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JP2002373872A - Cmp装置 - Google Patents

Cmp装置

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JP2002373872A
JP2002373872A JP2001178855A JP2001178855A JP2002373872A JP 2002373872 A JP2002373872 A JP 2002373872A JP 2001178855 A JP2001178855 A JP 2001178855A JP 2001178855 A JP2001178855 A JP 2001178855A JP 2002373872 A JP2002373872 A JP 2002373872A
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JP
Japan
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slurry
polishing pad
polishing
stoppers
cmp apparatus
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Application number
JP2001178855A
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English (en)
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Inventor
Atsushi Nishihara
淳 西原
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/11Lapping tools
    • B24B37/20Lapping pads for working plane surfaces
    • B24B37/26Lapping pads for working plane surfaces characterised by the shape of the lapping pad surface, e.g. grooved
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B57/00Devices for feeding, applying, grading or recovering grinding, polishing or lapping agents
    • B24B57/02Devices for feeding, applying, grading or recovering grinding, polishing or lapping agents for feeding of fluid, sprayed, pulverised, or liquefied grinding, polishing or lapping agents

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 CMP装置において、コストを要せず簡易な
構造でスラリーの使用量を低減すると共に、研磨パッド
の洗浄も確実にできるようにする。 【解決手段】 CMP装置において、スラリーストッパ
10により研磨中にスラリーが研磨パッド6から妄りに
落下するのを防止すると共に、研磨パッドの洗浄時には
スラリーが研磨パッド6に滞留しないようにするため、
複数のスラリーストッパ10を、研磨パッド6の外周に
沿って略等角度間隔で、かつ、隣接するスラリーストッ
パ10の端同士が互いに研磨パッド6の内外方向に所定
の間隔を隔てるように、例えば接着剤で取り付ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、化学的機械的研磨
装置(CMP装置という)に関し、特に研磨パッドの構
成に特徴を有するCMP装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】LSIの高集積化によりその内部配線の微
細化、多層化が進んでおり、これに伴い半導体装置の製
造においてウエーハ表面の平坦化技術が重要な課題とな
っている。この平坦化の問題解決手段のひとつとして、
CMP法を利用してウエーハ表面を平坦化することが行
われている。このCMPは、図4に模式的に示すように、
例えば、発泡ウレタン樹脂などの多孔性の研磨パッド6
を張り付けた回転プラテン1を有し、この研磨パッド6
にノズルを介してシリカなどの研磨剤を含んだ水溶液か
らなるスラリー7を流下し、例えばシリンダで上下動自
在に配置されたヘッド7にウエーハを装着して、このウ
ェハーを研磨パッド6に押し付けながら、プラテン1及
