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DE2905814A1 - Speicher - Google Patents

Speicher

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Publication number
DE2905814A1
DE2905814A1 DE19792905814 DE2905814A DE2905814A1 DE 2905814 A1 DE2905814 A1 DE 2905814A1 DE 19792905814 DE19792905814 DE 19792905814 DE 2905814 A DE2905814 A DE 2905814A DE 2905814 A1 DE2905814 A1 DE 2905814A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
memory
loop
loops
address
information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19792905814
Other languages
English (en)
Other versions
DE2905814C2 (de
Inventor
Atsushi Asano
Yuzo Kita
Koichi Mayama
Nobuo Saito
Mamoru Sugie
Noboru Yamaguchi
Shigeru Yoshizawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Publication of DE2905814A1 publication Critical patent/DE2905814A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2905814C2 publication Critical patent/DE2905814C2/de
Expired legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/86Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring in serial access memories, e.g. shift registers, CCDs, bubble memories
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C19/00Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
    • G11C19/02Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements
    • G11C19/08Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements using thin films in plane structure
    • G11C19/0875Organisation of a plurality of magnetic shift registers

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Description

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Beschreibung
Die Erfindung betrifft einen Speicher mit mehreren Speicherschleifen, beispielsweise einen Magnetblasenspeicher.
Bei einem Magnetblasenspeicher, bei dem Blasendomänen, die sich in magnetischen Dünnschichten bilden, ausgenützt werden, sind viele Speicherschleifen parallel auf jedem Blasen-Chip bzw. -Baustein angeordnet, und Information wird in die oder aus den Bits der jeweiligen Speicherschleifen mit denselben Adressen parallel eingeschrieben bzw. ausgelesen.
Bei einem solchen Magnetblasenspeicher ist das Verhältnis zwischen den Kosten der Blasen-Chips und den Kosten der gesamten Anordnung gross. Daher ist es wichtig, die Ausbeute bei den Blasen-Chips zu verbessern.
Wenn solche Blasen-Chips in grosser Zahl gefertigt werden, und dabei solche, die schlechte oder defekte Speicherschleifen besitzen, nicht verwendet werden, wird ein solcher Speicher sehr teuer. Daher ist es üblich, die Ausbeute dadurch zu erhöhten, dass Chips bei der Zusammensetzung des Speichers verwendet werden,die auch defekte Speicherschleifen aufweisen.
In diesem Falle müssen jedoch Steuerungsnassnahmen durchgeführt werden, um zu verhindern, dass defekte Speicherschleifen zum Schreiben oder Lesen verwendet werden, wobei zur Steuerung Information herangezogen wird, die angibt, welche Speicherschleifen im Blasen-Chip schadhaft bzw. defekt sind.
Es ist ein System bekannt, bei dem die Information über die Lage der defekten Speicherschleifen im Blasen-Chip für eine solche Steuerung in einem externen Festwertspeicher (ItCM) vorher gespeichert wird. Bei diese-n 3ystern müssen jedoch Festwertspeicher entsprechend den jeweiligen Blasen-
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Chips vorgesehen werden. Eier macht den Speicher sehr teuer. Darübe rhi cans muss der Zusammenhang zwischen den Blasen-Chips und den entsprechenden RCMs zuverlässig gesteuert bzw. hergestellt werden, und die Speichereinrichtung kann überhaupt nicht verwendet werden, wenn die entsprechenden Beziehungen bzw. Zuordnungen nicht richtig sind.
Es sind weiterhin Systeme vorgeschlagen worden, bei denen wenigstens eine spezielle Speicherschleife aus einer grossen Anzahl an Speicherschleifen dazu verwendet wird, die Information über die Lage der schlechten oder defekten Speicherschleifen in diese spezielle Schleife oder in diesen speziellen Schleifen in Serie oder parallel einzuschreiben, so dass dadurch die Schwierigkeiten vermieden werden, die mit der Steuerung und mit der Handhabung der Information über die Lage der defekten Speicherschleifen verbunden sind.
Bei einem dieser Systeme sind mehrere spezielle Speicherschleifen für die Information über die Lage defekter Speicherschleifen vorgesehen. Diese Information wird nacheinander an denselben Adressen dieser speziellen Speicherschleifen parallel eingelesen. Dieselbe Lageinrormation wie die zuvor genannte Information wird über alle Adressen geschrieben, und die Lageinforraation der defekten Speicherschleifen kann bei Jeden Vorgang ausgelesen werden, der durch Zuordnung irgendeiner gewünschten Adresse ausgeführt wird. Dieses System kann externe Speicher ersetzen. Wenn beispielsweise angenommen wird, dass vier defekte Schleifen zugelassen werden, und dass acht Bits für die Lageinformation vorgesehen sind, so müssen 32 spezielle Speicherschleifen vorgesehen sein, u"3 die Information über die Lage der defekte;. Speicherschleifen zu speichern. Dadurch wird der Blasen-Chip selbst in seinen Abmessungen gross und teuer. Darübe rhi:; ^a:
ist es erforderlich, sicher einen Blasen-Chip zu haben, bei dem alle speziel-
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len Schleifen in einem spezifischen 3ereich des Blasen-Jhips gute und nicht defekte Schleifen sind. Dieses System ist daher nicht sehr vorteilhaft im Hinblick auf die Verbesserung der Ausbeute von Blasen-Chips.
Bei einem anderen System wird mindestens eine Speicherschleife zur Speicherung der Information über die Lage der defekten Speicherschleifen speziell im Blasen-Chip vorgesehen, und die Information über die Lage der defekten Speicherschleifen wird nacheinander in Serie in die Schleife bzw. in die Schleifen eingeschrieben. Mit diesem System lässt sich die Anzahl der speziellen Schleifen verringern. Um die Information über die Lage der defekten Speicherschleifen auszulesen und wie vorher in einen schreib- und lesbaren Random-Speicher (RAM) zu speichern, ist es erforderlich, alle Information des Blasen-Chips, dem die spezielle Schleife zugehört, nacheinander auszulesen und die von der speziellen Schleife kommende Information aus der ausgelesenen Information herauszugreifen. Dabei tritt der Nachteil auf, dass für diesen Vorgang viel Zeit erforderlich ist. Daher hat man sich überlegt, nur die Information der speziellen Schleife auszulesen und diese Information dann in den Speicher einzuschreiben. In diesem Falle ist jedoch eine spezielle Schaltung dafür erforderlich, so dass eine komplizierte Verarbeitungsschaltung verwendet werden muss.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, einen Speicher zu schaffen, mit dem die Ausbeute wesentlich erhöht werden kann, und der eine hohe Arbeitsgeschwindigkeit bei einem vergleichsweise einfachen und kostengünstigen Aufbau besitzt.
Eiese Aufgabe wird erfindungsgemäss mit dem in Anspruch " angegebenen Speicher gelöst.
Eer in Anspruch 5 angegebene Speicher löst ebenfalls die gestellte Aufgabe.
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Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
Erfindungsgemäss wird eine Information, die angibt, ob eine Schleife defekt ist oder nicht, an einer spezifischen Adressenlage in jeder Schleife von einer Vielzahl von umlaufenden Speicherschleifen gespeichert.
Der erfindungsgemasse Speicher weist mehrere Ualauf-Speicherschleifen auf, in denen Information derselben Adressen der jeweiligen Speicherschleifen parallel ausgelesen und eingeschrieben werden kann. Eine Information, die angibt, ob die entsprechende Speicherschleife eine schlechte oder defekte Speicherschleife ist, wird in eine spezifische Adresse in jede Speicherschleife eingelesen.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnungen beispielsweise näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform eines erfindungsgemassen Blasen-Chips,
Fig. 2 eine schematische Darstellung einer weiteren Ausführungsform des erfindungsgeaässen Blasen-Chips, Fig. 3 ein schematisches Blockdiagratnn einer Magnetblasen-Speichereinrichtung, bei der der in Fig. oder 2 dargestellte Blasen-Chips verwendet wird, und
Fig. 4 ein Blockdiagramm für eine Ausführur.gsform der wesentlichsten Teile einer in Fig. 3 dargestellten Blasen-Steuerschaltung.
Fig. 1 zeigt den Aufbau einer Ausführungsforrn eines erfindungsgeaassen Blasen-Chips. In Fig. 1 ist ein Blasen-5G generator 1, ein Blasendetektor 2, eine Schreibleitung 3, eine Leseleitung 4 und eine grosse Anzahl an Speicherschleifen 5 dargestellt.
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Lie Vielzahl von Speicherschleifen 5 umfasst beispielsweise 2S8 Speicherschleifen einschliesslich defekter Schleifen um 256 gute oder nicht defekte Speicherschleifen zu bilden. Diejenige eine Speicherschleife 51 der Speicherschleifen, die des letzten Bit der ausgelesenen Dntsr; entspricht, wird als Markierungε- bzw. Kennschleife verwendet, wogegen die anderen Speicherschleifen 52 als Schleifen zur Speich erung benutzt werden. Eine einzige Leitung, die sowohl als Schreib- als auch als Leseleitung dient, kann anstelle der voneinander getrennten Schreibleitung 3 und Leseleitung 4 vorgesehen sein.
Getnäss der Ausführungsfcrm der vorliegenden Erfindung wird eine Blase in eine bestimmte Seitenadresse 61 der Markierungsschleife 51 als Markierung eingeschrieben. Es werden Blasen in die Adressen 62 der jeweiligen Speicherschleifen 52 entsprechend der Seitenadresse dann eingelesen, wenn die Speicherschleifen nicht defekt sind, und es werden keine Blasen eingelesen, wenn die Speicherschleifen defekt sind.
Jede Speicherschleife 5 umfasst beispielsweise 1152 Bits, von denen 1024 Bits zur Speicherung und die übrigen Bits nicht zur Speicherung verwendet werden.Dementsprechend wird der unbenutzte Teil zu einem maskierten Bereich 63 gemacht, wobei ein bestimmter Bit als Adresse zur Speicherung der Information verwendet wird, die angibt, wenn die entsprechende Speicherschleife defekt ist. In die entsprechende Adresse der Markierungsschleife 51 ist bzw. wird die Adressenmarkierung eingeschrieben. Die Blase kann nur in die Adresse als Adressenmarkierung, wie zuvor beschrieben, geschrieben werden, oder es kann auch keine Blase in nur die Adresse geschrieben werden.
Auf diese Weise werden diejenigen Bereiche, die nicht die Adressen zur Speicherung innerhalb der jeweiligen Speicherschleifen, die nicht normalerweise verwendet werden, als
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die maskierten Bereiche ausgenutzt und die spezifischen Adressen der markierten Bereiche werden als Adresse zur Speicherung der Defekt-Information der entsprechenden Schleifen verwendet, so dass die speziellen Speicher-5> schleifen zur Speicherung der defekten Schleifen-Lageinformation nicht erforderlich ist und der Blasen-Chip mit kleinen Abmessungen und kostengünstig hergestellt werden kann. Da die Information über defekte Schleifen im Blasen-Chip gespeichert werden kann, ist die Handhabung der Information über defekte Schleifen der jeweiligen Blasen-Chips in der Speicheranordnung leicht. Darüberhinaus kann der Blasen-Chip garantieren, dass nur die Markierungsschleife eine gute, nicht defekte Schleife ist. Daher lässt sich die Ausbeute bei der Herstellung der Blasen-Chips wesentlich erhöhen.
Lediglich durch Auslesen der Information derjenigen Adressen der Speicherschleifen, die der Adresse in der Markierungsschleife mit dem dazu gehörigen Adressenmarkierer entspricht, wird die Information über die defekte Schleife sofort abgerufen, so dass die Funktions- bzw. Verarbeitungszeit wesentlich verkürzt wird.
Die Adressenmarkierung der zuvor beschriebenen MarkierungF-schleife kann dazu verwendet werden, mit einer unbekannten Adresse bei einem Ausfall der Versorgungs- bzw. Netzspannung fertig zu werden. Genauer gesagt, ist die Speicheradresse bei einem Ausfall der Ketzversorgung manchmal unbekannt. Die Speicheradresse kann dadurch rückgesetzt werden, dass die Adressenraarkierun^ als spezifische Adresse festgesetzt wird, und dass die Adressenraarkierung in der Markierungsshcleife nach dem Wiederanlegen der Netzspannung gesucht wird.
Fig. 2 zeigt die Ausbildung einer anderen Ausführungsfor^ des erfincungsgemässen Blasen-Chips. Diese Aus führung εfor~
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unterscheidet sich von der in Fig. 1 dargestellten Ausführungsforrn dadurch, dass maskierte Bereiche 71 bis 7^ an mehreren Stellen der Markierungsschleife 51 und an entsprechenden Stellen der Speicherschleifen 52 vorgesehen sind, und dass die Defekt-Information, die angibt, wenn die entsprechende Speicherschleife 52 eine defekte Schleife ist, in eine spezifische Adresse 75 des jeweiligen maskierten Bereichs vorher eingeschrieben ist, wogegen eine Adressenmarkierung in die entsprechende Adresse 76 der Markierungsschleife 51 eingeschrieben wird bzw. ist.
Beim Auslesen der auf diese Weise eingeschriebenen Information über die defekte Schleife, nachdem die Markierung der Markierungsschleife 51 zum ersten Mal festgestellt worden ist, kann die Information der Adressen der Speicherschleifen, die der der Markierung zugeordneten Adresse entspricht, ausgelesen werden. Auf diese Weise kann die Auslesezeit der Information über die defekte Schleife praktisch verkürzt werden, so dass die Verarbeitungsgeschwindigkeit noch weiter erhöht wird.
Durch Setzen solch einer Markierungsschleife, so dass sie dem letzten Bit der Lesedaten entspricht, wie dies in der Figur dargestellt ist, wird ein Maskierungsvorgang zur Verhinderung der gewöhnlichen Schreib- und Lesevorgänge entbehrlich. Oder genauer ausgedrückt, der Magnetblasenspeicher weist Speicherschleifen auf, deren Anzahl grosser als die Anzahl der Bits pro Seite ist, wie dies zuvor beschrieben wurde. Der Magnetblasenspeicher führt das Lesen oder Schreiben einer Seite durch Verwendung der nicht defekten Schleifen aus, während er über die defekten Speicherschleifen springt, und er unterbricht den Vorgang nach Abschluss des Lesens oder Schreibens einer Seite. Wenn eine Markierungsschleife an irgendeiner Stelle, bevor das Lesen oder Schreiben beendet ist, vorliegt, muss diese
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maskiert bzw. abgedeckt werden. Wenn dagegen die Markierungsschleife, die de<E letzten Bit der Lesedaten entspricht, in der zuvor beschriebenen Weise angeordnet ist, ist eine Abdeckung bzw. Maskierung nicht erforderlich. Daher kann ein FunktionsTiechanismus und eine Steuerschaltung für den Abdeck- bzw. Maskierungsvorgang weggelassen werden.
Da der zuvor beschriebene Punkt jedoch nicht das wesentliche Merkmal der vorliegenden Erfindung ist, kann die Karkierungsschleife natürlich auch die Kopf- oder erste Schleife, oder eine dazwischenliegende Schleife sein.
Ein Beispiel für eine Steuereinrichtung zum Lesen und Schreiben üblicher Daten und der Defekt-Information unter Verwendung des erfindungsgeoiässen, bis jetzt beschriebenen Blasen-Chips wird nachfolgend im einzelnen erläutert.
Fig. 3 zeigt ein schematisches Tlockdiagraam einer Ausführungsfsrtn der erfindungsgemassen Magnetblasen-Speichereinrichtung. Bei einen Befehl, der von einem Prozessor 7, beispielsweise einem Mikrorechner, kommt, wird eine Blasensteuerschaltung 8 in Funktion gesetzt. Durch Steuerung der Blasensteuerschaltung 8 werden die jeweiligen Speicherschleifen innerhalb eines Blasen-Chips 10 über eine Treiberschaltung 9 angesteuert. Als Blasentreiberschaltung 9 kann beispielsweise eine Schaltungsanordnung verwendet werden, die in dem Aufsatz "Bubble Memory for Microprocessor Mass Storage" von David M. Lee, IEEE Conpcon. Spring 1977 ? Proceedings, beschrieben ist.
Fig. 4 zeigt eine Ausführungsform der konkreten Schaltungsanordnung von den wesentlichsten Teilen der in Fig. 3 dargestellten Blasensteuerschaltung 8.
Fig. 4 zeigt einen Seitenadressenzhäler 81, der eine
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Seitenadresse zum Lesen oder Schreiben angibt und jedesmal einen Zählerschritt weiterzählt, wenn eine Seite gelesen oder geschrieben worden ist, einen Seitenzähler 82, der die Anzahl der gelesenen oder geschriebenen Seiten zählt, eine vorgegebene, vorher eingestellte Seitenzahl aufweist und jedesmal dann einen Zählerschritt weiterzählt, wenn eine Seite gelesen oder geschrieben worden ist, und einen Schleifenzähler 83, der die Nummer einer Speicherschleife angibt, in der ein Bit gespeichert ist, das einer auszulesenden oder einzuschreibenden Seite zugehört, und der bei jedem Taktimpuls um einen Zählerschritt weiterzählt. Vergleicher 84 bis 86 vergleichen die jeweiligen Zählerinhalte der Zähler 81 bis 83 mit jeweiligen, vorgegebenen Werten R^. - R,, und erzeugen Ausgangssignale, wenn die Zählerinhalte der jeweiligen Zähler 81 bis 83 die vorgegebenen Werte erreicht haben. Wenn beispielsweise angenommen wird, dass die Seitenadressen des Speichers die Adressen von der Adresse 0 bis zur Adresse 1023 sind, wird der vorgegebene Wert Rx. des Vergleichers 84 auf "1024" eingestellt, und der Vergleicher 84 stellt ein Ausgangssignal mit hohem Binärwert bereit, wenn das Lesen oder Schreiben der 1024 Seiten beendet ist. "0 (Null)" wird als vorgegebener Wert Rp des Vergleichers 85 eingestellt. Es sei weiterhin angenommen, dass die Speicherschleifen in einem Blasen-Chip die Schleifen Nr. 0 bis Nr. 287 sind. Dann wird "287" als vorgegebener Wert R, für den Vergleicher 86 eingestellt bzw. gewählt. Die vorgegebenen Werte R^ - R, können entweder in der Blasensteuerschaltung 8 oder vom Prozessor 7 her eingestellt werden.
Ein Funktionsschalter 87 erzeugt vorgegebene Steuersignale S^ - S, in Abhängigkeit von einem vom Prozessor 7 bereitgestellten Befehl S. Das Signal S^ ist ein Steuersignal zum Auslesen der Information über defekte Schleifen, die ia Blasen-Chip geschrieben ist, wodurch diese Information in einem Random-Speicher (nachfolgend abgekürzt als RAM)
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gespeichert wird, wie dies im weiteren noch erläutert werden wird. Das Signal S2 ist ein Steuersignal zum Einschreiben der Information über defekte Schleifen in den Blasen-Chip, und das Signal S^ ist ein Steuersignal für die gewöhnlichen Lese- und Schreibvorgänge. Die zuvor beschriebenen Steuerungen werden ausgeführt, wenn die Signale S^ - S* dem Binärwert "1" aufweisen. Der Funktionsschalter 87 besteht beispielsweise aus einem Decoder und liefert das Steuersignal in Abhängigkeit von dem vom Prozessor 7 kommenden Befehl.
Ein Flip-Flop 88 speichert das Ausgangssignal des Vergleichers 86. Der RAM- 89 speichert in der zuvor beschriebenen Weise die im Blasen-Chip geschriebene Information über defekte Schleifen. Eine Blasensteueranordnung führt derartige Steuerungen wie das Anlegen eines sich drehenden Magnetfeldes an den Blasen-Chip durch. Ein Schieberegister 91 speichert zwischenzeitlich vom Prozessor 7 kommende, einzuschreibende Daten oder zum Prozessor 7 auszulesende Daten. Ein Taktgenerator 92 erzeugt Taktimpulse für die Bit-Verschiebung des Schieberegisters 91 und für die Schleifen-Nr.-Zählung im Schleifenzähler Weiterhin sind in der Schaltung UND-Glieder 93 bis 96 und ODER-Glieder 97 bis 99 vorgesehen.
Mit P^ und P2 ist die Seitenadresse bzw. die Seitenzahl bezeichnet, die vom Prozessor 7 bereitgestellt werden, und die im Seitenadressenzähler 81 bzw. im Seitenzähler 82 eingestellt bzw. gesetzt werden. Ein Seitensignal T tritt jedesmal dann auf, wenn das Auslesen oder Einschreiben einer Seite beginnt. Dieses Signal T wird zum Weiterzählen des Seitenadressenzählers 81 und des Seitenzählers 82 und gleichzeitig als Rücksetzsignal für den Schleifenzähler 83 verwendet. Daten D werden zwischen der Blasensteuerschaltung 8 und dem Prozessor hin- und herübertragen, Daten D^, sind die Daten, die in dem Blasen-Chip eingeschrieben werden sollen, und Daten Dp
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or;g;,\v\l. ^g^üted
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sind Daten, die aus dem Blasen-Chip ausgelesen sind. Die Daten D^ werden über eine Blasentreiberschaltung 9 in den Blasengenerator 1 innerhalb des Blasen-Chips 10 gebracht und die Daten Dp sind die Daten, die über die Blasentreiberschaltung 9 aus dem Blasendetektor22 innerhalb des Blasen-Chips 10 ausgelesen worden sind.
Die üblichen Lese- und Schreibvorgänge werden nachfolgend bei einer solchen Schaltungsanordnung erläutert.
Im vorliegenden Fall wird gemäss dem vom Prozessor 7 kommenden Befehl S nur das Ausgangssignal S* des Funktionsschalters 87 ein Binärwert "1", und die übrigen Ausgangssignale S^ und S2 weisen den Binärwert "0" auf. Es werden nur dann Daten in den RAM 89 geschrieben, wenn das Steuersignal S^ den Binärwert "1" aufweist, und Daten werden nur dann ausgelesen, wenn das Steuersignal S1 den Binärwert "O" aufweist, so dass der Lesevorgang des RAM 89 ausgeführt wird.Die gewünschte Seitenadresse und die gewünschte Anzahl an Seiten wird vom Prozessor 7 in den Zählern 81 bzw. 82 eingestellt.
Der Schleifenzähler 83 zählt immer dann um einen Zählerschritt weiter, wenn er vom Taktgenerator 92 einen Taktimpuls erhält. Unter Verwendung des Ausgangssignals des Zählers 83 als eine Adresse wird der Inhalt des Ram 89 ausgelesen und gelangt über das ODER-Glied 99 an ein UND-Glied 96. Oder genauer ausgeführt, wird die Defekt-Information jeder Schlei fen-Nummer im Ram 89 gespeichert. Wenn die Schleife mit der Nummer, die der vom Schleifenzähler 83 kommenden Adresse entspricht, keine defekte Schleife ist, wird der Binärwert "1" ausgelesen, und wenn diese Schleife eine defekte Schleife ist, wird der Binärwert "0" ausgelesen. Diese Codes "1" und "0" entsprechen dem Zustand, in dem die Magnetblase geschrieben bzw. dem Zustand, in dem Magnetblase nicht geschrieben
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ist. Wenn der Binärwert "1" aus dem RAM 89 ausgelesen worden ist, gelangt also der Taktimpuls vom Taktgenerator 92 an das .Schieberegister 91, und die Bit-Verschiebung im Schieberegister 91 wird ausgeführt. Wenn dagegen der Binärwert "0" vom RAM 89 ausgelesen wird, gelangt kein Taktimpuls an das Schieberegister 91· Infolgedessen wird kein Schiebevorgang im Schieberegister 91 ausgeführt, und die defekte Schleife wird übersprungen.
Wenn das Auslesen oder Einschreiben der Information einer Seite beendet ist, wird das Seitensignal T übertragen, um mit dem Auslesen oder Einschreiben der Information der nächsten Seite zu beginnen, so dass die Zähler 81 und 82 weitergezählt bzw. rückgezählt werden.
Wenn der Zählerstand des Zählers 81 oder 82 dabei gleich dem vorgegebenen Wert Rx. oder Rp wird, gibt der Vergleicher 84- oder 85 an die Blasensteuerschaltung 90 ein Ausgangssignal mit dem Binärwert "1" ab, und der Lese- oder Schreibvorgang wird unterbrochen.
Wenn das Auslesen oder Schreiben bis zu einer vorgegebenen Seite, beispielsweise bis zur Seite 1024 fortgeschritten ist, wird der Lese- oder Schreibvorgang zu diesem Zeitpunkt gestoppt. Daher werden die darauffolgenden Seiten, beispielsweise die Seiten 1025 bis 1152 abgedeckt bzw. maskiert, und die Daten innerhalb des Bereichs sind nicht einer Löschung oder Zerstörung durch den Benutzer ausgesetzt.
Beim Einschreiben der Information über defekte Schleifen in die spezifische Adresse des maskieren bzw. abgedeckten Bereichs innerhalb des Blasen-Chips in der zuvor geschriebenen Weise geht das Ausgangssignal Sp des Funktionsschalters 87 durch den vom Prozessor 7 kommenden Befehl S in den Binärwert "1" über, so dass das UND-Glied 96 über die ODER-Glieder 97 und 99 durchgeschaltet wird und das vom Taktgenerator 92 kommende
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Taktsignal zum Schieberegister 91 gelangt. Gleichzeitig wird die gewünschte Seitenadresse im Seitenadressenzahäler 81 gesetzt, und im Seitenzähler 82 wird der Wert "1" gesetzt. In diesem Falle weisen die Ausgangssignale S^ und S, des Funktionsschalters 87 die Binärwerte "0" auf. Auch dann, wenn der Inhalt des Seitenadressenzahlers 81 mit dem gesetzten Wert übereinstimmt, wird daher für den Einschreibvorgang kein Stoppsignal abgegeben, so dass die Information in die spezifische Seite des maskierten Bereichs geschrieben werden kann. Während der Inhalt des RAM 89 auf Grund des Binärwertes "0" des Steuersignals S^ ausgelesen wird, arbeitet das Schieberegister 91 kontinuierlich weiter, weil an einem Eingang des ODER-Glieds 99 ständig der Binärwert "1" auftritt. Wenn das Einschreiben der Defekt-Information in die spezifische Seite beendet ist, gibt der Vergleicher 85 das Ausgangssignal "1" ab, und vom UND-Glied 9^ gelangt ein Ausgangssignal mit dem .Binärwert "1" zur BIasensteueranordnung 90, so dass der Schreibvorgang unterbrochen wird.
Wenn die Information über defekte Schleifen aus dem Blasen-Chip ausgelesen und in den RAM 89 eingeschrieben wird, geht das Ausgangssignal S^ des Funktionsschalters 87 auf Grund des vom Prozessor 7 kommenden Befehls 8 in den Binärwert "1" über, so dass der RAM 89 in die Schreib-Betriebsweise gebracht wird und dadurch wird das UND-Glied 96 über die ODER-Glieder 97 und 99 durchgeschaltet, so dass die Taktimpulse zum Schieberegister 91 gelangen. Die aus dem Blasen-Chip ausgelesene Information Dp wird also entsprechend den vom Schleifenzähler 83 bereitgestellten Adressen in den RAM 89 sequentiell geschrieben. Wenn die Seitenadresse, in der die Defekt-Information gespeichert ist, erreicht wird, die Adressenmarkierung der Markierungsschleife am letzten Bit ausgelesen und im obersten Bit
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des Schieberegisters 9' gespeichert worden ist, gelangt das Ausgangssignal ait dem Binärwert "1" zu diesem Zeitpunkt an das UND-Glied 95· Da der Zählerstand des Schleifenzählers 83 zu diesem Zeitpunkt der vorgegebene Wert R, ist, gibt der Flip-Flop 88 ein Ausgangssignal mit dem Binärwert "1" ab, so dass vom UND-Glied 95 ein Binärwert "1" bereitgestellt wird, und der Vorgang, bei dem die Information aus dem Chip ausgelesen wird, unterbrochen wird. Auf diese Weise wird die Information über die defekte Schleife im RAM 89 gespeichert.
Bei der in Fig. 4 dargestellten Anordnung kann statt des RAMs ein übliches Register verwendet werden.
Die in Fig. 4 dargestellte Schaltungsanordnung zeigt nur Schaltungsteile, die zur Erläuterung der erfindungsgemässen Lese- und Schreibvorgänge erforderlich sind. Die übrigen Schaltungsteile sind zur Beschreibung der vorliegenden Erfindung nicht erforderlich und wurden daher der Übersichtlichkeit halber weggelassen.
Bei den zuvor beschriebenen Ausführungsbeispielen ist die spezifische Markierungsschleife dafür vorgesehen, um die Adresse zu bezeichnen, in der die Defekt-Information gespeichert ist. In diesem Falle muss die Adresse der Markierung der Markierungsschleife nicht immer gleich den Adressen der üblichen Schleifen sein, in denen die Defekt-Information gespeichert ist, vielmehr können auch Adressen zur Speicherung der Defekt-Information verwendet werden, die in einer spezifischen Beziehung zur Markierungsadresse liegen.
Es ist auch möglich, die Markierungsschleife selbst wegzulassen und die Information über die defekte Schleife in spezifischen Adressen zu speichern. In diesem Falle kann die spezifische Seitenadresse im
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Seitenadressenzahler 81 gesetzt werden, und nur der Inhalt der bestimmten Seite kann ausgelesen und im RAM gespeichert werden.
Wie zuvor beschrieben, ist es also gemäss der Erfindung möglich, mit einer vergleichsweise einfachen und kostengünstigen Schaltungsanordnung die Ausbeute und Effektivität wesentlich zu verbessern und die Arbeitsgeschwindigkeit erheblich zu steigern.
Bei den zuvor beschriebenen Ausführungsbeispielen wurden Magnetblasenspeicher-Einrichtungen betrachtet. Selbstverständlich ist die vorliegende Erfindung nicht nur auf Magnetblasenspeicher, sondern auch bei Halbleiterspeichern anwendbar, die mehrere Speicherschleifen usw. aufweisen.
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OR!C;\'AL INSPECTED

Claims (1)

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    PATENTANWÄLTE
    SCHIFF ν. FÜNER STREHL SCHÜBEL-HOPF EBBINGHAUS FINCK
    MARIAHILFPLATZ 2 4 3. MÜNCHEN 9O POSTADRESSE: POSTFACH 95 01 6O, O-8OOO MÖNCHEN 95
    HITACHI, LTD. 15. Februar 19 79
    DEA-5797
    Pa ten t sr .εη.nie he
    Speicher 11 it: nehraren 'Jnue .lf-Speicherschleif en und Steuereinrichtungen zuc, <:.:\r?,ll el sn Auslesen und Einschreiben -on Info.r-na"iou dsrselben Adressen der jeweiligen GpeirherschleJ. f ■-??:, dadurch g e k e α η ζ β i c h a e t ; dass jede Speicherschleife aus einer Speichereinheit besteht, in der eine Information, die angibt, ob die entsprechende Speicherschleife eine defekte Schleife ist, in eine spezifische Adresse eingeschrieben wird.
    2. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass jede Speicherschleife einen maskierten Bereich hat, in den bzw. aus dein nicht in der üblichen Weise eingeschrieben oder ausgelesen werden kann, und dass
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    sich diese spezifische Adresse im ηastierten Bereich befindet.
    5. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass jede Speicherschleife aus einer Speichereinheit besteht, in der Information, die angibt, ob die entsprechende Speicherschleife eine defekte Schleife ist oder nicht, in mehrere spezifische Adressen eingeschrieben wird.
    4. Speicher nach Anspruch 1 oder 3* dadurch gekennzeichnet, dass jede Speicherschleife mehrere maskierte Bereiche aufweist, in die oder aus denen nicht in der üblichen Weise eingelesen bzw. ausgelesen werden kann, und dass die spezifische Adresse in jeder dieser maskierten Bereiche liegt.
    5. Speicher mit mehreren Umlauf-Speicherschleifen und Steuereinrichtungen zum parallelen Auslesen und Einschreiben von Information derselben Adressen der jeweiligen Speicherschleifen, dadurch gekennzeichnet, dass die Speichereinrichtungen wenigstens eine Markierungsschleife, in der eine spezifische Markierung in einer spezifischen Adresse geschrieben ist, sowie mehrere Speicherschleifen aufweist, in denen Information, die angibt, ob die entsprechenden Speicherschleifen defekte Schleifen sind oder nicht, in Adressen entsprechend der spezifischen Adresse geschrieben sind.
    6. Speicher nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass jede Speicherschleife wenigstens einen maskierten Bereich aufweist, in den bzw. aus dem nicht in der üblichen Weise eingelesen bzw. ausgelesen werden kann, und dass die Adresse, die der spezifischen Adresse entspricht, im maskierten Bereich liegt.
    peicher nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichne
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    dasr die Markierungsschleife die Speichereinheit ist, die de^ letzten Bit der aus der Speichereinrichtung auszulesenden Daten entspricht.
    909834/0766
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