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DE69720126T2 - Wortleitungstreiberschaltung für Flash-EEPROM-Speicher - Google Patents

Wortleitungstreiberschaltung für Flash-EEPROM-Speicher

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Publication number
DE69720126T2
DE69720126T2 DE69720126T DE69720126T DE69720126T2 DE 69720126 T2 DE69720126 T2 DE 69720126T2 DE 69720126 T DE69720126 T DE 69720126T DE 69720126 T DE69720126 T DE 69720126T DE 69720126 T2 DE69720126 T2 DE 69720126T2
Authority
DE
Germany
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node
transistor
voltage
pull
gate
Prior art date
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DE69720126T
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Stefano Menichelli
Tommaso Vali
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Texas Instruments Italia SRL
Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Italia SRL
Texas Instruments Inc
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Publication date
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    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
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    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
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Description

  • Die Erfindung betrifft allgemein Ansteuerungsschaltungen für Halbleiterspeicher und insbesondere eine Zeilenansteuerungsschaltung für Niederspannungs- Flash-EEPROM-Speicher.
  • Wie bekannt ist, entsteht beim Implementieren von Speicherschaltungen, insbesondere bei Flash-EEPROM-Speichern, in Verbindung mit der gleichzeitigen Existenz von Logik-Signalen sowie von innerhalb eines ausgedehnten Spannungsbereichs variablen Signalen in der Schaltung und daher aufgrund der Notwendigkeit, sie gleichzeitig zu verwalten, ein Problem. Derartige Signale, die in einem ausgedehnten Spannungsbereich variabel sind, sind für eine Verwendung in den verschiedenen Betriebsarten des Speichers, wie etwa bei Lese-, Programmier- oder Löschoperationen, vorgesehen. Die logischen Signale sind andererseits Steuersignale und sind zwischen der Massespannung, die durch GND angegeben wird, und der Versorgungsspannung, die durch VDD angegeben wird, variabel. Die normale Versorgungsspannung in diesen Schaltungen, die außerdem als Niederspannungs- oder Niederleistungsschaltungen bezeichnet werden, beträgt gegenwärtig etwa 3,3 Volt, während die Spannung, die zum Ausführen von Operationen, wie etwa das interne Programmieren oder Löschoperationen, verwendet wird, auch 12 Volt erreichen kann (z. B. 5 Volt für Leseoperationen).
  • Das schließt einerseits die Notwendigkeit ein, verschiedene Schaltungen auf dem Chip zu implementieren, um solche höheren Spannungen, die bei der niedrigen Versorgungsspannung von 3,3 Volt beginnen, zu erzeugen, andererseits schließt es die Notwendigkeit ein, im Speicher selbst geeignete Schaltungen zu implementieren, die so beschaffen sind, daß sie diese Spannungen, die höher als die Versorgungsspannung sind, zu behandeln oder zu verarbeiten, ohne Zeitverzögerungen einzuführen, die mit dem richtigen Betrieb des Speichers unvereinbar sind, und demzufolge ohne dessen Zugriffszeit zu beeinträchtigen. Die wesentliche Anforderung an diese Schaltungen betrifft deswegen ihre Operationsgeschwindigkeit: Diese Schaltungen sind als Spannungsübersetzer definiert.
  • Diese Erfindung ist nicht auf die Erzeugung von Betriebsspannungen gerichtet, die größer als die Versorgungsspannung sind, sondern es ist ihre Aufgabe, diese Spannungen sehr schnell zu verarbeiten, während gleichzeitig bei der Siliciumfläche eine Platzeinsparung erreicht wird.
  • Genauer ist es eine Aufgabe dieser Erfindung, eine Spannungsübersetzungsschaltung zu schaffen, die so beschaffen ist, daß sie selbst dann, wenn Logiksignale in einem Spannungsbereich von 0 bis 3,3 Volt an ihren Eingangsanschluß angelegt werden, und wenn Spannungen im Bereich von -9 bis 12 Volt, die durch andere geeignete Schaltungen erzeugt werden, für sie zur Verfügung stehen, Ausgangsspannungen liefert, die im zuletzt genannten Bereich vollständig variabel sind, und die außerdem so beschaffen ist, daß sie sehr schnell arbeitet, wobei eine solche Schaltung gleichzeitig eine kleine Siliciumfläche zur Implementierung benötigen sollte.