びヘッド7を回転させてスラリー7で研磨するものであ
る。
【0003】図5はCMP装置で使用される従来の研磨
パッド6を示し、5Aはその正面図、5Bは側面図であ
る。研磨パッド6は、図6Aに示すように円板状であ
り、図示のように、例えば時計方向に約50rpm〜15
0rpmで回転し、その中心付近にスラリー7を100
(cc/min)〜300(cc/min)程度のレートで供
給する。供給されたスラリー7はプラテン2の回転に伴
う遠心力でパッド面に広がり、この状態で前述のように
ヘッド1に圧力を与えながら研磨パッド6に押し付けて
回転させ、ヘッド7に装着したウエーハを研磨して表面
の平坦化を行っている。ドレッサ3は、研磨中または研
磨後にドレッサ圧をかけながら研磨パッド6に接触回転
し、研磨パッド6の表面の目立てを行う。
【0004】ところで、従来のCMP装置においては研
磨動作中、研磨パッド6状に供給されたスラリー7は、
円板状の研磨パッド面上を中心から周縁部に向かって螺
旋状に拡散し、やがて研磨パッド6周辺から落ちてゆく
ため、スラリ7が浪費されるという問題がある。
【0005】そこで、この問題を解決するため、研磨パ
ッド6の周辺を土手のように盛り上げ、スラリー7が研
磨パッド6の周縁部から落下しないようすることが既に
提案されている。図6は研磨パッドを示したものであっ
て、6Aは正面図及び図6Bの側面図である。このよう
に、スラリ7を研磨パッド6の内部に取り込み研磨する
という方式は、一面ではスラリ7の浪費を削減するのに
効果があるが、反面、研磨パッド6中にスラリ7が常に
溜まっているため、ウエーハ研磨後等に、ドレッサ3で
研磨パッド6の目立てをする場合、その状態では研磨パ
ッド6の目立ては不可能である。また、スラリの中の含
まれる成分の一部が凝集し洗浄することもできないた
め、ウエーハのスクラッチの原因になる等の問題があ
る。
【0006】他の従来技術としては、研磨パッドに研磨
液(スラリ)供給用貫通孔と排出用貫通孔を設け、研磨
液を供給しつつ、同時に排出できるようにした研磨パッ
ド及び研磨装置も提案されている(特開平11−582
18号公報)。この装置によれば確かに前記問題は解決
し得るが、研磨パッドを特殊な構造のものとする必要が
あり、構造が複雑化するとともそのためコストが上昇す
るなどの問題がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、前記従来の
問題に鑑みてなされたもので、その目的は、できるかぎ
りコストを要せず簡易な構造でスラリーの使用量を低減
出来ると共に、研磨パッドの洗浄等も確実にできるよう
にすることである。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、互い
に回転する研磨パッドと被研磨物とをスラリを介して当
接させ、前記被研磨物を研磨するCMP装置において、
前記研磨パッドの外周に沿って略等角度間隔で配置され
た複数のスラリーストッパを備え、かつ、前記スラリー
ストッパは互いに所定間隔を隔てて配置されていること
を特徴とするCMP装置である。
【0009】請求項2の発明は、互いに回転する研磨パ
ッドと被研磨物とをスラリを介して当接させ、前記被研
磨物を研磨するCMP装置において、前記研磨パッドの
外周に沿って略等角度間隔で配置された複数のスラリー
ストッパを備え、かつ、前記スラリーストッパは前記研
磨パッドの回転方向に対してそれぞれ傾斜して配置され
ていることを特徴とするCMP装置である。
【0010】請求項3の発明は、請求項2に記載された
CMP装置において、前記スラリーストッパーはそれぞ
れ前記研磨パッドの回転方向に対して5゜〜45゜傾斜
して配置されていることを特徴とするCMP装置であ
る。
【0011】請求項4の発明は、請求項1乃至3のいず
れかに記載されたCMP装置において、前記スラリース
トッパは前記研磨パッドに取り付られたものであること
を特徴とするCMP装置である。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明の実施例を図面に従って説
明する。図1は本発明の研磨パッド6の1例を示すもの
であって、図1Aはその平面図、図1Bは側面図を示
す。この研磨パッド6は、従来の研磨パッドの周縁に沿
って複数のスラリーストッパ10を取り付けた構造であ
る。スラリーストッパ10は、ここでは各々図示のよう
に、所定の長さの板状部材で中央部が屈曲したへ字状に
形成されている。スラリーストッパ10は、研磨パッド
6の外周に沿って略等角度間隔で、隣接するスラリース
トッパ10との間にスラリの流路となる隙間が形成され
るように互いに間隔を隔てて配置されている。
【0013】図2は、前記スラリーストッパ10付研磨
パッド6の製造工程を概略説明するための図である。即
ち、スラリーストッパ10は、従来の研磨パッド6の外
周に沿って、プラテン2の、即ち研磨パッド6の回転方
向に対して、その長手方向軸線が5〜45゜傾斜するよ
