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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Plasmaanzeigefeld (PDP)
und ein Verfahren zum Herstellen eines solchen Plasmaanzeigefeldes
und insbesondere auf eine Plasmaanzeigefeldstruktur, um zufällige Entladungen
eines Wechselstrom-Plasmaanzeigefeldes mit Oberflächenentladung
mit drei Elektroden zu verhindern, und das Verfahren zum Herstellen
solch einer Plasmaanzeigefeldstruktur.
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Wechselstrom-Plasmaanzeigefelder
mit Oberflächenentladung
haben in der Technik zur Verwendung als Vollfarbenanzeigen für große Schirme
Aufmerksamkeit auf sich gezogen. Ein Wechselstrom-Plasmaanzeigefeld
mit Oberflächenentladung
mit drei Elektroden weist mehrere parallele Anzeigeelektroden auf
(worauf im folgenden als X- und Y-Elektroden verwiesen wird), die
auf einem Glassubstrat angeordnet sind, um Oberflächenentladungen
zu erzeugen, und Adresselektroden und Leuchtstoffschichten, die
auf einem gegenüberliegenden
Glassubstrat angeordnet sind, welche Adresselektroden senkrecht
zu den X- und Y-Elektroden verlaufen. Das Wechselstrom-Plasmaanzeigefeld
mit Oberflächenentladung
mit drei Elektroden wird grundsätzlich betrieben,
indem es selbst mit einer zwischen den X- und Y-Elektroden angelegten
großen
Spannung zurückgesetzt
wird, was eine Entladung zwischen den Y-Elektroden, die als Scanelektroden
dienen, und den Adresselektroden bewirkt, und eine Erhaltungs- oder
Dauerspannung zwischen den X- und Y-Elektroden angelegt wird, was
eine Dauerentladung in Abhängigkeit
von der Luminanz oder Leuchtdichte eines anzuzeigenden Bildes basierend
auf gespeicherten Wandladungen erzeugt.
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Wie
später
beschrieben wird, werden Raumladungen als Folge einer Plasmaentladung
erzeugt, die zwischen den Y-Elektroden und den Adresselektroden
auftritt, und hauptsächlich
auf einer auf den X- und Y-Elektroden angeordneten dielektrischen
Schicht gespeichert. Ein Teil der erzeugten Raumladungen wird als Zündspannung
genutzt, damit eine Schreibentladung zwischen einer nächsten Scanelektrode
und einer Y-Elektrode stattfindet.
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Ein
Teil der erzeugten Raumladungen bewegt sich bei dem Scanprozess,
bis er in der Umgebung einer ersten und letzten Scanelektrode gespeichert
wird. Als Folge wird infolge der gespeicherten Ladungen eine zufällige Entladung
unter einer großen
Spannung erzeugt, was die Qualität
eines auf dem Plasmaanzeigefeld angezeigten Bildes verschlechtert.
Obgleich dieses Phänomen
in der Technik nicht klar analysiert und verstanden wurde, wurde
zumindest bestätigt,
dass es durch Ladungen hervorgerufen wird, die nicht für eine Dauerentladung
genutzt und über
die Adresselektroden gespeichert werden.
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US-A
4 843 281 offenbart ein Plasmaanzeigefeld, in welchem Pixelorte
durch Kreuzen einer Spaltenelektrode in senkrechter Anordnung mit
einer Reihenelektrode gebildet werden. Ein Dotierstoffmaterial wird
mit einer dielektrischen Schicht in einer scheibenartigen Fläche eingebracht,
die jeden Pixelort umgibt, um Wandladungen um den Pixelort zu konzentrieren,
wodurch verhindert wird, dass sich Wandladungen ausbreiten.
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JP-A-04-095332
offenbart eine Entladungselektrode zur Verwendung als die Kathodenelektrode
eines Feldes mit elektrischer Gasentladung mit leitfähigen Partikeln,
die in einem Bindemittel auf solch eine Weise dispergiert sind,
dass sie einen anisotropen Stromfluss durch die Entladungselektrode
erzeugen.
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Eine
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung kann eine Plasmaanzeigefeldstruktur,
die imstande ist, zu verhindern, dass zufällige Entladungen stattfinden,
und ein Verfahren zum Herstellen solch einer Plasmaanzeigefeldstruktur
schaffen.
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Eine
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung kann auch eine Plasmaanzeigefeldstruktur
schaffen, die imstande ist, eine gespeicherte Ladung zu eliminieren,
welche ansonsten für
zufällige
Entladungen auf einer dielektrischen Schicht auf Adresselektroden
verantwortlich wäre,
und ein Verfahren zum Herstellen einer derartigen Plasmaanzeigefeldstruktur.
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Eine
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung kann ferner eine Plasmaanzeigefeldstruktur
schaffen, die gespeicherte Ladung abfließen zu lassen, die ansonsten
für zufällige Entladungen
auf einer dielektrischen Schicht auf Adresselektroden verantwortlich
wäre, und
ein Verfahren zum Herstellen einer solchen Plasmaanzeigefeldstruktur.
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Eine
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung kann überdies
ein Plasmaanzeigefeld schaffen, das ein Sperr- oder Latch-Up-Phänomen verhindern
kann, welches bewirkt, dass Adresselektroden entsprechend einer
Entladung der akkumulierten Ladung versagen, und ein Verfahren zum
Herstellen solch eines Plasmaanzeigefeldes.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird ein Wechselstrom-Plasmaanzeigefeld mit Oberflächenentladung
geschaffen mit einem Paar Substrate, die mit dazwischen definierten
Entladungsräumen
einander gegenüberliegendend
angeordnet sind; mehreren auf einem der Substrate parallel angeordneten
Anzeigeelektroden, um eine Oberflächenentladung zwischen den
benachbarten Anzeigeelektroden zu erzeugen; einer ersten dielektrischen
Schicht, die die Anzeigeelektroden bedeckt; mehreren Adresselektroden,
die auf dem anderen der Substrate in einer Richtung quer zu den
Anzeigeelektroden angeordnet sind; mehreren Rippen, die parallel
zu den Adresselektroden so verlaufen, dass sie jede der Adresselektroden
sandwichartig aufnehmen, welche Rippen langgestreckte Hohlräume entlang
den Adresselektroden dazwischen definieren; und einer zweiten dielektrischen
Schicht, die die Adresselektroden bedeckt, wobei die zweite dielektrische
Schicht elektrisch leitfähige,
damit gemischte Partikel enthält,
so dass die zweite dielektrische Schicht in solch einem Maße elektrisch
leitfähig
ist, um einen elektrischen Kurzschluss zwischen den Adresselektroden
zu unterdrücken.
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Die
elektrisch leitfähigen
Partikel machen die erste dielektrische Schicht elektrisch leitfähig, um
zu ermöglichen,
dass durch eine Plasmaentladung erzeugte und auf der ersten dielektrischen
Schicht gespeicherte Ladungen zu den Adresselektroden abfließen, um
dadurch eine Speicherung überschüssiger Ladungen
zu verhindern, die ansonsten zu zufälligen Entladungen führen würde.
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Die
elektrisch leitfähigen
Partikel bestehen vorzugsweise aus Chrom und/oder Nickel als Metallpartikel,
welche schwer zu oxidieren sind. Ferner können die leitfähigen Partikel
ein leitfähiges
Oxidmaterial sein. In diesem Fall ist es vorzuziehen, ein Halbleitermaterial
zu verwenden, welches ein Metalloxid ist wie z.B. Indiumoxid, Zinnoxid,
Titanoxid etc., das mit Verunreinigungen dotiert ist.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird auch ein Verfahren zum Herstellen eines Wechselstrom-Plasmaanzeigefeldes
mit Oberflächenentladung
mit einer ersten dielektrischen Schicht auf einem ersten Substrat und
einer zweiten dielektrischen Schicht auf einem zweiten Substrat
geschaffen, mit den Schritten: Mischen elektrisch leitfähiger Partikel
mit einem vorbestimmten Durchmesser mit Glas mit niedrigem Schmelzpunkt,
Beschichten und Brennen einer Schicht des Glases mit niedrigem Schmelzpunkt,
die mit den elektrisch leitfähigen Partikeln
gemischt ist, auf dem zweiten Substrat, welches mehrere darauf angeordnete
Adresselektroden und mehrere Rippen trägt, die zu den Adresselektroden
so parallel verlaufen, dass sie jede der Adresselektroden sandwichartig
aufnehmen, welche Rippen langgestreckte Hohlräume entlang den Adresselektroden
dazwischen definieren, um dadurch die zweite dielektrische Schicht
auf dem Substrat zu bilden, welche zweite dielektrische Schicht
in solch einem Maße
elektrisch leitfähig
ist, um einen elektrischen Kurzschluß zwischen den Adresselektroden
zu verhindern, Kombinieren des zweiten Substrats gegenüberliegend
mit dem ersten Substrat, das mehrere, darauf in einer Richtung quer
zu den Adresselektroden parallel angeordnete Scanelektroden aufweist,
und der ersten dielektrischen Schicht, die die Scanelektroden bedeckt,
Füllen
eines Entladungsgases zwischen das erste Substrat und das zweite
Substrat und Versiegeln des ersten Substrats und des zweiten Substrats
in Bezug aufeinander.
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Nun
wird auf die beiliegenden Zeichnungen verwiesen, welche eine bevorzugte
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung beispielhaft veranschaulichen, worin:
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1 eine
fragmentarische auseinandergezogene perspektivische Ansicht eines
Wechselstrom-Plasmaanzeigefeldes mit Oberflächenentladung mit drei Elektroden
gemäß der Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung ist;
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2 eine
vergrößerte fragmentarische
Querschnittansicht des in 1 gezeigten
Wechselstrom-Plasmaanzeigefeldes mit Oberflächenentladung mit drei Elektroden
ist;
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3 eine
Draufsicht des Wechselstrom-Plasmaanzeigefeldes mit Oberflächenentladung
mit drei Elektroden ist, die die Beziehung zwischen Paaren von Anzeigeelektroden
(X- und Y-Elektroden) und Adresselektroden zeigt;
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4 ein
Diagramm der Wellenformen von an die Elektroden angelegten Spannungen
ist, das einen spezifischen Prozess zum Betreiben des Plasmaanzeigefeldes
veranschaulicht;
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5A bis 5D Querschnittansichten
sind, die eine zufällige
Entladung veranschaulichen;
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6 eine
vergrößere fragmentarische
Querschnittansicht des Plasmaanzeigefeldes ist, die eine mit einem
elektrisch leitfähigen
Material gemischte dielektrische Schicht zeigt;
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7 eine
vergrößerte fragmentarische
Querschnittansicht des Plasmaanzeigefeldes ist, die die mit dem
elektrisch leitfähigen
Material gemischte dielektrische Schicht zeigt;
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8 eine
graphische Darstellung ist, die die Ergebnisse eines Experiments
darstellt;
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9 eine
fragmentarische Querschnittansicht einer im Experiment genutzten
Probe ist;
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10 eine
perspektivische Ansicht der dielektrischen Schicht in Form eines
rechtwinkeligen Parallelepipeds mit jeweils 80 μm langen Seiten ist;
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11 eine
Zeichnung ist, um eine Beziehung zwischen Gew.-% Indiumoxidpartikeln
(In2O2) in einer Schicht,
die aus einem dielektrischen Material aus einem mit den Indiumoxidpartikeln
gemischten PbO-SiO2-B2O2-System geschaffen ist, und einem Oberflächenwiderstand
darzustellen;
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12 eine
Zeichnung ist, um ein Auswertungsergebnis eines Plasmaanzeigefeldes
mit einer dielektrischen Schicht, die darin Metallpartikel enthält, als
eine erste Ausführungsform
darzustellen; und
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13 eine
Zeichnung ist, um ein Auswertungsergebnis eines Plasmaanzeigefeldes
mit einer dielektrischen Schicht, die darin Metallpartikel enthält, als
eine zweite Ausführungsform
darzustellen.
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1 und 2 zeigen
ein Plasmaanzeigefeld (PDP) gemäß der Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung.
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Wie
in 1 und 2 gezeigt ist, hat das Plasmaanzeigefeld
ein Glassubstrat 10 auf einer Stirnseite, von der aus Licht
in der durch die Pfeile in 2 angegebenen
Richtung emittiert wird, und ein weiteres Glassubstrat 20 auf
einer Rückseite.
Das Glassubstrat 10 trägt
darauf X-Elektroden 13X und Y-Elektroden 13Y,
die jeweils eine transparente Elektrode 11 und eine auf
der transparenten Elektrode 11 angeordnete elektrisch äußerst leitfähige Buselektrode 12 umfassen.
Die Buselektrode 12 ist in 1 und 2 so
dargestellt, dass sie unter der transparenten Elektrode 11 liegt.
Die X-Elektroden 13X und Y-Elektroden 13Y sind
mit einer dielektrischen Schicht 14 und einer Schutzschicht 15 aus
MgO bedeckt. Die Buselektroden 12 sind auf und entlang gegenüberliegenden
Rändern
oder Kanten der X- und Y-Elektroden angeordnet, um die elektrische
Leitfähigkeit
der transparenten Elektroden 11 zu ergänzen.
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Das
Glassubstrat 20 trägt
darauf einen Passivierungsbasisfilm 21 aus z.B. Siliziumoxid,
in einem gestreiften Muster auf dem Passivierungsfilm 21 angeordnete
Adresselektroden A1, A2, A3 und eine dielektrische Schicht 22,
die die Adresselektroden A1, A2, A3 bedeckt. Ein gestreiftes Muster
aus Trennwänden
oder Rippen 23 ist den Adresselektroden A1, A2 bzw. A3
benachbart auf der dielektrischen Schicht 22 angeordnet. Die
Rippen 23 dienen dazu, zu verhindern, dass eine Adresselektrodenentladung
benachbarte Zellen beeinflusst, und auch ein leichtes Nebensprechen
zu verhindern. Die Oberseiten der dielektrischen Schicht 22 oberhalb
der jeweiligen Adresselektroden A1, A2, A3 und angrenzende Wandflächen der
Rippen 23 sind mit roten, blauen und grünen Leuchtstoffschichten 24R, 24G, 24B zwischen
benachbarten Rippen 23 beschichtet.
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Wie
in 2 gezeigt ist, sind die Glassubstrate 10, 20 mit
einem dazwischen definierten Spalt von etwa 100 μm einander gegenüberliegend
kombiniert, der Entladungsräume 25 schafft,
die mit einem gemischten Entladungsgas aus Ne und Xe gefüllt sind.
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3 zeigt
die Beziehung zwischen Paaren der X- und Y-Elektroden und den Adresselektroden
in dem Wechselstrom-Plasmaanzeigefeld mit Oberflächenentladung mit drei Elektroden.
Wie in 3 gezeigt ist, verlaufen X-Elektroden X1–X10 horizontal parallel zueinander
und sind an einem Ende des Glassubstrats 10 miteinander
verbunden, und Y-Elektroden Y1–Y10
sind zwischen den X-Elektroden X1–X10 angeordnet und weisen
jeweilige Enden auf, die von einem gegenüberliegenden Ende des Glassubstrats 1O aus
vorragen. Diese X- und Y-Elektroden X1–X10, Y1–Y10 sind in Paaren kombiniert,
die als Anzeigezeilen dienen, und eine Dauerentladungsspannung wird
abwechselnd an die Paare aus X- und Y-Elektroden angelegt, um auf
dem Wechselstrom-Plasmaanzeigefeld
mit Oberflächenentladung
mit drei Elektroden ein Bild anzuzeigen. Die X- und Y-Elektroden
X1–X10,
Y1–Y10
sind in einer effektiven Anzeigefläche auf dem Glassubstrat 10 angeordnet. Blindelektroden
XD1, XD2, YD1, YD2 sind außerhalb
der effektiven Anzeigefläche
auf dem Glassubstrat 10 an geordnet, um nicht-lineare Eigenschaften
in einem peripheren Randbereich des Plasmaanzeigefeldes zu verringern.
Adresselektroden A1–A14
auf dem Glassubstrat 20 verlaufen senkrecht zu den X- und
Y-Elektroden X1–X10,
Y1–Y10.
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Während die
X- und Y-Elektroden in Paaren kombiniert sind, an die abwechselnd
eine Dauerentladungsspannung angelegt wird, dienen die Y-Elektroden
auch als Scanelektroden zum Schreiben von Informationen. Die Adresselektroden
werden ebenfalls zum Schreiben von Informationen verwendet. Eine
Plasmaentladung wird zwischen einer Adresselektrode und einer Y-Elektrode
erzeugt, die gemäß einer
Information, die geschrieben werden soll, gescannt werden soll.
Daher ist es nur erforderlich, dass ein Entladungsstrom für nur eine
Zelle in jeder der Adresselektroden fließt. Da die an jede der Adresselektroden
angelegte Entladungsspannung in Abhängigkeit von deren Kombination
mit einer Y-Elektrode bestimmt ist, können die Adresselektroden mit
einer verhältnismäßig niedrigen
Spannung angesteuert werden. Solch ein niedriger Strom und eine niedrige
Spannung zum Ansteuern ermöglichen,
dass das Plasmaanzeigefeld Bilder auf einem großem Schirm anzeigt.
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4 veranschaulicht
die Wellenformen von an die Elektroden angelegten Spannungen, wobei
ein spezifischer Prozess zum Ansteuern des Plasmaanzeigefeldes veranschaulicht
wird. In 4 sind speziell an die Elektroden
angelegte Spannungen beispielsweise Vw = 130 V, Vs = 180 V, Va =
50 V, –Vsc
= –50
V, –Vy
= –150
V. Spannungen Vaw, Vax werden auf dazwischenliegende Potentialpegel
von an andere Elektroden angelegten Spannungen gesetzt.
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Beim
Ansteuern des Wechselstrom-Plasmaanzeigefeldes mit Oberflächenentladung
mit drei Elektroden umfasst ein Teilfeld eine Rücksetzperiode, eine Adressperiode
und eine Dauerentladungsperiode (Anzeigeperiode).
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In
der Rücksetzperiode
wird ein Full-Face-Schreibimpuls an die gemeinsam verbundenen X-Elektroden
zwischen Zeiten a–b
angelegt, was eine Entladung zwischen den X- und Y-Elektroden ganz über das
Plasmaanzeigefeld erzeugt. Von in den Räumen 25 durch die
Entladung erzeugten Ladungen werden positive Ladungen zu den Y-Elektroden
unter einer niedrigen Spannung angezogen, und negative Ladungen
werden zu den X-Elektroden unter einer hohen Spannung angezogen.
Als Folge wird zu der Zeit b, wenn der Schreibimpuls auf Null fällt, eine
Entladung wieder durch ein hohes elektrisches Feld erzeugt, das
auf grund der zwischen den X- und Y-Elektroden angezogenen und auf
der dielektrischen Schicht 14 (in 4 bei C)
gespeicherten Ladungen entwickelt wird. Folglich werden die Ladungen
auf allen X- und Y-Elektroden neutralisiert, was das Zurücksetzen
des Plasmaanzeigefeldes abschliesst. Eine Periode zwischen Zeiten
b–c ist
eine Zeit, die erforderlich ist, um die Ladungen zu neutralisieren.
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In
der Adressperiode wird die Spannung –50 V (–Vsc) an die Y-Elektroden angelegt,
und die Spannung 50 V (Va) wird an die X-Elektroden angelegt. Während ein
Scanimpuls der Spannung –150
V (–Vy)
gerade sukzessiv an die Y-Elektroden
angelegt wird, wird ein Adressimpuls mit der Spannung 50 V (Va)
gemäß einer
Anzeigeinformation an die Adresselektroden angelegt. Als Folge wird
eine große
Spannung von 200 V zwischen den Adresselektroden und den Scanelektroden
angelegt, was eine Plasmaentladung erzeugt. Da die Spannung und
die Dauer der Impulse nicht so groß wie diejenigen des Full-Face-Schreibimpulses
sind, der zum Zurücksetzen
des Plasmaanzeigefeldes angewendet wird, wird keine entgegengesetzte
Entladung aufgrund gespeicherter Ladungen erzeugt, wenn die Anwendung
der Impulse beendet wird. Von durch die Entladung erzeugten Raumladungen
werden negative Ladungen auf den dielektrischen Schichten 14, 22 bei
den X-Elektroden, an die die Spannung 50 V angelegt wird, und den
Adresselektroden gespeichert, und positive Ladungen werden auf der
dielektrischen Schicht 14 bei den Y-Elektroden gespeichert,
an die Spannung –50
V angelegt ist.
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Die
obige Speicherung von Ladungen kann aus 5A bis 5D besser
verstanden werden, welche eine zufällige Entladung veranschaulichen.
Die so erzeugten und über
die X- und Y-Elektroden gespeicherten Ladungen führen eine Speicherfunktion
für eine
Dauerentladung in einer nachfolgenden Dauerentladungsperiode durch.
Wenn eine nachfolgende Dauerentladungsspannung zwischen den X- und
Y-Elektroden angelegt wird, werden konkret eine Erhaltungsimpulsspannung
und die Spannung einer gespeicherten Ladung zwischen den X- und
Y-Elektroden derjenigen Zellen überlagert,
wo die Ladung aufgrund der Entladung in der Adressperiode gespeichert
worden ist, was eine Dauerentladung zwischen den X- und Y-Elektroden
bewirkt.
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Während sich
der Scanimpuls mit der Spannung –Vy über die Y-Elektroden bewegt,
bewegen sich beispielsweise positive Ladungen der Raumladungen in 5A bis 5D nach
links, während
deren negative Ladungen sich in 5A bis 5D nach
rechts bewegen, bis sie jeweils auf den gegenüberliegenden Enden des Plasmaanzeigefeldes
gespeichert werden. Diese Ladungen über die Adresselektrode, welche
für die
Speicherfunktion nicht genutzt werden, werden in der nachfolgenden
Dauerentladungsperiode nicht entladen, sondern wie in 5C gezeigt
gespeichert, und bewirken eine zufällige Entladung, wie in 5D dargestellt
ist.
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In
der Dauerentladungsperiode wird schließlich eine Anzeigeentladung
in Abhängigkeit
von der Luminanz eines anzuzeigenden Bildes unter Verwendung der
in der Adressperiode gespeicherten Wandladungen herbeigeführt. Konkret
wird zwischen den X- und Y-Elektroden ein Erhaltungsimpuls mit solch
einer Größe angelegt,
die eine Entladung in denjenigen Zellen mit Wandladungen bewirken
und keine Entladung in denjenigen Zellen ohne Wandladungen bewirken
wird. Als Folge wird eine Entladung abwechselnd zwischen den X- und
Y-Elektroden in
denjenigen Zellen wiederholt, welche Wandladungen in der Adressperiode
gespeichert haben. Die Luminanz eines anzuzeigenden Bildes wird
durch die Anzahl wiederholter Entladungsimpulse repräsentiert.
Daher kann ein Bild in mehreren Abstufungen angezeigt werden, indem
das Teilfeld in der Dauerentladungsperiode wiederholt wird, die
mehrere Male gewichtet worden ist. Es ist möglich, ein Vollfarbenbild mit
einer Kombination von R-, G-. B-Zellen
anzuzeigen.
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Wie
in 5A bis 5D gezeigt
ist, werden Wandladungen auf der dielektrischen Schicht 14 auf
den X- und Y-Elektroden gespeichert und für eine Entladung in der Dauerentladungsperiode
genutzt. Ladungen auf der dielektrischen Schicht 22 auf
den Adresselektroden werden jedoch für solch einen Zweck nicht genutzt.
Es gibt keine bestimmten Gründe,
um eine solch große
Menge an Ladungen auf der dielektrischen Schicht 22 gespeichert
zu halten. Vielmehr ist eine große Menge von auf der dielektrischen
Schicht 22 gespeicherten Ladungen für eine zufällige Entladung wie in 5D verantwortlich.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung lässt
man auf den Adresselektroden gespeicherte Ladungen mit einer geringen
Rate lecken oder abfließen
zu lassen, um zu verhindern, dass Ladungen auf den Adresselektroden
in einer Menge gespeichert werden, die groß genug ist, um eine zufällige Entladung
zu initiie ren. Konkret ist eine kleine Menge eines elektrisch leitfähigen Materials
in die dielektrische Schicht 22 gemischt, welche die Adresselektroden
bedeckt, um die dielektrische Schicht 22 elektrisch leitfähig zu machen,
um die Ladungen abfließen
zu lassen, oder den Widerstandswert der dielektrischen Schicht 22 so
abnehmen zu lassen, dass die Ladungen abfließen. Als Folge wird verhindert,
dass Ladungen auf der dielektrischen Schicht 22 in einer Menge
gespeichert werden, die groß genug
ist, um eine zufällige
Entladung zu initiieren. In diesem Fall sollte eine Isolierung zwischen
den Adresselektroden hoch genug gehalten werden.
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6 und 7 stellen
das Plasmaanzeigefeld dar, das die mit einem elektrisch leitfähigen Material gemischte
dielektrische Schicht 22 zeigt. 6 ist eine
Querschnittansicht, gelegt entlang den Adresselektroden A1, A2,
A3, und 7 ist eine entlang den X- und
Y-Elektroden gelegte Querschnittansicht. Diejenigen in 6 und 7 gezeigten
Teile, welche mit denen in 1 dargestellten
identisch sind, sind durch identische Bezugszeichen bezeichnet.
Die über
den Adresselektroden A1–A3
angeordnete dielektrische Schicht 22 ist mit Partikeln 30 aus
einem elektrisch leitfähigen
Material gemischt. Während
die dielektrische Schicht 22, welche aus einem Glas mit
niedrigem Schmelzpunkt hergestellt ist, das in erster Linie aus
Bleioxid besteht (PbO), ihre Eigenschaften als dielektrisches Material
behält,
zeigt sie daher auch eine elektrische Leitfähigkeit in ihrer Querrichtung.
Folglich fließen
durch die gemischten Partikel 30 aus einem elektrisch leitfähigen Material
auf der dielektrischen Schicht 22 gespeicherte Ladungen
zu allen Zeiten mit einer geringen Rate zu den Adresselektroden
ab. In 7 dargestellte Leuchtstoffschichten 24 weisen
poröse
Filme auf, die gestatten, dass Ladungen im wesentlichen auf der
dielektrischen Schicht 22 gespeichert werden.
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Ein
Durchmesser dieses elektrisch leitfähigen Materials liegt vorzugsweise
innerhalb eines Bereichs eines mittleren Durchmessers (D50), der
später
erläutert
wird. Obgleich in einer Veranschaulichung dargestellt ist, daß die Größe der Partikel 30 in 6 und 7 nahezu
gleich der Dicke der dielektrischen Schicht 22 ist, kann,
da ein Widerstand durch die dielektrische Schicht 22 mit
kleineren Durchmessern der Partikel 30 als die Dicke niedriger
wäre, der
Durchmesser kleiner als die Dicke sein. Wenn die Partikel 30 aus
elektrisch leitfähigem
Material mit einem später
erläuterten
Durchmesser in einer Menge gemischt werden, der in einen geeigneten
Bereich fällt,
werden die Partikel 30 aus elektrisch leitfähigem Material über den
Adresselektroden in einer entsprechenden Dichte angeordnet, ohne
die ursprünglichen
Funktionen der dielektrischen Schicht 22 zu beeinträchtigen.
Grundsätzlich
ist es nicht vorzuziehen, die Partikel 30 aus elektrisch
leitfähigem
Material mit einer Dichte zu mischen, die groß genug ist, um einen Leckstrom
von Ladungen zwischen benachbarten Adresselektroden zu bewirken.
Die Umfangsränder
der Glassubstrate 10, 20 sind durch eine Versiegelungsschicht 26 aus
einem Glas mit niedrigem Schmelzpunkt versiegelt, das in erster
Linie aus Bleioxid besteht. Daher ist es auch nicht vorzuziehen,
eine große
Menge Partikel 30 aus elektrisch leitfähigem Material mit der dielektrischen
Schicht 22 zu mischen, um dadurch die Dichte der dielektrischen
Schicht 22 zu verringern und daher zu ermöglichen,
dass eingeleitetes Gas daraus leckt. Trotzdem ist es notwendig,
die Partikel 30 aus elektrisch leitfähigem Material in einer ausreichend
großen
Menge zu mischen, um einen Leckstrom von Ladungen aus der dielektrischen
Schicht 22 zu bewirken, um eine zufällige Ladung zu verhindern.
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Die
Erfinder stellten Proben A, B, C von Zufallsanzeigefeldern mit 107
cm (42 Inch) her, deren dielektrische Schichten 22 mit
elektrisch leitfähigen
Partikeln gemischt und nicht gemischt waren, und maßen die
Anzahl von Malen, in denen zufällige
Entladungen auf den Proben A, B, C auftraten. Die Ergebnisse des
Experiments sind in der folgenden Tabelle dargestellt.
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In
der Probe A hatte die dielektrische Schicht 22 eine Dicke
von etwa 10 μm
und wurde hergestellt, indem Chrompartikel (Cr) mit einem Partikeldurch messer
von etwa 10 μm
mit Bleioxid (PbO) in einem Verhältnis
von 100:1 Gew.-%
gemischt wurden. Die Anzahl von Malen, in denen zufällige Entladungen
auf der Probe A pro Minute auftraten, betrug 0, während die
Anzahl von Malen, in denen zufällige
Entladungen auf der Probe C auftraten, die keine zugemischten Chrompartikel
aufwies, pro Minute 13 betrug. In der Probe B wurde die dielektrische
Schicht 22 hergestellt, indem Chrompartikel (Cr) mit Bleioxid
(PbO) in einem Verhältnis
von 100:5 Gew.-% gemischt wurden. Die Anzahl von Malen, in denen
zufällige
Entladungen in der Probe B pro Minute auftraten, betrug ebenfalls
0.
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Die
obigen experimentellen Ergebnisse garantieren nicht, dass auf den
Proben A, B innerhalb einer sehr langen Zeitspanne keine zufälligen Entladungen
auftreten. Die Tatsache, dass die Proben A, B keine zufälligen Entladungen
erfuhren, während
13 zufällige
Entladungen auf der Probe C beobachtet wurden, die keine elektrisch
leitfähigen
Partikel aufwies, zeigt jedoch, dass es möglich ist, die Häufigkeit
zufälliger
Entladungen stark zu reduzieren, indem elektrisch leitfähige Partikel
zugemischt werden.
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Im
Hinblick auf die Tatsache, dass Bleioxid ein spezifisches Gewicht
von 5,5 hat, die dielektrische Schicht 22 eine Dicke von
10 μm hat,
Chrom ein spezifisches Gewicht von 7,20 aufweist und die Chrompartikel einen
Durchmesser von 10 μm
haben, zeigt das Verhältnis
von 100:1 Gew.-% der Materialien in der dielektrischen Schicht 22 der
Probe A, dass etwa ein Chrompartikel in der dielektrischen Schicht 22 in
der Form eines rechtwinkeligen Parallelepipeds mit jeweils 80 μm langen
Seiten vorhanden ist (siehe 10), was
gleich der Breite jeder Adresselektrode ist, und das Verhältnis von
100:5 Gew.-% der Materialien der dielektrischen Schicht 22 der
Probe B zeigt, das etwa fünf
Chrompartikel in der dielektrischen Schicht 22 in Form
eines rechtwinkeligen Parallelepipeds mit jeweils 80 μm langen
Seiten vorhanden sind.
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8 zeigt
eine graphische Darstellung, die Ergebnisse eines anderen Experiments
darstellt, das von den Erfindern an einer in 9 gezeigten
Probe durchgeführt
wurde. Das Experiment wurde ausgeführt, um die elektrische Leitfähigkeit
in der Querrichtung einer dielektrischen Schicht 106 (siehe 9)
zu untersuchen, die mit elektrisch leitfähigen Chrompartikeln oder dergleichen
gemischt war. Wie in 9 dargestellt ist, umfaßt die Probe
ein Glassubstrat 100, Elektrodenschichten 102, 104 mit
einer dreilagigen Struktur (Cr/Cu/Cr), die auf dem Glassubstrat 100 jeweils
mit einer Breite von etwa 80 μm
und voneinander in einem Abstand von etwa 280 μm beabstandet angeordnet waren,
eine dielektrische Schicht 106 aus Bleioxid, das mit Chrompartikeln 108 (Cr)
mit einem Durchmesser von etwa 10 μm gemischt war, welche dielektrische
Schicht 106 auf dem Glassubstrat 100 die Elektrodenschichten 102, 104 bedeckend
angeordnet war und eine Dicke von etwa 10 μm aufwies, und eine Schicht 100 aus
Silberpaste (Ag), die auf der dielektrischen Schicht 106 aufgebracht war.
Der Widerstand zwischen der Silberpastenschicht 100 und
der Elektrodenschicht 102 wurde gemessen.
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8 zeigt
gemessene Werte des Widerstands zwischen der Silberpastenschicht 100 und
der Elektrodenschicht 102 in Bezug auf Proben mit verschiedenen
Anzahlen von Chrompartikeln 108, die in der dielektrischen
Schicht 106 enthalten sind. In 8 geben
volle Punkte gemessene Werte des Widerstands der Proben an, worin
die dielektrische Schicht 106, die Chrompartikel 108 enthielt,
durch Siebdruck geschaffen und gebrannt und die Silberpastenschicht 110 auf
der so geschaffenen dielektrischen Schicht 106 ausgebildet wurde,
während
leere Punkte gemessene Werte des Widerstands der gleichen Proben
angeben, nachdem eine Gleichspannung von etwa 20 V zwischen der
Silberpastenschicht 100 und der Elektrodenschicht 102 angelegt
war. Wenn die dielektrische Schicht 106, die Chrompartikel 108 enthielt,
gebrannt war, waren auf den Oberflächen der Chrompartikel sehr
dünne Schichten
aus Glas mit niedrigem Schmelzpunkt vorhanden, was den Widerstand
zwischen der Silberpastenschicht 100 und der Cu-Schicht 102 verhältnismäßig hoch
machte, wie durch die vollen Punkte in 8 angegeben
ist. Wenn jedoch die Gleichspannung von etwa 20 V zwischen der Silberpastenschicht 100 und
der Elektrodenschicht 102 angelegt wurde, nahm man an,
dass solche sehr dünnen
Schichten aus Glas mit niedrigem Schmelzpunkt zerbrochen waren,
was reduzierte Werte des Widerstands zur Folge hatte, wie durch
die leeren Punkte in 8 angegeben ist.
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Aus
den in 8 gezeigten experimentellen Ergebnissen kann man
erkennen, dass, falls 1 bis 100 Chrompartikel mit im wesentlichen
dem ähnlichen
Durchmesser wie die Dicke der dielektrischen Schicht in den in 10 gezeig ten
rechtwinkeligen Parallelepiped vorhanden sind, dann die dielektrische
Schicht einen Leckstrom von Ladungen in ihrer Querrichtung ermöglicht,
während
ein bestimmter Widerstand beibehalten wird. Falls die dielektrische
Schicht zu viele Partikel enthielt, wurde dann die Dichte der dielektrischen
Schicht verringert, was die Versiegelungsfähigkeit an ihren Umfangsrändern beeinträchtigte.
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Obgleich
veranschaulicht wurde, dass die mit der dielektrischen Schicht gemischten
Partikel aus Chrom bestanden, können
sie aus einem Metall wie z.B. Nickel (Ni) oder dergleichen hergestellt
sein, welches schwer oxidierbar ist. Die Partikel sollten aus einem
schwer oxidierbaren Material hergestellt sein, weil, falls die Oberflächen der
Partikel oxidiert würden,
wenn die dielektrische Schicht gebrannt wird, dann die oxidierten Oberflächen der
Partikel verhindern würden,
dass die dielektrische Schicht einen Leckstrom von Ladungen ermöglicht.
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Im
folgenden wird ein Verfahren zum Herstellen des Plasmaanzeigefeldes
beschrieben. Zunächst
wird im folgenden die Fertigung der Anordnung, welche das Glassubstrat 20 enthält. Da der
Fertigungsprozess selbst verhältnismäßig einfach
ist, wird hier mit Verweis mit 6 und 7 beschrieben.
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Nachdem
die Oberfläche
des Glassubstrats 20 gereinigt ist, wird zunächst ein
Passivierungsbasisfilm 21 durch Siebdruck gebildet und
auf dem Glassubstrat 20 gebrannt. Eine Adresselektrodenschicht
mit einer dreilagigen Struktur (Cr/Cu/Cr) wird durch einen Dickfilmprozess
bis zu einer Dicke von etwa 1 μm
auf dem Passivierungsbasisfilm 21 abgeschieden und danach
durch gewöhnliche
Photolithographie und Sputtering in Adresselektroden A1–A3 gemustert.
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Eine
Paste aus einem Glas mit niedrigem Schmelzpunkt, das in erster Linie
aus mit elektrisch leitfähigen
Partikeln aus Chrom oder dergleichen gemischtem Bleioxid besteht,
wird die Adresselektroden A1–A3
bedeckend auf dem Passivierungsbasisfilm 21 durch Siebdruck
beschichtet, was somit die dielektrische Schicht 22 schafft.
Speziell sollten die elektrisch leitfähigen Partikel vorzugsweise
einen mittleren Durchmesser innerhalb eines Bereichs aufweisen,
der später
erläutert
wird. Um solche Partikel zu erhalten, werden Chrompartikel mit einem
Maschensieb mit einer vorbestimmten Maschengröße gesiebt und anschließend mit
einem Maschensieb mit einer kleineren Maschengröße als der obigen gesiebt.
Diejenigen Chrompartikel, welche nicht durch den Maschensieb mit
der kleineren Maschengröße gelangt
sind, werden als Partikel genutzt, die mit der Glaspaste gemischt
werden sollen. Die erhaltenen Chrompartikel werden dann mit einer
Paste aus einem Glas mit niedrigem Schmelzpunkt in einem Verhältnis von
100:1–5
Gew.-% gemischt, wonach sie für
etwa einer Stunde gemischt werden. Die mit den Chrompartikeln vermischte
Glaspaste wird die Adresselektroden A1–A3 bedeckend durch Siebdruck
auf den Passivierungsbasisfilm 21 aufgetragen und anschließend bei
einer zwischen 580 und 590 C liegenden Temperatur für etwa 60
Minuten gebrannt, was eine dielektrische Schicht 22 mit
einer Dicke von etwa 10 μm
erzeugt.
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Um
Rippen 23 zu schaffen, wird eine Paste aus einem Glas mit
niedrigem Schmelzpunkt mit einer Dicke von etwa 200 μm auf der
dielektrischen Schicht 22 durch Siebdruck abgeschieden.
Nachdem die Glaspaste getrocknet ist, wird sie durch einen Sandstrahlprozess
zu Rippen 23 verarbeitet. Im Sandstrahlprozess wird ein
trockener Film auf die Oberfläche
der getrockneten Glaspaste aufgetragen, einem vorbestimmten Muster ausgesetzt
und entwickelt, wonach mittels einer Luftdüse ein abrasives Material durch
den gemusterten trockenen Film als Maske auf die Glaspaste geblasen
wird, um die Glaspaste wegzuätzen.
Danach wird der trockene Film entfernt, und die Glaspaste wird gebrannt.
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Ein
Leuchstoffmaterial wird danach zwischen den Rippen 23 aufgetragen,
um Leuchtstoffschichten 24 zu schaffen. Die Anordnung,
welche das Glassubstrat 20 enthält, wird so hergestellt.
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Die
Anordnung, welche das Glassubstrat 10 an einer Rückseite
enthält,
wird wie folgt gefertigt:
Ein transparenter elektrisch leitfähiger Film
aus Indiumzinnoxid (ITO) wird auf einem Glassubstrat 10 abgeschieden
und durch Photolithographie in transparente Elektroden 11 gemustert.
Ein elektrisch leitfähiger
Film mit einer dreilagigen Struktur (Cr/Cu/Cr) wird danach auf den
transparenten Elektroden 11 abgeschieden und durch Photolithographie
in Buselektroden 12 gemustert. Anschließend wird die transparenten
Elektroden 11 und die Buselektroden 12 bedeckend
mittels eines Druckvorgangs eine dielektrische Schicht 14 auf
dem Glassubstrat 10 abgeschieden und danach gebrannt. Eine
Versiegelungsschicht 26 aus Glas mit niedrigem Schmelzpunkt
wird anschließend
auf dem Umfangsrand der Anordnung ausgebildet, und eine Schutzschicht aus
MgΟ 15 wird durch
Verdampfung auf der dielektrischen Schicht 14 abgeschieden.
Die Anordnung, welche das Glassubstrat 10 enthält, ist
somit hergestellt.
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Die
beiden Anordnungen werden anschließend miteinander kombiniert
und in Bezug aufeinander abgedichtet. Die kombinierten Anordnungen
werden dann evakuiert und mit einem Entladungsgas aus Ne und Xe
gefüllt.
Die Fertigung des Plasmaanzeigefeldes ist nun abgeschlossen.
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Das
Plasmaanzeigefeld gemäß der vorliegenden
Erfindung kann daher im wesentlichen in der gleichen Weise wie herkömmliche
Plasmaanzeigefelder ge fertigt werden.
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Die
dielektrische Schicht 22, welche die Adresselektroden bedeckt,
kann durch Verdampfung oder dergleichen unter Verwendung einer Quelle
erzeugt werden, die ein Metallmaterial enthält, um den Widerstand zu steuern.
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In
der obigen Ausführungsform
werden die Metallpartikel wie z.B. Chrom Cr oder Nickel Ni, welche kaum
oxidiert werden, in die dielektrische Schicht 22 gemischt.
Die vorliegende Erfindung ist jedoch nicht auf solche Metallmaterialien
beschränkt.
Partikel aus leitfähigem
Oxidmaterial können
in die dielektrische Schicht 22 gemischt werden. Die dielektrische
Schicht 22 selbst ist die Glasschicht, welche als Hauptmaterial
Bleioxid PbΟ enthält. Die
dielektrische Schicht 22 wird ferner im Fertigungsprozess
durch Drucken einer Glaspastenschicht auf das Substrat geschaffen
und gebrannt. Da der Brennschritt in einer Luftatmosphäre mit 500–600 Grad
Celsius durchgeführt
wird, kann die Oberfläche
der Metallpartikel durch die Brennbedingung oxidiert werden, so
dass die Leitfähigkeit
der dielektrischen Schicht, um einen Leckstrom gespeicherter Ladungen
zu ermöglichen,
verloren werden kann.
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Die
leitfähigen
Partikel sind überdies
von der Glasschicht 22 umgeben und werden durch eine weitere Erhöhung der
Temperatur durch Ansteuern des Feldes wohl weiter oxidiert. Dies
kann auch zu einer Reduzierung der Leitfähigkeit der Partikel führen. Eine
solche Oxidation ist außerdem
kein wiederholbares Phänomen mit
instabilen Faktoren.
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In
einer anderen Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung werden leitfähige Oxidmaterialien als die
in die dielektrische Schicht 22 gemischten leitfähigen Partikel
genutzt. Ein Beispiel solcher leitfähigen Oxidmaterialien ist vorzugsweise
ein Halbleitermaterial, welches ein Metalloxid ist, z.B. Indiumoxid (In2O3), Zinnoxid (SnO2), Titanoxid (TiO2)
oder dergleichen, das mit Verunreinigungen dotiert ist. Falls ein
solches leitfähiges Oxid
in die dielektrische Schicht gemischt ist, wird, obgleich solche
Partikel in das Glas mit niedrigem Schmelzpunkt gemischt und gebrannt
werden, da die Partikel ein Oxidmaterial sind, deshalb deren Leitfähigkeit
durch weitere Oxidation nicht geändert.
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11 ist
eine Zeichnung, um eine Beziehung zwischen Gew.-% Partikel aus Indiumoxid
(In2O3) an einer
Schicht, welche aus einem dielektrischen Material eines mit den
Indiumoxidpartikeln gemischten Systems aus PbO-SiO2-B2O3 besteht, und
einem Oberflächenwiderstand
zu zeigen. In dieser Probe wird die dielektrische Schicht mit etwa
10 Mikrometer geschaffen, indem sie mit Partikeln mit einem mittleren
Durchmesser von mehreren Mikrometern gemischt und bei der obigen
Temperatur gebrannt wird. Die graphische Darstellung in 11 zeigt
ein Ergebnis, in welchem ein Oberflächenwiderstand jeder Probe
gemessen wird, indem die Gew.-% Partikel geändert werden. Der Oberflächenwiderstand
einer mit 1 Gew.-% Chrompartikel Cr gemischten Probe, was später erläutert wird,
ist als Referenzwert in der graphischen Darstellung hinzugefügt.
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Wie
aus der graphischen Darstellung klar ist, ist es, um die Häufigkeit
der zufälligen
Entladung zu verringern und das durch die Entladung hervorgerufene
Sperr- oder Latch-Up-Phänomen
zu vermeiden, vorzuziehen, den Anteil Gew.-% des leitfähigen Oxidmaterials
so zu steuern, dass dessen Oberflächenwiderstand der gleiche
Pegel wie die mit Chrompartikeln Cr gemischte Probe ist. Im Falle
von Indiumoxidpartikeln In2O3 ergibt
ein Bereich des Einschlussverhältnisses
von 0,5–20
Gew.-% einen Bereich des Oberflächenwiderstands von
5 × 1013 – 1 × 1010 Ω/cm2. Wie man aus der graphischen Darstellung
versteht, ist es insofern ein Problem, eine zu niedrige Leitfähigkeit
zu haben, um zwischen den Adresselektroden elektrisch zu isolieren.
Falls das Einschlussverhältnis
zu hoch ist, um den Oberflächenwiderstand
zu reduzieren, wird ferner der Schmelzpunkt der Glaspaste so hoch,
dass die Brenntemperatur hoch und es eher schwierig wird, sie richtig
zu brennen. Daher ist 20 Gew.-% der obere Wert für das Einschlussverhältnis. Auf
der anderen Seite beträgt
der untere Wert für
das Einschlussverhältnis
etwa 5 Gew.-%, bei welchem der Oberflächenwiderstand nicht so hoch
ist, dass das dielektrische Material erlaubt, dass die gespeicherten
Ladungen in einem gewissen Maße
abfließen,
wodurch die Anzahl der zufälligen Entladungen
reduziert und eine Hardwarestörung
durch die zufällige
Entladung vermieden wird.
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Ein
weiterer vorzuziehender Bereich ist 2–10 Gew.-% Einschlussverhältnis der
Partikel und 1 × 1013 – 1 × 1011 Ω/cm2. Ein weiterer vorzuziehender Bereich ist
4–10 Gew.-%
und 1 × 1012 – 1 × 1011 Ω/cm2.
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Das
Einschlussverhältnis
der Partikel und der Oberflächenwiderstand
der dielektrischen Schicht, die die Partikel enthält, entspricht
nicht notwendigerweise eins zu eins. Beispielsweise ändert sich
deren Beziehung in Abhängigkeit
von der Menge dotierter Verunreinigungen des Metalloxidmaterials.
Der obige vorzuziehende Bereich für den Oberflächenwiderstand
ist jedoch der Bereich, in welchem die miteinander korrelierenden
Funktionen für
die dielektrische Schicht, die Isolierung und der Leckeffekt der
akkumulierten Ladungen, die ansonsten eine zufällige Entladung hervorrufen,
gleichzeitig realisiert werden können.
Der obige vorzuziehende Bereich des Einschlussverhältnisses
von Partikeln ist auch der Bereich, in welchem ohne Erhöhen der Brenntemperatur
der dielektrischen Schicht die gleichen Funktionen verliehen werden
können.
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Wie
oben erläutert
wurde, wird der Durchmesser der leitfähigen Oxidmaterialpartikel
so ausgewählt, dass
deren mittlerer Durchmesser mehrere Mikrometer beträgt. Daher
wird eine große
Menge Partikel, die kleiner als die Dicke sind, in der dielektrischen
Schicht mit einer Dicke von etwa 10 Mikrometer vergraben. Selbst wenn
die dielektrische Schicht einen hohen Widerstandswert hat, ist jedoch
der gesamte Widerstand durch die Dicke der dielektrischen Schicht
mit einem Zumischen der Partikel mit niedrigem Widerstand geringer
als derjenige der dielektrischen Schicht ohne Zumischen derartiger
Partikel. Falls zu viele Partikel mit Durchmessern, die größer als
die Dicke der dielektrischen Schicht sind, in die dielektrische
Schicht gemischt werden, können andererseits
solch große
Partikel, die über
die Oberfläche
der dielektrischen Schicht vorragen, aufgrund ihrer Konzentration
elektrischer Felder eine Funktion wie Elektroden zur Entladung haben.
Daher kann der mittlere Durchmesser der Partikel vorzugsweise kleiner
als die Dicke der dielektrischen Schicht sein.
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12 ist
eine Zeichnung, um ein Auswertungsergebnis eines Plasmaanzeigefeldes
mit einer dielektrischen Schicht, die darin Metallpartikel enthält, als
konkrete Ausführungsform
darzustellen. Die Proben sind Plasmaanzeigefelder mit 107 cm (42
Inch), von denen eines eine dielektrische Schicht mit Chrompartikel
Cr mit einem mittleren Durchmesser D50 von 2 Mikrometern hat, von
denen zwei eine dielektrische Schicht mit Chrompartikeln Cr mit
einem mittleren Durchmesser D50 von 8 Mikrometer aufweisen und von
denen drei eine dielektrische Schicht mit Nickelpartikel Ni mit
einem mittleren Durchmesser D50 von 8 Mikrometern aufweisen. Jede
von ihnen hat ein Einschlussverhältnis
der Partikel von etwa 1 Gew.-%. In 12 sind
ausgewertete Werte dargestellt, die Anzahl zufälliger Entladungen pro Minute,
wenn 400 Zeilen erleuchtet sind, d.h. weiße Kreise in der Zeichnung,
und die Anzahl von Latch-Up-Phänomenen
pro 10 Minuten, wenn 400 Zeilen erleuchtet sind, d.h. schwarze Kreise
in der Zeichnung. Die horizontale Achse gibt den mittleren Partikeldurchmesser
an, während
die vertikale Achse deren Anzahlen angibt. Ferner ist jede Zahl
einer Probe ohne derartig leitfähige
Partikel als eine herkömmliche
für einen
Vergleich hinzugefügt.
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Dieses
Auswertungsergebnis führt
zum Schluss, dass im Bereich eines mittleren Durchmessers von 2–6 μm das Latch-Up-Phänomen, das
in der Probe ohne leitfähige
Partikel auftritt, nahezu verschindet. Im Bereich eines mittleren
Durchmessers von 2–6 μm ist ferner
das Phänomen
zufälliger
Entladungen, das in der Probe ohne leitfähige Partikel auftritt, wesentlich
reduziert. Man ist der Ansicht, dass das Latch-Up-Phänomen ein
Phänomen
mit starker Entladung bedeutet, das durch eine akkumulierte Ladung
auf der dielektrischen Schicht über
den Adresselektroden hervorgerufen wird, welches im allgemeinen
entlang den Adresselektroden stattfindet, was eine Fehlfunktion
der Adresselektroden und Zerstörung
der Hardware herbeiführt.
Es ist notwendig, ein solches Phänomen
zu vermeiden. Die zufällige
Entladung ist eine verhältnismäßig kleinere
Entladung als das Latch-Up-Phänomen,
welche eine Verschlechterung der Anzeigebedingung hervorruft, und
daher notwendigerweise soweit wie möglich reduziert werden soll.
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Der
in 12 gezeigte mittlere Durchmesser ist das Ergebnis,
in welchem die Mischpartikel mit einem Lasergerät zur Messung der Durchmesserverteilung
von Helos & Rodos
gemessen werden. Ein gewöhnliches Verfahren
zum Steuern der Partikeldurchmesser besteht darin, sie durch einen
Maschensieb mit einer vorbestimmten Maschengröße zu sieben. Daher haben die
Durchmesser der Partikel in gewissem Maße eine Dispersion. Das heißt, unter
Partikel mit einem mittleren Durchmesser von 3 Mikrometer können Partikel
mit Durchmessern von mehr als 10 Mikrometer, der Dicke der dielektrischen
Schicht, vorhanden sein, und Partikel mit Durchmessern von weniger
als 3 Mikrometer können
ebenfalls vorhanden sein. Obgleich der Durchmesser der leitfähigen Partikel
kleiner als die Dicke der dielektrischen Schicht ist, kann der Gesamtwiderstand
durch die Dicke der dielektrischen Schicht so reduziert werden,
dass die akkumulierten Ladungen wie oben erläutert aus der dielektrischen
Schicht lecken können.
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13 ist
eine Zeichnung, um ein Auswertungsergebnis eines Plasmaanzeigefeldes
mit einer dielektrischen Schicht, die darin Metallpartikel enthält, als
eine weitere konkrete Ausführungsform
darzustellen. Diese Ausführungsform
umfasst PDP-Proben mit 107 cm (42 Inch), welche eine dielektrische
Schicht aufweisen, die mit Chrompartikeln Cr mit einem mittleren
Durchmesser von etwa 3 Mikrometer, genauer 2,86 Mikrometer, gemischt
ist. Das jeweilige Einschlussverhältnis der Partikel für die Proben
beträgt
0,5, 0,75, 1,0, 2,0 und 5,0 Gew.-%. Die horizontale Achse bezeichnet
das Einschlussverhältnis,
und die vertikale Achse bezeichnet die Anzahl der zufälligen Entladungen
pro Minute als weiße
Kreise und die Anzahl der Latch-Up-Phänomene pro 10 Minuten als schwarze
Kreise. Eine Probe ohne leitfähige
Partikel ist als Vergleichsbeispiel hinzugefügt.
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Wie
man aus der graphischen Darstellung von 13 versteht,
tritt im Bereich des Einschlussverhältnisses der Partikel von 0,5–5 Gew.-%
das Latch-Up-Phänomen, welches
in der herkömmlichen
Probe auftritt, nicht auf. Im Bereich des Einschlussverhältnisses
der Partikel von 0,5–5
Gew.-% ist die zufällige
Entladung, welche in der herkömmlichen
Probe häufig
auftritt, sehr stark reduziert.
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Für die fünf Proben
in der obigen Ausführungsform
wird auch ein Spielraum der Impulsspannung Vy ausgewertet, die an
Scanelektroden, Y-Elektroden, während
einer Adressperiode angelegt wird. Die Spannung Vy in der Adressperiode,
die in 4 dargestellt ist, ist eine Scanimpulsspannung,
die an die Y-Elektroden angelegt wird, um in der Adressperiode zu
entladen. Wenn die Spannung Vy zu niedrig ist, kann eine solche
Entladung nicht genug Ladungen für
die nachfolgende Dauerentladung erzeugen. Wenn auf der anderen Seite
die Spannung Vy zu hoch ist, kann eine an der abfallenden Flanke
des Impulssignals auftretende Rücksetzentladung
die erzeugten Ladungen zerstören,
so dass die nachfolgende Dauerentladung nicht stattfinden kann. Dies
ist der Spielraum der Scanimpulsspannung Vy. Man findet, dass die
Probe mit 5 Gew.-% einen verhältnismäßig schmalen
Spielraum für
die Scanimpulsspannung Vy hat. Daher kann das Einschlussverhältnis der Partikel
vorzugsweise 0,5–2,0
Gew.-% betragen.
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Wie
in der konkreten Ausführungsform
oben erläutert
wurde, reduziert sich der Widerstandswert der dielektrischen Schicht 22 an
den Adresselektroden verglichen mit einer dielektrischen Schicht
ohne solche leitfähigen
Partikel, indem sie mit Metallpartikeln oder Partikeln aus leitfähigem Oxidmaterial
gemischt wird. Ein solcher reduzierter Widerstand kann auch die
akkumulierten Ladungen auf der dielektrischen Schicht geeignet abfließen lassen,
welche eine zufällige
Entladung oder ein Latch-Up-Phänomen
hervorrufen. Wenn der mittlere Durchmesser und das Einschlussverhältnis der
Partikel innerhalb des obigen vorzuziehenden Bereiches eingestellt
sind, gibt es ferner keinen spezifischen Unterschied bezüglich des
Brennprozesses der dielektrischen Schicht. Die Qualität oder Dichte
der dielektrischen Schicht kann ebenfalls gut genug gehalten werden, um
das Entladungsgas einzuschließen.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung können überdies,
wie in dem obigen Auswertungsergebnis klar dargestellt ist, unerwünschte Entladungen
verringert werden, indem ein Material in die dielektrische Schicht 22 auf
den Adresselektroden eingeschlossen wird, welches deren Widerstand
reduzieren kann. Es kann vorzuziehen sein, dass der Widerstandswert
in Richtung der Dicke der dielektrischen Schicht auf Kosten der
Isolierung zwischen den Adresselektroden reduziert wird. Sogar in
dem Fall, in dem der Widerstandswert der dielektrischen Schicht
gleichermaßen
reduziert ist, kann jedoch, falls die Funktionen der dielektrischen
Schicht einschließlich
der Isolationsfunktion zwischen den Adresselektroden und der Speicherfunktion
für eine
Dauerentladung in einem vernünftigen
Maße aufrecht
erhalten werden, eine solche Reduzierung des Widerstands die Leckfunktion
für die
akkumulierten Ladungen ergeben, die die zufällige Entladung verursachen.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird, wie oben beschrieben ist, die dielektrische Schicht,
welche die Adresselektroden bedeckt, mit elektrisch leitfähigen Partikeln
gemischt, um in ihrer Querrichtung eine elektrische Leitfähigkeit
oder eine Fähigkeit
zu schaffen, den elektrischen Widerstand in ihrer Querrichtung zu
reduzieren. Daher erlaubt die dielektrische Schicht, dass Ladungen,
welche darauf bei den Adresselektroden durch eine Entladung in der
Adressperiode gespeichert worden sind, zu den Adresselektroden abfließen. Folglich
weist das Plasmaanzeigefeld eine viel geringere Häufigkeit
der zufälligen
Entladungen auf, die ansonsten durch eine übermäßige Speicherung von Ladungen
auf der dielektrischen Schicht hervorgerufen werden würden. Ferner
kann das durch die zufällige
Entladung hervorgerufene Latch-Up-Phänomen verhindert werden.
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Obgleich
eine bestimmte bevorzugte Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung ausführlich
dargestellt und beschrieben worden ist, sollte es sich verstehen,
dass verschiedene Änderungen
und Modifikationen darin vorgenommen werden können, ohne vom Umfang der beigefügten Ansprüche abzuweichen.