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JP2001042955A - 電圧調整回路 - Google Patents

電圧調整回路

Info

Publication number
JP2001042955A
JP2001042955A JP2000199353A JP2000199353A JP2001042955A JP 2001042955 A JP2001042955 A JP 2001042955A JP 2000199353 A JP2000199353 A JP 2000199353A JP 2000199353 A JP2000199353 A JP 2000199353A JP 2001042955 A JP2001042955 A JP 2001042955A
Authority
JP
Japan
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terminal
voltage
field
output
effect transistor
Prior art date
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Ceased
Application number
JP2000199353A
Other languages
English (en)
Inventor
Osama Khouri
オサマ・クホウリ
Rino Micheloni
リノ・ミケローニ
Ilaria Motta
イラリア・モッタ
Guido Torelli
グイド・トレッリ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
STMicroelectronics SRL
Original Assignee
STMicroelectronics SRL
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by STMicroelectronics SRL filed Critical STMicroelectronics SRL
Publication of JP2001042955A publication Critical patent/JP2001042955A/ja
Ceased legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is DC
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構成で安定な電圧調整回路を得る。 【解決手段】 電源電圧発生器の第1および第2の端子
VDD、GND間に接続され、入力端子INおよび出力
端子OUTを有し、出力端子OUTに接続された出力ノ
ードと第2の端子GNDとの間に接続された分圧器R
1、R2と、入力端子INに接続された反転入力端子、
分圧器の中間ノードに接続された非反転入力端子、およ
び、出力ノードと第1の端子との間で第1の電界効果ト
ランジスタMPUを駆動する出力端子を有するオペアン
プOPとを備え、オペアンプの出力端子は、補償ネット
ワークCOMPを介して出力ノードに接続され、さら
に、出力ノードと第2の端子との間に接続され且つ制御
端子を有する第2の電界効果トランジスタMPD1を備
え、そのゲート端子は定電圧発生回路手段に接続されて
いる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体メモリ手
段に関し、特に本質的に容量負荷に対する電圧調整回路
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】この種の電圧調整回路は、正確に制御さ
れた電圧を出力して、前もって放電されたコンデンサC
sが出力端子に接続されされされ場合でも、迅速な再確
立能力(たとえば、出力電圧を迅速に調整回路設定値に
再記憶可能な能力)を示す。
【0003】代表的な例は、最適な読取状態のために正
確に調整された電圧が重要である、複数レベルの不揮発
性メモリからのワードラインを読み取るための電圧調整
回路の能力がある。
【0004】図面において、図1はメモリ装置のワード
ライン読取回路を図式的に示す構成図である。
【0005】調整回路出力端子にコンデンサCsを接続
