DE3614639C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3614639C2 DE3614639C2 DE3614639A DE3614639A DE3614639C2 DE 3614639 C2 DE3614639 C2 DE 3614639C2 DE 3614639 A DE3614639 A DE 3614639A DE 3614639 A DE3614639 A DE 3614639A DE 3614639 C2 DE3614639 C2 DE 3614639C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- collimator
- mirror
- imager
- slit
- grating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 7
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2823—Imaging spectrometer
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Lenses (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein abbildendes Spektrometer mit einem Objektiv,
einem Spalt, einem Kollimator, einem Gitter und einem Imager, wobei der Imager
die übliche Funktion einer Feldlinse übernimmt.
Derartige Spektrometer sind beispielsweise aus der DE-OS 33 04 110 bekannt.
Mit ihnen wird der analysierende Lichtstrahl mit dem Objektiv auf
einen Spalt fokussiert, mit einem Kollimator wieder parallel und auf ein
Gitter gerichtet, dort gebeugt und schließlich vom Imager wieder als
Spektrum in eine Bildebene fokussiert. Das in der genannten Druckschrift
offenbarte Ausführungsbeispiel weist hierzu ein gemischtes Linsen/Spiegelsystem
auf, wobei die Spiegel vom Strahlengang jedoch nur einmal durchsetzt
werden.
Durch die Druckschrift von Brügel: "Einführung in die Ultrarotspektroskopie",
3. Aufl., Dr. Dietrich Steinkopff Verlag, Darmstadt 1962, wird
vorgeschlagen, daß in einem Monochromator statt Linsen auch Spiegel
elliptischer oder parabolischer Hohlspiegelform verwendbar sind, wobei
diese Spiegel einer zweimaligen Benutzung unterliegen, wie dies beispielsweise
auch aus der DE-OS 29 40 325 entnehmbar ist.
Aus der Entgegenhaltung DE-OS 27 58 141 ist es bekannt, Austritts- und Eintrittsspalt in einer
gemeinsamen Ebene anzuordnen, um Plätze zu sparen.
Alle vom Stand der Technik vorgeschlagenen Ausführungsformen sind jedoch
für die Verwendung in Satelliten und Raumflugkörpern zu aufwendig bezüglich
Raumbedarf und Gewicht, aber auch aufwendig in Fertigung, Montage und
Justage der einzelnen Bauelemente und daher leicht störanfällig.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein abbildendes
Spektrometer der eingangs genannten Art zu schaffen, das frei von den
vorbeschriebenen Nachteilen des Standes der Technik ist und außerdem die
von Objektiv und Kollimator-Imager-System erzeugten gekrümmten Bildstreifen
eines Objektes wieder in einen geraden Bildstreifen umwandelt.
Diese Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 aufgezeigten Maßnahmen gelöst.
In den Unteransprüchen sind Ausgestaltungen und Weiterbildungen angegeben
und in der nachfolgenden Beschreibung ist ein Ausführungsbeispiel erläutert.
Die Figuren der Zeichnung ergänzen diese Erläuterungen. Es zeigt
Fig. 1 das Prinzip eines abbildenden Spektrometers nach dem Stand der
Technik,
Fig. 2a, 2b schematische Schnitte y/z und x/z durch ein Zweispiegelobjektiv
gemäß dem beschriebenen Ausführungsbeispiel,
Fig. 2c den optischen Aufbau eines Kollimator/Imager-Systems gemäß dem
beschriebenen Ausführungsbeispiel,
Fig. 3 eine Schemaskizze durch das Gesamtsystem des beschriebenen
Ausführungsbeispiels,
Fig. 4 eine Darstellung der Krümmungen einer geraden
Objektzeile durch das Gesamtsystem bzw.
das Gitter sowie die daraus resultierende
Krümmung,
Fig. 5 im Detail die geometrischen Bedingungen am
ebenen Beugungsgitter.
Fig. 1 zeigt das Prinzip eines abbildenden Spektrometers,
wie es seit langem gebräuchlich ist. Der zu
analysierende Lichtstrahl L mit dem Objektiv O auf
einen Spalt S fokussiert, mit einem Kollimator K wieder
parallel und auf ein Gitter G gerichtet, dort gebeugt
und schließlich vom Imager I wieder als Spektrum in
eine Bildebene B fokussiert.
Die Einzeloptiken Objektiv, Kollimator und Imager
werden gemäß der Erfindung durch vier Spiegel realisiert,
die alle asphärisch sind und beispielsweise die
Form eines Rotationsellipsoides haben können. Das
vollständige abbildende Spektrometer besitzt zwei
parallele versetzte optische Achsen. In den folgenden
Abschnitten wird die Realisierung der Einzeloptiken
beschrieben.
Das Objektiv besteht aus einer Zweispiegelanordnung
gemäß den Fig. 2a und 2b. Das Licht L eines (unendlich
entfernten) Objektpunktes tritt schief zur optischen
Achse OA 1 in das Spiegelsystem ein. Das zeilenförmige
Bild B eines Objektstreifens entsteht in Fig.
2a senkrecht zur Zeichenebene. Eine gerade Objektstruktur
wird dabei in der Bildebene gekrümmt abgebildet.
Der optische Aufbau des Kollimators/Imagers ist in
Fig. 2c gezeigt. Der Eintrittsspalt B ist senkrecht zur
Zeichenebene. Das Licht durchläuft zuerst den Kollimator
als zweimalige Reflexion an den Spiegeln S 3 und S 4
und trifft kollimiert auf das plane Reflexionsgitter G.
Das reflektierte und gebeugte Licht wird nun rückwärts
wieder an den Spiegeln S 4 und S 3 reflektiert. Das
gebeugte Bild des Spaltes B entsteht in B′ und kann
dort mit geeigneten Detektoren analysiert werden.
Kollimator- und Imager-System werden also durch eine
einzige optische Anordnung (= Zweispiegel-System mit
den Spiegeln S 3 und S 4) realisiert. Das Licht durchläuft
die Optik zweimal. Das Kollimator-Imager-System
ist telezentrisch. Die Spiegel S 3 und S 4 sind Rotationsellipsoide.
Die reelle Blende des Systems ist BL.
In der dargestellten Anordnung befindet sich das Gitter
nicht in der Blendenposition, was für eine optimale
telezentrische Abbildung wünschenswert wäre.
Ein gerader Entrittsspalt B wird in der Bildebene B′
in eine gekrümmte Linie abgebildet. Die Ursachen bzw.
Einflußgrößen für diesen Effekt im Kollimator-Imager-
System sind:
- a) das Gitter ist nicht in der Blendenposition;
- b) ein schiefer Verlauf des Lichtes durch das System (bezogen auf die optische Achse) und
- c) die Krümmung einer geraden Linie durch das Gitter.
Die Einflüsse a) und b) sind wellenlängenunabhängig,
während c) von der Wellenlänge abhängt.
Es gilt ebenfalls, daß ein gekrümmter Spalt B in eine
gerade Linie in der Bildebene B′ abgebildet wird.
Das Gesamtsystem ist in Fig. 3 gezeigt. Wie beschrieben,
erzeugen das Objektiv O und das Kollimator-Imager-
System K/I gekrümmte Bildstreifen. Durch geeignete
Kombination der beiden Systeme läßt sich eine Kompensation
dieser Krümmungen erzielen. Bei dem in Fig. 3
gezeigten System gelingt ein Ausgleich bei einem Brennweitenverhältnis
Ohne Berücksichtigung der Gitterbeugung, d. h. unter der
Annahme, daß das Gitter wie ein planer Spiegel wirkt,
wird ein gerader Objektstreifen (auf der Erdoberfläche)
wieder in einen geraden Bildstreifen B′ abgebildet.
Lediglich das Zwischenbild in der Spaltebene B ist
gekrümmt. Der Einfluß der Spaltkrümmung des Gitters G
bleibt jedoch erhalten.
Die Spaltkrümmung KG des Gitters ist wellenlängenabhängig
und nimmt mit zunehmender Wellenlänge zu. Indem der
Krümmungsausgleich zwischen Objektiv und Kollimator-
Imager nicht vollständig gemacht wird, kann die Spaltkrümmung
KG des Gitters für eine Wellenlänge kompensiert
werden. Die verbleibenden Krümmungen für andere
Wellenlängen sind daher gering.
Fig. 4 zeigt in der Bildebene B′ die verschiedenen
Krümmungseinflüsse und die resultierende Restkrümmung,
für ein Gesamtsystem in Fig. 3. Mit KG ist dabei die
Krümmung eines geraden Spaltes in der Bildebene durch
das Gitter bezeichnet. Hierbei ist auch die Abhängigkeit
von der Wellenlänge ersichtlich. KO ist die Spaltkrümmung
des Gesamtsystems Objektiv/Kollimator/Imager
in der Bildebene. R ist die aus KG und KO resultierende
Spaltkrümmung. F′Koll ist die Brennweite des Kollimators/Imagers
und beträgt im speziellen Fall 90 mm.
In Fig. 5 sind die geometrischen Bedingungen am Beugungsgitter
dargestellt. Dabei gilt
sin i′ ϕ = sin i₀ (cos ϕ-1) + cos ϕ sin i′₀ (2)
mit
m = Beugungsordnung
λ = Wellenlänge
a = Strichabstand
λ = Wellenlänge
a = Strichabstand
Gemäß den Gleichungen (1) und (2) ist die Spaltkrümmung
des Gitters von folgenden Parametern abhängig:
a) Beugungsordnung m
b) Gitterkonstante 1/a = N
c) Wellenlänge g
b) Gitterkonstante 1/a = N
c) Wellenlänge g
Abhängig von der jeweils gewählten spektralen Auflösung
sind unterschiedliche Gitterkonstanten N notwendig, die
wiederum verschiedene Spaltkrümmungen bewirken. Der
Ausgleich erfolgt durch Anpassung der Brennweiten von
Objektiv und Kollimator/Imager.
Je nach Anwendung kann dieses Brennweitenverhältnis
variieren:
Im folgenden sind beispielhaft die Daten des Systems
nach Fig. 3a aufgeführt. Diese Werte sind variabel und
werden im wesentlichen durch die Gitterkonstante N
bestimmt. Sie können dem Bereich der dadurch erforderlichen
Brennweitenverhältnisse angepaßt werden.
Brennweite: -31.50619 [mm]
Brennweite: -31.50619 [mm]
Claims (3)
1. Abbildendes Spektrometer mit einem Objektiv, einem Spalt, einem
Kollimator, einem Gitter und einem Imager, dadurch gekennzeichnet,
daß Objektiv, Kollimator/Imager von ein und derselben Anordnung aus asphärischen Spiegeln gebildet werden, die vom Strahlengang zweimal durchlaufen wird,
wobei das Objektiv (O) aus einem ersten konvexen Spiegel (S 1) und einem zweiten, konkaven Spiegel (S 2) besteht und der zu analysierende Strahl unter einem Winkel (w) schräg zur optischen Achse (OA 1) am konkaven Spiegel (S 2) vorbei auf den konvexen Spiegel (S 1) und von diesem auf den konkaven Spiegel (S 2) geführt und von letzterem am konvexen Spiegel (S 1) vorbei in der Bildebene (B) in Form eines gekrümmten Bildstreifens in den Spalt fokussiert wird
und der Kollimator (K) aus einem konkaven (S 3) und einem konvexen (S 4) Spiegel besteht, die das vom Spalt (B) ausgehende Licht parallel auf das Gitter (G) richten
und wobei das vom Gitter reflektierte, gebeugte Licht über dieselben nunmehr als Imager (I) dienenden Spiegel (S 4, S 3) in die Blendenebene als gebeugtes Bild (B′) des Spaltes zurückfokussiert wird, so daß der Spalt (B) und sein Bild (B′) in einer Ebene liegen.
daß Objektiv, Kollimator/Imager von ein und derselben Anordnung aus asphärischen Spiegeln gebildet werden, die vom Strahlengang zweimal durchlaufen wird,
wobei das Objektiv (O) aus einem ersten konvexen Spiegel (S 1) und einem zweiten, konkaven Spiegel (S 2) besteht und der zu analysierende Strahl unter einem Winkel (w) schräg zur optischen Achse (OA 1) am konkaven Spiegel (S 2) vorbei auf den konvexen Spiegel (S 1) und von diesem auf den konkaven Spiegel (S 2) geführt und von letzterem am konvexen Spiegel (S 1) vorbei in der Bildebene (B) in Form eines gekrümmten Bildstreifens in den Spalt fokussiert wird
und der Kollimator (K) aus einem konkaven (S 3) und einem konvexen (S 4) Spiegel besteht, die das vom Spalt (B) ausgehende Licht parallel auf das Gitter (G) richten
und wobei das vom Gitter reflektierte, gebeugte Licht über dieselben nunmehr als Imager (I) dienenden Spiegel (S 4, S 3) in die Blendenebene als gebeugtes Bild (B′) des Spaltes zurückfokussiert wird, so daß der Spalt (B) und sein Bild (B′) in einer Ebene liegen.
2. Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
optischen Achsen (OA 2, OA 2) von Objektiv (O) und Kollimator/Imager (K/I)
parallel gegeneinander versetzt angeordnet sind.
3. Spektrometer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
Objektiv (O) und Kollimator (K) ein Brennweitenverhältnis von etwa 1 : 1 bis
1 : 10 aufweisen.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863614639 DE3614639A1 (de) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | Abbildendes spektrometer |
FR878706134A FR2598224B1 (fr) | 1986-04-30 | 1987-04-29 | Spectrometre a projecteur d'image |
JP62104880A JPH0810160B2 (ja) | 1986-04-30 | 1987-04-30 | 結像分光器 |
US07/044,597 US4773756A (en) | 1986-04-30 | 1987-04-30 | Imaging spectrometer having a wide spectral range |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863614639 DE3614639A1 (de) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | Abbildendes spektrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3614639A1 DE3614639A1 (de) | 1987-11-05 |
DE3614639C2 true DE3614639C2 (de) | 1990-10-04 |
Family
ID=6299866
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19863614639 Granted DE3614639A1 (de) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | Abbildendes spektrometer |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4773756A (de) |
JP (1) | JPH0810160B2 (de) |
DE (1) | DE3614639A1 (de) |
FR (1) | FR2598224B1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006045624A1 (de) * | 2006-09-27 | 2008-04-03 | Giesecke & Devrient Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur optischen Untersuchung von Wertdokumenten |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0405563B1 (de) * | 1989-06-29 | 1996-03-13 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Beleuchtungssystem |
US5166755A (en) * | 1990-05-23 | 1992-11-24 | Nahum Gat | Spectrometer apparatus |
US5260767A (en) * | 1991-12-16 | 1993-11-09 | Hughes Aircraft Company | Compact all-reflective imaging spectrometer |
US5305082A (en) * | 1992-01-08 | 1994-04-19 | Chromax, Inc. | High spatial resolution imaging spectrograph |
US5420681A (en) * | 1993-08-03 | 1995-05-30 | Ball Corporation | Modular multiple spectral imager and spectral imager |
US5608521A (en) * | 1995-09-18 | 1997-03-04 | Trw Inc. | Polarization compensated imaging spectrometer |
NL1001952C2 (nl) | 1995-12-21 | 1997-06-24 | Tno | Telescoop met groot gezichtsveld. |
JP2001108523A (ja) * | 1999-10-14 | 2001-04-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 分光測定装置 |
US6636305B2 (en) * | 2001-09-13 | 2003-10-21 | New Chromex, Inc. | Apparatus and method for producing a substantially straight instrument image |
US7315371B2 (en) * | 2004-01-23 | 2008-01-01 | P&P Optica Inc. | Multi-channel spectrum analyzer |
US7075082B2 (en) | 2004-06-22 | 2006-07-11 | Wilmington Infrared Technology, Inc. | Compact infrared spectrometer, and methods and systems for manufacture and assembly of components used in same |
US7345760B2 (en) * | 2006-01-13 | 2008-03-18 | Thermo Electron Scientific Instruments Llc | Grating monochromator/spectrograph |
WO2007118655A1 (de) * | 2006-04-12 | 2007-10-25 | Giesecke & Devrient Gmbh | Vorrichtung und verfahren zur optischen untersuchung von wertdokumenten |
EP2857810A1 (de) * | 2013-10-02 | 2015-04-08 | Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Monolithisches Spektrometer |
CN112461365B (zh) * | 2020-11-20 | 2021-09-07 | 苏州大学 | 弯曲狭缝成像光谱仪 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1085691B (de) * | 1956-09-21 | 1960-07-21 | Parsons & Co Sir Howard G | Gitterspektrometer oder -analysator |
US3015984A (en) * | 1956-09-21 | 1962-01-09 | Parsons & Co Sir Howard G | Grating spectrometers or analysers |
GB1438631A (en) * | 1972-08-04 | 1976-06-09 | Parsons & Co Sir Howard G | Analysis of emulsions and suspensions |
DE2758141C2 (de) * | 1977-12-27 | 1982-11-18 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Spektrophotometer |
DE2940325A1 (de) * | 1979-10-04 | 1981-04-09 | Original Hanau Heraeus Gmbh | Strahlungsmengenmesser |
DE3304110C2 (de) * | 1983-02-08 | 1986-09-25 | Shimadzu Corp., Kyoto | Spektralphotometer zum gleichzeitigen Untersuchen mehrerer Proben |
-
1986
- 1986-04-30 DE DE19863614639 patent/DE3614639A1/de active Granted
-
1987
- 1987-04-29 FR FR878706134A patent/FR2598224B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1987-04-30 JP JP62104880A patent/JPH0810160B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1987-04-30 US US07/044,597 patent/US4773756A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006045624A1 (de) * | 2006-09-27 | 2008-04-03 | Giesecke & Devrient Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur optischen Untersuchung von Wertdokumenten |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0810160B2 (ja) | 1996-01-31 |
JPS62277526A (ja) | 1987-12-02 |
DE3614639A1 (de) | 1987-11-05 |
FR2598224B1 (fr) | 1990-11-30 |
US4773756A (en) | 1988-09-27 |
FR2598224A1 (fr) | 1987-11-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3614639C2 (de) | ||
DE69310940T2 (de) | Abbildender Spektralapparat mit hoher örtlicher Auflösung | |
DE69021786T2 (de) | Optisches System zur Spektralanalyse. | |
EP0098429B1 (de) | Monochromator | |
DE69823808T2 (de) | Abbildungs-spektrometer | |
DE69109352T2 (de) | Spektrometer. | |
DE102016124980A1 (de) | Spektrometer mit Zweidimensionalem Spektrum | |
DE69518244T2 (de) | Gerät zur durchführung einer spektralanalyse einer optischen lichtquelle mittels bildaufnahme und trennung bestimmter spektraler ordnungen | |
DE102009059280A1 (de) | Spektrometeranordnung | |
DE2656119A1 (de) | Spektrograph | |
EP0442596B1 (de) | Echelle-Polychromator | |
DE19961908C2 (de) | Hochauflösendes Littrow-Spektrometer und Verfahren zur quasi-simultanen Bestimmung einer Wellenlänge und eines Linienprofils | |
DE2108133C3 (de) | Doppelmonochromator mit zwei Beugungsgittern | |
EP0587683B1 (de) | Echelle-polychromator | |
EP2158460B1 (de) | Spektrometeranordnung | |
DE1964509A1 (de) | Spektrophotometer | |
DE2512625C2 (de) | Doppelmonochromator | |
DE3113984C2 (de) | Doppelmonochromator | |
DE19860021A1 (de) | Monochromator | |
DE10011462C2 (de) | Optisches Spektrometer mit Astigmatismuskompensation | |
EP0656531B1 (de) | Prismenspektrometer | |
DE10347862B4 (de) | Hochauflösendes Spektrometer | |
DE60208309T2 (de) | Monochromator und optischer Spektralanalysator, der diesen verwendet | |
DE60017031T2 (de) | Hochauflösendes Instrument für Infrarotspektroskopie | |
DE939232C (de) | Monochromator |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: DEUTSCHE AEROSPACE AG, 8000 MUENCHEN, DE |
|
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: DAIMLER-BENZ AEROSPACE AKTIENGESELLSCHAFT, 80804 M |
|
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: DAIMLERCHRYSLER AEROSPACE AKTIENGESELLSCHAFT, 8099 |
|
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: DAIMLERCHRYSLER AEROSPACE AG, 85521 OTTOBRUNN, DE |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |