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JP2000089147A - マルチビーム走査装置 - Google Patents

マルチビーム走査装置

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Publication number
JP2000089147A
JP2000089147A JP27935298A JP27935298A JP2000089147A JP 2000089147 A JP2000089147 A JP 2000089147A JP 27935298 A JP27935298 A JP 27935298A JP 27935298 A JP27935298 A JP 27935298A JP 2000089147 A JP2000089147 A JP 2000089147A
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JP
Japan
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laser
semiconductor laser
holder
beam semiconductor
light source
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP27935298A
Other languages
English (en)
Inventor
Shin Mogi
伸 茂木
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
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Priority to US09/392,626 priority patent/US6992690B2/en
Priority to KR1019990038917A priority patent/KR100339802B1/ko
Priority to DE69929009T priority patent/DE69929009T2/de
Priority to CNB991187369A priority patent/CN1187949C/zh
Priority to EP99118241A priority patent/EP0987114B1/en
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 回転ドラム上のライン間隔の調整を高精度で
迅速に行なうとともに、装置の小型化を促進する。 【解決手段】 マルチビーム半導体レーザ11から発生
される2つのレーザビームP1 ,P2 は、光学箱8内の
回転多面鏡によって走査され、結像レンズを経て回転ド
ラム上の感光体に結像する。感光体上のライン間隔T等
を調整するために、マルチビーム半導体レーザ11をレ
ーザホルダ11aに組み付けるときに、レーザアレイN
が所定の傾斜角度θになるようにマルチビーム半導体レ
ーザ11を回転させた状態でレーザホルダ11aに固定
する。光学箱8にマルチビーム光源ユニット1を組み付
けるときは、部品精度等を補うためにわずかにマルチビ
ーム光源ユニット1全体を傾斜させるだけでよい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザビームプリ
ンタやデジタル複写機等に用いられるマルチビーム走査
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、レーザビームプリンタ等の電子写
真装置において、複数のレーザビームを用いて複数のラ
インを同時に書き込むマルチビーム走査装置が開発され
ている。
【0003】これは、互いに離間した複数のレーザビー
ムを同時に走査するもので、図9に示すように、マルチ
ビーム光源ユニット101の光源であるマルチビーム半
導体レーザ111から2本の光ビームであるレーザビー
ムP1 ,P2 を発生させ、それぞれコリメータレンズ1
12によって平行化したうえで、シリンドリカルレンズ
102を経て、回転多面鏡103の反射面103aに照
射し、結像レンズ104を経て回転ドラム105上の感
光体に結像させる。
【0004】2本のレーザビームP1 ,P2 は回転多面
鏡103の反射面103aに入射し、それぞれ主走査方
向に走査され、回転多面鏡103の回転による主走査と
回転ドラム105の回転による副走査に伴なって感光体
に静電潜像を形成する。
【0005】なお、シリンドリカルレンズ102は、各
レーザビームP1 ,P2 を回転多面鏡103の反射面1
03aに線状に集光する。これは、前述のように感光体
に結像する点像が、回転多面鏡103の面倒れによって
歪を発生するのを防止する機能を有し、また、結像レン
ズ104は、球面レンズ部とトーリックレンズ部からな
り、シリンドリカルレンズ102と同様に感光体上の点
像の歪を防ぐ機能を有するとともに、前記点像が感光体
上で主走査方向に等速度で走査されるように補正する機
能を有する。
【0006】2本のレーザビームP1 ,P2 は、それぞ
れ、主走査面(XY平面)の末端で検出ミラー106に
よって分離され、主走査面の反対側の光センサ107に
導入され、図示しないコントローラにおいて書き込み開
始信号に変換されてマルチビーム半導体レーザ111に
送信される。マルチビーム半導体レーザ111は書き込
み開始信号を受けて両レーザビームP1 ,P2 の書き込
み変調を開始する。
【0007】このように両レーザビームP1 ,P2 の書
き込み変調のタイミングを調節することで、回転ドラム
105上の感光体に形成される静電潜像の書き込み開始
(書き出し)位置を制御する。
【0008】シリンドリカルレンズ102、回転多面鏡
103、結像レンズ104等は、光学箱108の底壁に
組み付けられる。各光学部品を光学箱108に組み付け
たうえで、光学箱108の上部開口を図示しないふた部
材によって閉塞する。
【0009】マルチビーム半導体レーザ111は、前述
のように複数のレーザビームP1 ,P2 を同時に発光す
るもので、レーザホルダ111aを介してコリメータレ
ンズ112を内蔵する鏡筒112aと一体的に結合され
たユニットとして、レーザ駆動回路基板113とともに
光学箱108の側壁108aに組み付けられる。
【0010】マルチビーム光源ユニット101の組み付
けに際しては、マルチビーム半導体レーザ111を保持
するレーザホルダ111aを光学箱108の側壁108
aに設けられた開口108bに挿入し、レーザホルダ1
11aにコリメータレンズ112の鏡筒112aをかぶ
せてコリメータレンズ112のピント調整や光軸合わせ
を行なったうえで、鏡筒112aをレーザホルダ111
aに接着し、図10の(a)に示すように、レーザホル
ダ111aを所定の角度θだけ回転させることで、各レ
ーザビームP1 ,P2 の発光点を結ぶ直線すなわちレー
ザアレイNの傾斜角度の調整を行なう。これは、図10
の(b)に示すように、マルチビーム半導体レーザ11
1から発生される2つのレーザビームP1 ,P2 のビー
ム間隔を調整して、回転ドラム105上の結像点A1
2 の主走査方向の離間距離Sと副走査方向の離間距離
すなわちライン間隔Tを設計値に一致させる調整作業で
ある。この作業を行なったうえで、ビス等を用いてレー
ザホルダ111aを光学箱108の側壁108aに固定
する。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の技術によれば、マルチビーム光源ユニットを光学箱に
固定するときに、マルチビーム光源ユニット全体をレー
ザ駆動回路基板とともに所定角度θだけ回転させてライ
ン間隔Tを得るものであるため、光学箱の外側で大面積
のレーザ駆動回路基板を回転させるのに充分な空間を用
意しておかなければならず、装置全体を小型化するうえ
での障害となっている。
【0012】また、ライン間隔Tの調整は、誤差の許容
値が数μm以下と極めて厳しいものであるため、マルチ
ビーム光源ユニットを光学箱に組み付けるときの角度調
整の範囲が広いと、高精度の調整を短時間で終了するこ
とが難しく、作業効率と信頼性の点で満足する組み立て
を行なうことができないという未解決の課題もある。
【0013】本発明は上記従来の技術の有する未解決の
課題に鑑みてなされたものであり、装置の小型化を促進
し、しかも、ビーム間隔の調整作業を短時間で高精度に
行なうことのできるマルチビーム走査装置を提供するこ
とを目的とするものである。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明のマルチビーム走査装置は、マルチビーム半
導体レーザとこれを保持するレーザホルダを備えたマル
チビーム光源ユニットと、前記マルチビーム半導体レー
ザから発生された複数のレーザビームをそれぞれ走査し
て感光体に結像させる走査結像手段と、該走査結像手段
と前記マルチビーム光源ユニットを支持する筐体を有
し、前記マルチビーム半導体レーザが、前記複数のレー
ザビームのビーム間隔を調整するための所定の回転角度
またはこれに近似する回転角度で前記レーザホルダに固
定されていることを特徴とする。
【0015】マルチビーム半導体レーザが、直線状に配
列された複数の発光点を備えているとよい。
【0016】マルチビーム半導体レーザが、2次元的に
配列された複数の発光点を備えていてもよい。
【0017】レーザホルダが、コリメータレンズを保持
する鏡筒と一体であるとよい。
【0018】
【作用】マルチビーム半導体レーザをレーザホルダに固
定したうえでレーザホルダを筐体に組み付けるときに、
マルチビーム光源ユニット全体を傾斜(回転)させてビ
ーム間隔の調整を行なう構成であると、精密な角度調整
が困難であるうえに調整作業に時間がかかり、加えて、
マルチビーム光源ユニットに組み付けた大面積のレーザ
駆動回路基板を傾斜させるための余分なスペースも必要
となる。そこで、マルチビーム半導体レーザをレーザホ
ルダに組み付けるユニット組立工程で、ビーム間隔の調
整に必要な角度またはこれに近似した角度までマルチビ
ーム半導体レーザを回転(傾斜)させ、この状態でマル
チビーム半導体レーザをレーザホルダに固定してユニッ
ト化する。
【0019】マルチビーム光源ユニットを筐体に組み付
けるときは、部品精度等に起因するわずかな誤差を最終
調整するために微小角度だけマルチビーム光源ユニット
全体を回転させればよい。
【0020】このように、マルチビーム光源ユニットを
筐体に組み付けるときの最終的な角度調整作業は微小な
角度範囲で行なわれるため、高精度でしかも迅速な角度
調整を行なうことができる。
【0021】また、大面積のレーザ駆動回路基板を大き
く傾斜させる必要もないため、装置全体の小型化にも貢
献できる。
【0022】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
いて説明する。
【0023】図1は一実施の形態によるマルチビーム走
査装置を示すもので、これは、マルチビーム光源ユニッ
ト1の光源であるマルチビーム半導体レーザ11から2
本の光ビームであるレーザビームP1 ,P2 を発生さ
せ、それぞれコリメータレンズ12によって平行化した
うえで、シリンドリカルレンズ2を経て、回転多面鏡3
の反射面3aに照射し、回転多面鏡3とともに走査結像
手段を構成する結像レンズ4を経て回転ドラム5上の感
光体に結像させる。
【0024】2本のレーザビームP1 ,P2 は回転多面
鏡3の反射面3aに入射し、それぞれ主走査方向に走査
され、回転多面鏡3の回転による主走査と回転ドラム5
の回転による副走査に伴なって感光体に静電潜像を形成
する。
【0025】なお、シリンドリカルレンズ2は、各レー
ザビームP1 ,P2 を回転多面鏡3の反射面3aに線状
に集光する。これは、前述のように感光体に結像する点
像が、回転多面鏡3の面倒れによって歪を発生するのを
防止する機能を有し、また、結像レンズ4は、球面レン
ズ部とトーリックレンズ部からなり、シリンドリカルレ
ンズ2と同様に感光体上の点像の歪を防ぐ機能を有する
とともに、前記点像が感光体上で主走査方向に等速度で
走査されるように補正する機能を有する。
【0026】2本のレーザビームP1 ,P2 は、それぞ
れ、主走査面(XY平面)の末端で検出ミラー6によっ
て分離され、主走査面の反対側の光センサ7に導入さ
れ、図示しないコントローラにおいて書き込み開始信号
に変換されてマルチビーム半導体レーザ11に送信され
る。マルチビーム半導体レーザ11は書き込み開始信号
を受けて両レーザビームP1 ,P2 の書き込み変調を開
始する。
【0027】このように両レーザビームP1 ,P2 の書
き込み変調のタイミングを調節することで、回転ドラム
5上の感光体に形成される静電潜像の書き込み開始(書
き出し)位置を制御する。
【0028】シリンドリカルレンズ2、回転多面鏡3、
結像レンズ4等は、筐体である光学箱8の底壁に組み付
けられる。各光学部品を光学箱8に組み付けたうえで、
光学箱8の上部開口を図示しないふた部材によって閉塞
する。
【0029】マルチビーム半導体レーザ11は、前述の
ように複数のレーザビームP1 ,P2 を同時に発光する
もので、レーザホルダ11aを介してコリメータレンズ
12を内蔵する鏡筒12aと一体的に結合されたユニッ
トとして、レーザ駆動回路基板13とともに光学箱8の
側壁8aに組み付けられる。
【0030】マルチビーム光源ユニット1の組み付けに
際しては、マルチビーム半導体レーザ11を保持するレ
ーザホルダ11aを光学箱8の側壁8aに設けられた開
口8bに挿入し、レーザホルダ11aにコリメータレン
ズ12の鏡筒12aをかぶせてコリメータレンズ12の
ピント調整や光軸合わせ等の3次元的調整を行なったう
えで、鏡筒12aをレーザホルダ11aに接着する。
【0031】マルチビーム半導体レーザ11は、図2に
示すように、ステム21と一体である台座21aに固定
されたレーザチップ22と、レーザチップ22の2つの
発光点22a,22bから発光されるレーザビームP
1 ,P2 の発光量をモニタするフォトダイオード23
と、レーザチップ22等に通電するための通電端子24
を有し、レーザチップ22等はキャップ25によって覆
われている。
【0032】マルチビーム半導体レーザ11は、これを
レーザホルダ11aに組み付けるユニット組立工程で、
図3に示すように、レーザホルダ11aの基準面Vに対
して、マルチビーム半導体レーザ11を所定の回転角度
θまたはこれに近似する角度まで回転させることで、各
レーザビームP1 ,P2 の発光点を結ぶ直線すなわちレ
ーザアレイNの傾斜角度の調整を予め行なっておく。こ
れは、マルチビーム半導体レーザ11から発生される2
つのレーザビームP1 ,P2 のビーム間隔を調整し、回
転ドラム5上の結像点A1 ,A2 の主走査方向の離間距
離Sと副走査方向の離間距離すなわちライン間隔Tを予
め設計値に一致させる調整作業である(図3の(b)参
照)。この調整作業を終了して、マルチビーム半導体レ
ーザ11をレーザホルダ11aに固定・ユニット化する
ものである。
【0033】前述のようにコリメータレンズ12の鏡筒
12aをレーザホルダ11aに接着したのち、図4に示
すように、レーザホルダ11aの長孔に嵌合するビス1
1bによってレーザホルダ11aを光学箱8の側壁8a
に仮止めし、レーザビームP1 ,P2 を発光させなが
ら、ライン間隔Tの最終調整のためにレーザホルダ11
aを微小角度Δθだけ回転させる。この作業は、装置各
部の部品精度やマルチビーム半導体レーザ11自体の嵌
合部の誤差を補うためのものであり、実際は、図5に破
線で示すように、レーザホルダ11aにレーザ駆動回路
基板13を組み付けた状態で行なわれる。このような最
終調整ののちに、ビス11bを締め付けてレーザホルダ
11aを光学箱8に固定する。
【0034】回転ドラム上のライン間隔Tの調整にはサ
ブミクロン単位の精度が必要であるが、本実施の形態に
おいては、予め、マルチビーム半導体レーザをレーザホ
ルダに組み付けるときにレーザアレイNを所定の傾斜角
度θまたはこれに近似する傾斜角度に大ざっぱに調整し
ておき、レーザホルダをレーザ駆動回路基板とともに光
学箱に組み付ける工程では、組立誤差等を補正するため
に微小角度の最終調整を行なうだけである。従って、ラ
イン間隔の最終調整における精度は極めて高く、従来例
のように光学箱上で広範囲の角度調整を行なう場合に比
べて、調整作業に費す時間を大幅に短縮できる。加え
て、光学箱の外側で大面積のレーザ駆動回路基板を大き
く回転させる必要もないから、装置の小型化を大きく促
進できる。
【0035】その結果、小型であって組立コストが低
く、しかも極めて高精度なマルチビーム走査装置を実現
できる。
【0036】なお、本実施の形態においては2つの発光
点を有するレーザチップを用いたが、発光点すなわちレ
ーザビームの数はいくつでもよい。また、レーザ駆動回
路基板や鏡筒やコリメータレンズ等の組立手順について
も任意に変更自在である。さらには光学箱に対するレー
ザホルダの固定も、ビス等の締結手段に限定されること
なく、接着等他の方法でもよい。
【0037】図6は一変形例を示す。これは、基準面V
を端面とする略長方形のレーザホルダ11aの替わり
に、円盤状のレーザホルダ31aを用いたものである。
この場合は、マルチビーム半導体レーザ31をレーザホ
ルダ31aに組み付けるときの回転角度θの基準面U
を、レーザホルダ31aの外周部に設けられた切欠部3
1bに設ける。
【0038】図7に示すように、レーザ駆動回路基板3
3については、その上端面33aが図示しない光学箱に
対する取付基準となるようにレーザホルダ31aに組み
付ける。
【0039】また、複数の発光点が直線状に配設された
端面発光型のマルチビーム半導体レーザ11,31に替
えて、図8に示すように、複数の発光点42a〜42d
が2次元的に配列された面発光型のレーザチップ42を
有するマルチビーム半導体レーザ41を用いてもよい。
これは、コリメータレンズの光軸に対してすべての発光
点を近接させることができるため、光学的収差を低減で
きるという特筆すべき長所がある。円盤状のレーザホル
ダ41aには位置決め穴41bを設けて、ビーム間隔T
1 〜T3 を調整するための回転角度θの調整を行なうと
きの位置決め基準として用いる。
【0040】また、面発光レーザを用いることによって
発光点の位置等の自由度が増し、組み付け公差の配分が
容易になるという利点もある。
【0041】
【発明の効果】本発明は上述のとおり構成されているの
で、次に記載するような効果を奏する。
【0042】マルチビーム半導体レーザから発光される
複数のレーザビームのビーム間隔の調整を行なう作業
を、短時間でしかも高精度に行なうことができる。これ
によって、装置の高精細化を促進し、かつ、組立コスト
を大幅に低減できるうえに、装置全体の小型化にも大き
く貢献できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】一実施の形態によるマルチビーム走査装置を示
す模式平面図である。
【図2】図1の装置のマルチビーム半導体レーザを拡大
して示す拡大斜視図である。
【図3】ライン間隔の調整作業を説明する図である。
【図4】レーザホルダを光学箱に仮止めした状態を示す
斜視図である。
【図5】ライン間隔の最終調整作業を説明する図であ
る。
【図6】一変形例を示す模式図である。
【図7】図6の装置をレーザ駆動回路基板とともに示す
模式図である。
【図8】別の変形例を示す模式図である。
【図9】一従来例によるマルチビーム走査装置を示す模
式平面図である。
【図10】図9のマルチビーム走査装置におけるライン
間隔の調整作業を説明する図である。
【符号の説明】
1 マルチビーム光源ユニット 2 シリンドリカルレンズ 3 回転多面鏡 4 結像レンズ 8 光学箱 11,31,41 マルチビーム半導体レーザ 11a,31a,41a レーザホルダ 11b ビス 12 コリメータレンズ 12a 鏡筒 13,33 レーザ駆動回路基板

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マルチビーム半導体レーザとこれを保持
    するレーザホルダを備えたマルチビーム光源ユニット
    と、前記マルチビーム半導体レーザから発生された複数
    のレーザビームをそれぞれ走査して感光体に結像させる
    走査結像手段と、該走査結像手段と前記マルチビーム光
    源ユニットを支持する筐体を有し、前記マルチビーム半
    導体レーザが、前記複数のレーザビームのビーム間隔を
    調整するための所定の回転角度またはこれに近似する回
    転角度で前記レーザホルダに固定されていることを特徴
    とするマルチビーム走査装置。
  2. 【請求項2】 マルチビーム半導体レーザが、直線状に
    配列された複数の発光点を備えていることを特徴とする
    請求項1記載のマルチビーム走査装置。
  3. 【請求項3】 マルチビーム半導体レーザが、2次元的
    に配列された複数の発光点を備えていることを特徴とす
    る請求項1記載のマルチビーム走査装置。
  4. 【請求項4】 レーザホルダが、コリメータレンズを保
    持する鏡筒と一体であることを特徴とする請求項1ない
    し3いずれか1項記載のマルチビーム走査装置。
JP27935298A 1998-09-14 1998-09-14 マルチビーム走査装置 Withdrawn JP2000089147A (ja)

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JP27935298A JP2000089147A (ja) 1998-09-14 1998-09-14 マルチビーム走査装置
US09/392,626 US6992690B2 (en) 1998-09-14 1999-09-09 Multi-beam scanning apparatus
KR1019990038917A KR100339802B1 (ko) 1998-09-14 1999-09-13 멀티 빔 주사 장치
DE69929009T DE69929009T2 (de) 1998-09-14 1999-09-14 Mehrstrahlabtastgerät
CNB991187369A CN1187949C (zh) 1998-09-14 1999-09-14 多光束扫描装置
EP99118241A EP0987114B1 (en) 1998-09-14 1999-09-14 Multi-beam scanning apparatus

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011257698A (ja) * 2010-06-11 2011-12-22 Ricoh Co Ltd 光源装置、光走査装置および画像形成装置
JP2012150132A (ja) * 2011-01-14 2012-08-09 Ricoh Co Ltd 発光素子の調整固定構造及び光走査装置及び画像形成装置
US8911112B2 (en) 2011-01-14 2014-12-16 Ricoh Company, Ltd. Light emitting element adjusting and fixing structure, optical scanner, and image forming apparatus

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JP2012150132A (ja) * 2011-01-14 2012-08-09 Ricoh Co Ltd 発光素子の調整固定構造及び光走査装置及び画像形成装置
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