y10T428/249958Void-containing component is synthetic resin or natural rubbers
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/249921Web or sheet containing structurally defined element or component
    • Y10T428/249953Composite having voids in a component [e.g., porous, cellular, etc.]
    • Y10T428/249982With component specified as adhesive or bonding agent
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/249921Web or sheet containing structurally defined element or component
    • Y10T428/249953Composite having voids in a component [e.g., porous, cellular, etc.]
    • Y10T428/249982With component specified as adhesive or bonding agent
    • Y10T428/249985Composition of adhesive or bonding component specified

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Adhesive Tapes (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 臭素フリーの接着性樹脂を用いながら、なお
かつ高い難燃性のほか、耐熱性、耐湿性、耐熱膨張性な
どの信頼性の性能も有するICチップ接着用シートと、
これを用いたICチップを提供すること。 【解決手段】 多孔質ポリテトラフルオロエチレンシー
トからなる多孔質ポリテトラフルオロエチレン層の両面
に接着性樹脂層が形成され、多孔質ポリテトラフルオロ
エチレン層は多孔質空隙を保持しており、接着性樹脂層
は臭素フリーの難燃性樹脂組成物からなるICチップ接
着用シート。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はICチップ接着用シ
ートおよびICパッケージに係り、より詳しくは多孔質
ポリテトラフルオロエチレンシートと難燃性樹脂組成物
を用いた難燃性かつ高信頼性のICチップ接着用シート
およびそれを用いたICパッケージに関する。
【0002】
【従来の技術】電子部品の搭載密度の増加に伴って半導
体パッケージの実装基板の寸法を半導体チップの寸法と
ほぼ同じ寸法にしたチップスケールパッケージやチップ
サイズパッケージなどと呼ばれる実装技術が注目を集め
ている。例えば、図1に示すように、半導体チップ1を
同じ寸法の実装基板2に接着3し、実装基板2の裏面に
半田ボール(接続パッド)4を形成し、半導体チップ1
と半田ボール4の間は例えば実装基板2の中央に形成し
た開口部を利用したワイヤボンディング5を介して接続
している。図2の如く、ワイヤボンディング5を半導体
チップ1の外部を利用して形成されることもある。図2
中、基板2の表面には銅箔パターン6があり、ワイヤボ
ンディング5と半田ボール4の間を接続している。ある
いは、図3の如く、半導体チップ1の内部の開口部を利
用して形成されることもある。この場合の半導体チップ
1と半田ボール4の間の接続は銅箔パターンの延長部7
を利用している。
【0003】このような半導体チップのパッケージにお
いて半導体チップと実装基板との接着は液状の接着剤で
もよいが、製造工程の管理のし易さから接着シートが用
いらる。接着シートはシート状の接着剤でもよいが、通
常は耐熱性の基材又は芯材の両面に接着剤層を形成した
ものを使用している。耐熱性の基材又は芯材はポリイミ
ド樹脂、ポリカーボネート、ポリエステル、ポリテトラ
フルオロエチレン、ポリエチレン、ポリプロピレンなど
が用いられ、充実シートのほか多孔質シートを使用する
ことも知られている。接着剤はエポキシ樹脂が代表的で
あるが、マレイミド、シアネートなどの樹脂も用いられ
る。(特開平10−340968号公報、特開2000
−154356号公報、特開平10−22325号公報
など)
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のICチップ接着
用シートに用いられている接着剤は難燃性を付与するた
めに臭素が含まれているものが専ら用いられていた。し
かし、近年の環境問題に対する世界的な意識の向上か
ら、燃焼時の有毒ガスを発生する可能性をもつ臭素など
を含有しない製品が市場から強く要求されている。
【0005】そこで、本発明は、臭素フリーの接着樹脂
を用いながら、なおかつ高い難燃性のほか、耐熱性、耐
湿性、耐熱膨張性などの信頼性の性能も有するICチッ
プ接着用シートと、これを用いたICパッケージを提供
することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記のよう
な従来技術の問題点に鑑みて鋭意検討する過程で、下記
を提供することにより上記目的が達成できることを見出
した。 (1)多孔質ポリテトラフルオロエチレンシートからな
る多孔質ポリテトラフルオロエチレン層の両面に接着性
樹脂層が形成され、多孔質ポリテトラフルオロエチレン
層は多孔質空隙を保持しており、接着性樹脂層は臭素フ
リーの難燃性樹脂組成物からなることを特徴とするIC
チップ接着用シート。 (2)前記接着性樹脂層が、接着性樹脂シートを前記多
孔質ポリテトラフルオロエチレン層に積層して形成され
ている(1)に記載のICチップ接着用シート。 (3)前記接着性樹脂層が、多孔性ポリテトラフルオロ
エチレンシートに接着性樹脂を含浸してなる接着性樹脂
シートを前記多孔質ポリテトラフルオロエチレン層に積
層して形成されている(2)に記載のICチップ接着用
シート。 (4)前記難燃性樹脂組成物のJIS−K−7201に
規定する酸素指数が25以上である(1)〜(3)に記
載のICチップ接着用シート。 (5)UL94難燃性試験法で測定してVTM−1以上
の難燃性を示す(1)〜(4)に記載のICチップ接着
用シート。 (6)前記接着性樹脂層の厚さがそれぞれ5〜70μm
の範囲内である(1)〜(5)に記載のICチップ接着
用シート。 (7)前記接着性樹脂層にリンを含む(1)〜(6)に
記載のICチップ接着用シート。 (8)前記ICチップ接着用シート全体におけるリンの
含有量が0.08〜1.0質量%の範囲内である(7)
に記載のICチップ接着用シート。 (9)前記ICチップ接着用シート全体におけるポリテ
トラフルオロエチレンの含有量が60質量%以上である
(1)〜(8)に記載のICチップ接着用シート。 (10)(1)〜(9)に記載のICチップ接着用シー
トを用いてICチップと実装基板を接着したことを特徴
とするICパッケージ。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明が適用されるICパッケー
ジ(実用的にはLSIパッケージであるが、以下では広
くICパッケージという。)は、例えば、QFP(quad
flat package、四方向フラットパッケージ) 、BGA(b
all grit array) 、CSP(chip sizepackage) 等のい
ずれでもよいが、ICチップとICチップ実装基板とを
接着、固定するタイプのICパッケージである。本発明
のICチップ接着用シートは、ICチップ実装基板の寸
法とICチップの寸法とがほぼ同等のものに主として用
いられるものであるが、必ずしもそれに限定されない。
【0008】本発明は、このようなICパッケージにお
けるICチップ接着用シートとして、多孔質ポリテトラ
フルオロエチレンシートからなる多孔質ポリテトラフル
オロエチレン層の両面に接着性樹脂層が形成されてお
り、多孔質ポリテトラフルオロエチレン層は多孔性空隙
を保持しており、かつ接着性樹脂層が臭素フリーの難燃
性樹脂組成物からなるICチップ接着用シートを用いる
ものである。
【0009】本発明は芯材として多孔質ポリテトラフル
オロエチレンシートを用い、かつその両面に接着性樹脂
層を形成するが、多孔性空隙を保持することを1つの特
徴とする。一般的にはICチップ接着用シートではポリ
イミドやポリエチレンなどのシートにエポキシ樹脂層を
塗工したものが用いられている。本発明は、多孔質ポリ
テトラフルオロエチレンシートを芯材として用いること
により、臭素フリーの難燃性樹脂を用いながら、高い難
燃性とその他の求められる性能を有するICチップ接着
用シートを提供することを可能にするものである。
【0010】多孔質ポリテトラフルオロエチレン層は単
層または複数層の多孔質ポリテトラフルオロエチレンシ
ートからなる。ポリテトラフルオロエチレンは、融点が
高く、加工技術も発達し、延伸法により得られた多孔質
ポリテトラフルオロエチレンシートは最も好ましい材料
である。その効果として、ポリテトラフルオロエチレン
自体の不燃性が加わり、より高い難燃性を持つIC接着
用シートを得ることが出来る。さらに、多孔質ポリテト
ラフルオロエチレンシートは、高温耐湿性やアンカー効
果を利用した接着技術を利用できるなどの利点がある。
また、多孔質ポリテトラフルオロエチレンシートを基材
としているので、柔軟性および均一性に優れており、取
り扱い性がよい利点もある。
【0011】多孔質ポリテトラフルオロエチレンシート
の厚さとしては、一般に10μm〜1mm、好ましく
は、100〜200μmのシートを用いる。この厚さが
1mmを越えるとICパッケージの高さが高くなり実用
的ではなく、また、10μm未満では、水蒸気の十分な
通路を確保できない。多孔質ポリテトラフルオロエチレ
ンシートの厚さが一枚のシートでは必要な厚さに満たな
いときは、これを複数枚積層して用いることができる。
この場合は、複数枚重ねた積層シートをグラビアパター
ンロール、熱プレス装置等を用いて融着一体化すること
ができる。
【0012】図4を参照すると、このような多孔質ポリ
テトラフルオロエチレンシート11を芯材に使用して、
その両面に接着性樹脂層12、13として接着性樹脂を
コーティング、または接着性樹脂シートをラミネートす
る。接着性樹脂層は接着性樹脂から成る。ここで接着性
樹脂の主剤としては、高分子樹脂のなかで接着作用を有
する熱可塑性または熱硬化性樹脂が使用可能であり、例
えば、エポキシ樹脂、BT樹脂、ポリイミド樹脂、シア
ネート樹脂、シリコーン樹脂、溶融フッ素樹脂(FE
P,PFA等)、ポリアミド樹脂、アクリル樹脂等が使
用可能で、またそれらの樹脂をブレンドしてもよい。よ
り具体的な主剤としては、クレゾールノボラックエポキ
シ樹脂、フェノールノボラックエポキシ樹脂、ビスフェ
ノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹
脂、アルコールエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルア
ミン型エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリカーボネー
ト樹脂、ビスマレイミド-トリアジン樹脂、シリコーン
樹脂、メラミン樹脂、ユリア樹脂、ジアリルフタレート
樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ナイロン樹脂、ポリエ
ステル樹脂等が挙げられるがこれらに限定するものでは
なく、臭素の含まれない樹脂であれば良い。また、これ
ら主剤は単独もしくは複数で自由に組み合わせることが
できる。ただし、本発明の接着用シートは、ICチップ
とICチップ実装基板との間に介装され、このシートの
基材である多孔質ポリテトラフルオロエチレンシートの
形状を保持した状態で接着性樹脂層を溶融、固化してI
Cチップと基板とを接着、固定する。従って、接着性樹
脂層に用いられる接着性樹脂は、基材である多孔質ポリ
テトラフルオロエチレンより融点の低いものを用いるの
が好ましい。
【0013】必要に応じて硬化剤を用いるが、そのよう
な硬化剤としては、2-メチルイミダゾール、2-メチル
-4-エチルイミダゾール、2-フェニルイミダゾール、
ジメチルアミノメチルフェノール、ベンジルジメチルア
ミン、メチレンジアニリン、ジエチレントリアミン、ジ
シアンジアミド、アルキレンアミン系のもの、有機酸無
水物等が挙げられるが格別これらに限定するものではな
く、これらを単独もしくは複数で自由に混合して用いる
こともできる。
【0014】本発明に用いられる樹脂組成物は臭素フリ
ーでなければならないが、本発明において臭素フリーと
は臭素含有量が0.09質量%以下であることをいう。
樹脂組成物中の臭素の含有量は、例えば、樹脂の燃焼排
ガスについてJIS−K−0085の排ガス中の臭素分
析方法を採用することにより分析できる。さらに、本発
明で用いられる臭素フリーの樹脂組成物は難燃性でなけ
ればならないが、難燃性の点から、JIS K 7201で示さ
れるところの酸素指数で25以上であることが好ましく、
さらに酸素指数28以上のものが好ましい。酸素指数は、
樹脂組成物の燃焼が持続するのに必要な酸素濃度でもっ
て難燃性を表す指数であり、指数値が大きいほど難燃性
が高い。
【0015】本発明に用いる臭素フリーの難燃性樹脂組
成物は、必要な難燃性を得るために、樹脂にリンや窒素
の化合物といった難燃剤や無機充填剤等を混合するほ
か、そのような添加剤なしでも難燃性を有するように改
良した樹脂や樹脂組成物、あるいはそのような樹脂(組
成物)と難燃剤や無機充填剤等との混合物でもよい。ま
た、本発明における難燃性樹脂組成物は、樹脂の中にリ
ンや窒素といった非ハロゲン系の化合物やシリカや水酸
化アルミニウムといった無機充填剤等の難燃剤を加えた
ものでもよく、これらを加える効果としては、樹脂の難
燃化だけでなく、用途に応じて要求される特性の付与と
いった効果が得られる。
【0016】また、本発明の主剤としての樹脂を、例え
ば、特開平11−279378号公報、特開2000−
219799号公報、特開平11−279378号公
報、特開2000−80251号公報等に開示された難
燃性非ハロゲン化樹脂組成物の、主として芳香族基を含
むエポキシ樹脂から選択することができる。このような
臭素フリーの難燃性樹脂を主剤とすることにより、少な
くとも難燃剤、無機充填剤等の必要量を減少させること
ができ、省略できることも可能である。本発明において
は、難燃剤、無機充填剤等を別途添加しないで済むなら
ば、製造工程が簡単化するので、その態様は1つの好適
な態様である。
【0017】もっとも、本発明のICチップ接着用シー
トでは臭素フリー難燃性樹脂組成物として上記の如く特
種な樹脂を使用しないで、難燃剤、無機充填剤等を添加
して樹脂組成物を構成することによっても、基材が多孔
質ポリテトラフルオロエチレンであることにより、高い
難燃性と優れた物性を兼ね備えることができる。難燃剤
としては、非ハロゲン系の難燃剤、特に縮合リン酸エス
テル、モノマー型リン酸エステル、反応性リン酸エステ
ル、無機リン系のリンを含むものやメラミンやグアニジ
ン等の窒素の化合物を含むもの、そして膨張性黒鉛等の
有機物、そしてシリカ、アルミナ、タルク、炭酸カルシ
ウム、チタンホワイト、カオリンクレー、ベンガル、水
酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、水酸化カルシ
ウム、ドーソナイト、アルミン酸カルシウム、ホウ酸亜
鉛等の無機充填剤が挙げられる。
【0018】しかし、本発明の好ましい態様では、難燃
剤としてリン系難燃剤を用いるか又はリン含有の難燃化
樹脂を用いる。無機系の難燃剤は溶剤に溶けないので微
粒子化、分散などの工程が必要になる不都合があるのに
対して、リン系では溶剤に可溶のものが多く、中には樹
脂と化学的反応性を有するものがあり、合成樹脂を難燃
化するのに非常に有用であるからである。従って、難燃
化剤としてリン系を用い、無機系の難燃化剤は含まない
ことがより好ましい。
【0019】また、リン元素の含有率であるが、本発明
によれば、リン元素のICチップ接着用シートに占める
割合が0.08〜1.0質量%、より好ましくは0.1〜0.6質量
%、さらに好ましくは0.12〜0.45質量%の範囲内である
ことが、本発明の構成を有するICチップ接着用シート
では特に望ましいことを見出した。ここでリン元素の含
有率が0.08質量%より小さいと難燃性の効果が不足す
る。本発明によれば接着用シートに含まれるリン含有量
と接着用シートの耐湿性との間には相関関係があり、リ
ン元素の含有率が特定量より大きくなりすぎると、接着
用シートの耐湿性が不十分になり、接着信頼性の低下を
招く恐れがあること、特にその十分な接着信頼性を確保
するためのリン含有量の上限は通常予想されるよりはる
かに少ない量であることを見出した。上記のリン含有量
の上限はこのような観点からの値である。
【0020】本発明において、全体におけるポリテトラ
フルオロエチレン(PTFE)の含有量は60質量%以
上が好ましい。60質量%よりも少ないと、リンの含有
量を増やさなければ難燃性が保持できないからである。
本発明の樹脂組成物には、本発明の主旨に反しない範囲
において、必要に応じて、難燃剤の他に、硬化剤、充填
剤、あるいは基材と樹脂のなじみを向上させる目的で界
面活性剤等を樹脂に添加して樹脂組成物としてもよい。
【0021】このような臭素フリーの難燃性樹脂組成物
を基材となる多孔質ポリテトラフルオロエチレンシート
の両面に塗工又は積層する。多孔質ポリテトラフルオロ
エチレン自体の不燃性が加わり、より高い難燃性を持
ち、しかもその他の特性にも優れたICチップ接着用シ
ートを得ることが出来る。接着性樹脂層を形成する方法
としては、接着性樹脂の溶剤溶液として、エポキシ樹
脂、BT樹脂、ポリイミド樹脂、熱硬化PPE樹脂、シ
アネート樹脂等の熱硬化性樹脂を、MEK、NMP、ト
ルエン等の溶剤に溶かした熱硬化性樹脂ワニスを多孔質
ポリテトラフルオロエチレンシートにコーティングした
後溶剤を加熱、乾燥して除去することにより得ることが
できる。また接着性樹脂の溶融液としてPPE樹脂、P
PO樹脂、アクリル樹脂、ポリアミド樹脂等の熱可塑性
樹脂を加温して溶融液とし、例えば、ホットメルト法で
コーティングすることにより得ることもできる。さら
に、張り合わせ法を用い、エポキシ樹脂系、アクリル樹
脂系等の樹脂シート、多孔質ポリテトラフルオロエチレ
ンシートにエポキシ樹脂等を含浸させた接着剤シート等
を多孔質ポリテトラフルオロエチレン層の両面にあてが
い、これを熱プレス、熱ロール等により処理することに
より接着性樹脂を溶融、固化して多孔質ポリテトラフル
オロエチレン層と一体化させ、本発明の接着用シートを
形成することもできる。特に好適には、多孔質ポリテト
ラフルオロエチレンシートに接着性樹脂を含浸した接着
剤シートを多孔質ポリテトラフルオロエチレンシートに
積層する。この方法によれば、ICチップ接着用シート
の厚さを精度よく制御することができ、さらにICチッ
プとICチップ接着用シートを熱プレスで貼り付ける際
に樹脂流れを適度にコントロールすることができる。
【0022】上記いずれの方法による場合も、多孔質ポ
リテトラフルオロエチレン層が多孔質空間(空隙)を保
持するようにしなければならない。従って、接着性樹脂
が多孔質ポリテトラフルオロエチレン層の厚さ方向に対
して全面的に含浸されるような方法は本発明では採用で
きない。多孔質ポリテトラフルオロエチレン層からなる
芯材の応力緩和性、通気性による信頼性の向上を考える
と、接着用シート中の芯材の厚さの割合は30%以上、
好ましくは50%以上、さらに好ましくは70%以上で
ある。接着用シート中の芯材の厚さの割合が30%未満
では応力緩和性能を殆ど示さず、さらには接着剤層から
発生するガスを逃がすことも難しくなるため熱サイクル
時の接着信頼性が低下する恐れがある。また、これらの
多孔質空隙は接着性シートの全体にわたって均一に形成
されることが望ましい。さらに、多孔質ポリテトラフル
オロエチレン層と接着性樹脂層との厚さの比はリン含有
量の制御にも影響する。これらの必要な物性、性能を制
御する上で、多孔質ポリテトラフルオロエチレンシート
に接着性樹脂を含浸した接着剤シートを多孔質ポリテト
ラフルオロエチレンシートに積層する方法は好適であ
る。
【0023】接着性樹脂層の厚さは、一般に5〜70μ
m、好ましくは10〜50μm、さらに好ましくは15
〜40μmである。70μmを越えると、接着用シート
に対する樹脂の割合が増えるので難燃剤の総量も増加
し、接着用シートの要求される諸性質のバランスをとる
ことが難しくなる。5μm未満では、接着力が不十分に
なるおそれがあり、また、銅箔等のパターン埋め込み性
が十分ではなくなる。
【0024】この接着用シートを使用して、ICチップ
実装基板にICチップを実装する(図1〜3参照)。こ
の場合、上記のようにして得られた本発明の接着用シー
トを必要に応じて一枚または二枚以上積層して用いる。
二枚以上積層して用いる場合も、シート自体が有する接
着性により容易に一体化することができる。ICチップ
実装基板は、熱寸法安定性があるものであればどのよう
な基板でもよく、たとえば、PIフィルム、セラミック
基板、リードフレーム、ガラス樹脂基板、アラミド繊維
基板、液晶フィルムがあげられる。
【0025】尚、本接着用シートを使用したICパッケ
ージは、上記の状態で使用してもよいが、必要に応じて
ICチップを保護する保護枠を必要な辺に設けてもよ
い。図1〜3に示すように、本発明の接着用シートは、
IC(LSI)チップ1とIC(LSI)チップ実装基
板2との間に使用される。そして、本接着用シート3
は、接着性樹脂層が多孔質ポリテトラフルオロエチレン
層の表面部に形成され断面方向に関して中心部は多孔質
ポリテトラフルオロエチレンのみで構成され、多孔質空
隙が保持され、かつ接着性樹脂層は臭素フリーの難燃性
樹脂組成物からなる。
【0026】これによって、上記の如く、接着樹脂に不
所望な臭素を含まずに高い難燃性を保持することが可能
であり、かつ耐熱性、耐湿性などその他の特性にも優れ
たIC接着用シートを得ることができる。さらに、本発
明のIC接着用シートによれば、断面、平面両方向に関
して弾性があり、また通気性も備えている特徴を有す
る。弾性があるので、チップと実装基板の熱膨張差で生
じる歪みを緩和することができ、従来から問題とされて
いたICチップ接着剤部分のクラックまたは接着剥離を
解消することができる。本発明のICチップ接着用シー
トは、厚さ方向の中心部に位置する多孔質ポリテトラフ
ルオロエチレン層が多孔質空間を保持しているので通気
性を有し、はんだリフロー処理等に於いても、接着性樹
脂層に吸湿され、気化された水分は、この多孔質ポリテ
トラフルオロエチレン層を介して外部に放散されるた
め、パッケージクラックの問題が生じない。また、本接
着用シートを、IC(LSI)チップとIC(LSI)
チップ実装基板との接着用として使用したIC(LS
I)パッケージに関しては、IC(LSI)チップの接
着信頼性が向上し、はんだリフロー等によるパッケージ
クラックを生じない効果も有している。
【0027】
【実施例】(実施例1)主剤としてビスフェノールA型
エポキシ樹脂(エポトートYD−8125、東都化成株
式会社製)60質量部、硬化剤としてフェノールノボラ
ック樹脂(フェノライトLA−7054(不揮発分60
%)、大日本インキ化学工業株式会社製)70質量部、
2−エチル4−メチルイミダゾール10%メチルエチル
ケトン溶液1質量部、縮合リン酸エステル(PX−20
0、大八化学工業株式会社製)25質量部を混合しワニ
スとした。ワニスの不揮発分が50%になるようにメチ
ルエチルケトンを加え、濃度調整をした。多孔質PTF
E層としてゴアテックス(ジャパンゴアテックス株式会
社製)シート(厚さ200μm、空孔率45%)を用
い、これをワニスにディップして150℃、7分間乾燥
させ、厚さ30μmのエポキシ樹脂が両面にコーティン
グされ、中心部に空隙を保持したICチップ接着用シー
トを得た。 (実施例2)実施例1と同様の難燃性樹脂組成物からな
るワニスを実施例1と同様のゴアテックスシートに片面
塗布し、150℃、5分間乾燥させたのち再びロールコ
ーターで片面塗布し、150℃、5分間乾燥させ厚さ2
4μmのエポキシ樹脂が両面にコーティングされたIC
チップ接着用シートを得た。 (実施例3)実施例1と同様の難燃性樹脂組成物からな
るワニス(不揮発分40%)を厚さ20μm、空孔率6
0%のゴアテックスにディップ、含浸したのち150
℃、5分間乾燥させ厚さ20μmの接着剤シートを得
た。これを実施例1と同様のゴアテックスシートの両面
に設け、さらにその両面に離型紙を設け、熱プレスで1
30℃、3kg/cm2 、3分の条件でプレスし、ICチッ
プ接着用シートを得た。 (実施例4)主剤としてクレゾールノボラック型エポキ
シ樹脂(エピクロンN−665EXP、大日本インキ化
学工業株式会社製)62質量部、硬化剤としてフェノー
ルノボラック樹脂(フェノライトLA−7054(不揮
発分60%)、大日本インキ化学工業株式会社製)64
質量部、2−エチル4−メチルイミダゾール10%メチ
ルエチルケトン溶液1質量部、縮合リン酸エステル(P
X−200、大八化学工業株式会社製)25質量部を混
合しワニスとしたのち実施例1と同様の方法でICチッ
プ接着用シートを作製した。 (実施例5)主剤としてビスフェノールA型エポキシ樹
脂(エポトートYD−8125、東都化成株式会社製)
60質量部、硬化剤としてフェノールノボラック樹脂
(フェノライトLA−7054(不揮発分60%)、大
日本インキ化学工業株式会社製)70質量部、2−エチ
ル4−メチルイミダゾール10%メチルエチルケトン溶
液1質量部、縮合リン酸エステル(PX−200、大八
化学工業株式会社製)100質量部を混合しワニスとし
たのち実施例1と同様の方法でICチップ接着用シート
を作製した。 (比較例1)主剤としてビスフェノールA型エポキシ樹
脂(エポトートYD−8125、東都化成株式会社製)
60質量部、硬化剤としてフェノールノボラック樹脂
(フェノライトLA−7054(不揮発分60%)、大
日本インキ化学工業株式会社製)70質量部、2−エチ
ル4−メチルイミダゾール10%メチルエチルケトン溶
液1質量部を混合しワニスとしたのち実施例1と同様の
方法でICチップ接着用シートを作製した。 (比較例2)主剤としてビスフェノールA型エポキシ樹
脂(エポトートYD−8125、東都化成株式会社製)
60質量部、硬化剤としてフェノールノボラック樹脂
(フェノライトLA−7054(不揮発分60%)、大
日本インキ化学工業株式会社製)70質量部、2−エチ
ル4−メチルイミダゾール10%メチルエチルケトン溶
液1質量部、縮合リン酸エステル(PX−200、大八
化学工業株式会社製)9質量部を混合しワニスとした。
ワニスの不揮発分が35%になるようにメチルエチルケ
トンを加え、濃度調整をした。多孔質PTFE層として
ゴアテックス(ジャパンゴアテックス株式会社製)シー
ト(厚さ100μm、空孔率60%)を用い、これをワ
ニスにディップ、含浸したのち150℃、7分間乾燥さ
せ、厚さ100μmのエポキシ樹脂が厚さ方向全面に充
填されたICチップ接着用シートを得た。 (評価)作製した接着用シートの試験は、UL94規格
の薄い材料の垂直燃焼性試験による評価に加え、銅箔引
き剥がし強さをJIS規格C6481に準拠して測定を
行った。 (サンプル前処理条件:170℃×10kg×90分真空
プレス)
【0028】
【表1】
【0029】難燃性(UL94)について:×…判定の
クラス外(よく燃えた) PCT試験について:銅箔引き剥がし強さのサンプルを
121℃、湿度100%、2atm で200時間経過後、
再び銅箔引き剥がし強さを測定する。 以上の説明および実施例からも明らかなように、本発明
によれば、ICチップ接着用シートに用いる樹脂中に臭
素を用いずに十分高い難燃性を維持することができた。
また実施例1と5を比較すると、実施例1において、よ
り低い難燃成分含量で十分な難燃性を維持できているた
めに、耐湿性がより高く、すなわち接着信頼性がより高
い結果になっている。また実施例1と比較例2を比較す
ると、実施例1の方が難燃成分含量が低いにも関わらず
高い難燃性を維持し、さらに高い接着信頼性を維持して
いる。多孔質ポリテトラフルオロエチレンシートと低難
燃性樹脂組成物をくみあわせるだけでは、十分な難燃性
を得ることはできなかったが、接着シートを三層構造と
することで接着剤量を減らすことができ、より燃えにく
い構造とすることができた。すなわち本発明によれば、
接着シートの中心部にポリテトラフルオロエチレン層の
多孔性空隙を保持することにより、より低い難燃成分含
量で高い難燃性を得ることができ、さらに高い耐湿性す
なわち接着信頼性を維持することができた。
【0030】
【発明の効果】本発明によれば、臭素フリーの接着樹脂
を用いながら、なおかつ高い難燃性とともに耐熱性、耐
湿性、耐熱膨張性などの信頼性の性能も有するICチッ
プ接着用シートと、これを用いたICチップが提供され
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】ボールグリットアレー型のICパッケージの1
例を示す。
【図2】ボールグリットアレー型のICパッケージの1
例を示す。
【図3】ボールグリットアレー型のICパッケージの1
例を示す。
【図4】本発明のIC接着用シートを示す。
【符号の説明】
1…ICチップ 2…実装基板 3…接着樹脂層 4…半田ボール(接続パッド) 5…ワイヤボンディング 7…銅箔リード 11…多孔質ポリテトラフルオロエチレン層 12…接着性樹脂層 13…接着性樹脂層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 23/12 H01L 23/12 501V 501W (72)発明者 吉田 浩二 東京都世田谷区赤堤1丁目42番5号 ジャ パンゴアテックス株式会社内 Fターム(参考) 4J004 AA07 AA10 AA11 AA12 AA13 AA15 AA16 AB01 AB05 CA05 CC02 CC07 EA06 FA05 FA08 4J040 DC091 DF001 EB111 EB131 EC001 EC061 EC071 ED111 EF001 EG001 EH031 EK031 HA026 HA136 HA156 HA196 HA266 HA326 HA356 HD23 KA16 KA36 KA42 LA08 MA10 NA20 PA23 5F047 BA21

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 多孔質ポリテトラフルオロエチレンシー
    トからなる多孔質ポリテトラフルオロエチレン層の両面
    に接着性樹脂層が形成され、多孔質ポリテトラフルオロ
    エチレン層は多孔質空隙を保持しており、接着性樹脂層
    は臭素フリーの難燃性樹脂組成物からなることを特徴と
    するICチップ接着用シート。
  2. 【請求項2】 前記接着性樹脂層が、接着性樹脂シート
    を前記多孔質ポリテトラフルオロエチレン層に積層して
    形成されている請求項1に記載のICチップ接着用シー
    ト。
  3. 【請求項3】 前記接着性樹脂層が、多孔性ポリテトラ
    フルオロエチレンシートに接着性樹脂を含浸してなる接
    着性樹脂シートを前記多孔質ポリテトラフルオロエチレ
    ン層に積層して形成されている請求項2に記載のICチ
    ップ接着用シート。
  4. 【請求項4】 前記難燃性樹脂組成物のJIS−K−7
    201に規定する酸素指数が25以上である請求項1〜
    3のいずれかに記載のICチップ接着用シート。
  5. 【請求項5】 UL94難燃性試験法で測定してVTM
    −1以上の難燃性を示す請求項1〜4のいずれかに記載
    のICチップ接着用シート。
  6. 【請求項6】 前記接着性樹脂層の厚さがそれぞれ5〜
    70μmの範囲内である請求項1〜5のいずれかに記載
    のICチップ接着用シート。
  7. 【請求項7】 前記接着性樹脂層にリンを含む請求項1
    〜6のいずれかに記載のICチップ接着用シート。
  8. 【請求項8】 前記ICチップ接着用シート全体におけ
    るリンの含有量が0.08〜1.0質量%の範囲内であ
    る請求項7に記載のICチップ接着用シート。
  9. 【請求項9】 前記ICチップ用接着シート全体におけ
    るポリテトラフルオロエチレンの含有量が60質量%以
    上である請求項1〜8のいずれかに記載のICチップ接
    着用シート。
  10. 【請求項10】 請求項1〜9のいずれかに記載のIC
    チップ接着用シートを用いてICチップと実装基板を接
    着したことを特徴とするICパッケージ。
JP2001186941A 2001-06-20 2001-06-20 Icチップ接着用シートおよびicパッケージ Pending JP2003003134A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001186941A JP2003003134A (ja) 2001-06-20 2001-06-20 Icチップ接着用シートおよびicパッケージ
US10/175,141 US7307350B2 (en) 2001-06-20 2002-06-19 Integrated circuit chip bonding sheet and integrated circuit package
EP02254323A EP1270697A3 (en) 2001-06-20 2002-06-20 Integrated circuit chip bonding sheet and integrated circuit package

