DE4228213C2 - Integrierte Halbleiterspeicherschaltung und Verfahren zu ihrem Betreiben - Google Patents
Integrierte Halbleiterspeicherschaltung und Verfahren zu ihrem BetreibenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine integrierte Halbleiterspeicher
schaltung nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1 sowie
ein Lese- und ein Schreibverfahren zu ihrem Betreiben.
Eine gattungsgemäße Halbleiterspeicherschaltung ist beispiels
weise aus "IEEE Journal of Solid-State Circuits", Vol. SC-19,
No. 5, October 1984, S. 602 bis 609, bekannt. Dabei handelt es
sich um ein 256k-DRAM. Dieser bekannte Speicher weist, wie
praktisch alle bekannten DRAM-Speicher, über die Merkmale des
Oberbegriffes des Patentanspruches 1 hinaus noch eine zusätz
liche Datenbusleitung auf, d. h. insgesamt ein Paar von Daten
busleitungen sowie einen zusätzlichen Verstärker, der auf bei
de Leitungen des Paares von Datenbusleitungen wirkt. Im Betrieb
weisen die Leitungen des Paares von Datenbusleitungen, wie all
gemein bekannt, sowohl bei einem Einschreibvorgang wie auch
bei einem Auslesevorgang zueinander komplementäre Signale auf.
Damit besteht folgendes Problem: Bei einem Einschreibvorgang
müssen aus dem an einer Klemme oder Leitung für Dateneingang
anliegenden, einzuschreibenden Dateneingangssignal (im allge
meinen mit "DI" bezeichnet) zwei zueinander komplementäre Si
gnale erzeugt werden, die dann über den zusätzlichen Verstär
ker auf das Paar von Datenbusleitungen gelangen, von wo aus
dann eines der beiden Signale in eine Speicherzelle ein
schreibbar ist. Dies bedingt einen Aufwand an Schaltungen zur
Erzeugung der beiden zueinander komplementären Signale sowie
eine Leitungsführung von zwei Leitungen, nämlich die des Paa
res von Datenbusleitungen.
Der zusätzliche Verstärker ist nach Art eines getasteten
Flip-Flops aus zwei kreuzgekoppelten Invertern mit zusätzli
chen Steuertransistoren gebildet. Er ist üblicherweise als
sogenannte Rasterschaltung ausgelegt, was bedeutet, daß an
sich mögliche Verkleinerungen seines Layouts aufgrund beste
hender Spezifikationsvorschriften über Rasterschaltungen in
der Praxis häufig nicht möglich sind, da diese Verkleinerungen
zu gering sind, um layoutmäßig in ein nächstmögliches, klei
neres Raster zu passen. Weiterhin müssen zu seiner Steuerung
auch entsprechende Taktsignale erzeugt werden.
Ein ähnliches Problem besteht bezüglich eines Auslesevorgan
ges: Auch hier wird derselbe, zusätzliche Verstärker verwen
det, was Layoutverbesserungen im Hinblick auf geringeren
Flächenbedarf enge Grenzen setzt. Weiterhin sind Schaltungen
nötig, um aus zwei zueinander komplementären Signalen, von
denen eines bekanntlich dem ursprünglich aus einer Speicher
zelle ausgelesenen Lesesignal entspricht, ein einzelnes Signal
abzuleiten und dieses als Datenausgangssignal (allgemein mit
"DO" bezeichnet) an eine entsprechende Klemme oder Leitung für
Datenausgang geben zu können.
Eine andere ähnliche Halbleiterspeicheranordnung ist in der
DE-A1-33 34 560 beschrieben. Der Halbleiterspeicher weist ei
nen einzigen Eingabe-/Ausgabeanschluß auf, der speicherintern
mittels entsprechender Treiberschaltungen in zueinander kom
plementäre Datensignale umgesetzt wird. Für Dateneingabe und
Datenausgabe ist je ein Paar komplementärer Datenleitungen
vorgesehen. Die Datenleitungen sind mit den Anschlüssen eines
Leseverstärkers verbunden.
In der US-A-4 740 922 ist ein Halbleiterspeicher gezeigt,
dessen interne Leseverstärker auf Seite des Speicherzellen
feldes mit zwei zueinander komplementäre Signale führenden
Bitleitungen verbunden sind und auf Seite der Außenanschlüsse
der Halbleiterspeicheranordnung mit einer einzigen Datenbus
leitung verbunden sind.
In der US-A-3 959 781 ist ein Leseverstärker gezeigt, der ei
nen Anschluß aufweist, der mit einer Eingabe-/Ausgabebus
leitung verbunden ist.
Die Aufgabe der Erfindung ist es, eine Halbleiterspeicher
schaltung anzugeben, die einen geringen Schaltungsaufwand für
die Dateneingabe und -ausgabe mit hoher Störsicherheit bei
einem Lese- oder Schreibvorgang aufweist.
Diese Aufgabe wird bei einer gattungsgemäßen Halbleiterspei
cherschaltung gelöst mit den kennzeichnenden Merkmalen des
Patentanspruches 1. Entsprechende Betriebsverfahren sind in
den Ansprüchen 12 und 13 gekennzeichnet.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Zeichnung näher
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 bis 3 mögliche Ausführungsformen der Erfindung,
Fig. 4 und 5 Timingdiagramme für die Betriebsverfahren.
Fig. 1 zeigt aus üblichen Halbleiterspeichern bereits bekannte
Merkmale: Speicherzellen MC, die über Wortleitungen WL und
Bitleitungen BL bzw. adressierbar sind, interne Lesever
stärker SA, die allgemein als "Sense Amplifier" bekannt sind,
einen Wortleitungsdecoder WLDEC und einen Bitleitungsdekoder
BLDEC sowie, erfindungsgemäß, eine einzige Datenbusleitung DB,
und Schaltmittel BS, mittels denen die Datenbusleitung DB mit
dem Ausgang eines jeweiligen internen Leseverstärkers SA ver
bindbar ist. Zwar können auch, was nicht dargestellt ist,
mehrere Datenbusleitungen in der Halbleiterspeicherschaltung
vorhanden sein. Dann dürfen erfindungsgemäß die Leseverstärker
nur jeweils mit einer einzigen der Datenbusleitungen über ein
dem einzelnen Leseverstärker zugehöriges Schaltmittel verbind
bar sein. Die Schaltmittel BS sind allgemein als "Bitschalter"
bekannt und meist als Transfertransistoren realisiert. Die in
ternen Leseverstärker SA sind jeweils mit einem Paar (BLP) von
Bitleitungen BL, verbunden. Sie sind meist, wie bereits ein
gangs anhand des vom Stand der Technik her bekannten zusätzli
chen Verstärkers beschrieben, nach Art eines getasteten Flip
flops mit zwei kreuzgekoppelten Invertern und zusätzlichen
Steuertransistoren ausgestattet. Die beiden Eingänge eines
Leseverstärkers SA sind üblicherweise mit dem Paar (BLP) von
Bitleitungen BL, verbunden und dienen (meist) gleichzeitig
als Ausgänge, welche dann beim Stand der Technik über die Bit
schalter (= Schaltmittel BS) mit dem Paar von Datenbusleitun
gen verbunden sind. Vorliegend ist erfindungsgemäß jedoch nur
jeweils einer dieser beiden Ausgänge mit der (erfindungsgemäß
nur einzigen) Datenbusleitung DB über einen Bitschalter
(= Schaltmittel BS) verbunden. Die Leseverstärker dienen, wie
allgemein bekannt, einem Bewerten und Verstärken eines aus
einer Speicherzelle MC ausgelesenen Datums, das zunächst als
Lesesignal mit geringem Hub vorliegt. Sie können jedoch auch
beim Einschreiben eines Datums in eine Speicherzelle MC ver
wendet werden. Auch wenn sie in diesem Fall tatsächlich als
Schreib-Verstärker verwendet werden, so spricht die Fachwelt
trotzdem auch in diesem Fall von einem "Lese-"Verstärker. Aus
diesem Grund wird vorliegend dieser Verstärker SA auch weiter
hin als "Leseverstärker SA" bezeichnet, auch wenn er, wie
nachstehend noch anhand eines Einschreibbetriebsverfahrens
gezeigt wird, tatsächlich auch als Schreibverstärker verwendet
wird.
Der Wortleitungsdekoder WLDEC wählt, wie allgemein bekannt,
aufgrund von an ihm angelegten Adreßsignalen eine der Wort
leitungen WL aus. Entsprechend wählt der Bitleitungsdecoder
BLDEC, wie ebenfalls allgemein bekannt, über ein Schaltmittel
BS einen der internen Leseverstärker SA, und somit auch das
diesem zugeordnete Paar (BLP) von Bitleitungen BL, und wei
terhin im Zusammenwirken mit der ausgewählten Wortleitung WL
eine Speicherzelle MC sowohl zum Schreiben wie auch zum Lesen
aus.
Über diese großenteils bekannten Mittel hinaus sind erfindungs
gemäß folgende weitere Mittel vorgesehen:
Die einzige Datenbusleitung DB ist über ein Schreib-Schaltmit
tel T-WR (in Fig. 1 als Transfertransistor realisiert) mit dem
Ausgang einer ersten Treiberschaltung DVR-WR verbunden. Am
Eingang der ersten Treiberschaltung DVR-WR liegt mittels einer
ersten Leitung zumindest im Schreibbetrieb ein Dateneingangs
signal DI an, das in eine Speicherzelle MC einzuschreiben ist
(wobei zunächst noch offen bleiben kann, ob dieses in seiner
"wahren" Form oder in einer dazu komplementären Form erfolgt).
Die erste Treiberschaltung DVR-WR verstärkt das Dateneingangs
signal DI. Im Schreibbetrieb ist das Schreib-Schaltmittel T-WR
elektrisch leitend geschaltet, ansonsten ist es gesperrt. Dies
erfolgt mittels eines Schreib-Steuersignales WR.
Die Datenbusleitung DB ist weiterhin mit dem Eingang einer zwei
ten Treiberschaltung DVR-RD verbunden. Diese verstärkt beim
Auslesen eines Datums aus einer Speicherzelle MC ein dadurch
auf der Datenbusleitung DB entstehendes Signal, welches ent
weder dem ausgelesenen Datum oder einem dazu komplementären Da
tum entspricht. Der Ausgang der zweiten Treiberschaltung DVR-RD
ist mit einem Lese-Schaltmittel T-RD verbunden, welches im
Beispiel von Fig. 1 als Transfertransistor realisiert ist. Im
Lesebetrieb ist das Lese-Schaltmittel T-RD elektrisch leitend
geschaltet, ansonsten ist es gesperrt. Das Lese-Schaltmittel
T-RD ist mittels eines Lese-Steuersignals RD gesteuert. Als
erste bzw. zweite Treiberschaltung DVR-WR, DVR-RD könnte bei
spielsweise eine solche nach der US-A 4,823,031 verwendet
werden.
Derjenige der Leseverstärker SA, der über sein mit ihm verbun
denes Paar BLP von Bitleitungen BL, mit der adressierten
Speicherzelle MC verbunden ist, ist sowohl im Lesebetrieb wie
auch im Schreibbetrieb als Verstärker aktiviert. Das Aktivie
ren erfolgt mittels eines Taktsignales ΦSA. Anhand der Fig.
1 und 4 wird nunmehr ein erfindungsgemäßes Verfahren zum Ein
schreiben von Daten in Speicherzellen MC dieser Halbleiter
speicherschaltung beschrieben:
Nach Beginn eines sogenannten Schreibzyklus wird an die erste Leitung, die beispielsweise mit einem Anschlußpad des Halb leiterchips, der die erfindungsgemäße Halbleiterspeicherschal tung enthält, verbunden sein kann oder mit sonstigen Schaltungs teilen, die sich zusätzlich zur Halbleiterspeicherschaltung auf dem Halbleiterchip befinden können, das Dateneingangssi gnal DI mit einem definierten logischen Pegel angelegt, so daß das Dateneingangssignal DI, welches in eine Speicherzelle MC einzuschreiben ist (entweder mit seinem "wahren" logischen Wert oder mit einem dazu komplementären logischen Wert, was noch beschrieben wird), zu einem ersten Zeitpunkt t1 den definierten logischen Pegel aufweist.
Nach Beginn eines sogenannten Schreibzyklus wird an die erste Leitung, die beispielsweise mit einem Anschlußpad des Halb leiterchips, der die erfindungsgemäße Halbleiterspeicherschal tung enthält, verbunden sein kann oder mit sonstigen Schaltungs teilen, die sich zusätzlich zur Halbleiterspeicherschaltung auf dem Halbleiterchip befinden können, das Dateneingangssi gnal DI mit einem definierten logischen Pegel angelegt, so daß das Dateneingangssignal DI, welches in eine Speicherzelle MC einzuschreiben ist (entweder mit seinem "wahren" logischen Wert oder mit einem dazu komplementären logischen Wert, was noch beschrieben wird), zu einem ersten Zeitpunkt t1 den definierten logischen Pegel aufweist.
Zu einem später liegenden zweiten Zeitpunkt t2 wird ein Vorla
detaktsignal ΦVPC deaktiviert. Es war ursprünglich entweder zu
Beginn dieses Zyklus oder, was meist üblich ist, noch gegen
Ende eines vorhergehenden Speicherzyklus aktiviert worden. Das
Vorladetaktsignal ΦVPC dient, wie allgemein bekannt auf dem
Gebiet von Halbleiterspeichern, einem Vorladen der Bitleitungen
BL, sowie der erfindungsgemäß einzigen Datenbusleitung
DB auf einen Vorladepegel VPC, der in etwa die Hälfte beträgt
der Differenz von zwei Versorgungspotentialen, die den Lese
verstärkern SA in aktiviertem Zustand als Spannungsversorgung
dienen. Eine zugehörige, vom Stand der Technik her allgemein
bekannte, Vorladeschaltung wurde aus Gründen der Übersicht
lichkeit in den Figuren nicht dargestellt. In Fig. 4 sind
diese Versorgungspotentiale mit VDD und VSS angenommen, was
den Versorgungspotentialen der gesamten Halbleiterspeicher
schaltung entspricht. Mittlerweile sind dafür jedoch auch
andere Werte, insbesondere solche mit geringerem Wert, üblich
("reduzierte Versorgungsspannung im Zellenfeld"). Zum Zeit
punkt t2 sind also die Bitleitungen BL, und die Datenbus
leitung DB auf den Vorladepegel VPC vorgeladen.
Zu einem, wiederum später liegenden, dritten Zeitpunkt t3
wird das Schreib-Schaltmittel T-WR elektrisch leitend ge
schaltet. Dadurch gelangt das Dateneingangssignal DI, ver
stärkt mittels der ersten Treiberschaltung DVR-WR, auf die
Datenbusleitung DB.
Irgendwann in einem ersten Zeitraum, der zwischen dem zweiten
Zeitpunkt t2 und einem, nochmals später liegenden, vierten
Zeitpunkt t4 liegt, wird mittels des Bitleitungsdekoders BLDEC
aufgrund von an diesem anliegenden sogenannten Column-Addreß-
Signalen das Schaltmittel BS (allgemein als "Bitschalter" be
kannt) eines der Leseverstärker SA elektrisch leitend geschal
tet. Dadurch wird dieser Leseverstärker SA ausgewählt. Somit
gelangt das (verstärkte) Dateneingangssignal DI von der Daten
busleitung DB aus an den ausgewählten Leseverstärker SA. Da
wenigstens einer von dessen Eingängen, wie bereits eingangs
erläutert, gleichzeitig Ausgang des Leseverstärkers SA ist
(und umgekehrt), gelangt somit das verstärkte Dateneingangs
signal DI auch an die eine Bitleitung BL. Dies wiederum be
wirkt auf der einen Bitleitung BL eine Potentialänderung,
während die andere Bitleitung ihren vorgeladenen Zustand
(Vorladepotential VPC) zunächst beibehält. Aus Gründen der
Übersichtlichkeit ist dieses Leitend-Schalten des Schaltmit
tels BS in Fig. 4 nicht dargestellt, es ist jedoch angenommen,
daß dies ganz kurz vor dem Zeitpunkt t4 geschieht.
Zum vierten Zeitpunkt t4 wird der ausgewählte Leseverstärker
SA (im allgemeinen ebenso wie die restlichen, mit der Daten
busleitung DB über (allerdings gesperrte) Schaltmittel BS
verbundene Leseverstärker SA) mittels eines Taktsignales ΦSA
aktiviert. Dieser Vorgang als solcher ist bereits bekannt; da
bei wird im allgemeinen das Versorgungspotential VSS an den
jeweiligen Leseverstärker SA geschaltet. Die beiden mit dem
ausgewählten Leseverstärker SA verbundenen Bitleitungen BL,
des Bitleitungspaares BLP weisen aufgrund des bisherigen Vor
gehens unterschiedliche Potentiale auf (verstärktes Datenein
gangssignal DI auf der einen Bitleitung BL; Vorladepotential
VPC auf der anderen Bitleitung ). Deshalb kippt der ausge
wählte Leseverstärker SA, wie ein Flipflop, in eine stabile
Lage, wobei die eine Bitleitung BL eine Potential annimmt, das
mit seinem logischen Wert dem Dateneingangssignal DI entspricht
und wobei die andere Bitleitung ein Potential annimmt, das
mit seinem logischen Wert dem komplementären Wert des Daten
eingangssignals DI entspricht.
In einem zweiten Zeitraum, der zwischen dem dritten Zeitpunkt
t3 und spätestens kurz vor einem fünften Zeitpunkt t5 liegt,
wird über den Wortleitungsdekoder WLDEC eine der Wortleitungen
WL adressiert. Aus Gründen der Übersichtlichkeit, und weil die
ser Vorgang als solcher allgemein bekannt ist, ist dies in
Fig. 4 nicht eingezeichnet. Dadurch werden alle Speicherzellen
MC entlang der Wortleitung WL adressiert, weil die Wortleitung
WL deren Auswahltransistoren elektrisch leitend schaltet.
In einem ersten Beispiel nach Fig. 1 (Fall 1) sei nun angenom
men, daß die ganz links dargestellte Wortleitung WL adressiert
sei und daß diejenigen der Schaltmittel BS durch den Bitlei
tungsdekoder BLDEC elektrisch leitend geschaltet seien, die
dem obersten dargestellten Leseverstärker SA zugeordnet sind.
Damit führt die oberste der dargestellten eine Bitleitung BL
das verstärkte Dateneingangssignal DI, während die oberste
dargestellte andere Bitleitung ein dazu komplementäres Si
gnal führt. Deshalb gelangt nun das verstärkte Eingangssignal
DI an den Speicherkondensator der einen Speicherzelle MC, die
in Fig. 1 links oben gezeichnet ist, und lädt bzw. entlädt
diesen entsprechend dem logischen Wert des Dateneingangssig
nals DI, d. h. der ursprüngliche Inhalt der Speicherzelle MC
wird mit Wert des Dateneingangssignals DI überschrieben.
In einem weiteren Beispiel nach Fig. 1 (Fall 2) sei bei anson
sten unveränderten Randbedingungen nun angenommen, daß nicht
die eine Wortleitung WL, die in Fig. 1 ganz links dargestellt
ist, durch den Wortleitungsdekoder WLDEC ausgewählt sei, son
dern vielmehr die dieser Wortleitung WL benachbart dargestell
te Wortleitung WL. In diesem Fall wird diejenige Speicherzelle
MC ausgewählt, die einerseits mit dieser Wortleitung WL und
andererseits mit der anderen Bitleitung des ausgewählten
Leseverstärkers SA verbunden ist. Somit wird in diese Spei
cherzelle MC nicht das verstärkte Dateneingangssignal DI ge
schrieben, sondern das dazu komplementäre Signal. Dies wird
bei einem Auslesen jedoch berücksichtigt, wie nachstehend noch
gezeigt wird.
Ab dem bereits erwähnten fünften Zeitpunkt t5 werden das
Schreibschaltmittel T-WR wieder gesperrt und die Leseverstär
ker SA deaktiviert. Ebenso werden die Wort- und Bitleitungs
dekoder WLDEC, BLDEC deaktiviert. Anschließend kann dann, noch
vor Ende dieses Zyklus, erneut das Vorladen der Bitleitungen
BL, und der Datenbusleitung DB mittels des Vorladetakt
signals ΦVPC beginnen.
Anhand der Fig. 1 und 5 wird nun das erfindungsgemäße Lese
verfahren beschrieben. Dabei werden wieder die Begriffe
"erster, zweiter, usw. Zeitpunkt" verwendet. Diese sind im
Lesebetrieb jedoch nicht identisch mit den entsprechend nume
rierten Zeitpunkten, die beim zuvor beschriebenen Schreibver
fahren definiert wurden. Deshalb werden bei den entsprechenden
Bezugszeichen ausschließlich Großbuchstaben verwendet.
Innerhalb eines Lesezyklus wird zu einem ersten Zeitpunkt T1
das Vorladetaktsignal ΦVPC deaktiviert. Dieses war, ebenso wie
im Schreibbetrieb bis zum dortigen zweiten Zeitpunkt t2, bis
zum ersten Zeitpunkt T1 aktiviert, so daß bis zum ersten Zeit
punkt T1 die Bitleitungen BL, und die Datenbusleitung DB auf
den Vorladepegel VPC aufgeladen worden sind.
In einem Zeitraum, der zwischen dem ersten Zeitpunkt T1 und
einem zweiten Zeitpunkt T2 liegt, wird eine der Wortleitun
gen WL adressiert. Damit werden Daten, die in denjenigen Spei
cherzellen MC, die mit der adressierten Wortleitung WL verbun
den sind, unter Bildung von Lesesignalen auf die jeweilige,
mit der Speicherzelle MC verbundene Bitleitung BL bzw.
ausgelesen. Weiterhin wird in diesem Zeitraum das Schalt
mittel BS eines der Leseverstärker SA mittels des Bitleitungs
dekoders BLDEC, der an ihm anliegende Adreßsignale dekodiert,
elektrisch leitend geschaltet. Dadurch wird dieser Leseverstär
ker SA ausgewählt.
Zum zweiten Zeitpunkt T2 werden die Leseverstärker SA, d. h.
also, auch der ausgewählte Leseverstärker SA, mittels des
Taktsignales ΦSA aktiviert. Damit werden die Lesesignale
bewertet und verstärkt, was als solches bereits Stand der
Technik ist. Aufgrund des Bewertens und Verstärkens bilden
sich bei jedem aktivierten Leseverstärker SA auf den an ihm
angeschlossenen Bitleitungen BL, zwei zueinander komplemen
täre Signale aus. Von diesen entspricht das eine Signal, welches
auf derjenigen der Bitleitungen BL, anliegt, die mit
der adressierten Speicherzelle MC verbunden ist, dem in diese
Speicherzelle MC ursprünglich eingespeicherten Datum.
Das eine, an der einen Bitleitung BL anliegende Signal der
beiden zueinander komplementären Signale des ausgewählten Le
severstärkers SA gelangt, da das entsprechende Schaltmittel BS
leitend geschaltet ist, auch auf die Datenbusleitung DB und
wird nun über die zweite Treiberschaltung DVR-RD nochmals
verstärkt.
Zu einem dritten Zeitpunkt T3 wird das Lese-Schaltmittel T-RD
elektrisch leitend geschaltet. Dadurch entsteht an der mit
diesem verbundenen zweiten Leitung das Datenausgangssignal DO.
Zu weiteren Zeitpunkten T4, T5, T6, die im Extremfall zeitlich
zusammenfallen können, werden dann das Leseschaltmittel T-RD
wieder gesperrt, der bzw. die Leseverstärker SA werden wieder
deaktiviert und das Vorladetaktsignal ΦVPC wird wieder akti
viert. Letzteres könnte auch zu Beginn eines darauffolgenden
weiteren Speicherzyklus erfolgen.
Hinsichtlich des Datenausgangssignals DO ist noch folgendes
wichtig in Bezug auf das ursprünglich in die jeweilige
adressierte Speicherzelle MC eingeschriebene Datum, das auf
einem entsprechenden Dateneingangssignal DI basiert:
Ein Dateneingangssignal DI gelangt stets über die Datenbus leitung DB auf die eine Bitleitung BL desjenigen Bitleitungs paares BLP, bezüglich dessen das Schaltmittel BS elektrisch leitend geschaltet ist (vgl. dazu Fig. 1).
Ein Dateneingangssignal DI gelangt stets über die Datenbus leitung DB auf die eine Bitleitung BL desjenigen Bitleitungs paares BLP, bezüglich dessen das Schaltmittel BS elektrisch leitend geschaltet ist (vgl. dazu Fig. 1).
Soll nun, wie bezüglich des Falles 1 beim Einschreibverfahren
bereits beschrieben, eine Speicherzelle MC beschrieben werden,
die mit der einen Bitleitung BL verbunden ist, so wird diese
Speicherzelle MC mit einem Datum beschrieben, das seinem Wert
nach dem logischen Wert des Dateneingangssignals DI entspricht.
Beim Auslesen entsteht somit auf der einen Bitleitung BL, und
somit auch auf der Datenbusleitung DB, ein Signal, das eben
falls dem logischen Wert des ursprünglichen Dateneingangssig
nales DI entspricht. Damit weist das Datenausgangssignal DO
ebenfalls einen logischen Wert auf, der gleich ist dem ursprüng
lich einzuschreibenden Dateneingangssignal DI.
Dies gilt beim Auslesen auch für den beim vorstehend beschrie
benen Schreibverfahren als zweiten Fall bezeichneten Fall: Bei
diesem zweiten Fall, bei dem die zu adressierende und zu be
schreibende Speicherzelle MC mit der anderen Bitleitung
eines Bitleitungspaares BLP verbunden ist, wurde in diese
Speicherzelle MC ein Datum eingeschrieben, welches seinem Wert
nach komplementär ist zum Dateneingangssignal DI. Beim Aus
lesen aus dieser Speicherzelle MC gelangt nun dieses komple
mentäre Datum als Lesesignal auf die andere Bitleitung und,
in dazu nochmals komplementierter Form, auf die Datenbusleitung
DB, so daß als Datenausgangssignal DO wiederum ein Signal ent
steht, dessen logischer Wert aufgrund der zweifachen Komple
mentierung gleich ist dem logischen Wert des ursprünglich ein
zuschreibenden Dateneingangssignals DI. Unabhängig von der Ad
ressierung der Speicherzellen MC gilt bei der erfindungsge
mäßen integrierten Halbleiterspeicherschaltung nach Fig. 1
also stets: das Datenausgangssignal DO ist seinem logischen
Pegel nach gleich dem ursprunglichen Dateneingangssignal DI.
In der Ausführungsform nach Fig. 2 weisen sowohl die erste
Treiberschaltung DVR-WR wie auch die zweite Treiberschaltung
DVR-RD einen invertierenden Ausgang auf. Zusätzlich dazu sind
die das Dateneingangssignal DI führende erste Leitung und die
das Datenausgangssignal DO führende zweite Leitung als eine
gemeinsame Leitung ausgeführt, die je nach Betriebsart der
Halbleiterspeicherschaltung sowohl das Dateneingangssignal DI
wie auch das Datenausgangssignal DO führen kann. Die Daten
busleitung DB ist davon nicht beeinflußt, da das Lese-Schalt
mittel T-RD und das Schreib-Schaltmittel T-WR niemals gleich
zeitig elektrisch leitend sind.
Wie bereits eingangs erwähnt, sind die Leseverstärker SA von
integrierten Halbleiterspeicherschaltungen üblicherweise als
Flipflop mit kreuzgekoppelten Transistoren ausgelegt. In einem
solchen Fall dienen die beiden Anschlüsse für das Bitleitungs
paar BLP sowohl als Eingänge wie auch als Ausgänge, d. h. der
eine Anschluß ist sowohl mit der einen Bitleitung BL wie auch
mit dem Schaltmittel BS verbunden und der andere Anschluß ist
mit der anderen Bitleitung verbunden. Während bei Halblei
terspeicherschaltungen nach dem Stand der Technik der andere
Anschluß ebenfalls mit einem weiteren Schaltmittel verbunden
ist, fehlt bei der vorliegenden Erfindung eine solche Verbin
dung. Dies führt während des Bewertungsvorganges (bei dem
das Schaltmittel BS gesperrt ist) zu einer kapazitiven Un
gleichbelastung der beiden Anschlüsse des Leseverstärkers
SA, weil an beiden Anschlüssen zwar einerseits jeweils eine
der beiden Bitleitungen BL, mit ihren parasitären Kapa
zitäten angeschlossen ist (was zu einer gleichmäßigen Ver
teilung dieser kapazitiven Last führt), aber weil jedoch an
dererseits das Schaltmittel BS mit seinen ebenfalls vorhan
denen parasitären Kapazitäten nur an dem einen Anschluß jedes
Leseverstärkers SA als kapazitive Last wirkt, während an dem
anderen Anschluß eine solche kapazitive Belastung fehlt.
In der Ausführungsform nach Fig. 2 wird dieser Nachteil vor
teilhafterweise dadurch ausgeglichen, daß dieser andere An
schluß, der je nach Betrieb sowohl als Eingang wie auch als
Ausgang des Leseverstärkers SA dient, mit einer Kapazität CBS
beschaltet ist, die wertemäßig vorzugsweise gleich dem Wert
der parasitären Kapazität des Schaltmittels BS ist. Dabei ist
es günstig, wenn die Kapazität CBS außerdem mit einem Versor
gungspotential der Halbleiterspeicherschaltung verbunden ist.
Die integrierte Halbleiterspeicherschaltung nach Fig. 3 zeigt
mehrere vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung, reali
siert bei einer einzigen Halbleiterspeicherschaltung:
Zum einen enthält jedes Schaltmittel BS, das ja in der Aus
führungsform nach den Fig. 1 und 2 als Transistoren eines
Leitungstyps, z. B. von n-Kanal-Typ, realisiert ist, zwei mit
ihren Kanalstrecken einander parallel geschaltete Transistoren
vom zueinander entgegengesetzten Leitungstyp, d. h. einen
n-Kanal-Transistor und einen p-Kanal-Transistor. Bekanntlich
lassen sich bei MOS-Transistoren vom n-Kanal-Typ Signale mit
einem High-Pegel nur übertragen unter Verlust eines Potential
wertes in der Höhe des Wertes der Einsatzspannung des jeweili
gen Transistors, sofern am Gate nicht ein Potential anliegt
mit einem Wert, der nicht mindestens um den Wert der Einsatz
spannung über dem Wert des High-Pegels liegt. Entsprechendes
gilt für p-Kanal-Transistoren bezüglich des Low-Pegels von zu
übertragenden Signalen. Um solche Potentialverluste beim Über
tragen von Signalen von der Datenbusleitung DB auf die Bitlei
tung BL und umgekehrt zu vermeiden, gibt es zwei Möglichkei
ten: zum einen Verwenden von entsprechend überhöhten bzw. er
niedrigten Gatespannungspegeln oder Parallel-Schalten zweier
Transistoren vom zueinander entgegengesetzten Leitungstyp.
Letztere Möglichkeit ist in Fig. 3 vorteilhafterweise ange
wandt. Dazu werden die Gates der beiden parallelgeschalteten
Transistoren mit Signalen von zueinander entgegengesetzten Po
tentialwerten angesteuert. Dies wird vorliegend mit den in
Fig. 3 gezeigten Invertern I1 erreicht.
Zum anderen enthalten das Schreib- und das Lese-Schaltmittel
T-WR, T-RD in Fig. 3 dieselbe schaltungstechnische Maßnahme:
Nach den Fig. 1 und 2 enthalten die Schreib- und die Lese-
Schaltmittel TWR, T-RD einen Transistor eines ersten Leitungs
typs, der durch das Schreib- bzw. Lesesteuersignal WR, RD ange
steuert wird. Nach Fig. 3 hingegen enthalten die Schreib- und
die Lese-Schaltmittel T-WR, T-RD jeweils zwei Transistoren vom
zueinander entgegengesetzten Leitungstyp, die mit ihren Kanal
strecken einander parallelgeschaltet sind, und bei denen das
Gate des jeweils einen Transistors mit dem Schreib- bzw. Lese
steuersignal WR, RD angesteuert wird und bei denen das Gate des
jeweils anderen Transistors mit einem zum Schreib- bzw. Lese-
Steuersignal WR, RD komplementären Signal angesteuert wird.
Dies ist ebenfalls erzielbar mittels Invertern, die in Fig. 3
mit "I2" bezeichnet sind.
Darüber hinaus weisen sowohl die erste wie die zweite Treiber
schaltung DVR-WR, DVR-RD invertierende Ausgänge auf. Dies ist
je nach verwendeter Technologie und/oder Schaltungstechnik für
die Treiberschaltungen DVR-WR, DVR-RD dann von Vorteil, wenn
sich Treiberschaltungen mit invertierendem Ausgang leichter
oder platzsparender designen lassen.
Die Erfindung hat folgende Eigenschaften: Der
Aufwand für notwendige Dateneingangs- und Datenausgangsschal
tungen ist geringer, weil weder das Dateneingangssignal DI
noch das Datenausgangssignal DO gleichzeitig in wahrer und in
dazu komplementärer Form nötig sind, sondern nur in wahrer
Form. Damit lassen sich ansonsten entsprechend notwendige
Schaltungen einsparen. Dadurch, daß die beim Stand der Technik ver
wendeten externen Bewerterschaltungen bei dem Paar der Daten
busleitungen ersetzt ist durch die beiden voneinander geome
trisch unabhängigen Treiberschaltungen DVR-WR, DVR-RD, lassen
sich diese in einem vorgegebenen Rasterschema bezüglich des
Layouts von Schaltungsteilen einfacher und (auch bezüglich der
Gesamtfläche der beiden Treiberschaltungen DVR-WR, DVR-RD)
kleiner in einem für den Schaltungsdesigner vorgegebenen
Rasterschema für Layouts einpassen als die eine externe Bewer
terschaltung beim Stand der Technik. Weiterhin entfallen beim
Stand der Technik notwendige Taktsignale für die Ansteuerung
der externen Bewerterschaltungen und somit auch Schaltungs
teile zu deren Erzeugung, da für das Schreib- und das Lese-
Steuersignal WR, RD das zur Steuerung eines Halbleiterspeichers
sowieso stets vorhandene, von extern anzulegende Steuersignal
WE mit seinen beiden logischen Pegeln (high bzw. low) verwend
bar ist, gegebenenfalls unter Verwendung eines zusätzlichen
Inverters für eines der beiden Steuersignale WR, RD. Durch den
Ersatz des Paares von Da
tenbusleitungen durch eine einzige Datenbusleitung DB entfällt
auch eine diesbezügliche, doppelte Leitungsführung.
Claims (14)
1. Integrierte Halbleiterspeicherschaltung
- - mit Speicherzellen (MC), mit Wortleitungen (WL) und Bitleitungen (BL, ),
- - mit internen Leseverstärkern (SA), die jeweils mit einem Paar (BLP) der Bitleitungen (BL, ) verbunden sind, die jeweils wenigstens einen Ausgang aufweisen und die je weils sowohl im Lesebetrieb wie auch im Schreibbetrieb als Verstärker aktivierbar sind,
- - mit Adressierungsmitteln zur Adressierung der Speicher zellen (MC) über die Wortleitungen (WL) und die internen Leseverstärker (SA) samt den Bitleitungen (BL, ),
- - mit wenigstens einer Datenbusleitung (DB) sowie
- - mit Schaltmitteln (BS), über die die Ausgänge wenigstens eines Teils der internen Leseverstärker (SA) anstelle einer Verbindbarkeit mit einem Paar von Datenbusleitun gen mit einer einzigen Datenbusleitung (DB) verbindbar sind,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - die Datenbusleitung (DB) über ein Schreib-Schaltmittel (T-WR) mit dem Ausgang einer ersten Treiberschaltung (DVR-WR) verbunden ist zum Verstärken eines Datenein gangssignals (DI) in einem Schreibbetrieb, wobei das Schreib-Schaltmittel (T-WR) im Schreibbetrieb elektrisch leitend ist,
- - sie weiterhin mit dem Eingang einer zweiten Treiber schaltung (DVR-RD) verbunden ist zum Verstärken eines in einem Lesebetrieb entstehenden Datums,
- - der Eingang der ersten Treiberschaltung (DVR-WR) mit ei ner das Dateneingangssignal (DI) führenden ersten Lei tung verbunden ist,
- - der Ausgang der zweiten Treiberschaltung (DVR-RD) über ein Lese-Schaltmittel (T-RD) mit einer ein Datenaus gangssignal (DO) führenden zweiten Leitung verbunden ist, wobei das Lese-Schaltmittel (T-RD) im Lesebetrieb elektrisch leitend ist,
- - die Leseverstärker (SA) jeweils einen weiteren Ausgang aufweisen, der über eine Kapazität (CBS) mit einem Ver sorgungspotential (VSS) der Halbleiterspeicherschaltung verbunden ist.
2. Integrierte Halbleiterspeicherschaltung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die das Dateneingangssignal (DI) führende erste Leitung
und die das Datenausgangssignal (DO) führende zweite Leitung
als eine einzige Leitung ausgeführt sind, die im Schreibbe
trieb das Dateneingangssignal (DI) führt und im Lesebetrieb
das Datenausgangssignal (DO).
3. Integrierte Halbleiterspeicherschaltung nach Anspruch 1
oder Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Treiberschaltung (DVR-WR) einen invertierenden
Ausgang aufweist.
4. Integrierte Halbleiterspeicherschaltung nach einem der
vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die zweite Treiberschaltung (DVR-RD) einen invertierenden
Ausgang aufweist.
5. Integrierte Halbleiterspeicherschaltung nach einem der vor
hergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schaltmittel (BS), über die die Datenbusleitung (DB)
mit den internen Leseverstärkern (SA) verbindbar ist, Tran
sistoren eines ersten Leitungstyps sind.
6. Integrierte Halbleiterspeicherschaltung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schaltmittel (BS) einen weiteren Transistor vom ent
gegengesetzten Leitungstyp enthalten, die mit ihren Kanal
strecken den einen Transistoren parallel geschaltet sind und
die an ihrem jeweiligen Gate mit einem Signal angesteuert
sind, das komplementär ist zu einem Signal, mit dem der jewei
lige eine Transistor angesteuert ist.
7. integrierte Halbleiterspeicherschaltung nach einem der vor
hergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Schreib-Schaltmittel (T-WR) ein Transistor eines ersten
Leitungstyps ist, der an seinem Gate von einem Schreib-Steuer
signal (WR) angesteuert ist.
8. Integrierte Halbleiterspeicherschaltung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Schreib-Schaltmittel (T-WR) einen zweiten Transistor
vom entgegengesetzten Leitungstyp enthält, der dem einen Tran
sistor mit seiner Kanalstrecke parallel geschaltet ist und der
an seinem Gate von einem zum Schreibsteuersignal (WR) komple
mentären Signal angesteuert ist.
9. Integrierte Halbleiterspeicherschaltung nach einem der vor
hergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Lese-Schaltmittel (T-RD) ein Transistor eines ersten
Leitungstyps ist, der an seinem Gate von einem Lese-Steuersig
nal (RD) angesteuert ist.
10. Integrierte Halbleiterspeicherschaltung nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Lese-Schaltmittel (T-RD) einen zweiten Transistor vom
entgegengesetzten Leitungstyp enthält, der dem einen Tran
sistor mit seiner Kanalstrecke parallel geschaltet ist und der
an seinem Gate von einem zum Lese-Steuersignal (RD) komplemen
tären Signal angesteuert ist.
11. Integrierte Halbleiterspeicherschaltung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Wert der Kapazität (CBS) gleich ist dem Wert, den ein
Schaltmittel (BS) als parasitäre Kapazität aufweist.
12. Verfahren zum Einschreiben von Daten in Speicherzellen
(MC) einer Halbleiterspeicherschaltung, die die Merkmale nach
einem der vorhergehenden Ansprüche aufweist,
gekennzeichnet durch folgende Merkmale:
- - ab einem ersten Zeitpunkt (t1) weist das Dateneingangssig nal (DI) einen definierten logischen Zustand auf,
- - zu einem zweiten Zeitpunkt (t2) wird ein Vorladetaktsignal (ΦVPC), mittels dessen die Bitleitungen (BL, ) und die Datenbusleitung (DB) in einem vor dem zweiten Zeitpunkt (t2) liegenden Zeitraum auf ein Vorladepotential (VPC) geladen werden, das auf einem Mittelwert zwischen zwei Versorgungs potentialen (VDD, VSS) der Halbleiterspeicherschaltung liegt, deaktiviert,
- - zu einem dritten Zeitpunkt (t3) wird das Schreib-Schaltmit tel (T-WR) leitend geschaltet,
- - in einem ersten Zeitraum, der zwischen dem zweiten (t2) und einem vierten Zeitpunkt (t4) liegt, wird das Schaltmittel (BS) eines der Leseverstärker (SA) mittels eines Adressie rungssignals leitend geschaltet, wodurch dieser Leseverstär ker (SA) ausgewählt wird,
- - zum vierten Zeitpunkt (t4) wird der mittels der leitend ge schalteten Schaltmittel (BS) ausgewählte Leseverstärker (SA) aktiviert, so daß die eine an den ausgewählten Leseverstär ker (SA) angeschlossene Bitleitung (BL) denselben logischen Zustand annimmt wie die Datenbusleitung (DB) und daß die andere an den ausgewählten Leseverstärker (SA) angeschlossene Bitleitung () einen logischen Zustand annimmt, der komplementär ist zum logischen Zustand der einen Bitleitung (BL),
- - in einem zweiten Zeitraum, der zwischen dem dritten (t3) und spätestens kurz vor einem fünften Zeitpunkt (t5) liegt, wird eine der Wortleitungen (WL) adressiert, so daß diejenige der Speicherzellen (MC), die sowohl mit der adressierten Wort leitung (WL) als auch mit einer (BL; ) der beiden Bitleitungen (BL, ), die mit dem ausgewählten Leseverstärker (SA) verbunden sind, mit dem an dieser einen (BL; ) der beiden Bitleitungen (BL, ) anliegenden logischen Pegel überschrie ben wird,
- - ab dem fünften Zeitpunkt (t5) werden das Schreib-Schaltmit tel (T-WR) gesperrt und der Leseverstärker (SA) deaktiviert.
13. Verfahren zum Auslesen von Daten aus Speicherzellen (MC)
einer Halbleiterspeicherschaltung, die die Merkmale nach einem
der Ansprüche 1 bis 11 aufweist,
gekennzeichnet durch folgende Merkmale:
- - zu einem ersten Zeitpunkt (T1) wird ein Vorladetaktsignal (ΦVPC), mittels dessen die Bitleitungen (BL, ) und die Datenbusleitung (DB) in einem vor dem ersten Zeitpunkt (T1) liegenden Zeitraum auf ein Vorladepotential (VPC) ge laden werden, das auf einem Mittelwert zwischen zwei Ver sorgungspotentialen (VDD, VSS) der Halbleiterspeicherschal tung liegt, deaktiviert,
- - in einem Zeitraum, der zwischen dem ersten Zeitpunkt (T1) und einem zweiten Zeitpunkt (T2) liegt, werden zum einen eine der Wortleitungen (WL) adressiert, so daß Daten, die in denjenigen Speicherzellen (MC) gespeichert sind, die mit der adressierten Wortleitung (WL) verbunden sind, auf die jeweilige Bitleitung (BL; ) ausgelesen werden, und zum anderen wird das Schaltmittel (BS) eines der Leseverstärker (SA) mittels eines Adressierungssignales leitend geschaltet, wodurch dieser Leseverstärker (SA) ausgewählt wird,
- - zum zweiten Zeitpunkt (T2) wird mindestens der mittels der leitend geschalteten Schaltmittel (BS) ausgewählte Lesever stärker (SA) aktiviert, so daß das an einer seiner beiden Bitleitungen (BL; ) anliegende, ausgelesene Datum bewertet und verstärkt wird, wodurch sich am Ausgang des ausgewählten Leseverstärkers (SA) ein Signal ausbildet, das über das leitend geschaltete Schaltmittel (BS) an die Datenbusleitung (DB) gelangt,
- - dieses wird durch die zweite Treiberschaltung (DVR-RD) noch mals verstärkt,
- - zu einem dritten Zeitpunkt (T3) wird das Lese-Schaltmittel (T-RD) elektrisch leitend geschaltet, wodurch an der mit dem Lese-Schaltmittel (T-RD) verbundenen zweiten Leitung das Datenausgangssignal (DO) entsteht,
- - zu weiteren Zeitpunkten (T4, T5, T6) werden dann das Lese- Schaltmittel (T-RD) wieder gesperrt, der Leseverstärker (SA) deaktiviert sowie das Vorladetaktsignal ΦVPC aktiviert.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP91115955 | 1991-09-19 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE4228213A1 DE4228213A1 (de) | 1993-04-01 |
DE4228213C2 true DE4228213C2 (de) | 1997-05-15 |
Family
ID=8207169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19924228213 Expired - Lifetime DE4228213C2 (de) | 1991-09-19 | 1992-08-25 | Integrierte Halbleiterspeicherschaltung und Verfahren zu ihrem Betreiben |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4228213C2 (de) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE10031575B4 (de) * | 1999-06-29 | 2011-06-16 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd | Halbleiterspeicherbauelement |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3959781A (en) * | 1974-11-04 | 1976-05-25 | Intel Corporation | Semiconductor random access memory |
JPS5956292A (ja) * | 1982-09-24 | 1984-03-31 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
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- 1992-08-25 DE DE19924228213 patent/DE4228213C2/de not_active Expired - Lifetime
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