FI80524B - Foerfarande och anordning foer analysering av slamartade material. - Google Patents
Foerfarande och anordning foer analysering av slamartade material. Download PDFInfo
- Publication number
- FI80524B FI80524B FI862345A FI862345A FI80524B FI 80524 B FI80524 B FI 80524B FI 862345 A FI862345 A FI 862345A FI 862345 A FI862345 A FI 862345A FI 80524 B FI80524 B FI 80524B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- detector
- radiation
- ray
- ray diffraction
- measuring
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 21
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 27
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 claims description 18
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 239000010802 sludge Substances 0.000 claims description 11
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by using a combination of at least two measurements at least one being a transmission measurement and one a scatter measurement
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
1 80524
MENETELMÄ JA LAITE LIETEMÄISTEN MATERIAALIEN ANALYSOIMISEKSI
Tämä keksintö kohdistuu menetelmään ja laitteeseen lietemäisten materiaalien analysoimiseksi säiteilyttämällä materiaalia röntgensäteilyllä jatkuvatoimisesti.
Ennestään tunnetaan runsaasti menetelmiä, joissa analysoitavaa materiaalia säteilytetään röntgensäteilyllä jatkuvatoimisesti. Tällöin analysointi tapahtuu esimerkiksi näytteestä saatavan röntgendiffraktion perusteella tai röntgenfluoresenssin avulla. Röntgenfluoresenssilla mitataan tavallisesti lietteessä olevien alkuainekomponenttien pitoisuutta, kun taas röntgendiffraktiota käytetään näytteessä olevien yhdisteiden pitoisuuksien mittaamiseen. Röntgendiffraktiota ja röntgenfluoresenssia mitataan tunnetuissa menetelmissä kuitenkin siten, että kummankin toteamiseksi haluttaessa on asetettu toisistaan erilliset laitteistot, jolloin saadut tulokset eivät vastaa toisiaan, koska mittaukset on suoritettu eri kohdasta näytettä. Näin saadut mittaustulokset eivät siis ole vertailukel-: poisia toisiinsa nähden esimerkiksi erilaisen taustasäteilyn johdosta.
Esilläolevan keksinnön tarkoituksena on poistaa tekniikan tason mukaisia haittapuolia ja aikaansaada entistä parempi menetelmä ja laite jatkuvatoimiseen lietevirtojen analysointiin, kun näytettä säteilytetään röntgensäteilyllä siinä olevien eri komponenttien aiheuttaman röntgendiffraktion ja röntgenfluoresenssin herättämiseksi. Keksinnön olennaiset tunnusmerkit selviävät oheisista patenttivaatimuksista.
Keksinnön mukaisesti röngenputkesta saatavan röntgensäteilyn vaikutuspiiriin johdetaan lietemäisen materiaalin virta, jolloin lietevirrasta olennaisesti samanaikaisesti syntyvää röntgendiffraktio- ja röntgen-fluoresenssisäteilyn intensiteettejä mitataan kullekin säteilylle ominaisella detektorilla. Tällöin yhdestä röntgenputkesta saatavaa säteilyä voidaan käyttää hyväksi sekä lietevirran röntgendiffraktiosäteilyn ja lietevirran röntgenfluoresenssisäteilyn mittauksessa. Näin diffraktio- ja fluoresenssisäteilyn intensiteetti saadaan mitattua edullisesti olennaisen samalta kohdalta jatkuvasti liikkeessä olevaa lietevirtaa.
2 80524
Keksinnön mukaisesti mitattaessa lietemäisen materiaalin aiheuttama sekä röntgendiffraktio- että röntgenfluoresenssisäteily olennaisen samalta kohdalta voidaan saaduista mittaustuloksista, intensiteeteistä, muodostaa tunnusparametri, joka kuvaa edullisesti määrätyn osakomponentin, kuten alkuainekomponentin sitä osuutta joka sisältyy kyseisen alkuaine-komponentin muodostamaan, tarkasteltavaan yhdisteeseen. Tunnusparametri antaa edullisen tuloksen, koska mittauksen tapahtuessa sekä röntgen-diffraktiolle että röntgenfluoresenssille olennaisen samalta kohdalta määritettävää Hetemäistä materiaalia eliminoituu eri syistä aiheutuvan taustasäteilyn vaikutus pois olennaisesti kokonaan.
Keksinnön mukaisen menetelmän soveltamiseksi käytetään mitattavan lietemäisen materiaalin aiheuttaman röntgendiffraktiosäteilyn määrittämiseen edullisesti monikomponenttidetektoria, jossa jokaista mitattavaa signaalia kohden on erillinen detektori samassa rungossa. Näin aikaansaadaan edullinen mittaus jokaiselle halutulle komponentille, koska röntgendiffraktiosäteilyn taittumiskulma on kullekin mitattavalle komponentille ominainen suure.
Keksinnön mukaisessa röntgendiffraktiosäteilyn mittaukseen edullisesti soveltuvassa monikomponenttidetektorissa on jokaiselle detektorille yhteinen suurjänniteiähde sekä kaasutäyte, kun taas detektorien etu-vahvistimet signaalin suuruudesta riippuen ovat erilliset. Edelleen keksinnön mukaiseen monikomponenttidetektoriin on siinä olevien erillisten detektorien eteen asetettu monirakoinen levy, joka päästää edullisesti halutut diffraktiosignaalit kullekin komponentille tarkoitettuun detektoriin.
Keksinnön mukaisen menetelmän mukaisesti mitattavan röntgenfluoresens-sisäteilyn mittaamiseen käytetään edullisesti energiadispersiivisesti toimivaa detektoria, esimerkiksi verrannollisuuslaskuria tai puolijoh-dedetektoria. Haluttujen röntgenfluoresenssisignaalien mittaaminen voidaan suorittaa edullisesti myös kiintokanavaisilla kidespektrometreillä.
Koska keksinnön mukaisesti materiaalin synnyttämä röntgendiffraktio-ja röntgenfluoresenssisäteily mitataan edullisesti samalta kohdalta näytettä, voidaan kummallekin säteilylle tarkoitetut detektorit sijoittaa 3 80524 edullisesti olennaisen samalle analysaattorin halkileikkauspinnalle.
Keksintöä selostetaan lähemmin seuraavassa viitaten oheiseen piirustukseen, joka esittää keksinnön edullista sovellutusmuotoa osittain poik-kileikattuna sivukuvantona.
Kuvion mukaisesti keksinnön mukaiseen jatkuvatoimiseen röntgenanaly-saattoriin 1 on liitetty mittakyvetti 2, johon analysoitava lietemäinen materiaali johdetaan sisäänmenoputken 3 kautta ja edelleen kyvetistä 2 pois ulostuloputken 4 kautta. Analysaattoriin 1 on sijoitettu röntgen-putki 5, josta lähtevällä ja suodattimen 6 läpi kulkevalla säteilyllä säteilytetään mittakyvettiin 2 tulevaa Hetemäistä materiaalia. Tällöin säteilytyksessä muodostuvaa röntgenfluoresenssisäteilyä varten on lähelle kollimaattorin 7 keskiosaa sijoitettu detektorit 8, 9.
Lietemäisestä materiaalista syntyvän röntgendiffraktiosäteilyn mittaamiseen käytetään monikomponenttidetektoria 10. Detektori 10 koostuu kuvion mukaisesti kolmesta, yhdelle komponentille tarkoitetusta detektorista 11, 12, 13, joiden eteen on sijoitettu suodattimena toimiva rakolevy 14, joka päästää lävitseen eri raoista vain haluttuun kulmaan sironneen röntgendiffraktiosäteilyn.
Claims (8)
1. Menetelmä lietemäisten materiaalien analysoimiseksi säteilyttämällä jatkuvatoimisesti virtaavaa materiaalia röntgensäteilyllä ja mittaamalla syntynyttä säteilyä, tunnettu siitä, että säteilytetystä materiaalista mitataan olennaisesti samanaikaisesti syntyvät sekä röntgen-fluoresenssisäteilyn että röntgendiffraktiosäteilyn intensiteetit ja että saatuja intensiteettejä hyväksikäyttäen muodostetaan tunnusparametri, joka kuvaa osakomponenttien määrätyssä yhdistekokonaisuudessa olevaa osuutta.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että tunnusarvon muodostamiseksi osakomponentti-intensiteettinä käytetään röntgenfluoresenssien aikaansaamaa intensiteettiä ja röntgendiff-raktion intensiteettiä käytetään yhdistekokonaisuuden intensiteettinä.
3. Patenttivaatimusten 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että röntgenfluoresenssisäteilyn ja röntgendiffraktiosäteilyn intensiteetit mitataan olennaisesti samalta kohdalta mitattavaa materiaalia.
4. Laite patenttivaatimuksen 1 mukaisen menetelmän toteuttamiseksi, jossa laitteessa on elimiä lietemäisen, virtaavan materiaalin säteilyttä-miseksi jatkuvatoimisesti sekä elimiä materiaalista lähteneen säteilyn mittaamiseksi tunnettu siitä, että röntgenfluoresenssisäteilyn ja röntgendiffraktiosäteilyn mittaamiseen tarkoitetut detektorit (8,10) on sijoitettu samalle analysaattorin (1) halkileikkaustasolle.
5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen laite, tunnettu siitä, että röntgendiffraktiosäteilyn mittaukseen käytetty detektori on monikompo-nenttidetektori (10), jossa jokaista mitattavaa intensiteettiä kohden on erillinen detektori (11,12,13). 5 80524
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laite, tunnettu siitä, että monikomponettidetektorissa (10) on detektorien (11,12,13) eteen sijoitettu rakolevy (14), joka päästää lävitseen kullekin detektorille (11, 12,13) ominaisen röntgendiffraktiosäteilyn.
7. Patenttivaatimusten 4,5 tai 6 mukainen laite, tunnettu siitä, että lietemäisen materiaalin aiheuttaman röntgenfluoresenssisä-teilyn mittaamiseen käytetty detektori (8,9) on verrannollisuuslaskuri.
8. Patenttivaatimusten 4,5 tai 6 mukainen laite, tunnettu siitä, että lietemäisen materiaalin aiheuttaman röntgenfluoresenssisä-teilyn mittaamiseen käytetty detektori (8,9) on puolijohdedetektori. 6 80524
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI862345A FI80524C (fi) | 1986-06-02 | 1986-06-02 | Foerfarande och anordning foer analysering av slamartade material. |
| GB8710769A GB2191284B (en) | 1986-06-02 | 1987-05-07 | Method and apparatus for analyzing sludgy materials |
| IL82450A IL82450A0 (en) | 1986-06-02 | 1987-05-07 | Method and apparatus for analyzing sludgy materials |
| CA537208A CA1267734C (en) | 1986-06-02 | 1987-05-15 | Method and apparatus for analyzing sludgy materials |
| DE19873718245 DE3718245A1 (de) | 1986-06-02 | 1987-05-30 | Verfahren und vorrichtung zum analysieren schlammiger stoffe |
| US07/675,041 US5107527A (en) | 1986-06-02 | 1991-03-25 | Method and apparatus for analyzing sludgy materials |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI862345A FI80524C (fi) | 1986-06-02 | 1986-06-02 | Foerfarande och anordning foer analysering av slamartade material. |
| FI862345 | 1986-06-02 |
Publications (4)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI862345A0 FI862345A0 (fi) | 1986-06-02 |
| FI862345L FI862345L (fi) | 1987-12-03 |
| FI80524B true FI80524B (fi) | 1990-02-28 |
| FI80524C FI80524C (fi) | 1990-06-11 |
Family
ID=8522744
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI862345A FI80524C (fi) | 1986-06-02 | 1986-06-02 | Foerfarande och anordning foer analysering av slamartade material. |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5107527A (fi) |
| CA (1) | CA1267734C (fi) |
| DE (1) | DE3718245A1 (fi) |
| FI (1) | FI80524C (fi) |
| GB (1) | GB2191284B (fi) |
| IL (1) | IL82450A0 (fi) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4021617C2 (de) * | 1990-07-06 | 1993-12-02 | Kugelfischer G Schaefer & Co | Vorrichtung zum kontinuierlichen Messen des Eisengehaltes in Zinkschichten |
| US5272745A (en) * | 1992-05-14 | 1993-12-21 | A.H.S. Consultants & Engineers, Inc. | Apparatus for analyzing, continuously flowing dry powder samples, by means of X-ray spectroscopy |
| GB9223592D0 (en) * | 1992-11-11 | 1992-12-23 | Fisons Plc | X-ray analysis apparatus |
| DE4304938C2 (de) * | 1993-02-18 | 1996-04-25 | Daimler Benz Ag | Goniometer mit mehreren Achsen |
| JPH08136480A (ja) * | 1994-11-11 | 1996-05-31 | Dkk Corp | 油中硫黄分測定装置 |
| AUPQ893700A0 (en) * | 2000-07-24 | 2000-08-17 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | On-line x-ray diffraction analyser |
| US20030068829A1 (en) * | 2001-06-25 | 2003-04-10 | Symyx Technologies, Inc. | High throughput crystallographic screening of materials |
| US7978820B2 (en) * | 2009-10-22 | 2011-07-12 | Panalytical B.V. | X-ray diffraction and fluorescence |
| JP2011145162A (ja) * | 2010-01-14 | 2011-07-28 | Japan Atomic Energy Agency | 流体中微粒子のｘ線検出法 |
| US11260354B2 (en) | 2016-12-06 | 2022-03-01 | The Boeing Company | Apparatus, system, and method for producing a sealant |
| AU2019268796A1 (en) * | 2018-05-18 | 2020-12-17 | Enersoft Inc. | Systems, devices, and methods for analysis of geological samples |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CH476994A (de) * | 1966-07-05 | 1969-08-15 | Mansfeld Kombinat W Pieck Veb | Anordnung zur automatischen Röntgenfluoreszenzanalyse |
| US4134012A (en) * | 1977-10-17 | 1979-01-09 | Bausch & Lomb, Inc. | X-ray analytical system |
| EP0108447A3 (en) * | 1982-11-04 | 1985-07-17 | North American Philips Corporation | Simultaneous collection of diffraction and spectrographic data |
-
1986
- 1986-06-02 FI FI862345A patent/FI80524C/fi not_active IP Right Cessation
-
1987
- 1987-05-07 GB GB8710769A patent/GB2191284B/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-05-07 IL IL82450A patent/IL82450A0/xx unknown
- 1987-05-15 CA CA537208A patent/CA1267734C/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-05-30 DE DE19873718245 patent/DE3718245A1/de not_active Withdrawn
-
1991
- 1991-03-25 US US07/675,041 patent/US5107527A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FI80524C (fi) | 1990-06-11 |
| DE3718245A1 (de) | 1987-12-03 |
| CA1267734A (en) | 1990-04-10 |
| CA1267734C (en) | 1990-04-10 |
| US5107527A (en) | 1992-04-21 |
| IL82450A0 (en) | 1987-11-30 |
| GB8710769D0 (en) | 1987-06-10 |
| FI862345A0 (fi) | 1986-06-02 |
| FI862345L (fi) | 1987-12-03 |
| GB2191284B (en) | 1990-12-19 |
| GB2191284A (en) | 1987-12-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI80524B (fi) | Foerfarande och anordning foer analysering av slamartade material. | |
| US3944834A (en) | Pollution monitor with self-contained calibration and cell-block therefor | |
| FR2454619A1 (fr) | Procede et dispositif de mesure continue de teneurs en elements | |
| DE2720370A1 (de) | Optode mit hilfsindikator | |
| US3980882A (en) | Methods and apparatus for the chemical analysis of flowing materials | |
| Göhde | Automation of cytofluorometry by use of the impulsmicrophotometer | |
| US4016419A (en) | Non-dispersive X-ray fluorescence analyzer | |
| US4099882A (en) | Apparatus for optically analyzing fluids | |
| DE59209844D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Gasanalyse | |
| Edel et al. | Simultaneous multielement determination in complex matrices using frequency-modulated electrothermal atomic absorption spectrometry | |
| FI64464B (fi) | Foerfarande foer utfoerande av en kemisk analys | |
| SU911265A1 (ru) | Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа | |
| EP0039718A1 (en) | METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING THE CONCENTRATION OF A SUBSTANCE CONTAINED IN PARTICLES CARRIED BY A FLOWING MEDIUM. | |
| US4349738A (en) | Method of measuring the content of given element in a sample by means of X-ray radiation | |
| SU754274A1 (ru) | Способ рентгеноспёктрального флуоресцентного анализа вещества в легком наполнителе 1 | |
| SU868503A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
| RU2171980C2 (ru) | Способ распознавания химического состава объектов по ослаблению ими рентгеновского излучения | |
| RU2524454C1 (ru) | Способ определения концентрации элемента в веществе сложного химического состава | |
| SU1702268A1 (ru) | Способ градуировки дл рентгенорадиометрического анализа | |
| JPS6453144A (en) | Method for evaluating thin film by fluorescent x-ray analysis | |
| SU972350A1 (ru) | Устройство дл рентгенорадиометрического флуоресцентного анализа /его варианты/ | |
| SU1193547A1 (ru) | Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа пульп | |
| JPH01156646A (ja) | 蛍光ｘ線分析方法 | |
| SU958933A1 (ru) | Способ флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа | |
| SU272647A1 (ru) | УНИВЕРСАЛЬНЫЙ ФОКУСИРУЮЩИЙ КВАНТ*ВСЕСОЮЗНАЯПАТЕП :;С-^.-Х1ШЧ^СКАЯбиблиотека_МБА |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM | Patent lapsed |
Owner name: OUTOKUMPU OY |