DE3900040C2 - Verfahren zur elektrischen Prüfung von Leiterbahnen auf Kurzschlüsse - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur elektrischen Prüfung von Leiterbahnen auf Kurzschlüsse, insbesondere von parallelen auf einem Substrat angebrachten Leiterbahnen, wie sie beispielsweise für Flüssigkristallanzeigen in Matrixbauweise gebraucht werden. Die Ansteuerung der Flüssigkristallanzeigen erfolgt über parallele Leiterbahnen, die matrixartig auf dem Substrat angebracht sind. Für eine einwandfreie Funktion der Anzeigeeinrichtung ist es wichtig, daß zwischen den einzelnen Leiterbahnen keine Kurzschlüsse bestehen. Vor dem Aufbau einer Flüssigkristallzelle ist daher zu prüfen, ob Kurzschlüsse zwischen Leiterbahnen vorliegen oder nicht.

Üblicherweise bedient man sich dazu einer Prüfvorrichtung die aus einem Anzeigeinstrument und zwei Tastspitzen bestehen. Die Tastspitzen sind über Verbindungsleitungen mit dem Anzeigeinstrument verbunden. Anzeigeinstrument und Tastspitzen stellen einen offenen Stromkreis dar, solange zwischen den beiden Tastspitzen keine leitende Verbindung hergestellt ist. Zum Testen der Leiterbahnen auf Kurzschluß werden die beiden Tastspitzen auf ein Paar benachbarte Leiterbahnen aufgesetzt. Bei Kurzschluß zwischen den Leiterbahnen wird der offene Stromkreis geschlossen und das Anzeigeinstrument gibt ein optisches und/oder akustisches Signal ab.

Sind auf einem Substrat, wie dies im Falle von Flüssigkristallanzeigen durchaus der Fall sein kann, mehrere hundert Leiterbahnen angebracht, ist das paarweise Testen benachbarter Leiterbahnen sehr zeitaufwendig.

Deneben ist aus dem Aufsatz Bernhard, J.: Verfahren zum Orten von Kurzschlüssen auf Leiterplatten. In: Sonderdruck aus elektronik praxis 16. Jahrgang (1981 Heft 7) ein Verfahren zum Orten von Kurzschlüssen auf Leiterplatten bekannt, bei welchem mittels eines Meßkabels einer Wechselspannung in die zu prüfenden Leiterbahnen eingespeist wird. Ein Tastkopf wird entlang der Leiterbahn geführt, wobei durch Zunahme der Tonhöhe eines Schallwandlers die Nähe eines Kurzschlusses geortet werden kann. Da gemäß diesem Verfahren die gesamte mit Leiterbahnen versehene Fläche abgescannt werden muß, ist auch dieses Verfahen zur Ortung von Kurzschlüssen sehr zeitintensiv.

Daher besteht nach wie vor das Bedürfnis ein Verfahren anzugeben, mit dem sich die Prüfung von Leiterbahnen erheblich schneller ausführen läßt.

Gelöst wird diese Aufgabe durch ein Verfahren mit der Merkmalskombination des Hauptanspruchs. In den Unteransprüchen sind vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung angegeben.

Die Vorrichtung gemäß der Erfindung hat den Vorteil, daß durch geeignete elektrische Verbindung eines Teils der Leiterbahnen die Prüfung mit nur einer einzigen Tastspitze durchgeführt werden kann.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden beschrieben und anhand einer Figur näher erläutert.

Es zeigt die Figur einen Ausschnitt aus einem mit Leiterbahnen versehenen Substrat und den zur Prüfung auf Kurzschluß notwendigen Elementen.

In der Figur ist mit 10 ein Substrat bezeichnet, auf dem zwei Gruppen von Leiterbahnen zu erkennen sind. Mit 12, 14, 16 und 18 sind Leiterbahnen einer ersten Gruppe von Leiterbahnen bezeichnet, mit 11, 13, 15, 17 und 19 Leiterbahnen einer zweiten Gruppe von Leiterbahnen. An den Rändern des Substrates sind die Leiterbahnen zu sogenannten Anschlußpads 20 erweitert. Die erste Gruppe von Leiterbahnen (12, 14, 16, 18) ist elektrisch über eine mit 25 bezeichnete Leitgummischiene verbunden. Die Leiterbahnen 12, 14, 16 und 18 liegen elektrisch somit auf demselben Potential. Die Leitgummischiene 25 steht über eine Verbindungsleitung 24 mit einem Tastinstrument 23 in Verbindung. Das Tastinstrument 23 ist über eine Verbindungsleitung 22 mit einer Tastspitze 21 verbunden.

Will man prüfen, ob zwischen den Leiterbahnen der ersten Gruppe und den Leiterbahnen der zweiten Gruppe ein Kurzschluß besteht, so werden mit der Tastspitze 21 die Leiterbahnen der zweiten Gruppe (11, 13, 15 ...) der Reihe nach abgetastet. Liegt ein Kurzschluß mit einer Leiterbahn der ersten Gruppe vor, gibt das Tastinstrument 23 ein Signal ab. Die Tastspitze wird dabei beispielsweise in einer mit 26 bezeichneten Richtung weiterbewegt.

Mit dem bisher beschriebenen Prüfverfahren werden Kurzschlüsse, die zwischen den Anschlußpads der Leiterbahnen einer Gruppe bestehen, nicht detektiert. Hierzu braucht man eine Prüfvorrichtung mit zwei Tastspitzen, die dann jeweils auf ein Paar benachbarter Leiterbahnenanschlußpads derselben Gruppe aufgesetzt werden, z.B. auf die Pads der Leiterbahnen 12 und 14 oder 14 und 16 usw. Zur Vereinfachung dieses Verfahrens ist es sinnvoll, eine Prüfvorrichtung zu verwenden, bei der die Tastspitzen nicht frei beweglich, sondern durch einen Rahmen in einem festen Abstand zueinander gehalten werden.

Claims (3)

1. Verfahren zur elektrischen Prüfung von Leiterbahnen, insbesondere von auf Substraten angebrachten parallelen Leiterbahnen, auf Kurzschlüsse, bestehend aus folgenden Schritten:

• - Die Leiterbahnen einer ersten Gruppe, welche von jeweils übernächsten Leiterbahnen (12, 14, 16 . . .) gebildet wird, werden elektrisch leitend miteinander und mit einem ersten Eingang eines Tastinstruments (23) verbunden.
• - Eine mit einem zweiten Eingang des Tastinstruments (23) verbundene Tastspitze (21) tastet die Leiterbahnen einer zweiten und zwischen den Leiterbahnen der ersten Gruppe liegende Gruppe von Leiterbahnen (11, 13, 15 . . .) einzeln ab.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Leiterbahnen der ersten Gruppe über eine Leitgummischiene (25) miteinander verbunden werden.

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Tastinstrument (23) ein akustische und/oder optische Signale abgebendes Instrument verwendet wird.