JP2002373872A - Cmp装置 - Google Patents
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Classifications
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-
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Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
構造でスラリーの使用量を低減すると共に、研磨パッド
の洗浄も確実にできるようにする。 【解決手段】 CMP装置において、スラリーストッパ
10により研磨中にスラリーが研磨パッド6から妄りに
落下するのを防止すると共に、研磨パッドの洗浄時には
スラリーが研磨パッド6に滞留しないようにするため、
複数のスラリーストッパ10を、研磨パッド6の外周に
沿って略等角度間隔で、かつ、隣接するスラリーストッ
パ10の端同士が互いに研磨パッド6の内外方向に所定
の間隔を隔てるように、例えば接着剤で取り付ける。
Description
装置(CMP装置という)に関し、特に研磨パッドの構
成に特徴を有するCMP装置に関するものである。
細化、多層化が進んでおり、これに伴い半導体装置の製
造においてウエーハ表面の平坦化技術が重要な課題とな
っている。この平坦化の問題解決手段のひとつとして、
CMP法を利用してウエーハ表面を平坦化することが行
われている。このCMPは、図4に模式的に示すように、
例えば、発泡ウレタン樹脂などの多孔性の研磨パッド6
を張り付けた回転プラテン1を有し、この研磨パッド6
にノズルを介してシリカなどの研磨剤を含んだ水溶液か
らなるスラリー7を流下し、例えばシリンダで上下動自
在に配置されたヘッド7にウエーハを装着して、このウ
ェハーを研磨パッド6に押し付けながら、プラテン1及
びヘッド7を回転させてスラリー7で研磨するものであ
る。
パッド6を示し、5Aはその正面図、5Bは側面図であ
る。研磨パッド6は、図6Aに示すように円板状であ
り、図示のように、例えば時計方向に約50rpm〜15
0rpmで回転し、その中心付近にスラリー7を100
(cc/min)〜300(cc/min)程度のレートで供
給する。供給されたスラリー7はプラテン2の回転に伴
う遠心力でパッド面に広がり、この状態で前述のように
ヘッド1に圧力を与えながら研磨パッド6に押し付けて
回転させ、ヘッド7に装着したウエーハを研磨して表面
の平坦化を行っている。ドレッサ3は、研磨中または研
磨後にドレッサ圧をかけながら研磨パッド6に接触回転
し、研磨パッド6の表面の目立てを行う。
磨動作中、研磨パッド6状に供給されたスラリー7は、
円板状の研磨パッド面上を中心から周縁部に向かって螺
旋状に拡散し、やがて研磨パッド6周辺から落ちてゆく
ため、スラリ7が浪費されるという問題がある。
ッド6の周辺を土手のように盛り上げ、スラリー7が研
磨パッド6の周縁部から落下しないようすることが既に
提案されている。図6は研磨パッドを示したものであっ
て、6Aは正面図及び図6Bの側面図である。このよう
に、スラリ7を研磨パッド6の内部に取り込み研磨する
という方式は、一面ではスラリ7の浪費を削減するのに
効果があるが、反面、研磨パッド6中にスラリ7が常に
溜まっているため、ウエーハ研磨後等に、ドレッサ3で
研磨パッド6の目立てをする場合、その状態では研磨パ
ッド6の目立ては不可能である。また、スラリの中の含
まれる成分の一部が凝集し洗浄することもできないた
め、ウエーハのスクラッチの原因になる等の問題があ
る。
液(スラリ)供給用貫通孔と排出用貫通孔を設け、研磨
液を供給しつつ、同時に排出できるようにした研磨パッ
ド及び研磨装置も提案されている(特開平11−582
18号公報)。この装置によれば確かに前記問題は解決
し得るが、研磨パッドを特殊な構造のものとする必要が
あり、構造が複雑化するとともそのためコストが上昇す
るなどの問題がある。
問題に鑑みてなされたもので、その目的は、できるかぎ
りコストを要せず簡易な構造でスラリーの使用量を低減
出来ると共に、研磨パッドの洗浄等も確実にできるよう
にすることである。
に回転する研磨パッドと被研磨物とをスラリを介して当
接させ、前記被研磨物を研磨するCMP装置において、
前記研磨パッドの外周に沿って略等角度間隔で配置され
た複数のスラリーストッパを備え、かつ、前記スラリー
ストッパは互いに所定間隔を隔てて配置されていること
を特徴とするCMP装置である。
ッドと被研磨物とをスラリを介して当接させ、前記被研
磨物を研磨するCMP装置において、前記研磨パッドの
外周に沿って略等角度間隔で配置された複数のスラリー
ストッパを備え、かつ、前記スラリーストッパは前記研
磨パッドの回転方向に対してそれぞれ傾斜して配置され
ていることを特徴とするCMP装置である。
CMP装置において、前記スラリーストッパーはそれぞ
れ前記研磨パッドの回転方向に対して5゜〜45゜傾斜
して配置されていることを特徴とするCMP装置であ
る。
れかに記載されたCMP装置において、前記スラリース
トッパは前記研磨パッドに取り付られたものであること
を特徴とするCMP装置である。
明する。図1は本発明の研磨パッド6の1例を示すもの
であって、図1Aはその平面図、図1Bは側面図を示
す。この研磨パッド6は、従来の研磨パッドの周縁に沿
って複数のスラリーストッパ10を取り付けた構造であ
る。スラリーストッパ10は、ここでは各々図示のよう
に、所定の長さの板状部材で中央部が屈曲したへ字状に
形成されている。スラリーストッパ10は、研磨パッド
6の外周に沿って略等角度間隔で、隣接するスラリース
トッパ10との間にスラリの流路となる隙間が形成され
るように互いに間隔を隔てて配置されている。
パッド6の製造工程を概略説明するための図である。即
ち、スラリーストッパ10は、従来の研磨パッド6の外
周に沿って、プラテン2の、即ち研磨パッド6の回転方
向に対して、その長手方向軸線が5〜45゜傾斜するよ
うに配置され、例えば接着剤等の任意の手段により取り
付ける。これにより、隣接するスラリーストッパの端部
間には、摩擦パッド又はプラテンの内外方向に所定間隔
の間隙が生じる。
ッド6の回転方向に対して傾斜して取り付ける意味は、
研磨パッド6上を螺旋状に流れるスラリに対してその流
れを有効に止めることができるよう、その流れの方向を
考慮して配置するためである。また、前記角度範囲は、
スラリの流れの方向がプラテンの回転速度に応じて変化
するため、プラテンの回転速度(約50rpm〜150rp
m)を考慮して定めたものである。
スラリ7が供給されると、スラリ7はプラテン2の回転
の遠心力により研磨パッドの中央部付近から周縁に向か
って螺旋状に流れるが、その流れは周縁部ではスラリー
ストッパ10に妨げられるため、周縁部からそのまま落
下することはない。
ドの6の周縁に沿って隣接するスラリーストッパ間に間
隙があるため、研磨パッド6上の目立ておよび洗浄時に
は、スラリ7は前記間隙から研磨パッド6外に流出し、
研磨パッド6上に溜まることがないためその作業に支障
を来すことがなく、ウエーハにスクラッチを発生させる
等の問題も生じない。
の間隔とは、研磨中においてスラリーストッパ10が研
磨パッド外縁から流出するのを抑制できると共に、研磨
パッド6上の目立ておよび洗浄時には、スラリ7が前記
隙間から研磨パッド6外に流出できる間隔を意味する。
す。この実施例ではスラリーストッパは長方形状である
こと以外は、既に述べた実施例におけるスラリーストッ
パ10と同様である。この場合にも以上で述べた効果が
得られることは勿論である。なお、スラリーストッパ1
0の形状は、以上説明したものに限らず、本発明の目的
が達成できる限り自由であり、例えば、円弧状のもので
あってもよい。
ラリーの使用量を低減できると共に、デレッサーによる
目立てや洗浄も支障なく行うことができ、また、スラリ
ーの凝集も生じないから、ウエハにスクラッチを生じる
こともない。 (2)本発明のCMP研磨装置は、研磨パッドに単にス
ラリーストッパを取り付けるだけで実現できるから、従
来の研磨パッドを利用して低コストで製造できる。
ドの1実施例を示し、図1Aはその正面図、図1Bは側
面図である。
ドの作製手順を説明するための図である。
図である。
図、5Bは側面図である。
その正面図、6Bは側面図である。
磨パッド、7・・・スラリー、10・・・スラリーストッパ、
Claims (4)
- 【請求項1】 互いに回転する研磨パッドと被研磨物と
をスラリを介して当接させ、前記被研磨物を研磨するC
MP装置において、 前記研磨パッドの外周に沿って略等角度間隔で配置され
た複数のスラリーストッパを備え、かつ、前記スラリー
ストッパは互いに所定間隔を隔てて配置されていること
を特徴とするCMP装置。 - 【請求項2】 互いに回転する研磨パッドと被研磨物と
をスラリを介して当接させ、前記被研磨物を研磨するC
MP装置において、 前記研磨パッドの外周に沿って略等角度間隔で配置され
た複数のスラリーストッパを備え、かつ、前記スラリー
ストッパは前記研磨パッドの回転方向に対してそれぞれ
傾斜して配置されていることを特徴とするCMP装置。 - 【請求項3】 請求項2に記載されたCMP装置におい
て、前記スラリーストッパーはそれぞれ前記研磨パッド
の回転方向に対して5゜〜45゜傾斜して配置されてい
ることを特徴とするCMP装置。 - 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれかに記載された
CMP装置において、 前記スラリーストッパは前記研磨パッドに取り付られた
ものであることを特徴とするCMP装置。
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