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DE8714018U1 - Prüfnadel zur elektrischen Prüfung von Leiterplatten - Google Patents

Prüfnadel zur elektrischen Prüfung von Leiterplatten

Info

Publication number
DE8714018U1
DE8714018U1 DE8714018U DE8714018U DE8714018U1 DE 8714018 U1 DE8714018 U1 DE 8714018U1 DE 8714018 U DE8714018 U DE 8714018U DE 8714018 U DE8714018 U DE 8714018U DE 8714018 U1 DE8714018 U1 DE 8714018U1
Authority
DE
Germany
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test
test needle
needle
longitudinal axis
needles
Prior art date
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Expired
Application number
DE8714018U
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
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Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE8714018U priority Critical patent/DE8714018U1/de
Publication of DE8714018U1 publication Critical patent/DE8714018U1/de
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

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87 6
Siemens Aktiengesellschaft
Prüfnadel zur elektrischen Prüfung von Leiterplätten 5
Die Erfindung betrifft eine Prüfnadel zur elektrischen Prüfung von Leiterplatten mit den Merkmalen des Oberbegriffs des Anspruchs 1.
Es ist bekannt, die Prüfnadeln eines elektrischen Leiterplattenprüfsystems aus mehreren ineinander beweglichen Teilen aufzubauen, die federnd in ihrer Längsachse verschiebbar sind. Die äußeren Hülsen der Prüfnadeln sind in einer isolierenden Nadelträgerplatte fest eingefügt, und der bewegliche Teil mit der Nadelspitze, die zur Kontaktierung der Schaltungspunkte an der zu prüfenden Leiterplatte dient, liegt federnd beweglich in dieser Hülse. Die Anschlüsse für die Prüfeinrichtung sind fest an der in die Nadelträgerplatte eingebrachten Hülse abgelötet bzw. in herkömmlicher Weise kontaktiert.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Prüfnadel zur elektrischen Prüfung von Leiterplatten zu schaffen, die einfach herzusteilen ist und eine hervorragende elektrische Verbindung zwischen dem Prüfling und der Prüfeinrichtung gewährleistet.
Zur Lösung dieser Aufgabe werden bei einer Prüfnadel der eingangs angegebenen Art die Merkmale des Kennzeichens des Anspruchs 1 vorgesehen.
3Q Gemäß der Erfindung kann die Prüfnadel in einfacher Weise aus einem federnden Draht bzw. aus einem federnden Bändchen hergestellt werden und somit einfache Stanzteile darstellen. Es ist ein hervorragender elektrischer Kontakt im Bereich der Prüfnadeln sichergestellt, da keine reibenden Verschleißteile, wie bei den Kolbennadeln beim Stand der Technik, notwendig sind. Eine Versilberung oder Vergoldung zur Kontaktverbesserung in
Ag 4 Bz / 16.10.1987
02 01
87 G
der Nadel, wie sie bei den in einer Hülse geführten Nadeln nötwendig ist, kann hier somit entfallen, da kein übergangswiderstand am federnden Teil auftreten kann. Die Führung der Ürfw/egung der Prüfnadel kann durch separate, leicht auswechselbare Führungsplatten sichergestellt werden, wobei der Hubweg Und die zu verarbeitende Kraft durch die Formgebung der Prüfnadel und deren Material Optimierbar sind.
Hervorragende weitere Ausgestaltungen der Prüfnadeln sind in den &Igr;&Ogr; Unteransprüchen angegeben*
Die Erfindung wird anhand der Figuren erläutert, wobei Figur 1 in Hülsen geführte Prüfnadeln wie beim Stand der Technik, Figur 2 eine Ausführungsform der Prüfnadeln mit federndem Bereich zwischen einer Führungsplatte und einer Nadelträgerplatte,
■Figuren-3 bis 6 weitere Ausführungsbeispiele der Prüfnädeln, Figur 7 ein Beispiel der Kontaktierung der Prüfnadeln zur Prüfeinrichtung,
Figur 8 ein Ausführungsbeispiel zur Kontaktierung in Schneid-Klemm-Technik und
Figur 9 ein Ausführungsbeispiel für die Anordnung von mehreren Prüfnadeln darstellen.
Bei dem in der Figur 1 dargestellten Ausführungsbeispiel ist eine Nadelträgerplatte 1 eines bekannten Leiterplattenprüfsystems gezeigt, in das in Bohrungen 2 Hülsen 3 von Prüfnadeln zur Prüfung einer Leiterplatte 4 eingefügt sind. In den Hülsen befinden sich federnd bewegliche Prüfnadelspitzen 5, die Schaltungspunkte auf der zu prüfenden Leiterplatte 4 kontaktieren und somit eine elektrische Verbindung von diesen Schaltungspunkten zu dem Anschluß 6 der Prüfnadeln, die mit einer hier nicht dargestellten weiteren Prüfeinrichtung verbunden sind, herstellen.
Bei dem erfindungsgemäßen Ausführungsbeispiel nach der Figur 2 ist eine Nadelträgerplatte 10 vorhanden und eine Führungsplat-
02 02
87 G &Iacgr;&Iacgr;6&iacgr;|
te 11. Die Führungsplatte 11 ist über einen Führungsbolzen 12 vertikal bewegbar. In entsprechend gegenüberliegenden Bohrungen 13 und IA der beiden Platten sind Prüfnadeln 15 geführt, die im Bereich zwischen diesen Plätten ein halbkreisförmig federndes Teil 16 aufweisen. Die Prufnadeln kontaktieren an ihren Spitzen 17 die Schaltungspunkte der zu prüfenden Leiterplatte 18 und stellen somit eine elektrische Verbindung von diesen Schaltungspunkten zu der hier nicht dargestellten Prüfeinrichtung her. Beim Andrücken der gesamten Prüfanordnung mitsamt den Prüfnadeln 15 wird somit ein vertikaler Druck auf die Prufnadeln ausgeübt, so daß sich der Bereich 16 der Prufnadeln 15 federnd verformt und somit die entsprechende Andruckkraft der Spitzen auf die Schaltungspunkte der Leiterplatte 18 gewährleistet ist.
Anhand der Figur 4 ist die Ausführungsform der Prüfnadel 15 mit einem halbkreisförmigen federnden Bereich dargestellt; anhand der Figur- 4 ist der federnde Bereich S-förmig ausgestaltet. Beim Ausführungsbeispiel nach der Figur 3 wird die Kraft teilweise schräg geführt, wogegen beim Ausführungsbeispiel nach der Figur 4 die Kraft voll in der Richtung der Achse auftritt, so daß bei der Aufbringung der erforderlichen Andruckkraft der Prüfnadeln keine seitlichen Kräfte auftreten können.
Bei den Ausfühsungsbeispielen anhand der Figuren 5 und 6 ist die Prüfnadel im Bereich zwischen der Nadelträgerplatte 10 und der Führungsplatte 11 in ihrem rechteckförmigen Querschnitt aufgespalten, so daß die beiden Teile der Prüfnadel jeweils einen federnden Bereich darstellen, der im Fall der Darstellung nach der Figur 5 S-förmig spiegelbildlich zur Längsachse der Prüfnadel ausgebildet ist. Beim Ausführungsbeispiel nach der Figur 6 sind beide Teile halbkreisförmig und ebenfalls spiegelbildlich zur Längsachse ausgebildet. Mit diesen beiden Ausführungsbeispielen kann eine verstärkte Andruckkraft der Prüfnadelspitze auf die zu prüfende Leiterplatte 18 aufgebracht werden. 35
02 03
I 1
1 In der Figur 7 ist ein Ausführungsbeispiel einer Prüfnadel mit S-fÖrmigem Biegebereich dargestellt, bei dem der Kontaktbereich für defl Anschluß einer elektrischen Verbindung zur Prüfeinrichtung mit einem aufgestanzten, als Crimphülse verwendbaren 5 AnschluÖpunkt versehen ist. Bei der Prüfnadel nach der Darstel- ;■ lung der Figur 8 ist der Anschlußpunkt, die elektrische VerbiniÜ dung zur Prüfeinrichtung, als Schneid-Klemme ausgeführt, über i* die beispielsweise ein Flachbandkabel kontaktiert werden kann. Ij Die Nadel nach diesem Ausführungsbeispiel kann bei einem nötj lö wendigen Austausch der Prüfnadeln leicht aus der Nadelträger- b platte herausgezogen werden, da keine verdickten Teile am
§ Kontaktpunkt vorhanden sind.
I Die Figur 9 zeigt eine Anordnung von zwei'Reihen von Kontakt-
S 15 nadeln 15* die derartig schräg zueinander versetzt sind, daß ^ die sich auslenkenden federnden Bereiche der Kontaktnadeln 15 I sich gegenseitig nicht behindern. Bei Bedarf kann hierzu noch I eine Isolierung durch eine eingelegte Folie hergestellt werden*
J 20 6 Schutzansprüche
1 9 Figuren
290 05 01

Claims (6)

Schutzansprüche
1. Prüfnadel zur elektrischen Prüfung von Leiterplatten,
- die einen federnden Kontakt zwischen der Prüfeinrichtung und Schaltungspunkten auf der Leiterplatte als Prüfling bewirkt, dadurch gekennzeichnet ; daß
- die Prüfnadeln längs in Bohrungen zwischen einer isolierenden Nadelträgerplatte und einer isolierenden Führungsplatte gaführt sind und daß
- die Prüfnadel im Bereich zwischen der Nadelträgerplatte und der Führungsplatte von ihrer Längsachse abweichend vorgeformt ist und weiter elastisch verbiegbar ist.
2. Prüfnadel nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
- der elastisch verbiegbare Bereich halbkreisförmig von der Längsachse der Prüfnadel wegführt.
3. Prüfnadel nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, laß
- der elastisch verbiegbare Bereich sich S-förmig an der Längsachse der Prüfnadel erstreckt.
4. Prüfnadel nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
- die Prüfnadel einen rechteckigen Querschnitt aufweist, der im Bereich zwischen der Nadelträgerplatte und der Führungsplatte in der Längsachse gespalten ist.
5. Prüfnadel nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
- die beiden gespaltenen Teile der Prüfnadel sich S-förmig, spiegelbildlich zueinander an der Längsachse der Prüfnadel erstrecken.
06 Ol
Ag 4 Sei / 07.12.1987
1 ·
1
6. Prüfnadel nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
- die beiden gespaltenen Teile der Prüfnadel halbkreisförmig, spiegelbildlich zueinander von der Längsachse der Prüfnadel
5 wegführen.
290 06 02
* I 11*1
DE8714018U 1987-10-19 1987-10-19 Prüfnadel zur elektrischen Prüfung von Leiterplatten Expired DE8714018U1 (de)

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Cited By (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0866337A2 (de) * 1997-03-19 1998-09-23 Circuit Line S.P.A. Starre Tastnadel zur elektrischen Prüfung von Leiterplatten

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DE3142817A1 (de) * 1980-10-30 1982-07-08 Everett/Charles, Inc., 91730 Rancho Cucamonga, Calif. Uebertragungseinrichtung, test-spannvorrichtung mit uebertragungseinrichtung und verfahren zur bildung einer uebertragungseinrichtung
DE3337915A1 (de) * 1982-10-21 1984-05-24 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Kontaktiervorrichtung
DE3343274A1 (de) * 1983-11-30 1985-06-05 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Kontaktiervorrichtung

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