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001186941A JP2003003134A (ja) 2001-06-20 2001-06-20 Icチップ接着用シートおよびicパッケージ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003003134A true JP2003003134A (ja) 2003-01-08

Family

ID=19026307

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001186941A Pending JP2003003134A (ja) 2001-06-20 2001-06-20 Icチップ接着用シートおよびicパッケージ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7307350B2 (ja)
EP (1) EP1270697A3 (ja)
JP (1) JP2003003134A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005002335A (ja) * 2003-05-21 2005-01-06 Japan Gore Tex Inc 接着フィルムおよびこれを使った半導体装置
JP2008100430A (ja) * 2006-10-19 2008-05-01 Nitto Denko Corp 接着層付き樹脂多孔質膜とその製造方法ならびにフィルタ部材
JP2009032943A (ja) * 2007-07-27 2009-02-12 Japan Gore Tex Inc 発光素子用プリント配線基板
WO2011093026A1 (ja) 2010-02-01 2011-08-04 日東電工株式会社 両面粘着テープおよびその製造方法
JP2012081763A (ja) * 2011-12-05 2012-04-26 Nitto Denko Corp 接着層付き樹脂多孔質膜、フィルタ部材および樹脂多孔質膜の接着方法
WO2015060346A1 (ja) * 2013-10-23 2015-04-30 日立化成株式会社 ダイボンドシート及び半導体装置の製造方法
TWI553795B (zh) * 2011-06-15 2016-10-11 芯光飛股份有限公司 系統級封裝結構及其製造方法
US11783730B2 (en) 2020-12-30 2023-10-10 Upm Raflatac Oy Linerless label

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006228997A (ja) * 2005-02-18 2006-08-31 Fujitsu Ltd プリント基板
JP2007295308A (ja) * 2006-04-25 2007-11-08 Citizen Electronics Co Ltd エレクトレットコンデンサマイクロホンの製造方法。
US8247267B2 (en) * 2008-03-11 2012-08-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Wafer level IC assembly method
US8790432B2 (en) * 2012-04-27 2014-07-29 W. L. Gore & Associates, Inc. Seam-sealed filters and methods of making thereof
JP6478449B2 (ja) 2013-08-21 2019-03-06 キヤノン株式会社 装置の製造方法及び機器の製造方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04363032A (ja) * 1991-03-18 1992-12-15 Japan Gore Tex Inc 半導体装置
JPH06240229A (ja) * 1993-02-15 1994-08-30 Nitto Denko Corp 難燃性接着剤
JPH1022325A (ja) * 1996-06-28 1998-01-23 Japan Gore Tex Inc Icチップ接着用シートおよびicパッケージ
JPH1064927A (ja) * 1996-08-14 1998-03-06 Japan Gore Tex Inc Icパッケージ接着用シート及びicパッケージ
JPH11209724A (ja) * 1998-01-30 1999-08-03 Hitachi Chem Co Ltd 難燃化接着剤、難燃化接着部材、難燃化接着部材を備えた半導体搭載用配線基板及びこれを用いた半導体装置
JPH11209723A (ja) * 1998-01-30 1999-08-03 Hitachi Chem Co Ltd 難燃化接着剤、難燃化接着部材、難燃化接着部材を備えた半導体搭載用配線基板及びこれを用いた半導体装置
JP2000154360A (ja) * 1998-11-24 2000-06-06 Hitachi Chem Co Ltd 接着剤、接着部材、接着部材を備えた半導体搭載用配線基板及びこれを用いた半導体装置
JP2000154361A (ja) * 1998-11-24 2000-06-06 Hitachi Chem Co Ltd 接着剤、接着部材、接着部材を備えた半導体搭載用配線基板及びこれを用いた半導体装置
JP2000345035A (ja) * 1999-06-08 2000-12-12 Hitachi Chem Co Ltd 耐熱性樹脂組成物、これを用いた接着フィルム及び接着層付ポリイミドフィルム
JP2001139809A (ja) * 1999-11-17 2001-05-22 Hitachi Chem Co Ltd 耐熱性樹脂組成物、これを用いた接着剤フィルム及び接着剤付ポリイミドフィルム

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0384940B1 (de) * 1989-03-03 1994-06-22 Siemens Aktiengesellschaft Epoxidharzmischungen
US5126192A (en) * 1990-01-26 1992-06-30 International Business Machines Corporation Flame retardant, low dielectric constant microsphere filled laminate
JPH0479378A (ja) 1990-07-23 1992-03-12 Oki Electric Ind Co Ltd 薄膜トランジスタ
US5270571A (en) * 1991-10-30 1993-12-14 Amdahl Corporation Three-dimensional package for semiconductor devices
US5652055A (en) * 1994-07-20 1997-07-29 W. L. Gore & Associates, Inc. Matched low dielectric constant, dimensionally stable adhesive sheet
US5879794A (en) * 1994-08-25 1999-03-09 W. L. Gore & Associates, Inc. Adhesive-filler film composite
WO1996021693A1 (fr) * 1995-01-11 1996-07-18 Kanegafuchi Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha Nouveau copolymere thermosoudable; poudres, films, isolants thermiques, modules electroniques et condensateur stratifies fabriques a partir de ce polymere et technique de production correspondante
US6090484A (en) * 1995-05-19 2000-07-18 The Bergquist Company Thermally conductive filled polymer composites for mounting electronic devices and method of application
GB9523002D0 (en) 1995-11-09 1996-01-10 Raychem Ltd Flame-retarded adhesive composition
JP3195236B2 (ja) * 1996-05-30 2001-08-06 株式会社日立製作所 接着フィルムを有する配線テープ,半導体装置及び製造方法
JPH10173210A (ja) * 1996-12-13 1998-06-26 Canon Inc 電極、その形成方法及び該電極を有する光起電力素子
JP3639088B2 (ja) 1997-06-06 2005-04-13 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置及び配線テープ
JP2000080251A (ja) 1998-09-03 2000-03-21 Matsushita Electric Works Ltd リン変性難燃性エポキシ樹脂組成物およびその製造方法およびそのリン変性難燃性エポキシ樹脂組成物を用いた成形品および積層体
JP3539242B2 (ja) 1998-11-24 2004-07-07 日立化成工業株式会社 接着部材、接着部材を設けた半導体搭載用配線基板及びこれを用いた半導体装置
JP2000219799A (ja) 1999-01-29 2000-08-08 Dainippon Ink & Chem Inc 難燃性エポキシ樹脂組成物および積層板