した場合、調整回路出力電圧Vreg(通常の定格電圧
値はVR)は、調整回路出力端子に接続された総合容量
負荷CrとコンデンサCsとの間に起こる充電分配効果
の理由により、降下する。(図1において、接続回路手
段は、Crが調整回路出力端子に接続される場合に閉成
されるスイッチSWにより、図式的に示されている。)
【0006】このことは、調整回路出力電圧を非常に速
く且つ超過的に、電圧Vregの値を設定範囲外にする
ようにさせる。電圧Vregへの回帰は、十分に速くす
べきである。すなわち、調整回路出力電圧は、設定範囲
内に迅速に復帰しなければならない。
【0007】メモリ装置のパラメータに対する代表的な
値は、 VR=6V Cr=100pF Cs=3pF ΔVmax=50mV である。
【0008】ここで、ΔVmaxは、定格電圧VRから
の電圧Vregの許容偏差最大値である。言い換えれ
ば、電圧Vregは、コンデンサCsへの接続に続い
て、一旦その電圧がVregの定格電圧の50mV以内
に復帰し、続いて、その値の50mV以内に保持される
ように、再確立されていることが判断される。
【0009】高い容量負荷値の出現は、前もって放電保
持されて接続されていたコンデンサCsによる充電分配
が起きた場合の出力電圧の再確立を遅く低下させること
において、調整回路の動作を遅延させる。接続時のコン
デンサCsによる充電低下量Qsは、以下の式で与えら
れる。
【0010】Qs=(Vreg−ΔVmax)Cs=
5.95×3pC=17.85pC
【0011】再確立時間が20nsを超過しない場合を
仮想した場合、調整回路がピーク効率を提供するための
電流は、出力電圧の再確立プロセスが定電流で起こるこ
との単純化を想定すると、以下の式で与えられる。
【0012】(17.85pC)/(20ns)=89
2.5μA
【0013】実際に、これは正確な場合ではなく、超過
時間において全ての容量負荷は低減電流で充電され、こ
れにより、調整回路により供給されるピーク電流が上記
値を超過するに至る。
【0014】従来提供された解決手段は、基本的に負帰
還ループ内に接続されたオペアンプ形態からなるメモリ
装置の調整回路である。
【0015】このループは、図2に示すように、差動ア
ンプAdからなる第1段階と、PMOSトランジスタM
PUにより構成されたプルアップ要素と2つの抵抗器R
1、R2により構成されたプルダウン要素とからなる第
2段階とを備えている。結合された段階は、オペアンプ
を構成する。
【0016】差動段階の反転端子には、図2内のVBG
示す正確な定電圧が印加される。抵抗器R1、R2間の
接続ノードは、差動段階の非反転入力端子に接続されて
おり、これにより負帰還ループを閉じている。
【0017】十分に安定なループを提供するために、図
2内のCOMPで示される補償ネットワークは、第2段
階のプルアップPMOSトランジスタのゲートおよびド
レイン間に接続されたコンデンサにより構成されてもよ
い。
【0018】しかしながら、D.B.リブナおよびM.
A.コペランドにより協議された固体回路のIEEEジ
ャーナル、SC−19巻(1984年)「改善されたP
SRRおよびコモンモード入力範囲でカスコードされた
CMOSオペアンプの設計技術」の第919〜925頁
などに参照される他の補償ネットワークが用いられても
よい。
【0019】上記フィードバックループのループゲイン
が十分に高く、オフセット電圧のような不正確さが生じ
た場合、定常状態にある調整回路出力電圧VRは、以下
の式のように与えられる。
【0020】VR=VBG(1+R1/R2
【0021】集積回路において、2つの抵抗器間の抵抗
比率は、顕著な正確さが提供され得るが、理想的な効果
よりも小さく、電圧値VRにおける正確さは、本質的に
電圧値VBGに対して達成された正確さに依存するだろ
う。
【0022】後者の正確さは、供給電圧および温度のよ
うな変動要因があっても顕著な正確さおよび安定な電圧
を提供することで知られるバンドギャップ型の電圧基準
発生器によって得ることができる。
【0023】コンデンサCsの調整回路出力端子への接
続時において、コンデンサCr内に初期に蓄積された充
電量は、コンデンサCsと分配されるようになる。充電
分配プロセスの終了時での調整回路出力電圧は、この段
階において制御ループの非動作と考えられ、以下の
(2.1)式のように与えられる。
【0024】 Vreg=Cs・VR/(Cs+Cr) ・・・(2.1)
【0025】したがって、調整回路出力端子での理論的
な電圧降下は、以下の(2.2)式のように与えること
ができる。
【0026】 ΔVreg=Vr/(1+Cr/Cs)≒VR・Cs/Cr・・・(2.2)
【0027】上記電圧値の代わりに、我々は、ライン電
圧値Vregに許容される最大誤差値を超えたΔVr=
180mVを得た。これにより、調整回路は、所望電圧
値の再確立に必要な電気量の充電を供給するようにな
る。
【0028】調整回路出力端子上の非常に高い総合容量
負荷(たとえば、100pF)により、電圧Vregは
所望の迅速さで再確立されないだろう。なぜならば、ゲ
インによる帯域形成は、増幅構造において制限されるか
らである。
【0029】この問題を解決するために考えられた従来
の試みでは、コンデンサCsのキャパシタンスと、コン
デンサCsの調整回路出力端子への接続が必要となる時
点とが、既に知られていたものと思われる。また、この
ような試みは、適切なクロック駆動信号を生成すること
の必要性を含んでいる。
【0030】しかしながら、このような従来の解決手段
は、(問題が不揮発性メモリのワードライン駆動と関係
しない場合のように、)コンデンサCsのキャパシタン
スまたはコンデンサCsの調整回路出力端子への接続時
点が、前もって正確に知られていない場合には、適用す
ることができない。
【0031】
【発明が解決しようとする課題】現存するこの発明の技
術的問題は、非常に簡単な回路を用いて且つ容量補償ま
たは容量増大技術を用いることなく、前もって放電され
たコンデンサの調整回路出力端子への接続時に迅速な電
圧Vregの再確立を提供することにある。
【0032】上記問題は、この明細書に記載された請求
項で特徴付けられた構成部で定義されるように、容量負
荷に対する電圧調整回路によって解決される。
【0033】
【課題を解決するための手段】この発明に係る容量負荷
に対する電圧調整回路は、電源電圧発生器の第1および
第2の端子(VDD、GND)間に接続されるととも
に、入力端子(IN)および出力端子(OUT)を有し
ており、電圧調整回路の出力端子(OUT)に接続され
た出力ノードと電源電圧発生器の第2の端子(GND)
との間に接続された分圧器(R1、R2)と、電圧調整
回路の入力端子(IN)に接続された反転入力端子
(−)、分圧器(R1、R2)の中間ノードに接続され
た非反転入力端子(+)、および、出力ノードと電源電
圧発生器の第1の端子(VDD)との間で第1の電界効
果トランジスタ(MPU)を駆動するための出力端子、
を有するオペアンプ(OP)とを備え、オペアンプの出
力端子は、さらに補償ネットワーク(COMP)を介し
て出力ノードに接続されており、さらに、出力ノードと
電源電圧発生器の第2の端子(GND)との間に接続さ
れ且つ制御端子を有する第2の電界効果トランジスタ
(MPD1)を備え、第2の電界効果トランジスタのゲ
ート端子は、定電圧発生回路手段(RB、CB、MB、
IB)に接続されたものである。
【0034】
【発明の実施の形態】実施の形態1.以下、添付図面を
参照しながら、この発明の実施の形態1による電圧調整
回路の特徴および利点が明確となるように詳細に説明す
る。なお、この発明の実施の形態1は、一例を示すもの
で、この発明の範囲を限定するものではない。
【0035】図2に示した従来回路によるフィードバッ
クループの基本的動作は、調整回路の出力端子に接続さ
れるコンデンサCsに関連した過渡中において、電圧V
regのオーバーシュートを招く傾向があるような、リ
ンギング(呼出し)の発生を防ぐことにある。
【0036】電圧Vregが定格電圧VRよりも高い値
まで上昇した場合、電圧VRに向かう電圧降下は、抵抗
器R1、R2を介して行われなければならない。この電
圧降下は、もし、抵抗器R1、R2の抵抗値が十分に低
い値に選択されていなければ、コンデンサCsの高いキ
ャパシタンスにより、非常にゆっくりであろう。
【0037】しかしながら、抵抗器R1、R2の低い抵
抗値は、調整回路において、いくつかの場合では受け入
れられない程度の高いDC電力消費を招く。(たとえ
ば、高い電力消費は、調整回路自身の供給電圧よりも低
い単一の外部電源電圧VDDが印加される集積回路内で電
圧調整回路が接続されている場合には、受け入れられな
