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HINTERGRUND
DER ERFINDUNG
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Gebiet der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Anzeige, insbesondere eine Anzeige
mit einem reflektierenden Bereich und einem transmissiven Bereich.
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Beschreibung
des Stands der Technik
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Herkömmlicherweise
ist eine Flüssigkristallanzeige
vom transflektiven Typ bekannt, der zwei Funktionen eines transmissiven
Typs, worin ein auf eine Flüssigkristallschicht
einfallender Lichtstrahl nur in einer Richtung durchgelassen wird,
und eines reflektierenden Typs aufweist, worin ein auf eine Flüssigkristallschicht
einfallender Lichtstrahl reflektiert wird. Eine solche Flüssigkristallanzeige
vom transflektiven Typ ist beispielsweise in der japanischen Patentanmeldung
mit der Veröffentlichungsnummer 2002-98951
offenbart.
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17 ist
eine Draufsicht, die die Struktur einer Flüssigkristallanzeige vom transflektiven
Typ mit einer vorstehenden Isolierschicht (nämlich einer Planarisierungsschicht)
nach dem Stand der Technik zeigt; und 18 ist
eine Querschnittsansicht entlang der Linie 190-190, die die in 17 dargestellte Anzeige
nach dem Stand der Technik zeigt.
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Wie
in 18 gezeigt, bildet sich in der Flüssigkristallanzeige
vom transflektiven Typ nach dem Stand der Technik eine aktive Schicht 102 in
einem vorbestimmten Bereich aus, der dem reflektierenden Bereich 160a auf
einem Glassubstrat 101 mit einer darauf ausgebildeten Pufferschicht 101a entspricht. In
der aktiven Schicht 102 sind ein Source-Bereich 102a und
ein Drain-Bereich 102b ausgebildet, um einen Kanalbereich 102c dazwischen
zu halten. Ferner ist eine Gate-Elektrode 104 auf dem Kanalbereich 102c ausgebildet,
die eine dazwischen bereitgestellte Gate-Isolierschicht 103 aufweist.
Zudem ist eine Zusatzkapazitätsleitung 105 in
einem vorbestimmten Bereich auf der Gate-Isolierschicht 103 ausgebildet, welcher
dem reflektie renden Bereich 160a entspricht. Eine Zusatzkapazität besteht
aus einem Zusatzkapazitätsbereich 102d der
aktiven Schicht 102, der Gate-Isolierschicht 103 und
der Zusatzkapazitätsleitung 105.
Wie in 17 gezeigt, ist die Gate-Elektrode 104 mit
der Gate-Leitung 104a verbunden.
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Wie
in 18 gezeigt ist eine Zwischenisolierschicht 106 mit
Kontaktlöchern 106a und 106b ausgebildet,
um einen Dünnschichttransistor
und die Zusatzkapazität
abzudecken. Eine Source-Elektrode 107 und eine Drain-Elektrode 108 sind
auf der Zwischenisolierschicht 106 über die Kontaktlöcher 106a und 106b auf
solche Weise verbunden, dass sie mit dem Source-Bereich 102a bzw.
dem Drain-Bereich 102b elektrisch verbunden sind. Wie in 17 gezeigt,
ist die Drain-Elektrode 108 mit der Drain-Leitung 108a verbunden.
Wie in 18 gezeigt, ist eine Planarisierungsschicht 109 mit Öffnungen 109a und 109b in
einem vorstehenden Querschnittsbereich auf der Zwischenisolierschicht 106 ausgebildet.
Wie in 17 gezeigt, ist die Öffnung 109a ausgebildet,
um den transmissiven Bereich 160b zu umgeben, während die Öffnung 109b in
einem Bereich ausgebildet ist, welcher der Source-Elektrode 107 entspricht.
Ein Seitenende 104b der Gate-Leitung 104a und
ein Seitenende 105a der Zusatzkapazitätsleitung 105 sind in
einem Bereich unterhalb der Planarisierungsschicht 109 ausgebildet,
wobei sie durch einen vorbestimmten Zwischenraum von einem Bereich
getrennt sind, bei dem sich ein Seitenende 109c der Öffnung 109a befindet.
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Darüber hinaus
ist, wie in 18 gezeigt, eine reflektierende
Elektrode 110 in einem Bereich, welcher dem reflektierenden
Bereich 160a entspricht, so ausgebildet, dass sie mit der
Source-Elektrode 107 über
die Öffnung 109a elektrisch
verbunden ist und sich entlang der oberen Oberfläche der Planarisierungsschicht 109 und
der Seitenoberfläche der Öffnung 109a erstreckt.
Ferner ist eine Öffnung 110a in
einem Bereich ausgebildet, welcher dem transmissiven Bereich 160b in
der reflektierenden Elektrode 110 entspricht. Eine transparente
Elektrode 111 ist auf dem in der reflektierenden Elektrode 110 und
der Öffnung 110a vorliegenden
Zwischenisolierschicht 106 ausgebildet. Die transparente
Elektrode 111 und die reflektierende Elektrode 110 sind
Teil einer Pixelelektrode.
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Darüber hinaus
ist ein Substrat (nämlich
ein Gegensubstrat) 112 an einer dem Substrat 101 gegenüberliegenden
Stelle angeordnet. Ein Farbfilter 113, der jede der Farben
Rot, Grün
und Blau aufweist, ist auf dem Substrat 112 ausgebildet,
und ferner ist eine schwarze Matrix 114 in einen Raum eingebettet,
der zwischen den Farbfiltern 113 definiert ist. Eine Gegenelektrode 115 ist
auf dem Farbfilter 113 und der schwarzen Matrix 114 ausgebildet.
Eine nicht angeführte
Ausrichtungsschicht ist auf jeweils der transparenten Elektrode 111 und
der Gegenelektrode 115 ausgebildet. Eine Flüssigkristallschicht 116 wird
zwischen die zwei Ausrichtungsschichten eingelagert.
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Wenn
die Planarisierungsschicht 109 einem Lichtstrahl ausgesetzt
wird, wenn die Öffnung 109a in jenem
Bereich, welcher dem transmissiven Bereich 160b entspricht,
unter Verwendung von Photolithographie in der oben beschriebenen
Flüssigkristallanzeige
vom transflektiven Typ ausgebildet wird, kann ein Lichtstrahl, der
durch das Substrat 101 dringt, turbulent auf einem nicht
angeführten
Substratträger
eines Belichtungsgeräts
reflektiert werden. In diesem Fall kann, da der Bereich, in welchem
das Seitenende 109c an der Öffnung 109a ausgebildet
ist, mit dem turbulent reflektierten Lichtstrahl während der
Belichtung bestrahlt wird, ein Teil, in welchen der turbulent reflektierte
Lichtstrahl eindringt, zum Zeitpunkt der Entwicklung versehentlich
entfernt werden. Folglich kommt es, wie in 17 gezeigt,
zu dem Nachteil, dass aufgrund des turbulent reflektierten Lichtstrahls am
Seitenende 109c der Öffnung 109a eine
Vertiefung 109d ausgebildet wird, und ferner, dass ein
Teil der auf dem Seitenende 109c der Planarisierungsschicht 109 ausgebildeten
reflektierenden Elektrode 110 ebenfalls Vertiefungen aufweist.
Dadurch wird ein Bild, das die Vertiefung der reflektierenden Elektrode 110 reflektiert,
auf einem Schirm angezeigt, wodurch sich das Problem der Verschlechterung
der Anzeigequalität
ergibt.
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In
der US-A-2001/0020991, die dem Oberbegriff von Anspruch 1 entspricht,
ist eine Anzeige offenbart, worin Isolierbereiche auf einem Substrat
mit einer lichtabschirmenden Schicht unterhalb den Isolierschichten,
die sich über
die Seiten der Isolierbereiche hinaus erstrecken, ausgebildet sind.
Die Isolierbereiche und die lichtab schirmende Schicht bilden einen
reflektierenden Bereich der Anzeige, wobei die Anzeige auch über transmissive
Bereiche verfügt.
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Eine ähnliche
Offenbarung findet sich in der US-B-6330047, mit der Ausnahme, dass
die Isolierung in Form einer Schicht in den reflektierenden Bereichen
vorliegt.
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ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung ist eine Anzeige bereitgestellt, die Folgendes umfasst:
eine
Anzeige mit einem reflektierenden Bereich und einem transmissiven
Bereich;
eine vorstehende Isolierschicht, die im reflektierenden
Bereich auf dem Substrat ausgebildet ist;
eine lichtabschirmende
Schicht, die unterhalb der vorstehenden Isolierschicht ausgebildet
ist und die ausgebildet ist, um sich zumindest bis zu einem Bereich
zu erstrecken, in dem das Seitenende der vorstehenden Isolierschicht
angeordnet ist; und
einen Dünnschichttransistor,
der zwischen der vorstehenden Isolierschicht und dem Substrat ausgebildet
ist und der ein Paar an Source/Drain-Bereichen sowie eine Gate-Elektrode
aufweist;
wobei die lichtabschirmende Schicht aus der gleichen
Schicht ausgebildet ist wie jene, welche die Gate-Elektrode ausbildet.
Die vorliegende Erfindung ermöglicht
somit die Bereitstellung einer Anzeige, bei der die durch turbulent
reflektierte Lichtstrahlen zum Zeitpunkt der Belichtung verursachte
Verschlechterung der Anzeigequalität unterdrückt werden kann.
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In
den oben beschriebenen Anzeigen kann mit einer lichtabschirmenden
Schicht verhindert werden, dass ein Bereich, bei dem das Seitenende
der vorstehenden Isolierschicht ausgebildet ist, mit einem Lichtstrahl,
der durch das Substrat dringt und auf einem Substratträger turbulent
reflektiert wird, bestrahlt wird, wenn eine lichtempfindliche Isolierschicht
einem Lichtstrahl ausgesetzt wird, wenn die vorstehende Isolierschicht
im Bereich, welcher dem reflektierenden Bereich auf dem Substrat
entspricht, ausgebildet wird, indem Photolithographie angewandt
wird, bei der die lichtabschirmende Schicht unterhalb der vorstehenden
Isolierschicht so ausgebildet wird, dass sie sich bis zu jenem Bereich
erstreckt, bei dem das Seitenende der vorstehenden Isolierschicht,
die in dem Bereich ausgebildet ist, welcher dem reflektierenden
Bereich auf dem Substrat entspricht, vorliegt. Folglich kann verhindert
werden, dass ein Teil des Seitenendes der vorstehenden Isolierschicht
bei der Entwicklung eines Bildes entfernt wird, wodurch verhindert
werden kann, dass sich eine Vertiefung aufgrund turbulent reflektierter
Lichtstrahlen am Seitenende der vorstehenden Isolierschicht ausbildet.
Demnach kann verhindert werden, dass sich ein Teil des reflektierenden
Films, der am Seitenende der vorstehenden Isolierschicht ausgebildet
ist, zu einer Vertiefung ausbildet, die auf turbulent reflektierte
Lichtstrahlen zurückzuführen ist,
wodurch verhindert wird, dass ein Bild, das die Vertiefung des reflektierenden
Films reflektiert, auf einem Schirm angezeigt wird. Somit kann eine
Verschlechterung der Anzeigequalität aufgrund turbulent reflektierter Lichtstrahlen
zum Zeitpunkt der Belichtung mittels Lichtstrahlen verhindert werden.
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KURZBESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGEN
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1 ist
eine Draufsicht, die die Struktur einer Flüssigkristallanzeige vom transflektiven
Typ in einer bevorzugten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt;
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2 ist
eine Draufsicht, die einen Bereich zeigt, bei dem eine Gate-Leitung
in der Anzeige in der in 1 dargelegten Ausführungsform
ausgebildet ist;
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3 ist
eine Draufsicht, die einen Bereich zeigt, bei dem eine Zusatzkapazitätsleitung
in der Anzeige in der in 1 dargelegten bevorzugten Ausführungsform
ausgebildet ist;
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4 ist
eine Draufsicht, die Bereiche zeigt, bei denen die Gate-Leitung
und die Zusatzkapazitätsleitung
in der Anzeige in der in 1 dargelegten bevorzugten Ausführungsform
ausgebildet sind;
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5 ist
eine Querschnittsansicht entlang der Linie 90-90 in der Anzeige
in der in 1 dargelegten bevorzugten Ausführungsform;
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die 6 bis 12 sind
Querschnittsansichten, die das Herstellungsverfahren der Anzeige in
der bevorzugten Ausführungsform
gemäß der vorliegenden
Erfindung veranschaulichen;
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13 ist
eine Querschnittsansicht, die die Struktur der Anzeige in einer
ersten Modifikation der bevorzugten Ausführungsform zeigt;
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14 ist
eine Querschnittsansicht, die die Struktur der Anzeige in einer
zweiten Modifikation der bevorzugten Ausführungsform zeigt;
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15 ist
eine Draufsicht, die die Struktur einer Flüssigkristallanzeige vom transflektiven
Typ zeigt, die keine Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung ist;
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16 ist
eine Draufsicht, die die Struktur der Anzeige in einer Modifikation
der in 15 dargestellten Struktur zeigt;
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17 ist
eine Draufsicht, die die Struktur einer Flüssigkristallanzeige vom transflektiven
Typ mit einer vorstehenden Isolierschicht (nämlich einer Planarisierungsschicht)
nach dem Stand der Technik zeigt; und
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18 ist
eine Querschnittsansicht entlang der Linie 190-190, die die in 17 dargestellte
Anzeige nach dem Stand der Technik zeigt.
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BESCHREIBUNG
DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
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Nachstehend
sind bevorzugte Ausführungsformen
gemäß der vorliegenden
Erfindung bezugnehmend auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben.
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Erste Ausführungsform
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Bezugnehmend
auf die 1 bis 5 umfasst
eine Flüssigkristallanzeige
in einer ersten bevorzugten Ausführungsform
zwei Bereiche, und zwar einen reflektierenden Bereich 60a und
einen transmissiven Bereich 60b innerhalb eines Pixels.
Eine reflektierende Elektrode 10 ist im reflektierenden
Bereich 60a ausgebildet, während keine reflektierende Elektrode 10 im
transmissiven Bereich 60b ausgebildet ist. Folglich kann
ein Bild im reflektierenden Bereich 60a angezeigt werden,
indem ermöglicht
wird, dass ein Lichtstrahl in einer durch den in 5 mittels
Pfeil A gekennzeichneten Richtung reflektiert wird. In der Zwischenzeit
kann ein Bild im transmissiven Bereich 60b angezeigt werden,
indem ermöglicht wird,
dass ein Lichtstrahl in einer durch den in 5 mittels
Pfeil B gekennzeichneten Richtung durch diesen Bereich hindurchtritt.
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Wie
in 5 gezeigt, ist eine aktive Schicht 2,
die aus Nicht-Einkristall-Silicium oder amorphem Silicium in einer
Dicke von etwa 30 nm bis etwa 50 nm besteht, in einem vorbestimmten
Bereich ausgebildet, welcher dem reflektierenden Bereich 60a auf einem
Glassubstrat 1 entspricht, das mit einer aus einer SiNx-Schicht und einer SiO2-Schicht bestehenden
Pufferschicht 1a bereitgestellt ist. Das Glassubstrat 1 stellt
ein Beispiel für "ein Substrat" gemäß der vorliegenden
Erfindung dar. Ein Source-Bereich 2a und
ein Drain-Bereich 2b sind auf der aktiven Schicht 2 auf
solche Weise ausgebildet, dass dazwischen ein Kanalbereich 2c gehalten
wird. Eine aus einer Mo-Schicht
bestehende Gate-Elektrode 4 ist in einer Dicke von etwa
200 nm bis etwa 250 nm auf dem Kanalbereich 2c über einer
Gate-Isolierschicht 3 ausgebildet, die aus einer Laminatschicht
geformt ist, welche aus einer SiNx-Schicht
und einer SiO2-Schicht in einer Dicke von etwa 80 nm
bis etwa 150 nm besteht. Der Source-Bereich 2a, der Drain-Bereich 2b,
der Kanalbereich 2c, die Gate-Isolierschicht 3 und
die Gate-Elektrode 4 bilden Teil eines Dünnschichttransistors
(TFT) vom Top-Gate-Typ. Ferner ist die Gate-Elektrode 4,
wie in 1 gezeigt, mit einer Gate-Leitung 4a,
die aus der gleichen Schicht wie jener der Gate-Elektrode 4 besteht,
verbunden.
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Ferner
ist eine aus einer Mo-Schicht bestehende Zusatzkapazitätsleitung 5,
wie in 5 gezeigt, in einer Dicke von etwa 200 nm bis
etwa 250 nm in einem vorbestimmten Bereich auf der Gate-Isolierschicht 3 ausgebildet,
welcher dem reflektierenden Bereich 60a entspricht. Eine
Zusatzkapazität
besteht aus einem Zusatzkapazitätsbereich 2d der
aktiven Schicht 2, der Gate-Isolierschicht 3 und
der Zusatzkapazitätsleitung 5.
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Wie
in 5 gezeigt, ist eine Zwischenisolierschicht 6 mit
Kontaktlöchern 6a und 6b,
die aus einer Laminatschicht geformt ist, welche aus einer SiNx-Schicht und einer SiO2-Schicht
besteht, so ausgebildet, dass sie eine Dicke von etwa 500 nm bis etwa
700 nm aufweist und den TFT sowie die Zusatzkapazität abdeckt.
Eine Source-Elektrode 7 und
eine Drain-Elektrode 8 sind auf der Zwischenisolierschicht 6 über die
Kontaktlöcher 6a und 6b auf
solche Weise ausgebildet, dass sie mit dem Source-Bereich 2a bzw.
dem Drain-Bereich 2b elektronisch verbunden sind. Die Source-Elektrode 7 und
die Drain-Elektrode 8 besteht jeweils von unterhalb bis
oberhalb aus einer Mo-Schicht, einer Al-Schicht und einer Mo-Schicht
in einer Dicke von etwa 400 nm bis etwa 800 nm. Wie in 1 gezeigt,
ist die Drain-Elektrode 8 mit einer Drain-Leitung 8a verbunden.
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Wie
in 5 gezeigt, ist eine Planarisierungsschicht 9 mit Öffnungen 9a und 9b,
die jeweils in einem vorbestimmten Winkel an der Seitenoberfläche davon
schräg
abfallen, ausgebildet und besteht aus einem Acrylharz in einer Dicke
von etwa 2 μm
bis etwa 3 μm
in einem vorstehenden Querschnitt auf der Zwischenisolierschicht 6.
Wie in 1 gezeigt, ist die Öffnung 9a der Planarisierungsschicht 9 so
in einem Quadrat in einer Draufsicht ausgebildet, dass sie den transmissiven
Bereich 60b umgibt. Die Öffnung 9b ist in einem
Bereich ausgebildet, welcher der Source-Elektrode 7 entspricht.
Die Planarisierungsschicht 9 stellt ein Beispiel für "eine Isolierschicht" gemäß der vorliegenden
Erfindung dar.
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In
einer ersten bevorzugten Ausführungsform
dienen als ein Beispiel für "eine lichtabschirmende
Schicht" die Gate-Leitung 4a und
die Zusatzkapazitätsleitung 5 gemäß der vorliegenden
Erfindung als lichtabschirmende Schichten. Wie in 2 gezeigt,
ist ein Seitenende 4b der Gate-Leitung 4a auf
solche Weise ausgebildet, dass es sich zum transmissiven Bereich 60b hin über einen
Bereich hinaus erstreckt, in dem sich eines der Seitenenden 9c der Öffnung 9a befindet.
Ferner ist ein Seitenende 5a der Zusatzkapazitätsleitung 5,
wie in 3 gezeigt, so ausgebildet, dass es sich zum transmissiven
Bereich 60b hin über
einen Bereich hinaus erstreckt, in dem sich die restlichen drei
der Seitenenden 9c befinden. Die so wie oben beschriebene
ausgebildete Gate-Leitung 4a und Zusatzkapazitätsleitung 5 fungieren
als lichtabschirmende Schicht, die verhindert, dass ein Bereich,
in dem das Seitenende 9c der Öffnung 9a der Planarisierungsschicht 9 ausgebildet
ist, mit einem turbulent reflektierten Lichtstrahl bestrahlt wird,
wenn die aus Acrylharz bestehende Planarisierungsschicht 9 im
später
beschriebenen Herstellungsverfahren einem Lichtstrahl ausgesetzt
wird. In der ersten bevorzugten Ausführungsform ist, wie in 4 gezeigt,
ein in der Nähe
der Zusatzkapazitätsleitung 5 ausgebildeter
Teil des Seitenendes 4b der Gate-Leitung 4a nicht über den
Bereich hinaus ausgebildet, in dem sich das Seitenende 9c befindet,
sodass die Gate-Leitung 4a und die Zusatzkapazitätsleitung 5 nicht
elektrisch miteinander verbunden sind. Ferner wird die Zusatzkapazitätsleitung 5 herkömmlich in
den Pixeln entlang jeder der Signalleitungen verwendet.
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Wie
in 5 gezeigt ist außerdem eine reflektierende
Elektrode 10 mit einer Öffnung 10a in
einem Bereich ausgebildet, welcher dem reflektierenden Bereich 60a auf
der Planarisierungsschicht 9 auf solche Weise entspricht,
dass diese über
die Öffnung 9b mit
der Source-Elektrode 7 elektrisch verbunden ist und sich
entlang der oberen Oberfläche
der Planarisierungsschicht 9 und der Seitenoberfläche der Öffnung 9a erstreckt.
Darüber
hinaus ist ein vorbestimmter Abstand in einem Teil eines Bereichs zwischen
der reflektierenden Elektrode 10 und der Gate-Leitung 4a in
einer wie in 1 gezeigten Draufsicht ausgebildet.
Die reflektierende Elektrode 10 besteht ferner aus AlNd
in einer Dicke von etwa 80 nm bis etwa 200 nm. Die reflektierende
Elektrode 10 stellt ein Beispiel für "einen reflektierenden Film" gemäß der vorliegenden
Erfindung dar.
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Die
transparente Elektrode 11 besteht aus IZO (nämlich Indiumzinkoxid)
in einer Dicke von etwa 100 nm bis etwa 150 nm auf der Zwischenisolierschicht 6,
die sich in der reflektierenden Elektrode 10 und der Öffnung 10a befindet.
Die transparente Elektrode 11 sowie die reflektierende
Elektrode 10 stellen Beispiele für "eine erste Elektrode" gemäß der vorliegenden
Erfindung dar.
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Ein
Glassubstrat 12 ist darüber
hinaus an einer dem Glassubstrat 1 gegenüberliegenden
Stelle angeordnet. Auf dem Glassubstrat 12 ist ein Farbfilter 13 ausgebildet,
der jeweils die Farben Rot, Grün
und Blau aufweist. Zudem ist eine schwarze Matrix 14 zur Verhinderung
dessen, dass Lichtstrahlen aus den Pixeln austreten, in einem Bereich
ausgebildet, welcher den Pixeln auf dem Glassubstrat 12 entspricht. Eine
Gegenelektrode 15 besteht aus IZO in einer Dicke von etwa
100 nm bis etwa 150 nm auf dem Farbfilter 13 und der schwarzen
Matrix 14. Hierbei stellt die Gegenelektrode 15 ein
Beispiel für "eine zweite Elektrode" gemäß der vorliegenden
Erfindung dar.
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Eine
nicht angeführte
Ausrichtungsschicht ist darüber
hinaus auf jeder der transparenten Elektroden 11 und Gegenelektroden 15 ausgebildet.
Zwischen den zwei Ausrichtungsschichten ist eine Flüssigkristallschicht 16 eingelagert.
Hierbei sind die Abstände
zwischen einer Pixelelektrode und einer Gegenelektrode im reflektierenden
Bereich 60a und dem transmissiven Bereich 60b unterschiedlich
gewählt,
indem die Öffnung 9a im
Bereich, welcher dem transmissiven Bereich 60b der Planarisierungsschicht 9 entspricht,
gebildet wird. Insbesondere die Dicke der Flüssigkristallschicht 16 im
reflektierenden Bereich 60a beträgt die Hälfte der Dicke der Flüssigkristallschicht 16 im
transmissiven Bereich 60b. Folglich dringt der Lichtstrahl
zweimal durch die Flüssigkristallschicht 16 im
reflektierenden Bereich 60a, während der Lichtstrahl nur einmal
durch die Flüssigkristallschicht 16 im
transmissiven Bereich 60b dringt. Daher werden die Längen der
optischen Wege im reflektierenden Bereich 60a und dem transmissiven
Bereich 60b aneinander angeglichen, indem die Dicke der
Flüssigkristallschicht 16 im
reflektierenden Bereich 60a so gewählt ist, dass sie die Hälfte der
Dicke der Flüssigkristallschicht 16 im
transmissiven Bereich 60b beträgt. Dadurch ist es möglich, Variationen
hinsichtlich der Anzeigequalität
im Fall von transmissiven Anzeigen und reflektierenden Anzeigen
zu reduzieren.
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Wie
oben in der ersten bevorzugten Ausführungsform beschrieben, sind
das Seitenende 4b und das Seitenende 5b so ausgebildet,
dass sie sich zum transmissiven Bereich 60b über jenen
Bereich hinaus erstrecken, in dem sich das Seitenende 9c befindet,
wodurch verhindert werden kann, dass der Bereich, in dem das Seitenende 9c ausgebildet
ist, mit jenem Lichtstrahl bestrahlt wird, der durch das Glassubstrat 1 dringt
und turbulent auf dem Substratträger
reflektiert wird, und zwar im Belichtungsvorgang zur Ausbildung
der Öffnung 9a durch
die Wirkung der Gate-Leitung 4a und die Zusatzkapazitätsleitung 5. Folglich
kann verhindert werden, dass ein Teil des Seitenendes 9c bei
der Bildentwicklung entfernt wird, wodurch die Bildung einer Vertiefung
aufgrund turbulent reflektierter Lichtstrahlen im Belichtungsgerät verhindert
werden kann. Dadurch kann verhindert werden, dass sich eine Vertiefung,
die auf turbulent reflektierte Lichtstrahlen während des Ausgesetztseins gegenüber dem
Lichtstrahl zurückzuführen ist, an
dem Teil der reflektierenden Elektrode 10 in der Nähe des Seitenendes 9c ausgebildet
wird, was auch verhindert, dass ein Bild, das eine Vertiefung reflektiert,
auf einem Bildschirm angezeigt wird. Somit wird verhindert, dass
die Anzeigequalität
verschlechtert wird.
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Darüber hinaus
können
in einer ersten bevorzugten Ausführungsform
die Gate-Leitung 4a und die
Zusatzkapazitätsleitung 5 als
lichtabschirmende Schichten dienen, wodurch die Notwendigkeit für ein zusätzliches
Verfahren zur Ausbildung eine lichtabschirmenden Schicht entfällt, womit
eine Verkomplizierung des Herstellungsverfahrens vermieden wird.
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Ferner
ist in der ersten Ausführungsform
die reflektierende Elektrode 10 ausgebildet, um sich entlang
der oberen Oberfläche
der Planarisierungsschicht 9 und der Seiten oberfläche der Öffnung 9a der
Planarisierungsschicht 9 zu erstrecken, wodurch der reflektierende
Bereich 60a problemlos vergrößert wird.
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Als
nächstes
folgt, bezugnehmend auf die 1 bis 12,
eine Erläuterung
des Herstellungsverfahrens der Flüssigkristallanzeige vom transflektiven
Typ in der ersten Ausführungsform.
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Wie
in 6 gezeigt, ist eine aktive Schicht 2,
die aus Nicht-Einkristall-Silicium oder amorphem Silicium in einer
Dicke von etwa 30 nm bis etwa 50 nm besteht, in einem vorbestimmten
Bereich auf einem Glassubstrat 1 ausgebildet, das mit einer
aus einer SiNx-Schicht und einer SiO2-Schicht bestehenden Pufferschicht 1a bereitgestellt
ist. Folglich ist die Gate-Isolierschicht 3 aus der Laminatschicht
geformt, welche aus der SiNx-Schicht und
der SiO2-Schicht besteht, so ausgebildet,
dass sie eine Dicke von etwa 80 nm bis etwa 150 nm aufweist und die
aktive Schicht abdeckt. Somit ist die Mo-Schicht 45 über der
gesamten Oberfläche
in einer Dicke von etwa 200 nm bis etwa 250 nm ausgebildet.
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Anschließend werden
die Gate-Leitung 4a, einschließlich der Gate-Elektrode 4,
die auch als lichtabschirmende Schicht (siehe 1)
dient, und die Zusatzkapazitätsleitung 5,
die auch als lichtabschirmende Schicht dient, durch Strukturierung
der Mo-Schicht 45 mittels
Photolithographie und Trockenätzen,
wie in 7 gezeigt, ausgebildet. Insbesondere das Seitenende 4b der
Gate-Leitung 4a (siehe 2) ist ausgebildet,
um sich zum transmissiven Bereich 60b hin über jenen
Bereich hinaus zu erstrecken, in dem sich eines der Seitenenden 9c der Öffnung 9a an
der später
beschriebenen Planarisierungsschicht 9 befindet. Ferner
ist das Seitenende 5a der Zusatzkapazitätsleitung 5 (siehe 3)
ausgebildet, um sich zum transmissiven Bereich 60b hin über jenen
Bereich hinaus zu erstrecken, in dem sich die restlichen drei der
Seitenenden 9c befinden. Um die elektrische Verbindung
zwischen der Gate-Leitung 4a und
der Zusatzkapazitätsleitung 5,
wie in 4 gezeigt, zu trennen, wird ein Teil des Seitenendes 4b, das
sich in der Nähe
der Zusatzkapazitätsleitung 5 befindet,
nicht über
jenen Bereich hinaus ausgebildet, in dem sich das Seitenende 9c befindet.
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Danach
werden Fremdionen eingebaut, indem die Gate-Elektrode 4 als
Maske verwendet wird, wodurch der Source-Bereich 2a und
der Drain-Bereich 2b ausgebildet werden. Der Abschnitt
zwischen dem Source-Bereich 2a und dem Drain-Bereich 2b dient
als Kanalbereich 2c.
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Als
nächstes
wird, wie in 8 gezeigt, die Zwischenisolierschicht 6 aus
der Laminatschicht, die aus der SiO2-Schicht
und der SiNx-Schicht besteht, in einer Dicke
von etwa 500 nm bis etwa 700 nm über der
gesamten Oberfläche
ausgebildet. Danach werden die Kontaktlöcher 6a und 6b in
jenen Bereichen ausgebildet, die dem Source-Bereich 2a bzw.
dem Drain-Bereich 2b in der Zwischenisolierschicht 6 entsprechen.
Die Source-Elektrode 7 und die Drain-Elektrode 8,
die jeweils von unterhalb bis oberhalb aus einer Mo-Schicht, einer
Al-Schicht und einer Mo-Schicht bestehen, werden über die
Kontaktlöcher 6a und 6b in
einer Dicke von 400 nm bis etwa 800 nm so ausgebildet, dass sie
mit dem Source-Bereich 2a bzw. dem Drain-Bereich 2b elektronisch
verbunden sind. Zu diesem Zeitpunkt besteht die Drain-Leitung 8a auch
aus der gleichen Schicht wie jener der Drain-Elektrode 8 (siehe 1).
Anschließend
wird die aus Acrylharz bestehende Planarisierungsschicht 9 in
einer Dicke von etwa 2 μm
bis etwa 3 μm über der gesamten
Oberfläche
ausgebildet.
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Danach
wird, wie in 9 gezeigt, das Glassubstrat 1 auf
dem nicht angeführten
Substratträger im
Belichtungsgerät
platziert. Ferner wird eine Photomaske 20 mit den Öffnungen 20a und 20b in
jedem der Bereiche angeordnet, die dem transmissiven Bereich 60b (siehe 1)
und jenem Bereich entsprechen, welcher der Source-Elektrode 7 oberhalb
der Planarisierungsschicht 9 entspricht. Wie in 10 gezeigt,
sind die Öffnungen 9a und 9b in
jenem Bereich, welcher dem transmissiven Bereich 60b bzw. jenem
Bereich ausgebildet, welcher der Source-Elektrode 7 entspricht,
und zwar durch Entwicklung nachdem der vorbestimmte Abschnitt der
Planarisierungsschicht 9 mittels Photomaske 20 dem
Lichtstrahl ausgesetzt worden ist. Zu diesem Zeitpunkt wird der
auf dem Substratträger
im Belichtungsvorgang turbulent reflektierte Lichtstrahl von der
Gate-Leitung 4a (siehe 1) und der
Zusatzkapazitätsleitung 5 abgeschirmt,
wodurch verhindert wird, dass der Bereich, in welchen das Seitenende 9c der Öffnung 9a an
der Planarisierungsschicht 9 ausgebildet ist, mit dem Licht strahl
bestrahlt wird. Folglich wird vermieden, dass sich am Seitenende 9c eine
Vertiefung ausbildet.
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Als
nächstes
bildet sich, wie in 11 gezeigt, bei einem vorbestimmten
Winkel an der Seitenoberfläche
jeder der Öffnungen 9a und 9b an
der Planarisierungsschicht 9 durch etwa 30-minütige Wärmebehandlung
eine Abschrägung
aus.
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In
der Folge wird eine nicht angeführte AlNd-Schicht
in einer Dicke von etwa 80 nm bis etwa 200 nm über der gesamten Oberfläche ausgebildet und
dann ein vorbestimmter Bereich der AlNd-Schicht entfernt. Danach
wird, wie in 12 gezeigt, die reflektierende
Elektrode 10 so ausgebildet, dass die Öffnung 10a in jenem
Bereich vorliegt, welcher dem transmissiven Bereich 60b entspricht und
mit der Source-Elektrode 7 über die Öffnung 9b elektronisch
verbunden ist und sich entlang der oberen Oberfläche der Planarisierungsschicht 9 und
der Seitenoberfläche
der Öffnung 9a erstreckt.
Auf diese Weise sind der reflektierende Bereich 60a mit
der daraus ausgebildeten reflektierenden Elektrode 10 und
der transmissive Bereich 60b ohne darauf ausgebildete reflektierende
Elektrode bereitgestellt. Die transparente Elektrode 11 aus
IZO und die nicht gezeigte Ausrichtungsschicht sind nacheinander
in einer Dicke von etwa 100 nm bis etwa 150 nm auf der reflektierenden
Elektrode 10 und der Zwischenisolierschicht 6,
welcher der Öffnung 10a entspricht, ausgebildet.
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Schließlich ist
der Farbfilter 13 auf dem Glassubstrat (nämlich dem
Gegensubstrat) 12 ausgebildet, das dem Glassubstrat 1 gegenüberliegt,
und ferner ist die schwarze Matrix 14 in jenem Bereich
ausgebildet, welcher den Pixeln auf dem Glassubstrat 12 entspricht.
Als nächstes
werden die Gegenelektrode 15 aus IZO und die nicht angeführte Ausrichtungsschicht
nacheinander in einer Dicke von etwa 100 nm bis etwa 150 nm auf
dem Farbfilter 13 und der schwarzen Matrix 14 ausgebildet.
Schließlich
wird die Flüssigkristallschicht 16 zwischen
der Ausrichtungsschicht auf der Seite des Glassubstrats 1 und der
Ausrichtungsschicht auf der Seite des Glassubstrats 12 eingelagert,
wodurch die in 5 gezeigte Flüssigkristallanzeige
gebildet wird.
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Bezugnehmend
auf 13 unterscheidet sich eine Flüssigkristallanzeige in einer
ersten Modifikation der ersten bevorzugten Ausführungsform von jener in der
ersten bevorzugten Ausführungsform hinsichtlich
eines an der oberen Oberfläche
der Planarisierungsschicht 9 ausgebildeten fein uneinheitlichen
Diffusionsbereichs 9d. Eine in einem dem Diffusionsbereich 9d entsprechenden
Bereich befindliche reflektierende Elektrode 30 und transparente
Elektrode 31 sind ebenfalls in einer Form ausgebildet,
die die fein uneinheitliche Form des Diffusionsbereichs 9d reflektiert.
Folglich kann der auf den reflektierenden Bereich 60a einfallende
Lichtstrahl gestreut werden, wodurch die Anzeigequalität im Fall
der reflektierenden Anzeige zusätzlich
verbessert wird.
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Bezugnehmend
auf 14 unterscheidet sich eine Flüssigkristallanzeige in einer
zweiten Modifikation der ersten bevorzugten Ausführungsformen von jener in der
ersten Ausführungsform
hinsichtlich dessen, dass an der abgeschrägten Seitenoberfläche der Öffnung 9a keine
reflektierende Elektrode 40 ausgebildet ist, während eine
reflektierende Elektrode 40 nur in einem vorbestimmten
Bereich an der oberen Oberfläche
der Planarisierungsschicht 9 ausgebildet ist. Auf der Seitenoberfläche der
Planarisierungsschicht 9 und der Zwischenisolierschicht 6,
die sich im transmissiven Bereich 60b auf der reflektierenden
Elektrode 40 befinden, ist eine transparente Elektrode 41 ausgebildet.
Flüssigkristallmoleküle nahe
der abgeschrägten
Seitenoberfläche
der Öffnung 9a neigen
dazu, fehlangeordnet zu werden. Die Bildung der reflektierenden
Elektrode 40 ausschließlich
an der oberen Oberfläche
der Planarisierungsschicht 9 kann verhindern, dass in den
reflektierenden Bereich 60a einfallende Lichtstrahlen auf
der abgeschrägten
Seitenoberfläche
der Öffnung 9a reflektiert
werden. Folglich kann verhindert werden, dass der reflektierte Lichtstrahl
durch die Flüssigkristallschicht 16 dringt,
die sich an der abgeschrägten
Seitenoberfläche
befindet, womit eine Kontrastverschlechterung vermieden wird.
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Bezugnehmend
auf 15, wird eine Struktur beschrieben, die keine
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung ist. Die Struktur in 15 unterscheidet
sich von der ersten bevorzugten Ausführungsform dahingehend, dass
ein schwarzer Matrixfilm 50 auch auf einem nicht angeführten Glassubstrat
oder zwischen dem nicht angeführten Glassubstrat
und einer Pufferschicht ausgebildet ist. Eine Öffnung 50a ist in
einem Quadrat in Draufsicht in einem Bereich, welcher dem transmissiven
Bereich 60b auf dem schwarzen Matrixfilm 50 entspricht,
ausgebildet, um den transmissiven Bereich 60b zu umgeben.
Zudem ist ein Seitenende 50b der Öffnung 50a so ausgebildet,
dass es sich zum transmissiven Bereich 60b über einen
Bereich hinaus hin erstreckt, in dem sich ein Seitenende 9c einer Öffnung 9a der
Planarisierungsschicht 9 befindet. Dies bedeutet, dass
der schwarze Matrixfilm 50 zusätzlich dazu, als normale Lichtabschirmung
zwischen Pixels zu dienen, auch als lichtabschirmende Schicht dient,
die verhindert, dass ein Bereich, in dem das Seitenende 9c ausgebildet
ist, mit einem turbulent reflektierten Lichtstrahl bei der Belichtung
der Planarisierungsschicht 9 bestrahlt wird.
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Im
Gegensatz zur ersten bevorzugten Ausführungsform sind, da die Gate-Leitung 54a der Gate-Elektrode 54 und
die Zusatzkapazitätsleitung 55 nicht
als lichtabschirmende Schichten dienen müssen, ein Seitenende 54b der
Gate-Leitung 54a und ein Seitenende 55a der Zusatzkapazitätsleitung 55 nicht
so ausgebildet, dass sie sich zum transmissiven Bereich 60b hin über jenen
Bereich erstrecken, in dem sich das Seitenende 9c befindet.
Darüber
hinaus ist ein vorbestimmter Raum zwischen der reflektierenden Elektrode 10 und
der Gate-Leitung 54a, wie in der Draufsicht zu erkennen
ist, ausgebildet. Ferner ist eine nicht angeführte Isolierschicht zwischen
dem schwarzen Matrixfilm 50 und einer aktiven Schicht 2 für den Fall
angeordnet, bei dem der schwarze Matrixfilm 50 aus einem
aus Metall, etc. bestehenden Leiter ausgebildet ist. Die andere
Konfiguration in 15 ist gleich wie jene in der
ersten bevorzugten Ausführungsform.
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Wie
oben beschrieben, da die als lichtabschirmende Schicht fungierende
Schicht nur aus schwarzem Matrixfilm 50, wie in 15 angeführt, besteht,
kann die lichtabschirmende Schicht (nämlich der schwarze Matrixfilm 50)
so ausgebildet sein, dass sie sich zum transmissiven Bereich 60b hin über den gesamten
Bereich erstreckt, in dem sich das Seitenende 9c der Öffnung 9a an
der Planarisierungsschicht 9 befindet. Auf diese Weise
liegt die lichtabschirmende Schicht (nämlich der schwarze Matrixfilm 50)
immer unterhalb jenes Bereichs vor, in dem sich das Seitenende 9c befin det,
anders wie die erste bevorzugte Ausführungsform. Folglich kann verhindert werden,
dass jener Bereich, in dem sich das Seitenende 9c bildet,
im Belichtungsvorgang zur Ausbildung der Öffnung 9a mit dem
turbulent reflektierten Lichtstrahl bestrahlt wird. Somit kann verhindert
werden, dass ein Teil des Seitenendes 9c entfernt wird, wodurch
verhindert werden kann, dass sich eine Vertiefung aufgrund turbulent
reflektierter Lichtstrahlen am Seitenende 9c ausbildet,
womit vermieden werden kann, dass ein Bild, das die Vertiefung an
der reflektierenden Elektrode 10 reflektiert, auf einem Schirm
angezeigt wird. Somit kann eine Verschlechterung der Anzeigequalität verhindert
werden.
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Ferner
kann der normale schwarze Matrixfilm 50 zur Abschirmung
von Licht zwischen Pixeln auch als lichtabschirmende Schicht fungieren,
um die turbulente Reflexion von Lichtstrahlen während der Belichtung der Planarisierungsschicht 9 mit
dem Lichtstrahl zu verhindern, wodurch die Notwendigkeit für ein zusätzliches
Verfahren zur Ausbildung einer lichtabschirmenden Schicht entfällt, womit
eine Verkomplizierung des Herstellungsverfahrens vermieden wird.
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Daraus
geht hervor, dass die oben angeführten
bestimmten bevorzugten Ausführungsformen
nur zur Veranschaulichung und in keinem Punkt als Einschränkung dienen
sollen. Daher ist der Schutzumfang der vorliegenden Erfindung nicht
in den oben dargestellten bevorzugten Ausführungsformen beschrieben, sondern
wird in den Ansprüchen
beansprucht. Ferner umfasst die vorliegende Erfindung sämtliche
Modifizierungen und Veränderungen
hinsichtlich Zweck und Schutzumfang, die jenen in den Ansprüchen gemäß der vorliegenden
Erfindung beanspruchten entsprechen.
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Die
vorliegende Erfindung lässt
sich auf Flüssigkristallanzeigen
zusätzlich
zu Flüssigkristallanzeigen
vom Aktivmatrixtyp unter Verwendung eines Dünnschichttransistors (TFT)
anwenden. Flüssigkristallanzeigen
umfassen beispielsweise Flüssigkristallanzeigen
vom Passivmatrixtyp und Flüssigkristallanzeigen
vom Segmenttyp. Außerdem
lässt sich
die vorliegende Erfindung auch auf andere Anzeigen als Flüssigkristallanzeigen
anwenden.
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Ferner
kann sich die lichtabschirmende Schicht zumindest entlang des Seitenendes
der Öffnung
der Planarisierungsschicht erstrecken.
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Ansonsten
kann die reflektierende Elektrode so ausgebildet sein, dass sie
sich bis zur Gate-Leitung so erstreckt, dass sich zwischen der reflektierenden
Elektrode und der Gate-Leitung kein Zwischenraum ausbildet. Oder,
wie in 16 gezeigt, kann eine schwarze
Matrix 70 auf solche Weise ausgebildet sein, dass sie sich
bis zur Gate-Leitung 54a so
erstreckt, dass sich zwischen der reflektierenden Elektrode 10 und
der Gate-Leitung 54a kein Zwischenraum ausbildet. Auf diese
Weise kann verhindert werden, dass ein aus der Hintergrundbeleuchtung
ausgestrahlter Lichtstrahl zwischen der reflektierenden Elektrode 10 und
der Gate-Leitung 54a durchdringt.
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Alternativ
dazu kann die lichtabschirmende Schicht jeweils Teil der Gate-Leitung
oder der Zusatzkapazitätsleitung
sein.
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Anstelle
des Glassubstrats kann jedoch auch ein aus Quarz oder Kunststoff
bestehendes durchlässiges
Substrat verwendet werden. Dabei ist gegebenenfalls keine Pufferschicht
auf dem Substrat ausgebildet.
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Ansonsten
kann eine transparente Elektrode verwendet werden, die aus einem
durchlässigen
Leiter (einschließlich
eines so genannten halbdurchlässigen
Elements) aus ITO (nämlich
Indiumzinnoxid) statt IZO besteht.
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Alternativ
dazu kann eine der Öffnung 9a entsprechende
Vertiefung an der Planarisierungsschicht ausgebildet sein.