うに配置され、例えば接着剤等の任意の手段により取り
付ける。これにより、隣接するスラリーストッパの端部
間には、摩擦パッド又はプラテンの内外方向に所定間隔
の間隙が生じる。
【0014】スラリーストッパ10を前記角度を研磨パ
ッド6の回転方向に対して傾斜して取り付ける意味は、
研磨パッド6上を螺旋状に流れるスラリに対してその流
れを有効に止めることができるよう、その流れの方向を
考慮して配置するためである。また、前記角度範囲は、
スラリの流れの方向がプラテンの回転速度に応じて変化
するため、プラテンの回転速度(約50rpm〜150rp
m)を考慮して定めたものである。
【0015】以上の構成において、プラテン2が回転し
スラリ7が供給されると、スラリ7はプラテン2の回転
の遠心力により研磨パッドの中央部付近から周縁に向か
って螺旋状に流れるが、その流れは周縁部ではスラリー
ストッパ10に妨げられるため、周縁部からそのまま落
下することはない。
【0016】他方、スラリーストッパ10は、研磨パッ
ドの6の周縁に沿って隣接するスラリーストッパ間に間
隙があるため、研磨パッド6上の目立ておよび洗浄時に
は、スラリ7は前記間隙から研磨パッド6外に流出し、
研磨パッド6上に溜まることがないためその作業に支障
を来すことがなく、ウエーハにスクラッチを発生させる
等の問題も生じない。
【0017】以上説明したように、本発明において所定
の間隔とは、研磨中においてスラリーストッパ10が研
磨パッド外縁から流出するのを抑制できると共に、研磨
パッド6上の目立ておよび洗浄時には、スラリ7が前記
隙間から研磨パッド6外に流出できる間隔を意味する。
【0018】図3はスラリーストッパ10の変形例を示
す。この実施例ではスラリーストッパは長方形状である
こと以外は、既に述べた実施例におけるスラリーストッ
パ10と同様である。この場合にも以上で述べた効果が
得られることは勿論である。なお、スラリーストッパ1
0の形状は、以上説明したものに限らず、本発明の目的
が達成できる限り自由であり、例えば、円弧状のもので
あってもよい。
【0019】
【発明の効果】(1)本発明によれば、簡単な構成でス
ラリーの使用量を低減できると共に、デレッサーによる
目立てや洗浄も支障なく行うことができ、また、スラリ
ーの凝集も生じないから、ウエハにスクラッチを生じる
こともない。 (2)本発明のCMP研磨装置は、研磨パッドに単にス
ラリーストッパを取り付けるだけで実現できるから、従
来の研磨パッドを利用して低コストで製造できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のスラリーストッパを備えた研磨パッ
ドの1実施例を示し、図1Aはその正面図、図1Bは側
面図である。
【図2】 本発明のスラリーストッパを備えた研磨パッ
ドの作製手順を説明するための図である。
【図3】 本発明の他の実施例に係る研磨パッドの正面
図である。
【図4】 CMP装置を模式的に示した図である。
【図5】 従来の研磨パッドを示し、図5Aはその正面
図、5Bは側面図である。
【図6】 従来の研磨パッドの他の例を示し、図6Aは
その正面図、6Bは側面図である。
【符号の説明】
1・・・ヘッド、2・・・プラテン、3・・・ドレッサ、6・・・研
磨パッド、7・・・スラリー、10・・・スラリーストッパ、

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに回転する研磨パッドと被研磨物と
    をスラリを介して当接させ、前記被研磨物を研磨するC
    MP装置において、 前記研磨パッドの外周に沿って略等角度間隔で配置され
    た複数のスラリーストッパを備え、かつ、前記スラリー
    ストッパは互いに所定間隔を隔てて配置されていること
    を特徴とするCMP装置。
  2. 【請求項2】 互いに回転する研磨パッドと被研磨物と
    をスラリを介して当接させ、前記被研磨物を研磨するC
    MP装置において、 前記研磨パッドの外周に沿って略等角度間隔で配置され
    た複数のスラリーストッパを備え、かつ、前記スラリー
    ストッパは前記研磨パッドの回転方向に対してそれぞれ
    傾斜して配置されていることを特徴とするCMP装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載されたCMP装置におい
    て、前記スラリーストッパーはそれぞれ前記研磨パッド
    の回転方向に対して5゜〜45゜傾斜して配置されてい
    ることを特徴とするCMP装置。
  4. 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれかに記載された
    CMP装置において、 前記スラリーストッパは前記研磨パッドに取り付られた
    ものであることを特徴とするCMP装置。
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