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04363032A (ja) * 1991-03-18 1992-12-15 Japan Gore Tex Inc 半導体装置
JPH06240229A (ja) * 1993-02-15 1994-08-30 Nitto Denko Corp 難燃性接着剤
JPH1022325A (ja) * 1996-06-28 1998-01-23 Japan Gore Tex Inc Icチップ接着用シートおよびicパッケージ
JPH1064927A (ja) * 1996-08-14 1998-03-06 Japan Gore Tex Inc Icパッケージ接着用シート及びicパッケージ
JPH11209724A (ja) * 1998-01-30 1999-08-03 Hitachi Chem Co Ltd 難燃化接着剤、難燃化接着部材、難燃化接着部材を備えた半導体搭載用配線基板及びこれを用いた半導体装置
JPH11209723A (ja) * 1998-01-30 1999-08-03 Hitachi Chem Co Ltd 難燃化接着剤、難燃化接着部材、難燃化接着部材を備えた半導体搭載用配線基板及びこれを用いた半導体装置
JP2000154360A (ja) * 1998-11-24 2000-06-06 Hitachi Chem Co Ltd 接着剤、接着部材、接着部材を備えた半導体搭載用配線基板及びこれを用いた半導体装置
JP2000154361A (ja) * 1998-11-24 2000-06-06 Hitachi Chem Co Ltd 接着剤、接着部材、接着部材を備えた半導体搭載用配線基板及びこれを用いた半導体装置
JP2000345035A (ja) * 1999-06-08 2000-12-12 Hitachi Chem Co Ltd 耐熱性樹脂組成物、これを用いた接着フィルム及び接着層付ポリイミドフィルム
JP2001139809A (ja) * 1999-11-17 2001-05-22 Hitachi Chem Co Ltd 耐熱性樹脂組成物、これを用いた接着剤フィルム及び接着剤付ポリイミドフィルム

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005002335A (ja) * 2003-05-21 2005-01-06 Japan Gore Tex Inc 接着フィルムおよびこれを使った半導体装置
JP2008100430A (ja) * 2006-10-19 2008-05-01 Nitto Denko Corp 接着層付き樹脂多孔質膜とその製造方法ならびにフィルタ部材
KR101407799B1 (ko) * 2006-10-19 2014-06-17 닛토덴코 가부시키가이샤 접착층이 형성된 수지 다공질막의 제조 방법과 접착층이 형성된 수지 다공질막 및 필터 부재
US8828227B2 (en) 2006-10-19 2014-09-09 Nitto Denko Corporation Method for producing resin porous membrane with adhesive layer, resin porous membrane with adhesive layer, and filter member
JP2009032943A (ja) * 2007-07-27 2009-02-12 Japan Gore Tex Inc 発光素子用プリント配線基板
WO2011093026A1 (ja) 2010-02-01 2011-08-04 日東電工株式会社 両面粘着テープおよびその製造方法
TWI553795B (zh) * 2011-06-15 2016-10-11 芯光飛股份有限公司 系統級封裝結構及其製造方法
JP2012081763A (ja) * 2011-12-05 2012-04-26 Nitto Denko Corp 接着層付き樹脂多孔質膜、フィルタ部材および樹脂多孔質膜の接着方法
WO2015060346A1 (ja) * 2013-10-23 2015-04-30 日立化成株式会社 ダイボンドシート及び半導体装置の製造方法
TWI650822B (zh) * 2013-10-23 2019-02-11 日立化成股份有限公司 固晶薄片及半導體裝置的製造方法
US11783730B2 (en) 2020-12-30 2023-10-10 Upm Raflatac Oy Linerless label

Also Published As

Publication number Publication date
US20030020178A1 (en) 2003-01-30
EP1270697A2 (en) 2003-01-02
EP1270697A3 (en) 2007-08-08
US7307350B2 (en) 2007-12-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6426138B1 (en) Adhesive film for electronic parts
JP2003003134A (ja) Icチップ接着用シートおよびicパッケージ
EP1457515A1 (en) Resin composition prepreg laminated sheet and semiconductor package
JP2017119846A (ja) 樹脂組成物
EP1249863A1 (en) Semiconductor joining substrate-use tape with adhesive and copper-clad laminate sheet using it
US20090017308A1 (en) Intermediate layer material and composite laminate
JP2017179058A (ja) 樹脂シート
CN101795859A (zh) 具有均匀介电常数的预浸料、以及使用该预浸料的覆金属层压板和印制线路板
JP2017008204A (ja) 樹脂組成物
JP2003298196A (ja) プリント配線板用誘電体フィルム、多層プリント基板および半導体装置
JP4132703B2 (ja) 銅張積層板用プリプレグ及びそれを用いた銅張積層板
WO2002086003A1 (en) A thermosetting adhesive film, and an adhesive structure based on the use thereof
JP6342179B2 (ja) 温度センシングデバイス及び回路基板
JP2003253018A (ja) プリプレグ及びそれを用いたプリント配線板
JP6398824B2 (ja) 樹脂シート
JP2015168733A (ja) インク組成物、保護膜及びフレキシブルプリント配線板
JP2007070418A (ja) 接着シート、金属箔張積層板及びビルドアップ型多層プリント配線板
JP2005126543A (ja) 難燃性非ハロゲンエポキシ樹脂組成物及びそれを用いたフレキシブル印刷配線板材料
JP6342263B2 (ja) カバーレイ、フレキシブルプリント配線板及びledモジュール
JP4639439B2 (ja) エポキシ樹脂組成物、プリプレグ及びそれを用いた銅張積層板
JP4714970B2 (ja) エポキシ樹脂組成物、プリプレグ及びそれを用いた銅張積層板
JP5239661B2 (ja) カバーレイフィルム
JP2002161150A (ja) プリプレグおよびこれを用いた積層板およびプリント配線基板
JP2016210852A (ja) 樹脂組成物
JPH0685107A (ja) 電子回路パッケージ及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080527

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110517

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110524

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110927