DE2006987A1 - Automatische Prüfvorrichtung für Rechenanlagen - Google Patents
Automatische Prüfvorrichtung für RechenanlagenInfo
- Publication number
- DE2006987A1 DE2006987A1 DE19702006987 DE2006987A DE2006987A1 DE 2006987 A1 DE2006987 A1 DE 2006987A1 DE 19702006987 DE19702006987 DE 19702006987 DE 2006987 A DE2006987 A DE 2006987A DE 2006987 A1 DE2006987 A1 DE 2006987A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- register
- circuit
- digits
- voltage
- reference voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/30—Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
200698?
Control Data Corporation
Minneapolis. Minn..V.St.A. 16.2.1970
Automatische Prüfvorrichtung für Rechenanlagen
Die Erfindung betrifft eine automatische Vorrichtung zur
wartungsmäßigen Überprüfung von Großrechnern durch selektive Belastung der Betriebsspannungs-Grenzbereiche
der Schaltkreise des Rechners. Diese Schaltkreise sind typischerweise in Gruppen zusammengefaßt und als Ganzes
in Bausteinen angeordnet. Die Bausteine sind ihrerseits
über Steckerleisten und entsprechende Verdrahtungen elektrisch miteinander verbundene
Erfindungsgemäß wird es ermöglicht, alle diese in einem
elektronischen Baustein angeordneten Schaltkreise durch selektive Belastung gleichzeitig zu überprüfen. Hierdurch
wird die Lokalisierung und der Austausch eines fehlerhaften
Schaltungs-Bausteins ermöglicht. Da jeder dieser elektronischen Bausteine an einem bestimmten Platz im Rechner angeordnet
ist, wird erfindungsgemäß auch ein Adressierschema geschaffen, das durch eine Datenverarbeitungseinrichtung
betätigt werden kann. Die Datenverarbeitungseinrichtung kann dabei dann jeden einer bestimmten Anzahl von zugeordneten
elektronischen Bausteinen, die den Digitalrechner bilden, lokalisieren und selektiv überprüfen.
009938/1921
Die elektronischen Schaltkreise, welche zu überprüfen sich die Erfindung zur Aufgabe gemacht hat, sind z.B.
im Patent ... (Az.: P 19 06 757.3) beschrieben. Die Schaltungen der in diesem Patent beschriebenen Art benötigen für ihre Punktion eine bestimmte Bezugsspannung, um
den Spannungswert einzustellen, bei welchem der Baustein durchschaltet. Das genannte Patent schreibt einen Bezugsspannungswert
von -1,2V vor und weist Spannungswerte auf,
bei welchen die Darstellung der binären "Null" und "Eins" durch + 0,4V von dieser Bezugsspannung vorgenommen wird.
Die Erfindung ist darüberhinaus bei jedem Rechner anwendbar, der die Anlegung einer Bezugsspannung verlangt, von
der der Schwellwert für Binärdarstellung durch die Spannungswerte abgeleitet wird.
Aufgabe der Erfindung ist mithin in erster Linie die Schaffung einer Vorrichtung zur Belastung der Betriebsspannungs-Grenzbereiche
eines Schaltkreises zur Peststellung von schwachen oder fehlerhaften Schaltungsbauteilen.
Dabei soll auch eine Vorrichtung zum Auffinden und Einkreisen von fehlerhaft arbeitenden Rechner-Bauteilen geschaffen werden,
wobei erfindungsgemäß auf vorteilhafte Weise eine
automatische Überprüfung aller Schaltungen eines Digitalrechners auf vorbestimmte Weise ermöglicht wird und dabei infolge
der erfindungsgemäß erreichbaren hohen Prüf-Geschwindigkeit
die zur Durchführung der Prüfung erforderliohe Zeitspanne erheblioh verkürzt wird. Besonders vorteilhaft ist es auch,
daß erfindungsgemäß die überprüfung der Digitalrechner-Sohaltungen
durchgeführt werden kann, ohne daß dabei der Betrieb der Schaltungen bei der Durchführung von Datenverarbeitungs-Funktionen
beeinträchtigt würde.
009838/1921
Auch kann aufgrund der neuen automatisierten Vorrichtung zur Überprüfung der Digitalrechner-Schaltungen während
der Prüfung der Rechner ein unabhängiges Rechnerprogramm
durehfuhren» .
Im folgenden ist die Erfindung in einem !bevorzugten Ausführungsbeispiel
anhand der Zeichnungen näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1a eine perspektivische Darstellung eines Groß-Digitalrechners,
Fig. 1b eine perspektivische Darstellung eines Chassis
des Rechners gemäß Fig. 1a zur Veranschaulichung
der Anordnung der verschiedenen logischen Bausteine,
Fig. 2 eine schematische Darstellung bzw. ein Schaltbild
einer typischen, mit eingeprägtem Strom arbeitenden logischen Rechnerschaltung in Verbindung
mit einer vereinfachten Bezugsspannungsschaltung,
Fig. 3 ein Blockschaltbild eines Adressenwählers zur
Auswahl eines einzelnen logischen Bausteins,
Fig. 4 ■ ein Blockschaltbild zur Detail-Darstellung des Adressenwählers gemäß Fig. 3>
Fig. 5 ein· Schaltbild einer Schaltung zur Auswahl des
Bezugsspannungs-Grenzbereichs,
009.838/1921
Pig. 6 ein Schaltbild einer Treiberstufe für die Bezugsspannungs-Grenzbereieh-Schaltung und
Fig. 7 ein Schaltbild der an eine Bezugsspannungs-Schaltung
in einem typischen logischen Schaltungs-Baustein angeschlossenen Schaltungen gemäß den Fig. 5 und 6„
Die perspektivische Darstellung eines Groß-Digitalrechners
gemäß Fig. 1a zeigt vierzehn nebeneinander angeordnete Chassis-Anordnungen, welche die Rechneranlage bilden.
Diese Chassis-Anordnungen sind typischerweise durch nicht dargestellte verdrillte Leitungspaare untereinander verbunden.
Obgleich die einzelnen Chassis-Anordnungen einander ähnlich sind, sind ihre logischen Schaltungs-Bausteine
und Verdrahtungs-Kombinationen jeweils verschieden und
voneinander unabhängig, so daß sie eine Vielzahl von Rechnerfunktionen durchzuführen und das Zusammenwirken aller
dieser Funktionen zu gewährleisten vermögen und somit insgesamt eine Datenverarbeitungsanlage bilden.
Fig. 1b zeigt ein typisches Chassis 100 in vergrößertem
Maßstab, bei welchem die einzelnen logischen Bausteine deutlich ersichtlich sind. Die Bausteine 101 sind in waagerechten
Zeilen und lotrechten Spalten angeordnet, die numerisch bezeichnet und durch die erfindungsgemäße Vorrichtung
adressiert werden können. In bevorzugter Ausführungsform
enthält das Chassis gemäß Fig. 1b jeweils sechzehn logische Bausteine Un jeder Zeile und Spalte. Diese Anordnung ermöglicht
eine zweckmäßige Unterteilung des Chassis und der Schaltungs-Bausteine in 8 χ 8 Quadranten und vereinfacht
das noch zu beschreibende Adressierschema.
-009838/1921
Fig, 2 veranschaulicht ,zwei typische mit eingeprägtem
Strom arbeitende logische Schaltungen 201 und 202 in
einem Baustein 101. Der Baustein 101 enthält vorzugsweise
Dutzende von derartigen Schaltungen, die auf einer Vielzahl
von Platinen angeordnet und zur Durchführung spezieller logischer Funktionen untereinander verbunden sind. Jede
dieser logischen Schaltungen weist eine Bezugsspannungs-Eingangsleitung
auf, wie den Eingang 20J für die Schaltung
201, an welchen die Basis-eines Transistors 205 angeschlossen
ist, der sperrt, wenn einer der beiden an Eingänge 206 und
207 angeschlossenen Transistoren leitet· Wenn die an den Eingängen 206 und 207 liegenden Signale derart sind, daß
sie die beiden angeschlossenen Transistoren zum Sperren
bringen, fällt die Spannung über einen Widerstand 204 ab
und wird die Spannung am Emitter des Transistors,205
negativer. Der Transistor 205 wird leitend, wenn die Emitterspannung unter die an den Eingang 205 angelegte Bezugsspannung abfällt, wobei eine Spannungsänderung an einer
Ausgangsklemme 210 auftritt. Die Ausgangsklemme 210 ist
an die andere mit eingeprägtem Strom arbeitende logische Schaltung angeschlossen und führt die im logischen Baustein
erforderlichen Funktionen durch. Ersichtlicherweise werden
die an den logischen Spannungs-Eingängen 206 und 207 liegenden, zum Durchschalten oder Sperren des Transistors 205
erforderlichen Spannurtgswerte" in erster Linie durch die
Größe der an den Bezugsspannungs-Eingang 20^ angelegten
Spannung bestimmt. Wenn sich die am Eingang 205 liegende
Spannung in positiver oder negativer Richtung ändert,
verschieben sich die Bedingungen für die an den Eingängen 206 und 207 anliegenden Spannungen entsprechend. Es 1st
somit ereichtlieh, daß eine Änderung des Spannungswerts
am Bezugespannungs-Eingang 203 eine Möglichkeit zur Belastung
009838/1921
bzw. beliebigen Durchsteuerung der Schaltung und zur
Peststellung von fehlerhaften Bauteilen oder falschen Spannungswerten für bestimmte Funktionen bilden kann.
Wenn beispielsweise der Nenn-Bezugsspannungswert am Eingang 203 gleich - 1,2 V ist und die Nenn-Spannungswerte
an den Eingängen 206 und 207 für eine binäre "1" oder "θ" - 1,6 V bzw. 0,8 V betragen, bildet die Verschiebung des
Bezugsspannungswerts am Eingang 203 um einige Zehntel
Volt eine gute Prüfungsmöglichkeit für das Vorliegen von in den Durchsteuer-Grenzbereichen liegenden Spannungswerten
für die logischen Schaltungen an den Eingängen 206 oder 207ο Falls am Eingang 206 oder 207 ein im Grenzbereioh
liegender Spannungswert für die logischen Schaltungen anliegt, würde die mit eingeprägtem Strom arbeitende logische
Schaltung bei belastetem Bezugsspannungswert nicht einwandfrei funktionieren, so daß auch die logischen Funktionen
der Schaltung nicht einwandfrei ablaufen wurden. Die fehlerhafte Durchführung einer logischen Funktion kann durch
die Datenverarbeitungsanlage festgestellt werden, wenn diese durch für diesen Zweck entwickelte spezielle Prüfprogramme
angesteuert wird.
Die an den Eingang 2OJ gemäß Fig. 2 angelegte Bezugsspannung
wird durch einen aus Widerständen 212 und 213 bestehenden
Spannungsteiler bestimmt. Diese Widerstände sind derart dimensioniert, daß sie eine Nenn-Spannung von -1,2 V an
der Verzweigung 215 der Teilsohaltung liefern. Diese Spannung wird dem Bezugsspannungs-Eingang 203 sowie anderen
derartigen Eingängen, wie dem Eingang 208 der Schaltung 202, eingespeist. Ein bestimmter Spannungsteiler kann dabei
für mehrere mit eingeprägtem Strom arbeitende logisohe
-
009838/1921
Schaltungen vorgesehen sein. Im Hinblick auf die große Anzahl
der in einem logischen Baustein 101 untergebrachten logischen Schaltungen sind jedoch für jeden dieser Bausteine mehrere
Teilerschaltungen erforderlich. Diese Teilerschaltungen sind typischerweise in einem logischen Schaltungs-Baustein mit
ihren Bezugsspannungs-Ausgangen zusammengeschaltet, wie dies,
in Fig. 2 durch die Leitung 216 dargestellt ist. Diese Verbindung
gewährleistet, daß alle an die einzelnen Schaltungen eines bestimmten Bausteins 101 angelegten Bezugsspannungen
jeweils gleich sind und über einen einzigen gemeinsamen Eingang des Bausteins beeinflußt werden können.
Fig. 2 veranschaulicht weiter eine vereinfachte Treiberschaltung
220, die über eine Verbindungs-Leitung 219 an die Verzweigung 215 der Teilerschaltung des Bausteins 101
angeschlossen ist. Da die Schaltung 220 typischerweise in
einem vom Baustein 101 getrennten Baustein vorgesehen ist,
erfolgt die Verbindung über eine Verdrahtung an der Rückseite
der Bausteine. Die·Steckerstifte für den Baustein 101 und den die Schaltung 220 aufnehmenden Baustein sind in Fig. 2
mit 217 bzw, 221 bezeichnet.
Die Schaltung 220 weist zwei Transistoren 226 und 227 auf, die in Reihe zwischen den positiven Pol 228 und den negativen
Pol 235 einer Spannungsquelle geschaltet sind. Die Schaltung
weist einen Abgriff an einer Verzweigung 2^0 auf, an welcher
eine Leitung mit einem Steckerstift 221 angeschlossen ist. Wenn der Transistor-Eingang 2J52 mit einer ein Leiten des
Transistors 226 bewirkenden Spannung vorgespannt und der Transistor 227 gesperrt gehalten wird, fließt ein Strom vom
Plus-Pol 228 über den Transistor 226 zur Leitung 219· Dieser
Strom fließt in den Baustein 101 und von hier über den Widerstand
.213 zur negativen Spannungsquelle (-V). Hierdurch wird
009838/1921
der Spannungsabfall über den Widerstand 21 j5 erhöht, wodurch
die Amplitude der an die Bezugsspannungs-Eingänge - z.B. 203,
208 - angelegten Bezugsspannung erhöht wird. Wenn der Eingang 2J>h der Schaltung 220 in dem Sinn verändert wird, daß der
Transistor 227 leitet und der Transistor 226 sperrt, fließt ein Strom von der positiven Spannungsquelle (+V) im Baustein
101 über den Widerstand 212, die Leitung 219 und den Transistor 227 zum Minus-Pol 235. Dieser Strom läßt den Spannungsabfall
über den Widerstand 212 sich erhöhen, so daß an den Bezugsspannungs
-Eingängen ein stärker negativer Bezugsspannungswert anliegt. Auf diese Weise kann die Schaltung 220 ersichtlicherweise
selektiv derart angesteuert werden, daß eine Erhöhung oder eine Verringerung der Bezugsspannung für alle
im Baustein 101 angeordneten Schaltungen bewirkt wird.
Ein negatives Inkrement zum Bezugsspannungswert wird als "hoher" Spannungs-Grenzbereich und ein positives Inkrement
zum Bezugsspannungswert wird als"niedriger" Spannungs-Grenzbereich
bezeichnet. Wenn beide Transjsboren 226 und 227
der Schaltung 220 sperren, fließt außerdem ersichtlicherweise kein Strom über die Leitung 219 und liegt an den Bezugsspannungs-Eingängen
im Schaltungs-Baustein 101 keine zusätzliche Änderungs-Spannung an.
Im folgenden sind die Einrichtungen zum selektiven Ansteuern der Schaltung 220 in Abhängigkeit von Digitalrechner-Befehlen
erläutert. Vorzugsweise ist für jeden Baustein 101 eine Schaltung 220 der in Pig. 2 in vereinfachter Form dargestellten
Art vorgesehen, wobei vierundsechzig derartige Schaltungen zusammen in einem einzigen speziellen Baustein untergebracht
sind. Diese Anzahl von Schaltungen reicht aus, um eine unabhängige Spannungsgrenzbereich-Ansteuerung bei jedem der vierundseohzig
Schaltungs-Bausteine in einem Chassis-Quadranten
- 9
009838/1921
sicherzustellen. Hieraus folgt, daß vier dieser speziellen
Bausteine für eine ganze Chassis-Anordnung 100 ausreichen.
Diese speziellen Schaltungs-Bauteile werden im folgenden der Einfachheit halber als BH-Bausteine bezeichnet. Jede
der in Pig. 1 dargestellten Chassis-Anordnungen ist daher
in vier Quadranten von je 64 Bausteinen unterteilt, von denen jeder 63 logische Bausteine der dem Baustein 101
entsprechenden Art und einen BH-Baustein aufweist.
Fig. 3 zeigt ein Blockschaltbild eines Schemas zur Auswahl
der Treiberschaltungen, die den betreffenden logischen Schaltungs-Bauteilen zur Änderung der Bezugsspannungen
zugeordnet sind. Ein Register 301 speichert ein aus 12 Bits
bestehendes Binärwort, welches es bei der bevorzugten Ausführungsform
von einer speziellen Wartungs- bzw. Prüf-Datenverarbeitungseinrichtung
erhält. Zur Vereinfachung der Erläuterung sind die Stellen des Registers 301 in Fig. 3
durchgehend mit 0 bis 11 numeriert. Die das Register 301
bildenden Speicherelemente sind vorzugsweise herkömmliche Flip-Flop-Schaltungen. .
