JP2001358442A - 半導体パッケージの実装構造 - Google Patents
半導体パッケージの実装構造Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 熱及び機械的な外力に対する耐性を向上させ
た半導体パッケージの実装構造を提供する。 【解決手段】 プリント配線基板1のパッド2にビア8
を形成し、パッド2から導出する接続配線3をビア8を
介して前記パッド2と異なる階層に設ける。さらにはん
だ5をパッド2の錐状部2bに食込んだ状態で固形す
る。
た半導体パッケージの実装構造を提供する。 【解決手段】 プリント配線基板1のパッド2にビア8
を形成し、パッド2から導出する接続配線3をビア8を
介して前記パッド2と異なる階層に設ける。さらにはん
だ5をパッド2の錐状部2bに食込んだ状態で固形す
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線基板
のパッドに半導体パッケージをはんだ付けして実装する
半導体パッケージの実装構造に関するものである。
のパッドに半導体パッケージをはんだ付けして実装する
半導体パッケージの実装構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】最近、モバイル端末に搭載される半導体
パッケージとして、CSP型半導体パッケージが開発さ
れている。CSP型半導体パッケージは、Chip S
cale Packageと称されるものである。
パッケージとして、CSP型半導体パッケージが開発さ
れている。CSP型半導体パッケージは、Chip S
cale Packageと称されるものである。
【0003】従来、CSP型半導体パッケージをプリン
ト基板にはんだ付けして実装するため、図4及び図5に
示すようにプリント配線基板1の表層に円環状パッド2
が形成され、前記円環状パッド2の内側に接続配線3の
頭部3aが埋め込まれて形成され、前記パッド2から引
出す接続配線3が前記パッド2と同一層でプリント配線
基板1の表層に設けられている。
ト基板にはんだ付けして実装するため、図4及び図5に
示すようにプリント配線基板1の表層に円環状パッド2
が形成され、前記円環状パッド2の内側に接続配線3の
頭部3aが埋め込まれて形成され、前記パッド2から引
出す接続配線3が前記パッド2と同一層でプリント配線
基板1の表層に設けられている。
【0004】また前記パッド2と接続配線3の頭部3a
に渡って半導体パッケージのはんだ5との濡れ性を高め
るためにメッキ6が施され、また隣接するパッド2及び
接続配線3の相互間を絶縁するためにプリント配線基板
1の表層にはソルダーレジスト7が塗布され、図4及び
図5に示すようにソルダーレジスト7がパッド2の際で
メッキ6に接触しており、接続配線3がソルダーレジス
ト7で被覆されている。10は、パッド2とソルダーレ
ジスト7の間に確保されたソルダーレジスト逃げ部であ
る。
に渡って半導体パッケージのはんだ5との濡れ性を高め
るためにメッキ6が施され、また隣接するパッド2及び
接続配線3の相互間を絶縁するためにプリント配線基板
1の表層にはソルダーレジスト7が塗布され、図4及び
図5に示すようにソルダーレジスト7がパッド2の際で
メッキ6に接触しており、接続配線3がソルダーレジス
ト7で被覆されている。10は、パッド2とソルダーレ
ジスト7の間に確保されたソルダーレジスト逃げ部であ
る。
【0005】プリント配線基板1上にCSP型半導体パ
ッケージを搭載してはんだ付けすると、図5に示すよう
に接続配線3上に施されたメッキ6上で接続が行われ
る。
ッケージを搭載してはんだ付けすると、図5に示すよう
に接続配線3上に施されたメッキ6上で接続が行われ
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】一般的に接続配線3と
しては銅配線が用いられ、メッキとしてはニッケルメッ
キが用いられており、図6に示すように、半導体パッケ
ージの発熱により、銅配線3,ニッケルメッキ6,ソル
ダーレジスト7には膨張,収縮が発生する。
しては銅配線が用いられ、メッキとしてはニッケルメッ
キが用いられており、図6に示すように、半導体パッケ
ージの発熱により、銅配線3,ニッケルメッキ6,ソル
ダーレジスト7には膨張,収縮が発生する。
【0007】従来のようにプリント配線基板1の表層で
接続配線3の引廻しを行うと、各々の膨張係数は異な
り、かつ膨張方向がお互いに反する方向であり、熱及び
機械的な外力が加わった場合に、ニッケルメッキ6とソ
ルダーレジスト7が施されている銅配線3には、ニッケ
ルメッキ6とソルダーレジスト7の部分で応力9が発生
する。
接続配線3の引廻しを行うと、各々の膨張係数は異な
り、かつ膨張方向がお互いに反する方向であり、熱及び
機械的な外力が加わった場合に、ニッケルメッキ6とソ
ルダーレジスト7が施されている銅配線3には、ニッケ
ルメッキ6とソルダーレジスト7の部分で応力9が発生
する。
【0008】前記応力9の発生により、ニッケルメッキ
6とソルダーレジスト7の境界部分で銅配線3の断線が
発生することとなり、その断線により半導体装置が破壊
されてしまうという問題がある。
6とソルダーレジスト7の境界部分で銅配線3の断線が
発生することとなり、その断線により半導体装置が破壊
されてしまうという問題がある。
【0009】本発明の目的は、熱及び機械的な外力に対
する耐性を向上させた半導体パッケージの実装構造を提
供することにある。
する耐性を向上させた半導体パッケージの実装構造を提
供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体パッケージの実装構造は、プリ
ント配線基板のパッドに半導体パッケージをはんだ付け
して実装する半導体パッケージの実装構造において、前
記プリント配線基板のパッドにビアを形成し、前記パッ
ドから導出する接続配線を前記ビアを介して前記パッド
と異なる階層に設け、さらに半導体パッケージ搭載用は
んだを前記ビア内のパッドに食込ませて前記パッドに結
合したものである。
め、本発明に係る半導体パッケージの実装構造は、プリ
ント配線基板のパッドに半導体パッケージをはんだ付け
して実装する半導体パッケージの実装構造において、前
記プリント配線基板のパッドにビアを形成し、前記パッ
ドから導出する接続配線を前記ビアを介して前記パッド
と異なる階層に設け、さらに半導体パッケージ搭載用は
んだを前記ビア内のパッドに食込ませて前記パッドに結
合したものである。
【0011】また前記ビアは錐状に形成し、前記パッド
は、前記プリント配線基板の表層に形成した円環部と、
前記円環部から前記ビアの内壁に沿って延長した錐状部
を有し、前記パッドは、前記錐状部の先端で前記接続配
線に接続するものである。
は、前記プリント配線基板の表層に形成した円環部と、
前記円環部から前記ビアの内壁に沿って延長した錐状部
を有し、前記パッドは、前記錐状部の先端で前記接続配
線に接続するものである。
【0012】また前記パッドは、前記半導体パッケージ
と接続する全面にメッキが施されたものである。
と接続する全面にメッキが施されたものである。
【0013】また前記半導体パッケージの隅部に対応す
る前記プリント配線基板のパッドに前記ビアを形成した
ものである。
る前記プリント配線基板のパッドに前記ビアを形成した
ものである。
【0014】また前記ビアは、前記プリント配線基板を
貫通して形成されたものである。
貫通して形成されたものである。
【0015】また前記パッドの前記円環部と前記プリン
ト配線基板上のソルダーレジストの境界部分に空スペー
スを確保したものである。
ト配線基板上のソルダーレジストの境界部分に空スペー
スを確保したものである。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図に
より説明する。
より説明する。
【0017】図1は本発明に係る半導体パッケージの実
装構造を示す図、図2は本発明に係る半導体パッケージ
の実装構造に用いるプリント配線基板の主要部を示す平
面図、図3は本発明に係る半導体パッケージの実装構造
を示す断面図である。
装構造を示す図、図2は本発明に係る半導体パッケージ
の実装構造に用いるプリント配線基板の主要部を示す平
面図、図3は本発明に係る半導体パッケージの実装構造
を示す断面図である。
【0018】図1及び図2に示すように本発明に係る半
導体パッケージの実装構造は、プリント配線基板1のパ
ッド2に半導体パッケージ4を例えばハンダボール等の
はんだ5を用いてはんだ付けして実装するようにしたも
のである。
導体パッケージの実装構造は、プリント配線基板1のパ
ッド2に半導体パッケージ4を例えばハンダボール等の
はんだ5を用いてはんだ付けして実装するようにしたも
のである。
【0019】図2及び図3に示すように、前記プリント
配線基板1のパッド2にビア8を形成し、前記パッド2
から導出する接続配線3を前記ビア8を介して前記パッ
ド2と異なる階層に設けている。
配線基板1のパッド2にビア8を形成し、前記パッド2
から導出する接続配線3を前記ビア8を介して前記パッ
ド2と異なる階層に設けている。
【0020】図2及び図3に示す例では、前記パッド2
から導出する接続配線3は前記ビア8を介して前記パッ
ド2と異なる階層であるプリント配線基板1の裏面側に
ソルダーレジスト7から隔離して設けている。
から導出する接続配線3は前記ビア8を介して前記パッ
ド2と異なる階層であるプリント配線基板1の裏面側に
ソルダーレジスト7から隔離して設けている。
【0021】さらに前記ビア8は錐状に形成し、前記パ
ッド2は、前記プリント配線基板1の表層に形成した円
環部2aと、前記円環部2aから前記ビア8の内壁に沿
って延長した錐状部2bの組合わせから構成しており、
このパッド2の構造により前記パッド2から導出する接
続配線3を前記パッド2と異なる階層であるプリント配
線基板1の裏面側にソルダーレジスト7から隔離して設
けている。
ッド2は、前記プリント配線基板1の表層に形成した円
環部2aと、前記円環部2aから前記ビア8の内壁に沿
って延長した錐状部2bの組合わせから構成しており、
このパッド2の構造により前記パッド2から導出する接
続配線3を前記パッド2と異なる階層であるプリント配
線基板1の裏面側にソルダーレジスト7から隔離して設
けている。
【0022】また図3に示すように前記パッド2から導
出する接続配線3を前記パッド2と異なる階層であるプ
リント配線基板1の裏面側にソルダーレジスト7から隔
離して設けることにより、ビア2の円環部2aとプリン
ト配線基板1上のソルダーレジスト7の境界部分に空ス
ペースSを確保するようにしている。
出する接続配線3を前記パッド2と異なる階層であるプ
リント配線基板1の裏面側にソルダーレジスト7から隔
離して設けることにより、ビア2の円環部2aとプリン
ト配線基板1上のソルダーレジスト7の境界部分に空ス
ペースSを確保するようにしている。
【0023】また前記パッド2は、前記錐状部2bの先
端で前記接続配線3の頭部3aに接続するようになって
いる。
端で前記接続配線3の頭部3aに接続するようになって
いる。
【0024】さらに前記パッド2の錐状部2bがビア8
の内壁に沿ってプリント配線基板1の表層側から裏面側
に漏斗状(楔状)に形成されることを利用して、半導体
パッケージ搭載用はんだ5を前記ビア8内のパッド2
(特に錐状部2b)に食込ませて前記パッド2に結合さ
せることより、半導体パッケージ4のプリント配線基板
1に対する結合度合いを高めて、図1の半導体パッケー
ジ4をプリント配線基板1に強固に取付けるようになっ
ている。また図2において10は、パッド2とソルダー
レジスト7の間に確保されたソルダーレジスト逃げ部で
ある。
の内壁に沿ってプリント配線基板1の表層側から裏面側
に漏斗状(楔状)に形成されることを利用して、半導体
パッケージ搭載用はんだ5を前記ビア8内のパッド2
(特に錐状部2b)に食込ませて前記パッド2に結合さ