  • Da die Lesedauer eines Speichers sein wesentliches Merkmal ist und da alle Leseoperationen eine Spannung benötigen, die größer als die Versorgungsspannung ist, kann die hauptsächliche Anwendung dieser Erfindung, die jedoch natürlich nicht die ausschließliche Anwendung darstellt, als eine Zeilenansteuerungsschaltung für Flash-EEPROM-Speicher gekennzeichnet werden, die als eine Spannungsübersetzungsschaltung betrieben wird und so beschaffen ist, daß sie die obenerwähnten Lesespannungen an ausgewählte Zeilen oder Wortleitungen des Speichers koppelt.
  • Um das Obengesagte zusammenzufassen, in der gegenwärtigen Technologie der Flash-EEPROM-Speicher mit einer Versorgungsspannung von 3,3 Volt werden die Leseoperationen ausgeführt, indem die ausgewählte Wortleitung auf 5 Volt gesteuert wird und alle nicht ausgewählten Wortleitungen auf Masse GND gesteuert werden. Wenn andere Operationen ausgeführt werden sollen, wie etwa Programmier- oder Löschoperationen, sollten die betreffenden Wortleitungen auf andere Spannungen gesteuert werden, die typischerweise im Bereich von -9 bis 12 Volt liegen. Es sollten deshalb in den Zeilenansteuerungsschaltungen Hochspannungstransistoren verwendet werden, um diese Spannungen, die merklich größer als die Versorgungsspannung sind, zu bewältigen. In der Technologie der P-Kanal- und N-Kanal-MOS-Transistoren besitzen solche Hochspannungstransistoren häufig eine geringe Leistungsfähigkeit im Vergleich zu Niederspannungstransistoren infolge der merklichen Dicke des erforderlichen Gate-Oxids, wie dies einem Fachmann wohlbekannt ist. Das ist wirklich der Kern des Problems, da die Zeilenansteuerungsschaltung die ausgewählten Wortleitungen in sehr schnellen Anwendungen mit einer Zugriffszeit im Bereich von 10 bis 20 ns, wie etwa die obenerwähnten Speicher, aufgrund der Tatsache, daß jede Verzögerung bei der Kopplung der Wortleitungsansteuerungsspannung die Speicherzugriffszeit direkt und nachteilig beeinflußt, sehr schnell ansteuern sollte, selbst wenn Hochspannungstransistoren verwendet werden.
  • EP-A-0 356 650 offenbart eine Schaltung zum Anlegen von Lese-, Programmier- und Löschspannungen an eine Wortleitung in einer EEPROM-Zellenmatrix mit schwebendem Gate, die einen Schaltkreis für positive Spannung, wenigstens einen ersten Trenntransistor und einen zweiten Trenntransistor umfaßt. Der Schaltkreis für positive Spannung kann einen Inverter mit einem Rückkopplungstransistor und einem dritten Trenntransistor enthalten.
  • Ausgehend von einer Situation, bei der ein Flash-EEPROM-Speicher vorhanden ist, der logische Steuerspannungen im Bereich von 0 bis 3,3 Volt sowie Betriebsspannungen (VX) zum Bewirken von Programmier- oder Löschoperationen im Bereich von -9 bis 12 Volt aufweist und einen Decodierungsabschnitt umfaßt, der schematisch als eine NOR-Gatter-Schaltung dargestellt wird, die die an einen Eingangsknoten einer Inverterschaltung gekoppelten Auswahlsignale empfängt, ist es eine spezielle Aufgabe dieser Erfindung, eine Spannungsübersetzungsschaltung zu schaffen, um die Zeilen oder Wortleitungen eines Speichers anzusteuern, wobei:
  • - der Ausgangsknoten mit Masse über einen ersten N-MOS-Schalttransistor verbunden ist, dessen Gate durch ein über die Gate-Schaltung der Inverterschaltung und die Inverterschaltung eingegebenes Auswahllogiksignal angesteuert wird und mit der Betriebsspannung über einen zweiten P-MOS-Schalttransistor verbunden ist,
  • - ein erster P-MOS-Rückkopplungstransistor ein Gate besitzt, das direkt durch den Ausgangsknoten angesteuert wird, wobei der erste Rückkopplungstransistor zwischen die Betriebsspannung und den Gate-Bereich des zweiten Schalttransistors eingefügt ist,
  • - ein zweiter N-MOS-Rückkopplungstransistor ein Gate besitzt, das direkt durch den Ausgangsknoten angesteuert wird, wobei der zweite Rückkopplungstransistor zwischen den Verbindungsknoten zwischen dem ersten Rückkopplungstransistor und dem Gate des zweiten Schalttransistors und den Eingangsknoten des Gates des ersten Schalttransistors eingefügt ist, und
  • wobei der Verbindungsknoten zwischen dem ersten Rückkopplungstransistor und dem Gate-Bereich des zweiten Schalttransistors mit Masse über einen Entkopplungstransistor des N-MOS-Typs verbunden ist, wobei dessen Gate durch das Auswahlsignal, das vom Verbindungsknoten zwischen dem Decodierungsabschnitt und der Inverterschaltung empfangen wird, angesteuert wird, nachdem es invertiert wurde.
  • Weitere Einzelheiten und Vorteile dieser Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung deutlich durch Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung, in der die bevorzugte Ausführungsform erläuternd und nicht einschränkend gezeigt ist.
  • In der Zeichnung ist:
  • - Fig. 1 ein Schaltplan einer herkömmlichen Zeilenansteuerungsschaltung;
  • - Fig. 2 ein Signaldiagramm der wesentlichen Spannungen in der Schaltung von Fig. 1;
  • - Fig. 3 ein Schaltplan einer Zeilenansteuerungsschaltung gemäß dieser Erfindung;
  • - Fig. 4 ein Signaldiagramm der wesentlichen Spannungen in der Schaltung von Fig. 3.
  • Die Funktionsweise einer herkömmlichen Schaltung wird nun unter Bezugnahme auf die Fig. 1 und 2 beschrieben.
  • Es sollte im voraus betont werden, daß die Inverterschaltung BUFF und die NAND-Gatter-Schaltung von Fig. 1 nicht als reelle und einzelne Komponenten der nun beschriebenen Schaltung betrachtet werden sollten, sondern sie sind eher symbolisch angegeben als Darstellung des bereits vorhandenen Zeilendecodierungsabschnitts und sind lediglich für Zwecke der Klarheit der Erläuterung gezeigt. Eine weitere Spezifikation betrifft die Tatsache, daß VX und VXGND generell die Betriebspannung und die Massespannung bezeichnen, die für die betreffende Wortleitung übersetzt werden sollen.
  • In der Schaltung, die untersucht wird, ist die Wortleitung über den Knoten 1 mittels eines P-Kanal-Transistors pull-up 3 und eines N-Kanal-Transistors pull- down 2, die effektiv als Schalter arbeiten, an die Spannung VX bzw. an Masse VXGND angeschlossen. Der Gate-Bereich des Transistors pull-down 2 ist mit dem Eingangsknoten 16 verbunden, während der Gate-Bereich des Transistors pull-up 3 mit dem Knoten 6 verbunden ist. Ein P-Kanal-Rückkopplungstransistor TP4 ist zwischen der Betriebsspannung VX und dem Gate-Bereich des Transistors pull-up 3 am Knoten 6 eingefügt. Der Gate-Bereich des Rückkopplungstransistor TP4 wird durch die Wortleitung direkt angesteuert.
  • Die Wirkungsweise ist wie folgt: Wenn ein Auswahlsignal mit einem Logikwert 1 am Eingangsanschluß zur Verfügung steht, wird es durch die Inverterschaltung BUFF in einen Wert 0 umgesetzt und am Knoten 6 durch die NAND- Gatter-Schaltung wieder in einen Wert 1 umgesetzt. Dieses Signal, das ein Niederspannungssignal ist, da es ein Logiksignal ist, schaltet den Transistor pull- down 2 ein, der beim Einschalten den Knoten 1 und folglich die betreffende Wortleitung auf Masse VXGND legt. Diese abgesenkte Wortleitungsspannung wird zum Gate-Bereich des Rückkopplungstransistors TP4 übertragen, der eingeschaltet wird. Da der Transistor TP4 über den Knoten 6 zwischen die Spannung VX und den Gate-Bereich des Transistors pull-up 3 eingefügt ist, hebt der Transistor TP4 beim Einschalten die Spannung am Knoten 6 auf VX mit der sich daraus ergebenden Konsequenz, daß der Transistor pull-up 3 vollständig ausgeschaltet wird. Auf diese Weise ist die Wortleitung über den Transistor pull-down 2, der eingeschaltet ist, mit VXGND perfekt verbunden und mittels des Transistors pull- up 3, der ausgeschaltet ist, von der Spannung VX perfekt getrennt.
  • Um zu verhindern, daß die Hochspannung VX den Logikabschnitt der Schaltung beeinflußt, die auf Niederspannung ist, ist zwischen dem Knoten 6 und dem Knoten 16 ein Entkopplungstransistor TN1 eingefügt.
  • Alle obenerwähnten Transistoren sind von Hochspannungstyp, was in der Zeichnung durch die Bezeichnung mit dem Buchstaben H angegeben ist.
  • Die Notwendigkeit der Verwendung des Transistors TP4 erwächst aus der Tatsache, daß die Logikspannung, die am Knoten 6 und folglich am Gate-Bereich des Transistors pull-up 3 zur Verfügung steht, nicht ausreichen würde, um den Transistor pull-up 3 auszuschalten: es kann tatsächlich beobachtet werden, daß dann, wenn der Transistor mit der Spannung VX verbunden ist, die in dieser Anwendung 5 Volt beträgt, sein Gate-Bereich auf einer zu großen Spannung wäre, um durch die Eingangslogikspannung angesteuert zu werden.
  • Nachdem eine Anfangsbedingung überprüft wurde, bei der die betreffende Wortleitung von der Spannung VX auf Masse VXGND abgesenkt wurde, wird nun die entgegensetzte Umschaltaktion analysiert.
  • Wenn das Auswahlsignal auf den logischen Zustand 0 schaltet, wird am Ausgang der Inverterschaltung BUFF ein logischer Zustand 1 hergestellt und am Ausgang der NAND-Gatter-Schaltung wird am Knoten 16 wieder ein logischer Zustand 0 hergestellt. Eine Logikspannung 0 am Knoten 16 wird dann, wenn sie an den Gate-Bereich des Transistors pull-down 2 angelegt wird, bewirken, daß dieser abschaltet, woraus sich die Trennung und Entkopplung der Wortleitung von Masse VXGND ergibt. Außerdem wird diese Logikspannung 0 über den Transistor TN1 und den Knoten 6 an den Gate-Bereich des Transistors pull-up 3 angelegt und bewirkt, daß dieser einschaltet, wodurch die Wortleitungsspannung auf VX angehoben wird. Da die betreffende Wortleitung mit dem Gate-Bereich des Rückkopplungstransistors TP4 verbunden ist, wird die Leitfähigkeit des Transistors TP4 dann, wenn die Wortleitungsspannung angehoben wird, bis zu dem Punkt abgesenkt, an dem dieser Transistor abgeschaltet wird, was dann erfolgt, wenn die Wortleitung gerade auf die Spannung VX angehoben wird. Wenn der Transistor TP4 ausgeschaltet ist, ist der Transistor pull-up 3 eingeschaltet und die Wortleitung ist direkt mit der Spannung VX verbunden und ist mittels des Transistors pull-up 3, der im ausgeschalteten Zustand ist, vollständig isoliert.
  • Um die Leistungsfähigkeit dieser Schaltung insbesondere in bezug auf ihre Betriebsgeschwindigkeit zu verbessern, schlägt diese Erfindung vor, die Schaltungslösung von Fig. 3 anzunehmen.
  • Es sollte klar sein, daß die Decodierungsfunktionen, die durch die Inverterschaltung BUFF und die nachfolgende NAND-Gatter-Schaltung ausgeführt werden, durch die NOR-Gatter-Schaltung von Fig. 3 ausgeführt werden können.
  • Es kann in Fig. 3 erkannt werden, daß die betreffende Wortleitung wieder mittels eines P-Kanal-Transistors pull-up 3 mit der Betriebsspannung VX und mittels eines N-Kanal-Transistors pull-down 2 mit Masse VXGND verbunden ist. Es kann außerdem erkannt werden, daß ein Rückkopplungstransistor TP4, dessen Gate-Bereich direkt durch die Wortleitung angesteuert wird, so vorgesehen ist, daß er über den Knoten 6 zwischen der Spannung VX und dem Gate-Bereich des Transistors pull-up 3 eingefügt ist. Diese Schaltung unterscheidet sich in bezug auf die bekannte Schaltung im wesentlichen durch einen weiteren N-Kanal-Rückkopplungstransistor TN5, dessen Gate wieder direkt durch die Wortleitung angesteuert wird, und der zwischen den Knoten 6, genauer den Gate-Bereich des Transistors pull-up 3 und den Gate-Bereich des Transistors pull-down 2 eingefügt ist. Es kann außerdem erkannt werden, daß ein N-Kanal-Transistor TN1 zwischen den Knoten 6 und Masse eingefügt ist, wobei der Gate-Bereich dieses Transistors TN1 durch den Knoten 6 und folglich durch dasselbe Auswahlsignal nach einer einfachen Invertierung angesteuert wird.
  • Die Funktionsweise ist wie folgt: Wenn das Auswahllogiksignal auf dem Pegel 0 ist, ist der Knoten 5 auf dem Logikpegel 1, der der Versorgungsspannung VDD entspricht. Der Transistor TN1, der durch das invertierte Auswahlsignal angesteuert wird, wird eingeschaltet und zwingt den Knoten 6 auf den Logikpegel 0. Sobald der Knoten 6 auf den Logikpegel 0 gezwungen wird, wird der Transistor pull-down 2 ausgeschaltet, da das Logikpegelsignal 1 am Knoten 5 wieder durch die Inverterschaltung BUFF invertiert wird und am Knoten 0 und demzufolge am Gate-Bereich des Transistors pull-down 2 ein Logikpegelsignal 0 wird, wodurch der Transistor ausgeschaltet wird.
  • Bei Betrachtung des Transistors TN5 gilt, daß am Knoten 0 eine Spannung von 0 Volt hergestellt wird und am Knoten 6 aufgrund des Zustands des Transistors TN1 ebenfalls eine Spannung 0 Volt hergestellt wird.
  • Da der Knoten 6 auf dem Pegel 0 ist und der Transistor pull-down 2 im ausgeschalteten Zustand ist, wird der Transistor pull-up 3 eingeschaltet und bewirkt, daß die Wortleitung beginnt, auf eine Spannung VX anzusteigen. Durch das Ansteigen auf die Spannung VX bewirkt die Wortleitung, daß der Transistor TP4 über den Knoten 18 ausgeschaltet wird. Andererseits hat eine höhere Spannung am Knoten 18 eine höhere Spannung am Gate-Bereich des N-Kanal-Transistors TN5 zur Folge, da jedoch sowohl am Knoten 6 als auch am Knoten 0, nämlich an den Enden dieses Transistors, ein Logikpegel 0 vorhanden ist, hat der eingeschaltete Zustand des Transistors TN5 keinen Einfluß. Als Endergebnis wird die Wortleitung auf die Spannung VX angehoben und wird von der Spannung VXGND vollständig abgekoppelt.
  • Wenn eine Umschaltoperation in der entgegengesetzten Richtung ausgeführt werden soll, d. h. wenn das Auswahlsignal von einem Logikpegel 0 auf einen Logikpegel 1 geschaltet wird, wird der Knoten 5 den invertierten Pegel 0 annehmen und folglich wird der Transistor TN1 ausgeschaltet und den Knoten 6 löschen, d. h. er wird ihn von der Massespannung GND entkoppeln. Nach einer weiteren Invertierung des Signals, die durch die Inverterschaltung BUFF ausgeführt wird, wird der Knoten 0 auf den Pegel 1 umschalten und wird den Gate-Bereich des Transistors pull-down 2 so ansteuern, daß der Transistor eingeschaltet wird, während die Spannung am Knoten 0 über den zweiten Rückkopplungstransistor TN5 vollständig an den Knoten 6 übersetzt wird. Da die Spannung VX, die aus der vorherigen Umschaltoperation resultiert, noch vom Knoten 18 und von der betreffenden Wortleitung an dem Gate-Bereich des Transistors TN5 anliegt, ist der Transistor TN5 noch eingeschaltet.
  • Die folgende Situation wird bei dieser Umschaltoperation verwendet: Die Wortleitung ist noch auf der Spannung VX und der Transistor TN5 ist noch eingeschaltet. Das Signal mit dem Logikpegel 0, das am Knoten 0 vorherrscht, schaltet nicht nur den Transistor pull-down 2 ein, sondern - und das ist die Hauptsache - überträgt eine Ladung in einer bestimmten Menge an den Knoten 6 und erreicht auf diese Weise eine leichte Erhöhung der Spannung am Knoten 6. Folglich steigt der Knoten 6 auf einen Pegel, der etwas größer ist als der Pegel, der ohne den Transistor INS erreicht werden würde. Wenn die Spannung am Knoten 6 bei einer höheren Rate steigt, wird ein zweifacher Effekt erreicht, nämlich die Unterstützung und die Beschleunigung des Ausschaltens des P-Kanal-Transistors pull-up 3, da der Knoten 6 an seinen Gate-Bereich angeschlossen ist.
  • In diesem Betriebszustand wird das folgende Operationsmuster realisiert: Die Spannung am Knoten 6 steigt, wobei der Transistor pull-down 2 ausgeschaltet ist, wodurch er das Absenken der Wortleitungsspannung unterstützt. Wenn die Spannung nahezu 0 ist, beginnt der Transistor TN5 auszuschalten, es sollte jedoch erkannt werden, daß eine anfängliche Triggeraktion erfolgt, die ermöglicht, daß die Umschaltaktion am Transistor pull-up 3 beginnt und demzufolge um einen kleinen Betrag fortgesetzt wird, wodurch die Übergangszeit vermindert wird. Da die Spannung am Knoten 6 ansteigt, wird der Transistor pull-up 3 ausgeschaltet und deswegen wird die Spannung der Wortleitung auf 0 gesenkt: Wenn sie dem Wert 0 immer näher kommt, schaltet sie den zweiten N-Kanal-Rückkopplungstransistor TN5 aus, schaltet jedoch außerdem den ersten Rückkopplungstransistor TN4 ein, der wiederum den Transistor pull-up 3 ausschaltet. Da an diesem Punkt der Transistor pull-up 3 ausgeschaltet und der Transistor pull-down 2 eingeschaltet ist, ist die Wortleitung von der Spannung VX getrennt und mit der Spannung VXGND verbunden.
  • Das wesentliche Merkmal dieser Erfindung besteht gerade in der Ausnutzung des obenbeschriebenen zweiten Rückkopplungseffekts zwischen dem Knoten 0 und dem Knoten 6: Der Rückkopplungseffekt wird durch den Transistor TN5 sichergestellt, der beim Übergang von 0 auf 1 seinen zuvor vorhandenen leitenden Zustand, der mit dem zuvor vorhandenen Zustand der Wortleitung verbunden ist, ausnutzt.
  • Durch Bezugnahme auf die Fig. 2 und 4, in denen der Verlauf der Auswahlspannung am Knoten 6 und an der Wortleitung gezeigt ist, wird offensichtlich, daß die Spannung am Knoten 6 auf einen Pegel steigt, der etwas höher ist als der Pegel, der in einer herkömmlichen Schaltung erreicht wird. Eine schnellere Anstiegszeit der Spannung am Knoten 6 bedeutet, daß der Transistor pull-up 3 schneller ausgeschaltet wird und das bedeutet wiederum ein schnelleres Absinken der Spannung der Wortleitung, die von der Spannung VX getrennt wird.
  • Um diese Beobachtungen abzuschließen, sollte folgendes angemerkt werden: Während der erste Rückkopplungseffekt, der durch den Transistor TP4 sichergestellt wird, ein Rückkopplungseffekt zwischen den Ausgangs- und Eingangsenden der Schaltung ist, wird der zweite Rückkopplungseffekt direkt vom Eingangsende der Schaltung eingeführt und unterstützt, da ihr Ausgang lediglich dazu vorgesehen ist, im voraus einen leitenden Zustand im Transistor TN5 herzustellen. Der Transistor INS empfängt sein Steuersignal nicht vom Ausgangsende, sondern er empfängt dieses Signal vom Eingangsende der Schaltung mit einer Vorlaufzeit, wodurch der oben definierte Anfangseffekt unterstützt wird.
  • Das obige Ergebnis wurde auf Kosten der Tatsache erreicht, daß der Knoten 18 durch den Transistor TN5 geladen wurde, jedoch kann dieser Nachteil, der außerdem zum großen Teil durch diesen Anfangseffekt ausgeglichen wird, vom Standpunkt der Verarbeitung her im Hinblick auf die verminderten Abmessungen dieses Transistors, die z. B. L = 1,4 und W = 6 betragen, im wesentlichen toleriert werden.
  • Ein weiterer Vorteil der erfindungsgemäßen Lösung, der mit der Ersetzung des NAND-Gatters durch ein NOR-Gatter verbunden ist, wird durch die Verkleinerung der Siliciumfläche, die ihr dessen Implementierung erforderlich ist, erreicht.
  • Es ist tatsächlich bekannt, daß die Zeilenansteuerungsschaltungen in der Speichertopologie dieselbe Y-Abmessung wie die Speichermatrix aufweisen sollten, Das schließt ein, daß jede Verminderung der X-Abmessung der Schaltung eine stärker relevante Verminderung ihres Flächeninhalts zur Folge haben wird, da sich eine derartige Verminderung über die gesamte Y-Abmessung der Schaltung erstreckt. Wenn Siliciumfläche eingespart werden soll, ist es daher im wesentlichen wichtig, die betreffenden Ansteuerungsschaltungen so zu konstruieren, daß ihre Breitenabmessungen möglichst kompakt sind. Der Unterschied zwischen der herkömmlichen Lösung und der erfindungsgemäßen Lösung wurde ermittelt, indem alle W-Werte addiert wurden, und es wurde herausgefunden, daß die erfindungsgemäße Lösung eine kumulative W-Abmessung enthält, die kleiner als die einer herkömmlichen Lösung ist: Das bedeutet einen zweifachen Vorteil durch eine bessere Leistungsfähigkeit bei kleinerer Siliciumfläche.
  • Die bevorzugte Ausführungsform dieser Erfindung wurde oben erläutert, es sollte jedoch selbstverständlich sein, daß von einem Fachmann Variationen und Änderungen an den darin enthaltenen Komponenten ausgeführt werden können, ohne vom Umfang dieser Erfindung abzuweichen.

Claims (2)

1. Spannungsübersetzungsschaltung zum Ansteuern von Zeilen oder Wortleitungen von Flash-EEPROM-Speichern, wobei die Übersetzungsschaltung einen Ausgangsknoten (Knoten 1) besitzt, der mit einer der Zeilen oder Wortleitungen verbunden werden kann und so beschaffen ist, daß er Steuerlogikspannungen im Bereich von 0 bis 3,3 Volt und Betriebsspannungen für die Ausführung von Lese-, Programmierungs- oder Löschoperationen im Bereich von -9 bis 12 Volt empfangt, wobei die Übersetzungsschaltung einen Decodierungsabschnitt (NOR) umfaßt, der über einen Eingangsknoten (Knoten 5) mit einer Inverterschaltung (BUFF) verbunden ist, um in diese ein Auswahlsignal einzukoppeln, wobei:
- der Ausgangsknoten (Knoten 1) mit Masse (VXGND) über einen ersten N-MOS-Schalttransistor (pull-down 2) verbunden ist, dessen Gate (Knoten 0) durch ein über die Inverterschaltung (BUFF) eingegebenes Auswahllogiksignal angesteuert wird und mit der Betriebsspannung (VX) über einen zweiten P-MOS- Schalttransistor (Pull-up 3) verbunden ist,
- ein erster P-MOS-Rückkopplungstransistor (TP4) ein Gate (Knoten 18) besitzt, das direkt durch den Ausgangsknoten (Knoten 1) angesteuert wird, wobei der erste Rückkopplungstransistor zwischen die Betriebsspannung (VX) und den Gatebereich (Knoten 6) des zweiten Schalttransistors (pull-up 3) eingefügt ist,
- ein zweiter N-MOS-Rückkopplungstransistor (TN5) ein Gate besitzt, das direkt durch den Ausgangsknoten (Knoten 1) angesteuert wird, wobei der zweite Rückkopplungstransistor zwischen den Verbindungsknoten (Knoten 6) zwischen dem ersten Rückkopplungstransistor (TP4) und dem Gate-Bereich des zweiten Schalttransistors (pull-up 3) und den Eingangsknoten (Knoten 0) des Gates des ersten Schalttransistors (pull-down 2) eingefügt ist, und
wobei der Verbindungsknoten (Knoten 6) zwischen dem ersten Rückkopplungstransistor (TP4) und dem Gate des zweiten Schalttransistors (pull- up 3) mit Masse über einen Entkopplungstransistor (TN1) des N-MOS-Typs verbunden ist, wobei das Gate des Entkopplungstransistors durch das Auswahlsignal angesteuert wird, das vom Verbindungsknoten (Knoten S) zwischen dem Decodierungsabschnitt (NOR) und der Inverterschaltung (BUFF) empfangen wird.
2. Spannungsübersetzungsschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schalttransistoren (pull-up 3, pull-down 2), die Rückkopplungstransistoren (TP4, INS) und der Entkopplungstransistor (TN1) Hochspannungstransistoren (H-Transistoren) sind.
DE69720126T 1996-09-13 1997-09-10 Wortleitungstreiberschaltung für Flash-EEPROM-Speicher Expired - Lifetime DE69720126T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IT96RM000626A IT1285894B1 (it) 1996-09-13 1996-09-13 Circuito di pilotaggio di riga per memorie flash eeprom a bassa tensione.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69720126D1 DE69720126D1 (de) 2003-04-30
DE69720126T2 true DE69720126T2 (de) 2003-12-04

Family

ID=11404419

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69720126T Expired - Lifetime DE69720126T2 (de) 1996-09-13 1997-09-10 Wortleitungstreiberschaltung für Flash-EEPROM-Speicher

Country Status (6)

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EP (1) EP0829881B1 (de)
JP (1) JP4519953B2 (de)
KR (1) KR100497688B1 (de)
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IT (1) IT1285894B1 (de)
SG (1) SG67418A1 (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3466593B2 (ja) * 2001-09-20 2003-11-10 沖電気工業株式会社 電圧トランスレータ回路
JP3410084B2 (ja) 2001-09-20 2003-05-26 沖電気工業株式会社 電圧トランスレータ
JP3532181B2 (ja) 2001-11-21 2004-05-31 沖電気工業株式会社 電圧トランスレータ
WO2010076833A1 (en) * 2008-12-31 2010-07-08 Fabio Pellizzer Word-line driver including pull-up resistor and pull-down transistor
TWI502890B (zh) * 2009-07-02 2015-10-01 Advanced Risc Mach Ltd 電壓位準平移器與用於平移電壓位準之方法
US8908439B2 (en) * 2012-09-07 2014-12-09 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Adaptive word-line boost driver

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4823318A (en) * 1988-09-02 1989-04-18 Texas Instruments Incorporated Driving circuitry for EEPROM memory cell
DE69126234T2 (de) * 1990-04-23 1997-11-06 Texas Instruments Inc Wortleitungstreiberschaltung für nichtflüchtiges Speicherzellenarray
JPH06338193A (ja) * 1993-05-28 1994-12-06 Hitachi Ltd 不揮発性半導体記憶装置
JPH07235190A (ja) * 1994-02-24 1995-09-05 Sony Corp 半導体不揮発性記憶装置
KR0170293B1 (ko) * 1995-12-29 1999-03-30 김광호 이.이.피.롬 장치

Also Published As

Publication number Publication date
EP0829881A3 (de) 1999-07-07
DE69720126D1 (de) 2003-04-30
JPH10149693A (ja) 1998-06-02
IT1285894B1 (it) 1998-06-24
EP0829881B1 (de) 2003-03-26
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