Die Stellen 3 und 7 bis 11 des Registers 301 sind an den
Eingang eines Chassis- und Quadranten-Dekoders 303 angeschlossen,
der von beliebiger, herkömmlicherweise bei Rechnern verwendeter Art sein kann und zur Umsetzung einer eingespeisten
Binärziffer in ein Signal dient, das eine einer Anzahl von Ausgangsleitungen aktiviert. Der Dekoder 303 weist sechs
binäre Eingangsleitungen und vierundsechzig Ausgangsleitungen auf, die selektiv durch die verschiedenen binären
Eingangskombinatlönen ansteuerbar sind. Die Ausgangsleitungen sind mit XO, X1 usw· bezeichnet und jeweils einem '
bestimmten Chassis-Quadranten gemäß Fig. 3 zugeordnet.
. - 10
009838/1921
- ίο -
Die Stellen O, 1 und 2 des Registers J5O1 sind an Spalten-Wählleitungen
304, 305 bzw. 306 angeschlossen, die ihrerseits
mit allen Chassis-Anordnungen verbunden sind. Genauer
gesagt, sind die Leitungen J5O4, 305 und 306 mit jedem
der in den Chassis-Anordnungen befindlichen BH-Bausteinen
verbunden. Die Stellen 4, 5 und 6 des Registers 30I sind
an Wählleitungen 308, 309 bzw, 3IO angeschlossen, die ihrerseits
ebenfalls mit jedem der in den Chassis-Anordnungen
befindlichen BH-Bausteinen verbunden sind. Jeder BH-Baustein der Chassis-Anordnungen ist mithin unmittelbar mit sechs
Stellen des Registers 30I verdrahtet und vermag die in diesen
Stellen gespeicherten Binärziffern zu empfangen. Wie noch näher erläutert werden wird, ist der einem speziellen
Chassis-Quadranten zugeordnete BH-Baustein so geschaltet,
daß er auf die über die Leitungen 304 bis 306 und 308 bis
310 eingespeisten Binärziffern anspricht und die Spannungsgrenzwert-Treiberschaltungen
aktiviert, die den Schaltungs-Bausteinen zugeordnet sind, welche an der durch die in
diesen Registerstellen gespeicherten Bits bestimmten Zeilen- und Spaltennummer liegen.
Pig. 4 zeigt ein Blockschaltbild eines typischen BH-Bausteins.
Ein Zeilendekoder 401 ist an Zeilen-Wählleitungen 308,
und 310 angeschlossen, während ein Spaltendekoder 403 an
die Spalten-Wählleitungen 304, 305, 306 angeschlossen 1st.
Der Zeilendekoder 401 und der Spaltendekoder 403 sind Dekoder, wie sie im Rechnerbau üblicherweise verwendet werden, und
slid so ausgelegt, daß sie wahlweise eine ihrer acht Ausgangsleitungen
in Abhängigkeit von der Binärzifferdarstellung an ihren drei Eingangsleitungen aktivieren. Der Zeilendekoder
401 ist über seine Ausgangsleitung 402 an Treiberschaltungen
009838/1921
(die in Fig, 2 in vereinfachter Form als Schaltung 220
dargestellt sind) 4O5, 4o6 und sechs weitere, nicht dargestellte
Schaltungen dieser Art angeschlossen, die den in derselben Zeile liegenden Bausteinen zugeordnet sind. Die
Ausgangsleitung 4O7 des Spaltendekoders ist mit der Spannungsgrenzbereich-Treiberschaltung 405 sowie sieben
anderen, nicht dargestellten derartigen Schaltungen in derselben Spalte verbunden. Ebenso ist die,Ausgangsleitung 4o8
an acht derartige Treiberschaltungen in einer gemeinsamen
Spalte angeschlossen, von denen eine' die Treiberschaltung 4θβ ist., während eine Aus gangs leitung 414 mit acht solchen
Treiberschaltungen einer gemeinsamen Spalte verbunden ist,
von1 denen eine die Treiberschaltung 4θβ ist. Ersichtlicherweise
ist mithin Jede Zeilendekoder- und jede Spaltendekoder-Aus gangs leitung mit acht Treiberschaltungen verbunden, die
den logischen Bausteinen in einer gemeinsamen Zeile bzw. Spalte zugeordnet sind, wobei bei Aktivierung einer einzelnen
Ausgangsleitung von jedem Dekoder zwei Signale an die
Treiberschaltung abgegeben werden, die jeweils mit der
aktivierten Zeilendekoder-Ausgangsleitung und der aktivierten
Spaltendekoder-Ausgangsleitung verbunden sind. Keine der anderen Treiberschaltungen empfängt diese beiden Signale,
obgleich einige von ihnen ein einziges Signal vom einen
oder vom anderen.Dekoder empfangen. Wie noch näher erläutert
werden wird, benötigt eine solche Treiberschaltung für ihre
Erregung beide Steuersignale. '
In Fig. 4 ist auch eine Grenzbereich-Wählschaltung 417 dargestellt.
Diese Schaltung spricht auf ein Wählsignal an, das sie über ekle Leitung 418 von einem der Ausgänge des Chassis·
und Quadrant-Dekoders J5O3 (Fig. 3) empfängt. Die Schaltung
-
009838/1921
417 spricht auch auf ein Eingangssignal an, das sie über
eine Hoch/Tief-Wählleitung 419 empfängt. Die Leitung 419
überträgt ein Signal, das in der Prüf-Datenverarbeitungseinrichtung
entsteht und anzeigt, ob eine Überprüfung auf hohen oder niedrigen Grenzbereich durchgeführt werden soll.
Der Ausgangspunkt dieses Signals ist nicht dargestellt, das Signal wird aber typischerweise in einem Register bzw. einer
Flip-Flop-Anordnung ähnlich dem Register J5O1 gemäß Fig. jj
gespeichert. Das über die Leitung 419 übertragene Signal
wird gleichzeitig allen BH-Baustelnen eingespeist. Auf die Hoch/Tief-Auswahl spricht jedoch nur der BH-Baustein mit
einer Grenzbereich-Wählschaltung 417 an, die gleichzeitig ein Signal'über die Wählleitung 418 empfängt.
Die Schaltung 417 weist zwei Ausgangsleitungen auf, von denen jede mit allen Treiberschaltungen im BH-Baustein gemäß
Fig. 4 verbunden ist. Die Hoch-Wählleitungen 421 werden
aktiviert, wenn eine Prüfung im oberen Grenzbereich durch das auf der Leitung 419 liegende Signal angezeigt wird,
während die Tief-Wählleitungen 422 aktiviert werden, wenn an der Eingangs leitung 419 ein Wählsignal für den unteren
Grenzbereioh liegt.
Fig. 5 ist ein schematisches Schaltbild der Grenzbereich-Wählschaltung
417 gemäß Fig. 4. Transistoren 501, 502 und
503 bilden eine herkömmliche, mit eingeprägtem Strota arbeitende
logische Schaltung, während Transistoren 5II, 5I2
und 513 eine zweite herkömmliche Schaltung dieser Art bilden.
Die an die Transistoren 5035 und 513 angelegten Signale sind
Bezugsspannungssignale, die mit v * bezeichnet sind. Die
Transistoren 501 und 502 sind als logisches UND-Glied geschaltet, wobei angenommen wird, daß eine logische "1"
009838/1921
durch -1#6 V und eine logische 11O" durch -0,8 V dargestellt
wird· Unter dieser Voraussetzung werden die durch die Transistoren 501 und 502 gebildeten parallelen Stromkreise
erst dann unterbrochen* wenn eine logische "1" (-1,6 V) an die Eingangsklemmen beider Transistoren angelegt
wird. Wenn dieser Zustand auftritt, fällt der Spannungsabfall über einen Widerstand 504 auf einen Wert ab, der durch die
Größe der Bezugsspannung V f bestimmt wird, und beginnt
der Transistor 503 zu leiten· Infolgedessen fällt die Spannung
an einem Ausgangsansohluß 506 ab, so daß der Stromfluß durch
den Transistor,. 505 einsetzt· Wenn der Strom über den Transistor
505 fließt, wird die Spannung am Anschlußpunkt 507 stärker
negativ« Diese negative Spannung wird über einen strombegrenzenden
Widerstand 508 an die "Hoch"-Wählleitung 421 angelegt.
Zusammenfassend läßt sich sagen, daß bei Anlegung eines einer
logischen "1" entsprechenden.Signals an beide Transistoren 50I
und 502 eine negative Spannung an die "Hoch"-Wählleitung 421
angelegt wird; jede andere Kombination von an die Transistoren 501 und 502 angelegten logischen Signalen hat zur J?vuige,
daß eine ungefähr auf Erdpotential (O V) liegende Spannung
an die MHoohM-Wählleitung 421 angelegt wird.
Die Arbeitsweise der durch die Transistoren 5II, 512 und 513
gebildeten Schaltung kann, mit einer Ausnahme, auf gleiche
Weise wie vorstehend erläutert beschrieben werden· Bei dieser Schaltung befindet sich der Ausgangs-Verbindungspunkt 516 in
dem die parallelgeschalteten Transistoren 5II und 512 enthaltenden
Stromkreis # Wenn daher ein einer logisohen "1"
entsprechendes Signal an beide Transistoren 511 und 512 angelegt
wird, nähert sich die am Verbindungspunkt 516 liegende
Spannung dem Erdpotential und wird über den strombegrenzenden
Widerstand 518 an die "Tief"-Wählleitung 422 angekoppelt·
- 14 003838/1321
Jede andere Kombination von logischen Eingangssignalen ergibt eine negative Spannung am Ausgangs-Verbindungspunkt
516 und auch an der "Tief"-Wählleitung 422,
In diesem Zusammenhang ist zu beachten, daß die obigen Hinweise auf die sich dem Erdpotential annähernden Spannungen
insofern unrichtig sind, als stets ein kleiner Widerstandsabfall vorhanden ist. Beispielsweise ist die Spannung am
Verbindungspunkt 507 bei leitendem Transistor 505 mit -0,8 V
und die Spannung am Verbindungspunkt 516 bei sperrenden
Transistoren 511 und 512 ebenfalls mit -0,8 V gemessen worden.
Die die Arbeitsweise der Grenzbereich-Wählschaltung gemäß Fig. 5 steuernden Eingangsleitungen sind die Wählleitung 418
und die Hoch/Tief -Wählleitungen 419a und 419b, Die Leitungen
419a und 419b sind typischerweise verdrillt und besitzen im
Sinn der Spannungen für die logischen Bauteile stets entgegengesetzten Wert· Dies bedeutet, daß das an der Leitung 419b
liegende Signal eine logische "θ" darstellt, wenn das auf der Leitung 419a liegende Signal eine logische K1n 1st. Der
umgekehrte Fall kann ebenfalls eintreten, doch können, an den
Leitungen 419a und 419b niemals gleichzeitig Signale anliegen,
welche dieselben logischen Werte darstellen· Die Wirkung dieser Bedingung besteht darin, daß an einer der Wählleitungen
421 oder 422 eine negative Spannung anliegt, sooft eine
logische n1n auf der Wählleitung 418 erscheint· Die folgende
Tabelle veranschaulicht die Spannungswerte an den Leitungen 421 und 422 für die vier an sich möglichen Kombinationen von
logischen Eingangssignalen. Gemäß'dieser Tabelle wird eine logische "1" durch etwa -1,6 V und eine logische *0" durch
etwa -0,8 V dargestellt.
009838/1921
418* | 419a | 419b | 421 (hoch) | 422 (tief) |
Q | 1 | O | -0,8 V | -1,6 V |
O | O | 1 | -0,8 V | -1,6 V |
1 | 1 | O | -1,6 V | -1,6 V |
1 | O | 1 | -0,8 V | -0,8 V |
Pig, 1 veranschaulicht eine Treiberschaltung der in Pig. 4
im Blockschaltbild dargestellten Form, Soweit möglich, sind die zur Erläuterung der vereinfachten Spannungsgrenzbereich-Schaltung
gemäß Fig. 2 benutzten Bezugsziffern auch zur Bezeichnung der entsprechenden Bauteile der Schaltung
gemäß Flg. 6 herangezogen worden, Transistoren 601, 602 und
605 bilden eine herkömmliche, mit eingeprägtem Strom arbeitende logische UND-Schaltung und werden daher nicht näher
erläutert» Wenn an der Leitung 402 ein Zeilen-Wählsignal und an der Leitung 407 ein Spalten-Wählsignal anliegt, sperren
die Transistoren 601 und 602, während die Transistoren 603
und 6o4 leiten· Die Transistoren 605 und 6θ4 bewirken ein
Leiten der Transistoren 226 bzw. 227, doch versetzen die auf
der Leitung 421 und 422 von der Grenzbereich-Wählschaltung
417 (Fig. 4) liegenden Signale nur einen dieser Transistoren
in die Lage, zu leiten. Wenn die "Hoch"-Wählleitung 421 aktiviert
ist (Flg. 5) liegt der Verbindungspunkt auf etwa -1,6 V und leitet der Transistor 227. Wenn die "Tief"-Wählleitung 422 aktiviert 1st, liegt der Verbindungspunkt 228 etwa
auf Erdpotential (-0,8 V) und leitet der Transistor 226·
In Jedem Fall gewährleistet der von einem dieser Transistoren
009838/1921
- 1β -
durchgelassene Strom eine schrittweise Spannungsänderung
von allen über die Verbindung 221 in diese Schaltung eingeschalteten
Bezugsspannungs-Schaltungen.
Fig. 7 zeigt die Verbindung der Schaltungen gemäß den Fig.
5 und 6 in einem typischen BH-Baustein 701 sowie die Verbindung
des Bausteins 701 mit den Bezugsspannungs-Schaltungen
eines typischen logischen Bausteins 101. Die Wählleitung 418 sowie die Hoch/Tief-Wählleitungen 419a und
419b sind als Eingänge der Grenzbereich-Wählschaltung dargestellt.
Die Ausgänge von dieser Schaltung, die "Hoch-Wählleitung 421 und die "Tief"-Wählleitung 422,sind an eine
der Spannungsgrenzbereich-Treiberschaltungen an den Verbindungspunkten 235 bzw. 228 angeschlossen. In Fig. 7 sind
die Eingänge J5O8, 309 und 3I0 zum Zeilendekoder 401 sowie
die Eingänge J5O4, 305, J5O6 zum Spaltendekoder 403 dargestellt
· Die Ausgangs leitung vom Verbindungspunkt 2350 der Spannungsgrenzbereich-Treiberschaltung zum Steckerstift
ist ebenfalls zusammen mit den Verbindungen zu typischen, im logischen Baustein 101 enthaltenen Bezugsspannungs-Schaltungen
dargestellt.
Die Erfindung schafft somit Schaltungen, mit deren Hilfe eine Prüf-Datenverarbeitungseinrichtung selektiv den
Spannungs-Betriebsgrenzbereich in einem beliebigen einer Vielzahl von logischen Bausteinen zur Belastung des Betriebs
der in diesen logischen Schaltungs-Bausteinen enthaltenen Schaltungen einzustellen vermag. Obgleioh vorstehend nur
eine einzige Ausführungsform der Erfindung dargesteü. It und
beschrieben ist, sind innerhalb des Rahmens der Erfindung selbstverständlich zahlreiche Änderungen und abgewandelte
Ausführungsformen möglich. Aus diesem Grund soll die Erfindung alle innerhalb des erweiterten Schutzumfangs liegenden
009838/19 21
Abwandlungen und Änderungen, insbesondere jedoch alle
Kombinationen und Unterkombinationen der Merkmale, die
Verwendung finden, mit umfassen.
Zusammenfassend schafft die Erfindung mithin eine Vorrichtung
für die Durchführung der automatisierten Überprüfung von
Großrechnern durch selektive Belastung der Betriebsspannungs-Grenzbereiche
eines beliebigen einer Vielzahl von logischen Bausteinen, welche den Rechner bilden. Die selektive Belastung
erfolgt unter der Steuerung einer zusätzlichen Datenverar»
beitungseinrichtung.
00983871921
Claims (6)
1. Automatische Prüfvorrichtung zur Belastung der Bezugsspannungen von einzelnen Bausteinen eines Rechners,
der aus einer Vielzahl von Bausteinen besteht« von denen jede elektronische Schaltkreise mit Bezugsspannungsquellen
zur Festlegung des Schwellwerts der Schaltwerte aufweist, gekennzeichnet durch eine Datenverarbeitungseinrichtung
zur Steuerung des Prüfprogramms und zur Festlegung der Reihenfolge der Prüfschritte,
ein der Datenverarbeitungseinrichtung zugeordnetes Register (30I) zur Speicherung der von der Datenverarbeitungseinrichtung
empfangenen binären Signale, an das Register gekoppelte Dekodierschaltungen (303, 401, 4Oj5)
mit einer Anzahl von Ausgangsleitungen zur selektiven Aktivierung der Ausgangsleitungen in Abhängigkeit von
den im Register gespeicherten binären Signalen und Treiberstufen (4O5# 4o6, 416 usw.) mit an die Ausgangsleitungen
angeschlossenen Eingängen und mit den Rechner-Bausteinen verbundenen Ausgängen zur Erhöhung und Verminderung
der Spannung der Bezugsspannungsquellen in Abhängigkeit von an den Eingängen anliegenden Steuersignalen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine Wähleinrichtung vorgesehen ist, die ein erstes
Register zur Speicherung von für die Position der Bezugsspannungsquelien
repräsentativen Ziffern, eine mit dem Register verbundene Dekodiereinrichtung zur Umwandlung
der gespeicherten Ziffern in eine Anzahl von Steuer-
-
009838/1921
signalen und eine Verbindungseinrichtung zum Anlegen'
der verschiedenen Steuersignale an eine Schalteinrichtung zur Steuerung des Stroms in beiden Richtungen
aufweist»
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Regeleinrichtung vorgesehen ist, die ein zweites Register zur Speicherung von für die Richtung
des Stromflusses in der Sehalteinrichtung repräsentativen
Ziffern und eine an das zweite Register angeschlossene zweite Dekodiereinrichtung zur Umwandlung der
gespeicherten Ziffern in Richtungs-Steuersignale zur
Steuerung der Stromflußrichtung in der Schalteinrichtung
aufweist.
4β Vorrichtung nach Anspruch 3» dadurch gekennzeichnet,
daß jede Schalteinrichtung weiterhin zwei zum Leiten in Reihe miteinander zwischen eine positive und eine
negative Spannungsquelle eingeschaltete Transistoren, eine Einrichtung, deren eines Ende an die gemeinsame
Verzweigung zwischen dem ersten und dem zweiten Transistor und deren anderes Ende an mindestens eine der
Bezugsspannungsquellen angeschlossen ist, und eine an die Steuereingänge der beiden Transistoren angeschlossene und auf die Wähleinrichtung ansprechende und die
beiden Transistoren selektiv durchsteuernde Transistor-Sehalteinrichtung
aufweist.
5* Vorrichtung nach Anspruch K9 dadurch gekennzeichnet,
daß die Datenverarbeitungseinrichtüngen einen binären
Digitalrechner mit gespeichertem Programm aufweisen.
009 838/1921
6. Vorrichtung zur Überprüfung eines beliebigen einer
Anzahl von logischen Bausteinen, von denen jeder eine durch Anschluß an einen Spannungsteiler gebildete
Bezugsspannungsquelle aufweist, insbesondere
nach einem der vorangehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Stromversorgung zur Lieferung von Strom
zur Spannungsteiler-Anzapfung, eine Verbindungseinrichtung
zur Stromabnahme von der Spannungsteiler-Anzapfung, eine Wähleinrichtung zur selektiven Verbindung
der Stromversorgung und der Verbindungseinrichtung mit der Spannungsteiler-Anzapfung, ein Register
zur Speicherung von für einen beliebigen einer Anzahl von logischen Bausteinen repräsentativen Ziffern und
eine zweite Wähleinrichtung zur selektiven Aktivierung einer beliebigen der Anzahl von Stromversorgungen und
Verbindungseinrichtungen entsprechend der im Register gespeicherten Ziffern.
7, Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Datenverarbeitungseinriohtung zur überführung von Ziffern in das Register und zur Aktivierung der
ersten und der zweiten Wähleinrichtung vorgesehen ißt.
8t Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Wähleinrichtung Transistor-Schaltkreise zur selektiven Verbindung einer ersten Spannungsquelle
mit der Stromversorgung und einer zweiten Spannungsquelle
mit der Verbindungseinriohtung aufweist.
009838/1921
Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß die zweite Wähleinrichtung eine logische Umsetzeinrichtung zur Erzeugung von Aktivierungssignalen
entsprechend den in der Registereinrichtung gespeicherten Ziffern und eine Verbindungseinrichtung zur
Anlegung der Aktivierungssignale an eine Anzahl von Stromversorgungen und Stromverbindungseinrichtungen aufweist.
entsprechend den in der Registereinrichtung gespeicherten Ziffern und eine Verbindungseinrichtung zur
Anlegung der Aktivierungssignale an eine Anzahl von Stromversorgungen und Stromverbindungseinrichtungen aufweist.
009838/1921
Leerseite
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US80010569A | 1969-02-18 | 1969-02-18 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2006987A1 true DE2006987A1 (de) | 1970-09-17 |
Family
ID=25177494
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19702006987 Ceased DE2006987A1 (de) | 1969-02-18 | 1970-02-16 | Automatische Prüfvorrichtung für Rechenanlagen |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3577073A (de) |
JP (1) | JPS5625700B1 (de) |
CA (1) | CA925162A (de) |
DE (1) | DE2006987A1 (de) |
FR (1) | FR2035564A5 (de) |
GB (1) | GB1255441A (de) |
NL (1) | NL155368B (de) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3870953A (en) * | 1972-08-01 | 1975-03-11 | Roger Boatman & Associates Inc | In circuit electronic component tester |
US3849726A (en) * | 1974-01-28 | 1974-11-19 | Sperry Rand Corp | Universal programmable digital testing interface line |
JPS566535A (en) * | 1979-06-28 | 1981-01-23 | Nec Corp | Integrated circuit |
US4347446A (en) * | 1979-12-10 | 1982-08-31 | Amdahl Corporation | Emitter coupled logic circuit with active pull-down |
JPS5927313A (ja) * | 1982-08-05 | 1984-02-13 | Fanuc Ltd | 機能診断方式 |
GB2125973A (en) * | 1982-08-23 | 1984-03-14 | Tektronix Inc | Self-test method and apparatus |
US4531067A (en) * | 1983-06-29 | 1985-07-23 | International Business Machines Corporation | Push-pull Darlington current sink (PPDCS) logic circuit |
GB8428405D0 (en) * | 1984-11-09 | 1984-12-19 | Membrain Ltd | Automatic test equipment |
DE3674990D1 (de) * | 1985-12-03 | 1990-11-22 | Siemens Ag | Verfahren und schaltungsanordnung zur pruefung von integrierten schaltungen. |
US5396182A (en) * | 1992-10-02 | 1995-03-07 | International Business Machines Corporation | Low signal margin detect circuit |
US6985826B2 (en) | 2003-10-31 | 2006-01-10 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | System and method for testing a component in a computer system using voltage margining |
CN114001295B (zh) * | 2021-07-22 | 2024-07-26 | 北京波瑞芯工程技术研究院 | 一种gis隔离开关触头分合状态监测用补光装置及方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3168697A (en) * | 1960-11-17 | 1965-02-02 | Sylvania Electric Prod | Method and apparatus for testing marginal failure of electronic systems |
US3132304A (en) * | 1961-03-15 | 1964-05-05 | Sperry Rand Corp | Marginal checking system employing switch means for selective and simultaneous introduction of auxiliary parallel loads |
US3160766A (en) * | 1962-11-28 | 1964-12-08 | Rca Corp | Switching circuit with a capacitor directly connected between the bases of opposite conductivity transistors |
NL6403951A (de) * | 1964-04-11 | 1965-10-12 |
-
1969
- 1969-02-18 US US800105A patent/US3577073A/en not_active Expired - Lifetime
- 1969-12-31 CA CA071208A patent/CA925162A/en not_active Expired
-
1970
- 1970-01-27 GB GB3884/70A patent/GB1255441A/en not_active Expired
- 1970-02-04 NL NL707001541A patent/NL155368B/xx not_active IP Right Cessation
- 1970-02-16 DE DE19702006987 patent/DE2006987A1/de not_active Ceased
- 1970-02-17 FR FR7005680A patent/FR2035564A5/fr not_active Expired
- 1970-02-18 JP JP1413170A patent/JPS5625700B1/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2035564A5 (de) | 1970-12-18 |
GB1255441A (en) | 1971-12-01 |
NL155368B (nl) | 1977-12-15 |
CA925162A (en) | 1973-04-24 |
JPS5625700B1 (de) | 1981-06-13 |
NL7001541A (de) | 1970-08-20 |
US3577073A (en) | 1971-05-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2010366A1 (de) | Verfahren und Einrichtung zum elektronischen Einschreiben in einen nur zum Ablesen bestimmten Impedanzspeicher | |
DE2224389A1 (de) | Speichersystem | |
DE2450528C3 (de) | Einrichtung zur Anpassung von Taktsignalen Informationssignale auf Übertragungsleitungen mit unterschiedlichen Laufzeitverhältnissen | |
EP0038947A2 (de) | Programmierbare logische Anordnung | |
DE2247704A1 (de) | Aus monolithisch integrierten schaltkreisen aufgebaute datenverarbeitungsanlage | |
DE1011181B (de) | Matrix-Schaltung | |
DE2325151A1 (de) | Anordnung zum erzeugen von zahlenfolgen fuer pruefzwecke bei integrierten schaltungen | |
DE2347968C3 (de) | Assoziative Speicherzelle | |
DE2006987A1 (de) | Automatische Prüfvorrichtung für Rechenanlagen | |
DE3329022A1 (de) | Datenspeichereinrichtung | |
DE2261786B2 (de) | Festwert-Speichereinheit | |
DE2514582C2 (de) | Schaltung zur erzeugung von leseimpulsen | |
DE2364253A1 (de) | Schaltungsanordnung fuer mikroprogrammierte geraete der datenverarbeitung | |
DE2059598A1 (de) | Halbleiterspeicher zur Speicherung einer voreingegebenen,nichtloeschbaren Grundinformation | |
DE4137336C2 (de) | IC-Karte | |
DE3104880A1 (de) | "speicher fuer wahlfreien zugriff" | |
DE3638256C2 (de) | ||
DE3828289C2 (de) | ||
DE2946633C2 (de) | ||
DE2360887A1 (de) | Komplementaer-speicherelement | |
DE2062084A1 (de) | Schaltungsanordnung | |
DE2111146A1 (de) | Speicherzelle fuer einen assoziativen Speicher | |
DE2618760A1 (de) | Halbleiter-speichervorrichtung | |
DE1424756B2 (de) | Schaltungsanordnung zum fehlergesicherten Einführen oder Wiedereinführer, von Programmen in den Hauptspeicher einer datenverarbeitenden Anlage | |
DE1224782B (de) | Wortorganisierte Speichervorrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8131 | Rejection |