せることより、半導体パッケージ4のプリント配線基板
1に対する結合度合いを高めて、図1の半導体パッケー
ジ4をプリント配線基板1に強固に取付けるようになっ
ている。また図2において10は、パッド2とソルダー
レジスト7の間に確保されたソルダーレジスト逃げ部で
ある。
【0025】また前記パッド2は、前記半導体パッケー
ジ4と接続する全面、すなわち円環部2aと錐状部2b
の内壁全面にメッキ6が施され、はんだ5との濡れ性が
向上されている。
ジ4と接続する全面、すなわち円環部2aと錐状部2b
の内壁全面にメッキ6が施され、はんだ5との濡れ性が
向上されている。
【0026】また前記プリント配線基板1にビア8を形
成するにあっては、全てのパッド2に対応して設ける必
要はなく、例えば半導体パッケージ4の隅部に盛付けら
れるはんだ5に対応するプリント配線基板1上のパッド
2に対応してビア8を形成するようにしてもよいもので
ある。
成するにあっては、全てのパッド2に対応して設ける必
要はなく、例えば半導体パッケージ4の隅部に盛付けら
れるはんだ5に対応するプリント配線基板1上のパッド
2に対応してビア8を形成するようにしてもよいもので
ある。
【0027】また図3に示すようにビア8はプリント配
線基板1を貫通して形成したが、プリント基板1が多層
基板構造の場合には、必ずしもプリント配線基板1を貫
通して設ける必要はなく、接続配線3がプリント配線基
板1の表層とは異なる階層に設けられる場合には、その
深さ位置に達する深さにビア8を形成すればよいもので
ある。
線基板1を貫通して形成したが、プリント基板1が多層
基板構造の場合には、必ずしもプリント配線基板1を貫
通して設ける必要はなく、接続配線3がプリント配線基
板1の表層とは異なる階層に設けられる場合には、その
深さ位置に達する深さにビア8を形成すればよいもので
ある。
【0028】またCSP型半導体パッケージに対応する
プリント配線基板1のパッド2に適用したが、CSP型
半導体パッケージ以外のパッケージにも同様に適用する
ことができるものである。
プリント配線基板1のパッド2に適用したが、CSP型
半導体パッケージ以外のパッケージにも同様に適用する
ことができるものである。
【0029】図1に示すように半導体パッケージ4の電
極面に盛付けたはんだ5をプリント配線基板1のパッド
2に対して位置決めし、はんだペーストを供給し、はん
だ5を溶融して半導体パッケージ4の電極をプリント配
線基板1のパッド2にリフローはんだ付けする。
極面に盛付けたはんだ5をプリント配線基板1のパッド
2に対して位置決めし、はんだペーストを供給し、はん
だ5を溶融して半導体パッケージ4の電極をプリント配
線基板1のパッド2にリフローはんだ付けする。
【0030】前記溶融したはんだ5はパッド2の円環部
2aを通して錐状部2b内に流動して錐状部2bに食込
んだ状態で固形する。
2aを通して錐状部2b内に流動して錐状部2bに食込
んだ状態で固形する。
【0031】本発明によれば、プリント配線基板1の表
層とは異なる階層(裏面側)でパッド2から導出された
接続配線3の引き回しが行われることとなる。
層とは異なる階層(裏面側)でパッド2から導出された
接続配線3の引き回しが行われることとなる。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、プ
リント配線基板の表層とは異なる階層(裏面側)でパッ
ドから導出された接続配線の引き回しが行われるため、
メッキやソルダーレジストの熱膨張による応力が接続配
線に直接加わるのを回避することができ、半導体装置の
特性を長期間維持することができる。
リント配線基板の表層とは異なる階層(裏面側)でパッ
ドから導出された接続配線の引き回しが行われるため、
メッキやソルダーレジストの熱膨張による応力が接続配
線に直接加わるのを回避することができ、半導体装置の
特性を長期間維持することができる。
【0033】さらに、はんだをパッド内に食込んだ状態
で固形するため、はんだとパッドの接続面積が増加し、
はんだ付け強度を増加させることができる。
で固形するため、はんだとパッドの接続面積が増加し、
はんだ付け強度を増加させることができる。
【0034】さらにパッドから導出する接続配線をパッ
ドと異なる階層にソルダーレジストから隔離して設ける
ことにより、パッドの円環部とプリント配線基板上のソ
ルダーレジストの境界部分に空スペースを確保すること
ができ、この空スペースによっても、接続配線に加わる
応力を除去することができる。
ドと異なる階層にソルダーレジストから隔離して設ける
ことにより、パッドの円環部とプリント配線基板上のソ
ルダーレジストの境界部分に空スペースを確保すること
ができ、この空スペースによっても、接続配線に加わる
応力を除去することができる。
【図1】本発明に係る半導体パッケージの実装構造を示
す図である。
す図である。
【図2】本発明に係る半導体パッケージの実装構造に用
いるプリント配線基板の主要部を示す平面図である。
いるプリント配線基板の主要部を示す平面図である。
【図3】本発明に係る半導体パッケージの実装構造を示
す図であって、図2のA−A線断面図である。
す図であって、図2のA−A線断面図である。
【図4】従来例に係る半導体パッケージの実装構造に用
いるプリント配線基板の主要部を示す平面図である。
いるプリント配線基板の主要部を示す平面図である。
【図5】従来例に係る半導体パッケージの実装構造を示
す断面図であって、図4のB−B線断面図である。
す断面図であって、図4のB−B線断面図である。
【図6】従来例での問題点を説明する断面図である。
1 プリント配線基板 2 パッド 2a パッドの円環部 2b パッドの錐状部 3 接続配線 4 半導体パッケージ 5 はんだ 6 メッキ 7 ソルダーレジスト 8 ビア
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E319 AA03 AB05 AC01 AC12 AC16 BB04 BB05 CC33 CD29 GG11 GG20 5E336 AA04 BB02 BB03 BC25 BC32 BC34 CC34 CC58 EE03 GG06 GG16 5F044 KK02 KK13 KK17 LL02
Claims (6)
- 【請求項1】 プリント配線基板のパッドに半導体パッ
ケージをはんだ付けして実装する半導体パッケージの実
装構造において、 前記プリント配線基板のパッドにビアを形成し、前記パ
ッドから導出する接続配線を前記ビアを介して前記パッ
ドと異なる階層に設け、 さらに半導体パッケージ搭載用はんだを前記ビア内のパ
ッドに食込ませて前記パッドに結合したことを特徴とす
る半導体パッケージの実装構造。 - 【請求項2】 前記ビアは錐状に形成し、 前記パッドは、前記プリント配線基板の表層に形成した
円環部と、前記円環部から前記ビアの内壁に沿って延長
した錐状部を有し、 前記パッドは、前記錐状部の先端で前記接続配線に接続
するものであることを特徴とする請求項1に記載の半導
体パッケージの実装構造。 - 【請求項3】 前記パッドは、前記半導体パッケージと
接続する全面にメッキが施されたものであることを特徴
とする請求項1又は2に記載の半導体パッケージの実装
構造。 - 【請求項4】 前記半導体パッケージの隅部に対応する
前記プリント配線基板のパッドに前記ビアを形成したこ
とを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージの実
装構造。 - 【請求項5】 前記ビアは、前記プリント配線基板を貫
通して形成されたものであることを特徴とする請求項
1,2又は3に記載の半導体パッケージの実装構造。 - 【請求項6】 前記パッドの前記円環部と前記プリント
配線基板上のソルダーレジストの境界部分に空スペース
を確保したことを特徴とする請求項2に記載の半導体パ
ッケージの実装構造。
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