い。通常、電流出力に対して制限された容量を示すチャ
ージポンプ技術に基づく電圧増幅回路を用いて、電圧V
DDから後者を駆動することは可能である。)
【0038】過去において、この動作を回避することの
必要性は、位相マージンが非常に大きく、帯域を低減し
てその動作レートを低減する増幅回路を設計する当業者
にとって急がれていた。
【0039】実際に、そのような大きい位相マージンの
欠損は、コンデンサCsの接続に起因した電圧降下に応
答する閉ループシステムとして、出力電圧のリンギング
およびオーバーシュートを被る危険があり得る。
【0040】このような諸問題を除去するために、この
発明は、図3に示すように、プルダウンPMOSトラン
ジスタMPDの使用を提供する。図3において、トラン
ジスタMPDのソースは、電圧調整回路の出力ノードV
regに接続されており、トランジスタMPDのドレイ
ンは、グランドに接続されている。
【0041】トランジスタMPDのゲートは、適切な値
の定電圧VAにより駆動される。トランジスタMPDの
アスペクト比W/Lおよび定電圧VAの値は、静止状態
での電力消費を制限するように、トランジスタMPDの
飽和状態を保持して小さいDC電流(または、バイアス
電流)を生成するように選択されるべきである。
【0042】その理由は、トランジスタMPDのゲート
・ソース電圧VGSとスレッショルド電圧VTHPとの電圧
偏差VGS−VTHPの値が、適切に低く保持されるからで
ある。
【0043】第1のアプローチとして、トランジスタM
PDが強い逆転領域内で動作している場合、すなわち、
電圧偏差VGS−VTHPが負であって且つ絶対値が十分に
高く、電圧偏差VGS−VTHPが0に接近するにつれて、
電圧値VGSに対数的に結合された場合に、飽和状態のP
MOSトランジスタMPDに流れる電流IDは、電圧偏
差VGS−VTHPに二次的に依存することが知られてい
る。
【0044】全ての事態において、電流IDは、電圧値
SG(=−VGS)につれて、すなわち、ソース電圧とゲ
ート電圧との電圧偏差が増大するにつれて、増大する。
【0045】調整回路の出力ノードの電圧がオーバーシ
ュートを示す場合、トランジスタMPDに流れる電流
は、静止状態(すなわち、Vreg=VRの場合)のト
ランジスタMPDに流れる電流よりも非常に大きくなり
得る。
【0046】実際に、トランジスタMPDでの電圧値V
SGは、Vreg−VAに等しく、その値は、電圧Vre
gの正のオーバーシュートに対して増大する。
【0047】静止状態において電力消費が比較的低い間
に、電圧Vregを電圧VRよりも高い電圧まで上昇さ
せる正のオーバーシュートにより、出力ノードの放電電
流は大きくなり、電圧Vregの電圧降下は非常に速く
なる。
【0048】したがって、調整回路ループのオペアンプ
は、トランジスタMPDがない場合よりも低い位相マー
ジンを有し、これにより、トランジスタMPDがない場
合よりも広い帯域を有するように設計され得る。
【0049】したがって、トランジスタMPDを設ける
ことにより、オペアンプは、調整ループの出力電圧にお
けるオーバーシュートに適合するように設計され得る。
このようなオーバーシュートの発生時において、電圧
は、許容範囲内に迅速に復帰することができる。
【0050】また、図3は電圧VAを生成するための簡
単な回路を示す。図3の回路は、PMOSトランジスタ
MBおよび電流発生器IBを備えている。従来より、後
者は、適切な値の定電圧で駆動されるNMOSトランジ
スタにより、簡単に構成され得る。
【0051】たとえば、カレントミラーの出力部により
構成されてもよく、その入力部には、周知の値の定電流
が供給される。
【0052】2つのトランジスタMBおよびMPDは、
互いに整合している。すなわち、これらは、チャネル幅
Wの適切なスケーリング係数Kを除いては、(少なくと
も、名目上は)互いに同一である。
【0053】静止状態において、各トランジスタMBお
よびMPDは、同一のゲート・ソース電圧VGSを有し、
同一のソース電圧を有する。なぜならば、それらの各ソ
ースは短絡され、抵抗器RBを通過する電流が全くない
理由から、同一のゲート電圧を有するからである。
【0054】また、各トランジスタMBおよびMPD
は、(理想よりも少ない製造工程から生じるいくつかの
小さい偏差を除けば)同一のスレッショルド電圧VTHP
を有する。
【0055】したがって、トランジスタMPDに流れる
直流電流は、本質的にK・IBに等しい。係数Kおよび
電流IBの各値を適切に選択することにより、トランジ
スタMPDへのバイアス電流は十分に低く保持され、静
止状態における回路の電力消費は低減され得る。
【0056】実用影響による2つのトランジスタMBお
よびMPDの不整合は、実際に、上記の値K・IBから
の電流偏差を引き起こすかも知れない。しかし、このよ
うな電流偏差は、適切な部品設計により最小化すること
ができる。
【0057】抵抗器RBおよびコンデンサCBの結合は、
ローパスフィルタを構成している。DCにおいて、電圧
Aは電圧VBと等しく、(たとえば、電圧Vregの迅
速な変化によって引き起こされるような)電圧VBのど
のような迅速な変化も、抵抗器RBおよびコンデンサCB
の結合によりフィルタ処理されることから、電圧VA
増大させない。
【0058】もちろん、各部品は適切に設計されてお
り、このことは、当業者にとって簡単なことである。
(たとえば、10nsよりも短い特有の時間と、R=5
kΩ、C=1pFの特有の抵抗値およびキャパシタンス
値とにより、十分に「フィルタ処理」された電圧変化が
選択される。)
【0059】ローパス型の他のフィルタ構成は、電圧V
Bを実際に一定にするために用いられ得る。
【0060】電圧Vregが調整電圧値VOVよりも低い
値まで迅速に低下した場合、ゲートに電圧Vreg−V
TH+VOVが印加されるトランジスタMPDは、オフされ
て調整電圧への再確立を促進させる傾向にあるだろう。
【0061】この発明の利点は、回路構成の顕著な簡略
化にある。実際に、付加された2つのトランジスタ(M
PDおよびMB)を必要とし、これに、抵抗器(RB
およびコンデンサ(CB)を加えるのみでよい。
【0062】適切な動作のために、スイッチは全く必要
とせず、その駆動信号も必要としない。付加構成の静止
状態における電流の流れ(すなわち、トランジスタMB
およびMPDに流れる電流)は非常に低い値に保持さ
れ、電圧調整回路の出力ノードからの放電電流は、オー
バーシュートにより出力ノードで急上昇する電圧にとも
なって、静止状態のトランジスタMPDに流れる電流よ
りも非常に大きい値にされ得る。
【0063】前述のように、これは、調整ループ内のオ
ペアンプを中間位相マージンで設計することを可能に
し、したがって、上記付加構成がない場合よりも高い帯
域(且つ高いレート)で設計可能にする。
【0064】この発明による回路のさらなる利点は、以
下に述べることにある。静止状態において、トランジス
タMPUに流れる電流は、抵抗器分圧器(R1、R2)
に流れる電流と、トランジスタMPDおよびMBに流れ
る電流との総和に等しい。(適切にスケーリングされた
係数Kにより、トランジスタMBに流れる電流は無視で
きるようになり、これにより、結合された電流は、分圧
器およびトランジスタMPDに流れる電流の総和と実質
的に等しくなり得る。)
【0065】もし、動作において、(たとえば、前もっ
て放電されたコンデンサが調整回路出力端子に接続され
た結果、)電圧Vregが調整電圧VRよりも低い値ま
で迅速に降下すれば、トランジスタMPDは、静止状態
の場合よりも小さい電流を流すだろう。
【0066】この違いは、電圧Vregが低下するにつ
れて、ますます大きくなる。電圧降下の値に対する依存
性は、上述した通りであり、この降下量は、トランジス
タMPDをブロックさせるのに十分な程度に大きな値で
あり得る。
【0067】この点に鑑みて、静止状態における或る電
流に対し、トランジスタMPUは、トランジスタMPD
がない場合に可能な電流よりも大きい電流を、外部の容
量負荷に対して供給可能になる。
【0068】このことは、静止状態での或る電流、した
がって、或る電力消費に対して、出力電流の再確立を迅
速にする。厳密に、トランジスタをオフに導く関係につ
いては、以下に記載する。
【0069】電圧VOVを静止状態のトランジスタMPD
に対するオーバー駆動電圧とすることにより、電圧VA
は、VR−|VTPH|−|VOV|となるだろう。
【0070】電圧量|VOV|により、電圧Vregが調
整電圧よりも低い値まで迅速に降下した場合、トランジ
スタMPDは、オフされる傾向にあり、これにより、調
整電圧への再確立を促進する。
【0071】しかしながら、調整回路出力電圧は、調整
ループによって設定されるので、トランジスタMPN
は、クランプ機能を全く提供しないことを銘記すべきで
ある。
【0072】この発明の回路は、調整回路出力端子と陽
極電源(VDD)との間に、図3に示すこの発明の特徴
部の回路構成よりも、むしろ(NMOS型の)二重の構
成を付加することにより、改善され得る。
【0073】図4は付加構成により影響を受けた部分を
示す。図4の回路構成は、NMOSトランジスタMB2
を備えており、そのゲートはドレインに短絡されてい
る。
【0074】トランジスタMB2のゲート・ドレインノ
ード(VB2)は、図4内の基礎となる発生器と同一の
電流を生成する一定電流発生器IBを介して陽極電源に
接続されている。2つの電流発生器は、互いに整合して
いる。
【0075】ノードVB2は、抵抗器RB2を介してノ
ードVA2に接続されている。コンデンサCB2は、ノ
ードVA2とグランドとの間に接続されている。ノード
VA2は、NMOSトランジスタMND2のゲートに接
続されている。NMOSトランジスタMND2のドレイ
ンは、陽極電源に接続されており、NMOSトランジス
タMND2のソースは、調整回路出力端子に接続されて
いる。
【0076】トランジスタMND2は、トランジスタM
B2のものよりもK倍だけ大きいW/L比を有する。
(ここで、KはトランジスタMPDおよびMB1のアス
ペクト比のスケーリング係数であり、MPDのアスペク
ト比W/LがMB2のW/LよりもK倍だけ大きいとい
う意味は、前述の通りである。)
【0077】好ましくは、抵抗器RB2およびコンデン
サCB2の結合により導入されるカットオフ周波数は、
抵抗器RB1およびコンデンサCB1の結合により導入
されるカットオフ周波数と同一である。(各結合は、ロ
ーパスフィルタであるが、各カットオフ周波数が相違し
ても両者間に相違が生じることは全くなく、VOUTの
変化周波数と比較してそれらは十分に低く、最も直線的
なコースは、2つのカットオフ周波数を生成するどのよ
うな比率においても、互いに等しい。)
【0078】差動アンプ、MPUからなる端子および抵
抗分圧器、補償ブロックCOMP、および、フィードバ
ックラインを含む調整ループは、出力電圧(ノードOU
T)のDC値を設定する。
【0079】設計者は、VBGの値(この例では、バン
ドギャップ電圧と等しい値)と、比率R1/R2の値
(前述の値)との適切な選択により、VOUTに対して
所望の値を選ぶべきである。
【0080】VB1およびVB2の各値は、上記のよう
に、調整ループにより決定されるVOUTの値に依存す
るだろう。(特に、VB1は、VOUT−|VTHP|
−V OVPに等しく、VB2は、VOUT+VTHN+V
ovNに等しい。ここで、符号は前述と同様であり、V
B1およびVB2の各値は、製造工程のパラメータに依
存するVOUTの値と自動的に整合し、たとえば、温度
変化や部品の経時変化などにより、後者(VOUT)が
「ゆっくり」変化する場合には、VOUTの値に「追
従」する。)
【0081】VA1およびVA2の各値は、それぞれ、
VB1およびVB2の各値とともに、DCにおいて同一
である。(VA1およびVA2の各値は、フィルタRB
1、CB1、および、RB2、CB2のカットオフ周波
数よりも低い周波数であっても、それぞれ、VB1およ
びVB2の各値と実質的に同一である。)
【0082】トランジスタMPD1に流れるDC電流
は、トランジスタMPDおよびMB1に対するW/L値
の比率Kに依存するだろう(特に、K・IBに等し
い)。
【0083】同様に、トランジスタMPUに流れる電流
は、トランジスタMND2およびMB2に対するW/L
値の比率Kに依存するだろう。(いずれの構成において
も、Kの値は同一であり、これにより、少なくとも理論
上は、トランジスタMND2から供給される電流は、ト
ランジスタMND1に流れるだろう。)
【0084】DCにおいて、付加ブロック(PMOS部
分+NMOS部分)は、本質的にVOUTに対する影響
を全く生み出さない。(実際に、フィードバックループ
の低い出力インピーダンスは、VOUTの値を設定す
る。すなわち、これは、前述のように、VOUTのDC
値に「追従」する電圧VA1およびVA2のDC値を設
定する。)
【0085】DC値のどのような基準も、たとえば温度
変化や部品の経時変化などによるこれらの値の超過時間
での「ゆっくり」した変化を可能にする基準を示す。ト
ランジスタMND2およびMPD1のバイアスは、VO
UTの値と「整合」し、VOUTの値に実質的に影響す
ることなく、それらに流れる電流を所望電流、すなわ
ち、K・IBにするだろう。
【0086】RC結合のカットオフ周波数よりも高い周
波数において、ノードVA1およびVA2は、VOUT
の値に追従しない。VOUTの値が調整値の上方に変化
する場合、トランジスタMND2はオフされる傾向にあ
り、トランジスタMPD1は、さらに導通される傾向に
あるだろう。
【0087】このことは、電流の流れを端子OUTに向
けさせて、ノードOUTにリンクされた総合キャパシタ
ンス(図1内のCr+Cs)を放電させ、これにより、
電圧VOUTを降下させて、迅速に所望電圧値に復帰さ
せる。(この電圧値に達した場合、トランジスタMND
2に流れる電流は、トランジスタMPD1に流れる電流
と等しくなるだろう。したがって、端子OUTを介して
供給される電流は相殺される。実際に、トランジスタM
PUに流れる電流も、抵抗分圧器に流れる電流と等し
く、したがって、平衡状態が達成される。)
【0088】一方、VOUTが調整電圧の下方に変化し
た場合、トランジスタMND2は、さらに導通される傾
向にあり、トランジスタMPD1は、オフされる傾向に
あるだろう。
【0089】このことは、電流を端子OUTから出力さ
せ、リンクされた総合キャパシタンス(図1内のCr+
Cs)を充電させ、これにより、電圧VOUTを所望の
電圧値に迅速に上昇復帰させる。
【0090】トランジスタMB2およびMND2からな
る補足的な回路構成の動作は、もちろん、電圧および電
流極性が変化することを除けば、トランジスタPMOS
構成の動作と同様である。
【0091】付加回路構成(PMOS部分+NMOS部
分)を提供することにより、出力端子において速い「ノ
イズ」が存在する場合であっても、電圧は迅速に設定値
に復帰することができる。
【0092】その動作は、調整ループを実行せず、した
がって、非常に速い(部品提供は適切に設計される)。
従来技術は、調整ループの動作に代えて、安定周波数の
必要性により固有に制限された比率に基づいている。
【0093】これは、付加された結合構成(PMOS部
分+NMOS部分)による多数の利点を示す。
【0094】また、この構成は、調整ループ応答のどの
ようなオーバーシュートにも適合させることができ、こ
れにより、中間位相マージンに対するループを設計する
ことができ、さらに広い帯域および改善された周波数応
答を示すことができる。
【0095】ノードVA1およびVA2のバイアスは、
VOUTの値に「追従」し、したがって、後者(VOU
Tの値)に依存する。ノードOUTに対するこれら2つ
のトランジスタのインピーダンスは、静止状態において
高い。
【0096】回路構成の動作は速く、また、回路構成の
存在において、VOUTに調整電圧値からの小さい電圧
偏差を供給する。これは、トランジスタMND2および
MPD1をバイアスする態様によるものである(すなわ
ち、各ゲート電極のバイアス電圧を「自己整合」するこ
と)。
【0097】電力消費を抑制することは、IBを小さく
保持することができる。
【0098】基本的に切換動作するように配列されたト
ランジスタが、電力消費を実質的に0にすべき構成にお
いて電力消費を0にし得ることは、理解され得る。(た
とえば、1つのスイッチは、トランジスタMND2と陽
極電源との間に接続され、1つのスイッチは、トランジ
スタMPD1のドレインとグランドとの間に接続され得
る。)
【0099】同様に、複数のスイッチは、電圧VB1お
よびVB2を生成する各端子に接続され得る。コンデン
サは、グランドよりもむしろ電源VDDに接続され得
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 一般的な電圧調整回路を示す構成図であり、
複数レベルの不揮発性メモリ内の読取電圧を調整するた
めの回路を示している。
【図2】 従来の容量負荷に対する電圧調整回路を示す
回路図である。
【図3】 この発明の実施の形態1による容量負荷に対
する電圧調整回路を示す回路図である。
【図4】 この発明の実施の形態1による容量負荷に対
する電圧調整回路を示す回路図である。
【符号の説明】
COMP 補償ネットワーク、IN 入力端子、MB
1、MB2、MPU、MPD、MPD1、MPD2 ト
ランジスタ、OP オペアンプ、OUT 出力端子、R
1、R2 抵抗器、− 反転入力端子、+ 非反転入力
端子。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 598122898 Via C. Olivetti, 2, 20041 Agrate Brianza, Italy (72)発明者 リノ・ミケローニ イタリア国、22078 テュラーテ、ヴィ ア・ルイーニ 11 (72)発明者 イラリア・モッタ イタリア国、27023 カッソルヌオーヴォ、 ヴィア・パレストロ 12 (72)発明者 グイド・トレッリ イタリア国、27016 サンタレッシオ、コ ン・ヴィアローネ、ヴィア・カドルナ 4

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源電圧発生器の第1および第2の端子
    (VDD、GND)間に接続されるとともに、入力端子
    (IN)および出力端子(OUT)を有し、本質的に容
    量負荷に対する電圧調整回路であって、 前記電圧調整回路の出力端子(OUT)に接続された出
    力ノードと前記電源電圧発生器の第2の端子(GND)
    との間に接続された分圧器(R1、R2)と、 前記電圧調整回路の入力端子(IN)に接続された反転
    入力端子(−)、前記分圧器(R1、R2)の中間ノー
    ドに接続された非反転入力端子(+)、および、前記出
    力ノードと前記電源電圧発生器の第1の端子(VDD)
    との間に接続されて第1の電界効果トランジスタ(MP
    U)を駆動するための出力端子、を有するオペアンプ
    (OP)とを備え、 前記オペアンプの出力端子は、さらに補償ネットワーク
    (COMP)を介して前記出力ノードに接続されている
    電圧調整回路において、 前記出力ノードと前記電源電圧発生器の第2の端子(G
    ND)との間には、制御端子を有する第2の電界効果ト
    ランジスタ(MPD1)が接続されており、 前記第2の電界効果トランジスタ(MPD1)の制御端
    子は、第1の容量要素(CB1)を介して前記電源電圧
    発生器の端子に接続されるとともに、第1の抵抗要素
    (RB1)を介して第3の電界効果トランジスタ(MB
    1)の制御端子に接続され、 前記第3の電界効果トランジスタ(MB1)は、前記出
    力ノードと前記電源電圧発生器の第2の端子(GND)
    との間にダイオード接続され、 第1の定電流発生器(IB1)は、前記第3の電界効果
    トランジスタ(MB1)と前記電源電圧発生器の第2の
    端子との間に直列に接続されたことを特徴とする電圧調
    整回路。
  2. 【請求項2】 前記出力ノードと前記電源電圧発生器の
    第1の端子(VDD)との間には、制御端子を有する第
    4の電界効果トランジスタ(MPD2)が接続されてお
    り、 前記第4の電界効果トランジスタの制御端子は、第2の
    容量要素(CB2)を介して前記電源電圧発生器の端子
    に接続されるとともに、第2の抵抗要素(RB2)を介
    して第5の電界効果トランジスタ(MB2)の制御端子
    に接続され、 前記第5の電界効果トランジスタ(MB2)は、前記電
    源電圧発生器の第1の端子(VDD)と前記出力ノード
    との間にダイオード接続され、 第2の定電流発生器(IB2)は、前記第5の電界効果
    トランジスタ(MB2)と前記電源電圧発生器の第1の
    端子(VDD)との間に直列に接続されたことを特徴と
    する請求項1に記載の電圧調整回路。
  3. 【請求項3】 前記第1、第2および第3の電界効果ト
    ランジスタは、PMOS型のトランジスタであり、前記
    第1、第2および第3の電界効果トランジスタの各制御
    端子は、ゲート端子であることを特徴とする請求項1に
    記載の電圧調整回路。
  4. 【請求項4】 前記第4および第5の電界効果トランジ
    スタは、NMOS型のトランジスタであり、前記第4お
    よび第5の電界効果トランジスタの各制御端子は、ゲー
    ト端子であることを特徴とする請求項2に記載の電圧調
    整回路。
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