DE2851455C3 - Vorrichtung zur Bestimmung von das Glanzvermögen von Oberflächen charakterisierenden Remissionswerten - Google Patents
Vorrichtung zur Bestimmung von das Glanzvermögen von Oberflächen charakterisierenden RemissionswertenInfo
- Publication number
- DE2851455C3 DE2851455C3 DE19782851455 DE2851455A DE2851455C3 DE 2851455 C3 DE2851455 C3 DE 2851455C3 DE 19782851455 DE19782851455 DE 19782851455 DE 2851455 A DE2851455 A DE 2851455A DE 2851455 C3 DE2851455 C3 DE 2851455C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- measuring
- diaphragm
- integrator
- detector
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
35
40
50
55
Referenzintegrators (203) verbindbar ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Beleuchtungsteil (104) einen
photo-elektrischen Streulicht-Detektor (103) aufweist, der über einen Verstärker (105) und einen
Widerstand (209) an den Summenpunkt gelegt ist.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zur
Lichtleitung Lichtleiter (101) verwendet sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß ein Lichtleiter (101) vom
Streulicht-Detektor (103) auf die Meßprobe gerichtet ist.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß als Impuls-Lichtquelle
(106) eine Xenon-Blitzlampe dient.
8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine
Hilfs-Lichtquelle (107) zu Einstellzwecken verwendet
ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß eine Infrarot-Diode als HilfsLichtquelle
(107) dient.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlung der Infrarot-Diode
in den Strahlengang der Impuls-Lichtquelle (106) über ein optisches Interferenzbandfilter
(108) eingeführt ist, das für den sichtbaren Wellenlängen-Bereich reflektierend ist und im langwelligeren
Wellenlängen-Bereich oberhalb etwa 800 m strahlendurchlässig ist.
11. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der
Blendenantrieb (320) von einem Mikroprozessor steuerbar ist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Impuls-Lichtquelle (106)
und die Hilfs-Lichtquelle (107) von einem Interface (309) steuerbar sind, der einen Teil des Mikroprozessors
bildet, und daß eine Zählerlogik (308) mit den photo-elektrischen Detektoren
(103, 207, 208) in Verbindung steht.
13. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der
Blendenantrieb (320) einen Schrittmotor aufweist.
14. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die
Meßblende (115) und die Beleuchtungsblende (102) eine Apertur gleicher Größe zwischen 0,25
und 1° aufweist.
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Bestimmung von das Glanzvermögen von Oberflächen
charakterisierenden Remissionswerten der im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 genannten Gattung.
Eine derartige Vorrichtung ist bereits bekannt (DE-OS 2556150). Mit ihrer Hilfe werden Licht-Remissionswerte
von Oberflächen von insbesondere organischen Überzügen, wie Lacken, bestimmt. Diese
Remissionswerte geben einen Anhalt für das Glanz-
vermögen der betreffenden Oberflächen. Obwohl sich diese Vorrichtung bereits gut bewährt hat, könnte die
Bestimmung exakter Remissionswerte noch verbessert werden. Hierdurch wäre das Glanzvermögen als
Ausdruck der Reflexion und Streuung der Oberfläche des betreffenden Meßobjekts noch genauer bestimmbar,
um beispielsweise auch geringe Unterschiede des subjektiven Eindrucks »Glanz« zu ermitteln, worüber
das von der Oberfläche regulär reflektierte und diffus gestreute Licht Auskunft gibt
Darüber hinaus ist bereits eine Vorrichtung bekannt (DE-GM 1761827), bei der der Beleuchtuugsteil
und der Meßteil in einen im Querschnitt halbzylindrischen Tunnel integriert sind, der zum Fernhalten
von Fremdlicht auf das Meßobjekt aufgesetzt ist. Diese Vorrichtung wird bei Reflektometern verwendet,
die beispielsweise nach DIN 67 530 zur summarischen Beurteilung des Glanzvermögens dienen.
Darüber hinaus ist es bekannt (DE-GM 1944088), mehrere getrennte Beleuchtungsteile und Meßteile
innerhalb einer Abdeckhaube aufzubauen, um Licht unter unterschiedlichen Winkeln auf das Meßobjekt
zu richten und dessen Reflexionsvermögen in entsprechend unterschiedlichen Winkeln zu ermitteln. Dabei
ist es auch bekannt (US-PS 3 999 864), einen halbkugelförmigen Schalenkörper, der Fremdlicht vom
Meßobjekt fernhalten soll, mit einer geraden Anzahl von Aufnahme-Öffnungen zu versehen, in die jeweils
paarweise Anschlüsse eines Beleuchtungsteils und eines Meßteils eingebaut sind. Das Licht wird dabei über
Lichtleiter von einer als Lampe ausgebildeten Lichtquelle einerseits zu den entsprechenden Aufnahme-Offnungen,
zum Meßobjekt und über entsprechende weitere Aufnahme-Öffnungen über eine rotierende
Blende zum photo-elektrischen Meßdetektor und andererseits direkt über die Meßblende zum Meßdetektor
geleitet. Dieser ist zur Auswertung mit einem Analog-Digital-Wandler und einem Computer versehen.
Diese Vorrichtung verlangt jedoch einen verhältnismäßig großen Raumbedarf und ist daher für viele
Anwendungszwecke nicht geeignet.
Darüber hinaus ist es bekannt (US-PS 3245306),
die vor einem Meßdetektor angeordnete Meßblende eines Reflektometers auf einem um eine Schwenkstelle
schwenkbaren Blendenträger anzuordnen, dessen Stellung mittels einer Gewindespindel und Gewindebuchse
gegen die Wirkung einer Feder einstellbar ist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Vorrichtung der eingangs genannten Gattung dahingehend
zu verbessern, daß sie mit einfachen Mitteln eine noch genauere Bestimmung der Remissionswerte
ermöglicht. Hierdurch ist eine noch einfachere und genauere Glanzsortierung auch im sogenannten
»Massen-Meßverfahren« durch Laien durchführbar.
Die Erfindung ist im Patentanspruch 1 gekennzeichnet. Sie bildet eine Art Kombination eines Reflektometers
mit einem Goniophotometer und erlaubt eine differenziertere und quantitativere Beurteilung
des Glanzvermögens mit sehr einfachen Mitteln selbst durch ungeübte Bedienungspersonen. Durch die Vereinigung
der Teilmerkmale $) bis d) des Patentanspruches 1 ist die Aufgabelösbar. Obwohl durch Verwendung
von Impuls-Lichtquellen im Moment der Belichtung sehr große Leuchtstärken anwendbar und
daher ein großer Unterschied zu sogenannten »Hintergrund-Leuchtstärken« herstellbar ist, erwärmen
sich die zur exakten Bestimmung der Remissionswerte
dienenden mechanischen Teile der Vorrichtung praktisch nicht. Das nur kurzzeitige Aufleuchten der als
Impuls-Leuchtquelle ausgebildeten Lichtquelle verhindert eine solche unerwünschte Erwärmung. Hierdurch
ist es möglich, daß insbesondere spielfrei gelagerte Präzisionsgewinde-Spindeln und insbesondere
spielarme Präzisionsgewinde-Buchsen für den Blendenantrieb verwendet werden können, was bei Verwendung
einer erheblichen Wärme bedingenden normalen Beleuchtungslampe nicht ohne besonderen
Aufwand möglich ist. Die Blendenbewegung ist daher trotz der kleinen Wege und hohen geforderten Auflösung
bei üblichen Brennweiten und Aperturen auf etwa 10 bis 20 μπι genau wiederholbar. Trotzdem
wirkt sich die nur kurzzeitige »Abtastung« der Meßobjekt-Oberfläche durch das Licht nicht nachteilig auf
das Meßergebnis aus, da eine Integrationsmethode gensäß dem Teilmerkmal d) des Patentanspruches 1
zur Anwendung gelangt.
Es ist daher auf einfache und zuverlässige Weise möglich, jeweils einen Beleuchtungs- und Meßteil unter
dem gewünschten Reflexionswinkel in das betreffende Paar von Aufnahme-Öffnungen einzusetzen
und die Messungen vorzunehmen. Die Austauschbarkeit bzw. Versetzbarkeit des Beleuchtungs- und Meßteils
in verschiedene Aufnahme-Öffnungen führt auch zu Verbilligung des Gerätes, da nicht jeweils mehrere
Paare solcher Beleuchtungs- und Meßteile erforderlich sind.
Darüber hinaus erlaubt die erfindungsgemäße Vorrichtung ohne schädliche Erwärmung die Simulierung
der spektralen Zusammensetzung von Tageslicht und daher eine hohe Farbtemperatur. Sie ist außerdem
sehr unempfindlich gegenüber Fremdlicht, was für die Messung von Streulichtanteilen besonders wichtig ist.
Die Messung des Oberflächen-Streulichtanteils ist auch praktisch unabhängig von der durch das Probeninnere bestimmten Probenhelligkeit.
Weitere Ausbildungen und Verbesserungen der Erfindung sind in Unteransprüchen gekennzeichnet.
Die Erfindung ermöglicht im übrigen auch eine exaktere
und reproduzierbarere Blendenbewegung bei den wegen der hohen optischen Auflösung (kleinen
Aperturen) derartiger Geräte kleinen Blendenwegen von wenigen Millimetern; diese Bewegung kann in ca.
1000 Einzelschritten aufgelöst werden.
Besonders vorteilhaft im Zusammenhang mit den impulsweise emitierenden Lichtquellen in der erfindungsgemäßen
Anordnung ist die darin realisierte Schaltung der obenerwähnten fotoelektrischen
Wandler als Analog-Digital-Wandler mit Quotientenbildung für elektrische Ladungsmengen, bestehend
aus je einem Integrator für die von den fotoelektrischen Meß- und Referenzdetektoren gelieferten und
den auf diese Detektoren fallenden Lichtmengen proportionalen Strömen, wobei der Ausgangsspannungsbereich
dieser Integratoren mit Hilfe umschaltbarer Integrationskondensatoren in einem praktisch
brauchbaren Bereich gehalten werden kann. Der Summenpunkt des Meßintegrators ist über einen
Schalter und einen Widerstand mit dem Ausgang des Referenzintegrators verbunden, womit der Meßkondensator
nach Ablauf einer Signalintegration von einem der Referenzlichtmenge proportionalen Strom
wieder entladen werden kann. Die zur Entladung des Meßkondensators erforderliche Zeit ist dann ein besonders
einfaches Maß für das zu bestimmende Verhältnis zwischen Meßsignal und Referenzsignal, un-
abhängig von der tatsächlichen Lichtmenge des jeweiligen Lichtimpulses.
Zur Überwachung des Ladungszustandes des Meßkondensators
ist ein Komparator angeschlossen und an diesen, zur Bestimmung des Zeitintervalls, ein von
einem Taktgenerator gesteuerter digitaler Zähler. Meß- und Referenzintegrator können vor jeder Messung
in definierte Anfangszustände gesetzt werden, indem die Integrationskondensatoren über Schalter
entladen werden.
Ein weiterer Teil der erfindungsgemäßen Anordnung dient der Erfassung und Kompensation des
eventuell aus dem Probeninneren stammenden diffusen Streulichtes, das für die Messungen der Oberflächeneigenschaften
nicht berücksichtigt werden soll. Dieser Teii besteht aus einem auf die Meßfläche gerichteten
und im Beleuchtungseinsatz geführten Lichtleiter miii dazugehörigem fotoelektrischen Detektor,
Verstärker und am Summenpunkt des Meßintegrators angeschlossenem Widerstand, durch den ein
der Probenhelligkeit proportionaler Stromanteil vom Meßsignal abgezogen werden kann.
Der besondere Vorteil dieser Anordnung besteht in der automatischen Kompensation der Probenhelligkeit,
was speziell für den Vergleich verschieden gefärbter und damit verschieden heller Proben sehr
wichtig ist.
Eine bevorzugte Ausführungsform der beanspruchten Anordnung sieht die Kombination einer
Xenon-Blitzlampe und einer Infrarot-Leuchtdiode vor, wobei z. El. die Strahlung der Leuchtdiode über
ein Interferenzfilter in den Strahlengang der Blitzlampe eingespiegelt wird. Das Interferenzfilter ist dabei
für den sichtbaren Teil des Spektrums durchlässig und reflektiert ab seiner langwelligen Bandkante bei
ca. 800 nm Wellenlänge. Die selektive Durchlaßeigenschaft des Interferenzfilters kann vorteilhafterweise
zur Angleichung des Emissionsspektrums einer Blitzlampe an eine Normlichtart verwendet werden.
Da die Infrarot-Leuchtdiode als Halbleiter praktisch keiner Abnützung unterliegt, kann sie für alle
Hiifsmessungen herangezogen werden, bei denen der Spektralbereich keine Rolle spielt, wie z. B. für das
Aufsuchen der Reflexionsrichtung. Die Blitzlampe wird nur für die wesentlich selteneren eigentlichen
Messungen, die überdies mit relativ großem zeitlichen Abstand erfolgen können, verwendet und dadurch geschont.
Besonders vorteilhaft erweist sich zur Überwachung aller in einem derart komplexen Meßgerät ablaufenden
Vorgänge eine Steuerung bestehend aus einem Mikroprozessor mit Datenspeicher für alle
Zwischenergebnisse und zur Ablage von Eich- und Vergleichswerten, einem permanenten Programmspeicher,
der die Programmabläufe für alle Meßfunktionen enthält, mehreren Interface-Adaptern zur
Übergabe bzw. Übernahme von Daten zu bzw. von peripheren Geräten und Funktionsblöcken, mehreren
Funktions-Tasten, die ein Abrufen komplexer Meßabläufe durch einfachen Tastendruck gestatten, einem
vorzugsweise alphanumerischen Drucker, der nicht nur Meßergebnisse, sondern vollständige, alle Parameter
enthaltende Meßprotokolle und Fehlermeldungen sowie Bedienungshinweise im Klartext auszudrucken
vermag, einem voll unter Kontrolle des Mikroprozessors stehenden Blendenantrieb auf Basis
eines Schrittmotors, Versorgung?- und Triggerschaltungen für den wahlweisen und mit der Blendenbewe
gung streng synchronisierten Betrieb von Blitzlampe oder Leuchtdiode, einer Klemmvorrichtung zum definierten
Anpressen der Proben an die Meßöffnung, was Fehlmessungen an leicht gekrümmten, biegsamen
Proben weitgehend verhindert, einem elektronischen Meßwandler zur Umsetzung der von den fotoelektrischen
Detektoren gelieferten Ströme in ein dem Quotienten aus über die Probe gemessener Lichtmenge
abzüglich diffus rückgestreuter Lichtmenge und einer Referenzlichtmenge proportionales Signal, ferner einer
Codierschaltung, die ein Erkennen zueinander passender Meß- und Beleuchtungseinsätze gestattet,
und schließlich einer Stromversorgung für alle Funktionsgruppen.
Mit Hilfe dieser Mikroprozessorsteuerung kann das Meßgerät seine eigene Tätigkeit überwachen, auf
Fehler prüfen, unsinnige Bedienung ausschalten und den Benutzer mittels Klartextmeldungen auf mangelhafte
Betriebszustände aufmerksam machen. Damit kann ein derartiges Gerät trotz zum Teil sehr komplizierter
Meßabläufe fehlerfrei von ungeschultem Personal bedient werden.
Eine besonders geeignete Blendengröße zur gleichzeitigen Erfüllung der Anforderungen von Goniophotometern
und normgerechten Reflektometern liegt schließlich zwischen 0,25 und 1 Grad, wobei mit einer
Blendengröße (Beleuchtungsseite und Meßseite) von 0,6 Grad die von der DIN 67 530 geforderten Blendenwerte
einfach durch abschnittsweise Vermessung zusammengesetzt werden können.
Zum noch besseren Verständnis der vorliegenden Erfindung dienen die Fig. 1 bis 3. Es zeigt
Fig. 1 Schemazeichnung der Meßanordnung;
Fig. 2 Schema des Analog-Digital-Umsetzers mit integrierenden Meßwandlern;
Fig. 3 Gesamtschaltschema der Mikroprozessorsteuerung.
Die Fig. la zeigt die in einem halbkugelförmigen
Schalenkörper (114) steckenden Meß- und Beleuchtungseinsätze (117,104) mit einer möglichen Ausführungsform
des spielfreien, vom Motor (320) bewegten Blendenantriebes, bestehend aus einer Gewindespindel
(120), einer Präzisions-Mutter (121), dem Antriebs- und Übertragungselement (122) und der Feder
(119). Der Blendenträger (126) besitzt eine Spitzenlagerung (116) und bewegt die Meßblende (115).
Hinter der Meßblende ist der fotoelektrische Meßdetektor (207) angeordnet, der mit dem Meßwandler
(118) verbunden ist. Im Beleuchtungseinsatz (104) befinden sich zwei Impuls-Lichtquellen (106, 107),
deren Licht mit Hilfe des Interferenzbandfilters (108) erscheint, durch die Beleuchtungsblende (102) und
den Strahlteiler (127) auf die Probenoberfläche (Ü3) gerichtet ist. Vom Strahlteiler (127) gelangt das Licht
auf den mit dem Wandler (109) verbundenen Referenzdetektor (208); über den auf die Probe gerichteten
Lichtleiter (101) wird Streulicht vom fotoelektrischen Detektor (103) erfaßt, der am Verstärker (105)
angeschlossen ist.
Die Fig. Ib zeigt eine Ansicht der Innenseite des halbkugelförmigen Schalenkörpers (114), womit die
paarweise unter gleichem Winkel gegen die Normale auf die Probenfläche gerichteten, zur Aufnahme von
Meß- und Beleuchtungseinsätzen dienenden öffnungen (110,111,112,123,124,125) erkennbar werden
(öffnungen [111] und [124] sind in diesem Beispiel belegt).
In Fig. 2 sind die drei fotoelektrischen Detektoren
für Messung (207), Referenz (208) und Streulicht (103) dargestellt, ferner als Impulslichtquellen eine
Infrarot-Leuchtdiode (107) und eine Xenon-Blitzlampe
(106) sowie der im Beleuchtungs-Strahlengang liegende Strahlteiler (127) und das Interferenzbandfilter
(108). Der Referenzdetektor ist am Referenzintegrator (203) angeschlossen, der einen umschaltbaren
Integrationskondensator (202) besitzt und dessen Ausgang über einen Schalter (204) und einen Widerstand
(205) an den Summationspunkt des ebenfalls mit einem umschaltbaren Integrationskondensator
(210) versehenen Meßintegrators (206) gelegt werden kann. An diesem Summationspunkt sind außerdem
der Ausgang des Verstärkers (105) für den Detektor (103) über einen Widerstand (209) und der Meßdetektor(207)
angeschlossen. Die Anfangsbedingungen beider Integratoren (203, 206) werden mittels zweier
Schaltungen (201, 211) eingestellt. Der Ausgang des Meßintegrators liegt am Eingang des Komparators
(212), der seinerseits den Zählvorgang des vom Taktgenerator (214) gesteuerten Zählers (213) kontrolliert.
Bei jedem Meßvorgang wird gleichzeitig mit der Auslösung einer der beiden Lichtquellen der Integrationsvorgang
im Meß- und Referenzintegrator gestartet, nach Beendigung der Lichtemission wird der Kon- .
densator im Meßintegrator mit einem der Ausgangsspannung des Referenzintegrators proportionalen
Strom wieder entladen, zur selben Zeit beginnt der zuvor auf Null gestellte Zähler zu zählen, und zwar
so lange, bis er vom Komparator bei Nulldurchgang der Ausgangsspannung des Meßintegrators wieder
gestoppt wird.
Der Zählerstand ist dem Verhältnis der auf Meß- und Referenzdetektor auffallenden Lichtströme proportional,
wobei vom Meßsignal ein der Probenhelligkeit entsprechendes Signal abgezogen wurde.
Die Fig. 3 gibt einen Überblick über alle Komponenten
der Mikroprozessorsteuerung. Der eigentliche Prozessor (303) ist mit dem Datenspeicher (304), dem
Programmspeicher (305) und den Interface-Adaptern (301,302) über Adreß- und Datenleitung verbunden.
Die Interface-Adapter stellen die Verbindung zu den peripheren Interfaces und Schaltkreisen her, wie zur
Meßkopferkennung (307), zur Zählerlogik (308), zur Ansteuerung (309f von Blitzlampe (106) und Infrarot-Leuchtdiode
(107). zum Tasteninterface (310) für die Funktionstasten (314, 315, 316, 317, 318), zum
Interface (311) des Druckers (319), zum Antrieb (312) des Schrittmotors (320) für die Blendenbewegung
und zur Versorgung (313) des Kiemmotors (321) für die Probenhalterung. Die Zählerlogik (308) steht
schließlich noch in Verbindung mit den Meßwandlern (105,109,118) und den fotoelektrischen Detektoren
(103,207,208). Die Stromversorgung (306) stellt die für alle Komponenten notwendigen Spannungen und
Ströme zur Verfügung.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Vorichtung zor Bestimmung von Glanzvermögen charakterisierenden Remissionswerten
von Oberflächen, insbesondere von organischen Überzügen, wie Lacken, bei der ein Beleuchtungsteil
möglichst paralleles Licht unter einem Winkel zur Normalen auf die Oberfläche eines
Meßobjektes wirft und ein photo-elektrischer '° Meßdetektor mit Meßoptik eines Meßteiles das
unter dem Reflexionswinkel vom Meßobjekt remittierte Licht mißt und eine Apertur- bzw. Meßblende
der Meßoptik mittels eines steuerbaren Blendenantriebs im wesentlichen quer zur Reflexionsrichtung
derart verstellbar ist, daß Remissionswerte auch aus vom exakten Reflexionswinkel
abweichenden Richtungen erfaßbar sind, gekennzeichnet durch folgende, teilweise bereits
bekannte Merkmale:
a) Ein im wesentlichen halbkugel- bzw. kalottenförmiger,
Fremdlicht fernhaltender Schalenkörper (114) ist mit mindestens zwei Paar
einander zugeordneten Aufnahmeöffnungen (110,111,112, 123, 124, 125) versehen, in
welche der Beleuchtungsteil (104) und der Meßteil (117) jeweils als Baueinheit derart
einsetzbar sind, daß die optischen Achsen bei Mittelstellung der Blende (115) dem Reflexionswinkel
entsprechen und, daß dieser für verschiedene Paare von Aufnahme-Öffnungen (111, 124) verschieden ist;
b) ein die Meßblende (115) haltender und mit Hilfe einer Feder (119) gespannt abgestützter
Blendenträger (126) ist über eine möglichst spielfrei gelagerte Präzisionsgewinde-Spindel
(120), eine spielarme Präzisionsgewinde-Buchse (121) und ein gelenkartiges
spielarmes Ausgleichselement (122) mittels des Blendenantriebs (320) um eine
Schwenkstelle (116) verschwenkbar;
c) die Lichtquelle ist als Impuls-Lichtquelle (106) ausgebildet;
d) der Meßdetektor (207) ist mit einem über die Emissionszeit der Impuls-Lichtquelle
(106) integrierenden Wandler (118) verbunden.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Beleuchtungsteil (104) einen
photo-elektrischen Referenzdetektor (208) aufweist, der ebenfalls mit einem über die Emissionszeit
der Impuls-Lichtquelle (106) integrierenden photo-elektrischen Wandler (109) versehen
ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der bzw. die photoelektrischen
Wandler (109,118) als Analog-Digital-Wandler mit Quotientenbildung für elektrische
Ladungsmengen ausgebildet sind und jeweils einen Integrator (203, 206) für den vom Meßdetektor
(20*7) bzw. Keferenzdetektor (208) abgegebenen
Meß- bzw. Referenzstrom aufweisen, daß umschaltbare Integrations-Kondensatoren (202,
210) den Ausgangsspannungsbereich des Meßintegrators (206) bzw. des Referenzintegrators
(203) begrenzen und daß der Summenpunkt des Meßintegrators (206) über einen Schalter (204)
und einen Widerstand (205) mit dem Ausgang des
30
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AT879477A AT351295B (de) | 1977-12-09 | 1977-12-09 | Anordnung zur messung des glanzvermoegens von oberflaechen, insbesondere organischer ueberzuege |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2851455A1 DE2851455A1 (de) | 1979-06-13 |
DE2851455B2 DE2851455B2 (de) | 1980-07-24 |
DE2851455C3 true DE2851455C3 (de) | 1981-08-13 |
Family
ID=3608589
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782851455 Expired DE2851455C3 (de) | 1977-12-09 | 1978-11-28 | Vorrichtung zur Bestimmung von das Glanzvermögen von Oberflächen charakterisierenden Remissionswerten |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5489789A (de) |
AT (1) | AT351295B (de) |
CH (1) | CH638047A5 (de) |
DD (1) | DD140290A5 (de) |
DE (1) | DE2851455C3 (de) |
FR (1) | FR2411405A1 (de) |
GB (1) | GB2009922A (de) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3138879A1 (de) * | 1981-09-30 | 1983-04-14 | Boehringer Mannheim Gmbh, 6800 Mannheim | Verfahren zur erfassung photometrischer signale und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
DE3212190A1 (de) * | 1982-04-01 | 1983-10-06 | Siemens Ag | Opto-elektronische unterscheidung von strukturen auf oberflaechen |
JPS5942317U (ja) * | 1982-09-13 | 1984-03-19 | 株式会社東芝 | 動圧気体軸受装置 |
US4677298A (en) * | 1983-12-13 | 1987-06-30 | Kollmorgen Technologies Corporation | Method of monitoring ink-water balance on a lithographic printing press |
US4902131A (en) * | 1985-03-28 | 1990-02-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Surface inspection method and apparatus therefor |
FR2579884B1 (de) * | 1985-04-09 | 1988-12-02 | Sanofi Sa | |
FI78563C (fi) * | 1985-11-27 | 1989-08-10 | Aimo Heinonen | Reflektometriskt maetningsfoerfarande och maetningsanordning foer genomfoerande av foerfarandet. |
US5182618A (en) * | 1985-11-27 | 1993-01-26 | Aimo Heinonen | Reflectometric method of measurement and apparatus for realizing the method |
FI78355C (fi) * | 1986-05-27 | 1989-07-10 | Puumalaisen Tutkimuslaitos Oy | Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden. |
JPS63174551U (de) * | 1987-04-27 | 1988-11-11 | ||
DE8704679U1 (de) * | 1987-03-30 | 1987-05-27 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Meßgerät für Oberflächen mit bunten Glanzeffekten |
JP2996300B2 (ja) * | 1988-05-27 | 1999-12-27 | 株式会社堀場製作所 | 携帯用光沢測定装置 |
JPH0257949A (ja) * | 1988-08-24 | 1990-02-27 | Suga Shikenki Kk | 携帯形多角光沢計 |
JPH0248852U (de) * | 1988-09-30 | 1990-04-04 | ||
JP3027161B2 (ja) * | 1989-07-14 | 2000-03-27 | 株式会社リコー | 画像形成装置における画像濃度検知装置 |
DE4344095C2 (de) * | 1993-12-20 | 1999-10-14 | Lange Gmbh Dr Bruno | Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Glanzgrades |
WO2000071971A1 (en) | 1999-05-24 | 2000-11-30 | Luxtron Corporation | Optical techniques for measuring layer thicknesses |
US6570662B1 (en) * | 1999-05-24 | 2003-05-27 | Luxtron Corporation | Optical techniques for measuring layer thicknesses and other surface characteristics of objects such as semiconductor wafers |
DE102006048688B4 (de) * | 2006-10-14 | 2022-02-03 | Byk Gardner Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Oberflächen mit Effektpigmenten |
DE102010032600A1 (de) * | 2010-07-28 | 2012-02-02 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften mit Mehrfachmessung |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1761827U (de) * | 1957-11-04 | 1958-02-20 | Geraete Fuer Licht Und Strahlu | Lichtelektrischer glanzmesser. |
US3245306A (en) * | 1961-10-05 | 1966-04-12 | Aluminum Co Of America | Photometer and method |
DE1944088U (de) * | 1966-06-16 | 1966-08-11 | Bayer Ag | Vorrichtung zur beurteilung der glanzeigenschaften von oberflaechen. |
AT334657B (de) * | 1975-01-24 | 1976-01-25 | Vianova Kunstharz Ag | Verbesserung zur messung des glanzvermogens von ebenen oberflachen |
US3999864A (en) * | 1975-11-17 | 1976-12-28 | International Business Machines Corporation | Gloss measuring instrument |
-
1977
- 1977-12-09 AT AT879477A patent/AT351295B/de not_active IP Right Cessation
-
1978
- 1978-11-22 CH CH1199478A patent/CH638047A5/de not_active IP Right Cessation
- 1978-11-23 DD DD20927878A patent/DD140290A5/de unknown
- 1978-11-28 DE DE19782851455 patent/DE2851455C3/de not_active Expired
- 1978-12-06 GB GB7847326A patent/GB2009922A/en not_active Withdrawn
- 1978-12-08 FR FR7834672A patent/FR2411405A1/fr not_active Withdrawn
- 1978-12-08 JP JP15121378A patent/JPS5489789A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ATA879477A (de) | 1978-12-15 |
DE2851455B2 (de) | 1980-07-24 |
DD140290A5 (de) | 1980-02-20 |
JPS5489789A (en) | 1979-07-17 |
JPS6252255B2 (de) | 1987-11-04 |
CH638047A5 (de) | 1983-08-31 |
AT351295B (de) | 1979-07-10 |
GB2009922A (en) | 1979-06-20 |
DE2851455A1 (de) | 1979-06-13 |
FR2411405A1 (fr) | 1979-07-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2851455C3 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung von das Glanzvermögen von Oberflächen charakterisierenden Remissionswerten | |
DE2902776C2 (de) | ||
EP0279191B1 (de) | Gerät zur berührungslosen Remissionsmessung | |
DE2739585C2 (de) | Spektrophotometer | |
EP0209860B1 (de) | Remissionsmessgerät zur berührungslosen Messung | |
DE2848552C2 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung der Koagulationszeit von Blutplasma | |
EP0683384B1 (de) | Einrichtung zur Ermittlung des Farbwerts eines Lichtstroms | |
CH654914A5 (de) | Optoelektronisches messverfahren und einrichtung zum bestimmen der oberflaechenguete streuend reflektierender oder transparenter oberflaechen. | |
EP0458223A2 (de) | Vorrichtung zur Messung der Absorption von transparenten Proben mit ungünstiger Aussenform | |
DE3886308T2 (de) | Spektralphotometer. | |
DE1498544C3 (de) | Vorrichtung zur optischen Bestimmung der prozentualen Sauerstoffanreicherung des Gesamtblutes | |
DE2757196C3 (de) | Photometrische Anordnung | |
WO2016015921A1 (de) | Messanordnung zur reflexionsmessung | |
EP0020971A1 (de) | Goniophotometer zur Messung des Glanzes und/oder des Glanzschleiers von Oberflächen | |
DE3831287C2 (de) | Optisches Colorimeter | |
EP0359167A2 (de) | Refraktometer mit brechzahlabhängiger Aperturteilung | |
EP0327499B1 (de) | Messkopf | |
DE4407332C2 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Extinktion oder Transmission und Photometer | |
DE3843700C2 (de) | Farbmeßgerät | |
DE3332986A1 (de) | Reflexionsmessgeraet fuer die messung des spektralen strahldichtefaktors fuer die 45/0-messgeometrie | |
DE69511606T2 (de) | Vorrichtung zur Profilmessung einer ebenen Oberfläche | |
DE1497615A1 (de) | Farbdicke- bzw. -dichte-Gleichheitspruefer | |
DE2922163A1 (de) | Optische vorrichtung zur bestimmung der guete einer oberflaeche | |
DE2744678C3 (de) | Vorrichtung zum Diagnostizieren verschiedener Krankheitssymptome und zur Kontrolle des Verlaufs einer Therapie | |
EP0024603A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Absorption von Laserstrahlung in Medien |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAP | Request for examination filed | ||
OD | Request for examination | ||
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |