DE69911539T2 - Elektrische Lampe mit Interferenzfilter - Google Patents
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- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 22
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 11
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 11
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 3
- 239000005341 toughened glass Substances 0.000 claims 1
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 24
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 23
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 9
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-N Hydrogen bromide Chemical compound Br CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000011449 Rosa Nutrition 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000012417 linear regression Methods 0.000 description 1
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 150000002926 oxygen Chemical class 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 tungsten halogen Chemical class 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/20—Filters
- G02B5/28—Interference filters
- G02B5/281—Interference filters designed for the infrared light
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J61/00—Gas-discharge or vapour-discharge lamps
- H01J61/02—Details
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Description
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine elektrische Lampe mit einem Leuchtkörper, welcher vakuumdicht verschlossen ist,
einem elektrischen Element, welches in dem Leuchtkörper angeordnet und mit Stromversorgungsleitern, die sich durch den Leuchtkörper erstrecken, verbunden ist, sowie
einem Interferenzfilter auf dem Leuchtkörper, wobei das Interferenzfilter abwechselnd erste und zweite Schichten aufweist. - Bei dem Interferenzfilter zur Reflektierung der Infrarotstrahlung weist die erste Schicht einen relativ geringen Brechungskoeffizienten, wie z. B. Siliciumdioxid, und die zweite Schicht einen relativ hohen Brechungskoeffizienten, wie z. B. Tantal oder Niobium, auf.
- Interferenzfilter mit abwechselnden Schichten aus zwei oder mehreren Materialien mit verschiedenen Brechungskoeffizienten sind allgemein bekannt. Interferenzfilter dieser Art werden zur Übertragung von Strahlungswellenlängen und Reflektierung anderer Wellenlängen eingesetzt. Solche Interferenzfilter können zur Verbesserung der Lichtausbeute bzw. Beleuchtungseffizienz von Glühlampen oder Entladungslampen verwendet werden, indem Infrarotstrahlung, die von einem elektrischen Element, bei welchem es sich um einen Glühfaden oder eine Gasentladungsröhre handeln kann, emittiert wird, während der Übertragung des sichtbaren Lichts zu dem Element zurückgeworfen wird. Hierdurch wird die Menge der elektrischen Energie, welche zur Aufrechterhaltung der Betriebstemperatur des Glühfadens erforderlich ist, verringert.
- Interferenzfilter, welche dort eingesetzt werden, wo das Interferenzfilter hohen Temperaturen, über 500°C, ausgesetzt wird, sind aus alternierenden Schichten aus hitzebeständigen Metalloxiden, wie z. B. Siliciumdioxid (SiO2) und Tantal (Ta2O5) oder Niobium (Nb2O5), hergestellt. Bei dem Siliciumdioxid (n = 1,46) handelt es sich um das Material mit dem geringen Brechungskoeffizienten, bei Tantal (n = 2,13) oder Niobium (n = 2,35) dagegen um das Material mit dem hohen Brechungskoeffizienten. Bei solchen Lampeneinsätzen werden die Interferenzfilter auf der Außenfläche der Lampenglasumhüllung, welche den Glühfaden oder Lichtbogen enthält, aufgebracht und erreichen oftmals Betriebstemperaturen von bis zu 900°C. Diese Interferenzfilter werden im Allgemeinen unter Anwendung chemischer Aufdampfung (CVD) und Tiefdruck-CVD oder reaktiver Zerstäubung vorgesehen.
- US-Patent 4 663 557 von Martin et al offenbart ein Interferenzfilter mit alternierenden Schichten aus SiO2 und Ta2O5, welches sich zur Verwendung in, hohen Temperaturen ausgesetzten Umgebungen eignet. Ein Problem bei Ta2O5 ist jedoch, dass es bei Temperaturen über 800°C zu einer polykristallinen Form kristallisiert, wodurch bewirkt wird, dass das Interferenzfilter übertragenes Licht und die reflektierte Strahlung streut.
- US-Patent 4 734 614 von Kuus beschreibt eine Halogenlampe mit einem Interferenzfilter aus SiO2 und Nb2O5, dessen Zweck es ist, Streuungs- und Hochtemperaturprobleme, die bei einem Interferenzfilter aus SiO2/Ta2O5 auftreten, zu überwinden. Diese Interferenzfilter wurden bei 60-Watt-Hartglashalogenbrennern, welche unter 500°C arbeiten und in Reflektoren mit Linsen, die nicht hermetisch abgedichtet sind, angeordnet sind, erfolgreich eingesetzt. 100-Watt-Brenner arbeiten jedoch bei hohen Temperaturen und machen Quarzglasleuchtkörper in einem hermetisch verschlossenen Inertgas erforderlich, um den Quetschungsbereich gegen Oxidation zu schützen.
- Niobiumbeschichtungen haben den Nachteil, dass solche Beschichtungen bei Betrieb in einer inerten Umgebung, wie z. B. bei Lampen, bei denen der Reflektor bei einem Flammenabdichtungsverfahren hermetisch abgedichtet wird, schwärzen. Dieses Absorptionscharakteristikum ist offensichtlich auf die Reduzierung des Niobiums zurückzuführen, so dass dieses unterstöchiometrisch und daher opak ist. Tantal weist dieses Problem in einem wesentlich geringerem Umfang auf, wobei jedoch Tantalzerstäubungskathoden den Nachteil haben, dass sie doppelt so teuer wie Niobium sind. Darüber hinaus ist der Brechungsindex bei Niobium höher als bei Tantal (2,35 gegenüber 2,14), was in einer dünneren Beschichtung oder größeren Effizienz resultieren kann.
- In Anbetracht des zuvor Erwähnten wäre es wünschenswert, die Vorteile von Tantal, z. B. eine begrenzte Tendenz, in einer inerten Umgebung absorptionsfähig zu werden, und Niobium, z. B. keine Hochtemperaturstreuung, geringere Kosten und einen hohen Brechungsindex, zu erreichen.
- Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine elektrische Lampe der in dem einleitenden Absatz beschriebenen An vorzusehen, bei welcher den oben erwähnten Nachteilen entgegengewirkt wird.
- Gemäß der vorliegenden Erfindung wird diese Aufgabe dadurch erreicht, dass eine elektrische Lampe der in dem einleitenden Absatz erwähnten An erste Schichten, welche in der Hauptsache aus SiO2 bestehen, und zweite Schichten aufweist, welche im Wesentlichen aus einem Gemisch aus Nb2O5 und Ta2O5 bestehen, wobei das Gemisch mindestens 20 Gewichtsprozent Nb2O5 aufweist. Beträgt der Anteil von Niobium in dem Gemisch weniger als 38 Gewichtsprozent, hat es sich gezeigt, dass die Schichten in einer inerten Umgebung nicht absorptionsfähig sind. In den Fällen, in denen Niobium in den zweiten Schichten 38 Gewichtsprozent überschreitet, hat es sich gezeigt, dass ein Sauerstoffpartialdruck ein Schwärzen verhindert. Bei einer Brenndauer von 3000 Stunden bei einer 100-Watt-Lampe ohne Schwärzung sollte der Sauerstoffmindestdruck 13,3 Pa (0,10 Torr) bei 38% Niobium betragen, und dieses Minimum sollte bei 100% Niobium entsprechend einer geraden, halblogarithmischen Kurve auf 1306,6 Pa (9,8 Torr) ansteigen.
- Das Gemisch gemäß der vorliegenden Erfindung erreicht die Vorteile von Niobium in einer 100-Watt-Lampe in einer inerten bzw. im Wesentlichen inerten Umgebung, welche erforderlich ist, um eine Oxidation der Molybdänfolie in den Abdichtungen zu verhindern. Bei misslungener Abdichtung oxidiert der Glühfaden rapide und die Lampe weist eine Störung auf.
- Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im Folgenden näher beschrieben. Es zeigen:
-
1 – eine Schnittansicht einer Lampenumhüllung, innerhalb welcher ein Leuchtkörper mit einem Interferenzfilter gemäß der vorliegenden Erfindung vorgesehen ist; -
2 – eine grafische Darstellung beobachteter Zeit zur Schwärzung gegenüber Prozentgehalt von Nb2O5 im Gemisch; -
3 – eine halblogarithmische, grafische Darstellung des Sauerstoffmindestdrucks gegenüber Prozentgehalt von Nb2O2 im Gemisch bei klarem Interferenzfilter; -
4 – eine grafische Darstellung von Energieeinsparungen gegenüber Prozentgehalt von Nb2O5 im Gemisch. -
1 zeigt eine bekannte Lampe, bei welcher das Interferenzfilter gemäß der vorliegenden Erfindung (nicht sichtbar) von Nutzen wäre. Der Halogenbrenner weist einen Leuchtkörper10 mit einem Wolframfaden12 auf, welcher an beiden Enden mit Stromversorgungsleitern14 verbunden ist, die jeweils eine, mit dem Element12 verbundene Innenzuleitung16 , eine Molybdänfolie17 in dem durch Zusammendrücken abgedichte ten Teil des Leuchtkörpers sowie eine Außenzuleitung18 vorsehen. Der Leuchtkörper10 weist einen elliptisch geformten, mittleren Teil auf, welcher auf der Außenseite mit einem Interferenzfilter gemäß der Erfindung versehen ist, wodurch Infrarotstrahlung zu dem Glühfaden12 zurückgeworfen wird, um den Wärmewirkungsgrad zu verbessern und die zum Glühen erforderliche Leistung zu reduzieren. Eine Lampe dieser An ist in US-Patent 5 138 219 näher beschrieben. - Bei der in
1 dargestellten Lampe handelt es sich um eine Halogenglühlampe mit einer Füllung aus Inertgas und Hydrobromid. Lampen dieser An sind allgemein bekannt und können ebenfalls einen länglichen, zylindrischen Leuchtkörper, wie in US-Patent 4 734 614 und 5 138 219 offenbart, aufweisen. Die Infrarotreflexionsprinzipien können ebenfalls zur Aufrechterhaltung der Temperatur eines Entladungsgases sowie eines Glühfadens anwendbar sein. Der Begriff „elektrisches Element", wie hier verwendet, ist damit so zu verstehen, dass in Lampen weitere Lichtquellen, wie z. B. der Lichtbogen in einer Hochdruckquecksilberentladungslampe, welcher Metallhalogenid in der Gasfüllung enthält, enthalten sein können. Die Schichten in einem Interferenzfilter können ebenfalls so dimensioniert und angeordnet sein, dass das Interferenzfilter, wie in US-Patent 5 552 671 und 5 646 472 offenbart, UV-Strahlung absorbiert. - Die äußere Umhüllung
20 ist als Parabolspiegel mit eingebautem Sockel21 , welcher die leitfähigen Montageleitungen26 ,28 aufnimmt, geformt. Die Zuleitung26 ist mit Schraubsockel27 , die Zuleitung28 dagegen mit dem isolierten, zentralen Kontakt29 verbunden. Die Glas- oder Kunststofflinse bzw. Abdeckung23 kann mittels Klebemittel befestigt werden, wenn eine hermetische Abdichtung nicht erforderlich ist. Sollte es jedoch wünschenswert sein, eine Inertgasumgebung in dem Füllraum24 aufrechtzuerhalten, wäre die Abdeckung23 typischerweise aus Glas, welches gegenüber der Umhüllung20 flammendicht ist. - Obgleich US-Patent 5 138 219 eine Lampenanordnung offenbart, welche im Wesentlichen der in
1 dargestellten gleicht, ist diese lediglich für 60-Watt-Wolframhalogenlampen geeignet, wenn nicht eine Inertgasumgebung verwendet wird. Bei einer 100-Watt-Lampe, welche bei Temperaturen arbeitet, die 800°C überschreiten können, ist es erforderlich, eine Inertgasfüllung vorzusehen, um eine Oxidation von Leitern14 zu verhindern. Das Interferenzfilter gemäß der Erfindung eignet sich für eine solche Umgebung, da es keine Rückführung in einen unterstöchiometrischen Zustand in dem gleichen Maße wie reines Niobium, wodurch eine Absorption (Schwärzung) hervorgerufen wird, erfährt. Des Weiteren weist es keine Streuung in dem gleichen Maß wie reines Tantal auf, wenn es hohen Temperaturen ausgesetzt wird. - Bei dem Interferenzfilter gemäß der Erfindung handelt es sich vorzugsweise um eine 47-schichtige Beschichtung der in US-Patent 5 138 219 offenbarten An. Der Hauptunterschied ist, dass das Interferenzfilter gemäß der Erfindung ein Gemisch aus Ta2O5 und Nb2O5 als Material mit hohem Brechungsindex vorsieht. Zudem wird das Interferenzfilter gemäß der Erfindung, wie beschrieben, durch DC-Magnetronenzerstäubung statt durch LPVCD gebildet. Aufgesputterte Beschichtungen resultieren im Vergleich zu LPCVD im Allgemeinen in reduzierten Beanspruchungshöhen.
-
2 zeigt eine, durch eine gerade Linie approximierte, grafische Darstellung beobachteter Zeit bei einem Interferenzfilter in einer inerten Atmosphäre zur Schwärzung gegenüber dem Prozentgehalt von Niobium in dem Gemisch, welches die zweiten Schichten bzw. die Schichten mit hohem Brechungsindex bildet. Sämtliche Punkte sind Mittelwerte von drei oder vier Lampen. Die Linie stellt eine lineare Regression der drei Punkte bei einem Anstieg von 17,167 dar. Bei einem Gemisch mit 43% Niobium wurde bei einem Betrieb von 2943 Stunden einer 100-Watt-Lampe in einer Umgebung von im Wesentlichen reinem Stickstoff bei einem Fülldruck von 0,8 bar (600 Torr) keine Schwärzung beobachtet. Bis dahin fielen die Wendel in der Testlampe aus, während das Interferenzfilter klar blieb. Bei 25% Niobium wurde keine Schwärzung beobachtet oder erwartet. Bei 55% Niobium dagegen wurde bei einem Betrieb von 248 Stunden eine Schwärzung beobachtet. Bei 75% und 100% Niobium wurde jeweils bei einem Betrieb von 2,25 Stunden und 0,1 Stunden eine Schwärzung beobachtet. Die Zeit in Stunden zur Schwärzung bei einem 47-schichtigen Mischinterferenzfilter auf einem Halogenbrenner kann durch die Gleichung t = 2 × 10+6e–17,2f approximiert werden, wobei f den Anteil von Nb2O5 in dem Gemisch darstellt. - Obgleich eine Schwärzung einer 100-Watt-Lampe bei einem Betrieb von etwa 3000 Stunden bei 43% Niobium in dem Gemisch erwartet wird, hat es sich gezeigt, dass höhere Prozentzahlen eingesetzt werden können, wenn in dem Inertgas Sauerstoff enthalten ist. Dieser Sauerstoffpartialdruck verhindert offensichtlich eine Rückführung des Nb2O5 in einen unterstöchiometrischen Zustand.
-
3 zeigt eine, durch eine gerade Linie approximierte, halblogarithmische, grafische Darstellung des Sauerstoffdrucks gegenüber dem Prozentgehalt von Nb2O5 in dem Gemisch, um eine Schwärzung zu verhindern, bis eine 100-Watt-Lampe bis zu mindestens 3000 Stunden gearbeitet hat. Die Linie ist zwischen zwei Endpunkten, 13,3 Pa (0,1 Torr) bei 38% und 1333 Pa (10 Torr) bei 100%, gezogen. Die Gleichung für die Linie ist P02 = 6 × 10–3e7,4f. -
4 zeigt eine grafische Darstellung von Energieeinsparungen gegenüber dem Prozentgehalt von Niobium in dem Gemisch bei 100-Watt-Quarzglasbrennern. Hier bezieht sich der Begriff "Energieeinsparungen" auf die Reduzierung der Wattleistung bei einem beschichteten gegenüber einem unbeschichteten Brenner bei der gleichen Glühfadentemperatur; Temperatur kann durch Widerstand gemessen werden. Wenn zum Beispiel 125 Watt erforderlich sind, um 144 Ohm in einem unbeschichteten Brenner zu erreichen, und 100 Watt erforderlich sind, um 144 Ohm in dem beschichteten Brenner zu erreichen, beträgt die Energieeinsparung 20%. Dieses kann durch eine einfache Gleichung, wobei die Energieeinsparung = 1 (Leistung beschichtet)/(Leistung unbeschichtet), ausgedrückt werden. - Die Schichten des Interferenzfilters werden durch ein mikrowellenverbessertes DC-Magnetronenzerstäubungsverfahren, wie in
EP 0 516 436 offenbart, gebildet. Dieses ist ebenfalls als MicroDyn-Sputtersystem von Deposition Sciences, Inc., Santa Rosa, Kalifornien, bekannt. Diese Europäische Publikation offenbart die Verwendung von zwei Quellen, zum Beispiel bei Si und Nb, um SiO2 und Nb2O5 aufzubringen, indem den Quellen in einer, Sauerstoff als reaktives Gas enthaltenden Atmosphäre abwechselnd Energie zugeführt wird; das Arbeitsgas ist typischerweise Argon. Das System ist so vorgesehen, dass das Interferenzfilter gemäß der Erfindung unter Inanspruchnahme von vier Quellen mit unabhängiger Steuerung gebildet wird. Die ersten Schichten werden durch Inanspruchnahme von zwei Siliciumquellen, die zweiten Schichten dagegen unter Inanspruchnahme der Tantalquelle und Niobiumquelle gebildet. Die relativen Leistungen der Quellen können so eingestellt werden, dass ein Verhältnis der beiden Oxide und ebenfalls ein Brechungsindex zwischen 2,14 und 2,35 erreicht werden kann. Die Gesamtdicke des Mischmaterials wird durch die Gesamtleistung (Summe der Leistungen für die jeweiligen Quellen) gesteuert. - Es sei erwähnt, dass das Mischmaterial vielleicht nicht aus diskreten Molekülen der jeweiligen Oxide besteht, jedoch durch ein Oxid der Ta/Nb-Matrix dargestellt sein kann. Auf jeden Fall verhält sich das Material so, als wenn es sich um ein Einfachgemisch handeln würde. Zum Beispiel sind die Übertragungskurven (Übertragung gegenüber Wellenlänge) für die Interferenzfilter mit Schichten aus den jeweiligen Oxiden allgemein bekannt, und die Kurve für das Mischoxid erscheint als Superposition der einzelnen Kurven. Die Übertragung sichtbarer Wellenlängen zwischen 400 und 800 nm beträgt bei einem 47-schichtigen Interferenzfilter nahezu 100%, während etwa 80% der längeren Infrarotwellenlängen reflektiert werden. S. hierzu die Übertragungskurve für ein, in US-Patent 5 138 219 offenbartes SiO2/Ta2O5-Interferenzfilter.
- Das zuvor Erwähnte ist exemplarisch und soll den Schutzumfang der nachfolgenden Ansprüche nicht einschränken.
- Inschrift der Zeichnung:
-
2 -
- time Zeit
-
4 -
- energy savings Energieeinsparungen
Claims (10)
- Elektrische Lampe mit einem Leuchtkörper (
10 ), welcher vakuumdicht verschlossen ist, einem elektrischen Element (12 ), welches in dem Leuchtkörper angeordnet und mit Stromversorgungsleitern (14 ), die sich durch den Leuchtkörper erstrecken, verbunden ist, sowie einem Interferenzfilter auf dem Leuchtkörper (10 ), wobei das Interferenzfilter abwechselnd erste und zweite Schichten aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass die ersten Schichten im Wesentlichen aus SiO2 bestehen und die zweiten Schichten im Wesentlichen aus einem Gemisch aus Nb2O5 und Ta2O5 bestehen, wobei das Gemisch mindestens 20 Gewichtsprozent Nb2O5 aufweist. - Elektrische Lampe nach Anspruch 1, welche weiterhin eine hermetisch abgedichtete, äußere Umhüllung (
20 ) aufweist, in welcher der Leuchtkörper (10 ) angeordnet ist, wobei die äußere Umhüllung (20 ) eine Füllung vorsieht, die im Wesentlichen aus, den Leuchtkörper umgebenden Inertgas besteht, wobei das Gemisch höchstens 40 Gew.-% Nb2O5 aufweist. - Elektrische Lampe nach Anspruch 1, welche weiterhin eine hermetisch abgedichtete, äußere Umhüllung (
20 ) aufweist, in welcher der Leuchtkörper (10 ) angeordnet ist, wobei die äußere Umhüllung eine Füllung mit einem Sauerstoffpartialdruck aufweist, wenn das Gemisch mindestens 38 Gew.-% Nb2O5 aufweist. - Elektrische Lampe nach Anspruch 3, wobei der Sauerstoffpartialdruck ein Minimum aufweist, welches mit dem Prozentgehalt von Nb2O5 in dem Gemisch ansteigt, wobei das Minimum durch eine, durch eine gerade Linie approximierte, halblogarithmische, grafische Darstellung des Sauerstoffdrucks gegenüber dem Prozentgehalt von Nb2O5 in dem Gemisch dargestellt ist.
- Elektrische Lampe nach Anspruch 4, wobei die gerade Linie durch P02 = 6 × 10–3e7,4f dargestellt ist, wobei P02 den Sauerstoffdruck in Torr (1 Torr = 133,32 Pa) und f den Anteil von Nb2O5 in dem Gemisch darstellt.
- Elektrische Lampe nach Anspruch 1, wobei das Interferenzfilter aus den ersten und zweiten Schichten besteht.
- Elektrische Lampe nach Anspruch 1, wobei der Leuchtkörper (
10 ) Quarzglas enthält. - Elektrische Lampe nach Anspruch 1, wobei der Leuchtkörper (
10 ) Hartglas enthält. - Elektrische Lampe nach Anspruch 1, wobei die ersten und zweiten Schichten unter Anwendung eines Zerstäubungsverfahrens vorgesehen werden.
- Elektrische Lampe nach Anspruch 1, wobei das Interferenzfilter Infrarotstrahlung reflektiert und sichtbare Strahlung überträgt.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US57101 | 1998-04-08 | ||
US09/057,101 US6049169A (en) | 1998-04-08 | 1998-04-08 | Electric lamp having optical interference filter of alternating layers of SiO2 and Nb2 O5 --Ta2 O5 |
PCT/IB1999/000444 WO1999053526A1 (en) | 1998-04-08 | 1999-03-16 | Electric lamp having optical interface filter |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69911539D1 DE69911539D1 (de) | 2003-10-30 |
DE69911539T2 true DE69911539T2 (de) | 2004-06-03 |
Family
ID=22008509
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69911539T Expired - Fee Related DE69911539T2 (de) | 1998-04-08 | 1999-03-16 | Elektrische Lampe mit Interferenzfilter |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6049169A (de) |
EP (1) | EP0995225B1 (de) |
JP (1) | JP2002504262A (de) |
CN (1) | CN100345245C (de) |
DE (1) | DE69911539T2 (de) |
ES (1) | ES2209402T3 (de) |
WO (1) | WO1999053526A1 (de) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007049569A1 (de) | 2007-10-16 | 2009-04-23 | Osram Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Kombiniertes Schichtsystem IRC- und Farbkonversionsfilter |
DE102008051823A1 (de) | 2008-10-15 | 2010-04-22 | Osram Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Glühlampe |
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |