DE2609714A1 - Speicherzellenanordnung - Google Patents
SpeicherzellenanordnungInfo
- Publication number
- DE2609714A1 DE2609714A1 DE19762609714 DE2609714A DE2609714A1 DE 2609714 A1 DE2609714 A1 DE 2609714A1 DE 19762609714 DE19762609714 DE 19762609714 DE 2609714 A DE2609714 A DE 2609714A DE 2609714 A1 DE2609714 A1 DE 2609714A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- memory cell
- busbar
- voltage
- transistor
- impedance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/412—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger using field-effect transistors only
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356104—Bistable circuits using complementary field-effect transistors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
7911-76/Rd/v.B./S
RCA 68ρ800
USSN 558,145
Piled: March 13, 1975
RCA 68ρ800
USSN 558,145
Piled: March 13, 1975
RCA Corporation, New York, N.Y., Y.St.A.
Speicherzellenanordnung
Die Erfindung betrifft eine Speicherzellenanordnung gemäß
dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Speicherzellen mit bistabilen MuItivibratoren (Plipflops)
z.B. aus Metall-Oxid-Siliziumhalbleiterbauelementen (MOS) oder aus komplementären Metall-Oxid-Siliziumhalbleiterbauelementen
(CMOS) sind bekannt. In solchen Speicherzellen können z.B. fünf oder sechs oder mehr Transistoren pro Zelle vorgesehen
sein.
Eine spezielle Speicherzelle der oben erwähnten Art mit fünf Transistoren enthält zwei kreuzweise gekoppelte Inverterschaltungen
mit jeweils zwei Transistoren. Zusätzlich ist ein fünfter Transistor, der dazu verwendet werden kann, um entweder
den Zustand der Zelle abzutasten (zu lesen) oder neue Information in die Zelle einzugeben (einzuschreiben), zwischen
den Eingang des einen Inverters und eine Daten- oder Leseleitung geschaltet. Dieser fünfte Transistor soll hier als
Kopplungs- oder übertragungsvorrichtung bezeichnet werden.
Eine solche Zelle kann dadurch abgewandelt werden, daß man einen sechsten Transistor, der eine zweite Übertragungsvor-
609839/0728
richtung bildet, zwischen den Eingang des anderen Inverters und eine Daten- oder Leseleitung, die sich im allgemeinen von
der mit dem fünften Transistor verbundenen Leitung unterscheidet, schaltet.
Wenn dieselbe Übertragungsvorrichtung sowohl zum Lesen
als auch zum Schreiben verwendet wird, treten Probleme auf: Wenn die Impedanz der Übertragungsvorrichtung im Arbeitszustand
klein genug ist, um der Zelle während der Schreiboperation eine schnelle Änderung ihres Zustandes und dadurch ihres Informations
inhalts zu ermöglichen, dann kann dieselbe Vorrichtung auch bewirken, daß die Zelle ihren Zustand zu ungewollten Zeiten
ändert. Z.B0 kann während der Leseoperation, wenn der Informationsinhalt
der Zelle zerstörungsfrei gelesen werden soll, ein Einschwingvorgang oder eine Restladung auf der Leseleitung
die Zelle veranlassen, ihren Zustand zu ändern, so daß die in der Zelle enthaltene Information zerstört wird.
Der Erfindung liegt also die Aufgabe zugrunde, eine verbesserte Speicherzellenanordnung zu schaffen, die insbesondere
gegen ungewolltes Löschen oder Ändern der gespeicherten Information geschützt ist.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch das Kennzeichen des Anspruchs 1 gelöst3 während sich vorteilhafte Ausgestaltungen
in den Unteransprüchen finden.
Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung werden nachstehend anhand eines bevorzugten Ausführungsbeispiels unter
Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
Jig. 1 ein Schaltbild eines bevorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung, und
Fig. 2 ein Schaltbild einer Speicheranordnung, die von
den Lehren der Erfindung Gebrauch macht.
Bei der Schaltungsanordnung gemäß Pig. 1 ist die Source-Elektrode eines P-Kanal-MOS-Transistors 10 mit einer Klemme 12
09839/0728
verbunden, die ihrerseits an einer (nicht gezeigten) Spannungsquelle liegt. Die Gate-Elektrode des Transistors 10 ist über
eine Klemme 13 elektrisch mit einer (nicht gezeigten) Nachrichtenquelle für Schreibbefehle gekoppelt. Die Source-Elektroden
von P-Kanal-MOS-Transistoren 14 und 18 sind jeweils
an Daten-(Ziffern-)leitungen 16 und 20 angeschlossen. Die Drain-Elektroden der Transistoren 10, 14 und 18 sind mit einer
Speicherzellen-Sammelschiene 22 verbunden. Ein P-Kanal-MOS-Transistor
24 und ein N-Eanal-MOS-Transistor 26 bilden einen
komplementären MOS-Inverter 28, der einen Eingang 30 und einen
Ausgang 32 hat. Die Drain-Source-Strecke eines N-Kanal-MOS-Transistors
34 liegt zwischen der Datenleitung 16 und dem Ausgang 32, während die Gate-Elektrode über eine Klemme 36 an
einer (nicht gezeigten) Nachrichtenquelle für Adreßbefehle liegt.
Ein P-Kanal-MOS-Transistor 38 und ein N-Kanal-MOS-Transistor
40 bilden einen zweiten komplementären MOS-Inverter 42, der einen Eingang 44 und einen Ausgang 46 hat. Die Inverter 28
und 42 sind zwischen die Sammelschiene 22 und ein Bezugspotential geschaltet, das als Massepotential dargestellt ist. Die
Drain-Source-Strecke eines B-Kanal-MOS-Transistors 48 liegt
zwischen dem Ausgang 46 und der Datenleitung 20, während seine Gate-Elektrode an der Klemme 36 angeschlossen ist. Die Inverter
28 und 42 sind kreuzweise gekoppelt. Zu diesem Zweck ist der Ausgang 46 des Inverters 42 mit dem Eingang 30 des Inverters
und in entsprechender Weise der Ausgang des Inverters 28 mit dem Eingang 44 des Inverters 42 verbunden.
Bei der obigen und der folgenden Schaltungserläuterung ist zu berücksichtigen, daß ein MOS-Transistor eine "zweiseitige"
Vorrichtung ist, die den Strom in Abhängigkeit von der Polarität der angelegten Spannung in jeder Richtung leiten kann.
Auf diese Weise kann eine gegebene Elektrode sowohl als Source-Elektrode
als auch als Drain-Elektrode angesehen werden. Die speziellen Bezeichnungen werden hier denEtektroden nur gegeben,
um die Beschreibung der Arbeitsweise der Schaltung zu erleichtern.
6 0 9 8 3 9 / Π 7 7 B
Beim Betrieb der Speicherzeilenschaltung nach Eig. 1 sind
die an die Datenleitungen 16 und 20 angelegten Datensignale in Bezug aufeinander logisch komplementär. Das logische Komplement
des an die Klemme 13 angelegten Schreibbefehls ist der Lesebefehle Auf diese Weise arbeitet die Speicherzelle nach
lig. 1, immer wenn sie nicht im Schreibzustand arbeitet, im
Lesezustand. Es sei angenommen, daß die Zelle anfänglich im Lesezustand arbeitet. Bei dieser Betriebsart liegt an der
Klemme 13 eine relativ kleine negative Spannung oder die Spannung null. Diese Spannung soll als ein Nullspannungssignal
bezeichnet werden. Weiter sei angenommen, daß das auf der Leitung 20 vorhandene Datensignal den Wert +Y habe, was hier
als Logikwert Eins bezeichnet werden soll. Dieser Spannungswert ist gleichzeitig der Wert der an der Klemme 12 liegenden Yersorgungsspannung.
Die Datenleitung 16 liegt auf einer Spannung entsprechend einer binären Null, und dieser Wert wird hier als
Nullspannung bezeichnet. Wenn kein Adreßbefehl an der Klemme 36 liegt, sind die Transistoren 34 und 48 nichtleitend. Unter den
oben beschriebenen Bedingungen sind die Transistoren 10 und 18 leitend, während der Transistor 14 nichtleitend ist. I1Ur dieselben
Bedingungen sei angenommen, daß die Information auf den Datenleitungen bereits in der Speicherzelle gespeichert worden
ist. Der Ausgang 46 des Inverters 42 liegt hoch, was bedeutet, daß dieser Punkt im wesentlichen das Potential +V der Energieversorgung
hat, während der Ausgang 32 des Inverters 28 im wesentlichen auf Massepotential liegt. Die Invertertransistoren
38 und 26 sind aufgesteuert, während die Transistoren 24 und 40 gesperrt sind. Es ist ein Merkmal von mit C/MOS Transistoren
aufgebauten Inverterschaltungen, daß der Strom innerhalb des Inverters im wesentlichen Null ist, wenn der Inverter sich
in einem statischen Zustand befindet und nicht mit einer äußeren Last gekoppelt ist.
Wenn der Informationsinhalt der Speicherzelle bestimmt
werden soll, werden die Spannungen von den Datenleitungen abgeschaltet. Ein Adreßbefehl, der beim vorliegenden Beispiel ein
609839/0728
positives Signal vom Wert +V ist, steuert die Transistoren 34 und 48 auf. Die an den Ausgängen 32 und 46 der Inverter 28
und 42 liegenden Spannungen werden auf die Datenleitungen gekoppelt. Dann bestimmen mit den Datenleitungen verbundene (nicht
gezeigte) leseschaltungen den Zustand der Speicherzelle. Für
das vorliegende Beispiel soll die Speicherzelle voraussetzungsgemäß eine binäre Eins speichern.
Die Speicherzelle nach Pig. 1 ist so aufgebaut, daß sie normalerweise "unkippbar" ist. Das bedeutet, daß die Transistoren 34 und 48 eine relativ große Source-Drain-Impedanz aufweisen,
und zwar eine so große, daß der Strom, der über diese Strecken von oder zu der Speicherzelle fließen kann, die
Speicherzelle zur Änderung ihres Zustandes veranlassen kann. Auf diese Weise wird die Speicherzelle vor einer fehlerhaften
Änderung ihres Zustandes bewahrt, die z.B. durch eine auf den Datenleitungen vorhandene Restspannung hervorgerufen werden
könnte. Diese Spannung könnte, wenn die Speicherzelle in diesem Zustand nicht "unkippbar" wäre, eine Änderung des Informationsinhalts
der Speicherzelle hervorrufen, indem die Spannung einen Strom zwischen einer Datenleitung und der Speicherzelle
fließen läßt. Eine solche Restspannung kann in gewissen Fällen durch Aufladung der Streukapazitäten der Datenleitungen hervorgerufen
werden.
Es sei nun angenommen, daß die Speicherzelle eine binäre Eins speichere und der Zustand der Speicherzelle geändert werden
soll. Anfänglich wird kein Schreibbefehl an die Klemme 13 angelegt. Die Datenleitung 20 wird auf Nullpotential und die Datenleitung
16 wird auf die Spannung +V geschaltet.Ein Adreßbefehl
steuert die Transistoren 34 und 48 auf. Weil die Speicherzelle normalerweise unkippbar ist, wird die Speicherzelle ihren Zustandnicht
ändern, wohl eine relativ hohe Potentialdifferenz zwischen den Inverterausgängen und der zugeordneten Datenleitung
herrscht. Die Datenleitungsspannungen steuern den Transistor 14 auf und den Transistor 18 zu.
6 09839/0728
Zu diesem Zeitpunkt befindet sich also der Ausgang 46 auf +V und ist mit der Datenleitung 20, die auf der Spannung null
liegt, über den leitenden Transistor 48 gekoppelt. Wegen seiner Impedanz kann der Transistor 48 nicht genug Strom von der
Speicherzelle abziehen, um sie zur Änderung ihres Zustandes zu veranlassen. Zur selben Zeit liegt der Ausgang 32 auf der
Spannung null und ist mit der Datenleitung 16, die auf der Spannung +7 liegt, über den Transistor 34 gekoppelt. Der Transistor
34 kann jedoch nicht genug Strom an die Speicherzelle liefern, um sie zur Änderung ihres Zustandes zu veranlassen.
Nun wird dem Transistor 10 ein Schreibbefehl zugeführt. Dies ist ein positives Signal, das den Transistor 10 sperrt,
so daß dadurch die Speicherzelle von der an der Klemme 12 liegenden Versorgungsspannung abgekoppelt wird. Während der
leitende Transistor I4 die Sammelschiene 22 mit der Leitung verbindet, die auf der Spannung +V liegt, ist die Impedanz der
Source-Drain-Strecke des Transistors 14 relativ groß. Deshalb
strebt der Transistor 14 beim Sperren des Transistors 10 anfänglich die Sammelschiene auf eine Spannung zu bringen, deren
Wert eine Funktion seiner Impedanz verglichen mit der G-esamtimpedanz
von der Leitung 16 über den Transistor 14 zur Sammelschiene 22 und von dort nach Masse ist. Die Impedanz von der
SammelschBie 22 über den leitenden Transistor 38 und den leitenden
Transistor 48 nach Masse ist sehr viel kleiner als die Impedanz des Transistors 14. Aus diesem G-runde strebt die
Spannung an der Sammelschiene 22 einem Wert zu, der nahe bei der Massespannung liegt. Die Sammelschiene kann diesen Wert
jedoch wegen der vorhandenen Streukapazitäten nicht sofort annehmen. Der Abfall auf die Spannung null vollzieht sich vielmehr
eher allmählich.
Wenn die Spannung an der Sammelschiene abfällt, nimmt auch die durch den leitenden Transistor 38 dem Ausgang 46 und den
Eingangsstellen 30 zugeführte Spannung entsprechend ab.
Der Abfall der Spannung am Eingang 30 strebt, den Transistor zu sperren und den Transistor 24 aufzusteuern.
6 09839/0728
Zur gleichen Zeit läßt der leitende Transistor 34 das Potential am Ausgang 32 und am Eingang 44 gegen die Spannung
+V, das Potential der Datenleitung 16, ansteigen. Dieser Spannungsanstieg strebt den Transistor 38 zu sperren und den
Transistor 40 aufzusteuern. Dies verringert das Potential am Ausgang 46 weiter und steuert den Transistor 26 weiter in
den Sperrzustand und Transistor 24 in den leitenden Zustand aus. Diese Eückkopplungswirkung setzt sich solange fort, bis
die Spannungsbedingungen an der Speicherzelle so sind, daß der begrenzte Strom, der durch die Transistoren 34 und 48
fließt, dazu führt, daß die Speicherzelle ihren Zustand ändert.
Zu diesem Zeitpunkt wird für die Speicherzelle automatisch die volle Spannung durch den Transistor 14 wiederhergestellt,
der die auf der Datenleitung 16 liegende Spannung +V auf die Sammelschiene 22 koppelt. Wie bereits erwähnt, ist die relative
Impedanz des Transistors 14 unter dynamischen Bedingungen,
den d.h. während eines Stromflusses über einen Transistor 14» einen leitenden Transistor der Speicherzelle und einen der
Transistoren 48 oder 34 enthaltenden Stromweg so groß, daß der Transistor 14 die Sammelschiene 22 nicht auf die Spannung
+V bringen kann. (Die Impedanz des Transistors 14 und des
Transistors 18 ist eine Punktion der mechanischen Abmessungen dieser Bauelemente.Eine große Impedanz kann dadurch erreicht
werden, daß man den Transistoren 14 und 18 bei der Herstellung ein Längen/Breiten-Verhältnis gibt, das größer ist als das
der vier Inverter-Transistoren und der Transistoren 34 und 48.) Sobald jedoch die Speicherzelle ihren Zustand geändert hat,
so daß kein Strom mehr durch die Speicherzelle und einen der Transistoren 48 oder 34 fließt, wird die Impedanz der Strecke
von der Sammelschiene 22 nach Masse sehr groß, und zwar sehr viel größer als die der leitungsstrecke des Transistors 14·
Dieser Transistor 14 bringt die Sammelschiene dann also auf das Potential +V der Datenleitung 16.
609839 /Π778
26097U
Die Wiederherstellung der vollen Versorgungsspannung sofort
nach Abschluß der Einschreiboperation ist ein wichtiges Merkmal der Erfindung. Die Spannung wird automatisch wiederhergestellt,
sobald die Information in der Speicherzelle gespeichert ist, auch wenn der Schreibbefehl noch an der Klemme 13 vorhanden ist.
Die Speicherzelle erhält Spannung, auch wenn die Sammelschiene 22 noch von der an der Klemme 12 liegenden Spannung entkoppelt
sein sollte. Hierdurch entfallen kritische Zeitbeschränkungen hinsichtlich des Schreibbefehls. Die einzige Beschränkung liegt
darin, daß das Schreibsignal so lang sein muß, daß eine Schreiboperation stattfinden kann. Eine Verlängerung des Impulses über
diesen Mindestwert hinaus kann dagegen die Rückkehr der Speicher zelle in den normalen statischen Zustand nicht stören.
Die oben beschriebenen Maßnahmen können einen kleineren G-e s amtle i s tungs ve rbrauch für die Zelle ergeben. Die Zelle nimmt
leistung nur während der Periode auf, in der sich ihr Zustand ändert. Bei gewissen bekannten Schaltungen, in denen die Versorgungsspannung
der Speicherzelle für eine Schreiboperation
herabsetzen, werden aber Einrichtungen verwendet, die Leistung verbrauchen, während die Speicherzellenspannung herabgesetzt
ist. Bei derartigen Schaltungen ist es jedoch unbedingt notwendig, daß der ursprüngliche Spannungszustand der Speicherzelle sobald
als möglich nach Beendigung des Schreibzyklus wiederhergestellt wird. Dieses Erfordernis ist bei denSchaltungen nach der vorliegenden
Erfindung jedoch nicht vorhanden.
Wenn ein Signal entsprechend einer binären Eins gespeichert werden soll, arbeitet die Schaltung nach 3?ig. 1 ähnlich wie es
oben erläutert wurde, jedoch mit der Ausnahme, daß der Transistor 14 nun gesperrt ist und der Transistor 18 die Punktion
übernimmt, die Sammelschiene 22 mit dem Potential der Datenleitung zu koppeln.
Die Verwendung des oben beschriebenen bevorzugten Ausführungsbeispiels
einer Speicherzellenschaltung in einer Speicheranordnung ist in Fig. 2 dargestellt, wobei in den Pig. 1 und 2
6 0 9 S * 9 / Π 7 / 8
2 6 O 9 7 1 Λ
gemeinsam vorhandene Elemente mit den gleichen Bezugszeichen versehen worden sind. Der Transistor 10 stellt eine elektrische
Verbindung über die Klemme 12 zu einer (nicht gezeigten) Spannungsquelle her. Die Gate-Elektroden der Transistoren 14
und 18 sind jeweils mit den Datenleitungen 20 bzw. 16 verbunden. Die Datenleitung 16 ist weiter über die Drain-Source-Strecke
des Transistors 14 mit einer Systemsammelschiene 70 verbunden,
die außerdem über die Drain-Source-Strecke des Transistors 18
an die Datenleitung 20 angeschlossen ist. Die Schaltungen 100, 110, ..., IT enthalten jeweils eine Speicherzelle mit sechs
Transistoren für eine Gesamtzahl von IT Speicherzellen. Jede
Speicherzelle ist identisch mit dem innerhalb der gestrichelten Linien gezeigten Schaltungsteil der Pig. 1. Zusätzlich ist jede
der N Speicherzellen mit der Sammelschiene und den Datenleitungen auf die ία !ig. 1 gezeigte Weise verbunden. Die Ef
Speicherzellen sind jeweils auch an eine (nicht gezeigte) Quelle für Adreßbefehle angeschlossen. Diese Befehle werden jeder
Speicherzelle über einen Schaltungspunkt, der in !ig. 1 der Klemme 36 entspricht, zugeführt.
Die Schaltung nach !ig. 2 stellt eine Speicheranordnung dar, die Spalten mit N Speicherzellen enthält. Ein der Klemme 13
zugeführter Schreibbefehl koppelt die Energieversorgung von allen Speicherzellen der Anordnung ab. Die Systemsammeischiene
70 hat eine ähnliche !unktion wie die Sammelschiene 22 in !ig. 1, nur mit dem Unterschied, daß die Sammelschiene 70 allen
N Speicherzellen gemeinsam dient. Wenn eine Information in eine spezielle Speicherzelle eingeschrieben werden soll, wird
diese Speicherzelle adressiert. Zu diesem Zweck wird ein Schreibbefehl an die Klemme 13 angelegt, so daß alle Speicherzellen
in der Spaltenanordnung von der Energieversorgungs-Sammelschiene abgekoppelt werden. Die auf den Datenleitungen
enthaltene Information wird jetzt nur in die adressierte Speicherzelle übertragen. Die (U-I) verbleibenden, normalerweise
609839/0728
unkippbaren Speicherzellen bleiben in dem Zustand, den sie vor dem Beginn der Schreiboperation angenommen hatten.
Bei einer Speicheranordnung mit M Spalten würde die Schaltung nach Pig. 2 M mal verwendet, und zwar einmal für
3*ede Spalte der Speicheranordnung.
609839/0728
Claims (3)
- 260971 APatentansprücheSpeicherzellenanordnung mit einer Speicherzelle, die zwischen eine Versorgungsspannungs-Sammelsehiene und einem Punkt eines Bezugspotentials geschaltet ist, einen ersten und einen zweiten stabilen Zustand anzunehmen vermag und zumindest einen Eingang hat, wobei die Zelle im ersten stabilen Zustand eine relativ niedrige Impedanz zwischen der Sammelschiene und dem Eingang und im zweiten stabilen Zustand eine relativ hohe Impedanz zwischen derSammelschiene und dem Eingang aufweist; ferner mit einer ersten Schalteinrichtung, die zwischen den Eingang der Speicherzelle und eine Einrichtung zum Anlegen einer Eingangsspannung geschaltet ist, wobei die Impedanz der Schalteinrichtung im Einschaltzustand größer ist als die niedrige und kleiner als die hohe Impedanz der Speicherzelle; weiterhin einer zweiten Schalteinrichtung, die zwischen die Yersorgungsspannungs-Sammelschiene und einen Punkt für die Zufuhr einer Betriebsspannung geschaltet ist, und mit einer Schreibanordnung zum Speichern von Information in der Speicherzelle, die eine Anordnung zum Schließen der ersten Schalteinrichtung und zum Offnen der zweiten Schalteinrichtung enthält, wobei die Spannung an der Sammelschiene zum Bezugspotentialwert hin abfällt und die Speicherzelle sich dann schalten läßt, wenn die Spannung auf einen bestimmten Viert abgefallen ist, dadurch gekennzeichnet , daß eine von der zweiten Schalteinrichtung (10) unabhängige zusätzliche Einrichtung (14, 18, 16, 20) vorgesehen ist, die nach einem Schalten der Speicherzelle während einer Schreiboperation automatisch eine Spannung vorgegebenen Werts an die Versorgungsspannungs-Sammelschiene (22) anlegt und zwischen'der Sammelschiene und einem Punkt (16, 20) vorgegebenen Potentials (+V) einen Stromweg herstellt, der eine Impedanz hat, die viel größer ist, als die Impedanz der ersten Schalteinrichtung (34) im Einschaltzustand und eine viel kleinere als die statische Impedanz der Speicherzelle zwischen der Sammelschiene und dem Bezugspotentialpunkt (Masse)fi η 9 R 3 q / η ι ? a26097H■ - 12 -
- 2. Speicherzellenanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zusätzliche Einrichtung (14, 18, 16, 20) einen Transistor (14 oder 18) enthält, dessen Leitungsstrecke zwischen die Sammelschiene (22) und einen Punkt (16, 20) gegebenen Potentials geschaltet ist.
- 3. Speicherzellenanordnung nach Anspruch 1, d a d u r ch gekennzeichnet, daß die zusätzliche Einrichtung (14, 18, 16, 20) eine erste und eine zweite Ziffernleitung (16, 20), auf denen während einer Schreiboperation komplementäre binäre Signale auftreten, einen ersten Transistor (14) mit einer zwischen die Sammelschiene (22) und die erste Ziffemleitung (16) geschaltetenleitungsstrecke und einer mit der zweiten Ziffernleitung (20) verbundenen Steuerelektrode, und einen zweiten Transistor (18) mit einer zwischen die Sammelschiene (22) und die zweite Ziffernleitung (20) geschalteten leitungsstrecke und einer mit der ersten Ziffernleitung (16) verbundenen Steuerelektrode enthält.609839/0728
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/558,145 US3971004A (en) | 1975-03-13 | 1975-03-13 | Memory cell with decoupled supply voltage while writing |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2609714A1 true DE2609714A1 (de) | 1976-09-23 |
DE2609714B2 DE2609714B2 (de) | 1977-12-08 |
DE2609714C3 DE2609714C3 (de) | 1978-08-17 |
Family
ID=24228407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19762609714 Granted DE2609714B2 (de) | 1975-03-13 | 1976-03-09 | Speicherzellenanordnung |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3971004A (de) |
JP (1) | JPS51115741A (de) |
CA (1) | CA1065056A (de) |
DE (1) | DE2609714B2 (de) |
FR (1) | FR2304221A1 (de) |
GB (1) | GB1530008A (de) |
IT (1) | IT1056928B (de) |
SE (1) | SE402999B (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2932019A1 (de) * | 1978-08-07 | 1980-02-14 | Rca Corp | Speicheranordnung |
US4833643A (en) * | 1986-01-17 | 1989-05-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Associative memory cells |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4075690A (en) * | 1976-03-15 | 1978-02-21 | Rca Corporation | Write enhancement circuit |
US4104734A (en) * | 1977-06-30 | 1978-08-01 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Low voltage data retention bias circuitry for volatile memories |
US4149268A (en) * | 1977-08-09 | 1979-04-10 | Harris Corporation | Dual function memory |
US6310876B1 (en) * | 1997-02-14 | 2001-10-30 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method and apparatus for managing bin chains in a memory |
DE69727581D1 (de) | 1997-11-28 | 2004-03-18 | St Microelectronics Srl | RAM-Speicherzelle mit niedriger Leistungsaufnahme |
US6075721A (en) * | 1997-12-18 | 2000-06-13 | Advanced Micro Devices, Inc. | Random access memory having bit selectable mask for memory writes |
US8654570B2 (en) * | 2011-12-29 | 2014-02-18 | Stmicroelectronics International N.V. | Low voltage write time enhanced SRAM cell and circuit extensions |
US9646681B1 (en) | 2016-04-25 | 2017-05-09 | Qualcomm Incorporated | Memory cell with improved write margin |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3541531A (en) * | 1967-02-07 | 1970-11-17 | Bell Telephone Labor Inc | Semiconductive memory array wherein operating power is supplied via information paths |
US3535699A (en) * | 1968-01-15 | 1970-10-20 | Ibm | Complenmentary transistor memory cell using leakage current to sustain quiescent condition |
US3549904A (en) * | 1968-08-07 | 1970-12-22 | Rca Corp | Non-destructive read-out memory cell |
US3575617A (en) * | 1968-12-27 | 1971-04-20 | Rca Corp | Field effect transistor, content addressed memory cell |
US3644907A (en) * | 1969-12-31 | 1972-02-22 | Westinghouse Electric Corp | Complementary mosfet memory cell |
US3714638A (en) * | 1972-03-24 | 1973-01-30 | Rca Corp | Circuit for improving operation of semiconductor memory |
US3813653A (en) * | 1972-12-18 | 1974-05-28 | Rolm Corp | Memory cell with reduced voltage supply while writing |
US3879621A (en) * | 1973-04-18 | 1975-04-22 | Ibm | Sense amplifier |
-
1975
- 1975-03-13 US US05/558,145 patent/US3971004A/en not_active Expired - Lifetime
-
1976
- 1976-02-26 GB GB7673/76A patent/GB1530008A/en not_active Expired
- 1976-02-27 SE SE7602808A patent/SE402999B/xx unknown
- 1976-03-05 IT IT20933/76A patent/IT1056928B/it active
- 1976-03-05 CA CA247,234A patent/CA1065056A/en not_active Expired
- 1976-03-09 DE DE19762609714 patent/DE2609714B2/de active Granted
- 1976-03-12 JP JP51027611A patent/JPS51115741A/ja active Granted
- 1976-03-12 FR FR7607116A patent/FR2304221A1/fr active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2932019A1 (de) * | 1978-08-07 | 1980-02-14 | Rca Corp | Speicheranordnung |
US4833643A (en) * | 1986-01-17 | 1989-05-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Associative memory cells |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3971004A (en) | 1976-07-20 |
FR2304221B1 (de) | 1982-05-14 |
FR2304221A1 (fr) | 1976-10-08 |
CA1065056A (en) | 1979-10-23 |
JPS5520313B2 (de) | 1980-06-02 |
SE402999B (sv) | 1978-07-24 |
GB1530008A (en) | 1978-10-25 |
SE7602808L (sv) | 1976-09-14 |
DE2609714B2 (de) | 1977-12-08 |
IT1056928B (it) | 1982-02-20 |
JPS51115741A (en) | 1976-10-12 |
DE2609714C3 (de) | 1978-08-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3227464C2 (de) | Programmierbare Schaltung | |
DE3032657C2 (de) | ||
DE3340567C2 (de) | Spannungswandlerschaltung | |
DE69612783T2 (de) | Leseverfahren eines ferroelektrischen Speichers | |
DE68917609T2 (de) | Schaltung zum Treiben eines Dekodierers für Programmierung von hochkapazitiven Zeilen. | |
DE3041176A1 (de) | Halbleiterspeichervorrichtung | |
DE2722757B2 (de) | ||
DE2432684C3 (de) | Schaltungsanordnung zur Zwischenspeicherung der in einer Matrix aus Feldeffekt-Transistoren gespeicherten binären Informationen | |
DE3424765A1 (de) | Integrierter mikrocomputer mit nichtfluechtigem ram-speicher | |
DE2712735C2 (de) | ||
DE2940500C2 (de) | ||
DE2458848A1 (de) | Speicheranordnung mit komplementaeren feldeffekttransistoren | |
DE3141555C2 (de) | Halbleiterspeicher | |
DE2347968C3 (de) | Assoziative Speicherzelle | |
DE2740700A1 (de) | Speicher | |
DE2901233A1 (de) | Dynamischer lese-auffrischdetektor | |
DE3486418T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung | |
DE2332643C2 (de) | Datenspeichervorrichtung | |
DE2805664A1 (de) | Dynamischer lese/schreib-randomspeicher | |
DE68918136T2 (de) | Nichtflüchtige Speicherschaltung mit niedriger Leistung und grossem Betriebsspannungsbereich. | |
DE2609714C3 (de) | ||
DE68924843T2 (de) | Transistordurchbruchs-schutzschaltung. | |
DE69309623T2 (de) | Mehrbitwort organisierter EEPROM Speicher | |
DE3329096C2 (de) | ||
DE3430145C2 (de) | Halbleiter-Speichereinrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |